JPH03197893A - 放射線測定装置 - Google Patents

放射線測定装置

Info

Publication number
JPH03197893A
JPH03197893A JP33901389A JP33901389A JPH03197893A JP H03197893 A JPH03197893 A JP H03197893A JP 33901389 A JP33901389 A JP 33901389A JP 33901389 A JP33901389 A JP 33901389A JP H03197893 A JPH03197893 A JP H03197893A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
counting
output
sensor array
pulses
radiation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33901389A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiromasa Funakoshi
裕正 船越
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP33901389A priority Critical patent/JPH03197893A/ja
Publication of JPH03197893A publication Critical patent/JPH03197893A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は医療分野及び工業分野における放射線診断装置
や非破壊検査用放射線検査装置等に利用する放射線測定
装置に関するものである。
従来の技術 従来の放射線測定装置の一方式として、放射線に感応す
る素子をアレイ状に並べ、このアレイを走査することに
より2次元画像を得るものがあった。この様な方式とし
て、例えば特開昭60−80746号公報に記載された
ものがある。これは複数のパルス・カウンタを持ち、パ
ルス波高を任意の複数グループに分類しカウントするも
のであった。
第7図は従来の放射線受像装置のブロック図である。第
7図において、1はセンサアレイでありSi、CdTe
、GaAs、Hg12等の半導体センサやシンチレータ
で構成されている。2は増幅器、3は比較器であり、こ
の比較器3はn個存在する。
4はカウンタ、5は比較レベル設定回路、6はセレクト
回路、7はCPU、8はデータ信号、9はラッチ回路、
10はバイアス電源である。
上記構成について以下にその動作を説明する。
センサアレイlに放射線光子が入射し、発生した電荷は
バイアス電源lOの電界により一方向に収集される。こ
の結果、微小パルスとして検出され、増幅器2で増幅後
、比較器3に人力される。一般にシンチレータや半導体
センサのX線センサから出力されるパルス状の電流信号
を、電流電圧(■−V)変換もしくは電荷電圧変換によ
って電圧として取り扱う。
この人力段には、通常品人力インピーダンス・トランジ
スタが用いられている。これはX線センサからの電流出
力が非常に小さいためであり、−船釣に接合型電界効果
トランジスタが使用されている。比較器3では比較レベ
ル設定回路5からの出力と比較され、人力条件を満足し
たときに、2値化されたパルスとしてカウンタ4でカウ
ントされる。その後一定期間カウントしてからラッチ回
路9に一時的に貯えられる。なお波高弁別を行うため、
比較器3に供給される比較レベル設定回路5の出力は、
各々の比較器3で違っておりn個存在する。このように
して得られた値は、CPU7によりセレクト回路6で選
択され、データ信号8として取り込まれる。
これは基本的に放射線光子を1個ずつカウントするパル
ス計数のため、理論的に最高感度の方式発明が解決しよ
うとする課題 しかしながら、このような構成ではいろいろな課題があ
る。
(1)  第8図はデータ転送の方法を示す。センサア
レイlを用いている場合には、短時間の内に撮影を終ら
せる必要があり、周期Tをある一定時間に抑えねばなら
ない。 (a)では転送の閏カウントをストップしてい
る。しかしこの方法では、データ数が増加した場合に転
送時閉が長くなるという課題が生じる。この時、カウン
ト器間を短くするか、周期Tを長くするかを選択しなけ
ればならない。前者を選択すれば、カウント数の減少→
画質の劣化、後者であれば撮影の長時開化を招く結果と
なる。これらを改善するために(b)の方式がある。 
(b)ではカウント器間と転送期間が重なっている。こ
の方式では、カウント期ff1T1で計数されたデータ
は、次のカウント器間T2の間に転送されるため、カウ
ント期間の減少、撮影時間の長時開化も招かない。
しかしながらこの方式の場合、転送時のノイズを拾い易
いという課題があった。これはセンサ及びトランジスタ
が高インピーダンス・高コンダクタンスであるために、
微小信号(外来ノイズ)に敏感なためである。例えは、
データを転送する時の転送りロック、またはデータをラ
ッチしたりDRAMを使用した場合など、−度に出力デ
ータが変化し、瞬間的に電流が流れる時に生じる。そし
てそのノイズをX線光子人射による信号と誤って計数す
るという課題があった。
(2)センサアレイlには放射線光子が常にランダムに
入射するため、パイルアップ(パルスの重なり)が生じ
ることがある。第9図はX線光子人力に対する波形図で
ある。第9図(a)のように、光子1個の入射があって
から十分時間が経過した後、2番目の光子が入射する場
合は問題ない。
ところが光子の入射間隔が短くなってくると、最初のパ
