JPH03195036A - Positioning and apparatus therefor - Google Patents

Positioning and apparatus therefor

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JPH03195036A
JPH03195036A JP1335968A JP33596889A JPH03195036A JP H03195036 A JPH03195036 A JP H03195036A JP 1335968 A JP1335968 A JP 1335968A JP 33596889 A JP33596889 A JP 33596889A JP H03195036 A JPH03195036 A JP H03195036A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
positioning
qfpic
lead
leads
inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP1335968A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideji Ohashi
秀治 大橋
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Abstract

PURPOSE:To position a flat-package IC suitably for an inspection operation and for a connection operation to an interconnection on a printed-circuit board by a method wherein the IC is positioned in a position at the tip of a lead protruding from an IC flat package. CONSTITUTION:When a QFPIC 3 is positioned, positioning claws 2a to 2d are set to a released state; the QFPIC 3 is placed on an IC cradle 1; after that, a force which has been applied to the positioning claws 2a to 2d is removed. Then, the positioning claws 2a to 2d are moved to the direction to the center (c) of the IC cradle 1 by a force of springs 4a to 4d; tip faces of leads 5, 5,... protruding from four sides of the QFPIC 3 are pushed to the centripetal direction; the QFPIC 3 is centered. When the QFPIC 3 is positioned in this manner, the IC can be positioned by using the tips of the leads 5. Thereby, when a lead bend is inspected simply, there is no danger that it cannot be inspected or an inspection accuracy is lowered; the leads 5 of the QFPIC 3 can be positioned in advance suitably when they are connected to an interconnection film on a printed wiring board.

Description

【発明の詳細な説明】 以下の順序に従って本発明を説明する。[Detailed description of the invention] The present invention will be described in the following order.

A、産業上の利用分野 B8発明の概要 従来技術 発明が解決しようとする問題点 問題点を解決するための手段 作用 実施例[第1図乃至第3図] 発明の効果 (A、産業上の利用分野) 本発明はフラットパッケージICの位置決め方法とそれ
に用いる位置決め装置に関する。
A. Industrial field of application B8 Outline of the invention Prior art Problems to be solved by the invention Examples of means and actions for solving the problems [Figs. 1 to 3] Effects of the invention (A. Industrial applications) Field of Application) The present invention relates to a method for positioning a flat package IC and a positioning device used therefor.

(B、発明の概要) 本発明は、フラットパッケージICを、検査やプリント
基板等の配線への接続に適切な位置に位置決めができる
ようにするため、 リードの先端の位置によりICの位置決めをするもので
ある。
(B. Summary of the Invention) The present invention positions the IC based on the position of the tip of the lead in order to position the flat package IC at an appropriate position for inspection and connection to wiring on a printed circuit board, etc. It is something.

(C,従来技術) IC(例えばQFPIC)の需要の増加に伴うてICの
供給量の増大が図られているが、それに伴って製造を終
えたICの検査を大量に行うことが必要である。そして
、電気的特性の検査の重要性が高いことはいうまでもな
いが、ICのリード変形、パッケージのマーク不良の有
無を調べる外観検査の重要性が高まっている。特に、I
Cのリード変形の有無を調べる検査の重要性が高まって
いるのである。
(C, Prior Art) With the increase in demand for ICs (for example, QFPICs), efforts are being made to increase the supply of ICs, but with this, it is necessary to conduct a large number of inspections of ICs that have been manufactured. . It goes without saying that testing electrical characteristics is highly important, but visual inspection to check for deformation of IC leads and defective marks on packages is becoming increasingly important. In particular, I
The importance of testing for the presence or absence of C lead deformation is increasing.

というのは、ICは高集積化に伴ってリードの数が増え
、リードのピッチが小さくなる傾向にあり、僅かなリー
ドの寄り、浮き沈みがICとこれと接続されるプリント
配線基板の配線膜との整合性に支障をきたすからである
。従って、非常に精確に且つ大量に検査する必要があり
、目視検査ではその必要に応じることは事実上不可能と
なる。
This is because as ICs become more highly integrated, the number of leads increases and the pitch of the leads tends to become smaller, and slight deviations or ups and downs of the leads can cause problems between the IC and the wiring film of the printed wiring board connected to it. This is because it interferes with the consistency of Therefore, it is necessary to inspect very accurately and in large quantities, and it is virtually impossible to meet this need by visual inspection.

