JPH03185335A - Apparatus and method for measuring sample - Google Patents

Apparatus and method for measuring sample

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JPH03185335A
JPH03185335A JP1325001A JP32500189A JPH03185335A JP H03185335 A JPH03185335 A JP H03185335A JP 1325001 A JP1325001 A JP 1325001A JP 32500189 A JP32500189 A JP 32500189A JP H03185335 A JPH03185335 A JP H03185335A
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specimen
photodetector
optical
shutter
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勇二 伊藤
Yoshiyuki Azumaya
良行 東家
Atsushi Saito
斉藤 厚志
Tatsuya Kawasaki
達也 川崎
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Abstract

PURPOSE:To obtain varaible constants whose number is more than the number of photodetectors by selectively guiding the light having the first optical characteristic when a sample passes the first position, and selectively guiding the light having the second optical characteristic to a photodetector when the sample passes the second position. CONSTITUTION:When a particle to be detected passes through the position of a region to be detected 1a, four kinds of light beams are generated. At this time, shutters 23a and 33a are opened and 23b and 33b are closed. Therefore, the intensity of the fluorsence of the FITC which is selected with the BPT 22a is detected with a detector 25. The intensity of the fluorescence of the PE which is selected with the BPF 32a is detected with a detector 35. When the same particle to be detected passes through the position of 1b, the shutters are controlled so that 23a and 33a are closed and 23b and 33b are opened. The intensity of the SS which is selected with the BPF 22b is detected with the detector 25. The intensity of the fluorescence of the Duochrome which is selected with the BPF 32b is detected with the detector 35. Therefore, four kinds of measured values of the light beams are obtained with two detectors. When the intensity of the forward scattering light is obtained with a photodetector 8 and added, five kinds of the measured variable constants are obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はサンプル中の個々の検体に光を照射し光学的測
定を行なうことで検体の解析や抗原抗体反応の測定等を
行なう検体検査装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is a specimen testing device that performs specimen analysis, antigen-antibody reaction measurement, etc. by irradiating light onto individual specimens in a sample and performing optical measurements. Regarding.

【従来の技術] 従来の検体検査装置の一例としてフローサイトメータの
構成を第6図に示す。
[Prior Art] FIG. 6 shows the configuration of a flow cytometer as an example of a conventional specimen testing device.

適切な反応時間及び濃度に調整され、更に必要に応じて
蛍光試薬等で染色処理されたサンプル液は、第5図のサ
ンプル液容器115に入れられる。また、蒸留水や生理
食塩水等のシース液は、シース液容器114に入れられ
る。サンプル液容器115及びシース液容器114は各
々不図示の加圧機構により加圧される。そして、シース
フロー原理により、フローセル104内でサンプル液が
シース液に包まれて細い流れに収斂され、フローセル1
04内の流通部のほぼ中央部を通過する。この時、サン
プル液に含まれる検体である個々の被検粒子は分離され
て1粒或いは1塊ずつ順次流れる。この被検粒子の流れ
に対して、レーザ光源101から出射されたレーザ光が
、母線方向が各々流通部方向、流通部方向と直交したシ
リンドリカルレンズ102,103の組によって任意の
形状に収斂され照射される。被検粒子に照射される光ビ
ームの形状は、一般には流れに対して直交する方向に長
径を有する楕円形状であることが好ましい。これは個々
の被検粒子の流れの位置が流体中で若干変動しても、被
検粒子に均一の強度で光ビームが照射されるようにする
ためである。
The sample liquid, which has been adjusted to an appropriate reaction time and concentration and further stained with a fluorescent reagent or the like as necessary, is placed in the sample liquid container 115 shown in FIG. Further, a sheath liquid such as distilled water or physiological saline is placed in the sheath liquid container 114. The sample liquid container 115 and the sheath liquid container 114 are each pressurized by a pressurizing mechanism (not shown). Then, according to the sheath flow principle, the sample liquid is wrapped in the sheath liquid in the flow cell 104 and converged into a thin flow, and the flow cell 1
It passes through approximately the center of the flow section in 04. At this time, individual test particles, which are specimens contained in the sample liquid, are separated and sequentially flow one by one or one lump at a time. A laser beam emitted from a laser light source 101 is converged into an arbitrary shape by a pair of cylindrical lenses 102 and 103 whose generatrix directions are in the direction of the flow section and perpendicular to the direction of the flow section, respectively. be done. Generally, it is preferable that the shape of the light beam irradiated onto the test particles is an ellipse having a major axis in a direction perpendicular to the flow. This is to ensure that the light beam is irradiated with uniform intensity onto the test particles even if the flow position of each test particle varies slightly in the fluid.

被検粒子に光ビームが照射されると散乱光が生しる。前
記散乱光の内、光路前方方向に発する前方散乱光は集光
レンズ105、光検出器106によって測光される。な
お照射された光ビームが直接、光検出器106に入射す
るのを防ぐため、光路中東光レンズ105の手前には光
吸収性の微小なストッパ100が設けられ、照射光源か
らの直接光、及び被検粒子を光透過した透過光を除去す
るようになっている。これにより被検粒子からの散乱光
のみを測光することができる。
When a light beam is irradiated onto a particle to be examined, scattered light is generated. Of the scattered light, the forward scattered light emitted in the forward direction of the optical path is photometered by a condenser lens 105 and a photodetector 106. In order to prevent the irradiated light beam from directly entering the photodetector 106, a small light-absorbing stopper 100 is provided in front of the optical lens 105 in the middle of the optical path, so that the direct light from the irradiation light source and It is designed to remove the transmitted light that has passed through the test particles. This makes it possible to photometer only the scattered light from the test particles.

また前記散乱光の内、レーザ光軸及び被検粒子の流れに
それぞれ直交する側方方向に発する光は集光レンズ10
7で集光される。集光された光はダイクロイックミラー
108で反射され、散乱光の波長即ちレーザ光の波長(
Ar”レーザであれば488nm)を選択的に透過させ
るバンドパスフィルタ121を経て光検出器111にて
側方散乱光が測光される。また被検粒子が蛍光染色され
ている場合には、散乱光と共に発生する複数色の蛍光を
測光するため、集光レンズ107によって集光され、ダ
イクロイックミラー108を通過した蛍光の内、ダイク
ロイックミラー109、緑色蛍光波長用(530nm付
近)のバンドパスフィルタ122、光検出器112の組
によって緑色蛍光が検出され、また全反射主う−110
、赤色蛍光波長用(57Onm付近)のバンドパスフィ
ルタ123、光検出器113の組によって赤色蛍光が検
出される。光検出器106,111.112% 113
の信号は各々演算回路116に入力され、該演算回路1
16において、粒子の種類や性質等の解析、あるいは抗
原抗体反応の測定等の演算が行なわれる。
Of the scattered light, light emitted in the lateral direction perpendicular to the laser optical axis and the flow of the particles to be detected is transmitted through the condenser lens 10.
The light is focused at 7. The focused light is reflected by the dichroic mirror 108, and the wavelength of the scattered light, that is, the wavelength of the laser light (
The side scattered light is measured by the photodetector 111 through a band pass filter 121 that selectively transmits the light (488 nm in the case of an Ar'' laser). In order to photometer multiple colors of fluorescence generated together with light, among the fluorescence that is collected by a condenser lens 107 and passed through a dichroic mirror 108, a dichroic mirror 109, a bandpass filter 122 for green fluorescence wavelength (near 530 nm), Green fluorescence is detected by a set of photodetectors 112, and total internal reflection is detected by a set of photodetectors 112.
, a bandpass filter 123 for red fluorescence wavelength (near 57 Onm), and a photodetector 113 detect red fluorescence. Photodetector 106, 111.112% 113
are input to the arithmetic circuit 116, and the arithmetic circuit 1
In step 16, calculations such as analysis of particle types and properties, measurement of antigen-antibody reactions, etc. are performed.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来は複数色の蛍光を測光するのに各蛍
光毎に専用の光検出器を使用している。
[Problems to be Solved by the Invention] However, conventionally, a dedicated photodetector is used for each fluorescence to measure fluorescence of a plurality of colors.

これまでは赤色蛍光と緑色蛍光の2色、あるいはこれに
黄色蛍光を加えた3色を同時に測光する構成が一般的で
あったが、近年、更なる多色化の要望が高まり、新たな
蛍光剤の開発も進んでいる。
Until now, it was common to have a configuration that simultaneously measured two colors, red fluorescence and green fluorescence, or three colors with yellow fluorescence added, but in recent years there has been an increasing demand for even more colors, and new fluorescence Development of drugs is also progressing.

これにより同時に使用する蛍光チャンネル数が増加する
と、それに応じて光検出器の数も増加してしまうことに
なる。即ち、光学配置が複雑化し、フォトマル等の高価
な光検出器が多数必要となってしまう問題点があった。
As a result, if the number of fluorescence channels used simultaneously increases, the number of photodetectors will also increase accordingly. That is, there is a problem in that the optical arrangement becomes complicated and a large number of expensive photodetectors such as photomultipliers are required.

本発明は以上の’amを解決すべくなされたもので、光
検出器の数置上の測定パラメータが得られる検体測定装
置の提供を目的とする。
The present invention has been made to solve the above problem, and aims to provide an analyte measuring device that can obtain numerical measurement parameters of a photodetector.

[n題を解決するkめの手段] 上述の課題を解決する本発明は、サンプル中の個々の検
体を順次流す手段と、第1、第2の照射光ビームを検体
の流れ方向に間隔を置いて第1の位置と第2の位置に照
射する手段と、前記第1、第2の被検位置を通過する検
体から発するそれぞれの光を受光する共通の光検出手段
と、検体が前記第1の位置を通過する際には検体から発
する第1の光学特性の光を選択的に前記光検出器に導き
、検体が前記第2の位置を通過する際には検体から発す
る第2の光学特性の光を選択的に前記光検出器に導く選
択手段とを有することを特徴とする。
[Kth Means for Solving Problem n] The present invention that solves the above-mentioned problems includes a means for sequentially flowing the individual analytes in a sample, and a means for sequentially flowing the first and second irradiation light beams at intervals in the flow direction of the analyte. a common light detection means for receiving each light emitted from the specimen passing through the first and second test positions; When the specimen passes through the first position, the light having the first optical characteristic is selectively guided to the photodetector, and when the specimen passes through the second position, the second optical characteristic emitted from the specimen is guided to the photodetector. and a selection means for selectively guiding characteristic light to the photodetector.

[実施例] 以下、本発明の実施例の基本的な構成図を第1図及び第
2図を用いて説明する。なお、基本形態を説明した後に
、より詳細な幾つかの実施例を後に説明する。第1図は
本発明の実施例の基本的構成図であり、第2図は第1図
を上方から見た図で、側方光学系を詳細に表わしている
[Embodiment] Hereinafter, a basic configuration diagram of an embodiment of the present invention will be explained using FIG. 1 and FIG. 2. In addition, after explaining the basic form, some more detailed examples will be explained later. FIG. 1 is a basic configuration diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a view of FIG. 1 viewed from above, showing the side optical system in detail.

図中1は検体である生体細胞やラテックス粒子等の被検
粒子をシースフロ一方式により1個ずつ順に流すための
フローセルで被検粒子が紙面上方から下方に向けて流れ
ている。2.3はレーザ光源であり、この分野では一般
的なAr+レーザ、He−Neレーザ、色素レーザ、半
導体レーザ等様々な光源が利用できる。4は照射光ビー
ムをフローセル部の被検領域に結像する集光レンズであ
り、レーザ光源2及び3からのレーザビームをそれぞれ
フローセル中の1a、1bの位置に結像する。結像ビー
ムの形状としては流れに直交する方向に長径を持つ楕円
形状が好ましい。ここで両照射位置1a、lbの間の距
離は100μm程度とする。ビーム直進方向に配置され
る部材5は光ストッパ、6は前方散乱光を集光する集光
レンズ、7は視野絞り、8は前方散乱光を検知する光検
出器であり、またビーム直進方向と直交する方向に配置
される部材11は側方散乱光を集光する集光レンズ、2
1 a、  2 l b、  31 a、 3 l b
は被検粒子より生じた側方散乱光及び蛍光を色分解する
ためのダイクロイックミラー 25.35.45は側方
散乱光及び蛍光を検知するための光検出器であり、該光
検出器としては検出感度の高いフォトマルチプライヤが
好適である。
In the figure, reference numeral 1 denotes a flow cell for sequentially flowing test particles, such as living cells and latex particles, one by one using a sheath flow system, and the test particles flow from the top to the bottom of the page. 2.3 is a laser light source, and various light sources such as a general Ar+ laser, He-Ne laser, dye laser, and semiconductor laser can be used in this field. Reference numeral 4 denotes a condenser lens that focuses the irradiation light beam on the test region of the flow cell section, and focuses the laser beams from the laser light sources 2 and 3 on positions 1a and 1b in the flow cell, respectively. The shape of the imaging beam is preferably an ellipse with the major axis in the direction perpendicular to the flow. Here, the distance between both irradiation positions 1a and lb is approximately 100 μm. A member 5 disposed in the straight beam direction is a light stopper, 6 is a condenser lens for condensing forward scattered light, 7 is a field stop, and 8 is a photodetector for detecting forward scattered light. The members 11 arranged in orthogonal directions include a condensing lens 2 that condenses side scattered light;
1 a, 2 l b, 31 a, 3 l b
25.35.45 is a dichroic mirror for color-separating the side scattered light and fluorescence generated by the test particles; 25.35.45 is a photodetector for detecting the side scattered light and fluorescence; A photomultiplier with high detection sensitivity is suitable.

レーザ光源2より出射されたレーザ光は集光レンズ4に
より集光され被検領域1aに照射される。この被検領域
1aに被検粒子が通過すると該被検粒子によって光散乱
が起き、この時被検粒子が蛍光染色されていれば蛍光も
励起されて散乱光と共に発生する。前記発生する散乱光
の内の一部は光路前方方向に進み前方散乱光となる。こ
の前方散乱光は前記レーザ光の0次光を遮断するストッ
パ5、集光レンズ6、及び視野絞り7を経て、光検出器
8により強度検出され前方散乱信号が得られる。
Laser light emitted from the laser light source 2 is focused by a condenser lens 4 and irradiated onto the test area 1a. When test particles pass through the test region 1a, light scattering occurs due to the test particles, and at this time, if the test particles are fluorescently dyed, fluorescence is also excited and generated together with the scattered light. A part of the generated scattered light travels in the forward direction of the optical path and becomes forward scattered light. This forward scattered light passes through a stopper 5 that blocks the zero-order light of the laser beam, a condensing lens 6, and a field diaphragm 7, and then its intensity is detected by a photodetector 8 to obtain a forward scattered signal.

一方、被検粒子より励起される前記蛍光は、前記散乱光
の一部である側方散乱光と共に集光レンズ11で集光さ
れる。集光された光は集光レンズ12、視野絞り13、
集光レンズ14を経てダイクロイックミラー21a、2
1bに至る。視野絞り13はla、lbの周位置からの
光を通過させる程度の大きさの開口を有している。ここ
で互いに異なる特性を有するダイクロイックミラー21
a、21bで色分解され反射した前記側方散乱光及び蛍
光は、前記反射光の特性に応じたバンドパスフィルタ2
2a、22bを経て、メカニカルシャッタ等の光束を遮
断し得るシャッタ23a。
On the other hand, the fluorescence excited by the test particles is condensed by the condenser lens 11 together with the side scattered light that is part of the scattered light. The focused light passes through a condensing lens 12, a field diaphragm 13,
Dichroic mirrors 21a, 2 through the condensing lens 14
1b. The field stop 13 has an aperture large enough to allow light from circumferential positions la and lb to pass through. Here, dichroic mirrors 21 having mutually different characteristics
The side scattered light and fluorescence color-separated and reflected by a and 21b are filtered through a bandpass filter 2 according to the characteristics of the reflected light.
2a and 22b, and a shutter 23a that can block the light beam, such as a mechanical shutter.

23bに至る。該シャッタ23a、23bは互いに独立
に駆動可能な高速シャッタであれば良く、使用できるシ
ャッタとしてはメカニカルシャッタ以外にも液晶シャッ
タやAO,あるいはボッケルセル等の様々なものが使用
可能である。
23b. The shutters 23a and 23b may be high-speed shutters that can be driven independently of each other, and various shutters such as a liquid crystal shutter, AO, or Bockel cell can be used in addition to mechanical shutters.

次に実施例の装置の電気的処理手順について説明する。Next, the electrical processing procedure of the device of the embodiment will be explained.

光検出器8で得られた信号はアナログ処理回路51と比
較回路52に接続されている。そしてアナログ処理回路
51の出力は、順次A/Dコンバータ53に接続され、
また光検出器25.35.45の出力も同様にアナログ
処理回路61.62.63、A/Dコンバータ64.6
5.66に接続され、各A/Dコンバータの出力は一つ
のCPU回路67に導かれ、そのCPU回路67にはメ
モリ68が接続されている。また前述の比較回路52に
は基準電圧v0が共に入力され、その出力はシャッタ制
御回路54に接続されており、更にシャッタ制御回路5
4の出力は23a、23b、33a、33b、43a、
43bの各シャッタに接続されている。シャッタの駆動
は、シャッタへの印加電圧が0の場合はシャッタが開い
て光を透過し、一定電圧v1を印加することでシャッタ
が閉じて光を遮断する。
The signal obtained by the photodetector 8 is connected to an analog processing circuit 51 and a comparison circuit 52. The output of the analog processing circuit 51 is sequentially connected to an A/D converter 53,
Similarly, the outputs of the photodetectors 25, 35, and 45 are output to analog processing circuits 61, 62, 63, and A/D converters 64.6.
The output of each A/D converter is led to one CPU circuit 67, and a memory 68 is connected to the CPU circuit 67. Further, the reference voltage v0 is also input to the above-mentioned comparison circuit 52, and its output is connected to the shutter control circuit 54, which is further connected to the shutter control circuit 54.
The outputs of 4 are 23a, 23b, 33a, 33b, 43a,
43b. When driving the shutter, when the voltage applied to the shutter is 0, the shutter opens and transmits light, and when a constant voltage v1 is applied, the shutter closes and blocks the light.

被検粒子がlaの地点を通過しレーザ光を横切る時に光
検出器8で得られる前方散乱光強度の出力信号は第3図
(a)に示すような信号となる。
When the test particle passes the point la and crosses the laser beam, the output signal of the forward scattered light intensity obtained by the photodetector 8 becomes a signal as shown in FIG. 3(a).

また第3図(b)は光検出器25.35.45の出力、
すなわち側方散乱光強度あるいは蛍光検出強度の出力信
号である。ここで前記第3図(a)に示す光検出器8の
出力信号と閾値である基準信号v0を比較器52で比較
することで第3図(C)のようなタイミングパルスが得
られる。
Also, Fig. 3(b) shows the output of the photodetector 25, 35, 45,
That is, it is an output signal of side scattered light intensity or fluorescence detection intensity. Here, by comparing the output signal of the photodetector 8 shown in FIG. 3(a) with the reference signal v0, which is a threshold value, by the comparator 52, a timing pulse as shown in FIG. 3(C) is obtained.

ここで被検粒子が18を通過する時、レーザ光L1によ
る散乱光及び蛍光がシャッタ23a。
Here, when the test particles pass through 18, the scattered light and fluorescence caused by the laser beam L1 are transmitted to the shutter 23a.

33a、43aのみを通過し、また粒子が1bを通過す
る時、レーザ光L2による散乱光及び蛍光がシャッタ2
3b、33b、43bのみを通過するようにするため、
23a、33a、43aの各シャッタの駆動f3号は、
第3図(d)のようにタイミングパルスの立ち下がりで
再びシャッタを閉じ、23b、33b、43bの各シャ
ッタの駆動13号の立ち上がりで再びシャッタを開くよ
うに、シャッタ制御回路54により作り出される。また
23b、33b、43bの各シャッタの駆動信号も前記
シャッタ制御回路54にて作られる。これは第3図(e
)のようにタイ主ングパルス信号(C)の立ち下がりか
ら、2木のレーザ間を被検粒子が通過するのに要する時
間よりも僅かに短い11秒後、すなわち被検粒子が!b
の直前に来た時点でシャッタを開け、そして被検粒子が
1bを通過し終る時間17秒後に再びシャッタが閉じる
ようなタイミングの信号となる0以上の制御信号で各シ
ャッタの開閉が制御され、被検粒子がlaの位置を通過
する際にはシャッタ22a、32A   ’)   *
  l’、I  k      9  9   k  
    1  9   h      j  ’)  
h  A(n同じ、続いて同一被検粒子が1bの位置を
通過する際には各シャッタの開閉が反転する。
33a and 43a, and when the particles pass through 1b, the scattered light and fluorescence caused by the laser beam L2 are transmitted to the shutter 2.
In order to pass only 3b, 33b, and 43b,
The driving number f3 of each shutter 23a, 33a, and 43a is as follows:
As shown in FIG. 3(d), the shutter control circuit 54 closes the shutter again at the falling edge of the timing pulse and opens the shutter again at the rising edge of drive No. 13 of each shutter 23b, 33b, and 43b. Further, drive signals for the shutters 23b, 33b, and 43b are also generated by the shutter control circuit 54. This is shown in Figure 3 (e
), after 11 seconds from the falling edge of the main pulse signal (C), which is slightly shorter than the time required for the test particle to pass between the two lasers, the test particle is detected! b
The opening and closing of each shutter is controlled by a control signal of 0 or more, which is a timing signal such that the shutter is opened at the point just before , and the shutter is closed again 17 seconds after the test particle finishes passing through 1b. When the test particles pass through the position la, the shutters 22a, 32A') *
l', I k 9 9 k
1 9 h j')
hA(n is the same, and when the same test particle subsequently passes the position 1b, the opening and closing of each shutter is reversed.

一方、光検出器25.35.45の各出力は、アナログ
処理回路6里、62.63にそれぞれにおいてレーザ光
照射域を被検粒子が通過する際に生じるパルス信号のピ
ーク値、面積積分値等が計測される。更にそれらの出力
であるアナログ信号はA/Dコンバータ64.65.6
6のそれぞれによりデジタル信号に変換され、更に変換
された各デジタル信号はCPU回路67に入力されメモ
リ68に記憶される。こうしてメモリ68に蓄積された
測定データを基に、粒子解析回路69にて粒子の種類や
性質等の解析や、抗原抗体反応の検出等の演算を行ない
、その結果はCRTやプリンタ等の出力部70に出力さ
れる。
On the other hand, the outputs of the photodetectors 25, 35, and 45 are sent to the analog processing circuits 6ri and 62.63, respectively, and the peak value and area integral value of the pulse signal generated when the test particle passes through the laser beam irradiation area. etc. are measured. Furthermore, the analog signals that are their output are A/D converters 64, 65, 6.
6, each of the converted digital signals is input to a CPU circuit 67 and stored in a memory 68. Based on the measurement data stored in the memory 68 in this way, a particle analysis circuit 69 performs calculations such as analysis of particle types and properties, detection of antigen-antibody reactions, etc., and the results are sent to an output device such as a CRT or printer. 70.

さて 次に本発明に係る測定原理について説明する。Next, the measurement principle according to the present invention will be explained.

通常はシャッタ23a、33a、43aが開、23b、
33b、43bが閉の状態となっていここで被検粒子が
被検領域1aを通過する時には、シャッタ23aの光路
が選択されるため、被検領域1aにある被検粒子によっ
て生じた散乱光及び蛍光の内、ダイクロイックミラー2
1aで反射し、バンドパスフィルタ22aを経た、特定
の波長(バンドパスフィルタ22aの波長)を有する光
のみが光検出器25に選択的に到達し検知されることに
なる。同様にダイクロイックミラー21a、21bを透
過した散乱光及び蛍光は、互いに異なる波長特性を有す
るダイクロイックミラー31a、31bで色分解され、
反射した光は同様にシャッタ33a、33bに至るが、
ここではシャッタ33aに至った光のみが選択される。
Normally, the shutters 23a, 33a, and 43a are open, and the shutters 23b and 43a are open.
33b and 43b are in the closed state and when the test particles pass through the test region 1a, the optical path of the shutter 23a is selected, so that the scattered light and the scattered light generated by the test particles in the test region 1a are selected. Dichroic mirror 2 of fluorescence
Only light having a specific wavelength (the wavelength of the bandpass filter 22a) that is reflected by the light beam 1a and passes through the bandpass filter 22a selectively reaches the photodetector 25 and is detected. Similarly, the scattered light and fluorescence transmitted through the dichroic mirrors 21a and 21b are color-separated by the dichroic mirrors 31a and 31b, which have different wavelength characteristics.
The reflected light similarly reaches the shutters 33a and 33b, but
Here, only the light that has reached the shutter 33a is selected.

よって光検出器35ではダイクロイックよラー21aを
透過してダイクロイックミラー31aで反射し、バンド
パスフィルタ32aを経た特定の波長(バンドパスフィ
ルタ32aの波長)の光のみが検知されることになる。
Therefore, the photodetector 35 detects only light of a specific wavelength (the wavelength of the bandpass filter 32a) that has passed through the dichroic mirror 21a, been reflected by the dichroic mirror 31a, and passed through the bandpass filter 32a.

更にダイクロイックミラー31a、31bを透過した光
は、ミラー41a、41bで反射し、互いに異なる波長
特性を有するバンドパスフィルタ42a、42bを経て
シャッタ44a、44bに至るが、シャッタ44aかに
至った光のみが選択される。よって光検出器45ではダ
イクロイックミラー21a。
Furthermore, the light that has passed through the dichroic mirrors 31a and 31b is reflected by mirrors 41a and 41b, and passes through bandpass filters 42a and 42b having mutually different wavelength characteristics and reaches shutters 44a and 44b, but only the light that has reached shutter 44a is is selected. Therefore, the photodetector 45 is a dichroic mirror 21a.

31a及びバンドパスフィルタ42aを透過した特定の
波長(バンドパスフィルタ42aの波長)の光のみが検
知されることになる。
Only light of a specific wavelength (the wavelength of the bandpass filter 42a) that has passed through the bandpass filter 42a and the bandpass filter 42a is detected.

一方、前記被検領域1aを通過した被検粒子が移動し、
所定時間の後に被検領域1bに至る時点では、制御回路
にてシャッタを開閉を駆動して、先とは逆にシャッタ2
3a、33a、43aが閉、23b、33b、43bが
開の状態となり、被検領域から光検出器に至る光路が切
換えられる。よってこの切換えられた光路中に配される
バンドパスフィルタ22b、32b、42bで選別され
る特定波長の光が各検出器でそれぞれ検知される。
On the other hand, the test particles that have passed through the test region 1a move,
When the test area 1b is reached after a predetermined time, the control circuit drives the shutter to open and close, and the shutter 2 is opened and closed in the opposite direction.
3a, 33a, 43a are closed, 23b, 33b, 43b are open, and the optical path from the test area to the photodetector is switched. Therefore, each detector detects light of a specific wavelength, which is selected by the bandpass filters 22b, 32b, and 42b arranged in the switched optical path.

以上のように、各々の光検出器の手前に配置される2分
割のシャッタの開閉が被検粒子の通過に同期して制御さ
れるようになっている。これは換言すれば、被検領域か
ら光検出器に至る光路が2分割されて、被検粒子の通過
に同期して光路が切換えられるような構成となっている
。よって第1のレーザ光による光信号と第2のレーザ光
による光信号を時系列的に区別してサンプリングするこ
とが可能となり、同一の光検出器、アナログ処理系を用
いて、各検出器につき2種類の光信号を測定することが
できる。すなわち、側方系に3個の光検出器を備える本
実施例の装置においては、これら検出器で6種類の異な
るパラメータの蛍光及び側方散乱光を得ることができる
As described above, the opening and closing of the two-part shutter placed in front of each photodetector is controlled in synchronization with the passage of the test particles. In other words, the optical path from the test region to the photodetector is divided into two, and the optical path is switched in synchronization with the passage of the test particles. Therefore, it is possible to distinguish and sample the optical signal generated by the first laser beam and the optical signal generated by the second laser beam in time series, and by using the same photodetector and analog processing system, two Various types of optical signals can be measured. That is, in the apparatus of this embodiment, which includes three photodetectors in the side system, these detectors can obtain fluorescence and side scattered light with six different parameters.

なお、以上の説明では側方の光検出器の数が3個の実施
例を示したが、検出器の個数はこれに限定されるもので
は無い、1個であれば一般的な従来例と同様、2色の蛍
光を単一の光検出器で得ることができる。この時ダイク
ロイックミラーは不要であるため装置構成が非常に簡略
なものとなる。又、光検出器の数が4個以上であれば更
に多くのパラメータを得ることができる。なお、測定゛
する各パラメータは必ずしも異なる光学特性である必要
はなく、同一の光学特性の光を複数検出することで測定
値の信頼性をより高めるようにしても良い。
In addition, although the above explanation has shown an example in which the number of side photodetectors is three, the number of photodetectors is not limited to this, and if it is one, it is a general conventional example. Similarly, two colors of fluorescence can be obtained with a single photodetector. At this time, since a dichroic mirror is not required, the device configuration becomes extremely simple. Further, if the number of photodetectors is four or more, even more parameters can be obtained. Note that the parameters to be measured do not necessarily have different optical characteristics, and the reliability of the measured values may be further improved by detecting a plurality of lights having the same optical characteristics.

また、更なる発展形態としては、照射光の照射位置、及
びダイクロイックミラー バンドパスフィルタ、シャッ
タの分割数を3以上とすることで、光検出器の数を増や
すことなく更に多くの種類のパラメータを得ることがで
きる。例えば3分割するのであれば、光の照射位置を流
れ方向に3か所に行ない、シャッタ等の形状は第5図の
ように均等に3分割したものとすれば良い。
In addition, as a further development, by increasing the irradiation position of the irradiation light, the dichroic mirror bandpass filter, and the number of shutter divisions to 3 or more, more types of parameters can be obtained without increasing the number of photodetectors. Obtainable. For example, if the flow is to be divided into three, the light irradiation position may be set at three locations in the flow direction, and the shape of the shutter etc. may be equally divided into three as shown in FIG.

さて、以上は本発明の実施例の装置の基本的構成を説明
したものであるが、より具体的な幾つかの実施例を以下
説明する。なお、使用できる蛍光の種類及び組合わせが
これらに限定されるものではないことは言うまでもない
Now, the basic configuration of the apparatus of the embodiment of the present invention has been explained above, and some more specific embodiments will be explained below. It goes without saying that the types and combinations of fluorescence that can be used are not limited to these.

[実施例1] 実施例1では、被検粒子を3種類の蛍光で染色して、2
個の光検出器で側方4チヤンネル検出するものである。
[Example 1] In Example 1, test particles were stained with three types of fluorescence, and 2
This system uses four photodetectors to detect four lateral channels.

これに前方散乱光のパラメータを加えた計5種類の測定
パラメータを得ることができる。なお光検出器45を含
む検出光学系は本実施例では使用しないためこれは省略
しても良い。
A total of five types of measurement parameters can be obtained by adding the forward scattered light parameter to these parameters. Note that since the detection optical system including the photodetector 45 is not used in this embodiment, it may be omitted.

第1図、第2図において、レーザ光源−2及び3に波長
488nmの2個の同−Ar”レーザ光源を用いる。な
お、レーザ光源を2個用意せずに第4図のように単一の
光源からのレーザビームをハーフミラ−と全反射ミラー
を用いて光学的に2光束に分けるような構成としても良
い。この時、2木のレーザビームの強度比を変えて各蛍
光剤の励起効率に適した強度とすると更に好ましい。
In Figures 1 and 2, two Ar" laser light sources with a wavelength of 488 nm are used as laser light sources 2 and 3. In addition, instead of preparing two laser light sources, a single laser light source is used as shown in Figure 4. The laser beam from the light source may be optically split into two beams using a half mirror and a total reflection mirror.At this time, the excitation efficiency of each fluorescent agent can be adjusted by changing the intensity ratio of the two laser beams. It is more preferable to have a strength suitable for.

被検粒子を染色する蛍光の種類は、波長488nmの励
起光で励起される蛍光を選択する0例えばFITC(5
30nm)、PE (570nm)。
The type of fluorescence that stains the test particles is selected from fluorescence excited by excitation light with a wavelength of 488 nm. For example, FITC (5
30nm), PE (570nm).

duochrome  (6貫Onm)の3種類の蛍光
で染色するものとすると、被検粒子からは488nm。
If staining is performed using three types of fluorescence using Duochrome (6 Onm), the wavelength from the test particle is 488 nm.

530nm、570nm、610nmの4種類の波長の
光が同時に発生することになる。なお、duochro
meは直接488nmの波長では励起されないが、−旦
PEが励起されて発生する蛍光(570nm)でduo
chromeが励起されるという段階的な励起過程を有
する。
Light of four different wavelengths, 530 nm, 570 nm, and 610 nm, is generated simultaneously. In addition, duochro
Me is not directly excited at a wavelength of 488 nm, but due to the fluorescence (570 nm) generated when PE is excited, duo
It has a stepwise excitation process in which chrome is excited.

ダイクロイックミラー21a、21b。Dichroic mirrors 21a, 21b.

31a、31bの光分別波長をそれぞれ、510nm、
590nm、450nm、650nm程度に設定し、バ
ンドパスフィルタ22a、22b。
The optical separation wavelengths of 31a and 31b are 510 nm and 310 nm, respectively.
Bandpass filters 22a and 22b are set to about 590nm, 450nm, and 650nm.

32a、32bとしてそれぞれ530nm。32a and 32b are each 530 nm.

488nm、570nm、610nm付近の波長の光を
選択的に透過させる特性のものを用いて、それぞれの光
学系でFITC,33(側方散乱光) 、 P E 、
 duochromeの強度検出を行なう。
FITC, 33 (side scattered light), P E ,
Performs duochrome intensity detection.

被検粒子が18の位置を通過する時、上記4種類の光が
r発生するが、この時シャッタ238゜33aが開いて
、23b、33bが閉じているため、検出器25におい
てはバンドパスフィルタ22aで選択されたFITCの
蛍光強度が検出され、検出器35においてはバンドパス
フィルタ32aで選択されたPEの蛍光強度が検出され
る0次に同一被検粒子が1bの位置を通過する時には、
シャッタ23a、33aが閉じ、23b。
When the particle to be detected passes through the position 18, the above four types of light r are generated. At this time, the shutter 238° 33a is open and the shutters 23b and 33b are closed, so the detector 25 uses a bandpass filter. The fluorescence intensity of FITC selected by 22a is detected, and the fluorescence intensity of PE selected by bandpass filter 32a is detected by the detector 35. When the same test particle passes the position 1b in the 0th order,
Shutters 23a, 33a close, 23b.

33bが開くように制御されており、検出器25におい
てはバンドパスフィルタ22bで選択されたSS強度が
検出され、検出器35においてはバンドパスフィルタ3
2bで選択されたduochromeの蛍光強度が検出
される。
33b is controlled to open, the detector 25 detects the SS intensity selected by the bandpass filter 22b, and the detector 35 detects the SS intensity selected by the bandpass filter 32b.
The fluorescence intensity of the duochrome selected in 2b is detected.

こうして2個の検出器で4種類の異なる光学特性の光の
測定値を得ることができる。これに光検出器8で得られ
る前方散乱光強度を加えて、計5種類の測定パラメータ
が得られる。
In this way, measurements of light with four different optical characteristics can be obtained using two detectors. By adding the forward scattered light intensity obtained by the photodetector 8 to this, a total of five types of measurement parameters are obtained.

[実施例2] 次に側方6チヤンネル検出が可能な実施例2を説明する
[Embodiment 2] Next, a second embodiment in which six lateral channels can be detected will be described.

第1図1、第2図において、レーザ光源2として波長4
88nmのAr”レーザ光源を、またレーザ光源3とし
て波長600nmの色素レーザ光源を用いる。なお、レ
ーザ光源として複数波長の光を同時に出力するマルチ発
振レーザ光源を用い、先の第4図でのハーフミラ−の代
わりにダイクロイックミラーを配置した構成として、単
一の光源で異なる波長の複数ビームを得るようにしても
良い。
In Fig. 1 and Fig. 2, the wavelength 4 is used as the laser light source 2.
An 88 nm Ar'' laser light source is used, and a dye laser light source with a wavelength of 600 nm is used as the laser light source 3.A multi-oscillation laser light source that simultaneously outputs light of multiple wavelengths is used as the laser light source, and the half mirror shown in FIG. - may be replaced by a dichroic mirror to obtain a plurality of beams with different wavelengths from a single light source.

被検粒子を染色する蛍光の種類は、波長488nmの励
起光で励起される蛍光、及び波長600nmで励起され
る蛍光を選択する0例えば488nmに適したものとし
てFITC(530nm)。
As the type of fluorescence that stains the test particles, select fluorescence excited by excitation light with a wavelength of 488 nm and fluorescence excited with a wavelength of 600 nm. For example, FITC (530 nm) is suitable for 488 nm.

PE (570nm)を用い、600nmに適したもの
としてTR(610nm)、APC(660nm)を用
い、計4種類の蛍光で染色する。
Staining is performed using PE (570 nm), TR (610 nm) and APC (660 nm) suitable for 600 nm, a total of four types of fluorescence.

ダイクロイックよラー21a、21b。Dichroic Yoler 21a, 21b.

31a、31bの光分別波長をそれぞれ、570nm、
605nm、550nm、630nm程度に設定し、バ
ンドパスフィルタ22a、22b。
The optical separation wavelengths of 31a and 31b are 570 nm,
Bandpass filters 22a and 22b are set to about 605nm, 550nm, and 630nm.

32a、32b、42a、42bとしてそれぞれ488
nm、600nm、530nm、610nm、570n
m、660nm付近の波長の光を選択的に透過させる特
性のもの選択する。
488 as 32a, 32b, 42a, 42b respectively
nm, 600nm, 530nm, 610nm, 570n
A material having a characteristic of selectively transmitting light with a wavelength around 660 nm is selected.

被検粒子がAr”レーザ光が照射される1aの位置を通
過する時、488nmの照射光でFITC,PEが励起
され、488nm、530nm。
When the test particle passes the position 1a where the Ar'' laser beam is irradiated, FITC and PE are excited by the 488 nm irradiation light, and the 488 nm and 530 nm.

570nmの3種類の光が発生する。この時シャツタ2
2a、32a、43aが開いて、22b。
Three types of light of 570 nm are generated. At this time, Shirt 2
2a, 32a, 43a open, 22b.

32b、43bが閉じているため、検出器25にてSS
 (488nm)が、検出器35でFITCが、検出器
45でPEがそれぞれ検出される0次に所定時間の後に
同一の被検粒子が色素レーザ光が照射されるlbの位置
を通過する時は、600nmの照射光でTR,APCが
励起され、600nm、610nm、660nmの3種
類の光が発生する。この時点では、先とは逆にシャッタ
22a、32a、42aが閉じ、22b、32b。
Since 32b and 43b are closed, SS is detected at the detector 25.
(488 nm), FITC is detected by the detector 35, and PE is detected by the detector 45. Next, after a predetermined time, when the same test particle passes through the lb position where the dye laser light is irradiated, , 600 nm irradiation light excites TR and APC, and three types of light of 600 nm, 610 nm, and 660 nm are generated. At this point, the shutters 22a, 32a, 42a are closed, and the shutters 22b, 32b are closed, contrary to the previous case.

42bが開くように制御されているため、検出器25に
てSS (600nm)が、検出器35でTRが、検出
器45でAPCがそれぞれ検出される。
42b is controlled to open, the detector 25 detects SS (600 nm), the detector 35 detects TR, and the detector 45 detects APC.

さて、本実施例においては各シャッタは必ずしも必要で
はない、1a位置に照射されるAr”レーザ光では48
8nm、530nm、570nmの光しか発生せず、シ
ャッタが無くても各光検出器ではこれらの波長の光のみ
が選択的に検出される。又、lb位置に照射される色素
レーザ光では600nm、610nm、660nmの光
しか発生しないため、シャッタが無くても各光検出器で
はこれらの波長の光のみが選択的に検出される。すなわ
ち、照射光波長、蛍光の種類、波長選択特性の組合わせ
によっては、シャッタが無くてもそれぞれのパラメータ
を区別して検出することができるのである。
Now, in this embodiment, each shutter is not necessarily necessary.
Only light of 8 nm, 530 nm, and 570 nm is generated, and each photodetector selectively detects only light of these wavelengths even without a shutter. Further, since the dye laser beam irradiated to the lb position generates only light of 600 nm, 610 nm, and 660 nm, each photodetector selectively detects only light of these wavelengths even without a shutter. That is, depending on the combination of the irradiation light wavelength, the type of fluorescence, and the wavelength selection characteristics, it is possible to distinguish and detect each parameter even without a shutter.

これを一般化すると、各照射光の波長を異ならせ、光検
出器の手前に配置されるバンドパスフィルタ等の第1の
波長選択部材及び第2の波長選択部材の特性を、第1の
波長選択部材では第1の照射光で発生して第2の照射光
では発生しない波長の光を選択する特性を持たせ、第2
の波長選択部材では第2の照射光で発生して第1の照射
光では発生しない波長の光を選択する特性を持たせるこ
とでシャッタは不要となる。
Generalizing this, the wavelength of each irradiation light is different, and the characteristics of the first wavelength selection member and the second wavelength selection member, such as a bandpass filter placed in front of the photodetector, are changed depending on the wavelength of the first wavelength. The selection member has a characteristic of selecting light of a wavelength that is generated by the first irradiation light but not generated by the second irradiation light, and
The wavelength selection member has a characteristic of selecting light of a wavelength that is generated by the second irradiation light but not generated by the first irradiation light, thereby eliminating the need for a shutter.

以上のように本実施例では側方3個の検出器で6チヤン
ネル検出が可能で、これに前方散乱光を加えた計7種類
の異なる光学特性の光が検出可能となる。
As described above, in this embodiment, the three side detectors can detect six channels, and in addition to this, forward scattered light can be added, making it possible to detect a total of seven types of light with different optical characteristics.

[発明の効果] 以上本発明によれば、光検出器の数置上の種類のパラメ
ータを得ることができる。これにより従来と同等の性能
がよりコンパクト・低コストで実現できる。また従来、
光学配置的に困難であった4種類以上の光学特性の異な
る光の検出も容易に行なえる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, it is possible to obtain several kinds of parameters of a photodetector. This makes it possible to achieve the same performance as conventional models at a more compact size and lower cost. Also, conventionally,
It is now possible to easily detect four or more types of light having different optical characteristics, which has been difficult due to the optical arrangement.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第一図は従来の検体検査装置の構成図、であり、図中の
主な符号は、 1・・フローセル、2.3・・レーザ光源、8・・光検
出器、7.13・・視野絞り、21a、21b、31a
、31b、41a。 41b・・ダイクロイックミラー 22a、22b、32a、32b、42a。 42b・・バンドパスフィルタ、 23a、23b、33a、33b、43a。 b・・シャッタ、 25. 35、 5・・光検出器、 鵠Z図 tt  tz 金床11ミう−
Figure 1 is a configuration diagram of a conventional sample testing device, and the main symbols in the diagram are: 1. Flow cell, 2. 3. Laser light source, 8. Photodetector, 7. 13. Field of view. Aperture, 21a, 21b, 31a
, 31b, 41a. 41b...Dichroic mirrors 22a, 22b, 32a, 32b, 42a. 42b...Band pass filter, 23a, 23b, 33a, 33b, 43a. b...Shutter, 25. 35, 5... Photodetector, Mouse Z diagram tt tz Anvil 11 Miu-

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)サンプル中の個々の検体を順次流す手段と、 第1、第2の照射光を検体の流れ方向に間隔を置いて第
1の位置と第2の位置に照射する手段と、 前記第1、第2の被検位置を通過する検体から発するそ
れぞれの光を受光する共通の光検出手段と、 検体が前記第1の位置を通過する際には検体から発する
第1の光学特性の光を選択的に前記光検出器に導き、検
体が前記第2の位置を通過する際には検体から発する第
2の光学特性の光を選択的に前記光検出器に導く選択手
段と、を有することを特徴とする検体測定装置。
(1) means for sequentially flowing the individual specimens in the sample; means for irradiating the first and second irradiation lights at a first position and a second position at intervals in the flow direction of the specimen; 1. A common light detection means that receives each light emitted from the specimen passing through the second test position; and when the specimen passes through the first position, light having a first optical characteristic emitted from the specimen; selectively guiding light to the photodetector, and selectively guiding light having a second optical characteristic emitted from the specimen to the photodetector when the specimen passes through the second position. A specimen measuring device characterized by the following.
(2)前記選択手段は、前記各被検位置から前記光検出
器まで光路を第1、第2の光路に分割して、検体が前記
第1の被検位置を通過する際には前記第1の光路を選択
し、検体が前記第2の被検位置を通過する際には前記第
2の光路を選択する請求項(1)記載の検体測定装置。
(2) The selection means divides an optical path from each of the test positions to the photodetector into a first optical path and a second optical path, and when the sample passes through the first test position, The specimen measuring device according to claim 1, wherein one optical path is selected, and the second optical path is selected when the specimen passes through the second test position.
(3)前記選択手段は、光路中前記光検出器の手前に光
路を分割するように配置される第1の光学選択部材とシ
ャッタ、及び第2の光学選択部材とシャッタの組であり
、被検粒子が前記第1の位置を通過する際には前記第1
のシャッタを開けて前記第2のシャッタを閉じ、被検粒
子が前記第2の位置を通過する際には前記第1のシャッ
タを閉じて前記第2のシャッタを開けるように制御する
請求項(2)記載の検体測定装置。
(3) The selection means is a set of a first optical selection member and a shutter, and a second optical selection member and a shutter, which are arranged in front of the photodetector in the optical path so as to divide the optical path. When the sample particles pass through the first position, the first
(1) Control is performed to open a shutter and close the second shutter, and to close the first shutter and open the second shutter when the test particle passes the second position. 2) The specimen measuring device described above.
(4)前記第1、第2の照射光は単一の光源からの光ビ
ームを光学的に2光束に分割したものである請求項(1
)記載の検体測定装置。
(4) Claim (1) wherein the first and second irradiation lights are light beams from a single light source that are optically divided into two beams.
) Specimen measuring device described.
(5)前記第1、第2の照射光はそれぞれ異なる波長の
光である請求項(1)記載の検体測定装置。
(5) The analyte measuring device according to claim 1, wherein the first and second irradiation lights have different wavelengths.
(6)前記選択手段は、光路中前記光検出器の手前に光
路を分割するように配置される第1の光学選択部材及び
第2の光学選択部材であり、前記第1の光学選択部材は
前記第1の照射光で発生して前記第2の照射光では発生
しない波長の光を選別する特性を有し、前記第2の光学
選択部材は前記第2の照射光で発生して前記第1の照射
光では発生しない波長の光を選別する特性を有する請求
項(5)記載の検体測定装置。
(6) The selection means is a first optical selection member and a second optical selection member arranged in front of the photodetector in the optical path so as to divide the optical path, and the first optical selection member is The second optical selection member has a characteristic of selecting light of a wavelength generated by the first irradiation light but not generated by the second irradiation light, and the second optical selection member selects light of a wavelength generated by the second irradiation light and not generated by the second irradiation light. The analyte measuring device according to claim 5, having a characteristic of selecting light of a wavelength that is not generated by the first irradiation light.
(7)前記検体は複数種の蛍光で染色される請求項(1
)記載の検体測定装置。
(7) Claim (1) wherein the specimen is stained with multiple types of fluorescence.
) Specimen measuring device described.
(8)サンプル中の個々の検体を順次流す行程と、 複数の照射光を検体の流れ方向に間隔を置いて照射する
行程と、 各照射位置を通過する検体から発する異なる波長の光を
、共通の光検出器にて時系列的に受光する行程と、 を有することを特徴とする検体測定方法。
(8) A process in which each specimen in a sample is sequentially flowed, a process in which multiple irradiation lights are irradiated at intervals in the flow direction of the specimen, and light of different wavelengths emitted from the specimen passing through each irradiation position is common. A method for measuring a specimen, comprising the steps of: receiving light in time series with a photodetector;
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