JPH03201494A - Electronic type cooling element built-in semiconductor laser assembly - Google Patents
Electronic type cooling element built-in semiconductor laser assemblyInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
概要
電子式冷却素子内蔵半導体レーザアセンブリに関し、
半導体レーザの温度安定化と高速性を両立させた半導体
レーザアセンブリを提供することを目的とし、
半導体レーザを導電性部材上に搭載固定し、該導電性部
材を電子式冷却素子の一面に固定するとともに、電子式
冷却素子の他面を金属製筐体の内面に固定した電子式冷
却素子内蔵半導体レーザアセンブリにおいて、前記電子
式冷却素子を搭載固定した金属製筐体の壁部を電子式冷
却素子を搭載した中央部分と一対の端部部分とに三分割
し、該中央部分と各々の端部部分との間に誘電体部材を
介装して構成する。[Detailed Description of the Invention] Summary Regarding a semiconductor laser assembly with a built-in electronic cooling element, the present invention aims to provide a semiconductor laser assembly that achieves both temperature stabilization and high speed performance of the semiconductor laser, and the present invention relates to a semiconductor laser assembly with a built-in electronic cooling element. In the semiconductor laser assembly with a built-in electronic cooling element, the conductive member is fixed to one surface of the electronic cooling element, and the other surface of the electronic cooling element is fixed to the inner surface of a metal casing. The wall of the metal casing in which the cooling element is mounted and fixed is divided into three parts: a central part where the electronic cooling element is mounted and a pair of end parts, and a dielectric material is placed between the central part and each end part. Constructed by interposing members.
産業上の利用分野
本発明は電子式冷却素子内蔵半導体レーザアセンブリに
関する。FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor laser assembly with a built-in electronic cooling element.
光通信ンステムにおいては、一般に半導体レーザ(以下
LDという)を時系列の電気信号で変調し、この変調光
をレンズ系を介して伝送路としての光ファイバに導くよ
うにしている。LDは通常、LDの直前に配置するレン
ズと一体化してLDアセンブリとして提供され、このL
Dアセンブリは通常性のレンズ系及び接続用の光ファイ
バと一体化されて、LDモジュールとして使用される。In an optical communication system, a semiconductor laser (hereinafter referred to as LD) is generally modulated with a time-series electric signal, and the modulated light is guided through a lens system to an optical fiber serving as a transmission path. The LD is usually provided as an LD assembly by being integrated with a lens placed immediately in front of the LD.
The D assembly is integrated with a conventional lens system and a connecting optical fiber and used as an LD module.
このようなLDモンユールに使用されるLD等の光学素
子の特性は、温度の影響を受は易いため、これをペルチ
ェ素子等の電子式冷却素子によって一定の温度環境下で
動作させることが望ましい。Since the characteristics of optical elements such as LDs used in such LD modules are easily affected by temperature, it is desirable to operate them under a constant temperature environment using an electronic cooling element such as a Peltier element.
また、近年の光通信ンステムの高速化の要求に伴い、L
Dをその信頼性を確保したまま、10Gb/S程度或い
はそれ以上の速度で変調する必要が生じている。このた
め、LD、ペルチェ素子等の電子式冷却素子及び関連部
品を一つの金属筐体の内部に気密封止したLDアセンブ
リが提供されているが、従来のLDアセンブリでは、電
子式冷却素子によるLDの温度安定化を優先したため、
LDの高速変調特性は良好とはいえない。そこで、LD
の高速変調特性と、電子式冷却素子によるLDの温度安
定化とを両立し得るような半導体レーザアセンブリが要
望されている。In addition, with the recent demand for faster optical communication systems, L
It has become necessary to modulate D at a speed of about 10 Gb/S or higher while maintaining its reliability. For this reason, an LD assembly is provided in which an LD, an electronic cooling element such as a Peltier element, and related parts are hermetically sealed inside a single metal casing. Because we prioritized temperature stabilization,
The high-speed modulation characteristics of the LD cannot be said to be good. Therefore, L.D.