そこで、画像処理方式によるあるいは特開平1−272
126号公報、特開昭63−278345号公報等に紹
介された光学式変位センサによるリード曲り検査装置が
開発されている。
Therefore, using an image processing method or
A lead bending inspection device using an optical displacement sensor has been developed, which was introduced in Japanese Patent Application Laid-open No. 126, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-278345, and the like.

ところで、画像処理方式によるにせよ光学式変位センサ
を用いた方式によるにせよ検査をするにあたってのIC
の位置決めは、従来においては、特開昭63−1387
47公報に紹介されているようにパッケージにて行って
いた。即ち、ICのパッケージを所定位置に位置決めす
ることによってICを位置決めしていたのである。
By the way, whether the IC is inspected by an image processing method or by a method using an optical displacement sensor,
Conventionally, the positioning of the
It was done in a package as introduced in Publication No. 47. That is, the IC was positioned by positioning the IC package at a predetermined position.

(D、発明が解決しようとする問題点)しかしながら、
ICをパッケージにて位置決めする位置決め方法によれ
ば、測定したいリードをリード検査に適切な位置に位置
決めできない虞れがあった。というのは、フラットバッ
ケー・ジICには製造過程でリード部とパッケージとの
間に微妙な位置ずれが発生することが少なくないからで
ある。かかる位置ずれは許容範囲にある限り製品を不良
品にすることにはつながらないが、しかしリードの検査
に支障をきたす虞れがある。特に、各リードが小さ(リ
ードピッチも小さいVQFPIC等においてはリード部
を高精度に位置決めしないと検査不能ないしは検査精度
の著しい低下を招き看過できない問題となる。
(D. Problem that the invention seeks to solve) However,
According to the positioning method of positioning an IC using a package, there is a possibility that the lead to be measured cannot be positioned at an appropriate position for lead inspection. This is because, in flat package ICs, slight misalignment often occurs between the lead portion and the package during the manufacturing process. As long as such positional deviation is within an allowable range, it will not cause the product to be defective, but it may impede the inspection of the leads. In particular, in VQFPICs where each lead is small (the lead pitch is also small), unless the lead portions are positioned with high precision, inspection becomes impossible or the inspection accuracy is significantly reduced, which is a problem that cannot be overlooked.

また、ICをプリント配線基板の配線膜に半田付は等に
より接続するような場合にも同様の問題が生じる。即ち
、各リードをこれと対応する配線膜に正確に位置決めで
きず、延いては接続ができなくなる虞れがある。
Further, a similar problem occurs when an IC is connected to a wiring film of a printed wiring board by soldering or the like. That is, each lead cannot be accurately positioned on its corresponding wiring film, and there is a possibility that connection may not be possible.

本発明はこのような問題点を解決すべく為されたもので
あり、検査やプリント基板等の配線への接続に適切な位
置決めができるようにすることを目的とする。
The present invention has been made to solve these problems, and its purpose is to enable appropriate positioning for inspection and connection to wiring of a printed circuit board or the like.

(E、問題点を解決するための手段) 本発明は上記問題点を解決するため、リードの先端の位
置によりICの位置決めをすることを特徴とする。
(E. Means for Solving the Problems) In order to solve the above problems, the present invention is characterized in that the IC is positioned based on the position of the tip of the lead.

(F、作用) 本発明によれば、リードの先端にてICを位置決めする
ので、リードが検査や配線膜への接続に支障をきたさな
いような位置にくるようにICの位置決めをすることが
できる。
(F. Effect) According to the present invention, since the IC is positioned at the tip of the lead, the IC can be positioned so that the lead does not interfere with inspection or connection to the wiring film. can.

(G、実施例)[第1図乃至第3図] 以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説明する。(G, Example) [Figures 1 to 3] Hereinafter, the present invention will be explained in detail according to illustrated embodiments.

