JPH03206376A - Evacuation device - Google Patents
Evacuation deviceInfo
- Publication number
- JPH03206376A JPH03206376A JP34358889A JP34358889A JPH03206376A JP H03206376 A JPH03206376 A JP H03206376A JP 34358889 A JP34358889 A JP 34358889A JP 34358889 A JP34358889 A JP 34358889A JP H03206376 A JPH03206376 A JP H03206376A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cryotrap
- conductance
- vacuum
- cryopump
- control valve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 14
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 6
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Compressors, Vaccum Pumps And Other Relevant Systems (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は真空槽を真空ポンプによって排気する真空排気
装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a vacuum evacuation device that evacuates a vacuum chamber using a vacuum pump.
例えばスパッタ装置のような真空槽をクライオポンプに
よって排気する際の従来の真空排気装置を第2図及び第
3図に示す。For example, a conventional vacuum evacuation device used when evacuation of a vacuum chamber such as a sputtering device using a cryopump is shown in FIGS. 2 and 3.
第2図は、真空槽(1)に真空ハルブ(2)及びコンダ
クタンスすなわち排気量を制御するコンダクタンスバル
ブ(4)を介してクライオトラップ付きのクライ才ポン
プ(6)を取り付けた例である。又、第3図は真空槽(
1)にコンダクタンス制御機能を有する真空バルブ(7
)を介してクライオトラップ付きクライオポンプ(6)
を取り付けた例である。FIG. 2 shows an example in which a cryopump (6) with a cryotrap is attached to a vacuum chamber (1) via a vacuum valve (2) and a conductance valve (4) that controls conductance, that is, displacement. Also, Figure 3 shows the vacuum chamber (
1) Vacuum valve (7) with conductance control function
) via cryopump with cryotrap (6)
This is an example of installing the .
ここでは、クライオポンプの吸気側にクライオトラップ
をセットアップしたり、一体に組み込んだりしたものを
クライ才トラップ付きクライオポンプと呼ぶ。Here, a cryopump with a cryotrap set up or integrated on the intake side of a cryopump is referred to as a cryopump with a cryopump.
第2図、第3図に示すような真空排気装置で真空槽[1
)であるスバッタ装置を排気する際に、クライオトラッ
プでスバッタ装置内の残留水分を排気し、スバッタ装置
内の圧力を所望のプロセス圧力に調節する時は、第2図
の例ではコンダクタンスバルブ(4)を、第3図の例で
はコンダクタンス制御機能付き真空バルプ(7)を調節
することによって行っていた。A vacuum chamber [1
) When exhausting the residual moisture in the sputtering equipment using a cryotrap and adjusting the pressure inside the spatter equipment to the desired process pressure, the conductance valve (4) is used in the example shown in Figure 2. ) was performed by adjusting the vacuum valve (7) with a conductance control function in the example shown in FIG.
コンダクタンスを制御するバルブとしては、例えば第5
A図のコンダクタンスバルブ(バタフライ型) (19
)や第5B図のバリアブル才リフィス(才リフィス型)
(15)などがある。コンダクタンスバルブ(l9)
を使用する時は、バルブ本体(l3)を排気路途中に設
け、駆動部(l2)で弁板(l4)の回転角度を調整す
ることによってコンダクタンスを調整する。又、バリア
プルオリフィス(l5)の場合は同様にバルブ本体(1
7)を排気路途中に設け、駆動部(16)で複数のオリ
フィス板(l8)の回転角度を調整することによってオ
リフィス板(18)の間の通路(20)を開閉してコン
ダクタンスを調整する。For example, the fifth valve controls the conductance.
Conductance valve (butterfly type) shown in figure A (19
) and variable rifice (sair riffice type) in Figure 5B.
(15) etc. Conductance valve (l9)
When using the valve body (l3), the valve body (l3) is provided in the middle of the exhaust path, and the conductance is adjusted by adjusting the rotation angle of the valve plate (l4) using the driving part (l2). In addition, in the case of barrier pull orifice (15), the valve body (1
7) is provided in the middle of the exhaust path, and the drive unit (16) adjusts the rotation angle of the plurality of orifice plates (l8) to open and close the passage (20) between the orifice plates (18) to adjust the conductance. .
