JPH03138775A - Crack measuring system - Google Patents

Crack measuring system

Info

Publication number
JPH03138775A
JPH03138775A JP27602189A JP27602189A JPH03138775A JP H03138775 A JPH03138775 A JP H03138775A JP 27602189 A JP27602189 A JP 27602189A JP 27602189 A JP27602189 A JP 27602189A JP H03138775 A JPH03138775 A JP H03138775A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crack
image
width
cracks
binarization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP27602189A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH07111735B2 (en
Inventor
Masayuki Kimura
木村 應志
Yasuhiro Kasai
靖浩 笠井
▲ど▼居原 健
Takeshi Doihara
Kazuo Oda
和夫 織田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ASIA KOSOKU KK
Tokyo Electric Power Co Holdings Inc
Original Assignee
ASIA KOSOKU KK
Tokyo Electric Power Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ASIA KOSOKU KK, Tokyo Electric Power Co Inc filed Critical ASIA KOSOKU KK
Priority to JP27602189A priority Critical patent/JPH07111735B2/en
Publication of JPH03138775A publication Critical patent/JPH03138775A/en
Publication of JPH07111735B2 publication Critical patent/JPH07111735B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To improve the measurement precision of the crack width by using the crack position and the crack width, which are calculated on a compressed picture of high compression ratio, as a guide map to stepwise perform binarization, noise elimination, conversion to centerlines, and measurement of the crack width up to an original picture. CONSTITUTION:The picked-up image of an object surface is stepwise compressed, and this compressed picture is subjected to extraction processing using the line extraction circular filtering, binarization, conversion to centerlines, vectoring, noise separation processing of crack candidate parts to extract a crack part, and the crack width is approximately calculated in accordance with this extracted crack part by the linear operator method, and approximate crack position and width are used as the first guide map. Hereafter, in the compression order opposite to that of the stepwise compression processing, crack position and width calculated on the compressed picture of high compression ratio are used as the guide map and the crack part of the picture whose compression ratio is lower than this compressed picture by one step is repeatedly stepwise subjected to binarization, noise elimination, conversion to centerlines, and measurement of the crack width up to the original picture. Thus, cracks are measured without an influence of dirt or the like on the surface.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、物体に発生したひび割れを画像処理により解
析して測定するひび割れ測定システムに関し、更に詳し
くは、例えばビルディング、橋梁、道路、貯水ダム、水
路のような構造物のみならず、自動車、飛行機のような
物体等を構成するコンクリートや金属等に発生する例え
ば幅0.11Im〜3.0+a+sの範囲のひび割れを
画像処理により解析し、その幅、位置、形状、分布状況
等を測定するひび割れ測定システムに関する。
[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a crack measurement system that analyzes and measures cracks generated in an object by image processing. Image processing can detect cracks with a width of 0.11Im to 3.0+a+s that occur not only in structures such as roads, water storage dams, and waterways, but also in concrete and metal that make up objects such as cars and airplanes. This invention relates to a crack measurement system that analyzes cracks and measures their width, position, shape, distribution, etc.

(従来の技術) ビルディング、橋梁、道路、貯水ダム、水路や自動車、
飛行機等の構造物や物体を構成する鉄筋コンクリートや
金属等には、経年変化やその他種々の要因によりひび割
れが発生する。このようなひび割れを放置しておくと、
構造物や物体の耐久性や耐震性が低下する。
(Conventional technology) Buildings, bridges, roads, water storage dams, waterways, automobiles,
Cracks occur in reinforced concrete, metal, and the like that make up structures and objects such as airplanes due to aging and various other factors. If such cracks are left untreated,
The durability and earthquake resistance of structures and objects decrease.

従って、この種のひび割れの幅等を精度よく測定するこ
とが必要であるが、一般に0.1〜3゜Oas幅のひび
割れを精度よく画像処理して測定するには、画像を構成
する画素の密度は0.1m+sに少なくとも4画素(す
なわち、1画素当り0.025〜0.05mm程度の解
像度)が必要である。
Therefore, it is necessary to accurately measure the width etc. of this type of crack, but in general, in order to accurately measure a crack with a width of 0.1 to 3° Oas through image processing, the pixels constituting the image The density requires at least 4 pixels per 0.1 m+s (that is, a resolution of about 0.025 to 0.05 mm per pixel).

これだけの画素密度でひび割れの画像を構成すると、ひ
び割れは「線状構造である」という一般的な特徴(0,
2m−幅量下)の他に、[帯状の長く大きな領域である
」といった特徴(0゜2mII幅以上)も有することに
なる。
When an image of a crack is constructed with this pixel density, the crack has the general characteristic that it has a "linear structure" (0,
In addition to ``2m-width below'', it also has the characteristic of ``a long and large band-like area'' (with a width of 0°2mII or more).

また、ひび割れを画像処理してill定することは、ひ
び割れを写真等に写し込んだ画像を処理することである
が、この画像はひび割れによって生(だ影が写し込まれ
ている。そして、画像処理におけるひび割れの抽出は画
像に生じた影が物体の他の表面よりも黒くなっている箇
所を抽出することであるが、物体等の表面には、ひび割
れ以外の明暗を生じさせるもの、例えば汚れの付着、表
面の変色、表面の凹凸等のよる影等が存在するため、物
体の表面の明暗によって単純にひび割れを2値化して抽
出することができない。
Also, to determine the illumination of cracks through image processing is to process an image of the cracks captured in a photograph, etc., but this image contains shadows caused by the cracks. Extracting cracks in processing involves extracting areas where the shadow that appears in the image is darker than the other surface of the object. Because of the presence of shadows caused by adhesion, surface discoloration, surface irregularities, etc., it is not possible to simply binarize and extract cracks based on the brightness and darkness of the object's surface.

物体の表面の画像からひび割れを検出するには、物体の
全表面の画像全体を調べることが必要であるが、これを
行うには、画像全体を処理の対象とし、その中を網羅的
に探索してひび割れパターンを検出する画像処理アルゴ
リズムが必要である。
To detect cracks in an image of the surface of an object, it is necessary to examine the entire image of the entire surface of the object. An image processing algorithm is needed to detect crack patterns.

(発明が解決しようとする課題) 上述したように、ひび割れは線状構造の部分と帯状の長
く大きな部分という2つの部分に分類されるが、このよ
うなひび割れ部分を識別する画像処理アルゴリズムは、
ひび割れ幅に応じて「線状構造を解析するアルゴリズム
」を選択するか、または「長く大きな領域部分をひび割
れとして解析するアルゴリズム」を選択するかという2
つのアルゴリズムを使用することが必要となり、ひび割
れの幅に無関係に一意的に定めることができないという
問題がある。
(Problems to be Solved by the Invention) As mentioned above, cracks are classified into two parts: a linear structure part and a long, band-like part. Image processing algorithms for identifying such crack parts are
Depending on the width of the crack, there are two options: choose an algorithm that analyzes linear structures, or an algorithm that analyzes long and large areas as cracks.
This requires the use of two algorithms, and there is a problem in that it cannot be uniquely determined regardless of the width of the crack.

また、物体の表面にはひび割れ以外に汚れの付着等によ
る明暗があり、ひび割れを単純に2値化して抽出するこ
とができないという問題がある。
Furthermore, in addition to cracks, there are brightness and darkness on the surface of objects due to the adhesion of dirt, etc., and there is a problem in that cracks cannot be simply extracted by binarizing them.

更に、物体の表面の画像からひび割れを検出するには、
表面の画像全体に対して画像処理を行う必要があるが、
画像の解像度を上述したような画素密度に設定すると、
画像データは例えば50cmX50cmの物体の表面を
撮像する場合、400MBのメモリ容量を必要とするよ
うに膨大なものとなり、画像処理にかかる負担が増大し
、効率が低下するという問題がある。
Furthermore, to detect cracks from an image of the surface of an object,
Although it is necessary to perform image processing on the entire surface image,
If you set the image resolution to the pixel density described above,
For example, when capturing an image of the surface of a 50 cm x 50 cm object, the image data becomes enormous, requiring a memory capacity of 400 MB, which increases the burden on image processing and reduces efficiency.

本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的とす
るところは、例えば0.1mm幅程度の非常に細いひび
割れから2〜31幅程度の太いひび割れまでを表面の汚
れ等の影響を受けずに適確かつ効率的に認識しtlPJ
定するひび割れ測定システムを提O(することにある。
The present invention has been made in view of the above, and its purpose is to repair cracks ranging from very thin cracks with a width of about 0.1 mm to thick cracks with a width of about 2 to 31 mm, without being affected by surface dirt, etc. Accurately and efficiently recognize tlPJ without
Our objective is to develop a crack measurement system that will

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(課題を解決するための手段) 上記目的を達成するため、本発明のひび割れ測定システ
ムは、物体の表面に発生したひび割れを画像処理して測
定するひび割れ測定システムであって、物体の表面を撮
像した画像に線保存平滑化フィルタリングを施しながら
所定の圧縮比まで階層的に圧縮する階層的圧縮手段と、
該階層的圧縮手段で所定の圧縮比まで圧縮した画像に対
して、線抽出円形フィルタリングを用いたひび割れ候補
部の抽出処理、2値化、芯線化、ベクトル化およびノイ
ズ分離処理を施してひび割れ部を抽出する抽出手段と、
該抽出手段で抽出されたひび割れ部から直線オペレータ
法によりひび割れ幅を算出する概略ひび割れ幅算出手段
と、該概略ひび割れ線抽出手段および概略ひび割れ幅算
出手段で算出したひび割れ位置および幅を最初のガイド
マツプとし、以降は前記階層的圧縮手段で圧縮した順と
逆の順で圧縮比が大きい圧縮画像で算出したひび割れ位
置および幅をガイドマツプとして、該圧縮画像より圧縮
比が1段階小さい画像のひび割れ部に対して段階的に2
値化、ノイズ除去、芯線化、ひび割れ幅の計測を原画像
に達するまで行う詳細ひび割れ抽出針7111手段とを
有することを要旨とする。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the crack measurement system of the present invention is a crack measurement system that measures cracks generated on the surface of an object by image processing, and which captures an image of the surface of the object. hierarchical compression means for hierarchically compressing the image to a predetermined compression ratio while applying line-preserving smoothing filtering to the image;
The image compressed to a predetermined compression ratio by the hierarchical compression means is subjected to crack candidate extraction processing using line extraction circular filtering, binarization, skeletonization, vectorization, and noise separation processing to extract cracks. an extraction means for extracting the
An approximate crack width calculation means for calculating a crack width from the crack extracted by the extraction means by a straight line operator method, and the crack position and width calculated by the approximate crack line extraction means and the approximate crack width calculation means as an initial guide map. From then on, using the crack position and width calculated in the compressed image with the higher compression ratio in the reverse order of the order compressed by the hierarchical compression means as a guide map, the crack position and width of the image with the compression ratio one step lower than the compressed image are used as a guide map. Step by step 2
The main feature is that the detailed crack extraction needle 7111 performs value conversion, noise removal, skeletonization, and crack width measurement until the original image is reached.

