JPH03146806A - 微小物体外れ方向検出装置 - Google Patents
微小物体外れ方向検出装置Info
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- JPH03146806A JPH03146806A JP1287067A JP28706789A JPH03146806A JP H03146806 A JPH03146806 A JP H03146806A JP 1287067 A JP1287067 A JP 1287067A JP 28706789 A JP28706789 A JP 28706789A JP H03146806 A JPH03146806 A JP H03146806A
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、例えばボンディングワイヤ等の微小線材その
他の微小物体が所定の検知領域から外れようとしたとき
に、外れる瞬前においてその外れ方向を検出する微小物
体外れ方向検出装置に関する。
他の微小物体が所定の検知領域から外れようとしたとき
に、外れる瞬前においてその外れ方向を検出する微小物
体外れ方向検出装置に関する。
〈従来の技術〉
従来、微小物体が所定の検知領域に存在するか否かを検
出する微小物体検知装置は知られているが、微小物体の
検知領域からの外れ方向を検出する装置は存在しなかっ
た。
出する微小物体検知装置は知られているが、微小物体の
検知領域からの外れ方向を検出する装置は存在しなかっ
た。
前記従来の微小物体検知装置は、光の回折現象を利用し
て微小物体の存在の有無を検出するものである〈例えば
特願昭62−335653号参照)。
て微小物体の存在の有無を検出するものである〈例えば
特願昭62−335653号参照)。
すなわち、点光源に近い投光素子とこの投光素子をドラ
イブする発振回路と投光素子による投射光から所定の検
知領域を設定するための投光レンズからなる投光部と、
投光系に光軸を合わせて対向装置され、検知領域からの
光を集束する結像レンズと結像レンズの焦点に設けられ
た受光素子からなる受光部とを備え、受光素子として、
非回折光を受光するように光軸上に配置した非回折光受
光素子と、検知領域に存在する微小物体による回折光を
受光するように非回折光受光素子の外側に配置した回折
光受光素子とが用いられている。
イブする発振回路と投光素子による投射光から所定の検
知領域を設定するための投光レンズからなる投光部と、
投光系に光軸を合わせて対向装置され、検知領域からの
光を集束する結像レンズと結像レンズの焦点に設けられ
た受光素子からなる受光部とを備え、受光素子として、
非回折光を受光するように光軸上に配置した非回折光受
光素子と、検知領域に存在する微小物体による回折光を
受光するように非回折光受光素子の外側に配置した回折
光受光素子とが用いられている。
投光素子を発振回路でドライブすることによりパルス変
調光を出射させる。検知領域に微小物体が存在しないと
きには、パルス変調光の回折は起こらず、結像レンズを
通ったパルス変調光はすべて光軸上の非回折光受光素子
に入射される。検知領域に微小物体が存在するときには
、パルス変調光が微小物体によって回折されるため、結
像レンズを通ったパルス変調光の大部分は非回折光受光
素子に入射されるが、残りの一部が外側の回折光受光素
子にも入射される。
調光を出射させる。検知領域に微小物体が存在しないと
きには、パルス変調光の回折は起こらず、結像レンズを
通ったパルス変調光はすべて光軸上の非回折光受光素子
に入射される。検知領域に微小物体が存在するときには
、パルス変調光が微小物体によって回折されるため、結
像レンズを通ったパルス変調光の大部分は非回折光受光
素子に入射されるが、残りの一部が外側の回折光受光素
子にも入射される。
非回折光受光素子による非回折光検出信号は、回折光受
光素子による回折光検出信号に同期したゲート信号とし
て用いられている。それは、回折光の信号強度が微弱で
あるために、外乱光と回折光とを識別することが困難な
ためである。
光素子による回折光検出信号に同期したゲート信号とし
て用いられている。それは、回折光の信号強度が微弱で
あるために、外乱光と回折光とを識別することが困難な
ためである。
検知領域に微小物体が存在しないときには、回折光検出
信号が入力されないので、ゲート信号(非回折光検出信
号)が入力されても、結局、微小物体検出信号は出力さ
れず、検知領域に微小物体が存在しないと判定される。
信号が入力されないので、ゲート信号(非回折光検出信
号)が入力されても、結局、微小物体検出信号は出力さ
れず、検知領域に微小物体が存在しないと判定される。
検知領域に微小物体が存在するときには、回折光検出信
号が入力され、これに同期してゲート信号が入力される
ため、微小物体検出信号が出力されて検知領域に微小物
体が存在すると判定される。
号が入力され、これに同期してゲート信号が入力される
ため、微小物体検出信号が出力されて検知領域に微小物
体が存在すると判定される。
しかしながら、この微小物体検知装置は、すでに述べた
とおり、検知領域における微小物体の存在の有無のみを
検出するものにすぎず、微小物体が検知領域内に存在す
る状態から検知領域外に外れようとする瞬前に、その外
れ方向を検出することはできない。
とおり、検知領域における微小物体の存在の有無のみを
検出するものにすぎず、微小物体が検知領域内に存在す
る状態から検知領域外に外れようとする瞬前に、その外
れ方向を検出することはできない。
このような従来技術を利用して外れ方向を検出するには
、上記の微小物体検知装置を2つ用いる必要がある。そ
の概略構成を第7図に示す。
、上記の微小物体検知装置を2つ用いる必要がある。そ
の概略構成を第7図に示す。
第1.第2の投光部313.31bはそれぞれ前記の発
振回路と投光素子と投光レンズとからなるものであり、
第1.第2の受光部32a、32bはそれぞれ前記の結
像レンズと受光素子(非回折光受光素子および回折光受
光素子)とからなるものである。
振回路と投光素子と投光レンズとからなるものであり、
第1.第2の受光部32a、32bはそれぞれ前記の結
像レンズと受光素子(非回折光受光素子および回折光受
光素子)とからなるものである。
第1の微小物体検知装置33aは、第1の投光部31a
と第1の受光部32aとからなり、それらの光軸は一致
している。34aは第1の微小物体検知装置33aの検
知領域である。第2の微小物体検知装置33bは、第2
の投光部31bと第2の受光部32bとからなり、それ
らの光軸も一致している。34bは第2の微小物体検知
装置33bの検知領域である。第1.第2の検知領域3
