JPH0317508Y2 - - Google Patents

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JPH0317508Y2
JPH0317508Y2 JP1985061340U JP6134085U JPH0317508Y2 JP H0317508 Y2 JPH0317508 Y2 JP H0317508Y2 JP 1985061340 U JP1985061340 U JP 1985061340U JP 6134085 U JP6134085 U JP 6134085U JP H0317508 Y2 JPH0317508 Y2 JP H0317508Y2
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image sensor
circuit
scan pulse
level
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は被検出体を光学的に検出するCCDイ
メ−ジセンサの過入光検知装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention relates to an incident light detection device for a CCD image sensor that optically detects an object to be detected.

〔従来技術〕[Prior art]

この種のCCDイメ−ジセンサは、自動化ライ
ン等で被検出体の幅寸法等を光学的に検出するも
のであるが、過入光状態になるとブル−ミングを
起こしてビデオ信号が滲んだようになり、従つ
て、正確なビデオ信号が得られなくなつて被検出
体の幅寸法等の判断が不正確になる問題がある。
This type of CCD image sensor optically detects the width and other dimensions of objects to be detected on automated lines, etc., but when too much light enters the sensor, blooming occurs, causing the video signal to blur. Therefore, there is a problem that accurate video signals cannot be obtained and judgments of the width dimension of the object to be detected, etc. become inaccurate.

このため、従来では、オシロスコ−プでビデオ
信号を観測して波形に滲みがあるか否かによりブ
ル−ミングを起こしているか否かを判断するよう
にしているが、これではオシロスコ−プが必要に
なつて費用が嵩む不具合がある。
For this reason, conventionally, the video signal is observed with an oscilloscope and it is determined whether or not blooming is occurring based on whether there is blurring in the waveform, but this method requires an oscilloscope. There is a problem that increases costs over time.

〔考案の目的〕[Purpose of invention]

本考案は上記事情に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、オシロスコ−プを用いなくてもブル−
ミングを起こしているか否かを判定することがで
き、安価に製作し得るCCDイメ−ジセンサの過
入光検知装置を提供するためにある。
The present invention was developed in view of the above circumstances, and its purpose is to provide blue light without using an oscilloscope.
The object of the present invention is to provide a device for detecting excessive light incident on a CCD image sensor, which can determine whether or not image processing is occurring and can be manufactured at low cost.

〔考案の要約〕[Summary of the idea]

本考案は、CCDイメ−ジセンサからのビデオ
信号若しくはこれに基づくスライスビデオ信号を
スキヤンパルスの立下りに基づいてラツチするラ
ツチ回路を設け、このラツチ回路の出力信号の状
態を判定する判定手段を設ける構成に特徴を有す
る。
The present invention provides a latch circuit that latches a video signal from a CCD image sensor or a slice video signal based on the same based on the falling edge of a scan pulse, and includes a determining means for determining the state of the output signal of this latch circuit. It is characterized by its composition.

〔実施例〕〔Example〕

以下本考案の一実施例につき図面を参照しなが
ら説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

先ず、第2図に従つてCCDイメ−ジセンサの
概略的構成について述べる。1はイメ−ジセンサ
カメラであり、これは、通常のカメラと同様にし
ぼり調節機構及び光学レンズを備えているととも
に、一直線上に配設された多数個例えば2048個
(2048ビツト)の受光素子たるフオトダイオ−ド
を備え、更にCCDを備えている。そして、この
イメ−ジセンサカメラ1は被検出体の後方に配設
された光源3からの検出光をしぼり調節機構及び
光学レンズを経て2048ビツトのフオトダイオ−ド
に受光させるようになつており、これらのフオト
ダイオードからの受光信号はCCDに同時に移さ
れてCCDの電荷転送機構によりクロツクパルス
に基づきビデオ信号VS(第3図c及びe参照)と
して出力されるようになつている。
First, the general structure of the CCD image sensor will be described with reference to FIG. 1 is an image sensor camera, which is equipped with an aperture adjustment mechanism and an optical lens like a normal camera, and also has a large number of light receiving elements, for example 2048 (2048 bits), arranged in a straight line. It is equipped with a photodiode and also a CCD. The image sensor camera 1 is designed to receive the detection light from a light source 3 placed behind the object to be detected by a 2048-bit photodiode through an adjustment mechanism and an optical lens. The light reception signals from the photodiodes are simultaneously transferred to the CCD and output as a video signal VS (see FIGS. 3c and e) based on clock pulses by the charge transfer mechanism of the CCD.

さて、第1図に従つて過入光検知装置の電気回
路の構成について述べる。4は前記CCDからの
ビデオ信号VSが与えられる第1の入力端子であ
り、これは二値化回路5の入力端子に接続されて
おり、該二値化回路5の出力端子はラツチ回路た
るD形のフリツプフロツプ回路6のデ−タ入力端
子Dに接続されている。7は後述するスキヤンパ
ルスSP(第3図a参照)が与えられる第2の入力
端子であり、これは遅延回路8及びインバ−タ回
路9を介してフリツプフロツプ回路6のクロツク
入力端子CKに接続されている。この場合、スキ
ヤンパルスSPは2048ビツトのフオトダイオ−ド
に対応してCCDに与えられる2048個のクロツク
パルス分の幅を有するものであり、例えばこのス
キヤンパルスSPとのアンド条件により上記クロ
ツクパルスをカウンタによりカウントさせれば、
そのカウント値はフオトダイオ−ドの1から2048
までのビツト番号を示すことになる。10は判定
手段たる発光ダイオ−ドであり、そのアノ−ドは
抵抗11を介して正電位+Vccの直流電源ランイ
12に接続され、カソ−ドはインバ−タ回路13
の出力端子に接続されている。そして、インバ−
タ回路13の入力端子は前記フリツプフロツプ回
路6のセツト出力端子Qに接続されている。
Now, according to FIG. 1, the configuration of the electric circuit of the incident light detection device will be described. 4 is a first input terminal to which the video signal VS from the CCD is applied, which is connected to the input terminal of a binarization circuit 5, and the output terminal of the binarization circuit 5 is a latch circuit D. It is connected to a data input terminal D of a flip-flop circuit 6 of the form. Reference numeral 7 designates a second input terminal to which a scan pulse SP (see FIG. 3a) to be described later is applied, and this is connected to the clock input terminal CK of the flip-flop circuit 6 via a delay circuit 8 and an inverter circuit 9. ing. In this case, the scan pulse SP has a width equivalent to 2048 clock pulses given to the CCD in correspondence with a 2048-bit photodiode, and for example, the clock pulses can be counted by a counter based on an AND condition with the scan pulse SP. If you let me,
The count value is from 1 to 2048 of the photodiode.
It will show the bit number up to. Reference numeral 10 denotes a light emitting diode serving as a determination means, its anode is connected to a DC power supply line 12 at a positive potential +Vcc via a resistor 11, and its cathode is connected to an inverter circuit 13.
is connected to the output terminal of And invar
The input terminal of the flip-flop circuit 13 is connected to the set output terminal Q of the flip-flop circuit 6.

次に、本実施例の作用につき第3図をも参照し
ながら説明する。
Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to FIG. 3.

先ず、CCDイメ−ジセンサがブル−ミングを
起こしていない正常の場合につき述べる。今、ス
キヤンパルスSPが第3図aで示すようにロウレ
ベルからハイレベルに立上ると、ビデオ信号VS
も第3図cで示すように暗レベル(ロウレベル)
から明レベル(ハイレベル)に立上がるようにな
る。そして、上記スキヤンパルスSPは遅延回路
8に与えられるので、スキヤンパルスSPはこの
遅延回路8により所定時間Tだけ遅延されてその
遅延回路8から第3図bで示すように遅延スキヤ
ンパルスSP′として出力される。又、そのビデオ
信号VSは二値化回路5に与えられるので、その
ビデオ信号VSはスライスレベルSLと比較されて
該二値化回路5から第3図dで示すようにスライ
スビデオ信号SLVとして出力される。その後、
スキヤンパルスSPがハイレベルからロウレベル
に立下ると、本来ならばビデオ信号VSも明レベ
ルから暗レベルに立下るようになるものである
が、一般的には、ビデオ信号VSは波形に鈍化所
謂鈍りが生ずること及びイメ−ジセンサには数ビ
ツト若しくは数十ビツトのダミ−ビツトがあるこ
と等により、立下りに遅延が生ずるようになり、
これに応じてスライスビデオ信号SLVがハイレ
ベルからロウレベルに立下る立下りにも遅延が生
ずる。この場合、遅延回路8の遅延時間Tは正常
な場合のスライスビデオ信号SLVの立下りの遅
延時間よりも若干大となるように設定されてい
る。従つて、遅延回路8からの遅延スキヤンパル
スSP′がハイレベルからロウレベルに立下つてイ
ンバ−タ回路9の出力信号がロウレベルからハイ
レベルに立上つた時にはフリツプフロツプ回路6
のデ−タ入力端子Dに与えられるスライスビデオ
信号SLVはロウレベルであり、フリツプフロツ
プ回路6のセツト出力端子Qのセツト出力信号は
ロウレベルとなる。これにより、インバ−タ回路
13の出力信号はハイレベルとなり、発光ダイオ
−ド10には電流が流れず該発光ダイオ−ド10
は発光しない。尚、以上のようにCCDイメ−ジ
センサがブル−ミングを起こしていない場合に
は、被検出体2を検出している時のビデオ信号
VSは第3図cに示すように明レベルから暗レベ
ルに変化する検出信号VSaとなり、これに応じて
スライスビデオ信号SLVも第3図dに示すよう
にハイレベルからロウレベルに変化する検出信号
SLVaとなるものであり、従つて、この検出信号
SLVaの立下り時と立上り時におけるカウンタの
カウント値を読込めば、検出信号SLVaが何ビツ
トから何ビツトまで存在したかを検出することが
でき、これによつて、被検出体2の幅寸法を演算
することができる。
First, we will discuss a normal case where the CCD image sensor does not cause blooming. Now, when the scan pulse SP rises from the low level to the high level as shown in Figure 3a, the video signal VS
Also, as shown in Figure 3c, the dark level (low level)
The light level starts to rise from the bright level (high level). Since the scan pulse SP is given to the delay circuit 8, the scan pulse SP is delayed by a predetermined time T by the delay circuit 8, and then outputted from the delay circuit 8 as a delayed scan pulse SP' as shown in FIG. 3b. Output. Also, since the video signal VS is given to the binarization circuit 5, the video signal VS is compared with the slice level SL and output from the binarization circuit 5 as a slice video signal SLV as shown in FIG. 3d. be done. after that,
When the scan pulse SP falls from a high level to a low level, the video signal VS would normally also fall from a bright level to a dark level, but in general, the video signal VS has a waveform that becomes dull. This causes a delay in the fall due to the presence of several or tens of dummy bits in the image sensor.
Correspondingly, a delay also occurs when the slice video signal SLV falls from a high level to a low level. In this case, the delay time T of the delay circuit 8 is set to be slightly longer than the fall delay time of the slice video signal SLV in a normal case. Therefore, when the delayed scan pulse SP' from the delay circuit 8 falls from a high level to a low level and the output signal of the inverter circuit 9 rises from a low level to a high level, the flip-flop circuit 6
The slice video signal SLV applied to the data input terminal D of the flip-flop circuit 6 is at a low level, and the set output signal at the set output terminal Q of the flip-flop circuit 6 is at a low level. As a result, the output signal of the inverter circuit 13 becomes high level, and no current flows through the light emitting diode 10.
does not emit light. In addition, if the CCD image sensor does not cause blooming as described above, the video signal when detecting the detected object 2
VS becomes a detection signal VSa that changes from a bright level to a dark level as shown in Figure 3c, and accordingly, the slice video signal SLV also becomes a detection signal that changes from a high level to a low level as shown in Figure 3d.
SLVa, therefore, this detection signal
By reading the count value of the counter at the falling edge and rising edge of SLVa, it is possible to detect from how many bits the detection signal SLVa exists, and by this, the width dimension of the detected object 2 can be detected. can be calculated.

さて、CCDイメ−ジセンサがブル−ミングを
起こしている異常の場合につき述べる。この場合
には、第3図bで示すように遅延スキヤンパルス
SP′がハイレベルからロウレベルに立下つてもビ
デオ信号VSは第3図eで示すように明レベルの
ままとなつて波形が滲むようになり、又、検出信
号VSaも完全には暗レベルまで変化しない鈍化し
た波形となる。従つて、遅延スキヤンパルス
SP′がハイレベルからロウレベルに立下つてイン
バ−タ回路9の出力信号がロウレベルからハイレ
ベルに立上つた時にはフリツプフロツプ回路6の
デ−タ入力端子Dに与えられるスライスビデオ信
号SLVは第3図fで示すようにハイレベルであ
り、フリツプフロツプ回路6のセツト出力端子Q
のセツト出力信号はハイレベルとなる。これによ
り、インバ−タ回路13の出力信号はロウレベル
となり、発光ダイオ−ド10には電流が流れて該
発光ダイオ−ド10は発光し、以て、ブル−ミン
グが起こつていることを表示する。尚、この場合
には、発光ダイオ−ド10が発光を停止するまで
イメ−ジセンサカメラ1のしぼり調節機構を調節
し、過入光状態にならないように操作するもので
ある。
Now, we will discuss an abnormal case where the CCD image sensor is causing blooming. In this case, as shown in Figure 3b, the delayed scan pulse
Even when SP' falls from the high level to the low level, the video signal VS remains at the bright level and the waveform becomes blurred, as shown in Figure 3e, and the detection signal VSa does not completely reach the dark level. The result is a blunted waveform that does not change. Therefore, the delayed scan pulse
When SP' falls from a high level to a low level and the output signal of the inverter circuit 9 rises from a low level to a high level, the slice video signal SLV applied to the data input terminal D of the flip-flop circuit 6 is as shown in FIG. It is at a high level as shown by f, and the set output terminal Q of the flip-flop circuit 6
The set output signal becomes high level. As a result, the output signal of the inverter circuit 13 becomes low level, current flows through the light emitting diode 10, and the light emitting diode 10 emits light, thereby indicating that blooming is occurring. . In this case, the aperture adjustment mechanism of the image sensor camera 1 is adjusted until the light emitting diode 10 stops emitting light to prevent excessive light from entering.