スパッタ法によって膜を形成する時にはスパッタ装置内
に水分が残留していると問題になることがあるので、で
きるだけ水分を除去しなければならないのであるが、上
記のような従来の真空排気装置ではクライオトラップ付
きクライオポンプより真空槽側でコンダクタンスを制御
するので、コンダクタンスを小さくするとプロセスガス
(アルゴン)の排気速度が小さ《なると同時に水の排気
速度も小さくなってしまうという問題があった。When forming a film by sputtering, moisture remaining in the sputtering equipment can be a problem, so it is necessary to remove as much moisture as possible. Since the conductance is controlled on the vacuum chamber side of the trap-equipped cryopump, there is a problem in that when the conductance is reduced, the process gas (argon) exhaust speed becomes smaller, and at the same time, the water pumping speed also becomes smaller.
本発明は以上のような問題に鑑みてなされ、水に対する
排気速度を落さずに真空槽内の圧力を調節することがで
きる真空排気装置を提供することを目的としている。The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a vacuum evacuation device that can adjust the pressure within a vacuum chamber without reducing the pumping speed for water.
[問題点を解決するための手段]
上記目的は、真空槽と真空ポンプとを接続する排気路に
おいて、前記真空槽側にクライオトラップを設けると共
に、該クライ才トラップと前記真空ポンプとの間にコン
ダクタンス制御バルブを設けたことを特徴とする真空排
気装置、によって達成される。[Means for solving the problem] The above object is to provide a cryotrap on the vacuum chamber side in an exhaust path connecting a vacuum chamber and a vacuum pump, and to provide a cryotrap between the cryotrap and the vacuum pump. This is achieved by a vacuum evacuation device characterized in that it is equipped with a conductance control valve.
[作 用]
以上のように構成される真空排気装置においては、クラ
イ才トラップとクライオポンプとを分けて、クライオポ
ンプ及びコンダクタンス制御バルブより真空槽側にクラ
イオトラップを取り付けているため、水に対する排気速
度を落すことなく、所望のプロセス圧力に調整すること
が可能になる。[Function] In the vacuum evacuation device configured as described above, the cryotrap and cryopump are separated, and the cryotrap is installed closer to the vacuum chamber than the cryopump and the conductance control valve, so that the evacuation of water is prevented. It becomes possible to adjust the desired process pressure without reducing speed.
[実 施 例] 次に実施例について図面を参瞭して説明する。[Example] Next, embodiments will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の一例を示すもので、(l)は真空槽で
あるスバッタ装置、(2)は真空バルブ、(3)はクラ
イオトラップ、(4)はコンダクタンス制御バルブ及び
(5)はクライオポンプである。FIG. 1 shows an example of the present invention, in which (l) is a sputtering device that is a vacuum chamber, (2) is a vacuum valve, (3) is a cryotrap, (4) is a conductance control valve, and (5) is a It is a cryopump.
ここで、クライオトラップ(3)は第4A図、第4B図
に示す構造で、トラップ本体(8)に、ヘリウム冷凍機
(9)と80Kクライオパネル(10) (11)とが
熱的に接続して設けられており、第4A図において矢印
aで示すように右方の真空槽(11から真空バルブ(2
)を通ってこのクライオトラップ(3)内に入射した気
体はほぼ100%80Kクライオパネルの(lO)又は
(Illに衝突する構造になっているので、気体中の水
分はほとんど排気される。Here, the cryotrap (3) has the structure shown in Figures 4A and 4B, and a helium refrigerator (9) and 80K cryopanels (10) (11) are thermally connected to the trap body (8). As shown by arrow a in Fig. 4A, the vacuum chamber (11) on the right side is connected to the vacuum valve (2
Since the structure is such that almost 100% of the gas that has entered the cryotrap (3) through ) collides with (lO) or (Ill) of the 80K cryopanel, most of the moisture in the gas is exhausted.
コンダクタンス制御バルブ(4)としてここでは第5A
図に示すバタフライ型のコンダクタンスバルブを用いた
が、コンダクタンスを制御できるものであれば他のどの
ようなものでもよい。Here, the 5th A is used as the conductance control valve (4).
