JPH0320764Y2 - - Google Patents

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JPH0320764Y2
JPH0320764Y2 JP11221082U JP11221082U JPH0320764Y2 JP H0320764 Y2 JPH0320764 Y2 JP H0320764Y2 JP 11221082 U JP11221082 U JP 11221082U JP 11221082 U JP11221082 U JP 11221082U JP H0320764 Y2 JPH0320764 Y2 JP H0320764Y2
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、カプセルの如き被検査物体の外観検
査装置に用いて好適な検査用照明装置に関するも
のである。
第1図はカプセル外観検査装置の正面図であ
る。同図において、1は検査装置本体、2はカプ
セルを貯蔵しているホツパ、3は供給ドラム、4
は第1検査ドラム、5は第2検査ドラム、6は不
良品シユート、7は良品シユート、8はセンサ、
9はかき戻しブラシ、10はミラー、である。
第1図において、先ずホツパ2に貯蔵されてい
るカプセル(図示せず)が供給ドラム3の周辺に
設けられたポケツトに移される。このときポケツ
トに入らないカプセルはかき戻しブラシ9により
またホツパ2内へかき戻される。回転する供給ド
ラム3により搬送されたカプセルは次に第1検査
ドラム4の周辺に設けられたポケツトに、供給ド
ラム3における場合と同様にして移される。第1
A図は、供給第1検査ドラム4の周辺に設けられ
たポケツト11にカプセル12が収容された状態
を示す上面図である。このときポケツト11には
図示せざる手段により内側から負圧がかけられて
いるのでカプセル12はポケツト11に吸引され
ており、ドラム4が回転してもカプセル12が落
下することはない。
第1図に戻り、カプセルは第1検査ドラム4の
回転によりその半周分の距離だけ搬送される間
に、図示せざる照明装置により光を投射され、そ
の反射光をミラー10を介してセンサ8で受ける
ことにより下半分の外観検査がなされる。次いで
カプセルは第2の検査ドラム5の周辺にあるポケ
ツトに移され、今度はその上半分の外観検査が同
様にして行なわれる。検査の結果、良品であれば
良品シユート7へ、不良品であれば不良品シユー
ト6へそれぞれ振り分けられる。
第2図は、第1図に示した如き外観検査装置に
用いられる従来の検査用照明装置を示す斜視図、
第3図は第2図におけるY−Y′に沿つて切断し
た断面の模式図、である。
これらの図において、21は照明光、22a,
22bはそれぞれ側面ミラー、23a,23b,
23cはそれぞれ拡散板、12は被検査物体であ
るカプセル、である。
作用を説明する。照明装置は角度可変の側面ミ
ラー22aおよび22bと、両ミラー間にわたる
拡散板23a,23b,23c等から成り、照明
光21は拡散板23a〜23cのそれぞれ取り付
けられた角度に応じて、様々な角度からカプセル
12に入射するようになつている。これは、カプ
セルの側面、先端、後端等を均一に照明すること
によつて漏れのない外観検査を可能にするためで
ある。
次に外観検査の一つであるキヤツプとボデーの
継ぎ目の有無検査について説明する。
一般に、カプセルは、第4A図に見られるよう
に、ボデー12bとそれに嵌合されたキヤツプ1
2aとから成つており、両者の継ぎ目が正しい位
置に検出されるか否か(換言すれば、ボデーとキ
ヤツプが正しく嵌合されているか否か)を検査す
ることが行なわれる。
今、第4A図に見られるように、キヤツプ12
aが右側、ボデー12bが左側に位置し、第2
図、第3図を参照して説明した如き照明装置から
の光線Pが左上方部から斜めに投射されていると
する。このとき、キヤツプ12aとボデー12b
の継ぎ目Cにおいて正反射が起こり、カプセルか
らの反射光量は第4B図においてC′の如く変化す
るので、これを微分して第4C図に示すC″の波
形を得る。
この波形C″を、予め設定しておくスレツシヨル
ド・レベルSと比較することにより、継ぎ目位置
Cを検出することができる。
また第5A図に見られるように、キヤツプ12
aが左側に位置し、ボデー12bが右側に位置し
ているときは、継ぎ目Cは陰になつて照明装置か
らの光線Pが当たらないため、カプセルからの反
射光量は第5B図においてC′の如く、継ぎ目位置
で減少する。この波形を微分して第5C図に示す
C″の如き波形を得て、これをスレツシヨルド・
レベルSと比較することにより、継ぎ目位置Cを
検出することができる。
所が、ボデー12bとキヤツプ12aの色が異
なる場合には、ボデー12bからの反射光量とキ
ヤツプ12aからの反射光量の各レベルが相違
し、そのため継ぎ目位置による光量変化(第4B
