JPH03175314A - 座標計測方法及び座標計測装置 - Google Patents
座標計測方法及び座標計測装置Info
- Publication number
- JPH03175314A JPH03175314A JP31351489A JP31351489A JPH03175314A JP H03175314 A JPH03175314 A JP H03175314A JP 31351489 A JP31351489 A JP 31351489A JP 31351489 A JP31351489 A JP 31351489A JP H03175314 A JPH03175314 A JP H03175314A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distance
- point
- angle
- coordinate values
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 10
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、測距測角儀を用いて測点の座標値を求める座
標計測方法及びその方法の実施に使用する座標計測装置
に関する。
標計測方法及びその方法の実施に使用する座標計測装置
に関する。
（従来の技術）
従来、測点Ｐ３の座標値は、次のようにして求められる
。第６図に示すように、測量基準点ＰＧ上に水平出しを
して測距測角儀ａを設置し、測点Ｐ３上に例えば反射鏡
す一個を取付けたポールＣを鉛直にして配置する。この
ポールＣには気泡管ｄが取付けられており、この気泡管
ｄを見て作業者はポールＣを鉛直状態に保持する。この
状態で測距測角儀ａから送信光を出射し、反射鏡すでの
受信信号と基準信号との位相差から測量基準点Ｐｏから
測点Ｐ３までの距離Ｓを測距測角儀ａで求める。次にこ
の測距測角儀でＮ、 Ｓ方向をＸ軸、Ｙ軸にするか、仮
想座標系を設けてその軸を基準とするか又は測点の基準
点の座標系に合わせて反射鏡すの水平角及び天頂角θ２
を求める。そして前記距離Ｓと水平角及び天頂角θ２と
から反射鏡の座標値を求め、その高さｐｈを減算して測
点Ｐ３の座標値を算出する。
。第６図に示すように、測量基準点ＰＧ上に水平出しを
して測距測角儀ａを設置し、測点Ｐ３上に例えば反射鏡
す一個を取付けたポールＣを鉛直にして配置する。この
ポールＣには気泡管ｄが取付けられており、この気泡管
ｄを見て作業者はポールＣを鉛直状態に保持する。この
状態で測距測角儀ａから送信光を出射し、反射鏡すでの
受信信号と基準信号との位相差から測量基準点Ｐｏから
測点Ｐ３までの距離Ｓを測距測角儀ａで求める。次にこ
の測距測角儀でＮ、 Ｓ方向をＸ軸、Ｙ軸にするか、仮
想座標系を設けてその軸を基準とするか又は測点の基準
点の座標系に合わせて反射鏡すの水平角及び天頂角θ２
を求める。そして前記距離Ｓと水平角及び天頂角θ２と
から反射鏡の座標値を求め、その高さｐｈを減算して測
点Ｐ３の座標値を算出する。
第７図は、測点の座標を求める従来の測量（計測）方法
のフロー図を示す。
のフロー図を示す。
該フロー図から明らかなように、測量の前に機械高さＭ
ｈ及び反射鏡すの高さｐｈを測距測角儀を含む測量装置
に入力する。この機械高さＭｈは測量（計測）基準点Ｐ
ｏを移動する都度入力し、反射鏡すの高さｐｈは測点Ｐ
３が変る都度入力する。
ｈ及び反射鏡すの高さｐｈを測距測角儀を含む測量装置
に入力する。この機械高さＭｈは測量（計測）基準点Ｐ
ｏを移動する都度入力し、反射鏡すの高さｐｈは測点Ｐ
３が変る都度入力する。
（発明が解決しようとする課題）
上述した従来の座標計測方法によれば、測量に先立って
、ポールＣをｉｌ１点Ｐ３に鉛直に立てねばならず、ポ
ールＣの代りに３脚を用いるときはその上の整準台の水
平出しを行なわなければならない。また、測点Ｐ３が変
る都度、反射鏡すの高さを測量装置に人力しなければな
らない。