(作用) 本発明のひび割れ測定システムでは、物体表面の撮像画
像を階層的に圧縮し、この圧縮画像に対して線抽出円形
フィルタリングを用いたひび割れ候補部の抽出処理、2
値化、芯線化、ベクトル化、ノイズ分離処理を施して抽
出したひび割れ部から直線オペレータ法によりひび割れ
幅を概略的に算出し、この概略的ひび割れ位置および幅
を最初のガイドマツプとし、以降は前記階層的圧縮処理
で圧縮した順と逆に圧縮比が大きい圧縮画像で算出した
ひび割れ位置および幅をガイドマツプとして、この圧縮
画像より圧縮比が1段階小さい画像のひび割れ部に対し
て段階的に2値化、ノイズ除去、芯線化、ひび割れ幅の
計測を原画像に達するまで繰り返し行っている。
(Function) In the crack measurement system of the present invention, a captured image of an object surface is compressed hierarchically, and crack candidate parts are extracted using line extraction circular filtering on this compressed image.
The crack width is roughly calculated using the straight line operator method from the crack portion extracted by value conversion, core line conversion, vectorization, and noise separation processing, and this rough crack position and width is used as the first guide map. Using the crack positions and widths calculated from compressed images with a higher compression ratio in the reverse order of the compression process as a guide map, the cracks in images with a compression ratio one step lower than this compressed image are binarized step by step. , noise removal, core line formation, and crack width measurement are repeated until the original image is reached.

(実施例) 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図は本発明の一実施例に係わるひび割れA?+定シ
ステムの全体構成図である。同図に示すように、本発明
のひび割れ′AP1定シスナシステムえばコンクリート
等からなる構造物の表面に形成された例えば0.1mm
幅程度のひび割れから3II1m幅程度までの範囲のひ
び割れを画像処理により精度よく測定するものであり、
構造物の表面をカメラで撮影した写真フィルム1の画像
を光電的画像読み取り装置3で読み取り、この読み取っ
た画像を画像処理装置t5で画像解析して、構造物の表
面に形成されているひび割れの幅、長さ、位置等を測定
し、最後にパーソナルコンピュータ等からなる出力装置
7からこれらの各種データを含む特性データ、。
FIG. 1 shows a crack A? according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 is an overall configuration diagram of the fixed system. As shown in the figure, the crack 'AP1 constant system of the present invention, for example, 0.1 mm formed on the surface of a structure made of concrete or the like,
It uses image processing to accurately measure cracks in the range from about 3mm width to 3II 1m wide.
The photoelectric image reading device 3 reads an image of the photographic film 1 of the surface of the structure taken with a camera, and the image processing device t5 analyzes the read image to detect cracks formed on the surface of the structure. Width, length, position, etc. are measured, and finally characteristic data including these various data is output from an output device 7 consisting of a personal computer or the like.

分布、特性図およびひび割れ図等を出力するものである
。前記画像読み取り装置3は写真フィルム1の画像を読
み取るために例えばCCDカメラおよび顕微鏡等を有す
るものである。なお、この実施例においては、構造物の
表面をカメラで撮影した写真フィルム1の画像を画像読
み取り装置3で読み取って、画像処理装置5で画像解析
するようになっているが、画像読み取り装置3でフィル
ム1の画像を読み取る代わりに画像読み取り装置3で直
接構造物の表面を撮像して、この撮像した画像を直接使
用してもよいものである。
It outputs distribution, characteristic diagrams, crack diagrams, etc. The image reading device 3 includes, for example, a CCD camera and a microscope to read the image on the photographic film 1. In this embodiment, the image reading device 3 reads an image of the surface of the structure on the photographic film 1 taken with a camera, and the image processing device 5 analyzes the image. Instead of reading the image on the film 1, the surface of the structure may be directly imaged with the image reading device 3, and this captured image may be used directly.

画像読み取り装置3による写真フィルム1の読み取りは
、検出目標となるひび割れ幅0.1mmを4分割して0
.1m+s/4画素の読み取り密度でひび割れを読み取
ることができるフィルム読み取り装置を使用しながら、
フィルム1のコマ全体をシェーディング補正やセンサノ
イズ補正を同時に行い、この読み取った画像情報をコン
ピュータからなる画像処理装置5に逐次送り込み、数値
画像データに変換し、画像処理するようになっている。
The image reading device 3 reads the photographic film 1 by dividing a crack width of 0.1 mm, which is the detection target, into four parts.
.. Using a film reader that can read cracks at a reading density of 1m+s/4 pixels,
The entire frame of the film 1 is subjected to shading correction and sensor noise correction at the same time, and the read image information is sequentially sent to an image processing device 5 consisting of a computer, converted into numerical image data, and subjected to image processing.

画像読み取り装置3でフィルム1から読み取られて画像
処理装置5に供給された画像データは、画像処理装置5
において次に示す概略ひび割れ抽出と計測処理(A)お
よび詳細ひび割れ抽出と計測処理(B)を順次受けてひ
び割れの抽出および計測が行われるようになっている。
The image data read from the film 1 by the image reading device 3 and supplied to the image processing device 5 is
The cracks are extracted and measured by sequentially undergoing the following general crack extraction and measurement process (A) and detailed crack extraction and measurement process (B).

(A)概略ひび割れ抽出と計測処理 (1)画像の圧縮処理と階層構造化 (2)1/32圧縮画像におけるひび割れ抽出(3) 
11!略的なひび割れ位置と幅の計測(B)詳細ひび割
れ抽出と計測処理 第2図は第1図に示すひび割れ測定システムにおけるひ
び割れ抽出計測画像処理の概略的流れを説明図とともに
示す図であるが、次に第2図を参照して説明する。
(A) General crack extraction and measurement processing (1) Image compression processing and hierarchical structuring (2) Crack extraction in 1/32 compressed images (3)
11! Rough Crack Position and Width Measurement (B) Detailed Crack Extraction and Measurement Processing Figure 2 is a diagram showing the general flow of crack extraction measurement image processing in the crack measurement system shown in Figure 1, along with explanatory diagrams. Next, a description will be given with reference to FIG.

上述したように、画像読み取り装置3によって写真フィ
ルム1の画像が読み取られると(第2図のステップ11
0)、この読み取られたオリジナル画像データ9(第2
図)は、圧縮および階層構造化処理を受け(ステップ1
20) 、1/4→1/8→1/16→1/32と階層
的に圧縮される(ステップ121,125,126.1
27)。
As mentioned above, when the image on the photographic film 1 is read by the image reading device 3 (step 11 in FIG.
0), this read original image data 9 (second
) is subjected to compression and hierarchical structuring processing (step 1
20) Hierarchically compressed as 1/4 → 1/8 → 1/16 → 1/32 (steps 121, 125, 126.1
27).

すなわち、オリジナル画像データ9は最初に1/4に縮
小されて以降順次1/2’圧縮されて、1/2’圧縮画
像データ1oから1/32圧縮画像データ11となる。
That is, the original image data 9 is first reduced to 1/4 and then sequentially compressed to 1/2' to become 1/2' compressed image data 1o to 1/32 compressed image data 11.

なお、この圧縮処理は、線構造を残す「線保存フィルタ
リング」および「最大値選択法(ひび割れ部分はコンク
リート等の部分よりも画像データ値が大きいことによる
)による縮小間引き」を用いて行われる。このような階
層的圧縮を施すことにより、階層上位になるに従って、
すなわち圧縮されるに従って、帯状の領域とみなされる
幅の太いひび割れは除々に幅の狭い線構造に変換され、
また幅の狭いひび割れは上位画像においても線構造の特
徴がそのまま保存される。このように画像を圧縮するこ
とによりひび割れがその幅に無関係に線状特性だけを持
つようになり、線抽出のアルゴリズムを適用することに
よりひび割れのマクロ的な線構造を画像解析す名ことが
できるようになる。
Note that this compression processing is performed using "line-preserving filtering" that leaves the line structure, and "reduction thinning using the maximum value selection method (because the image data value of cracked areas is larger than that of areas such as concrete)". By applying such hierarchical compression, as you move up the hierarchy,
In other words, as it is compressed, the wide cracks that are considered to be band-like regions gradually transform into narrow line structures.
In addition, the line structure characteristics of narrow cracks are preserved as they are in the upper image. By compressing the image in this way, the cracks have only linear characteristics regardless of their width, and by applying a line extraction algorithm, it is possible to image analyze the macroscopic line structure of the cracks. It becomes like this.

次に、このように1/32に圧縮された画像に対して後
述するように線構造抽出アルゴリズムを用いて、その特
徴である線構造に着目してひび割れの抽出を行い、この
抽出されたひび割れ画像に対して芯線化、ベクトル化、
ノイズ分離等の処理を行い、概略的なひび割れパターン
を抽出する(ステップ130)。なお、線構造抽出アル
ゴリズムの中で行っているひび割れの2値化では、これ
に及ぼす物体の表面の局所的な汚れやじみの悪影響を極
力防止するために圧縮(縮小)画像を更に小ブロックに
分割し、この分割されたブロック単位に2値化閾値を算
出して2値化を行っている。
Next, using a line structure extraction algorithm as described later on the image compressed to 1/32 in this way, cracks are extracted by focusing on the line structure, which is a feature of the image, and the extracted cracks are Perform skeletonization, vectorization, and
Processing such as noise separation is performed to extract a rough crack pattern (step 130). In addition, in the binarization of cracks performed in the line structure extraction algorithm, the compressed (reduced) image is further divided into smaller blocks in order to prevent the negative effects of local dirt and smudges on the surface of the object as much as possible. The image is divided into blocks, and a binarization threshold is calculated for each divided block to perform binarization.

それから、このように抽出したひび割れパターンに対し
て、更に直接オペレータ法により概略的にひび割れ幅を
算出する(ステップ140)。
Then, for the crack pattern extracted in this way, the crack width is roughly calculated using the direct operator method (step 140).

次に、上述したように1/32圧縮した画像から抽出し
た概略ひび割れパターンおよび幅に基づいて、圧縮した
順と逆順に段階的に下層の画像内にひび割れ部分を探索
し、これをフィルム読み取り時の原画像まで繰り返し行
う詳細ひび割れ抽出および計測処理を行い、ひび割れの
中心位置およびひび割れ幅の計測精度を向上させる(ス
テップ150)。
Next, based on the rough crack pattern and width extracted from the 1/32 compressed image as described above, cracks are searched for in the lower layer image step by step in the reverse order of compression, and this is used when reading the film. Detailed crack extraction and measurement processing is performed repeatedly until the original image is reached, thereby improving the measurement accuracy of the crack center position and crack width (step 150).

すなわち、この詳細ひび割れ抽出および計ΔIII処理
においては、上層の画像データで計測したひび割れデー
タをガイドマツプとして、下層の画像データ上でひび割
れを探索するという処理を第2図の1/32に圧縮され
た全体画像13から1/16−1/8−1/4−オリジ
ナル画像15というように段階的に下層画像へとひび割
れ計71IIJを行って、ひび割れ計測の精細化を図っ
ている(ステップ151〜154)。
In other words, in this detailed crack extraction and total ΔIII processing, the process of searching for cracks on the lower layer image data using the crack data measured on the upper layer image data as a guide map is compressed to 1/32 of that in Figure 2. The crack measurement 71IIJ is performed step by step from the entire image 13 to the lower layer images such as 1/16-1/8-1/4-original image 15 to refine the crack measurement (steps 151 to 154). ).

更に具体的に説明すると、1/32圧縮された画像で抽
出したマクロ的なひび割れパターンではひび割れの正確
な位置や幅を計測することができないので、概略ひび割
れ幅を参照して下層の画像内のひび割れ部分を探索し、
これをフィルム読み取り原画像まで繰り返すことにより
段階的にひび割れ位置、ひび割れ幅の計71p1精度を
向上させているのである。
To explain more specifically, it is not possible to measure the exact position and width of the crack using the macroscopic crack pattern extracted from the 1/32 compressed image, so the approximate crack width is used to measure the crack width in the underlying image. Exploring the cracks,
By repeating this process up to the film reading original image, the accuracy of the crack position and crack width is improved by 71p1 in total.

探索範囲は上位の画像で抽出したひび割れパターンを中
心としてその周辺の帯状の範囲である。
The search range is a band-shaped range around the crack pattern extracted from the upper image.

すなわち、上位の画像で求められているひび割れパター
ン(線)の両側にひび割れ幅(ひび割れパターンと同時
に算出される)の2〜3倍の帯状の検索領域を設け、そ
の局所的な探索範囲について逐次2値化を行い、ひび割
れ部を区別する。その後、区別されたひび割れ部におい
てひび割れの中心位置を決定し、更にひび割れ幅(2値
化部分の太さ)も同時に計算し、ミクロ的視野の画像へ
と画像処理が進展するにつれてひび割れの中心位置およ
びひび割れ幅の計測精度が向上するのである。
In other words, a band-shaped search area 2 to 3 times the crack width (calculated at the same time as the crack pattern) is set up on both sides of the crack pattern (line) found in the upper image, and the local search range is sequentially searched. Perform binarization to distinguish cracks. After that, the center position of the crack is determined in the differentiated crack part, and the crack width (thickness of the binarized part) is also calculated at the same time. This also improves the accuracy of crack width measurement.

以上のように検索されたひび割れ位置および幅からなる
ひび割れデータは画像処理装置5から出力装置7に供給
され、その磁気ディスク等からなる外部記憶装置に記憶
されるとともに、ひび割れデータの解析が行われ、ひび
割れ図やひび割れ特性図等が作成される。
The crack data consisting of the crack position and width searched as above is supplied from the image processing device 5 to the output device 7, and is stored in an external storage device such as a magnetic disk, and the crack data is analyzed. , a crack diagram, a crack characteristic diagram, etc. are created.

第3図は上述したひび割れ測定システムの更に詳細な計
71p1処理を示すフローチャートである。同図に示す
詳細なひび割れ計測処理は、上述したひび割れ写真フィ
ルムの読み取り処理に続く前記概略ひび割れ抽出および
計測処理と詳細ひび割れ抽出および計測処理が以下に示
す更に詳細な処理から構成されている。なお、第3図の
フローにおいて、第2図のフローのステップと同じステ
ップには同じ番号を付した。
FIG. 3 is a flowchart showing a more detailed total 71p1 process of the crack measurement system described above. The detailed crack measurement process shown in the same figure consists of the general crack extraction and measurement process and the detailed crack extraction and measurement process, which follow the crack photographic film reading process described above, and the detailed crack extraction and measurement process described below. In addition, in the flow of FIG. 3, the same steps as those in the flow of FIG. 2 are given the same numbers.

(A)概略ひび割れ抽出と計測処理 (1)画像の圧縮処理と階層構造化 (a)1/4縮小画像の作成 (b)線保存平滑化フィルタリング (c)1/4縮小画像からの1/8.1/16.1/3
2への階層的圧縮 (2)1/32圧縮画像におけるひび割れ抽出(a)線
構造抽出円形フィルタリングによる特徴量の算出および
2値化 (C)芯線化 (d)ひび割れのベクトル化 (e)ノイズ分離 (3)概略的なひび割れ位置と幅の計測(a)ひび割れ
計測領域のマニアル指定(b)写真座標から実構造物座
標への変換係数算出 (C)!略ひび割れ抽出結果の確認 (d)概略ひび割れ幅の算出 (e) 概略抽出したひび割れベクトルと幅の登録 CB)詳細ひび割れ抽出と計測処理 (1)ひび割れが存在する細分画像の選択(2)ひび割
れ位置の探索と2値化 (3)ノイズ除去 (4)芯線化 (5)ひび割れ幅の計測 (6)ひび割れ計i1?J結果のスケール変換以下、第
3図に示すフローチャートに従って第4図以降を参照し
ながら、詳細な処理について順次説明する。
(A) Rough crack extraction and measurement processing (1) Image compression processing and hierarchical structuring (a) Creation of 1/4 reduced image (b) Line-preserving smoothing filtering (c) 1/4 reduction from 1/4 reduced image 8.1/16.1/3
Hierarchical compression to 2 (2) Extraction of cracks in 1/32 compressed images (a) Extraction of line structures Calculation of feature quantities by circular filtering and binarization (C) Core lineization (d) Vectorization of cracks (e) Noise Separation (3) Rough measurement of crack position and width (a) Manual specification of crack measurement area (b) Calculation of conversion coefficient from photo coordinates to actual structure coordinates (C)! Confirmation of rough crack extraction results (d) Calculation of rough crack width (e) Registration of roughly extracted crack vector and width CB) Detailed crack extraction and measurement processing (1) Selection of subdivided images where cracks exist (2) Crack position Search and binarization (3) Noise removal (4) Core line formation (5) Crack width measurement (6) Crack meter i1? Scale conversion of J result Hereinafter, detailed processing will be sequentially explained in accordance with the flowchart shown in FIG. 3 and with reference to FIGS. 4 and subsequent figures.

まず、ひび割れ写真フィルムの読み取り処理(ステップ
110)は、ひびわれ撮影フィルム全面(有効画面50
mmX50+w)をフィルム読み取り装置により読み取
る。読み取りは、フィルムを1.28關X1.2mm(
フィルムリーグのセンサ部であるCCDエリアセンサの
1回の読み取り面積、512X480画素分に対応)の
微小矩形領域に細分して逐次行い、フィルム1コマ全部
を読み込む。したがって、ひびわれ画像は撮影フィルム
の有効画面とその周辺部の読み取りも含めて第4図に示
すように約2000個の細分画像により構成されること
になる。
First, the cracked photographic film reading process (step 110) is performed on the entire cracked photographic film (effective screen 50).
mmX50+w) is read by a film reader. To read the film, 1.28mm x 1.2mm (
This is sequentially divided into minute rectangular areas (corresponding to the reading area of the CCD area sensor, which is the sensor unit of the Film League, of 512 x 480 pixels), and one entire frame of film is read. Therefore, the cracked image is composed of approximately 2,000 sub-images as shown in FIG. 4, including the effective screen of the photographic film and its surrounding areas.

また、画像の読み取りは1/10縮尺でひびわれ撮影が
行われていることを前提として、0.1龍幅のひびわれ
を4画素に分割(1画素はフィルム上で2.5μ、構造
物上で0.025+n+sとなる)できる読み取り密度
、0.1m+s/4画素となるように調整している。
In addition, when reading images, it is assumed that the crack is photographed at a 1/10 scale, and a crack of 0.1 dragon width is divided into 4 pixels (one pixel is 2.5 μ on the film, and 1 pixel is 2.5 μ on the structure). The reading density is adjusted to 0.1 m+s/4 pixels (0.025+n+s).

一般にレンズを通して画像を結像させるとレンズの中心
とその周辺では橡面照度が異なり、レンズ周辺の画像は
中心部よりも暗くなる(この現象をレンズの周辺減光と
いう)。また、CCDエリアセンサを構成する受光素子
1つ1つ(全部で512X480素子)も微妙に感度が
異なっている。
Generally, when an image is formed through a lens, the radial illuminance differs between the center of the lens and its periphery, and the image around the lens becomes darker than the center (this phenomenon is called peripheral dimming of the lens). Furthermore, the sensitivity of each of the light receiving elements (512×480 elements in total) making up the CCD area sensor differs slightly.