第1図及び第2図は本発明位置決め装置の一つの実施例
を示すもので、第1図は平面図、第2図は第1図の2−
2線に沿う断面図である。
1 and 2 show one embodiment of the positioning device of the present invention. FIG. 1 is a plan view, and FIG.
FIG. 2 is a cross-sectional view along line 2;

lはIC受は台、2a〜2dはIC受は台1上を移動す
る位置決め爪で、IC受は台1のQFPIC3が置かれ
る部分の外側にそのQFPIC3の各辺に対応してX方
向又はY方向に移動可能に設けられている。位置決め爪
2b、位置決め爪2dはX方向に移動可能に設けられて
おり、位置決め爪2a、2CはY方向に移動可能に設け
られている。
1 is the IC holder, 2a to 2d are positioning claws that move on the pedestal 1, and the IC holder is located outside the part of the pedestal 1 where the QFPIC 3 is placed in the X direction or in correspondence with each side of the QFPIC 3. It is provided movably in the Y direction. The positioning claws 2b and 2d are provided movably in the X direction, and the positioning claws 2a and 2C are provided movably in the Y direction.

そして、位置決め爪2bと位置決め爪2dとは互いに下
部の図示しないリンクによりつながっており互いに運動
するようになっている。この連動は位置決め爪2bがI
C受は台1の中心Cに近づくときは位置決め爪2dも該
中心Cに近づき、位置決め爪2bがIC受は台1の中心
Cから離れるときは位置決め爪2dも離れるような連動
である。
The positioning pawl 2b and the positioning pawl 2d are connected to each other by a link (not shown) at the bottom, so that they move relative to each other. This interlocking is possible when the positioning claw 2b is
When the C receiver approaches the center C of the stand 1, the positioning claw 2d also approaches the center C, and when the positioning claw 2b moves away from the center C of the IC receiver, the positioning claw 2d also moves away.

また、位置決め爪2aと位置決め爪2Cとも同様にリン
クによりつながって互いに連動するようになっている。
Further, the positioning pawl 2a and the positioning pawl 2C are similarly connected by a link so that they interlock with each other.

この連動も一方がIC受は台lの中心Cに近づくときは
他方も近づき、一方が中心から離れるときは他方も中心
Cから離れる連動である。
This interlocking is also such that when one IC receiver approaches the center C of the stand 1, the other approaches, and when one moves away from the center, the other moves away from the center C.

4aは位置決め爪2aをIC受は台1の中心Cへ近づく
方向に付勢するばね、4bは位置決め爪2bをIC受は
台1の中心Cへ近づ(方向に付勢するばねである。
4a is a spring that biases the positioning claw 2a toward the center C of the IC holder 1, and 4b is a spring that biases the positioning claw 2b toward the center C of the IC holder 1.

尚、位置決め装置の位置決め爪を駆動する機構は特願昭
63−270522号のハンドリングチャックの機構と
原理が同じである。
The principle of the mechanism for driving the positioning claw of the positioning device is the same as that of the handling chuck disclosed in Japanese Patent Application No. 63-270522.

本位置決め装置によりQFPIC3を位置決めするとき
は、上記ばね4a、4bの力に抗して位置決め爪4a〜
4dに対してこれ等をIC受は台lの中心から離す方向
の力を加えて開放状態にし、その状態にあるIC受は台
1上にQFPIC3を置き、その後位置決め爪4a〜4
dに加えていた力を取り去る。すると、位置決め爪4a
〜4dはばね4a〜4bの力によってIC受は台1の中
心Cに向かう方向に移動せしめられ、QFPIC3の四
つの・側辺から突出しているり一ド5.5、・・・の先
端面を求心方向に押すことによりQFPIC3をセンタ
リングするのである。
When positioning the QFPIC 3 using this positioning device, the positioning claws 4a to 4b resist the force of the springs 4a and 4b.
4d, the IC receiver is placed in an open state by applying a force in a direction to move them away from the center of the stand 1, and the IC receiver in that state is placed on the stand 1, and then the positioning claws 4a to 4
Remove the force applied to d. Then, the positioning claw 4a
~4d, the IC holder is moved in the direction toward the center C of the base 1 by the force of the springs 4a~4b, and the end surfaces of the hinges 5.5, . . . protruding from the four sides of the QFPIC 3 are moved. By pushing in the centripetal direction, the QFPIC 3 is centered.