図、第5B図におけるC′)が明確でなくなり、従
つて継ぎ目位置Cの検出が困難になるという問題
点が生じる。ボデーとキヤツプにおける色の違い
が、余り大きくないときは、光学フイルタを用い
ることにより、両者からの反射光量レベルがほゞ
等しくなるように補正して継ぎ目位置の検出を可
能にすることもできるが、色の違いが極端な場合
には、光学フイルタによつても光量レベルの補正
は困難であり、継ぎ目位置が検出できないという
問題点があつた。
本考案は、上述のような従来技術における問題
点を克服するためになされたものであり、従つて
本考案の目的は、キヤツプとボデーで極端に色が
違う場合であつても、その継ぎ目検出を可能とす
るような検査用照明装置を提供することにある。
本考案による検査用照明装置は、上面と下面が
開放の筒形容器であつて、その一方の開放端に配
置された被検査物に対して外部から側壁を通すこ
とにより拡散させた光を照射し、該被検査物から
反射された光を他方の開放端に配置された検査用
センサで検出させる光拡散器と、前記光拡散器と
しての筒形容器の側壁の周囲を包囲する反射鏡で
内面が構成され、該反射鏡により光源からの光を
反射させて前記筒形容器の側壁周囲に均一に投射
する光反射容器とからなるもので、従来にもまし
て被検査物体であるカプセルの表面に均一に散乱
光を投射することを可能にしたことにより、ボデ
ーとキヤツプの色の違いを明確に出来、色の相違
するボデーとキヤツプの境界における反射光量レ
ベルの変化を検出可能にして、継ぎ目が検出でき
るようにしたものである。
次に図を参照して本考案の一実施例を説明す
る。
第6図は本考案の一実施例を示す上面図、第6
A図は一部を破断して示した同側面図、である。
これらの図において、4はドラム、12はカプ
セル、26はシエード、24は光反射容器、25
は該容器の内面反射鏡、27は光源(例えば、キ
セノン・フラツシユ・ランプ)、である。
2個のカプセル12(普通、カプセルは2個ず
つ検査される)が検査ドラム4のポケツトに保持
され搬送されている。このカプセルに対し、筒形
のシエード26がかぶさるように位置決めされ
る。筒形シエード26の下端Lは勿論開放されて
おり、上端Uも、ここから中をのぞく形でカプセ
ル12の外観検査を行なう都合上、開放されてい
る。更に内面を反射鏡25で構成された光反射容
器24が、シエード26を中に含み、該シエード
26の上端Uと下端Lを除き、側部全体を反射鏡
25がほゞ包囲している。
容器24の一端側に配置した光源27からの光
線は、シエード26に直接入射し、或いは反射鏡
25により様々に反射されてシエード26の側部
になるべく全体的に均一になるように入射する。
シエード26は、その外側から入射された光を、
内側に配置されたカプセル12に対し、拡散して
投射する光拡散器である。
このように、シエード26の外側になるべく均
一になるように反射鏡25によつて光線が投射さ
れることと、シエード26の外側に投射された光
線が充分に拡散されて内側のカプセル12に投射
されること、によりカプセル12の外側表面は充
分均一に照明されることとなり、そのキヤツプと
ボデーの各色が極端に違う場合、その境において
反射光量が截然と相違するようになり、キヤツプ
とボデーの継ぎ目の検出が可能になる。
第7A乃至C図は、本考案による検査用照明装
置を用いた場合の第4A乃至C図と同様な図であ
る。
第7A図に見られるように、ボデー12bが左
側に位置し、キヤツプ12aが右側に位置し、し
かも両者の各色が極端に相違する場合、第6図、
第6A図を参照して先に説明した如き、本考案に
よる照明装置を用いて検査のための照明を行なう
と、その反射光量の変化は第7B図に示す如く、
キヤツプ12aとボデー12bの継ぎ目位置Cで
は、C′に示す如く急変しており、その微分波形は
第7C図に示すC″の如くなり、これをスレツシ
ヨルド値Sと比較することにより、容易に継ぎ目
位置を検出することが可能になる。
第8A乃至C図は、キヤツプ12aとボデー1
2bの位置が互いに入れ換わつている場合におけ
る、第7A乃至C図と同様な図であるから、これ
については改めて説明するまでもないであろう。
第9図は本考案の他の実施例を示す上面図、第
9A図は同側面図、第9B図は第9図において線
X−X′に沿つて切断し矢印方向に見た断面図、
である。
第6図、第6A図に示した実施例では光反射容
器24が、単一形状の容器から成つていたのに対
し、第9図乃至第9B図に示した実施例では、光
反射容器が側面反射鏡25a,25b、前面反射
鏡25c,25dにより構成されている点で相違
するが、その他の点で変わるところはない。
側面反射鏡25a,25bはそれぞれヒンジ
h1,h2を回動軸として回動可能であり、この回動
量を調節することにより、光源27からの光をなる
べく均一になるようにシエード26の外側面に投
