JPH03159161A - Apparatus for continuous manufacture of etching product - Google Patents

Apparatus for continuous manufacture of etching product

Info

Publication number
JPH03159161A
JPH03159161A JP29856589A JP29856589A JPH03159161A JP H03159161 A JPH03159161 A JP H03159161A JP 29856589 A JP29856589 A JP 29856589A JP 29856589 A JP29856589 A JP 29856589A JP H03159161 A JPH03159161 A JP H03159161A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
etching
amount
speed
automatic
conveyance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP29856589A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2623870B2 (en
Inventor
Satoshi Chinda
聡 珍田
Toshio Kawamura
川村 敏雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP1298565A priority Critical patent/JP2623870B2/en
Publication of JPH03159161A publication Critical patent/JPH03159161A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2623870B2 publication Critical patent/JP2623870B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain an apparatus which can automatically monitor the etching quantity and automatically control the etching speed based on the result of the monitoring by installing an automatic measurement means to measure the etching quantity just after an etching means and installing an automatic controller to control the transfer speed based on the measured value. CONSTITUTION:An etching product manufacturing apparatus having an etching means 2, first transfer means 7 and 8 therein, and a post-etching second transfer means 17 etches a metallic thin plate 14, which has a photoresist film applied thereto and exposed and developed into the desired pattern, into the specified pattern. The apparatus has an automatic measurement means 13 to measure the etching quantity of the metallic thin plate 14 installed just after the etching means 2 and has an automatic controller 21 to control the transfer speed of the transfer means 7, 8, and 17 based on the value measured with the automatic measurement means 13. For example, a specular gloss meter 13 is used as the automatic measurement means 13 for the etching quantity, the result of the measurement is entered to a smart drive motor controller 21, and the driving speed of motors 15 and 19 are automatically controlled.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、リードフレームおよびTAB用テープキャリ
ア等のエツチング製品の連続製造装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a continuous manufacturing apparatus for etching products such as lead frames and tape carriers for TAB.

〈従来の技術〉 最近ICチップの小型化、高集積化に伴い、リードフレ
ームおよびTAB用テープキャリアの薄膜化、多ピン化
が進んでいる。 特にピンをリードフレームの四方に設
けるQ F P (QuadFlat Package
)では現在ピン数は200ビンを超えるものも求められ
ており、その場合ピン幅はインナーリード先端部で、1
00μm以下となるため、極めて微細な加工技術が必要
となる。
<Prior Art> Recently, as IC chips have become smaller and more highly integrated, lead frames and TAB tape carriers have become thinner and have more pins. In particular, QFP (QuadFlat Package) where pins are provided on all sides of the lead frame.
), the number of pins exceeds 200 pins, and in that case, the pin width at the tip of the inner lead is 1.
00 μm or less, extremely fine processing technology is required.

このような多ピンフレームは、フォトエツチング法によ
って作製される。  フォトエツチング法は、材料にフ
ォトレジスト膜を塗布し、その上に所望のパターン形状
のマスクをのせて露光、現像を行った後、エツチング液
を噴霧して不要部分を溶解し、パターンを得る方法であ
る。 フォトエツチング7去は、プレス法に比べて微細
加工が可能なため、微細パターンや少量多品種晶の製造
に適している。
Such a multi-pin frame is manufactured by photoetching. The photoetching method is a method in which a photoresist film is applied to a material, a mask with the desired pattern shape is placed on top of it, exposed and developed, and then an etching solution is sprayed to dissolve unnecessary parts to obtain a pattern. It is. Photo etching allows for finer processing than the pressing method, so it is suitable for producing fine patterns and small quantities of a wide variety of crystals.

〈発明が解決しようとする課題〉 フォトエツチング法で、最も制御しにくいのが、エツチ
ング工程である。 すなわち、エツチング液が新しい場
合、高温の場合、スプレー圧が高い場合、エツチング時
間が長い場合などにオーバーエツチングとなり、ピンは
細くなってしまう。 また、逆の場合は、ビンが完全に
分離せずつながったままになり、アンダーエツチングと
なる。
<Problems to be Solved by the Invention> In the photoetching method, the etching process is the most difficult to control. That is, if the etching solution is new, the temperature is high, the spray pressure is high, or the etching time is long, over-etching occurs and the pins become thinner. In the opposite case, the bottles are not completely separated and remain connected, resulting in underetching.

エツチング液の劣化速度は速いため、連続運転をすると
運転中のエツチング条件の変化によるピン幅の変動が黴
しく、一定のピン幅の製品を安定して得ることができに
くい。
Since the rate of deterioration of the etching solution is fast, if the device is operated continuously, the pin width will fluctuate rapidly due to changes in etching conditions during operation, making it difficult to stably obtain products with a constant pin width.

そのため現在は、エツチング後の製品を目視またはtl
lll定器で定期的に直接寸法を測定し、オーバーエツ
チング時は、エツチング速度を速くしてエツチング量を
少なくし、アンダーエツチングの時は逆にエツチング速
度を遅くする操作を手動で行っている。
Therefore, currently, the product after etching is visually inspected or
The dimensions are regularly measured directly using a measuring device, and in case of over-etching, the etching speed is increased to reduce the amount of etching, and in case of under-etching, the etching speed is slowed down manually.