4a、34.bが重複する領域が本来の微小物体検知領
域34cとなる。
と第1の受光部32aとからなり、それらの光軸は一致
している。34aは第1の微小物体検知装置33aの検
知領域である。第2の微小物体検知装置33bは、第2
の投光部31bと第2の受光部32bとからなり、それ
らの光軸も一致している。34bは第2の微小物体検知
装置33bの検知領域である。第1.第2の検知領域3
4a、34.bが重複する領域が本来の微小物体検知領
域34cとなる。
微小物体検知領域34cに微小物体mが存在するときに
は、第1.第2の受光部32a、32bから検出信号“
H”、“H”が出力される。その状態から微小物体mが
21方向に向けて微小物体検知領域34Cから外れる瞬
前に、第1の受光部32aの検出信号が“L”、第2の
受光部32bの検出信号が“11”となり、外れ方向が
Z1方向であると判定される。逆に、微小物体mが22
方向に向けて微小物体検知領域34cから外れる瞬前に
、第1の受光部32aの検出13号が“H”第2の受光
部32bの検出信号が“L”となり、外れ方向がZ2方
向であると判定される。
は、第1.第2の受光部32a、32bから検出信号“
H”、“H”が出力される。その状態から微小物体mが
21方向に向けて微小物体検知領域34Cから外れる瞬
前に、第1の受光部32aの検出信号が“L”、第2の
受光部32bの検出信号が“11”となり、外れ方向が
Z1方向であると判定される。逆に、微小物体mが22
方向に向けて微小物体検知領域34cから外れる瞬前に
、第1の受光部32aの検出13号が“H”第2の受光
部32bの検出信号が“L”となり、外れ方向がZ2方
向であると判定される。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、このように2つの微小物体検知装置33
a、33bを用いて微小物体外れ方向検出装置を構成し
た場合には、次のような問題点がある。
a、33bを用いて微小物体外れ方向検出装置を構成し
た場合には、次のような問題点がある。
(i)光学部品点数が多くなるためにコストがいたずら
に高くなる。
に高くなる。
(11)微小物体検知装置を2つも用いているために、
全体が大型化しスペース面で不利となる。
全体が大型化しスペース面で不利となる。
(iii )第1.第2の検知領域34a、34bの重
複による微小物体検知領域34Cが狭く、死角領域34
dが大きい。死角領域を狭くしたり無くしたりする光学
的アライメントは非常に困難である。
複による微小物体検知領域34Cが狭く、死角領域34
dが大きい。死角領域を狭くしたり無くしたりする光学
的アライメントは非常に困難である。
本発明は、このような事情に鑑みて創案されたものであ
って、低コスト化および小型化を図ることができるとと
もに、広い微小物体検知領域をもち、その微小物体検知
領域からの微小物体の外れ方向を検出できるようにする
ことを目的とする。
って、低コスト化および小型化を図ることができるとと
もに、広い微小物体検知領域をもち、その微小物体検知
領域からの微小物体の外れ方向を検出できるようにする
ことを目的とする。
〈課題を解決するための手段〉
本発明は、このような目的を達成するために、次のよう
な構成をとる。
な構成をとる。
すなわち、本発明の微小物体外れ方向検出装置は、互い
に対向して微小物体検知領域を形成する投光部および受
光部と、信号処理部とから構成され、前記受光部が、光
軸上に配置された非回折光受光素子と、この非回折光受
光素子の両側に配置された第1.第2の一対の回折光受
光素子とを備え、前記信号処理部が、iIj記第1、第
2の両回折光受光素子による第1.第2の回折光検出信
号を非回折光受光素子による非回折光検出信号と比較し
ていずれか一方の回折光検出信号が非回折光検出信号よ
りも低しヘルになったときに検知領域外れ信号を出力す
る検知領域外れ判定回路と、前記第1.第2の回折光検
出信号どうしを比較してその比較結果の外れ方向判定信
号を前記検知領域外れ信号の入力のタイミングで出力す
る外れ方向判定回路とを備えていることを特徴とするも
のである。
に対向して微小物体検知領域を形成する投光部および受
光部と、信号処理部とから構成され、前記受光部が、光
軸上に配置された非回折光受光素子と、この非回折光受
光素子の両側に配置された第1.第2の一対の回折光受
光素子とを備え、前記信号処理部が、iIj記第1、第
2の両回折光受光素子による第1.第2の回折光検出信
号を非回折光受光素子による非回折光検出信号と比較し
ていずれか一方の回折光検出信号が非回折光検出信号よ
りも低しヘルになったときに検知領域外れ信号を出力す
る検知領域外れ判定回路と、前記第1.第2の回折光検
出信号どうしを比較してその比較結果の外れ方向判定信
号を前記検知領域外れ信号の入力のタイミングで出力す
る外れ方向判定回路とを備えていることを特徴とするも
のである。
〈作用〉
本発明の上記構成による作用は、次のとおりである。
すなわち、微小物体が微小物体検知領域内に存在してい
る場合、微小物体が光軸上にあれば第1゜第2の回折光
検出信号のレヘルは等しくなるが、正・逆いずれかの方
向に偏位しているときには、両回折光検出信号のレヘル
が相違することになる。
る場合、微小物体が光軸上にあれば第1゜第2の回折光
検出信号のレヘルは等しくなるが、正・逆いずれかの方
向に偏位しているときには、両回折光検出信号のレヘル
が相違することになる。
第1.第2のいずれの回折光検出信号が高しヘルになる
かは、微小物体の偏位方向による。
かは、微小物体の偏位方向による。
微小物体が微小物体検知領域内に存在しているときには
、第1.第2の回折光検出信号がともに非回折光検出信
号よりも高し・ヘルとなり、検知領域外れ判定回路は検
知領域外れ信号を出力しない。
、第1.第2の回折光検出信号がともに非回折光検出信
号よりも高し・ヘルとなり、検知領域外れ判定回路は検
知領域外れ信号を出力しない。
微小物体が微小物体検知領域から正・逆いずれかの方向
に外れようとする瞬前に、その外れ方向に応じて一方の
回折光検出信号が非回折光検出信号よりも低しヘルとな
り、検知領域外れ判定回路は検知領域外れ信号を出力す
る。また、第1.第2の両回折光検出信号のレヘル差が
増大している。
に外れようとする瞬前に、その外れ方向に応じて一方の
回折光検出信号が非回折光検出信号よりも低しヘルとな
り、検知領域外れ判定回路は検知領域外れ信号を出力す
る。また、第1.第2の両回折光検出信号のレヘル差が
増大している。
第1.第2のいずれの回折光検出信号が高しヘルになる
かは、前述同様に微小物体の外れ方向による。外れ方向
判定回路は、第1.第2の回折光検出信号を比較し、検