、ポールＣをｉｌ１点Ｐ３に鉛直に立てねばならず、ポ
ールＣの代りに３脚を用いるときはその上の整準台の水
平出しを行なわなければならない。また、測点Ｐ３が変
る都度、反射鏡すの高さを測量装置に人力しなければな
らない。
本発明は、従来のこのような課題を解決することをその
目的とするものである。
目的とするものである。
（課題を解決するための手段）
上記の目的を達成するために、本願の第１発明は、測距
測角儀から測点に設置した反射鏡に光を出射し、その受
信信号と基準信号との位相差から該測距測角儀から該反
射鏡までの距離を求め、該距離と前記測距測角儀で求め
た前記反射鏡の水平角及び天頂角とから測点の座標を算
出する測量計測方法において、測点を通る直線上にあり
且つ測点から所定距離離れた２つの位置に反射鏡を設置
し、該２つの位置のそれぞれの座標値を求め、該２つの
位置の座標値から測点の座標値を算出することを特徴と
する。
測角儀から測点に設置した反射鏡に光を出射し、その受
信信号と基準信号との位相差から該測距測角儀から該反
射鏡までの距離を求め、該距離と前記測距測角儀で求め
た前記反射鏡の水平角及び天頂角とから測点の座標を算
出する測量計測方法において、測点を通る直線上にあり
且つ測点から所定距離離れた２つの位置に反射鏡を設置
し、該２つの位置のそれぞれの座標値を求め、該２つの
位置の座標値から測点の座標値を算出することを特徴と
する。
第２発明は、反射鏡に光を出射し、その受信信号と基準
信号との位相差から該反射光までの距離を求めるととも
に、該反射鏡の水平角及び天頂角を求める測距測角儀と
、前記距離と水平角及び天頂角とから測点を通る直線上
にあり且つ測点から所定距離離れた２つの反射鏡位置の
座標値を算出する第１の手段と、該２つの反射鏡位置の
座標値から測点の座標値を算出する第２の手段とから成
ることを特徴とする。
信号との位相差から該反射光までの距離を求めるととも
に、該反射鏡の水平角及び天頂角を求める測距測角儀と
、前記距離と水平角及び天頂角とから測点を通る直線上
にあり且つ測点から所定距離離れた２つの反射鏡位置の
座標値を算出する第１の手段と、該２つの反射鏡位置の
座標値から測点の座標値を算出する第２の手段とから成
ることを特徴とする。
（作 用）
測距測角儀により、測点を通る直線状にあり且つ測点か
ら所定距離離れた２つの反射鏡位置の測量（計測）基準
点からの距離と反射鏡の水平角及び天頂角を求め、それ
らから２つの反射鏡位置の座標ｐ、 （Ｘ１％ ’ｈ％
Ｚｌ） ｓ Ｐ２ （Ｘ２％ Ｖ２％Ｚ２）を求める
。この２つの反射鏡位置間距離ｋ。
ら所定距離離れた２つの反射鏡位置の測量（計測）基準
点からの距離と反射鏡の水平角及び天頂角を求め、それ
らから２つの反射鏡位置の座標ｐ、 （Ｘ１％ ’ｈ％
Ｚｌ） ｓ Ｐ２ （Ｘ２％ Ｖ２％Ｚ２）を求める
。この２つの反射鏡位置間距離ｋ。
（定数）と、測点と反射鏡位置（ｘ２、ｙ１、Ｚｚ）開
路Ｍｋｚ（定数）が予め設定されているので、測点Ｐ３
の座標（×３、ｙ３、Ｚ３）は次式から求まる。
路Ｍｋｚ（定数）が予め設定されているので、測点Ｐ３
の座標（×３、ｙ３、Ｚ３）は次式から求まる。
（実施例１）
以下本発明の実施例を図面につき説明する。
第１図は、本発明方法の説明図である。
同図において、１は測量（計測）基準点Ｐ。
（座標ＸＯ％ ＶｏＳＺｏ）に水平出しが行なわれて配
置された本発明座標計測装置の測距測角儀、２は測点Ｐ
３に任意角度で立てたポールである。
置された本発明座標計測装置の測距測角儀、２は測点Ｐ
３に任意角度で立てたポールである。
ポール２には測点Ｐ３側の一端から距離に２（定数）離
れた位置Ｐ２に反射プリズム４が螺着され、その位置か
ら距Ｍｋ＋（定数）離れた位置ＰＬに反射プリズム３が
螺着されている。このときの反射プリズム３．４の仮想
反射面はポール２の軸線上にあり、前記位置Ｐ１及びＰ
２に対応する軸線上の２点の座標値がそれぞれＰ＋（Ｘ
＋、ｙ１、Ｚｌ）Ｐ２（Ｘ２、ｙ１、ｚ２）テあるもの
とする。
れた位置Ｐ２に反射プリズム４が螺着され、その位置か