このため、読み取った画像データはレンズの周辺減光と
CCDエリアセンサ素子固有の不均一性のため、濃度が
均一なフィルムを読み取ったとしても−様な数値をもつ
画像にはならない。
Therefore, even if a film with uniform density is read, the read image data will not result in an image with negative numerical values due to peripheral dimming of the lens and non-uniformity inherent to the CCD area sensor element.

ひびわれ画像処理におけるフィルム読み取りでは、この
ような画像の不均一性を、細分画像を1回読み取る毎に
補正(シェーディング補正ならびにセンサノイズ補正)
している(ステップ111およびステップ112)。補
正の方法には、第5図に示すように、あらかじめフィル
ムをセットしない状態でフィルムリーダからデータ(最
も明るい均一画像と考える)を取り込み、このデータで
逐次読み取ったひびわれ細分画像を除算して、読み込み
画像データを正規化する方法を採用している。
When reading film in crack image processing, such image non-uniformity is corrected each time a subdivided image is read (shading correction and sensor noise correction).
(Step 111 and Step 112). As shown in Figure 5, the correction method involves importing data (considered to be the brightest uniform image) from the film reader without setting the film in advance, and dividing the sequentially read cracked subdivided images by this data. A method is used to normalize the loaded image data.

すなわち、第5図に示すシェーディングおよびセンサノ
イズの補正は、第5図(a)に示すようにフィルム1を
セットして読み取った細分画像データ0(i、j)を第
5図(b)に示すようにフィルム1をセットしないで読
み取った画像データS (i、j)で割り、この商に定
数を掛けて行い、シェーディング補正およびセンサノイ
ズ補正画像データP(i、j)を得ている。なお、i−
1〜512であり、J−1〜480である。
That is, the shading and sensor noise correction shown in FIG. 5 is performed by setting the film 1 as shown in FIG. 5(a) and reading the subdivided image data 0(i, j) into FIG. 5(b). As shown, shading correction and sensor noise correction image data P (i, j) is obtained by dividing by the image data S (i, j) read without setting the film 1 and multiplying this quotient by a constant. In addition, i-
1 to 512, and J-1 to 480.

以上のように画像データを読み取った後、前記概略ひび
割れ抽出および計測処理においてひび割れ撮影フィルム
全面を細分画像として読み取った画像から概略ひび割れ
パターン抽出および計a11処理を行うが、この処理に
おいては、まず画像データの圧縮と階層構造化(ステッ
プ120)において1/4縮小画像の作成(ステップ1
21)を行う。
After reading the image data as described above, in the rough crack extraction and measurement process, rough crack pattern extraction and total a11 processing are performed from the image read as a subdivided image of the entire surface of the cracked photographic film. Creation of 1/4 reduced image (step 1) in data compression and hierarchical structuring (step 120)
21).

この1/4縮小画像の作成では、効率的に線保存平滑化
フィルタリング(ステップ123)が行なわれるように
、最小検出ひび割れ幅0.1mmが画像データの1画素
の大きさになるように原画像の縮小を行なう。
In creating this 1/4 reduced image, in order to efficiently perform line-preserving smoothing filtering (step 123), the original image is Perform the reduction.

具体的には、原画像は0.025m■/1画素であるか
ら、1/4縮小する。この縮小法は4画素×4画素の1
6画素から平均値を算出し、この値を新たな1画素とす
るものである。
Specifically, since the original image is 0.025 m/1 pixel, it is reduced to 1/4. This reduction method is a 4 pixel x 4 pixel 1
An average value is calculated from six pixels, and this value is used as one new pixel.

それから、1/4縮小された画像は、第6図(a)に示
すように、該縮小画像の各点(i、j)に対して第1〜
第8方向の平均値AVE n (n −1〜8)を計算
し、この平均値AVEnの中から最大値を検索して点(
t、j)の値とする線保存平滑化フィルタリングを行う
(ステップ123)。
Then, as shown in FIG. 6(a), the 1/4 reduced image is divided into points 1 to 1 for each point (i, j) of the reduced image.
Calculate the average value AVE n (n −1 to 8) in the eighth direction, search for the maximum value among the average values AVEn, and find the point (
Line-preserving smoothing filtering is performed using the values of t, j) (step 123).

ひび割れ部は周辺よりも画像データ値が高いことによっ
ている。これはひび割れ以外の孤立した影等が後の圧縮
行程にノイズとして混入しないようにするために行うも
のであり、ひび割れ等の線状の形を持つものは値が変わ
らないが、孤立点は平滑化されて値が小さくなるように
したものである。
This is because the image data value of the cracked part is higher than that of the surrounding area. This is done to prevent isolated shadows other than cracks from being mixed in as noise in the subsequent compression process.The values of cracks and other linear shapes do not change, but isolated points are smoothed. , so that the value becomes smaller.

なお、フィルタの長さはひび割れの直線性を考慮して構
造物上で約1 +n+e程度となる範囲とした。
Note that the length of the filter was determined to be approximately 1 + n + e on the structure, taking into account the linearity of cracks.

次に、上述したように求めた1/4縮小画像を第6図(
c)に示すように1/8.1/16.1/32と2のべ
き乗となるように階層的に圧縮する(ステップ125〜
127)。画像圧縮は、第6図(b)に示すように、2
×2の4画素の中から最大値を代表値として選択する最
大値選択法による間引きにより行い、この処理によって
細いひび割れは細い線のまま残され、また幅の太いひび
割れは除々に細い線構造に変換される。
Next, the 1/4 reduced image obtained as described above is shown in Figure 6 (
As shown in c), it is compressed hierarchically to a power of 1/8.1/16.1/32 (steps 125 to 125).
127). Image compression is performed by 2 as shown in Figure 6(b).
This is done by thinning out using the maximum value selection method, which selects the maximum value from the four pixels of ×2 as the representative value.Thin cracks are left as thin lines by this process, and thick cracks gradually become thin line structures. converted.

因に、例えば検出最小ひび割れ幅0.1に対しては最小
フィルム読み取り密度を0.025wus/1画素(コ
ンクリート等の被測定物体の面上の対応スケール)に調
整することが考えられる。従って、線保存平滑化フィル
タリングを行うにあたつては画像を0.1mm/1画素
となるように縮小(単純な4画素×4画素の平均値算出
と間引きによる)し、この画像に対して処理を行ってい
る。
Incidentally, for example, for a minimum detection crack width of 0.1, it is possible to adjust the minimum film reading density to 0.025 wus/1 pixel (corresponding scale on the surface of the object to be measured such as concrete). Therefore, when performing line-preserving smoothing filtering, the image is reduced to 0.1 mm/1 pixel (by simple 4-pixel x 4-pixel average calculation and thinning), and this image is Processing is in progress.

結果として、1画素のサイズが0.025mm(被71
N定物体上)の原画像から1画素0.8mmの1/32
圧縮画像を生成する(第6図(a)、(b)参照)。
As a result, the size of one pixel is 0.025 mm (71
1/32 of 1 pixel 0.8 mm from the original image on N constant object)
A compressed image is generated (see FIGS. 6(a) and (b)).

以上のように1/32に圧縮された階層最上位画像から
、次にひび割れパターンを抽出する(ステップ130)
。この処理においては、第7図に示すように、線構造抽
出円形フィルタリングを用いて画像の各画素における線
構造(ひび割れ)の特徴mSを算出して、画像の平均特
徴量Sに基づ克 く2値化閾値に照らして該面接をひび割れ候補部かどう
か判定(2値か)する(ステップ132)。
Next, a crack pattern is extracted from the top layer image compressed to 1/32 as described above (step 130).
. In this process, as shown in Fig. 7, line structure extraction circular filtering is used to calculate the line structure (crack) feature mS at each pixel of the image, and the line structure (crack) feature mS is calculated based on the average feature amount S of the image. It is determined whether the interview is a crack candidate area (binary) based on the binarization threshold (step 132).

線構造抽出円形フィルタを画像に作用させると、画素が
線構造の上にあるところで大きな特徴ff1Sが算出さ
れる。この計算に必要な円形フィルタのパラメータは独
自の研究による成果により得られた値(ターゲット・ウ
ィンドウ・サイズws−i、処理半径R−5)を用いて
いる。
When a line structure extraction circular filter is applied to an image, large features ff1S are calculated where pixels are located on line structures. For the parameters of the circular filter necessary for this calculation, values obtained from the results of original research (target window size ws-i, processing radius R-5) are used.

2値化閾値の算出においては、画像全体を第7図(a)
に示すように36の小ブロックに分け、このブロックの
それぞれについて線構造か否かを判定する2値化閾値(
各画素毎に算出される特徴量Sを対象プロ”ツク内で平
均した値Sを2値化閾値とし、平均値S以上を線要素候
補点、平均値以下を背景とする)を個別に計算する。
In calculating the binarization threshold, the entire image is
As shown in the figure, each block is divided into 36 small blocks, and a binarization threshold (
The feature value S calculated for each pixel is averaged within the target project, and the value S is used as the binarization threshold, and the values above the average value S are considered line element candidate points, and the values below the average value are the background). do.

そして、2値化は、各ブロックにおいて2値化基準より
大きい特徴量を有する値を線要素候補点として「1」と
し、それ以外の部分を背景として「0」とすることによ
りひび割れ候補部を抽出して行う。小ブロックに分けて
2値化基準を算出することにより、画像の局所的な汚れ
による2値化基準の変動のため生ずる誤判定を小さく抑
えることができる。
Then, in the binarization, the values with feature values larger than the binarization standard in each block are set as "1" as line element candidate points, and the other parts are set as "0" as the background, thereby identifying crack candidate areas. Extract and do. By dividing the image into small blocks and calculating the binarization criteria, it is possible to suppress erroneous determinations caused by fluctuations in the binarization criteria due to local dirt in the image.

次に、線構造抽出円形フィルタリングにより得られたひ
び割れ候補部についてHi Idi tchの細線化法
によって芯線化、すなわちひび割れ候補部の中心線を求
める処理を行う(ステップ134)。
Next, the crack candidate portion obtained by the line structure extraction circular filtering is converted into a core line using the Hi Iditch line thinning method, that is, the process of determining the center line of the crack candidate portion is performed (step 134).

