JPH03180947A - Initial diagnostic system for ram - Google Patents

Initial diagnostic system for ram

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Publication number
JPH03180947A
JPH03180947A JP1320052A JP32005289A JPH03180947A JP H03180947 A JPH03180947 A JP H03180947A JP 1320052 A JP1320052 A JP 1320052A JP 32005289 A JP32005289 A JP 32005289A JP H03180947 A JPH03180947 A JP H03180947A
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JP
Japan
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address
ram
data
storage area
area
Prior art date
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Pending
Application number
JP1320052A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Yamamoto
山本 孝宏
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To improve the reliability of a device by writing the data of a pattern different from a specific pattern only by the storage area of one address in a RAM, reading out addresses other than the written address and checking whether the data in the storage area is changed or not. CONSTITUTION:When an address storage area 231 in the cleared RAM (random access memory) 23 is selected by a RAM selecting signal 11 and data FF are written in the area 231, it may be that the storage data of the area 231 are FF and the storage data of residual storage areas 232 to 23n are 00. Thereby, the residual storage areas 232 to 23n are selected by RAM selection signals 12 to 1n and whether the read data are 00 or not is checked to decide the normality/abnormality of an address decoding circuit 22 in the RAM selecting signal (11) system. The normality/abnormality of the address decoding circuit 22 for all the addresses can be decided by similar processing. Thus, the reliability of the device can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の概要〕 RAMが正常に動作するか否かを診断するRAM初期診
断方式に関し、 迅速、確実なRAM初期診断を行なう方式を提供し、装
置の信頼性向上に寄与することを目的とし、 マイクロコンピュータシステムに用いられるRAMの動
作正常性を診断する方式において、該RAMの全アドレ
スの記憶領域を特定パターンのデータでクリアした後、
■アドレスの記憶領域にだけ前記特定パターンとは異な
るパターンのデータを書込み、書込んだアドレス以外の
アドレスを読出してその記憶領域のデータが変化したか
否かをチェックし、この書込み、読出しをRAMの各ア
ドレスにつき行なって、アドレスデート回路の正常、異
常を診断する槽底とする。
[Detailed Description of the Invention] [Summary of the Invention] Regarding a RAM initial diagnosis method for diagnosing whether or not RAM is operating normally, the present invention provides a method for performing quick and reliable RAM initial diagnosis, and improves the reliability of the device. In a method for diagnosing the normal operation of RAM used in microcomputer systems, after clearing the storage area of all addresses of the RAM with a specific pattern of data,
■Write data in a pattern different from the specific pattern only to the storage area of the address, read an address other than the written address to check whether the data in that storage area has changed, and write and read data to the RAM. This is done for each address, and serves as the bottom of the tank for diagnosing whether the address date circuit is normal or abnormal.

[産業上の利用分野] 本発明は、RAMが正常に動作するか否かを診断するR
AM初期診断方式に関する。
[Industrial Field of Application] The present invention provides R for diagnosing whether or not RAM operates normally.
Regarding AM initial diagnosis method.

RAM (Random Access Memory
)は記憶素子としてマイクロコンピュータシステムに広
く用いられており、RAMが正常に動作する/しないの
確認は重要である。特に、装置の遠隔監視/制御(テレ
メータ/テレコントロール)を行なうマイクロコンピュ
ータシステムの場合、誤動作は重大な影響を及ぼすため
信頼性確保は重要な課題であり、従ってRAMの初期診
断は重要である。
RAM (Random Access Memory
) is widely used as a memory element in microcomputer systems, and it is important to check whether the RAM operates normally or not. Particularly in the case of a microcomputer system that remotely monitors/controls equipment (telemeter/telecontrol), ensuring reliability is an important issue because malfunctions have a serious impact, and therefore initial diagnosis of the RAM is important.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、RAMの初期診断としては、全RA M 1iJ
t域に固定パターンを書き込み、その書込んだ内容を正
常に読み出すことができるか否かをチェックする、とい
う方法をとっている。しかしこの方法では、全RA M
 領域に同しデータを書き込むため、RAMアドレスデ
コード回路の異常は発見できないという問題点があった
Conventionally, the initial diagnosis of RAM is to check the total RAM 1iJ
A method is used in which a fixed pattern is written in the t area and it is checked whether the written contents can be read normally. However, with this method, the total RAM
Since the same data is written in the area, there is a problem in that abnormalities in the RAM address decoding circuit cannot be detected.