There is a need for a semiconductor laser assembly that can achieve both high-speed modulation characteristics and temperature stabilization of the LD using an electronic cooling element.
従来の技術 第4図は従来のLDアセンブリの断面図を示している。Conventional technology FIG. 4 shows a cross-sectional view of a conventional LD assembly.
lはLDチップであり、金属等の導電体部材から形成さ
れたステム2上に搭載固定されている。ステム2はペル
チェ素子3に搭載されている。ペルチェ素子3は2個の
セラミック基板4゜5上にそれぞれ導電パターンを形成
し、これらのセラミック基板4.5で複数のゼーベフク
効果を有する半導体6を挟んで構成されている。一方の
セラミック基板4がステム2に面接触する一方、他方の
セラミック基板5が金属製筐体7の内面に面接触により
固着されている。セラミック基板4゜5をメクライズす
ることにより、金属製筐体7とセラミック基板5との接
合及びセラミック基板4とステム2との接合は、半田付
けにより行われている。1 is an LD chip, which is mounted and fixed on a stem 2 made of a conductive member such as metal. The stem 2 is mounted on a Peltier element 3. The Peltier element 3 is constructed by forming conductive patterns on two ceramic substrates 4.5, and sandwiching a plurality of semiconductors 6 having the Seebefuch effect between the ceramic substrates 4.5. One ceramic substrate 4 is in surface contact with the stem 2, while the other ceramic substrate 5 is fixed to the inner surface of the metal casing 7 by surface contact. By mecrizing the ceramic substrate 4.5, the metal casing 7 and the ceramic substrate 5 are joined together, and the ceramic substrate 4 and the stem 2 are joined together by soldering.
金属製筐体7には少なくとも信号人力用リード8及び筐
体7と接続したアースリード10が設けられており、信
号入力用リード8は図示しないLD駆動回路に接続され
ている。信号入力用リード8はワイヤ9を介してLDチ
ンプ1に接続され、アースリード10はワイヤ11によ
りステム2に接続されている。↓2は信号人力用リード
8を金、嘱製筐体7か与絶縁するためのガラス、テフロ
ン等の絶縁材である。ステム2上に搭載されたLDチッ
プ1の駆動は、信号人力用リード8、ワイヤ9.11及
びアースリードIOを介して行われるようになっている
。The metal casing 7 is provided with at least a signal input lead 8 and a ground lead 10 connected to the casing 7, and the signal input lead 8 is connected to an LD drive circuit (not shown). The signal input lead 8 is connected to the LD chimp 1 via a wire 9, and the ground lead 10 is connected to the stem 2 via a wire 11. ↓ 2 is an insulating material such as glass or Teflon for insulating the signal lead 8 from gold and the manufactured housing 7. The LD chip 1 mounted on the stem 2 is driven via the signal human power lead 8, the wire 9.11, and the earth lead IO.
然して、ペルチェ素子3の電極に印加する電圧及び電流
値を制御してペルチェ素子3を駆動すると、ペルチェ素
子3により熱エネルギーが一方向に運ばれてセラミック
基板4,5間に温度差が生じ、LDチップ1が適当な動
作温度に冷却される。However, when the Peltier element 3 is driven by controlling the voltage and current values applied to the electrodes of the Peltier element 3, thermal energy is carried in one direction by the Peltier element 3, creating a temperature difference between the ceramic substrates 4 and 5. The LD chip 1 is cooled to an appropriate operating temperature.