芯線化を行った後、中心線を構成する点列の画像上の位
置座標を継がりの順に並べ挙げ、ひび割れ部分の位置座
標値列、すなわちひび割れベクトル(第18図参照)を
得る(ステップ136)。
After core line formation, the position coordinates on the image of the sequence of points constituting the center line are arranged in the order of joints, and the position coordinate value sequence of the cracked part, that is, the crack vector (see FIG. 18) is obtained (step 136). ).

このように求められたひび割れ候補点列からひび割れ以
外の部分を取り除くため、孤立点、孤立領域の除去(小
領域部の除去)、連続性チエツク(短いひび割れ候補点
列の除去)、ヒゲ状ノイズ除去(芯線化の際に生じるノ
イズの除去(第19図参照))、ループ領域の穴埋め処
理を行う(ステップ138)。
In order to remove parts other than cracks from the crack candidate point sequence obtained in this way, removal of isolated points and isolated areas (removal of small areas), continuity check (removal of short crack candidate point sequence), whisker-like noise Removal (removal of noise generated during skeletonization (see FIG. 19)) and filling of loop regions are performed (step 138).

なお、ノイズ除去処理等のプログラムで使用しているパ
ラメータには、第20図に示した値をセットしている。
Note that the parameters used in programs such as noise removal processing are set to the values shown in FIG.

次に、以上のように1/32圧縮画像において抽出され
た概略ひび割れパターンに対して、更に直線オペレータ
法により概略ひび割れ幅を算出するが(ステップ140
)、この処理においては、まずひび割れ計測領域の指定
(任意の多角形領域)を作業者が行う(ステップ141
)。
Next, the approximate crack width is further calculated using the straight line operator method for the approximate crack pattern extracted in the 1/32 compressed image as described above (step 140).
), in this process, the operator first specifies a crack measurement area (an arbitrary polygonal area) (step 141).
).

それから、写真座標から実構造物座標への変換係数、す
なわち2次元射影変換係数(次のステップ150におけ
る詳細ひび割れ抽出と計7111の段1若でひび割れ計
n1データを画像上の座標系から実構造物上の座標系へ
スケール変換する8要素の係数)を算出する(ステップ
143)。なお、この段階で次のステップ150で使用
する係数を算出するのは、[抽出ひび割れのチエツク用
の全体画面を表示するとき変換係数も併せて決定すれば
、以後の処理で再度表示する必要が無くなり、作業者の
介在なしに以後の処理を自動的に進められる]と判断し
たからである。射影変換係数はひび割れ写真に写し込ま
れた4点の基準点(物体表面上での座標値が既知である
点)の座標と画像データ上の座標を対応させて連立方程
式を解くことにより算出することができる(第8図参照
)。
Then, the conversion coefficients from the photo coordinates to the actual structure coordinates, that is, the two-dimensional projection transformation coefficients (detailed crack extraction in the next step 150 and the crack total n1 data in a total of 7111 stages) are converted from the coordinate system on the image to the actual structure. The coefficients of eight elements for scale conversion to the physical coordinate system are calculated (step 143). Note that the reason for calculating the coefficients to be used in the next step 150 at this stage is that if the conversion coefficients are also determined when displaying the entire screen for checking extracted cracks, it will not be necessary to display them again in subsequent processing. This is because it was determined that the following process could proceed automatically without operator intervention. The projective transformation coefficient is calculated by solving simultaneous equations by correlating the coordinates of the four reference points (points whose coordinate values on the object surface are known) imprinted on the crack photograph with the coordinates on the image data. (See Figure 8).

次に、概略ひび割れ抽出結果を確認して、抽出漏れひび
割れの追加修正および誤認ひび割れの削除を手動で行う
(ステップ145)。そして、このように最終的に作業
者がチエツクし確定した概略ひび割れベク+ルの各構成
点について直線オペレータ法(第9図参照)によりひび
割れ幅を算出しくステップ146)、概略抽出したひび
割れ位置とその幅を登録する(ステップ148)。なお
、概略ひび割れ幅とひび割れ位置は次のステップの詳細
ひび割れ抽出と計測において初期値として参照される。
Next, the rough crack extraction results are checked, and additional corrections to cracks that were not extracted and deletion of erroneously recognized cracks are manually performed (step 145). Then, the operator calculates the crack width using the linear operator method (see Figure 9) for each constituent point of the rough crack vector finally checked and confirmed by the operator (step 146), and calculates the roughly extracted crack position and The width is registered (step 148). Note that the approximate crack width and crack position are referred to as initial values in the next step of detailed crack extraction and measurement.

次に、詳細ひび割れ抽出と計測処理(ステップ150)
を実施する。これは、まず上述した概略ひび割れ抽出お
よび概略ひび割れ幅計71PJ処理において1/32に
圧縮した階層最上位の画像から求めた概略ひび割れベク
トル(ひび割れの中心線位置および幅)をガイドマツプ
として、1段階下層の圧縮画像、すなわち1/16圧縮
画像にあるひび割れを21iff化し、中心位置を決定
するとともに幅を計8−1する(第10図参照)。なお
ひび割れの探索範囲は上位の画像で抽出したひび割れパ
ターンを中心としてその周辺の帯状の範囲である。すな
わち、上位の画像で求められたひび割れパターン(線)
の両側にひび割れ幅(ひび割れパターンと同時に算出さ
れる)の2〜3倍の帯状の検索領域を設け、その局所的
な検索範囲について逐次2値化(大津の2値化法を改良
した局所的繰り返し判別2値化法)を行い、ひび割れ部
を区別する。
Next, detailed crack extraction and measurement processing (step 150)
Implement. First, the rough crack vector (center line position and width of the crack) obtained from the image at the top of the hierarchy compressed to 1/32 in the rough crack extraction and rough crack width measuring 71PJ processing described above is used as a guide map to calculate the rough crack width one step lower. The crack in the compressed image, that is, the 1/16 compressed image, is converted to 21iff, the center position is determined, and the width is increased to 8-1 in total (see FIG. 10). The crack search range is a band-shaped range around the crack pattern extracted from the upper image. In other words, the crack pattern (line) found in the upper image
A band-shaped search area of 2 to 3 times the crack width (calculated at the same time as the crack pattern) is set up on both sides of the area, and the local search area is sequentially binarized (local search area is an improved version of Otsu's binarization method). Repeated discrimination binarization method) is performed to distinguish cracks.

その後、区別されたひび割れ部分においてひび割れの中
心線位置を決定し、更にひび割れ幅(2値化部分の太さ
)を計算する。
Thereafter, the center line position of the crack is determined in the differentiated crack portion, and the crack width (thickness of the binarized portion) is calculated.

そして、この処理を1/32圧縮画像から1/16.1
/8.1/4圧縮画像へ、更に原画像へと、画像を圧縮
したときとは逆順に最後の原画像に達するまで段階的に
繰り返し行うことにより詳細なひび割れ抽出とit i
l#Iを行う。なお、この場合、各段階で計i1?Jさ
れたひび割れ位置と幅は次の階層の画像計画においてガ
イドマツプとして用いられ、これによってひび割れ位置
および幅を精度よく計測することができる。
Then, this process is performed from 1/32 compressed image to 1/16.1
/8. Detailed crack extraction and it i
Perform l#I. In this case, the total i1 at each stage? The determined crack position and width are used as a guide map in the image planning of the next layer, thereby making it possible to accurately measure the crack position and width.

次に、画像処理は処理対象の画像の大きさが小さければ
小さい程、短時間で終了するので、詳細なひび割れ計測
を行うには、できる限り処理単位を小さくすることが重
要である。従って、各階層の画像は第23図に示すよう
にそれぞれいくつかの小ブロックに分割されて管理され
、上位階層の画像で求められた概略ひび割れベクトルに
基づき1段階下の画像を処理する時には、第11図に示
すように、゛処理すべき小ブロックの選択、すなわちひ
び割れが存在する細分画像の選択を行う(ステップ16
1)。この結果、不要な部分の画像処理が省略され、処
理全体を短くすることができる。
Next, the smaller the size of the image to be processed, the shorter the time it takes to complete image processing, so in order to perform detailed crack measurement, it is important to make the processing unit as small as possible. Therefore, the images in each layer are managed by being divided into a number of small blocks as shown in FIG. As shown in FIG. 11, a small block to be processed is selected, that is, a subdivided image in which a crack exists is selected (step 16).
1). As a result, image processing of unnecessary portions is omitted, and the entire processing can be shortened.

また、選ばれた小ブロックの中でもひび割れが存在する
局所的な領域だけを画像処理し、これにより更に効率的
な処理を達成している。
In addition, image processing is performed only on local areas where cracks exist within the selected small blocks, thereby achieving even more efficient processing.

次に、ひび割れ位置の探索と2値化を局所的および逐次
繰り返し2値化法により行う(ステップ163)。これ
は上位画像で計測された概略ひび割れベクトルに基づき
選択された小ブロツク中で、更にひび割れ付近の局所的
な小領域だけを選択して2値化し、ひび割れ候補領域を
得る(第11図参照)。ひび割れ付近の小領域は実際に
は第12図に示すようにひび割れに沿った楕円形の小領
域である。
Next, the crack position is searched and binarized using a local and sequential iterative binarization method (step 163). This is done by selecting only a small local area near the crack in a small block selected based on the approximate crack vector measured in the upper image and binarizing it to obtain a crack candidate area (see Figure 11). . The small area near the crack is actually an elliptical small area along the crack, as shown in FIG.