射することができる。前面反射鏡25c,25d
も同様にヒンジh3を軸として回動自在に設けられ
ている。前面反射鏡25c,25dは、第9A図
に見られるように、ヒンジh4を軸として上下方向
にも回動可能に取り付けられている。
なお、各側面反射鏡、前面反射鏡の上端とシエ
ード26の上端との間の開放面は、黒色の平面体
でおおうなどして外来光が漏れ込まないようにす
るとよい。
第9図乃至第9B図に示した実施例において
も、その機能は第6図、第6A図に示した実施例
のそれと同じであるから、繰り返しての説明は省
略する。
以上説明した通りであるから、本考案によれ
ば、カプセルの如き検査物体のキヤツプとボデー
の各色が極端に相違するような場合においても、
その色の違いを積極的に利用して継ぎ目位置を検
出可能とする検査用照明装置を提供できるという
利点がある。
本考案による照明装置は、カプセル外観検査の
ほか、錠剤の外観検査、トランジスタ・チツプ、
その他の単体の検査用にも適用できることは勿論
である。
【図面の簡単な説明】
第1図はカプセルの外観検査装置の正面図、第
1A図はドラム表面のポケツトに収容されたカプ
セルを示す上面図、第2図は従来の検査用照明装
置を示す斜視図、第3図は第2図における線Y−
Y′に沿つて切断した断面の模式図、第4A図お
よび第5A図は、それぞれカプセルに光の投射さ
れる様子を示した説明図、第4B図および第5B
図はそれぞれカプセルからの反射光量の変化を示
したグラフ、第4C図および第5C図はそれぞれ
光量変化の微分波形図、第6図は本考案の一実施
例を示す上面図、第6A図は一部を破断して示し
た同側面図、第7A乃至C図は本考案による検査
用照明装置を用いた場合の第4A乃至C図と同様
な図、第8A乃至第8C図は同じく本考案による
検査用照明装置を用いた場合の第5A乃至C図と
同様な図、第9図は本考案の他の実施例を示す上
面図、第9A図は同側面図、第9B図は第9図に
おいて線X−X′に沿つて切断した矢印方向に見
た断面図、である。 符号説明、1……検査装置本体、2……ホツ
パ、3……供給ドラム、4……第1検査ドラム、
5……第2検査ドラム、6……不良品シユート、
7……良品シユート、8……センサ、9……かき
戻しブラシ、10……ミラー、11……ポケツ
ト、12……カプセル、21……照明光、22…
…側面ミラー、23……拡散板、24……光反射
容器、25……反射鏡、26……シエード、27
……光源。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 上面と下面が開放の筒形容器であつて、その一
    方の開放端に配置された被検査物に対して外部か
    ら側壁を通すことにより拡散させた光を照射し、
    該被検査物から反射された光を他方の開放端に配
    置された検査用センサで検出させる光拡散器と、 前記光拡散器としての筒形容器の側壁の周囲を
    包囲する反射鏡で内面が構成され、該反射鏡によ
    り光源からの光を反射させて前記筒形容器の側壁
    周囲に均一に投射する光反射容器と、 から成ることを特徴とする検査用照明装置。
JP11221082U 1982-07-26 1982-07-26 検査用照明装置 Granted JPS5917501U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11221082U JPS5917501U (ja) 1982-07-26 1982-07-26 検査用照明装置

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JP11221082U JPS5917501U (ja) 1982-07-26 1982-07-26 検査用照明装置

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Publication Number Publication Date
JPS5917501U JPS5917501U (ja) 1984-02-02
JPH0320764Y2 true JPH0320764Y2 (ja) 1991-05-07

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP5388543B2 (ja) * 2008-11-05 2014-01-15 キヤノン株式会社 外観検査装置
KR102003729B1 (ko) * 2017-11-15 2019-07-29 주식회사 고영테크놀러지 검사 장치

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JPS5917501U (ja) 1984-02-02

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