発明が解決しようとする課題
ところが、上述したような構成の半導体レーザアセンブ
リにおいては、半導体レーザの変調信号を高速にすると
、電気的結線のインダクタンスによって生じる電気的イ
ンピーダンスの不整合、及びそのインダクタンスと電子
式冷却素子の持つ寄生静電容量とにより生じる変調帯域
内共振が発生することになり、半導体レーザからの光出
力波形が乱れてしまうという問題がある。Problems to be Solved by the Invention However, in a semiconductor laser assembly having the above-mentioned configuration, when the modulation signal of the semiconductor laser is made high-speed, there is a mismatch in electrical impedance caused by the inductance of the electrical connection, and a problem arises between the inductance and the electronic There is a problem in that resonance within the modulation band occurs due to the parasitic capacitance of the type cooling element, and the optical output waveform from the semiconductor laser is disturbed.
これらの現象を回避するには、電気的結線を短くし、そ
のインダクタンスを減らすことが考えられる。しかし、
この解決法では、電子式冷却素子の寄生静電容量はその
ままなので、共振周波数を変調帯域外へ上昇させること
が困難である。よって、電気的結線を短くしただけでは
、結果的に不十分な光出力波形が得られることになる。To avoid these phenomena, it is possible to shorten the electrical connection and reduce its inductance. but,
With this solution, the parasitic capacitance of the electronic cooling element remains, making it difficult to raise the resonant frequency outside the modulation band. Therefore, simply shortening the electrical connection results in an insufficient optical output waveform.
以上説明した・ように、従来の半導体レーザアセンブリ
においては、半導体レーザの温度安定化を優先した場合
、高速性を犠牲にせざるを得ないという問題があった。As explained above, in conventional semiconductor laser assemblies, there is a problem in that when priority is given to stabilizing the temperature of the semiconductor laser, high speed performance has to be sacrificed.
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、半導体レーザの温度安定化と高
速性を両立させた電子式冷却素子内蔵半導体レーザアセ
ンブリを提供することである。The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to provide a semiconductor laser assembly with a built-in electronic cooling element that achieves both temperature stabilization and high speed of the semiconductor laser. .
課題を解決するための手段
本発明は、従来のように電気的結線のインダクタンスの
低減だけでなく、電子式冷却素子の寄生静電容量の見掛
は上の低減をも行うことにより、温度安定化と高速性を
両立させるものである。本発明の原理を、第2図に示し
た電子式冷却素子の寄生静電容量等価回路と、第3図に
示したこの等価回路を用いて表現した本発明の半導体レ
ーザアセンブリの全体回路図により説明する。Means for Solving the Problems The present invention not only reduces the inductance of electrical connections as in the past, but also reduces the apparent parasitic capacitance of the electronic cooling element, thereby achieving temperature stability. It is designed to achieve both speed and speed. The principle of the present invention is expressed by the overall circuit diagram of the semiconductor laser assembly of the present invention using the parasitic capacitance equivalent circuit of the electronic cooling element shown in FIG. 2 and this equivalent circuit shown in FIG. explain.
第2図を参照すると、電子式冷却素子14はセラミック
基板16及び18の間にp型及びp型のB ] 2 T
C3等の半導体20を交互に配設して構成されており
、セラミック基板16.18の内面には隣接するp型及
びp型の半導体20を接続するための導電性パターンが
形成されているとともに、電源に接続するための2個の
電極22.24が設けられている。交互に配設したp型
及びp型半導体20に一定方向に電流を流し、ゼーベッ
ク効果によりセラミック基板18の上面18aとセラミ
ック基板16の下面16aとの間に温度差を発生させる
。即ち、図示矢印方向に電流を流した場合、上面18a
を吸熱側、下面16aを発熱側とすることができ、電流
の方向を反転させることにより吸熱側と発熱側の関係を
逆にすることができる。Referring to FIG. 2, the electronic cooling element 14 has p-type and p-type B]2T between the ceramic substrates 16 and 18.