ひび割れの2値化に際しては、コンクリート等の物体の
表面の汚れやしみ、影のため、1コマの画像データ(5
0cmX 50cm〜100cmX 100印)全体に
対して1つの2値化閾値を決定することができないとい
う問題の他に、大津の判別2値化法の固有の問題、すな
わち2値化対象領域(ひび割れ)と背景(コンクリート
等の面)の面積割合が極端に偏っているとき、適正な2
値化閾値が算出されないという問題が指摘されているの
で、本ひび割れ測定システムにおいては、概略ひび割れ
ベクトルの各構成点を中心とする局所的な楕円形の小領
域に2値化領域を絞り込んで2値化するという局所的2
値化小領域の選択を行うとともに、2値化部分と背景の
面積割合に偏りが生じず適正となるように小領域の大き
さを概略算出したひび割れ幅を参照して決定している(
第10図参照)。
When converting cracks into binary data, one frame of image data (5
In addition to the problem of not being able to determine a single binarization threshold for the entire area (0 cm x 50 cm to 100 cm x 100 marks), there is a problem inherent to Otsu's discriminant binarization method, namely the area to be binarized (cracks). When the area ratio of the surface and the background (concrete, etc.) is extremely biased,
Since a problem has been pointed out that the valuation threshold is not calculated, in this crack measurement system, the binarization area is narrowed down to a local elliptical small area centered on each component point of the rough crack vector. local value 2
In addition to selecting the digitized small area, the size of the small area is determined by referring to the roughly calculated crack width so that the area ratio between the binarized part and the background is not biased and is appropriate (
(See Figure 10).

また、各小領域の2値化を行う時もノイズの影響を軽減
するために、特に幅の狭いひび割れの2値化に対して[
2値化→膨張−ノイズ除去−次回2値化領域決定」とい
うサイクルを繰り返し、ノイズを除きながらひび割れ部
を確定する繰り返し2値化処理を採用している(第13
図参照)。なお、繰り返しの終了判定法は、前回2値化
領域とその回の2値化領域を比較し、2値化領域に90
%以上の変化が見られなくなった時とする。
In addition, when binarizing each small area, in order to reduce the influence of noise, especially when binarizing narrow cracks, [
A repeated binarization process is adopted in which the cycle of "binarization → expansion - noise removal - determination of next binarization area" is repeated to determine cracked areas while removing noise (13th
(see figure). Note that the method for determining the end of repetition is to compare the previous binarization area with the binarization area of that time, and add 90% to the binarization area.
This is when a change of % or more is no longer observed.

上述したサイクルのうち膨張処理の回数もひび割れ幅に
応じて適正回数が異なってくる。すなわち、太いひび割
れは処理時間が多くなるが膨張回数を多く、細いひび割
れは回数を少なくすることがひび割れ部分と背景の面積
割合に偏りを生じさせないために必要である(第13図
参照)。また、幅がある程度以上太くなると、上記繰り
返し2値化処理を実行しなくても良好な2値画像が得ら
れることが確認された。
Among the above-mentioned cycles, the appropriate number of times of expansion treatment also differs depending on the crack width. In other words, it is necessary to increase the number of expansions for thick cracks, although the treatment time will be longer, and to reduce the number of expansions for thin cracks, in order to avoid bias in the area ratio between the cracked part and the background (see Figure 13). Furthermore, it has been confirmed that when the width becomes thicker than a certain level, a good binary image can be obtained without repeatedly performing the binarization processing described above.

以上のように、上位画像で計Jlされたひび割れ幅を用
いて繰り返し回数および膨張回数を制限することにより
、ひび割れの幅に即した計Δ−1方法で精度よくひび割
れを2値化することができる。また、2値化時に使用す
る各パラメータと上位画像で計測されたひび割れ幅との
対応を第21図に示す。
As described above, by limiting the number of repetitions and the number of expansions using the total crack width determined in the upper image, cracks can be binarized with high accuracy using the total Δ-1 method that matches the crack width. can. Further, FIG. 21 shows the correspondence between each parameter used during binarization and the crack width measured in the upper image.

次に、2値化されたひび割れ候補領域について、孤立ノ
イズの除去(ステップ165)および芯線化(ステップ
167)を行う。
Next, isolated noise is removed (step 165) and skeletonized (step 167) for the binarized crack candidate region.

まず、ひび割れ候補部の内部に生じた穴あき箇所のうち
面積の小さいものについて第14図に示すように穴埋め
を行う。これは、ひび割れ幅計測時にひび割れ幅か小さ
く計測されることを防ぐためである。
First, among the holes created inside the crack candidate part, holes with a small area are filled as shown in FIG. 14. This is to prevent the crack width from being measured too small when measuring the crack width.

それから、概略ひび割れベクトルをひび割れ候補部の中
心に移動することにより除々にひび割れの中心線位置を
第15図に示すように真の中心位置に近づける芯線化処
理を行う。芯線化の際、2値化後にも残る孤立領域(ノ
イズ)の除去を同時に行っている。これは概略ひび割れ
ベクトルの移動先の候補が孤立領域ノイズのため複数個
存在した場合、ひび割れの連結性に着目し、多数決の原
理に基づいてベクトルの移動先を決定し、孤立領域にひ
び割れが移動しないようにする方法である(第16図参
照)。
Then, by moving the approximate crack vector to the center of the crack candidate part, core line processing is performed to gradually bring the center line position of the crack closer to the true center position as shown in FIG. During core line conversion, isolated areas (noise) that remain even after binarization are removed at the same time. This method focuses on the connectivity of cracks and determines the destination of the vector based on the principle of majority voting when there are multiple candidates for the destination of the crack vector due to isolated area noise. This is a method to prevent this from happening (see Figure 16).

この芯線化と孤立ノイズ除去について更に詳細に説明す
ると、まず階層上位の画像で抽出されたひび割れベクト
ルに基づき2値化されたひび割れ候補部に対し、1つの
領域毎に番号付けを行う。
To explain this skeletonization and isolated noise removal in more detail, first, the binarized crack candidate portions are numbered for each region based on the crack vector extracted from the image at the upper level of the hierarchy.

次に、概略ひび割れベクトルの各構成点においてひび割
れ方向に垂直な直線とひび割れ候補領域の境界部が交わ
る点を求める。この交点の中点を新たに概略ひび割れベ
クトルとする(第15図参照)これによって−段階下位
の画像においてひび割れの中心線位置が求められ、−段
階精度の向上した概略ひび割れベクトルを得ることがで
きる。
Next, at each constituent point of the approximate crack vector, a point where a straight line perpendicular to the crack direction intersects with the boundary of the crack candidate area is determined. The midpoint of this intersection is set as a new rough crack vector (see Figure 15). By doing so, - the center line position of the crack can be found in the image at the lower level, and - a rough crack vector with improved step accuracy can be obtained. .

概略ひび割れベクトルの移動先の候補が孤立ノイズ等に
より複数個ある場合、ひび割れの連結性に着目し、一連
のひび割れベクトルの構成点の移動先番号を集計し、多
数決によって最も頻度の高い移動先番号を有する領域を
該ひび割れベクトルの移動先と決定する(第16図参照
)。そして、多数決によ暖決められた領域に移動してい
ないひび割れベクトルの構成点について、再度その番号
を有する領域を探索して中心移動を行い孤立領域に中心
線が移動しないようにする(第16図参照)次に、ひび
割れ中心位置において、ひび割れ幅を計1TP1する(
ステップ169)。
If there are multiple destination candidates for a rough crack vector due to isolated noise, etc., focus on the connectivity of the cracks, aggregate the destination numbers of the constituent points of a series of crack vectors, and select the most frequent destination number by majority vote. The area where the crack vector is moved is determined as the destination of the crack vector (see FIG. 16). Then, for the constituent points of the crack vector that have not moved to the area determined by majority vote, the area with that number is searched again and the center is moved to prevent the center line from moving to the isolated area (16th (See figure) Next, at the crack center position, add a total of 1TP1 to the crack width (
Step 169).

ひび割れ幅の計測は、第17図に示すように、芯線化さ
れたひび割れ中心位置を中心としてひび割れ部に内接す
る円を設は内接円の直径を算出すす ることにより行なう。このとき第1.4図に示すように
、ひび割れ候補部の形状によってひび割れ幅を小さく見
積らないように内接円の中心位置をひび割れ方向と垂直
の方向に揺らしながら徐々に円を膨らませ、直径が最大
となる内接円を探索し、その円の直径をひび割れ幅とす
る。
As shown in FIG. 17, the crack width is measured by setting a circle inscribed in the crack part centered on the center line of the crack and calculating the diameter of the inscribed circle. At this time, as shown in Figure 1.4, in order to avoid estimating the crack width too small due to the shape of the crack candidate, the center position of the inscribed circle is moved in a direction perpendicular to the crack direction and the circle is gradually expanded. Find the inscribed circle with the largest value, and use the diameter of that circle as the crack width.

次に、ひび割れ計測データをスケール変換する(ステッ
プ171)。
Next, the crack measurement data is scale-converted (step 171).

階層の最下位にある原画像を計測し終わった段階で、ひ
び割れ1lllJ定値(位置と幅はこの段階まで画像上
の座標系で表されている)をコンクリート等の物体の面
上の座標系(実寸法)で表すためにスケール変換を行う
。スケール変換は第8図に示した2次元の射影変換によ
り行い、概略ひび割れ抽出の最終段階で求めた射影変換
係数をここで使用し、実寸法に変換する。
Once the original image at the bottom of the hierarchy has been measured, the crack 1llllJ constant value (the position and width have been expressed in the coordinate system on the image up to this stage) is expressed in the coordinate system on the surface of the object such as concrete ( Scale conversion is performed to represent the actual size. The scale conversion is performed by the two-dimensional projective conversion shown in FIG. 8, and the projective conversion coefficients obtained at the final stage of rough crack extraction are used here to convert to actual dimensions.