これを第4図で説明すると、プロセッサ21からアドレ
ス80000(16進数、2進数では0が19個続<1
00・・・0)のRAM領域232をアクセスした場合
、アドレスデコード回路22が不良で上記アドレスの最
−1位ピッ)A19が1から0に変わると、アドレスO
OO・・・・・・0(0が20個)のRAM領域231
がアクセスされ、該領域の記憶データ5A5A (16
進数、これは全RA M 領域に書込んだデータ)が読
出される。この場合アドレスデコード回路22の不良は
表面には現われず、アドレス80000のRAM領域2
32の記憶内容は書込んだ通りの5^5^で、何ら異常
はないように見えてしまう。
To explain this with reference to FIG.
00...0), if the address decoding circuit 22 is defective and the -1st bit A19 of the above address changes from 1 to 0, the address O
OO...0 (20 0's) RAM area 231
is accessed, and storage data 5A5A (16
The base number (data written in all RAM areas) is read out. In this case, the defect in the address decoding circuit 22 does not appear on the surface and the RAM area 2 at address 80000
The memory contents of 32 are 5^5^ as written, and there appears to be no abnormality.

この問題を解決するために、RAMに書き込むデータを
そのアドレスと同じ値とし、RAM内容とアドレスが不
一致の場合に異常とする方法も考えられるが、データの
ビット数(通常8またしま16ビット)とアドレスのビ
ット数(通常16〜32ビット)が異なるため、データ
が8ビット、アドレスがI6ビットなら28回も同じデ
ータを書込むことになり、アドレスデコード回路の一]
二位ビットの異常を検出できないため、この方法は完全
ではない。この様子を第4図(b)に示す。
In order to solve this problem, it is possible to set the data written to RAM to the same value as its address, and to issue an error if the RAM content and address do not match, but the number of bits of data (usually 8 or 16 bits) Since the number of address bits (usually 16 to 32 bits) is different from the address decoding circuit, if the data is 8 bits and the address is I6 bits, the same data will be written 28 times.
This method is not perfect because it cannot detect an abnormality in the second bit. This situation is shown in FIG. 4(b).

第4図(ロ)は、データのビット数は16、アドレスの
ビット数は200例であり、このRAM23のアドレス
00000(16進数)の領域231にはアドレスの下
位16ビツl−0・・・・・・00(2進数)を、アド
レス0OOOH16進数)の領域233にはその下位1
6ビット0・・・・・・01(2進数)を、アドレス0
0002(16進数)の領域234にはその下位16ビ
ット0・・・・・・10(2進数)を・・・・・・チェ
ックデータとして書込む。
FIG. 4(b) shows an example in which the number of data bits is 16 and the number of address bits is 200, and the lower 16 bits of the address l-0... ...00 (binary number), and the lower 1 is stored in the area 233 of the address 0OOOH (hexadecimal number).
6 bits 0...01 (binary number), address 0
In the area 234 of 0002 (hexadecimal number), its lower 16 bits 0...10 (binary number) are written as check data.

こ覧でアドレスデコード回路22が不良でA19ビット
が1から0に変化すると、プロセッサ21がアドレス8
0002(16進数、2進数で100・・・10)のR
A M eM域235をアクセスした場合、実際にはア
ドレス00002(16進数)のRAM領域234がア
クセスされ、記憶データO・・・・・・10が読出され
るが、領域235の記憶データもO・・・・・・10で
あるので予定通りであり、チェック結果は正常であった
ように見えてしまう。またこの方法では全RAM領域に
ついてチェックする必要があり、システムの初期立上り
時間を短くしたい場合などに、その診断速度が問題にな
る。
As you can see, if the address decoding circuit 22 is defective and the A19 bit changes from 1 to 0, the processor 21 will
R of 0002 (100...10 in hexadecimal, binary)
When the A M eM area 235 is accessed, the RAM area 234 at address 00002 (hexadecimal number) is actually accessed and the stored data O...10 is read out, but the stored data in the area 235 is also read out. Since the result is 10, it is as planned and the check result appears to be normal. In addition, this method requires checking the entire RAM area, and the diagnostic speed becomes an issue when it is desired to shorten the initial startup time of the system.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

このように従来のRAM初期診断方式では、全アドレス
に同しデータを書込む方式ではアドレスデコーダの不良
検出ができない、また各アドレスにアドレスと同じデー
タを書込む方式ではデータビット数よりアドレスビット
数の方が多い場合に同しデータが繰り返し書込まれるこ
とになり、やはりアドレスデコーダの不良検出が確実に
できない、また上記いずれの方式において全アドレスの
読出しが必要で診断所要時間が大になるなどの問題があ
る。
In this way, in conventional RAM initial diagnosis methods, it is not possible to detect address decoder defects if the same data is written to all addresses, and if the same data is written to each address as the address, the number of address bits is greater than the number of data bits. If there are more cases, the same data will be written repeatedly, making it impossible to reliably detect address decoder defects.Also, in any of the above methods, it is necessary to read all addresses, which increases the time required for diagnosis. There is a problem.

本発明はか狐る点を改善し、迅速、確実なRAM初期診
断を行なう方式を提供し、装置の信頼性向上に寄与する
ことを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to improve the disadvantages, provide a method for performing quick and reliable initial diagnosis of RAM, and contribute to improving the reliability of the device.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図に本発明の原理説明図を示す。このマイクロコン
ピュータシステムはプロセッサ(CPLI)21、プロ
グラムを格納しているR OM (ReadOnly 
Memory) 26、RAM23、アドレスデコード
回路22、アドレスバス24、およびデータバ′ス25
を備え、本発明はこのRAMのアドレスデコード回路2
2の動作正常性を確認する手段を提供するものである。
FIG. 1 shows a diagram explaining the principle of the present invention. This microcomputer system includes a processor (CPLI) 21, a ROM (Read Only) that stores programs, and
Memory) 26, RAM 23, address decoding circuit 22, address bus 24, and data bus 25
The present invention provides an address decoding circuit 2 for this RAM.
This provides a means for confirming the normality of operation of No. 2.

本発明ではこの診断に当って、RAM23の全アドレス
の記憶領域を特定パターンのデータでクリアした後、I
アドレスの記憶領域にだけ上記特定パターンとは異なる
パターンのデータを書込み、書込んだアドレス以外のア
ドレスを読出してその記憶領域のデータが変化したか否
かをチェックする。
In the present invention, for this diagnosis, after clearing the storage area of all addresses of the RAM 23 with data of a specific pattern,
Data of a pattern different from the specific pattern is written only in the storage area of the address, and an address other than the written address is read to check whether the data in the storage area has changed.

この書込み、読出しを、RAMの各アドレスにつき行な
ってアドレスデコード回路の正常、異常をチェックする
This writing and reading is performed for each address of the RAM to check whether the address decoding circuit is normal or not.

書込み、読出しを行なうアドレスは、2進複数ビットか
らなるアドレスの任意のビットを1、残りのビットを0
とした各アドレスについて行なってよい。
The address to be written or read consists of multiple binary bits, with any bit set to 1 and the remaining bits set to 0.
This can be done for each address.

RAMにはクリア不可の領域を持つものがある。Some RAMs have areas that cannot be cleared.

か\るRAMに対しては第1図(ハ)に示すように、複
数ビットからなるアドレスのあるビットが1以降の領域
、図示の例では1000〜3FFF (16進数、他も
同様)はクリア可、該ビット(2ピツl)がOの領域0
000〜0FFFはクリア不可とし、このクリア可の領
域1000〜3FFFに対してだけ上記クリヤ、書込み
、読出し処理をする。
For such RAM, as shown in Figure 1 (c), the area where the bit of an address consisting of multiple bits is 1 or later, in the example shown in the figure, 1000 to 3FFF (hexadecimal numbers, the same applies to others) is cleared. Possible, area 0 where the bit (2 bits) is O
000 to 0FFF cannot be cleared, and the above-mentioned clearing, writing, and reading processing is performed only for the clearable areas 1000 to 3FFF.

〔作用〕[Effect]

上記の処理でアドレスデコード回路の正常/異常を診断
することができる。
Through the above processing, it is possible to diagnose whether the address decoding circuit is normal or abnormal.

即ち、アドレスデコード回路22の動作が正常の場合、
クリア後のRAM23のあるアドレスの記憶領域231
をRAM選択信号11で選択してデータFFを書込んだ
とすると、RAM23の該記憶領域231の記憶データ
はFF、残りの記憶領域232〜23nの記憶データは
00のはずである。従って残りの記憶領域232〜23
nをRAM選択信号12〜inで選択し、その読出しデ
ータがOOであるか否かをチェックすることにより、R
AM選択信号11の系のアドレスデコード回路22は正
常/異常であることが分り、同様処理を各アドレスにつ
き行なうことで、全てのアドレスにつきアドレスデコー
ド回路22が正常/異常であることが分る。
That is, when the operation of the address decoding circuit 22 is normal,
Storage area 231 at an address in RAM 23 after clearing
If FF is selected by the RAM selection signal 11 and data FF is written, the data stored in the storage area 231 of the RAM 23 should be FF, and the data stored in the remaining storage areas 232 to 23n should be 00. Therefore, the remaining storage areas 232-23
By selecting n with the RAM selection signal 12~in and checking whether the read data is OO, R
It is found that the address decode circuit 22 of the AM selection signal 11 system is normal/abnormal, and by performing the same process for each address, it is found that the address decode circuit 22 for all addresses is normal/abnormal.

アドレスのあるビットが0またはlになる(0またはl
に固定される)なら、2重選択になるはずで、読出しプ
ロセッサではオール00のはずがFFも現われることに
なる。上記処理でこの異常がチェックできる。
A certain bit of the address becomes 0 or l (0 or l
), there should be double selection, and in the read processor, all 00s should appear, but FFs will also appear. This abnormality can be checked using the above process.

アドレスデコード回路の正常/異常はアドレスの各ビッ
トにつき行なえばよいから、上記書込み/続出しはアド
レスビットのIつだけ1、残りを0としたものおよび全
ビットがOのもの全部につき行なえばよい。これで、全
アドレス書込み/続出しに比べて、大幅な診断所要時間
の低減が可能になる。例えばRAMアドレス領域がoo
ooo〜7F’FFFの場合、全アドレスの書込み/続
出しでは80000 x 80000 (いずれも16
進数)回数のRAMアクセスが必要はなるが、1ビット
のみ1、残りは0のもの、および全ビットが0のものに
つき書込み/読出しするなら20X20 (いずれも1
0進数)回数のRAMアクセスで済む。
Since the normality/abnormality of the address decoding circuit can be checked for each bit of the address, the above writing/succession can be performed for all address bits with only I set to 1 and the rest set to 0, and all bits set to O. . This makes it possible to significantly reduce the time required for diagnosis compared to all address writing/successive writing. For example, the RAM address area is oo
ooo~7F'FFF, writing/continuing all addresses is 80000 x 80000 (both 16
(base number) RAM access is required, but if you want to write/read something where only one bit is 1 and the rest are 0, or something where all bits are 0, it will be necessary to access the RAM 20x20 times (all bits are 1
(0 base number) number of RAM accesses are required.

0 アドレスビットがO,lに固定、は当該ビットの信号線
がグランドまた電源線ヘショートしたときに生じるが、
この他には線間ショートがある。
0 The address bit is fixed to O, l, which occurs when the signal line of the bit is short-circuited to the ground or power supply line.
In addition to this, there is a short between lines.

RAMにクリア不可領域がある場合、これをアドレスの
あるビットの0.1で区別しておくと、クリア不可領域
を除いてクリア可領域に簡単に本発明診断方式を適用で
きる。例えば、書込み/続出しアドレスは単純に始端ア
ドレス0000からインクリメントさせ、これとクリア
可の領域の始端アドレス1000との論理和をとってそ
れを実際のアクセスアドレスとすることで、クリア可領
域のみクリア、書込み/続出し、することができる。
If there is a non-clearable area in the RAM, by distinguishing it by 0.1 of a certain bit of the address, the diagnostic method of the present invention can be easily applied to the clearable area except for the non-clearable area. For example, the write/continuation address is simply incremented from the start address 0000, and this is logically ORed with the start address 1000 of the clearable area to make it the actual access address, thereby clearing only the clearable area. , can be written/continued.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の実施例を第2図、第3図に示す。第2図では、
最初はRAM全領域のクリアステップでの、これはアク
セスするRAMのアドレスを始端アドレス00000(
16進数、以下向しなのでこの注釈は省略する)にし、
然る後アクセスするRAMのアドレスが最終アドレス+
1の80000になるまで、各RAMアドレスの内容(
本例では8ビットの1ワード)を所定値、本例では00
にし、次いでRAMアドレスを+1し、この操作をアド
レスが80000になるまで繰り返すことで行なう。こ
れでRAMの各アドレスの内容は全て0になる。
An embodiment of the present invention is shown in FIGS. 2 and 3. In Figure 2,
At first, in the step of clearing the entire RAM area, the address of the RAM to be accessed is set to the starting address 00000 (
Hexadecimal number, this comment is omitted as it is for the following),
The address of the RAM to be accessed after that is the final address +
The contents of each RAM address (
In this example, 1 word of 8 bits) is set to a predetermined value, 00 in this example.
Then, add 1 to the RAM address and repeat this operation until the address reaches 80,000. The contents of each address in the RAM will now be all 0.

次はRAMアドレスデコーダのチェックステップに移る
■。これば、次のようにして行なう。即ち先ずチェック
先アドレス(データを書込むアドレス)をoooooに
し、このアドレスに8ビットデータ本例ではFFを書込
む。次いでチェック元以外のアドレスの内容が変化して
いないかどうかチェックする■が、これは次のようにし
て行なう。
Next, proceed to the step of checking the RAM address decoder (■). If so, proceed as follows. That is, first, the check destination address (address where data is written) is set to ooooo, and 8-bit data (in this example, FF) is written to this address. Next, it is checked whether the contents of addresses other than the check source have changed (2), and this is done as follows.

即ち、チェック先アドレス(読出しアドレス)をチェッ
ク先アドレスとし、チェック先アドレスが80000に
なるまで、チェック先アドレス−チェック先アドレス、
かの判定、これがYESならくチェック開始)チェック
先アドレスの更新、Noなら(チェック中)チェック先
アドレスの内容−00?の判定、これがYESならチェ
ック先アドレスの更新、NOならRAMアドレスデコー
ダ異常2 ■であるから、アラーム発報、システム停止とする。
That is, the check destination address (read address) is set as the check destination address, and the check destination address - check destination address, until the check destination address reaches 80000.
If this is YES, check starts) Check destination address is updated; if No (checking in progress) check destination address contents -00? If this is YES, the check destination address is updated; if NO, it is RAM address decoder abnormality 2 (2), so an alarm is issued and the system is stopped.

こうして、チェック先アドレス更新、内容がOOかのチ
ェックを80000まで行なったらチェック先アドレス
の内容を他のアドレスの内容と同し00に戻し■、チェ
ック先アドレスを更新して、最初へ戻る。即ちチェック
先アドレスの内容をFFにし、チェック元以外の内容が
変化していないかのチェックを行ない■、・・・・・・
とする。か覧る処理を行ないながらチェック先アドレス
を更新して行って80000になり、内容異常がなけれ
ばRAMアドレスデコーダは正常■であり、診断路りと
する。
In this way, when the check destination address is updated and the content is checked to see if it is OO until it reaches 80000, the contents of the check destination address are returned to 00, which is the same as the contents of other addresses (2), the check destination address is updated, and the process returns to the beginning. In other words, set the contents of the check destination address to FF and check whether the contents other than the check source have changed.
shall be. The check destination address is updated to 80000 while performing the processing to check the contents, and if there is no abnormality in the contents, the RAM address decoder is normal (2), and the diagnosis is proceeded.

チェック先アドレスを単純にインクリメントするとRA
Mの全アドレス(チェック先アドレスを除く)を読出す
ことになり、所要時間が大になる。
If you simply increment the check destination address, RA
All addresses of M (excluding the check destination address) must be read, which increases the time required.

アドレスデコーダのチェックはアドレスの各ビットにつ
いてのチェックで充分であるから、第3図では0000
0.00001.00002.00004. ・・・・
・・と、2進のアドレスの各ビットを1つだけ逐次lに
するという要領で行なう。このようにすれば20ビット
3 アドレスA19・・・・・・AOに対しては、チy−”
)り元アドレスがA19〜A1=OAO=1なら19回
、A19〜A2.AO=0.A1=1なら18回、・・
・・・・の続出して済む。
It is sufficient to check each bit of the address in the address decoder, so in Fig. 3, 0000
0.00001.00002.00004.・・・・・・
. . . This is done by sequentially setting each bit of the binary address to l. In this way, for 20 bits 3 address A19...AO,
) If the source address is A19-A1=OAO=1, then A19-A2. AO=0. If A1=1, 18 times...
I ended up with a series of...