It is configured by alternately disposing semiconductors 20 such as C3, and a conductive pattern for connecting adjacent p-type and p-type semiconductors 20 is formed on the inner surface of the ceramic substrate 16.18. , two electrodes 22,24 are provided for connection to a power source. A current is passed in a fixed direction through the alternately arranged p-type and p-type semiconductors 20 to generate a temperature difference between the upper surface 18a of the ceramic substrate 18 and the lower surface 16a of the ceramic substrate 16 due to the Seebeck effect. That is, when a current is passed in the direction of the arrow shown in the figure, the upper surface 18a
The lower surface 16a can be set as the heat absorbing side and the lower surface 16a as the heat generating side, and by reversing the direction of the current, the relationship between the heat absorbing side and the heat generating side can be reversed.
上述したように、電子式冷却素子を高速回路への寄生因
子と考える場合、セラミック基板16゜18は、各々の
比誘電率ε1、面積S、厚みdによって決まる静電容量
C2、C2のコンデンサとみなすことができ、また半導
体20は純抵抗とインダクタの直列接続として表現でき
る。簡単な計算から、実際の電子式冷却素子では、前者
が後者に比べて支配的となることが分かっており、等価
回路は第2図の右に示すように、はぼ純粋なコンデンサ
C8と書き表わすことができる。As mentioned above, when considering the electronic cooling element as a parasitic factor to a high-speed circuit, the ceramic substrate 16°18 is a capacitor with a capacitance C2, C2 determined by the relative dielectric constant ε1, area S, and thickness d. The semiconductor 20 can also be expressed as a series connection of a pure resistor and an inductor. A simple calculation shows that in an actual electronic cooling element, the former is more dominant than the latter, and the equivalent circuit is written as a nearly pure capacitor C8, as shown on the right in Figure 2. can be expressed.
ここで、Co = CI C2/ (CI + C2
)である。Here, Co = CI C2/ (CI + C2
).
次に第3図を参照すると、第2図の等価回路を用いて表
現した本発明による半導体レーザアセンブリの全体等価
回路が示されており、LDチップ26とアセンブIJ
i子28.30との間は結線長を短くしたワイヤ32.
34でそれぞれ接続されている。本発明は電子式冷却素
子の等価静電容量co のアース電位側にC8よりも小
さい静電容量36を直列に接続することにより、LDア
センブリの高周波特性を改善することを特徴とする。尚
、静電容量36を等価静電容量C8の光源側に挿入した
場合は、LDチップ26からの熱が静電容量36を介し
て伝達されることになるが、静電容量を形成する絶縁体
の熱伝導率が小さいことから、LDチップ26の温度安
定性が劣化することになる。従って、静電容量36は等
価静電容量C8のアース電位側に挿入する必要がある。Next, referring to FIG. 3, there is shown an overall equivalent circuit of the semiconductor laser assembly according to the present invention expressed using the equivalent circuit of FIG.
A wire 32. with a shorter connection length is connected between the i-child 28 and 30.
34 are connected to each other. The present invention is characterized in that the high frequency characteristics of the LD assembly are improved by connecting in series a capacitance 36 smaller than C8 to the ground potential side of the equivalent capacitance co of the electronic cooling element. Note that if the capacitor 36 is inserted on the light source side of the equivalent capacitance C8, heat from the LD chip 26 will be transferred via the capacitor 36, but the insulation that forms the capacitor Since the thermal conductivity of the body is low, the temperature stability of the LD chip 26 deteriorates. Therefore, the capacitance 36 needs to be inserted on the ground potential side of the equivalent capacitance C8.
作 用
等価静電容量C8に対して直列に、より小さい静電容量
36を付加することにより、それらの合成静電容量は静
電容量36よりも小さくなるので、等価静電容量C8と
静電容量36の合成静電容量とワイヤ34のインダクタ
ンスによって生じる共振周波数を、変調帯域外へ上昇さ
せることが可能となる。その結果、光出力波形の乱れを
抑制できると同時に、光源の温度安定化をも達成できる
ことになる。By adding a smaller capacitance 36 in series with the working equivalent capacitance C8, their combined capacitance becomes smaller than the capacitance 36, so the equivalent capacitance C8 and the capacitance It becomes possible to raise the resonant frequency generated by the combined capacitance of the capacitor 36 and the inductance of the wire 34 to outside the modulation band. As a result, disturbances in the optical output waveform can be suppressed, and at the same time, temperature stabilization of the light source can be achieved.