以上のようにして、詳−細ひび割れ抽出と計測処理が終
了すると、計測したひび割れデータは画像処理装置5か
ら出力装置7の外部記憶装置(磁気ディスク)に記憶さ
れるとともに、ひび割れデータの解析が行われ、ひび割
れ図やひび割れ特性図等が作成される。ひび割れデータ
の出力書式を第22図に示す。この表において、ひび割
れ位置データは3次元座標値で表されることになってい
る。
When the detailed crack extraction and measurement processing is completed as described above, the measured crack data is stored from the image processing device 5 to the external storage device (magnetic disk) of the output device 7, and the crack data is analyzed. A crack diagram and a crack characteristic diagram are created. The output format of the crack data is shown in Figure 22. In this table, the crack position data is represented by three-dimensional coordinate values.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、物体表面の撮像
画像を階層的に圧縮し、この圧縮画像に対して線抽出円
形フィルタリングを用いたひび割れ候補部の抽出処理、
2値化、芯線化、ベクトル化、ノイズ分離処理を施して
抽出したひび割れ部から直線オペレータ法によりひび割
れ位置および幅を概略的に算出し、この概略的ひび割れ
位置および幅を最初のガイドマツプとし、以降は前記階
層的圧縮処理で圧縮した順と逆に圧縮比が大きい圧縮画
像で算出したひび割れ位置および幅をガイドマツプとし
て、このガイドマツプとした圧縮画像より圧縮比が1段
階小ざい画像のひび割れ部に対して段階的に2値化、ノ
イズ除去、芯線化、ひび割れ幅の計測を原画像に達する
まで繰り返し行っているので、画像圧縮によりひび割れ
が幅に無関係に線状特性だけを有し、線抽出画像処理ア
ルゴリズムを適用できるとともに、マクロ視野に基づく
ひび割れパターンの抽出により局所的な線状ノイズをひ
び割れと誤認識する危険性を低減することができ、また
物体表面の汚れ、しみ等の局所的ノイズの影響を低減す
ることができ、更に抽出した概略ひび割れパターンを段
階的に階層下位の画像上に展開しながらひび割れの中心
線位置、幅を計、11するため、ひび割れの連結性を保
ったまま位置精度、ひび割れ幅の計n1精度を向上でき
、また上位の階層で抽出したひび割れパターンをガイド
マツプとして逐次階層下位の画像の解析処理を行うため
、ひび割れのないミクロ画像は処理対象から除去でき、
処理の効率化を図ることができ、また段階的針n1によ
り徐々に計測値を精細化し、精度のよい計測を行うこと
ができる。
As described above, according to the present invention, a captured image of the surface of an object is compressed hierarchically, and crack candidate extraction processing using line extraction circular filtering on the compressed image;
The crack position and width are roughly calculated using the straight line operator method from the crack extracted after binarization, core line conversion, vectorization, and noise separation processing, and this rough crack position and width is used as the first guide map. The crack positions and widths calculated using compressed images with a higher compression ratio in the reverse order of the order of compression in the hierarchical compression process are used as a guide map, and the crack positions and widths of images with a compression ratio one step smaller than those of the compressed images using this guide map are used as a guide map. Since the process of binarization, noise removal, core line generation, and crack width measurement are repeated step by step until the original image is reached, the image compression allows the cracks to have only linear characteristics regardless of the width, resulting in a line-extracted image. In addition to being able to apply processing algorithms, it is possible to reduce the risk of misrecognizing local linear noise as cracks by extracting crack patterns based on the macro field of view. In addition, since the extracted rough crack pattern is developed step by step on images lower in the hierarchy and the total center line position and width of the crack is calculated, the crack position can be adjusted while maintaining the connectivity of the crack. The total n1 accuracy of accuracy and crack width can be improved, and since the crack patterns extracted in the upper layer are used as guide maps to sequentially analyze images in the lower layers, micro images without cracks can be removed from the processing target.
Processing efficiency can be improved, and the measured values can be gradually refined by the stepwise needle n1, allowing highly accurate measurements to be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例に係わるひび割れ測定システ
ムの概略構成図、第2図は第1図に示すひび割れ測定シ
ステムにおけるひび割れ抽出計測画像処理の概略的流れ
を説明図とともに示す図、第3図は第1図のひび割れ測
定システムの更に詳細な計測処理を示すフローチセート
、第4図は画像読み取り装置によるひび割れ写真の読み
取りを示す説明図、第5図はひび割れ写真フィルムの読
み取りにおけるシェーディング補正およびセンサノイズ
補正の方法を示す説明図、第6図(a)。 (b)、(C)はそれぞれ線保存平滑化フィルタリング
の説明図、最大値選択法による間引きの説明図および画
像の階層化と圧縮法の説明図、第7図は線抽出円形フィ
ルタリングにおける2値化基準算出とブロック分けの説
明図、第8図は写真画像座標から実構造物上の座標への
座標変換の説明図、第9図は直線オペレータ法の説明図
、第10図は詳細ひび割れ抽出の説明図、第11図は階
層上部で抽出したひび割れデータとこのデータに基づき
選択した下層画像データの関係を示す説明図、第12図
は概略ひび割れベクトル構成点を利用した局所的繰り返
し逐次判別2値化法の説明図、第13図はひび割れ部の
繰り返し2値化と膨張の説明図、第14図は計測位置の
移動と内接円の膨らませ、および穴埋めによるノイズの
影響の除去を示す説明図、第15図は概略ひび割れベク
トル構成点の移動による詳細ひび割れ芯線化の説明図、
第16図は多数決に基づく孤立点無視を併用したひび割
れの芯線化の説明図、第17図はひび割れ幅の定義を示
す説明図、第18図は細線化とベクトル化の説明図、第
19図は細線化に伴うひげ状ノイズの発生を示す説明図
、第20図はひび割れ画像処理に採用した画像処理方法
と主なパラメータを示す図、第21図は局所的および逐
次繰り返し2値化法における2値化パラメータを示す図
、第22図はひび割れデータの書式を示す図、第23図
は段階的ひび割れ計ハ1法の各段階における単位処理画
像の大きさを示す図である。 1・ Φフィルム、 3・ ・画像読み取り装置、 5・ ・画像処理装置、 7・・・出力装置。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a crack measurement system according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a schematic flow of crack extraction measurement image processing in the crack measurement system shown in FIG. Figure 3 is a flow chart showing more detailed measurement processing of the crack measurement system in Figure 1, Figure 4 is an explanatory diagram showing how an image reading device reads a crack photograph, and Figure 5 shows shading correction and FIG. 6(a) is an explanatory diagram showing a method of sensor noise correction. (b) and (C) are respectively an explanatory diagram of line-preserving smoothing filtering, an explanatory diagram of thinning by maximum value selection method, and an explanatory diagram of image layering and compression method. Figure 7 is a binary value in line extraction circular filtering. Fig. 8 is an explanatory diagram of coordinate conversion from photo image coordinates to coordinates on the actual structure, Fig. 9 is an explanatory diagram of the straight line operator method, and Fig. 10 is detailed crack extraction. Figure 11 is an explanatory diagram showing the relationship between crack data extracted at the top of the hierarchy and lower layer image data selected based on this data. Figure 12 is local iterative sequential determination 2 using approximate crack vector constituent points. An explanatory diagram of the digitization method, Fig. 13 is an explanatory diagram of repeated binarization and expansion of a cracked part, and Fig. 14 is an explanation of moving the measurement position, inflating the inscribed circle, and removing the influence of noise by filling in the holes. Figure 15 is an explanatory diagram of detailed crack core line formation by moving rough crack vector constituent points,
Fig. 16 is an explanatory diagram of core lineization of cracks using ignoring isolated points based on majority voting, Fig. 17 is an explanatory diagram showing the definition of crack width, Fig. 18 is an explanatory diagram of thinning and vectorization, and Fig. 19 is an explanatory diagram showing the occurrence of whisker-like noise due to line thinning, Fig. 20 is a diagram showing the image processing method and main parameters adopted for crack image processing, and Fig. 21 is a diagram showing the image processing method and main parameters adopted for crack image processing. FIG. 22 is a diagram showing the format of the crack data, and FIG. 23 is a diagram showing the size of the unit processed image at each stage of the stepwise crack measuring method. 1. Φ film, 3. Image reading device, 5. Image processing device, 7. Output device.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)物体の表面に発生したひび割れを画像処理して測
定するひび割れ測定システムであって、物体の表面を撮
像した画像に線保存平滑化フィルタリングを施しながら
所定の圧縮比まで階層的に圧縮する階層的圧縮手段と、
該階層的圧縮手段で所定の圧縮比まで圧縮した画像に対
して、線抽出円形フィルタリングを用いたひび割れ候補
部の抽出処理、2値化、芯線化、ベクトル化およびノイ
ズ分離処理を施してひび割れ部を抽出し位置を算出する
抽出手段と、該抽出手段で抽出されたひび割れ部から直
線オペレータ法によりひび割れ幅を算出する概略ひび割
れ幅算出手段と、該概略ひび割れ抽出手段および概略ひ
び割れ幅算出手段で算出したひび割れ位置および幅を最
初のガイドマップとし、以降は前記階層的圧縮手段で圧
縮した順と逆の順で圧縮比が大きい圧縮画像で算出した
ひび割れ位置および幅をガイドマップとして、該圧縮画
像より圧縮比が1段階小さい画像のひび割れ部に対して
段階的に2値化、ノイズ除去、芯線化、ひび割れ幅の計
測を原画像に達するまで行う詳細ひび割れ抽出計測手段
とを有することを特徴とするひび割れ測定システム。
(1) A crack measurement system that measures cracks that occur on the surface of an object by image processing, and compresses images of the surface of the object hierarchically to a predetermined compression ratio while applying line-preserving smoothing filtering. a hierarchical compression means;
The image compressed to a predetermined compression ratio by the hierarchical compression means is subjected to crack candidate extraction processing using line extraction circular filtering, binarization, skeletonization, vectorization, and noise separation processing to extract cracks. an extraction means for extracting and calculating the position; an approximate crack width calculation means for calculating the crack width by a straight line operator method from the crack extracted by the extraction means; and calculation by the approximate crack extraction means and the approximate crack width calculation means. The crack positions and widths calculated using the compressed images are used as the first guide map, and thereafter, the crack positions and widths calculated using compressed images with larger compression ratios are used as guide maps in the reverse order of the order compressed by the hierarchical compression method, and the compression ratios are calculated from the compressed images. Detailed crack extraction measurement means that performs stepwise binarization, noise removal, core line formation, and crack width measurement for cracked parts of an image that is one step smaller until the original image is reached. system.
(2)前記階層的圧縮手段は、物体の表面を撮像した画
像を所定の圧縮比まで階層的に圧縮して、太いひび割れ
を細い線構造に変換し、細いひび割れは細い線構造のま
ま保存する圧縮手段と、該圧縮手段で圧縮された画像を
構成する各点に対して線保存平滑化フィルタリングを行
い、ひび割れ以外のノイズを低減する線保存平滑フィル
タリング手段とを有することを特徴とする請求項(1)
記載のひび割れ測定システム。
(2) The hierarchical compression means hierarchically compresses the image taken of the surface of the object to a predetermined compression ratio, converts thick cracks into thin line structures, and saves thin cracks as they are as thin line structures. A claim characterized by comprising a compression means and a line-preserving smoothing filtering means for performing line-preserving smoothing filtering on each point constituting the image compressed by the compression means to reduce noise other than cracks. (1)
Described crack measurement system.
(3)前記詳細ひび割れ抽出計測手段における2値化は
、概略ひび割れベクトルの各構成点を中心とする局所的
な楕円形の小領域に2値化領域を絞り込み2値化する局
所的2値化小領域選択手段と、2値化部分と背景の面積
割合に偏りが生じないように概算算出したひび割れ幅を
参照して前記小領域を決定する小領域決定手段と、小領
域の2値化に際してノイズの影響を低減するように幅の
狭いひび割れに対して2値化、膨張、ノイズ除去および
前回2値化領域決定処理を繰り返す繰り返し2値化手段
と、該繰り返し2値化手段における繰り返し回数および
膨張回数を制限する回数制限手段とを有することを特徴
とする請求項(1)記載のひび割れ測定システム。
(3) The binarization in the detailed crack extraction measurement means is local binarization in which the binarization area is narrowed down to local elliptical small areas centered on each component point of the rough crack vector and binarized. a small area selecting means; a small area determining means for determining the small area by referring to a crack width that is roughly calculated so as not to cause bias in the area ratio between the binarized portion and the background; Iterative binarization means repeats binarization, expansion, noise removal, and previously binarized area determination processing for narrow cracks to reduce the influence of noise, and the number of repetitions in the iterative binarization means; 2. The crack measurement system according to claim 1, further comprising a number-of-times limiting means for limiting the number of times of expansion.
(4)前記詳細ひび割れ抽出計測手段におけるノイズ除
去および芯線化は、階層上位の画像で抽出されたひび割
れベクトルに基づき2値化されたひび割れ候補部に対し
、1つの領域毎に番号付けを行うひび割れ候補領域番号
付け手段と、概略ひび割れベクトルの各点においてひび
割れ方向に垂直な直線とひび割れ候補領域の境界部が交
わる点を求める中心位置探索手段と、一連のひび割れ点
の移動先番号を集計し、多数決によって最も多くの点が
移動した領域と同じ番号を有する領域に移動する移動結
果の多数決判定手段と、多数決により決められた領域に
移動していないひび割れ点について、再度その番号を有
する領域を探索して中心移動を行う再移動手段とを有し
、これにより概略ひび割れベクトルに基づき2値化され
たひび割れ部分についてひび割れの中心位置を求めると
ともに、その周囲にノイズとして残された領域と真のひ
び割れ部分を多数決を基本として識別することを特徴と
する請求項(1)記載のひび割れ測定システム。
(4) Noise removal and skeletonization in the detailed crack extraction measurement means are performed by numbering each region of the binarized crack candidate portions based on the crack vector extracted from the upper layer image. candidate area numbering means; center position searching means for determining the point where a straight line perpendicular to the crack direction and the boundary of the crack candidate area intersect at each point of the rough crack vector; and totaling destination numbers of a series of crack points; A means for determining the movement result by majority vote to move to the area having the same number as the area where the most points moved by majority vote, and for crack points that have not moved to the area determined by majority vote, search again for the area having that number. The center of the crack is determined based on the rough crack vector, and the center position of the crack is determined based on the approximate crack vector. 2. The crack measurement system according to claim 1, wherein the crack measurement system identifies the portion based on a majority vote.
(5)前記詳細ひび割れ抽出計測手段におけるひび割れ
幅の計測は、前記芯線化されたひび割れ中心線位置を中
心としてひび割れ部に内接する円を設定する内接円設定
手段と、ひび割れ候補部の形状の影響を除去するように
前記内接円の中心位置をひび割れ方向と垂直方向に揺ら
しながら徐々に円を膨らませて直径が最大となる内接円
を探索する最大内接円探索手段と、ひび割れ内部に島状
に取り残された抜け部分を前記内接円を求める前に穴埋
め処理する穴埋め手段とを有することを特徴とする請求
項(1)記載のひび割れ測定システム。
(5) The measurement of the crack width by the detailed crack extraction measurement means includes an inscribed circle setting means for setting a circle inscribed in the crack part centered on the position of the core-lined crack center line; a maximum inscribed circle search means for searching for an inscribed circle with a maximum diameter by gradually expanding the circle while shaking the center position of the inscribed circle in a direction perpendicular to the crack direction so as to remove the influence; 2. The crack measuring system according to claim 1, further comprising a hole filling means for filling the missing portions left behind in an island shape before determining the inscribed circle.
JP27602189A 1989-10-25 1989-10-25 Crack measurement system Expired - Fee Related JPH07111735B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27602189A JPH07111735B2 (en) 1989-10-25 1989-10-25 Crack measurement system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27602189A JPH07111735B2 (en) 1989-10-25 1989-10-25 Crack measurement system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03138775A true JPH03138775A (en) 1991-06-13
JPH07111735B2 JPH07111735B2 (en) 1995-11-29