知領域外れ信号を入力したタイミングで、微小物体の外
れ方向に応した外れ方向判定信号を出力する。この外れ
方向判定信号の“H”、“L”の区別によって微小物体
が微小物体検知領域から正・逆いずれの方向に外れよう
としているかを識別することができる。
かは、前述同様に微小物体の外れ方向による。外れ方向
判定回路は、第1.第2の回折光検出信号を比較し、検
知領域外れ信号を入力したタイミングで、微小物体の外
れ方向に応した外れ方向判定信号を出力する。この外れ
方向判定信号の“H”、“L”の区別によって微小物体
が微小物体検知領域から正・逆いずれの方向に外れよう
としているかを識別することができる。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第3図は微小物体外れ方向検出装置の基本光学系を示す
概略構成図である。
概略構成図である。
投光部1は、投光素子2と、この投光素子2に光軸が一
致した投光レンズ3とからなる。投光素子2ば、投光レ
ンズ3の焦点位置よりわずかに投光レンズ3に近い側に
位置している。投光素子2としては、レーザダイオード
(LD)や発光ダイオード(LED)が用いられる。
致した投光レンズ3とからなる。投光素子2ば、投光レ
ンズ3の焦点位置よりわずかに投光レンズ3に近い側に
位置している。投光素子2としては、レーザダイオード
(LD)や発光ダイオード(LED)が用いられる。
受光部4は、結像レンズ5と、これに対向した受光素子
6とからなる。投光部1と受光部4とは、互いに光軸が
一致する状態で対向してハツチングで示す微小物体検知
領域aを形成している。受光素子6は、結像レンズ5の
焦点位置に位置している。
6とからなる。投光部1と受光部4とは、互いに光軸が
一致する状態で対向してハツチングで示す微小物体検知
領域aを形成している。受光素子6は、結像レンズ5の
焦点位置に位置している。
受光素子6は、第4図に示すように、光軸上に配置され
た受光面積の小さい非回折光受光素子7と、この非回折
光受光素子7の上下両側に配置された受光面積の大きい
第1.第2の回折光受光素子8a、8bとから構成され
ている。これら各受光素子7.8a、8bはフォトダイ
オード(PD)で構成されている。
た受光面積の小さい非回折光受光素子7と、この非回折
光受光素子7の上下両側に配置された受光面積の大きい
第1.第2の回折光受光素子8a、8bとから構成され
ている。これら各受光素子7.8a、8bはフォトダイ
オード(PD)で構成されている。
第5図は微小物体mの位置と受光素子6の受光面におけ
る光強度分布との関係を示す。
る光強度分布との関係を示す。
第5図(a)は微小物体検知領域a内に微小物体mが存
在しない場合を示す。この場合、投光部1から出射され
結像レンズ5を介して受光素子6の受光面に入射する光
ビームは、光軸上にある非回折光受光素子7のめに集中
して入射し、第1第2の回折光受光素子8a、8bには
入射しない。
在しない場合を示す。この場合、投光部1から出射され
結像レンズ5を介して受光素子6の受光面に入射する光
ビームは、光軸上にある非回折光受光素子7のめに集中
して入射し、第1第2の回折光受光素子8a、8bには
入射しない。
したがって、非回折光受光素子7から非回折光検出信号
が出力されるのに対し、第1.第2の回折光受光素子3
a、3bからは回折光検出信号は出力されない。
が出力されるのに対し、第1.第2の回折光受光素子3
a、3bからは回折光検出信号は出力されない。
第5図(b)は微小物体検知領域2〕内において光軸上
に微小物体mが存在している場合を示す。
に微小物体mが存在している場合を示す。
この場合、光ビームが微小物体mによって回折されるた
め、光強度分布は大きく変化する。すなわち、非回折光
受光素子7には依然として高しヘルの光ビームが入射さ
れるが、第1.第2の回折光受光素子8a、8bにもレ
ヘルは低いが光ビームが入射される。両回折光受光素子
3a、3bにおいて光強度分布は同しヘルで対称である
。したがって、第1.第2の回折光受光素子8a、8b
から同しヘルの回折光検出信号が出力される。非回折光
受光素子7からの非回折光検出信号のレヘルは不変であ
る。
め、光強度分布は大きく変化する。すなわち、非回折光
受光素子7には依然として高しヘルの光ビームが入射さ
れるが、第1.第2の回折光受光素子8a、8bにもレ
ヘルは低いが光ビームが入射される。両回折光受光素子
3a、3bにおいて光強度分布は同しヘルで対称である
。したがって、第1.第2の回折光受光素子8a、8b
から同しヘルの回折光検出信号が出力される。非回折光
受光素子7からの非回折光検出信号のレヘルは不変であ
る。
第5図(C)は微小物体rnが微小物体検知領域aから
Z1方向(正方向)に外れるようとする瞬前の状態を示
す。この場合、微小物体mによって回折された光ビーム
は、第2の回折光受光素子8bには入射するが、結像レ
ンズ5の開口制限を受けるため、第1の回折光受光素子
8aにはほとんど入射しない。第5図(b)の場合と比
べて、第1の回折光受光素子8aへの入射光量は激減す
る。
Z1方向(正方向)に外れるようとする瞬前の状態を示
す。この場合、微小物体mによって回折された光ビーム
は、第2の回折光受光素子8bには入射するが、結像レ
ンズ5の開口制限を受けるため、第1の回折光受光素子
8aにはほとんど入射しない。第5図(b)の場合と比
べて、第1の回折光受光素子8aへの入射光量は激減す
る。
第2の回折光受光素子8bへの入射光量は少し減少する
。非回折光受光素子7への入射光量は変わらない。
。非回折光受光素子7への入射光量は変わらない。
したがって、第1の回折光受光素子8aからの回折光検
出信号のレヘルは大幅に低下するのに対して、第2の回
折光受光素子8bからの回折光検出信号のレヘルは少し
低下し、非回折光受光素子7からの非回折光検出信号の
レヘルは不変である。
出信号のレヘルは大幅に低下するのに対して、第2の回
折光受光素子8bからの回折光検出信号のレヘルは少し
低下し、非回折光受光素子7からの非回折光検出信号の
レヘルは不変である。
1
第5図(d)は微小物体mが微小物体検知領域aから2
2方向(逆方向)に外れるようとする瞬前の状態を示す
。この場合、微小物体mによって回折された光ビームは
、第1の回折光受光素子8aには入射するが、第2の回
折光受光素子8bにはほとんど入射しない。第5図(C
)の場合と対照的である。第5図(b)の場合と比べる
と、第2の回折光受光素子8bへの入射光景は激減する
。
2方向(逆方向)に外れるようとする瞬前の状態を示す
。この場合、微小物体mによって回折された光ビームは
、第1の回折光受光素子8aには入射するが、第2の回
折光受光素子8bにはほとんど入射しない。第5図(C
)の場合と対照的である。第5図(b)の場合と比べる
と、第2の回折光受光素子8bへの入射光景は激減する
。
第1の回折光受光素子8aへの入射光量は少し減少し、
非回折光受光素子7への入射光量は変わらない。
非回折光受光素子7への入射光量は変わらない。
したがって、第2の回折光受光素子8bからの回折光検
出信号のレヘルは大幅に低下するのに対して、第1の回
折光受光素子8aからの回折光検出信号のレヘルは少し
低下し、非回折光受光素子7からの非回折光検出信号の
レヘルは不変である。
出信号のレヘルは大幅に低下するのに対して、第1の回
折光受光素子8aからの回折光検出信号のレヘルは少し
低下し、非回折光受光素子7からの非回折光検出信号の
レヘルは不変である。
微小物体mが第5図(b)と(C)との中間位置または
第5図(b)と(d)との中間位置に存在するときは、
微小物体mが光軸上に存在するときを基準として、微小
物体mが離れていく側の回2 折光検出信号しヘルは不変であり、微小物体mが近づい
ていく側の回折光検出信号レヘルは光軸からの距離に応
して増減する。
第5図(b)と(d)との中間位置に存在するときは、
微小物体mが光軸上に存在するときを基準として、微小
物体mが離れていく側の回2 折光検出信号しヘルは不変であり、微小物体mが近づい
ていく側の回折光検出信号レヘルは光軸からの距離に応
して増減する。
以上の光強度分布をまとめると、第2図(a)のように
なる。ただし、ここで示された第1の回折光受光素子8
aに対応した第】の回折光検出信号Sa、第2の回折光
受光素子3 bに対応した第2の回折光検出信号sbお
よび非回折光受光素子7に対応した非回折光検出信号(
スレノショルドレヘル信号5ref)は、次に説明する
第1図の回路において整流平滑された後のものである。
なる。ただし、ここで示された第1の回折光受光素子8
aに対応した第】の回折光検出信号Sa、第2の回折光
受光素子3 bに対応した第2の回折光検出信号sbお
よび非回折光受光素子7に対応した非回折光検出信号(
スレノショルドレヘル信号5ref)は、次に説明する
第1図の回路において整流平滑された後のものである。
第1図は微小物体外れ方向検出装置の電気的構成を示す
ブロック回路図である。
ブロック回路図である。
投光部1における投光素子2は、発振回路9によってド
ライブされ、パルス変調光を出力するようになっている
。
ライブされ、パルス変調光を出力するようになっている
。
受光部4における各受光素子7.3a、3bは、次段の
信号処理部10に接続されている。信号処理部10の回
路構成は次のとおりである。
信号処理部10に接続されている。信号処理部10の回
路構成は次のとおりである。
第1.第2の回折光受光素子8a、8bはそれぞれ、定
常的な直流外乱光成分を除去する直流カット用結合コン
デンサlla、Ilb、増幅回路12a、12b、所要
の周波数成分のみを通過させるフィルタ13a、13b
、整流回路14a。
常的な直流外乱光成分を除去する直流カット用結合コン
デンサlla、Ilb、増幅回路12a、12b、所要
の周波数成分のみを通過させるフィルタ13a、13b
、整流回路14a。
14b、平滑回路15a、15bを介して検知領域外れ
判定回路16および外れ方向判定回路17に接続されて
いる。
判定回路16および外れ方向判定回路17に接続されて
いる。
非回折光受光素子7も同様に、直流カット用結合コンデ
ンサ11C1増幅回路12C、フィルタ13C1整流回
路14C1平滑回路15Cを介して検知領域外れ判定回
路16および外れ方向判定回路17に接続されている。
ンサ11C1増幅回路12C、フィルタ13C1整流回
路14C1平滑回路15Cを介して検知領域外れ判定回
路16および外れ方向判定回路17に接続されている。
検知領域外れ判定回路16は、第1のコンパレータCo
ll1p1と第2のコンパレータComp2とオアゲ−
)OR1とから構成されている。外れ方向判定回路17
は、第3のコンパレータComp3とランチ回路18と
から構成されている。
ll1p1と第2のコンパレータComp2とオアゲ−
)OR1とから構成されている。外れ方向判定回路17
は、第3のコンパレータComp3とランチ回路18と
から構成されている。
第1の回折光受光素子8aに関連し第1の回折光検出信
号Saを出力する平滑回路15aの出力端子は、第1の
コンパレータCoa+plの反転入力端5 子(−)および第3のコンパレータCosp3の反転入
力端子(−)に接続されている。第2の回折光受光素子
8bに関連し第2の回折光検出信号sbを出力する平滑
回路15bの出力端子は、第2のコンパレータComp
2の反転入力端子(−)および第3のコンパレータCo
mp3の非反転入力端子(+)に接続されている。非回
折光受光素子7に関連しスレッショルドレベル信号5r
efを出力する平滑回路15Cの出力端子は、第1のコ
ンパレータComplの非反転入力端子(+)および第
2のコンパレータ(:、 omp2の非反転入力端子(
+)に接続されている。
号Saを出力する平滑回路15aの出力端子は、第1の
コンパレータCoa+plの反転入力端5 子(−)および第3のコンパレータCosp3の反転入
力端子(−)に接続されている。第2の回折光受光素子
8bに関連し第2の回折光検出信号sbを出力する平滑
回路15bの出力端子は、第2のコンパレータComp
2の反転入力端子(−)および第3のコンパレータCo
mp3の非反転入力端子(+)に接続されている。非回
折光受光素子7に関連しスレッショルドレベル信号5r
efを出力する平滑回路15Cの出力端子は、第1のコ
ンパレータComplの非反転入力端子(+)および第
2のコンパレータ(:、 omp2の非反転入力端子(
+)に接続されている。
第1および第2のコンパレータCompl 、 Co
mp2の各出力端子はオアゲー)OR1の2入力端子に
接続され、第3のコンパレータComp3の出力端子は
ランチ回路18の入力端子に接続されている。
mp2の各出力端子はオアゲー)OR1の2入力端子に
接続され、第3のコンパレータComp3の出力端子は
ランチ回路18の入力端子に接続されている。
オアゲー)OR1は検知領域外れ信号Scを出力するも
ので、その出力端子は、ランチ回路18のランチ入力端
子に接続されているとともに、外部出力端子T1を介し
てマイクロコンピュータ19に接続されている。ランチ
回路18は外れ方向判定信号Sdを出力するもので、そ
の出力端子は、外部出力端子T2を介してマイクロコン
ピュータ19に接続されている。ランチ回路18はマイ
クロコンピュータ19からの信号によってリセフトされ
るように構成されている。
ので、その出力端子は、ランチ回路18のランチ入力端
子に接続されているとともに、外部出力端子T1を介し
てマイクロコンピュータ19に接続されている。ランチ
回路18は外れ方向判定信号Sdを出力するもので、そ
の出力端子は、外部出力端子T2を介してマイクロコン
ピュータ19に接続されている。ランチ回路18はマイ
クロコンピュータ19からの信号によってリセフトされ
るように構成されている。
なお、必要に応じて、第1.第2のコンパレータCom
pl、 Cowρ2の出力端子を、各々インバータ2
0.21を介してオアゲートOR2の2入力端子に接続
し、オアゲー1−0R2から微小物体検知信号Seを外
部出力端子T3を介してマイクロコンピュータ19に出
力するように構成してもよい。
pl、 Cowρ2の出力端子を、各々インバータ2
0.21を介してオアゲートOR2の2入力端子に接続
し、オアゲー1−0R2から微小物体検知信号Seを外
部出力端子T3を介してマイクロコンピュータ19に出
力するように構成してもよい。
検知領域外れ判定回路16は、第1の回折光検出信号S
aおよび第2の回折光検出信号sbをスレソショルドレ
ヘル信号S refと比較して、再回折光検出信号Sa
、Sbの少なくともいずれか一方がスレソショルドレヘ
ル信号S refよりも低レベルになったときに“H”
レベルの検知領域外れ信号SCを出力するものである。
aおよび第2の回折光検出信号sbをスレソショルドレ
ヘル信号S refと比較して、再回折光検出信号Sa
、Sbの少なくともいずれか一方がスレソショルドレヘ
ル信号S refよりも低レベルになったときに“H”
レベルの検知領域外れ信号SCを出力するものである。
また、外れ方向判定回路17は、第1の回折光検出信号
Saと第2の回折光検出信号sbとレヘル比較して、そ
の比較結果の外れ方向判定信号Sd(“H”または“L
”)を、検知領域外れ信号Scの入力のタイミングで出
力するものである。
Saと第2の回折光検出信号sbとレヘル比較して、そ
の比較結果の外れ方向判定信号Sd(“H”または“L
”)を、検知領域外れ信号Scの入力のタイミングで出
力するものである。
第1.第2の回折光受光素子8a、8bに関連する増幅
回路12a、12bの増幅率は、微小物体検知領域a内
に微小物体mが存在するときに、第1.第2の回折光受
光素子8a、8bに係る第1、第2の回折光検出信号S
a、Sbのレベルが非回折光受光素子7に係るスレッシ
ョルドレベル信号5refよりも高くなるように、非回
折光受光素子7に関連する増幅回路12Cの増幅率より
も充分に高く設定されている。
回路12a、12bの増幅率は、微小物体検知領域a内
に微小物体mが存在するときに、第1.第2の回折光受
光素子8a、8bに係る第1、第2の回折光検出信号S
a、Sbのレベルが非回折光受光素子7に係るスレッシ
ョルドレベル信号5refよりも高くなるように、非回
折光受光素子7に関連する増幅回路12Cの増幅率より
も充分に高く設定されている。
次に、この実施例の微小物体外れ方向検出装置の動作を
説明する。
説明する。
発振回路9を駆動して投光素子2からパルス変調光を出
射させる。パルス変調光は投光レンズ3を介して微小物
体検知領域aを形威し、この微小物体検知領域aからの
パルス変調光が結像レンズ5を介して受光素子6に入射
する。受光素子6における第1.第2の回折光受光素子
8a、8bおよび非回折光受光素T−7は、入射光量に
応した電流を出力し、これが電圧に変換され、直流外乱
光成分を除去され、増幅、フィルタリング、整流、平滑
の各処理を施されて、それぞれ第1.第2の回折光検出
信号Sa、Sbおよびスレッショルドレベル信号5re
fとして検知領域外れ判定回路I6および外れ方向判定
回路17に入力される。
射させる。パルス変調光は投光レンズ3を介して微小物
体検知領域aを形威し、この微小物体検知領域aからの
パルス変調光が結像レンズ5を介して受光素子6に入射
する。受光素子6における第1.第2の回折光受光素子
8a、8bおよび非回折光受光素T−7は、入射光量に
応した電流を出力し、これが電圧に変換され、直流外乱
光成分を除去され、増幅、フィルタリング、整流、平滑
の各処理を施されて、それぞれ第1.第2の回折光検出
信号Sa、Sbおよびスレッショルドレベル信号5re
fとして検知領域外れ判定回路I6および外れ方向判定
回路17に入力される。
以下、検知領域外れ判定回路16および外れ方向判定回
路17の動作を第2図に基づいて詳しく説明する。第2
図の(a)は微小物体mの位置と第1.第2の回折光検
出信号Sa、Sbのレベルとの関係を示す特性図、(b
)はそれに対応した各部の信号波形図である。
路17の動作を第2図に基づいて詳しく説明する。第2
図の(a)は微小物体mの位置と第1.第2の回折光検
出信号Sa、Sbのレベルとの関係を示す特性図、(b
)はそれに対応した各部の信号波形図である。
[1]微小物体mが第5図(b)のように微小物体検知
領域a内で光軸上に在在するとき、第1第2の回折光受
光素子8a、8bに係る第1.第2の回折光検出信号S
a、Sbのレベルは互いに等しく、かつ、いずれも非回
折光受光素子7に係るスレッショルドレベル信号S r
efよりも高くなっている。したがって、第1.第2の
コンパレークCompl、 Comp2の出力は″l
、″レヘルとなり、オアゲー)OR1の出力である検知
領域外れ信号Scは“L”レベルとなるから、ラッチ回
路]8にはラッチがかからず、ラッチ回路18からは第
3のコンパレータComp3の出力がそのまま出力され
る。この場合は、両回折光検出信号Sa、Sbのレベル
が等しいので“’ L ”レベルが出力される。
領域a内で光軸上に在在するとき、第1第2の回折光受
光素子8a、8bに係る第1.第2の回折光検出信号S
a、Sbのレベルは互いに等しく、かつ、いずれも非回
折光受光素子7に係るスレッショルドレベル信号S r
efよりも高くなっている。したがって、第1.第2の
コンパレークCompl、 Comp2の出力は″l
、″レヘルとなり、オアゲー)OR1の出力である検知
領域外れ信号Scは“L”レベルとなるから、ラッチ回
路]8にはラッチがかからず、ラッチ回路18からは第
3のコンパレータComp3の出力がそのまま出力され
る。この場合は、両回折光検出信号Sa、Sbのレベル
が等しいので“’ L ”レベルが出力される。
ただし、マイクロコンピュータ19では、検知領域外れ
信号Sしが“I、゛レベルであるから、外れ方向判定信
号Sdが“I、”レベルであったとしても、これを取り
込まない。
信号Sしが“I、゛レベルであるから、外れ方向判定信
号Sdが“I、”レベルであったとしても、これを取り
込まない。
なお、インバータ20.21、オアゲート○R2を接続
した場合には、第1.第2のコンバータComp1.
Comp2からの″17″レヘルの信号がインバータ
20.21で反転されて“l(”レベルとなり、これが
オアゲートOR2を介して微小物体検知信号Seとして
マイクロコンビエータ19に入力されるから、マイクロ
コンピュータ19は微小物体mが微小物体検知領域a内
に花在すると判9 定する。
した場合には、第1.第2のコンバータComp1.
Comp2からの″17″レヘルの信号がインバータ
20.21で反転されて“l(”レベルとなり、これが
オアゲートOR2を介して微小物体検知信号Seとして
マイクロコンビエータ19に入力されるから、マイクロ
コンピュータ19は微小物体mが微小物体検知領域a内
に花在すると判9 定する。
[2]微小物体mが光軸からZ1方向に変位するのに伴
って、第1の回折光検出信号Saが次第に減少し、第3
のコンパレータComp3の出力が“I4”レベルとな
る。
って、第1の回折光検出信号Saが次第に減少し、第3
のコンパレータComp3の出力が“I4”レベルとな
る。
微小物体mがZ1方向で微小物体検知領域aの境界から
外れようとする暗部に、第1の回折光検出信号Saのレ
ベルがスレッショルドレベル信号5refに達してそれ
を下回る結果、第1のコンパレータC0III+)1の
出力が″L″レヘルから” H”レベルに反転する。こ
れがオアゲートORIを介して“I4”レベルの検知領
域外れ信号Scとしてラッチ回路18のラッチ入力端子
に出力されるから、ランチ回路18は、第3のコンパレ
ークComp3からの“H”レベルの信号を外れ方1i
i1判定信号Sdとして出力する。
外れようとする暗部に、第1の回折光検出信号Saのレ
ベルがスレッショルドレベル信号5refに達してそれ
を下回る結果、第1のコンパレータC0III+)1の
出力が″L″レヘルから” H”レベルに反転する。こ
れがオアゲートORIを介して“I4”レベルの検知領
域外れ信号Scとしてラッチ回路18のラッチ入力端子
に出力されるから、ランチ回路18は、第3のコンパレ
ークComp3からの“H”レベルの信号を外れ方1i
i1判定信号Sdとして出力する。
マイクロコンピュータ19は、“H”レベルの検知領域
外れ信号Scを入力して、“T−1”レベルの外れ方向
判定信号Sdを取り込み、微小物体mの外れ方向がZ1
方向であると判定する。
外れ信号Scを入力して、“T−1”レベルの外れ方向
判定信号Sdを取り込み、微小物体mの外れ方向がZ1
方向であると判定する。
0
このように、微小物体mが検知領域aから外れようとす
る暗部に外れ方向を判定するのは、外れた後に判定した
のでは微小物体mを検知領域a内に戻す動作が遅れてし
まい微小物体mに不都合が発生ずるからである(例えば
微小物体mがボンディングワイヤである場合;第6図に
関する後述の説明参照)。しかし、検知領域aから外れ
ようとする暗部とはいっても、実質的に外れる瞬間であ
るといえる。
る暗部に外れ方向を判定するのは、外れた後に判定した
のでは微小物体mを検知領域a内に戻す動作が遅れてし
まい微小物体mに不都合が発生ずるからである(例えば
微小物体mがボンディングワイヤである場合;第6図に
関する後述の説明参照)。しかし、検知領域aから外れ
ようとする暗部とはいっても、実質的に外れる瞬間であ
るといえる。
なお、インバータ20.21、オアゲー1〜○R2を接
続した場合には、次のようになる。すなわち、第1の回
折光検出信BS、3のレベルがスレッショルドレベル信
号5refを下回った状態でも、第2の回折光検出信号
sbがスレッショルドレベル信号5refを上回ってい
る検知領域aの境界線上までは、第2のコンパレータC
omp2の出力が“L”レベルであるから、インバータ
21を介して反転されオアゲートOR2から出力される
“I(”レベルの微小物体検知信号Seがマイクロコン
ピュータ19によって入力される。
続した場合には、次のようになる。すなわち、第1の回
折光検出信BS、3のレベルがスレッショルドレベル信
号5refを下回った状態でも、第2の回折光検出信号
sbがスレッショルドレベル信号5refを上回ってい
る検知領域aの境界線上までは、第2のコンパレータC
omp2の出力が“L”レベルであるから、インバータ
21を介して反転されオアゲートOR2から出力される
“I(”レベルの微小物体検知信号Seがマイクロコン
ピュータ19によって入力される。
そして、マイクロコンピュータ19は、−H”レベルの
微小物体検知信号Seと″H″レベルの外れ方向判定信
号Sdとに基づいて、微小物体mが検知領域aの境界線
上にあって、Z1方向に外れようとしている暗部である
と判定する。
微小物体検知信号Seと″H″レベルの外れ方向判定信
号Sdとに基づいて、微小物体mが検知領域aの境界線
上にあって、Z1方向に外れようとしている暗部である
と判定する。
[3]上記の[2]とは逆に、微小物体mが光軸からZ
2方向に変位するのに伴って、第2の回折光検出信号s
bが次第に減少し、第3のコンパレータComp3の出
力が”L″レヘルなる。微小物体mが22方向で微小物
体検知領域aの境界から外れるようとする暗部に、第2
の回折光検出信号sbのレベルがスレソショルドレヘル
信号5refに達してそれを下回る結果、第2のコンパ
レータComp2の出力が“L”レベルから“H”レベ
ルに反転する。これがオアゲー)OR1を介して”H”
レベルの検知領域外れ信号Scとしてランチ回路18の
ランチ入力端子に出力されるから、う・ノチ回路18は
、第3のコンパレータComp3からの“L”レベルの
信号を外れ方向判定信号Sdとして出力する。
2方向に変位するのに伴って、第2の回折光検出信号s
bが次第に減少し、第3のコンパレータComp3の出
力が”L″レヘルなる。微小物体mが22方向で微小物
体検知領域aの境界から外れるようとする暗部に、第2
の回折光検出信号sbのレベルがスレソショルドレヘル
信号5refに達してそれを下回る結果、第2のコンパ
レータComp2の出力が“L”レベルから“H”レベ
ルに反転する。これがオアゲー)OR1を介して”H”
レベルの検知領域外れ信号Scとしてランチ回路18の
ランチ入力端子に出力されるから、う・ノチ回路18は
、第3のコンパレータComp3からの“L”レベルの
信号を外れ方向判定信号Sdとして出力する。
マイクロコンピュータ19は、uH”レベルの検知領域
外れ信号SCを入力して、“L”レベルの外れ方向判定
信号S、dを取り込み、微小物体mの外れ方向がZ2方
向であると判定する。
外れ信号SCを入力して、“L”レベルの外れ方向判定
信号S、dを取り込み、微小物体mの外れ方向がZ2方
向であると判定する。
なお、インバータ20,21、オアゲートOR2を接続
した場合には、次のようになる。すなわち、第2の回折
光検出信号sbのレベルがスレソショルドレヘル信号5
refを下回った状態でも、第1の回折光検出信号Sa
がスレッショルドレベル信号5refを上回っている検
知領域aの境界線上までは第1のコンパレータComp
lの出力が“L″レベルあるから、インバータ20を介
して反転されオアゲー1−OR2から出力される“H”
レベルの微小物体検知信号Seがマイクロコンピュータ
19によって入力される。
した場合には、次のようになる。すなわち、第2の回折
光検出信号sbのレベルがスレソショルドレヘル信号5
refを下回った状態でも、第1の回折光検出信号Sa
がスレッショルドレベル信号5refを上回っている検
知領域aの境界線上までは第1のコンパレータComp
lの出力が“L″レベルあるから、インバータ20を介
して反転されオアゲー1−OR2から出力される“H”
レベルの微小物体検知信号Seがマイクロコンピュータ
19によって入力される。
マイクロコンピュータ19は、” H”レベルの微小物
体検知信号SeとL”レベルの外れ方向判定信号Sdと
に基づいて、微小物体mが検知領域aの境界線上にあっ
て、Z2方向に外れようとしている暗部であると判定す
る。
体検知信号SeとL”レベルの外れ方向判定信号Sdと
に基づいて、微小物体mが検知領域aの境界線上にあっ
て、Z2方向に外れようとしている暗部であると判定す
る。
3
第6図は、上記した本実施例の微小物体外れ方向検出装
置の適用対象の一例である微小線材巻取機の概略構成を
示す。
置の適用対象の一例である微小線材巻取機の概略構成を
示す。
22は送出し用ボビン、23は巻取り用ボビン、mは両
ボビン22.23間に巻き掛けられた微小線材mである
。微小線材巻取機においては、微小線材mのたるみ量を
適正な範囲に保つことが非常に重要である。たるみ量が
小さ過ぎると微小線材mにかかる張力が大き過ぎて、微
小線材mが不測に切断されてしまうおそれがあり、逆に
、たるみ量が大き過ぎると微小線材mが絡まって変形し
たり切断されたりするおそれがあるためである。
ボビン22.23間に巻き掛けられた微小線材mである
。微小線材巻取機においては、微小線材mのたるみ量を
適正な範囲に保つことが非常に重要である。たるみ量が
小さ過ぎると微小線材mにかかる張力が大き過ぎて、微
小線材mが不測に切断されてしまうおそれがあり、逆に
、たるみ量が大き過ぎると微小線材mが絡まって変形し
たり切断されたりするおそれがあるためである。
たるみ量を適正な範囲に保つためには、微小線材mの送
出し速度と巻取り速度とをたるみ量に応して的確に制御
する必要がある。しかし、従来、たるみ量が適正な範囲
かどうかをモニタするのに適当な方法がなかつために、
的確な速度制御が困難であった。特に、10μmオーダ
ーのボンディングワイヤの巻取りについては、ボンディ
ングワイヤの検知自体が困難であった。
出し速度と巻取り速度とをたるみ量に応して的確に制御
する必要がある。しかし、従来、たるみ量が適正な範囲
かどうかをモニタするのに適当な方法がなかつために、
的確な速度制御が困難であった。特に、10μmオーダ
ーのボンディングワイヤの巻取りについては、ボンディ
ングワイヤの検知自体が困難であった。
4
しかるに、本実施例の微小物体外れ方向検出装置は、微
小線材mのたるみ量が適正な範囲から外れる方向をその
外れの暗部に検知して、フィードバンク制御によって送
出し速度と巻取り速度のいずれか一方または両方をコン
トロールする上で非常に好適である。
小線材mのたるみ量が適正な範囲から外れる方向をその
外れの暗部に検知して、フィードバンク制御によって送
出し速度と巻取り速度のいずれか一方または両方をコン
トロールする上で非常に好適である。
すなわち、前述の微小物体検知領域aをたるみ量の適正
な範囲を定めるものとして設定し、微小物体検知領域a
から微小線材mが21方向に外れようとする暗部にマイ
クロコンピュータ19が前記のランチ回路18から“H
”レベルの外れ方向判定信号Sdを取り込んで、たるみ
量が許容最小値からさらに減少しようとしている暗部で
あることを判定し、送出し用ボビン22の駆動モータの
ドライバに増速指令のフィードハック信号を出力するか
、または、巻取り用ボビン23の駆動モータのトライバ
に減速指令のフィードバック信号を出力する。
な範囲を定めるものとして設定し、微小物体検知領域a
から微小線材mが21方向に外れようとする暗部にマイ
クロコンピュータ19が前記のランチ回路18から“H
”レベルの外れ方向判定信号Sdを取り込んで、たるみ
量が許容最小値からさらに減少しようとしている暗部で
あることを判定し、送出し用ボビン22の駆動モータの
ドライバに増速指令のフィードハック信号を出力するか
、または、巻取り用ボビン23の駆動モータのトライバ
に減速指令のフィードバック信号を出力する。
これとは逆に、微小線+Amが検知領域aからZ2方向
に外れようとする暗部には“L”レベルの外れ方向判定
信号Sdを取り込んで、たるみ量が許容最大値からさら
に増大しようとする暗部であることを判定し、前述とは
反対の減速または増速の指令のフィートハック信号を出
力する。
に外れようとする暗部には“L”レベルの外れ方向判定
信号Sdを取り込んで、たるみ量が許容最大値からさら
に増大しようとする暗部であることを判定し、前述とは
反対の減速または増速の指令のフィートハック信号を出
力する。
これによって、自動的に常に微小線+Amのたるみ量を
適正な範囲内に収めることができる。
適正な範囲内に収めることができる。
なお、上述した実施例においては、発振回路9によって
投光素子2をドライブしてパルス変調光を出射させたが
、外乱光成分の影響がない場合には連続光としてもよい
。
投光素子2をドライブしてパルス変調光を出射させたが
、外乱光成分の影響がない場合には連続光としてもよい
。
〈発明の効果〉
以上のことから、本発明によれば、次のような効果が発
揮される。
揮される。
すなわち、微小物体が微小物体検知領域から正逆いずれ
かの方向に外れるようとする暗部に、外れ方向判定回路
が微小物体の外れ方向に応して“H”または“■5”の
外れ方向判定信号を出力するように構成したので、微小
物体が微小物体検知領域から正・逆いずれの方向に外れ
ようとしているかを識別することができる。
かの方向に外れるようとする暗部に、外れ方向判定回路
が微小物体の外れ方向に応して“H”または“■5”の
外れ方向判定信号を出力するように構成したので、微小
物体が微小物体検知領域から正・逆いずれの方向に外れ
ようとしているかを識別することができる。
そして、このような機能を、投光部と、非回折光受光素
子および一対の回折光受光素子を備えた受光部と、検知
領域外れ判定回路と外れ方向判定回路を備えた信号処理
部とによって発揮させるから、部品点数が少なくてすみ
低コスト化と小型化とを達成することができるとともに
、投光部と受光部とがIMiだけであり、投光部からの
出射光の領域を微小物体検知領域とすることができるの
で、その微小物体検知領域を広いものにすることができ
る。
子および一対の回折光受光素子を備えた受光部と、検知
領域外れ判定回路と外れ方向判定回路を備えた信号処理
部とによって発揮させるから、部品点数が少なくてすみ
低コスト化と小型化とを達成することができるとともに
、投光部と受光部とがIMiだけであり、投光部からの
出射光の領域を微小物体検知領域とすることができるの
で、その微小物体検知領域を広いものにすることができ
る。
第1図ないし第6図は本発明の一実施例に係り、第1図
は微小物体外れ方向検出装置の電気的構成を示すブロッ
ク回路図、第2図の(a)は微小物体の位置と第1.第
2の回折光検出信号のレヘルとの関係を示す特性図、(
b)はそれに対応した各部の信号波形図、第3図は微小
物体外れ方向検出装置の基本光学系を示す概略構成図、
第4図は受光素子を拡大して示した正面図、第5図の(
a)〜(d)は微小物体の位置と受光素子の受光1 面における光強度分布との関係を示す特性図、第6図は
本実施例の微小物体外れ方向検出装置の適用対象の一例
である微小線材巻取機の概略構成図である。第7図は従
来の微小物体検知装置を用いて微小物体外れ方向検出装
置を構成した場合の概略構成図である。
は微小物体外れ方向検出装置の電気的構成を示すブロッ
ク回路図、第2図の(a)は微小物体の位置と第1.第
2の回折光検出信号のレヘルとの関係を示す特性図、(
b)はそれに対応した各部の信号波形図、第3図は微小
物体外れ方向検出装置の基本光学系を示す概略構成図、
第4図は受光素子を拡大して示した正面図、第5図の(
a)〜(d)は微小物体の位置と受光素子の受光1 面における光強度分布との関係を示す特性図、第6図は
本実施例の微小物体外れ方向検出装置の適用対象の一例
である微小線材巻取機の概略構成図である。第7図は従
来の微小物体検知装置を用いて微小物体外れ方向検出装
置を構成した場合の概略構成図である。
Claims (1)
- (1)互いに対向して微小物体検知領域を形成する投光
部および受光部と、信号処理部とから構成され、 前記受光部が、光軸上に配置された非回折光受光素子と
、この非回折光受光素子の両側に配置された第1、第2
の一対の回折光受光素子とを備え、前記信号処理部が、
前記第1、第2の両回折光受光素子による第1、第2の
回折光検出信号を非回折光受光素子による非回折光検出
信号と比較していずれか一方の回折光検出信号が非回折
光検出信号よりも低レベルになったときに検知領域外れ
信号を出力する検知領域外れ判定回路と、前記第1、第
2の回折光検出信号どうしを比較してその比較結果の外
れ方向判定信号を前記検知領域外れ信号の入力のタイミ
ングで出力する外れ方向判定回路とを備えていることを
特徴とする微小物体外れ方向検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1287067A JPH03146806A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 微小物体外れ方向検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1287067A JPH03146806A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 微小物体外れ方向検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03146806A true JPH03146806A (ja) | 1991-06-21 |
Family
ID=17712625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1287067A Pending JPH03146806A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 微小物体外れ方向検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03146806A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004177222A (ja) * | 2002-11-26 | 2004-06-24 | Sunx Ltd | 検出センサ |
-
1989
- 1989-11-01 JP JP1287067A patent/JPH03146806A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004177222A (ja) * | 2002-11-26 | 2004-06-24 | Sunx Ltd | 検出センサ |
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