実 施 例
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。Embodiments Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明の実施例に係るLDアセンブリ38の断
面図であり、LDチップ40が金属等の導電体から形成
されたステム42上に搭載固定されており、ステム42
はベルチェ素子44に搭載されている。ベルチェ素子4
4は2個のセラミック基板46.48の内面に、交互に
配設された隣接するn型及びp型半導体45を接続する
導電性パターンを形成し、セラミック基板46.48で
ゼーベフク効果を有する半導体45を挟んで構成されて
いる。一方のセラミック基板48がステム42に面接触
する一方、他方のセラミック基板46がコバール等から
形成された金属製筐体50の内面に面接触により固着さ
れている。セラミック基板46.48をメタライズする
ことにより、金属製筐体50とセラミック基板46との
接合及びセラミック基板48とステム42との接合は、
半田付けにより行われている。FIG. 1 is a cross-sectional view of an LD assembly 38 according to an embodiment of the present invention, in which an LD chip 40 is mounted and fixed on a stem 42 made of a conductive material such as metal.
is mounted on the Beltier element 44. Beltier element 4
4 forms a conductive pattern connecting adjacent n-type and p-type semiconductors 45 arranged alternately on the inner surfaces of two ceramic substrates 46 and 48, and the ceramic substrates 46 and 48 are semiconductors having a Seebefuch effect. 45 on both sides. One ceramic substrate 48 is in surface contact with the stem 42, while the other ceramic substrate 46 is fixed by surface contact to the inner surface of a metal casing 50 made of Kovar or the like. By metallizing the ceramic substrates 46 and 48, the metal housing 50 and the ceramic substrate 46 can be joined together, and the ceramic substrate 48 and the stem 42 can be joined together.
This is done by soldering.
図示されているように金属製筐体50の底壁は中央部分
50aと一対の端部部分50bとに三分割されており、
中央部分50aと各々の端部部分50bとの間に窒化ア
ルミ (AfN4)、アルミナ(A1203〉等から形
成された誘電体部材52が介装されている。誘電体部材
52と中央部分50a及び端部部分50bとの間の接合
は、誘電体部材52をメタライズしてから、例えばAg
−Cuのロー付けにより行われている。また、中央部分
50aの外面上には放熱フィン54が固着されている。As shown in the figure, the bottom wall of the metal casing 50 is divided into three parts: a central portion 50a and a pair of end portions 50b.
A dielectric member 52 made of aluminum nitride (AfN4), alumina (A1203), etc. is interposed between the center portion 50a and each end portion 50b. The bonding between the portion 50b and the dielectric member 52 is performed by metallizing the dielectric member 52 and then using, for example, Ag.
- This is done by brazing Cu. Further, a radiation fin 54 is fixed on the outer surface of the central portion 50a.
金属製筐体50には少なくとも信号入力用リード56及
び筐体50と接続したアースリード58が設けられてお
り、信号入力用リード56は図示しないLD駆動回路に
接続されている。信号入力用リード56はワイヤ60を
介してLDチップ40に接続され、アースリード58は
ワイヤ62によりステム42に接続されている。64は
信号入力用リード56を金属製筐体50から絶縁するた
めのガラス、テフロン等の絶縁材である。ステム42上
に搭載されたLDチップ40の駆動は、信号人力用リー
ド56、ワイヤ60.62及びアースリード58を介し
て行われるようになっている。The metal casing 50 is provided with at least a signal input lead 56 and a ground lead 58 connected to the casing 50, and the signal input lead 56 is connected to an LD drive circuit (not shown). The signal input lead 56 is connected to the LD chip 40 via a wire 60, and the ground lead 58 is connected to the stem 42 via a wire 62. 64 is an insulating material such as glass or Teflon for insulating the signal input lead 56 from the metal casing 50. The LD chip 40 mounted on the stem 42 is driven via a signal human power lead 56, wires 60 and 62, and a ground lead 58.
さらに、金属製筐体50の底壁の端部部分50bは一対
のアセンブリ取付板66.68の各々に、アセンブリ取
付板66.68の端面から放熱フィン54まで十分離間
させてネジ70により取り付けられている。図示されて
いるように、金属製筐体50の底壁の中央部分50aが
誘電体部材52により端部部分50bと直流的に分離さ
れるように、端部部分50bをアセンブリ取付板66.
68に取り付けることにより、誘電体部材52を静電容
量として機能させることができる。Further, the end portions 50b of the bottom wall of the metal housing 50 are attached to each of the pair of assembly mounting plates 66, 68 by screws 70 at a sufficient distance from the end surface of the assembly mounting plates 66, 68 to the radiation fins 54. ing. As shown, the end portion 50b is attached to the assembly mounting plate 66 such that the central portion 50a of the bottom wall of the metal housing 50 is galvanically isolated from the end portion 50b by the dielectric member 52.
By attaching it to 68, the dielectric member 52 can function as a capacitor.
尚、ベルチェ素子44を通過する熱は、放熱板54から
放熱されることになる。放熱板54とアセンブリ取付板
66.68との間には、十分大きな絶縁層(図示された
ように気体或いは誘電体により形成する)を作り、放熱
板54とアセンブリ取付板66.68との間の相互の直
流結合を防ぐとともに、誘電体部材52の形成する静電
容量に並列に付加されることになる静電容量の値をでき
るかぎり小さくする必要がある。Note that the heat passing through the Beltier element 44 is radiated from the heat sink 54. A sufficiently large insulating layer (formed of gas or dielectric material as shown) is formed between the heat sink 54 and the assembly mounting plate 66.68, and the insulation layer is formed between the heat sink 54 and the assembly mounting plate 66.68. It is necessary to prevent direct current coupling between the dielectric members 52 and 52, and to minimize the value of the capacitance that will be added in parallel to the capacitance formed by the dielectric member 52.
上述した実施例では、ベルチェ素子の熱的対象物を高速
変調光源のみとしているが、例えば、電気的インピーダ
ンス特性を改善するために光源近傍に光源駆動回路を設
けるときのように、光源以外の発熱物をも熱的対象とす
る場合でも、より性能の良いベルチェ素子を搭載し、上
述した実施例と全く同様なLDアセンブリの筐体底面を
形成することにより、光源の高周波特性を同等に維持す
ることができる。In the above-described embodiment, the thermal target of the Bertier element is only a high-speed modulated light source, but for example, when a light source drive circuit is provided near the light source to improve electrical impedance characteristics, heat generated by sources other than the light source may be used. Even when an object is to be treated as a thermal object, the high frequency characteristics of the light source can be maintained at the same level by mounting a better-performing Vertier element and forming the bottom surface of the LD assembly housing exactly the same as in the above-mentioned embodiment. be able to.
発明の効果
本発明の半導体レーザアセンブリは以上詳述したように
構成したので、半導体レーザの高速変調特性を劣化させ
ることなく、半導体レーザの温度安定化を適度に達成で
きるという効果を奏する。Effects of the Invention Since the semiconductor laser assembly of the present invention is constructed as described in detail above, it has the effect of achieving appropriate temperature stabilization of the semiconductor laser without degrading the high-speed modulation characteristics of the semiconductor laser.
第1図は本発明の実施例断面図、
第2図は電子式冷却素子の寄生静電容量等価回路図、
第3図は第2図の等価回路を用いて表現した本発明の原
理を示す回路図、
第4図は従来例断面図である。
14.44・・・電子式冷却素子(ペルチェ素子)26
.40・・・LDチップ、
co ・・・寄生静電容量、
36・・・付加静電容量、
50・・・金属製筐体、
50a・・・中央部分、
50b・・・端部部分、
52・・・誘電体部材、
54・・・放熱フィン、
66.68・・・アセンブリ取付部材。Fig. 1 is a sectional view of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is an equivalent circuit diagram of parasitic capacitance of an electronic cooling element, and Fig. 3 shows the principle of the present invention expressed using the equivalent circuit of Fig. 2. The circuit diagram and FIG. 4 are sectional views of a conventional example. 14.44...Electronic cooling element (Peltier element) 26
.. 40... LD chip, co... Parasitic capacitance, 36... Additional capacitance, 50... Metal casing, 50a... Center portion, 50b... End portion, 52 ...Dielectric member, 54...Radiating fin, 66.68... Assembly mounting member.
Claims (1)
載固定し、該導電性部材(42)を電子式冷却素子(4
4)の一面に固定するとともに、電子式冷却素子(44
)の他面を金属製筐体(50)の内面に固定した電子式
冷却素子内蔵半導体レーザアセンブリにおいて、前記電
子式冷却素子(44)を搭載固定した金属製筐体(50
)の壁部を電子式冷却素子(44)を搭載した中央部分
(50a)と一対の端部部分(50b)とに三分割し、
該中央部分(50a)と各々の端部部分(50b)との
間に誘電体部材(52)を介装したことを特徴とする電
子式冷却素子内蔵半導体レーザアセンブリ。 2、前記中央部分(50a)の外側壁面に放熱フィン(
54)を取り付けるとともに、一対のアセンブリ取付板
(66、68)の各々に、該アセンブリ取付板(66、
68)の端面から放熱フィン(54)まで十分離間させ
て、前記各々の端部部分(50b)を取り付けたことを
特徴とする請求項1記載の電子式冷却素子内蔵半導体レ
ーザアセンブリの取付方法。[Claims] 1. A semiconductor laser (40) is mounted and fixed on a conductive member (42), and the conductive member (42) is connected to an electronic cooling element (42).
4) and an electronic cooling element (44).
) in a semiconductor laser assembly with a built-in electronic cooling element, the other surface of which is fixed to the inner surface of a metal housing (50), the metal housing (50) has the electronic cooling element (44) mounted and fixed thereon;
) is divided into three parts: a central part (50a) equipped with an electronic cooling element (44), and a pair of end parts (50b);
A semiconductor laser assembly with a built-in electronic cooling element, characterized in that a dielectric member (52) is interposed between the central portion (50a) and each end portion (50b). 2. Heat dissipation fins (
54), and a pair of assembly mounting plates (66, 68), respectively.
2. The method for attaching a semiconductor laser assembly with a built-in electronic cooling element according to claim 1, wherein each of the end portions (50b) is attached at a sufficient distance from the end face of the semiconductor laser assembly (68) to the radiation fin (54).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1338427A JPH03201494A (en) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | Electronic type cooling element built-in semiconductor laser assembly |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1338427A JPH03201494A (en) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | Electronic type cooling element built-in semiconductor laser assembly |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03201494A true JPH03201494A (en) | 1991-09-03 |
Family
ID=18318050
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1338427A Pending JPH03201494A (en) | 1989-12-28 | 1989-12-28 | Electronic type cooling element built-in semiconductor laser assembly |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03201494A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1104053A2 (en) * | 1999-11-29 | 2001-05-30 | Nec Corporation | Semiconductor laser module |
-
1989
- 1989-12-28 JP JP1338427A patent/JPH03201494A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1104053A2 (en) * | 1999-11-29 | 2001-05-30 | Nec Corporation | Semiconductor laser module |
EP1104053A3 (en) * | 1999-11-29 | 2002-10-30 | Nec Corporation | Semiconductor laser module |
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