Although the butterfly type conductance valve shown in the figure was used, any other type of conductance valve may be used as long as it can control conductance.
第2図及び第3図と共通の部品には同一の符号を付した
。Components common to those in FIGS. 2 and 3 are given the same reference numerals.
本実施例においては、真空槽(1)に導入されたプロセ
スガス(アルゴン)は真空バルブ(2)、クライオトラ
ップ(3).コンダクタンス制御バルブ(4)を通って
クライ才ポンプ(5)により排気される。スパッタプロ
セスに必要な圧力はコンダクタンス制御バルブ(4)に
よって調節される。In this embodiment, the process gas (argon) introduced into the vacuum chamber (1) is passed through the vacuum valve (2) and the cryotrap (3). It is evacuated by a cryogenic pump (5) through a conductance control valve (4). The pressure required for the sputtering process is regulated by a conductance control valve (4).
すなわち、クライオトラップ(3)は、排気ガスの流量
を絞るコンダクタンス制御バルブ(4)よりも前段にあ
るのでガスの流れる抵抗が小さく、水の排気速度を大き
くすることができる。従来例のようなクライオトラップ
付きクライオポンプの前段にコンダクタンスバルブを設
けた装置のように、コンダクタンスを絞るとガスの流れ
る抵抗が大きくなってプロセスガスに対する排気速度だ
けでなく水に対する排気速度をも小さくする、というこ
とがない。That is, since the cryotrap (3) is located before the conductance control valve (4) that throttles the flow rate of exhaust gas, the resistance to gas flow is small and the water pumping speed can be increased. When the conductance is narrowed, as in the conventional device with a conductance valve installed in front of a cryopump with a cryotrap, the resistance to gas flow increases, reducing not only the pumping speed for process gas but also the pumping speed for water. There is no such thing as doing it.
このように、クライオトラップ(3)はコンダクタンス
制御バルブ(4)の調節の影響を受けないので、プロセ
スにとって不都合な水分はクライオトラップ(3)によ
って、高真空排気状態と同一の排気速度で排気され、良
質なプロセス雰囲気が得られる。In this way, the cryotrap (3) is not affected by the adjustment of the conductance control valve (4), so moisture that is unfavorable to the process is evacuated by the cryotrap (3) at the same pumping speed as in the high vacuum pumping state. , a high-quality process atmosphere can be obtained.
以上、本発明の実施例について説明したが、勿論、本発
明はこれに限定されることなく、本発明の技術的思想に
基き種々の変形が可能である。The embodiments of the present invention have been described above, but of course the present invention is not limited thereto, and various modifications can be made based on the technical idea of the present invention.
例えば、実施例ではプロセスガスの排気にタライオポン
プを使用しているが、代わりにターボ分子ポンプを使用
しても同様の効果が得られる。ターボ分子ポンプはクラ
イオポンプに比較して水に対する排気速度が小さいとい
う欠点があるが、本発明のようにクライ才トラップと組
み合わせることで、クライ才ポンプと同等の排気特性が
得られる。For example, in the embodiment, a Talio pump is used to exhaust the process gas, but the same effect can be obtained by using a turbo molecular pump instead. Turbomolecular pumps have the disadvantage of having a lower pumping speed for water than cryopumps, but by combining them with cryotraps as in the present invention, pumping characteristics equivalent to those of cryopumps can be obtained.
[発明の効果]
本発明は以上のような構成であるので、水に対する排気
速度を落とすことなく、所望のプロセス圧力に調整でき
、良質なプロセス雰囲気が得られるという効果を奏する
。[Effects of the Invention] Since the present invention has the above-described configuration, it is possible to adjust the process pressure to a desired level without reducing the pumping speed for water, and to obtain a high-quality process atmosphere.