したがって常に作業者が監視しなければならず、またピ
ン幅測定を行いその結果に基づいてエツチング速度を調
整するまでのフィードバックに時間がかかり、その分不
良を多く出す結果となった。 また、速度調整を手動で
行なうため、適正な速度設定が難しく、安定な作業がで
きなかった。
Therefore, the operator must constantly monitor the process, and it takes time to provide feedback from measuring the pin width to adjusting the etching speed based on the result, resulting in a correspondingly large number of defects. In addition, since the speed was adjusted manually, it was difficult to set the appropriate speed, making stable work impossible.

本発明は、前記従来技術の欠点を解消し、自動的にエツ
チング量を監視し、その結果に基づきエツチング速度を
自動制御できる新規のエツチング製品の連続製造装置を
提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate the drawbacks of the prior art and to provide a novel continuous manufacturing apparatus for etching products that can automatically monitor the amount of etching and automatically control the etching rate based on the result.

く課題を解決するための手段〉 上記目的を達成するために本発明によれば、エツチング
手段と、エツチング手段内の第1搬送手段およびエツチ
ング後の第2搬送手段とを具え、フォトレジスト膜を塗
布し、所望のパターン形状の露光、現像を行った金属薄
板を所定のパターンにエツチング加工するエツチング製
品の製造装置であって、 前記エツチング手段の直後に、前記金属薄板のエツチン
グ量の自動測定手段を設けるとともに、 前記自動測定手段に、よる測定値に基づく前記両撤送手
段における搬送速度の自動制御手段を有することを特徴
とするエツチング製品の連続製造装置が提供される。
Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, the present invention includes an etching means, a first conveyance means within the etching means, and a second conveyance means after etching, and a photoresist film is An etching product manufacturing apparatus for etching a thin metal plate coated, exposed to light in a desired pattern shape, and developed into a predetermined pattern, the apparatus comprising: an automatic measuring means for measuring the amount of etching of the thin metal plate immediately after the etching means; There is provided an apparatus for continuously manufacturing an etched product, characterized in that the automatic measuring means includes means for automatically controlling the conveying speed in both the withdrawing means based on the measured values.

前記自動制御手段は、エツチング終了後のエツチング製
品のエツチング量を、エツチング手段の第1m2送手段
は停止することなく第2搬送手段のみを一旦停止して測
定するのが好ましい。
Preferably, the automatic control means measures the etching amount of the etched product after etching is completed by temporarily stopping only the second conveying means without stopping the first m2 conveying means of the etching means.

以下に本発明をさらに詳細に説明する。The present invention will be explained in more detail below.

本発明が適用される、フォトレジスト膜を塗布し、所望
のパターン形状の露光、現像を行った金属薄板(以下、
単に金属薄板という)の構成材料は特に限定せず、鉄、
鉄系合金、銅、銅系合金等を挙げることができる。
To which the present invention is applied, a metal thin plate (hereinafter referred to as
There are no particular restrictions on the constituent material of the metal sheet (simply referred to as a thin metal sheet), and iron, iron,
Examples include iron-based alloys, copper, copper-based alloys, and the like.

以下、本発明を第1図に示すリードフレームの連続製造
装置の1例に基づいて説明する。
The present invention will be explained below based on an example of a continuous lead frame manufacturing apparatus shown in FIG.

本発明のエツチング製品の連続製造装置は、金属薄板1
4の送り出し部11エツチング槽2、剥膜槽3、水洗f
i4および製品巻取り部5に大別される。
The continuous manufacturing apparatus for etching products of the present invention includes a thin metal plate 1
4 sending out part 11 etching tank 2, film peeling tank 3, washing f
It is roughly divided into i4 and product winding section 5.

前記金属薄板の送り出し部1には、金属薄板14を送り
出すためのリール6と複数のローラー7が設けられてい
る。
The thin metal sheet feeding section 1 is provided with a reel 6 and a plurality of rollers 7 for feeding out the thin metal sheet 14.

前記エツチング槽2は前記送り出し部1に接続して設け
られ、その下流側に剥膜4!y3、さらに水洗槽4が連
接されるとともに、前記送り出し部1から送られる金属
薄板14がこれら多槽2.3.4内を搬送するための複
数のローラー7ならびに単数または複数の搬送ローラー
8およびゴムローラー9が薄板14を上下から挟むよう
に設けられている。
The etching tank 2 is connected to the sending section 1, and a peeling film 4 is provided on the downstream side thereof. y3, furthermore, a washing tank 4 is connected, and a plurality of rollers 7 and one or more transport rollers 8 and Rubber rollers 9 are provided to sandwich the thin plate 14 from above and below.