ルスと次のパルスが重なり干渉しあって一つのパルスと
なり易い。パルス同士が近づくだけでなく、パルス幅が
広がり過ぎた場合にもカウント・ミスが生じる。パルス
計数を行う場合、1個ずつのパルスを分離できないと、
ダイナミックレンジが低下するばかりでなく、画質の劣
化も招いてしまう。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、(1)
クロック等に同期したノイズを誤カウントしない、また
は(2)パルス間の重なりを減少できる放射線測定装置
を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 請求項10本発明は、放射線に感応するセンサアレイ手
段と、前記センサアレイ手段の出力を増幅する増幅手段
と、前記増幅手段の出力を波高弁別する比較手段と、前
記比較手段出力をカウントする計数手段と、計数手段出
力をラッチ及び転送する転送手段と、そのラッチ及び転
送に同期して一定幅パルスを出力し、前記計数手段の計
数を禁lヒ制御するパルス発生手段とを有することを特
徴とする放射線測定装置。
請求項20本発明は、放射線に感応するセンサアレイ手
段と、前記センサアレイ手段の出力を増幅する増幅手段
と、前記増幅手段の出力を波高弁別する比較手段と、前
記比較手段出力をカウントする計数手段とを備え、高域
通過フィルターが前記増幅手段の前あるいは前記比較手
段の前に介在させられていることを特徴とする放射線測
定装置。
請求項3の本発明は、放射線に感応するセンサアレイ手
段と、前記センサアレイ手段の出力を増幅する増幅手段
と、前記増幅手段の出力を波高弁別する比較手段と、前
記比較手段出力をカウントする計数手段を有し、前記セ
ンサアレイ手段内を電子が移動する時間をTe、前記増
幅手段の遮断周波数をFcとした場合、Fc<1/Te
の関係が成り立つことを特徴とする放射線測定装置。
作用 本発明は上記した構成により、 (1)データラッチ・転送りロックに同期して、カウン
ト禁止区間を設定したため、カウント期間を大幅に減少
させないばかりでなく、誤ってX線光子として検出する
こともない。
(2)低域の周波数成分をカットして、出力されるパル
ス幅を狭くし、パルス同士の分離が容易になる。
(3)増幅手段の遮断周波数以上で使用するため、出力
されるパルス幅は狭くなり、パルス同士の分離が容易に
なる。
実施例 本発明の放射線測定装置の一実施例について図面を参照
しながら説明する。
第1図は本発明の一実施例における放射線測定装置の概
略構成図である。同図において、パルス発生手段の一例
としてのパルス発生回路12のみが、第7図の従来例と
異なっており、同一手段には同一番号を付す。上述のよ
うに、1はセンサアレイ、2は増幅手段の一例としての
増幅器、3は比較手段の一例としての比較器、4は計数
手段の一例としてのカウンタ、5は比較レベル設定回路
、6はセレクト回路、7はCPU、8はデータ信号、9
は転送手段の一例としてのラッチ回路、10はバイアス
電源である。
第2図は同実施例の波形図である。第2図(a)はセレ
クト信号9に相当し、データを読み出すための指令であ
る。この信号に同期してデータが変化するため、増幅器
2の出力では(a)の立ち上がり及び立ち下がり部に相
当する位置にノイズが生じ易い。 (b)はこの増幅器
2出力を示している。特に増幅器2の特性が向上すれば
(増幅度、f特)、−段とノイズの影響を受は易くなる
。センサアレイ1にX線光子入力があった場合が(C)
である。パルス(光子入力)に混じってノイズが存在す
る。パルス発生回路12は、例えば、モノステーブル・
マルチ・バイブレータ(以下モノマルチと略す)からな
っており、 (a)の立ち上がり・立ち下がりでトリガ
ーされ、一定幅の信号(d)を出力する。これがカウン
タ4に人力される。カウンタ4には、例えば74161
(TTL)のようなイネーブル端子が存在し、” Hi
gh″区間のみカウントされ、カウント禁止が行なわれ
る。つまり”L ay’”状態ではカウントされないた
め、ノイズが出ている区間だけにモノマルチの時定数を
設定しておけば、ノイズを光子入力と間違えてカウント
することはない。 (e)はイネーブル状態での増幅器
2出力である。
第3図はパルス発生回路12の別の実施例を示す図であ
る。イネーブル端子がない場合でも、第3図のように論
理積をとりカウンタ4に人力する構成をとれば実現可能
である。またモノマルチは、カウンタとクロックを組み
合わせた構成でも良い。
第4図は別の本発明の一実施例を示すブロック図である
。第7図の従来例とはフィルター回路15が異なるだけ
であり、同じ手段には、同じ番号をつけて示す。第5図
は、その実施例の動作を説明するための図である。
第5図(a)において、センサアレイlに入射したX線
光子は、光電効果等によってエネルギーを失い、電子・
ホール対を発生させる。電子・ホール対は外部電界によ
って、各々の電極に向かって移動する。この時、ラモー
の定理にしたがって電流が流れ、電子とホールの影響が
合わさって、同図(b)のようになる。振幅の差は、各
々の移動度によるものである。電極幅をW、電子の速度
をVeとし、Wを移動するのに要する時間なTeとすれ
ば、Te=W/Veとなる。増幅器2の遮断周波数をF
cとすると、Teの変化によってパルス幅は変動してく
る。これを(C)に示す。この時、(イ)、 (ロ)の
様に狭い場合はともかく、 (ハ)の様な状態になれは
、パルス幅が広がったために、前述したようなパイルア
ップが生じてくる。これを出来るだけ除外するために、
本実施例が有効になってくる。 (d)に高域フィルタ
ー15の周波数特性を示す。高域通過フィルター15を
使用したため、低域成分をほとんどカットしている。し
たがって、 (e)のようにパルスの広がりもかなりカ
ットできる。ここでは電子の影響だけを考えているが、
ホールの場合、発生直後には影響力を持っていても、ト
ラッピングされてその後の影響はほとんどなくなる。な
お。図示実施例では、高域フィルター16は、比較器3
の後に接続されているが、増幅器2と比較器3の間に接
続されていてもよい。
第6図は別の本発明の一実施例の説明図である。
本実施例の場合には、第5図(c)の(ハ)のように幅
の長い電流信号発生すること自体を防ぐものである。つ
まり全ての電流信号が、第6図(a)の減衰領域に相当
する時間しか流れないように、増幅器2の周波数特性と
センサの幅、電子の速度を決定するものである。電子の
速度は、移動度μと印加する電界強度に依存する。しか
し、移動度μは物質によって定まるため、はぼ電界強度
により定義できる。本実施例の場合、減衰領域を用いる
ために波高がかなり低下してくものの、それは電子によ
る信号成分である。ホールによる信号成分の減衰度は、
電子はどひどくはなく、発生直後であれば信号として検
出可能である。したがって減衰させ過ぎて検出不能とい
う事態は起こらない。
ここで増幅器3の遮断周波数をFc、センサの幅をW、
電子の速度をVeとすれば、電子による電流信号幅Te
はW/Veとなる。そこでFc<1/Teの関係式が成
り立てば、電子による電流は減衰領域に入る。こうすれ
ば第6図(b)の(イ)、 (ロ)(ハ)のように、ど
の様な場合でもパルス幅が短くなる。
本発明は上記実施例に示すものに限定されるもではなく
、本発明の主旨を逸脱しない範囲において種々の態様に
構成できることは言うまでもない。
発明の効果 以上述べてきたように本発明によれば、極めて簡易な構
成で、カウント期間の大幅な減少もなく、転送やラッチ
用のクロックによるノイズを誤ってX線光子として検出
しないため、画質の向上・撮影時 間の短縮が図れる。
また、パルス幅が広がらない状態でパルスとして検出す
るため、1個ずつのパルスが分離し易くなり、放射線光
子の入射数をより正確に求めることができる。そのため
画質の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における放射線測定装置の概
略構成を示すブロック図、第2図は同実施例の各信号の
波形図、第3図は本発明の別実施例のパルス発生回路の
回路図、第4図は別の本発明の一実施例を示すブロック
図、第5図は同実施例の動作を説明するための図、第6
図は別の本発明の一実施例を示すためのグラフ、第7図
は従来の放射線測定装置のブロック図、第8図は従来の
データ転送の方法を示すタイミングチャート、第9図は
従来のX線光子人力に対する波形信号を示すグラフであ
る。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)放射線に感応するセンサアレイ手段と、前記セン
    サアレイ手段の出力を増幅する増幅手段と、前記増幅手
    段の出力を波高弁別する比較手段と、前記比較手段出力
    をカウントする計数手段と、その計数手段出力をラッチ
    及び転送する転送手段と、そのラッチ及び転送に同期し
    て一定幅パルスを出力し、前記計数手段の計数を禁止制
    御するパルス発生手段とを有することを特徴とする放射
    線測定装置。
  2. (2)放射線に感応するセンサアレイ手段と、前記セン
    サアレイ手段の出力を増幅する増幅手段と、前記増幅手
    段の出力を波高弁別する比較手段と、前記比較手段出力
    をカウントする計数手段とを備え、高域通過フィルター
    が前記増幅手段の前又は後あるいは前記比較手段の前又
    は後に介在させられていることを特徴とする放射線測定
    装置。
  3. (3)放射線に感応するセンサアレイ手段と、前記セン
    サアレイ手段の出力を増幅する増幅手段と、前記増幅手
    段の出力を波高弁別する比較手段と、前記比較手段出力
    をカウントする計数手段を有し、前記センサアレイ手段
    内を電子が移動する時間をTe、前記増幅手段の遮断周
    波数をFcとした場合、Fc<1/Teの関係が成り立
    つことを特徴とする放射線測定装置。
JP33901389A 1989-12-26 1989-12-26 放射線測定装置 Pending JPH03197893A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33901389A JPH03197893A (ja) 1989-12-26 1989-12-26 放射線測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33901389A JPH03197893A (ja) 1989-12-26 1989-12-26 放射線測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03197893A true JPH03197893A (ja) 1991-08-29

Family

ID=18323447

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33901389A Pending JPH03197893A (ja) 1989-12-26 1989-12-26 放射線測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03197893A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002350552A (ja) * 2001-05-28 2002-12-04 Mitsubishi Electric Corp 放射線検出装置
US7504636B1 (en) * 2006-12-20 2009-03-17 Xrf Corporation Radiation detector using pulse stretcher
JP2010513860A (ja) * 2006-12-13 2010-04-30 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線光子を計数する装置、撮像デバイス及び方法
JP2014197015A (ja) * 2008-12-01 2014-10-16 独立行政法人放射線医学総合研究所 γ線を放出する陽電子崩壊核種の放射能絶対測定方法、放射線検出器集合体の検出効率決定方法、及び、放射線測定装置の校正方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002350552A (ja) * 2001-05-28 2002-12-04 Mitsubishi Electric Corp 放射線検出装置
JP2010513860A (ja) * 2006-12-13 2010-04-30 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線光子を計数する装置、撮像デバイス及び方法
US7504636B1 (en) * 2006-12-20 2009-03-17 Xrf Corporation Radiation detector using pulse stretcher
JP2014197015A (ja) * 2008-12-01 2014-10-16 独立行政法人放射線医学総合研究所 γ線を放出する陽電子崩壊核種の放射能絶対測定方法、放射線検出器集合体の検出効率決定方法、及び、放射線測定装置の校正方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2203762B1 (en) Particle-counting apparatus with pulse shortening
US8491190B2 (en) Method of calibrating an X-ray detector
US9065432B2 (en) Device for processing a signal delivered by a radiation detector
US10575800B2 (en) Increased spatial resolution for photon-counting edge-on x-ray detectors
US11054371B2 (en) Enabling estimation of an initial point of interaction of an x-ray photon in a photon-counting x-ray detector
KR101647395B1 (ko) 양극성 임계상한시간방법을 이용한 방사선 신호처리 장치 및 방법
Bisogni et al. Performance of a 4096-pixel photon counting chip
JPH03197893A (ja) 放射線測定装置
US7388210B2 (en) Enhanced processing circuit for spectrometry system and spectrometry system using same
Polichar et al. Application of monolithic CdZnTe linear solid state ionization detectors for X-ray imaging
US6211664B1 (en) Device for measuring the rise time of signals interfered with by noise from gamma or X radiation detectors
Kravis et al. Test results of the Readout Electronics for Nuclear Applications (RENA) chip developed for position-sensitive solid state detectors
JP3127930B2 (ja) 半導体放射線位置検出装置
US6600161B2 (en) Method and apparatus for imaging by means of ionizing radiation
Giakos et al. Sensitometric response of Cd/sub 1-x/Zn/sub x/Te detectors for chest radiography
JPH04134290A (ja) 放射線検出器
JPH0448546Y2 (ja)
JPH0519061A (ja) 放射線検出信号弁別回路
JPH0619455B2 (ja) 放射線測定装置
KR102128963B1 (ko) 방사선 검출 분석 장치
CN111142148B (zh) 一种位置敏感型闪烁探测器的倒装sql方法
Chatzakis et al. Improved detection of fast neutrons with solid-state electronics
US20230204799A1 (en) Radiation detector
JPH01277792A (ja) 放射線パルス計数装置
Tumer et al. High-resolution imaging 1D and 2D solid state detector systems