第1図は本発明に係る実施例の真空排気装置を示す概略
側面図、第2図及び第3図は各々従来の真空排気装置を
示す概略側面図、第4A図、第4B図はクライ才トラッ
プの一例を示す部分断面側面図及び部分破断正面図、第
5A図と第5B図は、それぞれコンダクタンス制御バル
ブの例を示す斜視図である。
なお図において、
(1)・・・・・・・・・・・真 空 槽(3)・・・
・・・・・・・・クライ才トラップ(4)・・・・・・
・・・・・コンダクタンスバルブ(5)・・・・・・−
・一・・クライオポンプ代 理 人
飯 阪 泰 雄
第1
図
3−=−゛゜クライオトラップ
4・・・・・ ・コンダク9ンス制御バルブ5・・・・
・・゛クライオポンプ
第2図
1
第4B図FIG. 1 is a schematic side view showing a vacuum evacuation device according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are schematic side views showing conventional vacuum evacuation devices, and FIGS. 4A and 4B are cryo-exhaust devices. A partially sectional side view and a partially broken front view showing an example of a trap, and FIGS. 5A and 5B are perspective views showing an example of a conductance control valve, respectively. In the figure, (1)... Vacuum tank (3)...
・・・・・・Cry Sai Trap (4)・・・・・・
・・・・・・Conductance valve (5)・・・・・・−
・1・・Cryopump agent Osamu Yasushi Saka No. 1 Figure 3−=−゛゜Cryotrap 4・・・Conduct 9th control valve 5・・・
・・・゛Cryopump Figure 2 1 Figure 4B
Claims (1)
真空槽側にクライオトラップを設けると共に、該クライ
オトラップと前記真空ポンプとの間にコンダクタンス制
御バルブを設けたことを特徴とする真空排気装置。1. A vacuum evacuation device, characterized in that, in an evacuation path connecting a vacuum chamber and a vacuum pump, a cryotrap is provided on the side of the vacuum chamber, and a conductance control valve is provided between the cryotrap and the vacuum pump.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34358889A JPH03206376A (en) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | Evacuation device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34358889A JPH03206376A (en) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | Evacuation device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03206376A true JPH03206376A (en) | 1991-09-09 |
Family
ID=18362692
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34358889A Pending JPH03206376A (en) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | Evacuation device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03206376A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5343709A (en) * | 1992-07-21 | 1994-09-06 | Marcel Kohler | Cryopump |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6334316A (en) * | 1986-07-30 | 1988-02-15 | Gadelius Kk | Floating tool holder for industrial robot |
-
1989
- 1989-12-29 JP JP34358889A patent/JPH03206376A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6334316A (en) * | 1986-07-30 | 1988-02-15 | Gadelius Kk | Floating tool holder for industrial robot |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5343709A (en) * | 1992-07-21 | 1994-09-06 | Marcel Kohler | Cryopump |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4449373A (en) | Reduced vacuum cryopump | |
KR100221782B1 (en) | Apparatus for rapid evacuation of a vacuum chamber | |
US5062271A (en) | Evacuation apparatus and evacuation method | |
JPH08232870A (en) | Vacuum pump stand | |
JPH03206376A (en) | Evacuation device | |
JPH0216377A (en) | Cryopump | |
JPH05248383A (en) | Multi-stage vacuum pump system | |
JP3347794B2 (en) | Semiconductor manufacturing equipment | |
JP7012002B2 (en) | Device manufacturing equipment and device manufacturing system | |
JP2019124194A (en) | Vacuum valve | |
JPS5980777A (en) | Control device for gas | |
JP2551968B2 (en) | Exhaust system in vacuum equipment | |
JPH01294976A (en) | Operation of cryopump | |
JPH08232840A (en) | Extremely high vacuum pump system | |
JPH0679159A (en) | Gas induction device for vacuum chamber | |
JP3419414B2 (en) | Exhaust mechanism of sputtering equipment | |
JPH03281990A (en) | Bakable clyopump | |
JPH0216376A (en) | Vacuum exhaust device | |
JPH0315678A (en) | Vacuum pump system | |
JPH0719554Y2 (en) | Vacuum exhaust device | |
JPH01277687A (en) | Cryopump | |
JPH09209932A (en) | Vacuum exhauster | |
JPS62174367A (en) | High vacuum apparatus | |
JPH03277787A (en) | Etching device | |
JP2994075B2 (en) | Cryopump |