このセンタリングは、リード5.5、・・・の先端面を
通る四本の直線により描かれた矩形の中心がIC受は台
1の中心Cに位置するようにするものであり、パッケー
ジの中心がIC受は台1の中心Cに位置するようにする
ものではない。従って、QFP I C3のパッケージ
とリード5.5、・・・との間に位置ずれがあってもリ
ード5.5・・・が所定位置に来るようにQFPIC3
を位置決めすることができる。依って、本位置決め装置
をリード曲り検査にあたってのICの位置決めに使用す
ることとすれば、リード5.5、・・・が検査に好適な
場所に来るようにQFPIC3の位置決めができ、検査
不能になったり検査精度が著しく低下したりする虞れが
なくなる。
This centering is done so that the center of the rectangle drawn by four straight lines passing through the end surfaces of the leads 5, 5, etc. is located at the center C of the IC holder 1, and the center of the package. However, the IC receiver is not positioned at the center C of the stand 1. Therefore, even if there is a misalignment between the QFP IC3 package and the leads 5.5,..., the QFPIC3 is
can be positioned. Therefore, if this positioning device is used to position the IC for lead bending inspection, it will be possible to position the QFPIC 3 so that the leads 5, 5, etc. are at a suitable location for inspection, making it impossible to inspect. There is no risk that the test accuracy will deteriorate significantly.

尚、変位センサを用いた検査方法によれば位置決め爪2
8〜2dにより位置決めしたままの状態で検査すると、
変位センサに内蔵された光源から出射された検査光がリ
ードだけでな(位置決め爪28〜2dにも照射されるの
で位置決め爪2a〜2dで反射された光も変位センサ内
の光位置検出素子(PSD)により受光されることにな
り、その結果、検査に支障をきたしたり検査精度を低下
させたりする虞れがある。従って、このような場合には
位置決め後位置決め爪2a〜2dをばね4a、4bの力
に抗してQFPIC3から離して開放状態にし、この状
態で検査を行うようにすることが必要となる。
In addition, according to the inspection method using a displacement sensor, the positioning claw 2
When inspecting while positioning by 8-2d,
The inspection light emitted from the light source built into the displacement sensor is irradiated not only to the leads (but also to the positioning claws 28 to 2d, so the light reflected by the positioning claws 2a to 2d is also reflected by the optical position detection element in the displacement sensor ( PSD), and as a result, there is a risk of interfering with the inspection or reducing the inspection accuracy.Therefore, in such a case, after positioning, the positioning claws 2a to 2d are moved by the springs 4a, It is necessary to resist the force of 4b and separate it from the QFPIC 3 to open it, and to perform the inspection in this state.

ところで、若しこのようにした場合には開放状態のとき
に装置の振動によりQFPIC3が位置ずれを起す可能
性がある。そこで、かかる位置ずれを防止するために、
第1図、第2図に2点鎖線で示すように真空吸着孔6を
設け、QFPIC3を真空吸着できるようにするように
しても良い。
By the way, if this is done, there is a possibility that the QFPIC 3 may be displaced due to vibration of the device when it is in the open state. Therefore, in order to prevent such positional deviation,
A vacuum suction hole 6 may be provided as shown by the two-dot chain line in FIGS. 1 and 2 so that the QFPIC 3 can be vacuum suctioned.

尚、本位置決め装置によれば、リード5.5、・・・の
先端面を位置決め爪2a〜2dによって四方から押して
センタリングすることにより位置決めするので、QFP
 IC3の大きさが多少変っても支障なく位置決めがで
きる。但し、QFP I C3の大きさが著しく変化す
る場合は必ずしも対応できるとは限らない、そこで、対
応できるサイズの範囲を広くするため、第3図に示すよ
うに位置決め爪2を交換可能にしても良い。同図におい
て、7はリンクにより駆動される部材であり、該部材7
に交換可能な位置決め爪2がねじ等により固定されるこ
とになる。尚、同図には4個の位置決め爪2.2.2.
2のうちの一個2のみを示した。
According to the present positioning device, the QFP is positioned by pushing and centering the end surfaces of the leads 5.5, . . . from all sides by the positioning claws 2a to 2d.
Positioning can be performed without any problem even if the size of IC3 changes slightly. However, this is not necessarily possible when the size of the QFP I C3 changes significantly.Therefore, in order to widen the range of sizes that can be accommodated, even if the positioning claw 2 is made replaceable as shown in Figure 3. good. In the figure, 7 is a member driven by a link, and the member 7
A replaceable positioning pawl 2 is fixed with a screw or the like. In addition, four positioning claws 2.2.2.
Only one item 2 out of 2 is shown.

以上に述べたように、上記のような位置決め装置を用い
てQFPICを位置決めする位置決め方法によれば、Q
FPICのパッケージにてではなくリードの先端にてI
Cの位置決めができる。そして、QFPICをリードの
先端にて位置決めすることにより、単にリード曲り検査
にあたって検査不能の虞れや検査精度の低下の虞れをな
くすることができるだけでな(、QFPICのリードの
プリント配線基板の配線膜への接続にあたって予め行う
位置決めも適切に行うことができる。というのは、QF
PICの配線膜への接続にあたって重要なのは、パッケ
ージの位置決めではな(リードの位置決めであるからで
ある。従って、リード先端にて位置決めする位置決め方
法はQFPICの配線膜への接続のための位置決めにも
有効であるといえる。
As described above, according to the positioning method of positioning QFPIC using the positioning device as described above, Q
I at the tip of the lead, not at the FPIC package.
C can be positioned. By positioning the QFPIC at the tip of the lead, it is possible to eliminate the risk of not being able to inspect the lead bending or the risk of deteriorating the inspection accuracy. The positioning performed in advance for connection to the wiring film can also be performed appropriately.This is because the QF
What is important when connecting a PIC to a wiring film is not the positioning of the package, but the positioning of the leads.Therefore, the positioning method of positioning at the tip of the lead is also suitable for positioning for connecting to the wiring film of a QFPIC. It can be said that it is effective.

第1図、第2図は本発明位置決め装置の一つの実施例を
説明するためのもので、第1図は平面図、第2図は第1
図の2−2線に沿う断面図、第3図は本発明位置決め装
置の変形例の要部を示す平面図である。
1 and 2 are for explaining one embodiment of the positioning device of the present invention, FIG. 1 is a plan view, and FIG.
FIG. 3 is a sectional view taken along line 2-2 in the figure, and a plan view showing a main part of a modified example of the positioning device of the present invention.

符号の説明 2a〜2d・・・位置決め爪、 3・・・IC。Explanation of symbols 2a to 2d...positioning claws, 3...IC.

5・・・ICのリード。5...IC lead.

(H,発明の効果) 以上に述べたように、本発明によれば、リードの先端に
てICを位置決めするので、リードが検査や配線膜への
接続に支障をきたさないような位置にくるようにICの
位置決めを行うことができる。
(H. Effect of the invention) As described above, according to the present invention, since the IC is positioned at the tip of the lead, the lead is placed in a position that does not interfere with inspection or connection to the wiring film. The IC can be positioned as follows.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

; ε ゛ (す ’%l”M ℃ C4。 CJro Ll”1 ; ε ゛ (su ’%l”M ℃ C4. CJro Ll”1

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ICのフラットパッケージから突出しているリー
ドの先端の位置によりICの位置決めをすることを特徴
とする位置決め方法
(1) A positioning method characterized by positioning the IC based on the position of the tip of the lead protruding from the IC flat package.
(2)複数の位置決め爪を備え、 上記複数の位置決め爪を移動させリードの先端面を押す
ことによりICを位置決めするようにしてなることを特
徴とする位置決め装置
(2) A positioning device comprising a plurality of positioning claws and positioning the IC by moving the plurality of positioning claws and pushing the tip end surface of the lead.
JP1335968A 1989-12-25 1989-12-25 Positioning and apparatus therefor Pending JPH03195036A (en)

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