Family

ID=17563687

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27602189A Expired - Fee Related JPH07111735B2 (en) 1989-10-25 1989-10-25 Crack measurement system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07111735B2 (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008046065A (en) * 2006-08-21 2008-02-28 Nagoya City Road surface image creating method and road surface image producing device
JP2014006222A (en) * 2012-06-27 2014-01-16 Railway Technical Research Institute Method and apparatus for detecting change of concrete surface
JP2014041397A (en) * 2012-08-21 2014-03-06 Asia Air Survey Co Ltd Method, program and apparatus for generating feature image on track
WO2017110279A1 (en) * 2015-12-25 2017-06-29 富士フイルム株式会社 Damage information processing device and damage information processing method
CN111611783A (en) * 2020-06-18 2020-09-01 山东旗帜信息有限公司 Positioning and dividing method and device for graphic table
JP2020148467A (en) * 2019-03-11 2020-09-17 ミサワホーム株式会社 Estimation method of experienced maximum interlayer deformation angle and program
CN113899874A (en) * 2021-11-17 2022-01-07 重庆钢铁股份有限公司 Evaluation and detection method for low-power detection of intermediate cracks of continuous casting slabs

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017126367A1 (en) * 2016-01-22 2017-07-27 富士フイルム株式会社 Crack information editing device, crack information editing method, and crack information editing program
CN108463717B (en) * 2016-01-26 2021-05-25 富士胶片株式会社 Crack information detection device, crack information detection method, and storage medium

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008046065A (en) * 2006-08-21 2008-02-28 Nagoya City Road surface image creating method and road surface image producing device
JP2014006222A (en) * 2012-06-27 2014-01-16 Railway Technical Research Institute Method and apparatus for detecting change of concrete surface
JP2014041397A (en) * 2012-08-21 2014-03-06 Asia Air Survey Co Ltd Method, program and apparatus for generating feature image on track
WO2017110279A1 (en) * 2015-12-25 2017-06-29 富士フイルム株式会社 Damage information processing device and damage information processing method
JPWO2017110279A1 (en) * 2015-12-25 2018-10-04 富士フイルム株式会社 Damage information processing apparatus and damage information processing method
US10942130B2 (en) 2015-12-25 2021-03-09 Fujifilm Corporation Damage information processing device and damage information processing method
JP2020148467A (en) * 2019-03-11 2020-09-17 ミサワホーム株式会社 Estimation method of experienced maximum interlayer deformation angle and program
CN111611783A (en) * 2020-06-18 2020-09-01 山东旗帜信息有限公司 Positioning and dividing method and device for graphic table
CN113899874A (en) * 2021-11-17 2022-01-07 重庆钢铁股份有限公司 Evaluation and detection method for low-power detection of intermediate cracks of continuous casting slabs
CN113899874B (en) * 2021-11-17 2024-04-12 重庆钢铁股份有限公司 Evaluation and detection method for intermediate crack of low-power inspection of continuous casting slab

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07111735B2 (en) 1995-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11551341B2 (en) Method and device for automatically drawing structural cracks and precisely measuring widths thereof
CN112419250B (en) Pavement crack digital image extraction, crack repair and crack parameter calculation method
CN109886939B (en) Bridge crack detection method based on tensor voting
CN102032875B (en) Image-processing-based cable sheath thickness measuring method
CN113240626A (en) Neural network-based method for detecting and classifying concave-convex flaws of glass cover plate
CN110207592A (en) Building cracks measurement method, device, computer equipment and storage medium
CN110136196B (en) Automatic bridge crack width measuring method
JPH03138775A (en) Crack measuring system
CN110334727B (en) Intelligent matching detection method for tunnel cracks
JPH0961138A (en) Crack extraction apparatus
JP3330829B2 (en) Automatic detection method of evaluable area in images of machine parts
CN116503733B (en) Remote sensing image target detection method, device and storage medium
Ekhtari et al. Automatic building extraction from LIDAR digital elevation models and WorldView imagery
CN115984687A (en) River work moving bed model test water boundary measuring method, device, equipment and medium
KR20230139960A (en) Shape property analysis device and method of coarse-grained particles based on Image Analysis
JP2004258931A (en) Image processing method, image processor, and image processing program
JP2004145592A (en) Motion vector extraction device, method and program, and its recording medium
CN113269207B (en) Image feature point extraction method for grid structure light vision measurement
CN116863176B (en) Image template matching method for digital intelligent manufacturing
Xue et al. YOLOv5-based pothole measurement
Egami et al. Three dimensional measurement using color image and movable CCD system
JPH0783614A (en) Distance image processing method
JPS62262180A (en) Picture quality inspecting method
JPS62148838A (en) Defect recognizing method
CN116612007A (en) Method and device for splicing sub-apertures on surface of optical element

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071129

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081129

Year of fee payment: 13

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees