JPH03181838A - 低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験における亀裂発生検出方法 - Google Patents

低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験における亀裂発生検出方法

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JPH03181838A
JPH03181838A JP32058089A JP32058089A JPH03181838A JP H03181838 A JPH03181838 A JP H03181838A JP 32058089 A JP32058089 A JP 32058089A JP 32058089 A JP32058089 A JP 32058089A JP H03181838 A JPH03181838 A JP H03181838A
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JP
Japan
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crack
tank
test
fatigue
low temp
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Pending
Application number
JP32058089A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeto Matsumoto
松本 重人
Yoshibumi Nakano
中野 義文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験にお
いて試験片に発生ずる疲労亀裂を検出するのに好適な方
法に関する。
〈従来の技術〉 従来、低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験における
疲労fr%、裂発生の検出方法として、試験片と試験片
を取付ける掴み部を含めて恒温層に入れて、その恒温層
に設けられた1ケ所の覗き窓より亀裂発生の有無を目視
観察するものであった。
〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、前記した方法にあっては、亀裂発生の検
出をlケ所の覗き窓より目視で観察するとしているので
、その箇所以外の部位を観察することが不可能であると
いう欠点がある。
概して、疲労亀裂の発生は、例えば丸棒の試験片の場合
ではその全周においていかなる位置からでも起こり得る
ため、亀裂発生時点を正確に検出することができないの
である。
また、恒温層内と外部との温度差により覗き窓付近に結
露が生じるため、材料の疲労特性評価に重要な特に長さ
が0.5 tan以下の小さい亀裂を検出するのに見難
いといった問題もある。
本発明は、上記のような課題を解決すべくしてなされた
低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験における亀裂発
生検出方法を提供することを目的とする。
〈課題を解決するための手段〉 本発明は、低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験にお
ける亀裂発生検出方法において、疲労試験片に冷媒を充
填した低温槽を相対的に移動可能に取付け、■亀裂発生
検出時には前記低温槽を移動させて亀裂発生予測部位を
露出させて亀裂の有無を目視検出すること、■亀裂発生
のないときは前記低温槽をもとの位置に復帰させること
、の二つの操作を色装発生を検出するまで繰り返すこと
により、上記の目的を達成しようとするものである。
〈作 用〉 本発明によれば、低i!itl!を疲労試験片に対して
相対的に移動可能に取付けるようにしたので、試験片の
亀裂発生部位を完全に露出させることができるから、確
実に亀裂発生部位を検出することができる。
なお、この低温槽の移動を試験片が疲労試験装置によっ
て繰り返し荷重が付与されている状態においてなされる
ので、疲労亀裂発生部位を見極める間に試験片温度が上
昇することがない。
〈実施例〉 以下に、本発明の実施例について、図面を参照して詳し
く説明する。
第1図は、本発明の実施に用いる疲労試験装置の一実施
例を示す斜視図である。
図において、1は、中央部に鼓状または直線状の試験部
位Aを有する疲労試験片であり、その−方の端部には雄
ねしlaが加工されている。
2は、冷媒3が充填される低温槽であり、その下部には
疲労試験片lの雄ねじlaと嵌合自在とされる雌ねし2
aが加工されている。
4は、疲労試験片lの両端部を固定する掴み治具である
5ば、疲労試験片Iの試験部位Aに取付けられる歪検出
器である。
このように槽底された疲労試験装置の動作について、以
下に説明する。
■ 疲労試験片1の雄ねじ1aを低温槽2の雌ねじ2a
に嵌め込んで、試験部位Aが低温槽2内に入るようにす
る。
■ そして、掴み治具4により、疲労試験片10両端部
を固定する。
■ 低温槽2に冷媒3を充填して試験部位Aを冷却しな
がら、繰り返し荷重Pを付与する。
■ そこで、この繰り返し荷重Pの付与によって、試験
部位Aの最小断面部に発生する疲労亀裂6を検出するた
めに、第2図に示すように、低温1ffzを回転させる
ことにより下方に下げることにより、試験部位Aを露出
させる。
■ これによって、試験部位Aにおける疲労亀裂6の有
無を目視により直接観察する。
■ もし、目視観察の結果、亀裂の発生が認められなか
った場合は、低温槽2を元の位置に戻して冷媒3を補充
しながら、再び繰り返し荷j!iPを付与して疲労試験
を継続する。
材質が軟鋼から超高張力鋼、外径!5〜50閣φ。
試験部位の長さが0〜30m、径が5〜25−一である
疲労試験片を用い、繰り返し荷重をO〜50000kg
f 、サイクル数を1−1〜5−’Hz、また冷媒とし
てドライアイスアルコール、液体窒素を用いてO〜−1
96℃に冷却しながら疲労亀裂試験を1テった。
そのときの本発明法と従来法との結果を、第3図に亀裂
発生回数Ncおよび破断回数Nfと歪振幅の関係として
示した。
この図において、本発明法のNcはひずみ振幅6〜1.
2%で7〜230回程度であり、このNcと同じ範囲の
ひずみ振幅に対するNfは23〜850回程度で、この
両者の比Nc/Nfは約0.2〜0.3となる。
一方、従来法のNcは12〜390回に対してNfは2
7〜770回で、その両者の比Nc/Nfは約0.4〜
0.5を表している。
このことから、本発明法での亀裂発生検出時点が従来法
で行うときに比して短寿命となり、むしろ厳しい評価が
なされることになるが、高い信頼性を得るデータとなる
ことがわかる。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、低温における歪
制御低サイクル疲労試験において、疲労亀裂発生を正確
に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施に用いる疲労試験装置の一実施
例を示す斜視図、第2図は、低温槽を移動した状態を示
す正面図、第3図は、低サイクル疲労試験の結果の一例
を示す特性図である。 !・・・疲労試験片、   Ia・・・雄ねじ、  2
・・・低温槽、   2a・・・雌ねじ、  3・・・
冷媒、  4・・・掴み治具、  5・・・歪検出器、
 A・・・試験部位。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験における亀裂発
    生検出方法において、 疲労試験片に低温槽を相対的に移動可能に取付け、 (1)亀裂発生検出時には前記低温槽を移動させて亀裂
    発生予測部位を露出させて亀裂の有無を目視検出するこ
    と、 (2)亀裂発生のないときは前記低温槽をもとの位置に
    復帰させること、 の二つの操作を亀裂発生を検出するまで繰り返すことを
    特徴とする低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験にお
    ける亀裂発生検出方法。
JP32058089A 1989-12-12 1989-12-12 低温環境中の歪制御低サイクル疲労試験における亀裂発生検出方法 Pending JPH03181838A (ja)

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