このように本実施例によれば、ビデオ信号VS
に基づくスライスビデオ信号SLVをスキヤンパ
ルスSPに基づく遅延スキヤンパルスSP′の立下り
によつてラツチするフリツプフロツプ回路6を設
け、そのフリツプフロツプ回路6のセツト出力信
号のハイレベル、ロウレベル状態に応じて発光、
発光停止する発光ダイオ−ド10を設けるように
したので、従来とは異なりオシロスコ−プを用い
なくてもCCDイメ−ジセンサがブル−ミングを
起こしているか否かを判定できるものであり、し
かも、簡単な回路構成で実現できるので、安価に
製作することができる。
In this way, according to this embodiment, the video signal VS
A flip-flop circuit 6 is provided which latches the slice video signal SLV based on the scan pulse SP at the falling edge of the delayed scan pulse SP' based on the scan pulse SP.
Since the light emitting diode 10 that stops emitting light is provided, it is possible to determine whether or not the CCD image sensor is blooming without using an oscilloscope, unlike the conventional method. Since it can be realized with a simple circuit configuration, it can be manufactured at low cost.

尚、上記実施例では遅延スキヤンパルスSP′の
立下り時にフリツプフロツプ回路6にスライスビ
デオ信号SLVをラツチさせるようにしたが、代
りに直接ビデオ信号VSをラツチさせるようにし
てもよい。
In the above embodiment, the flip-flop circuit 6 latches the slice video signal SLV at the falling edge of the delayed scan pulse SP', but the video signal VS may be latched directly instead.

その他、本考案は上記し且つ図面に示す実施例
にのみ限定されるものではなく、例えば判定手段
としては発光ダイオ−ドに限らず液晶、エレクト
ロクロミツク素子等を利用した表示器であつても
よい等、要旨を逸脱しない範囲内で適宜変形して
実施し得ることは勿論である。
In addition, the present invention is not limited to the embodiments described above and shown in the drawings; for example, the determining means is not limited to a light emitting diode, but may also be a display device using a liquid crystal, an electrochromic device, etc. Of course, modifications may be made as appropriate without departing from the spirit of the invention.

(考案の効果) 本考案のCCDイメ−ジセンサの過入光検知装
置は以上説明したように、ラツチ回路と判定手段
との組合せによりオシロスコ−プを用いなくても
ブル−ミングが起こつているか否かを判定でき、
安価に製作することができるという実用的効果を
奏するものである。
(Effect of the invention) As explained above, the intrusion detection device for a CCD image sensor of the present invention uses a combination of a latch circuit and a determination means to detect whether blooming is occurring without using an oscilloscope. It can be determined whether
This has the practical effect of being able to be manufactured at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図面は本考案の一実施例を示し、第1図は電気
回路図、第2図はCCDイメ−ジセンサによる検
出状態を示す配置構成図、第3図a乃至fは作用
説明用の信号波形図である。 図面中、1はイメ−ジセンサカメラ、5は二値
化回路、6はフリツプフロツプ回路(ラツチ回
路)、8は遅延回路、10は発光ダイオ−ド(判
定手段)を示す。
The drawings show an embodiment of the present invention, and FIG. 1 is an electric circuit diagram, FIG. 2 is a layout configuration diagram showing the detection state by a CCD image sensor, and FIGS. 3 a to 3 are signal waveform diagrams for explaining the operation. It is. In the drawings, 1 is an image sensor camera, 5 is a binary circuit, 6 is a flip-flop circuit (latch circuit), 8 is a delay circuit, and 10 is a light emitting diode (judgment means).

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] CCDイメ−ジセンサからのビデオ信号若しく
はこれに基づくスライスビデオ信号をスキヤンパ
ルスの立下りに基づいてラツチするラツチ回路
と、このラツチ回路の出力信号の状態を判定する
判定手段とを具備してなるCCDイメ−ジセンサ
の過入光検知装置。
A CCD comprising a latch circuit that latches a video signal from a CCD image sensor or a slice video signal based on the same based on the falling edge of a scan pulse, and a determination means that determines the state of the output signal of this latch circuit. Image sensor excessive light detection device.
JP1985061340U 1985-04-24 1985-04-24 Expired JPH0317508Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1985061340U JPH0317508Y2 (en) 1985-04-24 1985-04-24

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JPS61179877U JPS61179877U (en) 1986-11-10
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