ら距Ｍｋ＋（定数）離れた位置ＰＬに反射プリズム３が
螺着されている。このときの反射プリズム３．４の仮想
反射面はポール２の軸線上にあり、前記位置Ｐ１及びＰ
２に対応する軸線上の２点の座標値がそれぞれＰ＋（Ｘ
＋、ｙ１、Ｚｌ）Ｐ２（Ｘ２、ｙ１、ｚ２）テあるもの
とする。
本発明計測装置の測距測角儀１は、前記反射プリズム３
．４に向けて光を出射し、その受信信号と基準信号との
位相差から反射プリズム３．４までの距離Ｓ１、Ｓ２を
求め、また反射プリズム３．４の水平角及び天頂角θＺ
いθＺ２を求めるもので、その測定方法は周知のもので
ある〇二〇測距測角儀を用いた本発明座標計測装置は、
第２図に示すように、距離測定部５と水平角測定部６と
天頂角測定部７と演算処理部８と表示部９とキーボード
２０と外部データ出力部２１とから成る。
．４に向けて光を出射し、その受信信号と基準信号との
位相差から反射プリズム３．４までの距離Ｓ１、Ｓ２を
求め、また反射プリズム３．４の水平角及び天頂角θＺ
いθＺ２を求めるもので、その測定方法は周知のもので
ある〇二〇測距測角儀を用いた本発明座標計測装置は、
第２図に示すように、距離測定部５と水平角測定部６と
天頂角測定部７と演算処理部８と表示部９とキーボード
２０と外部データ出力部２１とから成る。
第２図示の計測装置を用いた本発明座標計測方法を第３
図示のフロー図により説明すると、先ず、前記定数値に
１、ｋ２を装置に入力し、（ステップ■）装置の機械高
さＭｈを入力する（ステップ■）。次いで、距離測定部
５、水平角測定部６及び天頂角測定部７で位置ＰＩまで
の距離Ｓ１と位置Ｐ１の水平角θＨ４及び天頂角θＺ１
、位置Ｐ２までの距離Ｓ２と位置Ｐ２の水平角θ■２及
び天頂角θＺ２を順次測定する（ステップ■及び■）。
図示のフロー図により説明すると、先ず、前記定数値に
１、ｋ２を装置に入力し、（ステップ■）装置の機械高
さＭｈを入力する（ステップ■）。次いで、距離測定部
５、水平角測定部６及び天頂角測定部７で位置ＰＩまで
の距離Ｓ１と位置Ｐ１の水平角θＨ４及び天頂角θＺ１
、位置Ｐ２までの距離Ｓ２と位置Ｐ２の水平角θ■２及
び天頂角θＺ２を順次測定する（ステップ■及び■）。
次に演算処理部８で、測定した位置Ｐ１の距離Ｓ１とそ
の水平角θＨ４及び天頂角θｚ１、位置Ｐ２（Ｘ２、ｙ
２、Ｚｚ）の距離Ｓ２とその水平角θＨ２及び天頂角θ
Ｚ２をそれぞれ次式に代入して位置ＰＩの座標（Ｘ１、
Ｖ＋、Ｚ＋）及び位置Ｐ２の座標（Ｘ２、ｙ２、Ｚｚ）
を求める。
の水平角θＨ４及び天頂角θｚ１、位置Ｐ２（Ｘ２、ｙ
２、Ｚｚ）の距離Ｓ２とその水平角θＨ２及び天頂角θ
Ｚ２をそれぞれ次式に代入して位置ＰＩの座標（Ｘ１、
Ｖ＋、Ｚ＋）及び位置Ｐ２の座標（Ｘ２、ｙ２、Ｚｚ）
を求める。
但し、ｘＳｙ、ｚは位置Ｐ１又はＰ２のＸ軸座標値×１
又は×２、ｙ軸座標値ｙ１又はｙ２．２軸座標値Ｚ、又
はＺｚ Ｓは位置Ｐ１又はＰ２までの距離Ｓ１又はＳ２θ２は位
置Ｐ１又はＰ２の天頂角θＺ１又はθｚ２θＨは位置Ｐ
１又はＰ２の水平角θ■、又はθ■２Ｍｈは機械高さ ｘｏ、ｙｏ、ｚｏは任意の座標系の原点法に位置Ｐ１及
びＰ２の座標値を前記（１）式に代入して測点Ｐ３の座
標（×３、ｙ３、Ｚ３）を求める（ステップ■）。
又は×２、ｙ軸座標値ｙ１又はｙ２．２軸座標値Ｚ、又
はＺｚ Ｓは位置Ｐ１又はＰ２までの距離Ｓ１又はＳ２θ２は位
置Ｐ１又はＰ２の天頂角θＺ１又はθｚ２θＨは位置Ｐ
１又はＰ２の水平角θ■、又はθ■２Ｍｈは機械高さ ｘｏ、ｙｏ、ｚｏは任意の座標系の原点法に位置Ｐ１及
びＰ２の座標値を前記（１）式に代入して測点Ｐ３の座
標（×３、ｙ３、Ｚ３）を求める（ステップ■）。
前記演算処理部８はＣＰＵから成り、メモリ（図示しな
い）を備え、このメモリには前記（１）（２）式が格納
されており、また入力した前記任意の系にとった座標系
の原点の座標値（Ｘ（ＩＳＶｏ、Ｚｏ）（又は（ｘｏ
ｓ Ｖｏ ＳＺ６ ）を測量（計測）基準点Ｐｏにとっ
てもよい。）、距離値に１、ｋ２及び機械高さＭｈか格
納されている。
い）を備え、このメモリには前記（１）（２）式が格納
されており、また入力した前記任意の系にとった座標系
の原点の座標値（Ｘ（ＩＳＶｏ、Ｚｏ）（又は（ｘｏ
ｓ Ｖｏ ＳＺ６ ）を測量（計測）基準点Ｐｏにとっ
てもよい。）、距離値に１、ｋ２及び機械高さＭｈか格
納されている。
求められた測点Ｐ３の座標値は表示部９に表示すると共
に外部データとして出力し、データコレクタ（図示しな
い）に格納する（ステップ■）。測点Ｐ３を変更したと
き（ステップ■）は再びステップ■に戻り、再び測点Ｐ
３の座標値を求める。測量（計測）基準点Ｐｏを移動し
たとき（ステップ■）はステップ■に戻って再び測点Ｐ
３の座標値を求める。
に外部データとして出力し、データコレクタ（図示しな
い）に格納する（ステップ■）。測点Ｐ３を変更したと
き（ステップ■）は再びステップ■に戻り、再び測点Ｐ
３の座標値を求める。測量（計測）基準点Ｐｏを移動し
たとき（ステップ■）はステップ■に戻って再び測点Ｐ
３の座標値を求める。
（実施例２）
第４図は本計測方法に使用する反射鏡装置の他の例を示
す。
す。
第１図では反射鏡としてコーナープリズムを使用したが
、この例ではシートプリズム３Ａ、 ４Ａを使用する。
、この例ではシートプリズム３Ａ、 ４Ａを使用する。
このシートシブリズム３Ａ、 ４Ａは、例えば、表面に
直交３面から成る形成面が連続して形成され、その形成
面に反射膜層が形成されたもの、あるいは、表面に反射
膜層が形成され、その上にガラスピーズを分散し一体化
したものである。
直交３面から成る形成面が連続して形成され、その形成
面に反射膜層が形成されたもの、あるいは、表面に反射
膜層が形成され、その上にガラスピーズを分散し一体化
したものである。
このシートプリズム３Ａ、 ４Ａはそれぞれプレート１
Ｏ１１１に貼着され、プレートｌＯ及び１１はそれぞれ
枠体１２に支承された水平支軸１３及び１４により支え
られて回動し、その傾斜を調整できるようになっている
。枠体１２の下方には石突き１５を有するポール１６が
取付けられている。
Ｏ１１１に貼着され、プレートｌＯ及び１１はそれぞれ
枠体１２に支承された水平支軸１３及び１４により支え
られて回動し、その傾斜を調整できるようになっている
。枠体１２の下方には石突き１５を有するポール１６が
取付けられている。
（実施例３）
前記実施例では、反射プリズム３及び４、シートプリズ
ム３Ａ及び４Ａはいずれも測点Ｐ３の上方に配設したが
、例えば第５図示のように橋桁１７に測点Ｐ３がある場
合、測点Ｐ３を通る直線上にあって且つ測点Ｐ３から上
方及び下方に所定距離離れた位置に取付部材１８及びポ
ール２を介してそれぞれ反射プリズム３及び４又はシー
トプリズム３Ａ、 ４Ａを配設してもよい。この場合前
者が内分点の計測点計測であるのに対し、外分点の計測
点計測となり、式は第（１）式で表わされる。
ム３Ａ及び４Ａはいずれも測点Ｐ３の上方に配設したが
、例えば第５図示のように橋桁１７に測点Ｐ３がある場
合、測点Ｐ３を通る直線上にあって且つ測点Ｐ３から上
方及び下方に所定距離離れた位置に取付部材１８及びポ
ール２を介してそれぞれ反射プリズム３及び４又はシー
トプリズム３Ａ、 ４Ａを配設してもよい。この場合前
者が内分点の計測点計測であるのに対し、外分点の計測
点計測となり、式は第（１）式で表わされる。
計算してもよい。
尚、本発明は、上記実施例では天頂角を求めて座標値を
計算したが高度角を求めて座標値を計算してもよい。
計算したが高度角を求めて座標値を計算してもよい。
（発明の効果）
本発明は、上述の通りの構成を有するから次のような効
果がある。反射鏡を設けたポールを測点に鉛直に立てる
必要がなく、ポールの代りに３脚を用いたときは整準台
の水平出しを行なう必要がなく、また測点が変る都度、
反射鏡の高さを求めてこれを測点の座標の計算に用いる
必要がないので、測量作業が容易であり、急勾配、壁際
等従来のものでは計測しにくい場所においても測点の座
標値を容易に求めることができる。
果がある。反射鏡を設けたポールを測点に鉛直に立てる