前記多槽2.3.4内には、前記搬送ローラー8を回転
させるための単数または複数の歯車10とこの歯車10
を回転可能に固着する回転シャフト11を有し、この回
転シャフト11の下流側には搬送駆動用の可変速モータ
15によって回転するチェーン16が接続し前記回転シ
ャフト11を回転可能としている。
Inside the multi-tank 2.3.4, one or more gears 10 for rotating the conveying roller 8 and this gear 10 are provided.
A chain 16 rotated by a variable speed motor 15 for conveyance drive is connected to the downstream side of the rotary shaft 11 to enable the rotary shaft 11 to rotate.

すなわち、上記エツチング槽2、剥膜稽3および水洗4
i!4はエツチング手段を構成し、これより上流側の搬
送手段はモータ15により駆動搬送され、これより下流
側の搬送手段はモータ19により駆動搬送される。
That is, the etching tank 2, the peeling tank 3 and the water washing 4
i! Reference numeral 4 constitutes an etching means, the conveying means upstream from this is driven and conveyed by a motor 15, and the conveying means downstream from this is driven and conveyed by a motor 19.

12は多槽2.3.4の上方および下方に設は液体を金
属薄板14の両面に噴射するための複数のスプレーノズ
ルである。
A plurality of spray nozzles 12 are provided above and below the multi-tank 2.3.4 for spraying liquid onto both sides of the thin metal plate 14.

前記水洗槽4の下流側には水切り装置23が設けられて
いる。
A draining device 23 is provided downstream of the washing tank 4.

前記水洗槽4と前記製品巻取り部5の間には、エツチン
グ量の自動測定手段が設けられる。 測定手段としては
、公知のものを用いることができる。 すなわち、所定
の時間毎に、エツチングされた金属薄板14のエツチン
グ量を測定できるものであれば何でもよいが、光を照射
する手段と反射または透過光量の測定手段を設けるのが
好ましい。 第1図では反射光量を測定するための光沢
度計13を設けた。
An automatic means for measuring the amount of etching is provided between the washing tank 4 and the product winding section 5. As the measuring means, known ones can be used. That is, any device may be used as long as it can measure the etching amount of the etched thin metal plate 14 at predetermined intervals, but it is preferable to provide a means for irradiating light and a means for measuring the amount of reflected or transmitted light. In FIG. 1, a gloss meter 13 is provided to measure the amount of reflected light.

前記反射または透過光量の測定によるエツチング量測定
手段の原理は、エツチング後レジスト膜を剥離したエツ
チング製品、例えばリードフレームに光を照射し、反射
光量または透過光量を測定するものである。 反射光量
を測定する時は、エツチング後のリードフレームの形状
が太い場合は反射する金属面の面積が大きいため、反射
光量は多くなるが、オーバーエッチでリードフレームが
細い場合は、反射光量が少なくなる。  したがって、
反射光量を測定することにより、リードフレームのエツ
チング量を求めることができる。
The principle of the etching amount measuring means by measuring the amount of reflected or transmitted light is to irradiate the etched product, such as a lead frame, from which the resist film has been removed after etching with light, and measure the amount of reflected or transmitted light. When measuring the amount of reflected light, if the shape of the lead frame after etching is thick, the area of the reflecting metal surface is large, so the amount of reflected light will be large, but if the lead frame is thin due to over-etching, the amount of reflected light will be small. Become. therefore,
By measuring the amount of reflected light, the amount of etching on the lead frame can be determined.

一方透過光量を測定する場合は、リードフレームに対し
、光源と反対の側に受光部を設けて、透過光量の大小か
らエツチング量を判断する。 すなわちリードフレーム
形状が太い場合は、光がさえぎられ投光量に対して透過
光量の減少量が大きくなるが、リードフレームが細い場
合は、透過光量は多くなる。
On the other hand, when measuring the amount of transmitted light, a light receiving section is provided on the opposite side of the lead frame from the light source, and the amount of etching is determined from the magnitude of the amount of transmitted light. That is, when the lead frame is thick, light is blocked and the amount of transmitted light decreases greatly relative to the amount of projected light, but when the lead frame is thin, the amount of transmitted light increases.

前記リードフレームのエツチング量測定は常にリードフ
レームの同じ部位にすることが必要である。 予め材質
、リードフレーム形状に応じたピン幅(エツチング量)
と反射光量または透過光量の関係を把握しておくことが
望ましい。 反射光量を測定する場合は、リードフレー
ム裏面に無反射黒色板を置き、リードフレーム以外から
の反射を極力制御することが望ましい。
It is necessary to always measure the etching amount of the lead frame at the same portion of the lead frame. Pin width (etching amount) according to the material and lead frame shape in advance
It is desirable to understand the relationship between the amount of reflected light or the amount of transmitted light. When measuring the amount of reflected light, it is desirable to place a non-reflective black plate on the back side of the lead frame to control reflections from sources other than the lead frame as much as possible.

第2図は、エツチング製品のインナーリードピン幅と鏡
面光沢度の関係の1例を示したものである。
FIG. 2 shows an example of the relationship between the inner lead pin width and specular gloss of an etched product.

前記光沢度計13の上流側には、搬送ローラー17とゴ
ムローラー18−が薄板14を上下から挟むように設け
られ、この搬送ローラー17を回転するための歯車10
、チェーン16および搬送駆動用の可変速モータ19が
設けられている。
On the upstream side of the gloss meter 13, a conveyance roller 17 and a rubber roller 18- are provided so as to sandwich the thin plate 14 from above and below, and a gear 10 for rotating the conveyance roller 17 is provided.
, a chain 16, and a variable speed motor 19 for driving the conveyance.

前記光沢度計13の下流側には製品巻取り部5が接続し
ている。 22は金属薄板14の通過をチエツクするた
めの光電管である。
A product winding section 5 is connected to the downstream side of the gloss meter 13. 22 is a phototube for checking the passage of the thin metal plate 14.

前記製品巻取り部5には、エツチング加工された金属薄
板14を搬送するための複数のローラー7と製品を巻取
るためのり−ル6が設けられている。
The product winding section 5 is provided with a plurality of rollers 7 for conveying the etched thin metal plate 14 and a roll 6 for winding up the product.

なお、前記金属薄板14の搬送手段は、上記に限定する
ものでなく公知の手段を用いることができる。
Note that the means for conveying the metal thin plate 14 is not limited to the above, and any known means may be used.

つぎに本発明のエツチング製品の連続製造装置の動作例
を説明する。
Next, an example of the operation of the continuous manufacturing apparatus for etching products according to the present invention will be explained.

送り出し部1のリール6にセットされた金属薄板14は
、搬送ローラー8の回転により所定の速度で搬送されて
エツチング槽2にて所定のエツチング液をノズル12か
ら噴霧され、続いて剥膜槽3、さらに水洗4!4を通過
してレジスト膜を剥離され、水洗、水切りしたのち、所
定時間毎にモータ19を停止させて搬送ローラー17を
止め、その間に薄板14のエツチング量を測定し、この
測定が終了すると搬送ローラー17が搬送ローラー8よ
り速く回転するようモータ19を高速駆動させる。
The thin metal plate 14 set on the reel 6 of the delivery section 1 is transported at a predetermined speed by the rotation of the transport roller 8, and is sprayed with a predetermined etching solution from the nozzle 12 in the etching tank 2, and then transferred to the film peeling tank 3. After passing through water washing 4!4 to remove the resist film, washing with water, and draining, the motor 19 is stopped at predetermined intervals to stop the conveyance roller 17, and during this time the amount of etching on the thin plate 14 is measured. When the measurement is completed, the motor 19 is driven at high speed so that the conveyance roller 17 rotates faster than the conveyance roller 8.

前記モータ19停止中に薄板14は、第1図に示すよう
に水洗槽4と巻取り部5の間で徐々にたるみ、モータ1
9が再び駆動すると搬送ローラー17が搬送ローラー8
よりも高速回転することによって前記たるみが徐々に解
消していく。
While the motor 19 is stopped, the thin plate 14 gradually slackens between the washing tank 4 and the winding section 5, as shown in FIG.
9 is driven again, the conveyance roller 17 is moved to the conveyance roller 8.
By rotating at a higher speed, the slack is gradually eliminated.

そして、薄板14が光電管22を通過することにより、
たるみの解消を検知して搬送ローラー17の回転を搬送
ローラー8と同じになるようモータ19を制御する。
Then, when the thin plate 14 passes through the phototube 22,
The motor 19 is controlled so that the rotation of the conveyance roller 17 is the same as that of the conveyance roller 8 by detecting the elimination of the slack.

所定時間毎にエツチング量を測定されて巻取り部5に導
入された薄板14は、図示しない駆動手段により前記搬
送ローラー17の回転速度に連動制御された巻取り部5
のリール6に巻取られる。
The thin plate 14 whose etching amount is measured at predetermined time intervals and introduced into the winding section 5 is controlled in conjunction with the rotational speed of the conveying roller 17 by a driving means (not shown).
is wound onto the reel 6.

上記薄板搬送の駆動制御手段の1例を光沢度計13を用
いた例について説明する。
An example of the drive control means for conveying the thin plate using a gloss meter 13 will be described.

第3図に示すように、薄板14のエツチング量測定部分
に光沢度計13を設けて光を照射し、反射光量測定装置
21を介してマイコンを内蔵した駆動モータ制御部21
にこの測定値を入力し、予め設定したエツチング量にな
るようにモータ15の駆動速度の調整量をマイコンに演
算させ、かつモータ19の停止−作動パターンを予め上
記のように設定してマイコンに演算させてそれぞれ制御
するようにすれば、金属薄板14のエツチング量が常に
所定の値になるよう自動制御できる。
As shown in FIG. 3, a gloss meter 13 is provided on the portion of the thin plate 14 to measure the amount of etching, and light is irradiated to the drive motor controller 21 with a built-in microcomputer via the reflected light amount measuring device 21.
Input this measured value to the microcomputer to calculate the amount of adjustment of the driving speed of the motor 15 so as to achieve the preset etching amount, and set the stop-operation pattern of the motor 19 as described above in advance and input it to the microcomputer. By performing calculations and controlling the respective values, it is possible to automatically control the etching amount of the thin metal plate 14 to always maintain a predetermined value.

すなわち、例えばエツチング寸法の上限値および下限値
を設定しておき、エツチング不足のときは、エツチング
槽2におけるエツチング時間がおよそ5%長くなるよう
モータ15の回転数を増加し、オーバーエツチングのと
きは、逆にエツチング時間が約5%短くなるようモータ
15を制御すればよい。
That is, for example, the upper and lower limits of etching dimensions are set, and when etching is insufficient, the rotation speed of the motor 15 is increased so that the etching time in the etching bath 2 is approximately 5% longer, and when overetching is occurring, the rotation speed of the motor 15 is increased. Conversely, the motor 15 may be controlled so that the etching time is shortened by about 5%.

エツチング量測定のための光照射は、少なくとも2本以
上のリードピンが光照射範囲27内に入る(第4図参照
)ようにするのがよい。
Light irradiation for measuring the amount of etching is preferably performed so that at least two lead pins fall within the light irradiation range 27 (see FIG. 4).

前記反射光量測定によるエツチング量の測定は、例えば
第5図に示すように金属薄板14のエツチング劇に対向
して投光体13aと受光体13bを有する光沢度計13
を設けて行われる。
The amount of etching can be measured by measuring the amount of reflected light, for example, as shown in FIG.
This will be carried out with the following.

また、前記透過光量測定によるエツチング量の測定は、
例えば第6図に示すように前記光沢度計13の位置に、
エツチング面に垂直に投光する光#24を設け、金属薄
板14を挟んで光源24の反対側に受光部25を設けて
行われる。
Furthermore, the amount of etching is measured by measuring the amount of transmitted light.
For example, as shown in FIG. 6, at the position of the gloss meter 13,
Light #24 is provided to project light perpendicularly to the etching surface, and a light receiving section 25 is provided on the opposite side of the light source 24 with the thin metal plate 14 in between.

以上リードフレームのエツチングを例にして説明したが
、例えばTAB用テープキャリアなどのエツチングにお
いても本発明装置を用いて極めて高精度にエツチング量
を制御でき、一定のビン幅の製品を得ることができる。
The above explanation has been given using the etching of lead frames as an example, but the device of the present invention can also be used to control the amount of etching with extremely high precision when etching tape carriers for TAB, etc., making it possible to obtain products with a constant bin width. .

〈実施例〉 以下に本発明を実施例に基づき具体的に説明する。<Example> The present invention will be specifically explained below based on Examples.

(実施例1) 第1図に示す本発明の連続製造装置を用い、42合金条
(板厚0.1mm、幅42mm)の両面にレジスト膜を
塗布した後、100ピンQFPパターンのレジスト膜を
露光、現像により設けた該金属条14の25mの1巻を
送り出し部1のリール6に設置し、エツチング槽2内を
通過させ、巻取り部5のリール6で再び巻き取るように
した。
(Example 1) Using the continuous manufacturing apparatus of the present invention shown in Fig. 1, a resist film was applied to both sides of a 42 alloy strip (thickness: 0.1 mm, width: 42 mm), and then a resist film with a 100-pin QFP pattern was applied. One 25 m roll of the metal strip 14 provided by exposure and development was placed on the reel 6 of the delivery section 1, passed through the etching tank 2, and wound up again on the reel 6 of the winding section 5.

金属条14は搬送ローラーとゴムローラー8.9および
17.18に挟まれ、搬送ローラー8.17が回転する
ことによって一定速度で送られた。
The metal strip 14 was sandwiched between a conveyance roller and rubber rollers 8.9 and 17.18, and was fed at a constant speed by rotation of the conveyance roller 8.17.

金属条14の搬送速度は搬送ローラーの回転数によって
決められるが、搬送ローラー8.17は、回転シャフト
11を介してモータ15.19で回転させるから、した
がって搬送速度はモータ15.19の回転数の制御によ
って変化させる構造となっている。
The conveyance speed of the metal strip 14 is determined by the rotation speed of the conveyance roller, and since the conveyance roller 8.17 is rotated by the motor 15.19 via the rotating shaft 11, the conveyance speed is determined by the rotation speed of the motor 15.19. It has a structure that can be changed by controlling.

金属条14はエツチング禮2でノズル12からのスプレ
ーによりエツチングされた後、レジスト膜の剥膜槽3、
水洗槽4を通過し、巻取り部5のリール6に巻取られた
After the metal strip 14 is etched by spraying from the nozzle 12 in the etching device 2, it is transferred to a resist film stripping tank 3;
It passed through the washing tank 4 and was wound up on the reel 6 of the winding section 5.

本発明例では、リードフレームが水洗[4から出て水切
り23直後の部分に鏡面光沢度計3を設置した。 すな
わち、一定時間毎に、まずモータ19が止ることによっ
て搬送ローラー17が止まり、該ローラーより右側への
金属条14送りがストップする。 この時モータ15は
動作状態のままであるので、該条は搬送されたまま搬送
ローラー17の手前で徐々にたるむ。 この間に光沢度
計13でリードフレームに光を照射し、反射光量を算出
した。 この結果を第3図に示すようにマイコンを内蔵
した駆動モータ制御部21に入力し、エツチング量に基
づいてただちにモータ15の駆動速度が自動調整された
。 すなわちエツチング寸法の上限値と下限値を予め設
けておきエツチング時間が短くまだ寸法が太すぎる時は
、エツチング時間がおおよそ5%長くなるよう、駆動モ
ータ15の回転数が増加し、オーバーエツチングの場合
は、逆にエツチング時間が約5%短くなるよう制御した
In the example of the present invention, the specular gloss meter 3 was installed at the part where the lead frame came out of the water washing [4] and immediately after the draining 23. That is, at regular intervals, first, the motor 19 stops, the conveying roller 17 stops, and the feeding of the metal strip 14 to the right side from the roller stops. At this time, since the motor 15 remains in operation, the strip gradually slackens before the conveyance roller 17 while being conveyed. During this time, the lead frame was irradiated with light using the gloss meter 13, and the amount of reflected light was calculated. As shown in FIG. 3, this result was input to a drive motor control section 21 having a built-in microcomputer, and the drive speed of the motor 15 was immediately automatically adjusted based on the amount of etching. That is, the upper and lower limits of the etching dimension are set in advance, and when the etching time is short and the dimension is still too thick, the rotation speed of the drive motor 15 is increased so that the etching time is approximately 5% longer, and in the case of over-etching. On the other hand, the etching time was controlled to be about 5% shorter.

反射光量測定時に停止していた搬送ローラー1)は、測
定終了後ただちに回転し、リードフレームを巻取り部へ
送り出した。 その際、搬送ローラー8より速く回転し
てたるみを除去し、リードフレームが光電管22を通過
し、たるみがなくなった後に、ローラー17の回転数は
ローラー8と同一になるよう制御された。
The conveying roller 1), which had stopped during the measurement of the amount of reflected light, rotated immediately after the measurement was completed and sent the lead frame to the winding section. At this time, the rotation speed of the roller 17 was controlled to be the same as that of the roller 8 after the lead frame passed through the phototube 22 and the slack was removed by rotating faster than the conveyance roller 8.

木発−明装置により、エツチングが完了した時点でエツ
チング量を自動測定し、ただちにエツチング時間を変動
させることができたので、−定の寸法の製品を連続して
安定に製造できた。
With the device of the invention, the amount of etching was automatically measured when etching was completed, and the etching time could be changed immediately, making it possible to continuously and stably manufacture products with fixed dimensions.

すなわち、従来のエツチング装置ではエツチング後の製
品を手動で測定し、その結果により作業者の勘と経験で
エツチング速度をコントロールしていた。 そのため作
業毎にエツチング量が異なるほか、作業者が常時監視し
なれければならなかった。 また、作業の途中でリード
ビン幅を測定することができないため、リール1巻分の
作業が終るまで待たなければならなかった。 そのため
初期にエツチング速度の設定に失敗すると、リードフレ
ーム1@分が全部不良となる場合もあった。
That is, in the conventional etching apparatus, the product after etching is manually measured, and the etching speed is controlled based on the operator's intuition and experience based on the measurement results. Therefore, the amount of etching differs depending on the job, and the operator must constantly monitor the process. Furthermore, since it is not possible to measure the lead bin width during the work, it is necessary to wait until the work for one reel is completed. Therefore, if the etching speed setting fails in the initial stage, all of the lead frames for 1@ may become defective.

本発明装置では上記のように作業中に定期的にエツチン
グ量を測定し、ただちにエツチング速度を制御するため
、上記問題点が一気に解決した。
In the apparatus of the present invention, as described above, the etching amount is periodically measured during the work and the etching speed is immediately controlled, so that the above-mentioned problems are solved at once.

従来の直接寸法測定装置は大きく、重く、値段も高く、
したがって設置場所を自由に選ぶことができないのに対
し、本発明の測定装置は小さく軽いため、ライン内に自
由に組み込んで測定することができ、かつ安価に測定で
きた。
Traditional direct dimension measurement devices are large, heavy, and expensive.
Therefore, it is not possible to freely choose the installation location, whereas the measuring device of the present invention is small and lightweight, so it can be freely incorporated into a line for measurement, and it can be measured at low cost.

(実施例2) 第1図の鏡面光沢度計13を取付けた部位に、光沢度計
をはずし、第6図に示すようにリードフレーム14に向
って光源24を設置し、リードフレーム14を挟んで光
源の反対側に受光部25を設置した。 すなわち、エツ
チング量の変化によって変動するリードピンの太さ(面
積)に応じて変化する透過光量を検知し、瞬時にエツチ
ング量を定量化し、実施例1と同様の方法でエツチング
速度を調整した。 このように簡便な測定装置を組み込
み、さらにその結果に応じてエツチング速度をただちに
自動的に変動させることができるので、微細加工品を安
定に連続して作ることができ、生産性が大幅に向上した
(Example 2) The gloss meter was removed from the area where the specular gloss meter 13 of FIG. 1 was attached, and the light source 24 was installed facing the lead frame 14 as shown in FIG. The light receiving section 25 was installed on the opposite side of the light source. That is, the amount of transmitted light, which changes according to the thickness (area) of the lead pin, which varies with changes in the amount of etching, was detected, the amount of etching was instantaneously quantified, and the etching rate was adjusted in the same manner as in Example 1. By incorporating this simple measuring device and being able to immediately and automatically change the etching speed according to the results, microfabricated products can be manufactured continuously and stably, greatly improving productivity. did.

ピン幅と鏡面光沢度の関係を示すグラフで〈発明の効果
〉 本発明は以上説明したように構成されているので、本発
明装置によれば、組み込まれた簡便な測定装置により自
動的にエツチング量を監視し、その結果に基づきエツチ
ング速度を自動制御でき、高精度のエツチング製品を安
価に連続製造することかできる。
Graph showing the relationship between pin width and specular gloss <Effects of the invention> Since the present invention is configured as described above, the device of the present invention can automatically perform etching using the built-in simple measuring device. The etching amount can be monitored and the etching speed can be automatically controlled based on the results, making it possible to continuously manufacture highly accurate etched products at low cost.

また、本発明装置によればエツチング製品のエツチング
量を、エツチング手段の第1m2送手段は停止すること
なく第2搬送手段のみを一旦停止して測定することによ
り、エツチング加工工程を阻害することなくエツチング
量を極めて高精度に測定することができる。
Furthermore, according to the apparatus of the present invention, the amount of etching of the etched product can be measured by temporarily stopping only the second conveying means without stopping the first m2 conveying means of the etching means, without interfering with the etching process. The amount of etching can be measured with extremely high precision.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明エツチング装置の一実施例を示す模式
図である。 第2図は、エツチング製品のインナーリードある。 第3図は、駆動制御系統を示す概略図である。 第4図は、光照射範囲内のリードビンの一例を示す概略
図である。 第5図は、光沢度計を用いたエツチング量測定の説明図
である。 第6図は、透過光量測定方法を利用したエツチング量測
定の説明図である。 符号の説明 1・・・リードフレーム送り出し部、 2・・・エツチング槽、 3・・・剥膜槽、 4・・・水洗槽、 5・・・リードフレーム巻取り部、 6・・・リール、 7・・・ローラー 8・・・搬送ローラー 9・・・ゴムローラー 10・・・歯車、 11・・・回転シャフト、 12・・・スプレーノズル、 13・・・鏡面光沢度計、 13a・・・投光体、 13b・・・受光体、 14・・・金属薄板(リードフレーム)、15・・・搬
送駆動用可変速モータ、 16・・・チェーン、 1フ・・・搬送ローラー 18・・・ゴムローラー 19・・・搬送駆動用可変速モータ、 20・・・反射光量測定装置、 21・・・駆動モータ制御部(マイコン内蔵)、22・
・・光電管、 23・・・水切り装置、 24・・・光源、 25・・・受光部、 26・・・リードビン、 27・・・光照射範囲 FIG、2 インナーソードピア 1!  (m rn )0 1
FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the etching apparatus of the present invention. Figure 2 shows the inner lead of the etched product. FIG. 3 is a schematic diagram showing the drive control system. FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of a lead bin within the light irradiation range. FIG. 5 is an explanatory diagram of etching amount measurement using a gloss meter. FIG. 6 is an explanatory diagram of etching amount measurement using the transmitted light amount measurement method. Explanation of symbols 1...Lead frame feeding section, 2...Etching tank, 3...Peeling tank, 4...Washing tank, 5...Lead frame winding part, 6...Reel, 7... Roller 8... Conveyance roller 9... Rubber roller 10... Gear, 11... Rotating shaft, 12... Spray nozzle, 13... Specular gloss meter, 13a... Emitter, 13b... Light receiver, 14... Metal thin plate (lead frame), 15... Variable speed motor for conveyance drive, 16... Chain, 1st... Conveyance roller 18... Rubber roller 19... variable speed motor for conveyance drive, 20... reflected light amount measuring device, 21... drive motor control unit (built-in microcomputer), 22...
...Phototube, 23...Drainer, 24...Light source, 25...Light receiving section, 26...Lead bin, 27...Light irradiation range FIG, 2 Inner sword pier 1! (m rn )0 1

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)エッチング手段と、エッチング手段内の第1搬送
手段およびエッチング後の第2搬送手段とを具え、フォ
トレジスト膜を塗布し、所望のパターン形状の露光、現
像を行った金属薄板を所定のパターンにエッチング加工
するエッチング製品の製造装置であって、 前記エッチング手段の直後に、前記金属薄板のエッチン
グ量の自動測定手段を設けるとともに、 前記自動測定手段による測定値に基づく前記両搬送手段
における搬送速度の自動制御手段を有することを特徴と
するエッチング製品の連続製造装置。
(1) Etching means, a first conveyance means within the etching means, and a second conveyance means after etching, and a thin metal plate coated with a photoresist film, exposed and developed in a desired pattern shape, to a predetermined location. An apparatus for manufacturing an etched product that is etched into a pattern, wherein an automatic measuring means for measuring the amount of etching of the thin metal plate is provided immediately after the etching means, and the conveyance by the two conveying means is based on the measured value by the automatic measuring means. An apparatus for continuously manufacturing etched products, characterized by having automatic speed control means.
(2)前記自動制御手段は、エッチング終了後のエッチ
ング製品のエッチング量を、エッチング手段の第1搬送
手段は停止することなく第2搬送手段のみを一旦停止し
て測定する請求項1記載のエッチング製品の連続製造装
置。
(2) The etching device according to claim 1, wherein the automatic control means measures the etching amount of the etched product after etching is completed by temporarily stopping only the second conveying means without stopping the first conveying means of the etching means. Continuous manufacturing equipment for products.
JP1298565A 1989-11-16 1989-11-16 Continuous production equipment for etching products Expired - Lifetime JP2623870B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1298565A JP2623870B2 (en) 1989-11-16 1989-11-16 Continuous production equipment for etching products

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1298565A JP2623870B2 (en) 1989-11-16 1989-11-16 Continuous production equipment for etching products

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03159161A true JPH03159161A (en) 1991-07-09
JP2623870B2 JP2623870B2 (en) 1997-06-25

Family

ID=17861392

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1298565A Expired - Lifetime JP2623870B2 (en) 1989-11-16 1989-11-16 Continuous production equipment for etching products

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2623870B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008274341A (en) * 2007-04-27 2008-11-13 Automax Technologies Co Ltd Sheet etching/conveying device
JP2010179987A (en) * 2009-02-04 2010-08-19 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Surface treatment system and surface treatment method
WO2011118092A1 (en) * 2010-03-23 2011-09-29 株式会社フジクラ Method for manufacturing printed wiring board

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5358671A (en) * 1976-11-09 1978-05-26 Fujitsu Ltd Etching system
JPS61190081A (en) * 1985-02-18 1986-08-23 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Method for controlling etching

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5358671A (en) * 1976-11-09 1978-05-26 Fujitsu Ltd Etching system
JPS61190081A (en) * 1985-02-18 1986-08-23 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Method for controlling etching

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008274341A (en) * 2007-04-27 2008-11-13 Automax Technologies Co Ltd Sheet etching/conveying device
JP2010179987A (en) * 2009-02-04 2010-08-19 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Surface treatment system and surface treatment method
WO2011118092A1 (en) * 2010-03-23 2011-09-29 株式会社フジクラ Method for manufacturing printed wiring board
CN102812787A (en) * 2010-03-23 2012-12-05 株式会社藤仓 Method for manufacturing printed wiring board
US8574449B2 (en) 2010-03-23 2013-11-05 Fujikura Ltd. Method for manufacturing printed wiring board
JP5442104B2 (en) * 2010-03-23 2014-03-12 株式会社フジクラ Method for manufacturing printed wiring board
CN102812787B (en) * 2010-03-23 2015-05-20 株式会社藤仓 Method for manufacturing printed wiring board

Also Published As

Publication number Publication date
JP2623870B2 (en) 1997-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4631110A (en) Peeling type developing apparatus
US6024249A (en) Fluid delivery system using an optical sensor to monitor for gas bubbles
JPH03159161A (en) Apparatus for continuous manufacture of etching product
CA2491337C (en) Apparatus and method for reducing wallboard waste during manufacture
US3419446A (en) Method and means for continuous control of etching rate
US6744490B2 (en) Device for processing of a strip-shaped workpiece
US4719495A (en) Exposure development device for long base member
JP3306322B2 (en) Winding method and device
JPH0336904B2 (en)
JP3861800B2 (en) Substrate processing apparatus for manufacturing circuit board and method for detecting sagging substrate
JP3772070B2 (en) Wet etching apparatus and etching residue detection method used in the apparatus
JP3028160B2 (en) Lead frame continuous manufacturing equipment
JP3914879B2 (en) Inspection device for film carrier tape for mounting electronic components and inspection method for film carrier tape for mounting electronic components
JP3676842B2 (en) Raw film feeding device and feeding method in bag making filling and packaging machine, bag making filling and packaging machine and packaging method
JPH09302481A (en) Etching processing method and etching processing device
JPH11157627A (en) Conveyor speed controller
JP2010058149A (en) Method and apparatus for detecting decrease in metal strip winding tension
KR0120389Y1 (en) Measuring apparatus for thickness of photoresist film in the photoresist coater
JPH03193159A (en) Method for controlling thickness of coating film in curtain flow coating
JPS6019611B2 (en) Insulated wire measuring device
JP2562325Y2 (en) Automatic wallpaper gluing machine
JPH0775830A (en) Controller for stop position of strip tail end
JPH044528B2 (en)
KR20150140454A (en) winding roller controller for a flexible printed circuit board
JPS6380876A (en) Method for adjusting thickness of coating film in curtain flow painting