JPH03162639A - 温度分布測定装置 - Google Patents
温度分布測定装置Info
- Publication number
- JPH03162639A JPH03162639A JP30281089A JP30281089A JPH03162639A JP H03162639 A JPH03162639 A JP H03162639A JP 30281089 A JP30281089 A JP 30281089A JP 30281089 A JP30281089 A JP 30281089A JP H03162639 A JPH03162639 A JP H03162639A
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- light
- temperature
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Links
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Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は極低温の気体や液体の温度分布の測定装置に関
し、特に測定出力線を直接取り出せない場合に好適な温
度分布測定装置に関する。
し、特に測定出力線を直接取り出せない場合に好適な温
度分布測定装置に関する。
［従来の技術］
従来この種の測定法としては、格子状に配置された温度
計の出力を周波数に変換して、無線で外部へ取り出した
り、磁気カップリングを用いて間接的に出力して測定す
ることが行われていた。
計の出力を周波数に変換して、無線で外部へ取り出した
り、磁気カップリングを用いて間接的に出力して測定す
ることが行われていた。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、上記従来の方法においては、用いる装置
の構造が非常に複雑で、空間や重量に制限のある場合に
は使用できないという重大な問題点があった。
の構造が非常に複雑で、空間や重量に制限のある場合に
は使用できないという重大な問題点があった。
本発明は上述した従来の問題点を解決し、簡単な構成で
温度分布を測定できる装置を提供することを目的とする
。
温度分布を測定できる装置を提供することを目的とする
。
［課題を解決するための千段］
本発明は、格子状に配置された複数の発光ダイオードお
よび該複数の発光ダイオードの出力光を受光する受光手
段を具えたことを特徴とする。
よび該複数の発光ダイオードの出力光を受光する受光手
段を具えたことを特徴とする。
［作 用］
本発明においては、格子状に分布する発光ダイオードの
出力あるいは発光の中心波長を温度出力とする。発光ダ
イオードの発光出力あるいは発光の中心波長が温度の関
数となっているので、発光出力あるいは発光の中心波長
を測定することによって、温度分布を測定することがで
きる。本発明に使用できる発光素子としては、可視領域
の発光ダイオードを始めとして、赤外領域の光通信用発
光ダイオードまで幅広く使用できる。
出力あるいは発光の中心波長を温度出力とする。発光ダ
イオードの発光出力あるいは発光の中心波長が温度の関
数となっているので、発光出力あるいは発光の中心波長
を測定することによって、温度分布を測定することがで
きる。本発明に使用できる発光素子としては、可視領域
の発光ダイオードを始めとして、赤外領域の光通信用発
光ダイオードまで幅広く使用できる。
［実施例］
以下に図面を参照して本発明の実施例を説明する。
第１図に本発明の実施例における発光ダイオードの配置
の概要を示す。同図に示すようにフレーム１には絶縁物
２を介して入力端子３が設けられ、フレーム１内に共用
の定電圧人力線４をもつ発光ダイオード５が格子状に配
置されている。各発光ダイオード５には金属抵抗、例え
ば白金抵抗６が直列に接続されている。定電圧電源７が
端子３に接続され、各発光ダイオード５に一定電圧が印
加される。
の概要を示す。同図に示すようにフレーム１には絶縁物
２を介して入力端子３が設けられ、フレーム１内に共用
の定電圧人力線４をもつ発光ダイオード５が格子状に配
置されている。各発光ダイオード５には金属抵抗、例え
ば白金抵抗６が直列に接続されている。定電圧電源７が
端子３に接続され、各発光ダイオード５に一定電圧が印
加される。
発光ダイオードの光出力は次式のように温度の関数とな
っているので、温度が下がるほど出力は大きくなる。
っているので、温度が下がるほど出力は大きくなる。
Ｐ（丁）− Ｐ−ｅｘｐ ［− （Ｔ−ＴＪ／Ｔ０］
（１）ここでＰ （Ｔ）は動作温
度Ｔに置ける発光ダイオードの光出力、Ｐ，はＴ−Ｔ．
における光出力、Ｔ．は特性温度で、ＧａＡＩＡｓ系で
は２９０Ｋである。
（１）ここでＰ （Ｔ）は動作温
度Ｔに置ける発光ダイオードの光出力、Ｐ，はＴ−Ｔ．
における光出力、Ｔ．は特性温度で、ＧａＡＩＡｓ系で
は２９０Ｋである。
さらに直列に接続された抵抗は温度が下がるほど抵抗値
が小さくなるので、発光ダイオードに流れる電流値は温
度が下がるほど大きくなり、発光出力はさらに増大する
。
が小さくなるので、発光ダイオードに流れる電流値は温
度が下がるほど大きくなり、発光出力はさらに増大する
。
第２図に本発明における測定系を模式的に示す。低温環
境に置かれた各発光ダイオード５の発光を例えば石英ガ
ラスからなる透過窓８および撮像用光学系９を介して、
光ファイバ束１０の対応する光ファイバｌ１に入射させ
る。各光ファイバ１１から出射した光は受像用光学系１
２を通過して複数の発光ダイオード５のそれぞれに対応
する複数のフォトダイオードまたはスペクトルアナライ
ザ１３のそれぞれに入射する。
境に置かれた各発光ダイオード５の発光を例えば石英ガ
ラスからなる透過窓８および撮像用光学系９を介して、
光ファイバ束１０の対応する光ファイバｌ１に入射させ
る。各光ファイバ１１から出射した光は受像用光学系１
２を通過して複数の発光ダイオード５のそれぞれに対応
する複数のフォトダイオードまたはスペクトルアナライ
ザ１３のそれぞれに入射する。
このようにして測定されたフォトダイオード１２の出力
と発光ダイオード５の温度の関係を第３図に示す。図示
するように、発光ダイオードの発光出力と温度の関係を
校正しておけば発光出力から温度を測定することができ
る。
と発光ダイオード５の温度の関係を第３図に示す。図示
するように、発光ダイオードの発光出力と温度の関係を
校正しておけば発光出力から温度を測定することができ
る。
また、発光の中心波長は禁制帯の温度特性によってほぼ
決まり、発光波長０６８６μＮのＧａＡＩＡｓ系で約０
．２５ｎｍ／Ｈの正の温度係数を示す。従って、あらか
じめこの中心波長と温度の関係を校正しておき、第２図
に示した測定系において、発光ダイオード５の発光をス
ペクトルアナライザｌ３で受光して、発光スペクトルを
測定することにより中心波長を求め、その値から発光ダ
イオードの温度を測定することができる。
決まり、発光波長０６８６μＮのＧａＡＩＡｓ系で約０
．２５ｎｍ／Ｈの正の温度係数を示す。従って、あらか
じめこの中心波長と温度の関係を校正しておき、第２図
に示した測定系において、発光ダイオード５の発光をス
ペクトルアナライザｌ３で受光して、発光スペクトルを
測定することにより中心波長を求め、その値から発光ダ
イオードの温度を測定することができる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば従来の測定装置に
比較して次のような利点がある。
比較して次のような利点がある。
（１）測定出力線が不用である。
（２）構造が非常に簡単である。
（３）電気的ノイズの影響がほとんどない。
第１図は、本発明の実施例における発光ダイオードの配
置の概略図、 第２図は本発明測定系の模式図、 第３図は光出力の温度特性図である。 ８・・・透過窓、 ９・・・撮像用光学系、 ｌＯ・・・光ファイバ束、 １１・・・光ファイバ、 ｌ２・・・受像用撮像系、 ｌ３・・・フォトダイオードまたはスベクトノレアナラ
イザ。 指定代理人 工業技術院電子技術総合研究所長 ５：発尤ク財一ド ７・自含練 発尤タイヤードＯ遥己這Ｊ刑舎示す２ 第Ｉ図
置の概略図、 第２図は本発明測定系の模式図、 第３図は光出力の温度特性図である。 ８・・・透過窓、 ９・・・撮像用光学系、 ｌＯ・・・光ファイバ束、 １１・・・光ファイバ、 ｌ２・・・受像用撮像系、 ｌ３・・・フォトダイオードまたはスベクトノレアナラ
イザ。 指定代理人 工業技術院電子技術総合研究所長 ５：発尤ク財一ド ７・自含練 発尤タイヤードＯ遥己這Ｊ刑舎示す２ 第Ｉ図
Claims (1)
- 格子状に配置された複数の発光ダイオードおよび該複
数の発光ダイオードの出力光を受光する受光手段を具え
たことを特徴とする温度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30281089A JPH03162639A (ja) | 1989-11-21 | 1989-11-21 | 温度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30281089A JPH03162639A (ja) | 1989-11-21 | 1989-11-21 | 温度分布測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03162639A true JPH03162639A (ja) | 1991-07-12 |
Family
ID=17913379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30281089A Pending JPH03162639A (ja) | 1989-11-21 | 1989-11-21 | 温度分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03162639A (ja) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5065280A (ja) * | 1973-10-09 | 1975-06-02 | ||
| JPS5177284A (ja) * | 1974-12-26 | 1976-07-05 | Sharp Kk | Ondokei |
| JPS52100271A (en) * | 1976-02-18 | 1977-08-23 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Temperature distribution measuring device |
| JPS5319433A (en) * | 1976-07-29 | 1978-02-22 | Vnii Rekukogo I Tekusuteirunog | Apparatus for producing selfftwisted product |
| JPS5839917A (ja) * | 1981-09-03 | 1983-03-08 | Mitsubishi Electric Corp | 光温度センサ− |
| JPS63292028A (ja) * | 1987-05-26 | 1988-11-29 | Nec Corp | 電子回路保護装置 |
-
1989
- 1989-11-21 JP JP30281089A patent/JPH03162639A/ja active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5065280A (ja) * | 1973-10-09 | 1975-06-02 | ||
| JPS5177284A (ja) * | 1974-12-26 | 1976-07-05 | Sharp Kk | Ondokei |
| JPS52100271A (en) * | 1976-02-18 | 1977-08-23 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Temperature distribution measuring device |
| JPS5319433A (en) * | 1976-07-29 | 1978-02-22 | Vnii Rekukogo I Tekusuteirunog | Apparatus for producing selfftwisted product |
| JPS5839917A (ja) * | 1981-09-03 | 1983-03-08 | Mitsubishi Electric Corp | 光温度センサ− |
| JPS63292028A (ja) * | 1987-05-26 | 1988-11-29 | Nec Corp | 電子回路保護装置 |
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