第3図はRAM領域の一部分はクリアしない場合の診断
要領を示す。RAMに消去してはならないデータが書込
まれていることがあり、第3図はこの場合に対処するも
のである。こ覧ではアドレスのあるビットAiまたはビ
ットAjが1のものの領域0100・・・・・・0(先
頭の0はA4次のlはAj、続く0はAi、Ajより下
位のビット;こ覧では2進数)〜111・・・・・・l
はクリア可、このAiおよびAjが0である領域OOO
・・・・・・0〜0011・・・・・・1はクリア不可
とする。第3図ではAi=A1B、Aj=Al 7とし
ており、A1B=A17=Oの領域はクリア不可、Al
BまたはA17のいずれか少なくとも1つが1の領域が
クリア可である。
FIG. 3 shows the diagnosis procedure when a part of the RAM area is not cleared. Data that should not be erased may be written in the RAM, and FIG. 3 deals with this case. In this view, the area where a certain bit Ai or bit Aj of the address is 1 is 0100...0 (the first 0 is A4, the next l is Aj, the following 0 is Ai, the bit lower than Aj; in this view Binary number) ~ 111...l
can be cleared, this area OOO where Ai and Aj are 0
...0 to 0011...1 cannot be cleared. In Figure 3, Ai = A1B, Aj = Al 7, and the area where A1B = A17 = O cannot be cleared, and Al
Areas where at least one of B or A17 is 1 can be cleared.

第3図でも先ずRAM領域のクリアを行なう■が、これ
はクリアしてよい領域20000〜711 F F F
に4 つき行なう。
In Figure 3, the RAM area is first cleared (■), but this is an area that can be cleared from 20000 to 711 F F F
I'll go there 4 times.

次いでRAMアト°レスデコーダのチェックを行なう■
が、このとき強制オンピット位置を40000とする。
Next, check the RAM address decoder■
However, at this time, the forced on-pit position is set to 40000.

これはA1B=1にするということであり、クリアして
よい領域を書込み/続出しするということであるが、A
1B=1に固定するとアドレスデコーダのこのA18ビ
ットの正常/異常が分らない。そこで強制オンピット位
置は20000すなわちA17=1ともし、この2通り
の診断でA18ビットの正常/異常もチェックする。
This means setting A1B = 1, and writing/outputting the area that can be cleared one after another.
If 1B is fixed to 1, it is not possible to tell whether this A18 bit of the address decoder is normal or abnormal. Therefore, the forced on-pit position is set to 20000, that is, A17=1, and the normality/abnormality of the A18 bit is also checked using these two types of diagnosis.

RAMアドレスデコーダのチェック■では、チェック先
アドレスをoooooにし、これと強制オンピット位置
40000との論理和のアドレス八F Fを書込み、チ
ェック元以外の内容が変化していないか否かチェックす
る■。変化していたら、RAMアドレスデコーダ異常■
であり、アラーム発報、システム停止とし、変化してい
ないならチェック先アドレスの更新■、書込みアドレス
の内容の00への復帰、書込みアドレスの更新を行なう
。こうして最終の80000まで内容が予定のOOであ
れ5 ばRAMアドレスデコーダ正常■であり、診断を終了す
る。
Checking the RAM address decoder (2) sets the check destination address to ooooo, writes address 8FF which is the logical sum of this and the forced on pit position 40000, and checks whether or not the contents other than the check source have changed. If it changes, the RAM address decoder is abnormal.■
Therefore, an alarm is issued, the system is stopped, and if there is no change, the check destination address is updated (2), the contents of the write address are returned to 00, and the write address is updated. In this way, if the content up to the final value 80000 is OO as expected, it means that the RAM address decoder is normal (2), and the diagnosis ends.

本発明は、第4図などの従来方式との併用も可能である
The present invention can also be used in combination with conventional systems such as those shown in FIG.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した様に、本発明によれば従来行われていなか
ったRAMアドレスデコード回路の異常をその初期診断
時に高速にチェックできるようになるため、装置の信頼
性を向上させることが可能となり、マイクロコンピュー
タシステムの信頼性向上に寄与する所が大きい。
As explained above, according to the present invention, it becomes possible to quickly check for abnormalities in the RAM address decoding circuit at the time of initial diagnosis, which has not been done in the past, thereby making it possible to improve the reliability of the device and It greatly contributes to improving the reliability of computer systems.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理説明図、 第2図および第3図は本発明の実施例1,2の説明図、 第4図は従来方式の説明図である。 第1図で21はマイクロコンピュータシステムのプロセ
ッサ、23はRAM、22はそのアドレ6 スデコード回路である。 出 願 人 乍r 士 通 株 式 %式% 較
FIG. 1 is an explanatory diagram of the principle of the present invention, FIGS. 2 and 3 are explanatory diagrams of embodiments 1 and 2 of the present invention, and FIG. 4 is an explanatory diagram of a conventional system. In FIG. 1, 21 is a processor of the microcomputer system, 23 is a RAM, and 22 is its address decoding circuit. Applicant Shitsu stock% formula% comparison

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、マイクロコンピュータシステムに用いられるRAM
の動作正常性を診断する方式において、該RAM(23
)の全アドレスの記憶領域(231、232、・・・)
を特定パターンのデータでクリアした後、1アドレスの
記憶領域にだけ前記特定パターンとは異なるパターンの
データを書込み、書込んだアドレス以外のアドレスを読
出してその記憶領域のデータが変化したか否かをチェッ
クし、 この書込み、読出しをRAMの各アドレスにつき行なっ
て、アドレスデート回路の正常、異常を診断することを
特徴とするRAM初期診断方式。 2、書込み、読出しは、複数ビットからなるアドレスの
任意の1ビットのみが1で残りのビットは0である各ア
ドレスにつき行なうことを特徴とする請求項1記載のR
AM初期診断方式。 3、マイクロコンピュータシステムに用いられ、一部の
領域はクリアすることができないRAMの動作正常性を
診断する方式において、 クリア可能なアドレス範囲はアドレスのあるビットが1
、クリアすることができないアドレス範囲は該ビット(
2ビット)が0としておき、該ビットが1のクリア可能
なアドレス範囲の記憶領域を特定パターンのデータでク
リアした後、1アドレスの記憶領域にだけ前記特定パタ
ーンとは異なるパターンのデータを書込み、書込んだア
ドレス以外のアドレスを読出してその記憶領域のデータ
が変化したか否かをチェックし、 この書込み、読出しをRAMのクリア可能なアドレス範
囲の各アドレスにつき行なって、アドレスデート回路の
正常、異常を診断することを特徴とするRAM初期診断
方式。
[Claims] 1. RAM used in microcomputer system
In the method of diagnosing the normal operation of the RAM (23
) storage area for all addresses (231, 232,...)
After clearing with a specific pattern of data, write data in a pattern different from the specific pattern to only one address storage area, read an address other than the written address, and check whether the data in that storage area has changed. This RAM initial diagnosis method is characterized by checking whether the address date circuit is normal or abnormal by checking the writing and reading for each address of the RAM. 2. Writing and reading are performed for each address in which only one arbitrary bit of an address consisting of a plurality of bits is 1 and the remaining bits are 0.
AM initial diagnosis method. 3. In a method for diagnosing the normal operation of RAM, which is used in microcomputer systems and some areas cannot be cleared, the address range that can be cleared is when a certain bit of the address is 1.
, the address range that cannot be cleared is the corresponding bit (
2 bit) is set to 0, and after clearing a storage area in a clearable address range where the bit is 1 with data of a specific pattern, writing data of a pattern different from the specific pattern only to the storage area of 1 address, Read addresses other than the written address to check whether the data in that storage area has changed, and perform this writing and reading for each address in the RAM clearable address range to check whether the address date circuit is normal or not. A RAM initial diagnosis method characterized by diagnosing abnormalities.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05324493A (en) * 1992-05-20 1993-12-07 Nec Corp Memory diagnostic method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56153594A (en) * 1980-04-28 1981-11-27 Fujitsu Ltd Test method for storage device
JPS5814399A (en) * 1981-07-17 1983-01-27 Yamatake Honeywell Co Ltd Failure diagnosis method for address buffer for memory
JPS6488855A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Toshiba Corp Method for checking on-line ram

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56153594A (en) * 1980-04-28 1981-11-27 Fujitsu Ltd Test method for storage device
JPS5814399A (en) * 1981-07-17 1983-01-27 Yamatake Honeywell Co Ltd Failure diagnosis method for address buffer for memory
JPS6488855A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Toshiba Corp Method for checking on-line ram

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05324493A (en) * 1992-05-20 1993-12-07 Nec Corp Memory diagnostic method

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