必要がなく、ポールの代りに３脚を用いたときは整準台
の水平出しを行なう必要がなく、また測点が変る都度、
反射鏡の高さを求めてこれを測点の座標の計算に用いる
必要がないので、測量作業が容易であり、急勾配、壁際
等従来のものでは計測しにくい場所においても測点の座
標値を容易に求めることができる。
第１図は本発明方法の一実施例の説明図、第２図は本発
明座標計測装置のブロック図、第３図は本発明方法の流
れ図、第４図及び第５図は反射鏡装置の他の例の斜面図
及び正面図、第６図は従来の座標計測方法の説明図、第
７図はそのフロー図である。 １・・・測距測角儀 ２・・・ポール３．４・・
・反射プリズム ５・・・距離測定部 ７・・・天頂角測定部 ３Ａ、 ４Ａ・・・シートプリズム ６・・・水平角測定部 ８・・・演算処理部 外３名 第１図 一〇 （４（４Ａ） 手 続 補 正 書
明座標計測装置のブロック図、第３図は本発明方法の流
れ図、第４図及び第５図は反射鏡装置の他の例の斜面図
及び正面図、第６図は従来の座標計測方法の説明図、第
７図はそのフロー図である。 １・・・測距測角儀 ２・・・ポール３．４・・
・反射プリズム ５・・・距離測定部 ７・・・天頂角測定部 ３Ａ、 ４Ａ・・・シートプリズム ６・・・水平角測定部 ８・・・演算処理部 外３名 第１図 一〇 （４（４Ａ） 手 続 補 正 書
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、測距測角儀から測点に設置した反射鏡に送信光を出
射し、その受信信号と基準信号との位相差から該測距測
角儀から該反射鏡までの距離を求め、該距離と前記測距
測角儀で求めた前記反射鏡の水平角及び天頂角とから測
点の座標を算出する座標計測方法において、測点を通る
直線上にあり且つ測点から所定距離離れた２つの位置に
反射鏡を設置し、該２つの位置のそれぞれの座標値を求
め、該２つの位置の座標値から測点の座標値を算出する
ことを特徴とする座標計測方法。 ２、反射鏡に送信光を出射し、その受信信号と基準信号
との位相差から該反射光までの距離を求めるとともに、
該反射鏡の水平角及び天頂角を求める測距測角儀と、前
記距離と水平角及び天頂角とから測点を通る直線上にあ
り且つ測点から所定距離離れた２つの反射鏡位置の座標
値を算出する第１の手段と、該２つの反射鏡位置の座標
値から測点の座標値を算出する第２の手段とから成るこ
とを特徴とする座標計測装置。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1313514A JP3010362B2 (ja) | 1989-12-04 | 1989-12-04 | 座標計測方法及び座標計測装置 |
| US07/618,856 US5204731A (en) | 1989-12-04 | 1990-11-28 | Method and apparatus for measuring the coordinates of a surveyed point |
| AU67057/90A AU629070C (en) | 1989-12-04 | 1990-11-29 | Method and apparatus for measuring the coordinates of a surveyed point |
| CN90109626.1A CN1031596C (zh) | 1989-12-04 | 1990-12-03 | 测量被勘测点坐标的方法和装置 |
| DE4038521A DE4038521C2 (de) | 1989-12-04 | 1990-12-03 | Vorrichtung zum Messen der Koordinaten eines Vermessungspunktes |
| FR9015108A FR2655417B1 (fr) | 1989-12-04 | 1990-12-03 | Procede et dispositif de mesure des coordonnees d'un point de leve. |
| GB9026323A GB2238871B (en) | 1989-12-04 | 1990-12-04 | Method and apparatus for determining the coordinates of a survey point relative to a preselected reference point |
| GB9320723A GB2269233B (en) | 1989-12-04 | 1993-10-08 | Reflecting device |
| CN95115282.3A CN1042668C (zh) | 1989-12-04 | 1995-08-15 | 反射镜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1313514A JP3010362B2 (ja) | 1989-12-04 | 1989-12-04 | 座標計測方法及び座標計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03175314A true JPH03175314A (ja) | 1991-07-30 |
| JP3010362B2 JP3010362B2 (ja) | 2000-02-21 |
Family
ID=18042230
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1313514A Expired - Lifetime JP3010362B2 (ja) | 1989-12-04 | 1989-12-04 | 座標計測方法及び座標計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3010362B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0523024U (ja) * | 1991-09-02 | 1993-03-26 | 富士写真光機株式会社 | 位置計測作図装置のターゲツト構造 |
| JPH05118851A (ja) * | 1991-10-23 | 1993-05-14 | Kajima Corp | 傾斜変動の計測方法 |
| JPH07117983A (ja) * | 1993-10-22 | 1995-05-09 | Kajima Corp | ケーブルクレーン制御装置 |
| JP2012237721A (ja) * | 2011-05-13 | 2012-12-06 | Sokkia Topcon Co Ltd | 光波距離計 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6093308A (ja) * | 1983-10-27 | 1985-05-25 | Tokyu Constr Co Ltd | 測量自動化システム |
| JPS62182413U (ja) * | 1986-05-13 | 1987-11-19 |
-
1989
- 1989-12-04 JP JP1313514A patent/JP3010362B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6093308A (ja) * | 1983-10-27 | 1985-05-25 | Tokyu Constr Co Ltd | 測量自動化システム |
| JPS62182413U (ja) * | 1986-05-13 | 1987-11-19 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0523024U (ja) * | 1991-09-02 | 1993-03-26 | 富士写真光機株式会社 | 位置計測作図装置のターゲツト構造 |
| JPH05118851A (ja) * | 1991-10-23 | 1993-05-14 | Kajima Corp | 傾斜変動の計測方法 |
| JPH07117983A (ja) * | 1993-10-22 | 1995-05-09 | Kajima Corp | ケーブルクレーン制御装置 |
| JP2012237721A (ja) * | 2011-05-13 | 2012-12-06 | Sokkia Topcon Co Ltd | 光波距離計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3010362B2 (ja) | 2000-02-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7319511B2 (en) | Surveying instrument and electronic storage medium | |
| US5182863A (en) | Automatic plumb and level tool with acoustic measuring capability | |
| US3897637A (en) | Laser level and square | |
| GB2238871A (en) | Determining the coordinates of a survey point | |
| JP2846950B2 (ja) | 測定点の位置を形成又は画成するための装置 | |
| KR20060031685A (ko) | 이미지 프로젝터, 경사각 검출방법, 및 투사 이미지정정방법 | |
| US3762820A (en) | Self levelling laser reference plane | |
| JP3300998B2 (ja) | 三次元座標測定装置 | |
| JPH03175314A (ja) | 座標計測方法及び座標計測装置 | |
| JP2640766B2 (ja) | レーザ変位計による２次元計測における相対角度の検出方法と装置 | |
| US4738532A (en) | Method of calibrating an optical measuring system | |
| JPH0755938A (ja) | ２点間距離測定装置及び２点間距離測定方法 | |
| CN111551115A (zh) | 测量视线受阻构件定位坐标的方法 | |
| JP2508829Y2 (ja) | 座標読取用反射鏡装置 | |
| JPH03167404A (ja) | 大型対象物の寸法計測方法 | |
| JPH04198809A (ja) | 機械高測定装置 | |
| JP2001174261A (ja) | 反射プリズム等を利用する入隅等の測定装置 | |
| JP3705863B2 (ja) | 高さ測定装置及び高さ測定方法 | |
| JP3314363B2 (ja) | 三次元座標測定方法 | |
| JPH0628622U (ja) | 遠方物位置距離計測装置 | |
| JP2689266B2 (ja) | 三次元位置測量装置 | |
| JPS6126813A (ja) | ずれ測定装置とずれおよび距離の測定装置 | |
| JP3225719B2 (ja) | 山腹変位測定装置 | |
| JPH0372209A (ja) | レール変位計測装置 | |
| JP2688955B2 (ja) | レーザを用いた測量方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071210 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081210 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091210 Year of fee payment: 10 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |