JPH03133210A - Delay circuit - Google Patents
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- JPH03133210A JPH03133210A JP1272024A JP27202489A JPH03133210A JP H03133210 A JPH03133210 A JP H03133210A JP 1272024 A JP1272024 A JP 1272024A JP 27202489 A JP27202489 A JP 27202489A JP H03133210 A JPH03133210 A JP H03133210A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 10
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 101100113576 Arabidopsis thaliana CINV2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、遅延回路に関し、特に遅延時間をステップ状
に可変する事が可能な遅延回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a delay circuit, and particularly to a delay circuit whose delay time can be varied in steps.
従来この種の遅延回路は、ステップの数だけ異なる時定
数回路を設け、その出力をインバータで波形整形し、そ
れぞれの出力をマルチプレクサに入力し、マルチプレク
サのコントロール端子の条件により、ある遅延量をもっ
た信号をひとつだけ選択し出力していた。Conventionally, this type of delay circuit has a time constant circuit that differs by the number of steps, the outputs of which are waveform-shaped by an inverter, each output is input to a multiplexer, and a certain amount of delay is generated depending on the conditions of the control terminal of the multiplexer. Only one signal was selected and output.
第5図に従来回路の一実施例を示す。FIG. 5 shows an example of a conventional circuit.
第5図に示す従来回路において、2は入力端子、4は出
力端子、5〜7はマルチプレクサコントロール端子、R
1−R1は抵抗%C1〜C7はコンデンサ、INV3〜
INV16はインバータを示す。In the conventional circuit shown in FIG. 5, 2 is an input terminal, 4 is an output terminal, 5 to 7 are multiplexer control terminals, and R
1-R1 is a resistance %C1~C7 are capacitors, INV3~
INV16 indicates an inverter.
次に第5図、第6図により従来回路の動作について説明
する。Next, the operation of the conventional circuit will be explained with reference to FIGS. 5 and 6.
第5図は、遅延時間のステップ数が7つの場合の実施例
である。ここで、入力信号の立上り、立下りエツジに対
する遅延時間(以下tdとする)は、インバータ3,5
,7,9,11,13.15のスレッショールド電圧(
以下vT、(とする)をV、やとすると、次式で表わさ
れる。FIG. 5 shows an example in which the number of steps in the delay time is seven. Here, the delay time (hereinafter referred to as td) for the rising and falling edges of the input signal is
, 7, 9, 11, 13.15 threshold voltages (
Hereinafter, when vT, (assumed) is V, it is expressed by the following equation.
td=(−C,〜、×R1〜7)×
J2n (1−VtM/V+s) [:S] (1)
但し ■1、:入力電圧の波高値
従ってV 7H、V INを一定とすると、C1〜、と
R+〜。td=(-C,~,×R1~7)×J2n (1-VtM/V+s) [:S] (1)
However, (1): The peak value of the input voltage, therefore, assuming that V7H and VIN are constant, C1~ and R+~.
の積で決まる時定数を変える事により、入力信号に対す
るインバータ4,6,8,10,12,14゜16の遅
延時間は図−6に示す様にtd+〜tdtの異なった遅
延時間が得られる。By changing the time constant, which is determined by the product of .
前述の各出力をマルチプレクサ(以下MPX)に入力し
、コントロール端子5,6.7の信号でMPXをコント
ロールする事により、tdl〜tarの遅延時間を持つ
信号がステップ状で、出力端子4に得られる。By inputting each of the above-mentioned outputs to a multiplexer (hereinafter referred to as MPX) and controlling MPX with the signals at control terminals 5 and 6.7, a step signal with a delay time of tdl to tar is obtained at output terminal 4. It will be done.
前述した従来の実施例においては、ひとつの遅延時間に
つき一組の時定数回路が必要となる為、ステップ数が多
ければ多い程、時定数回路も増加してしまう。In the conventional embodiment described above, one set of time constant circuits is required for each delay time, so the larger the number of steps, the more time constant circuits will be required.
又、ICにおいて遅延時間の精度を上げる為には、R又
はC1もしくはR,Cを外付とする必要があり、ステッ
プ数に応じてピン数が増加してしまう。本発明は、ステ
ップ数にかかわらず、コントロール端子の電圧を変える
事により、ひとつの時定数回路で異なる遅延時間を持つ
出力が得らhる遅延回路を提供する事にある。又、IC
においては、素子ばらつきによる遅延時間のばらつきに
ついても、素子のばらつき状態に応じてコントロール端
子の電圧を調整する事により、ばらつきを抑える事が可
能である為、ビン数は、コンデンサを接続する為の1ビ
ン又は、コンデンサを内蔵すれば、外付用のビンは不用
となる。Furthermore, in order to improve the precision of the delay time in the IC, it is necessary to externally connect R or C1 or R and C, and the number of pins increases according to the number of steps. An object of the present invention is to provide a delay circuit in which outputs having different delay times can be obtained from one time constant circuit by changing the voltage at the control terminal regardless of the number of steps. Also, IC
In this case, it is possible to suppress variations in delay time due to element variations by adjusting the control terminal voltage according to the element variations, so the number of bins is determined by the number of bins for connecting capacitors. If one bottle or a capacitor is built in, an external bottle becomes unnecessary.
本発明の遅延回路は、遅延時間をコントロールする為の
コントロール端子3.トランスファーゲートのPチャン
ネルMO3)ランジスタのゲート電圧を制御する為のコ
ントロール端子に印加される電圧の逆の極性を出力する
増幅器Amp2゜トランスファーゲートのNチャンネル
MOSトランジスタのゲート電圧を制御する為のコント
ロール端子に印加される電圧と同じ極性の電圧を出力す
る増幅器Ampl、ゲート電圧によって、抵抗値が変化
するトランスファーゲート92時定数決定用のコンデン
サC3,あるスレッシールド電圧を持つインバータIN
V1.出力Buff用のインバータI NV 2 、出
力端子4を有している。The delay circuit of the present invention has a control terminal 3 for controlling the delay time. P-channel MO3 of the transfer gate Amplifier Amp2゜ outputs the opposite polarity of the voltage applied to the control terminal for controlling the gate voltage of the transistor A control terminal for controlling the gate voltage of the N-channel MOS transistor of the transfer gate An amplifier Ampl that outputs a voltage of the same polarity as the voltage applied to the transfer gate 92 whose resistance value changes depending on the gate voltage, a capacitor C3 for determining the time constant, and an inverter IN with a certain threshold voltage.
V1. It has an inverter I NV 2 for output Buff and an output terminal 4.
次に本発明について図面を参照して具体的に説明する。 Next, the present invention will be specifically explained with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例を示すものであり第5図と同
一の番号及び記号は同一のものを示している。FIG. 1 shows one embodiment of the present invention, and the same numbers and symbols as in FIG. 5 indicate the same things.
第1図において、コントロール端子に、第2図に示す様
なかいだん状の電圧を印加すると、その電圧が、Amp
lにより1倍に増幅、Amp2によりマイナス1倍に増
幅され、トランスファーゲート9のMPIゲー)、MH
Iゲートには、それぞれ、第3図に示す様なAmp2出
力、Ampl出力が印加される。In Fig. 1, when a voltage in the shape of a microwave as shown in Fig. 2 is applied to the control terminal, the voltage
Amplified by 1 times by Amp 1, minus 1 times by Amp2, MPI gate of transfer gate 9), MH
Amp2 output and Ampl output as shown in FIG. 3 are respectively applied to the I gate.
次にトランスファゲート9について説明する。Next, the transfer gate 9 will be explained.
トランスファゲートは、図−4に示す入力電圧の立上り
エツジでは、入力電圧波高値(以下V+N)=電源端子
電圧(以下V。。)とすると、MHIは、ゲート電圧(
以下VGN) <ソース電圧(以下V S N )とな
る為、動作せず、MPIのみが動作する。In the transfer gate, at the rising edge of the input voltage shown in Figure 4, if the input voltage peak value (hereinafter referred to as V+N) = power supply terminal voltage (hereinafter referred to as V), then the MHI is equal to the gate voltage (
Since VGN)<source voltage (VSN), it does not operate and only MPI operates.
又、入力電圧の立下りエツジでは、MPIはV a p
> V S pとなる為、動作せず、MNlのみが動
作する。Also, on the falling edge of the input voltage, MPI is V a p
> V Sp , it does not operate, and only MNl operates.
又、トランスファゲート9の動作抵抗(以下オン抵抗)
は、入力電圧の立上り立下り時で次式の様に表わされる
。In addition, the operating resistance (hereinafter referred to as on-resistance) of the transfer gate 9
is expressed as the following equation at the time of rising and falling of the input voltage.
MPl、MNlとも、動作時には、ドレイン電圧物ソー
ス電圧の為Vゎ、く■。s−V、の関係が成立する。During operation, both MPl and MNl have a voltage of V due to the drain voltage and source voltage. The relationship s-V holds true.
但し VDS: ドレイン−ソース閾電圧VO’!:ゲ
ートーソース間電圧
■T:チャンネルが発生し、電流が流れ始めるゲート−
ソース間電圧
Pチャンネルオン抵抗(=Ros−p) ==(μ×ε
。、)/(2Xτ。X)
μ:高電界移動度
ε。、:酸化膜誘電率
τ。バ酸化膜厚
ここで、V G S p 、 V G S Nは、入力
電圧波高値v1、と、ゲート電圧V G p r V
G xとの差電圧であるから(2)式、(3)式は次の
様になる。However, VDS: Drain-source threshold voltage VO'! : Gate-source voltage ■T: Gate where a channel is generated and current begins to flow.
Source-to-source voltage P channel on-resistance (=Ros-p) ==(μ×ε
. , )/(2Xτ.X) μ: High field mobility ε. , : oxide film dielectric constant τ. Here, V G S p and V G S N are the input voltage peak value v1 and the gate voltage V G p r V
Since this is the voltage difference from G x, equations (2) and (3) become as follows.
Nチャンネルオン抵抗(=RoN−x) =但し、WP
、WN: PチャンネルMOSトランジスタ、Nチャン
ネルMO3)ランジスタチャン
ネル幅
り、、LN:PチャンネルMOSトランジスタ、Nチャ
ンネルMOSトランジスタチャン
ネル長
β6.β、:PチャンネルMOSトランジスタ、Nチャ
ンネルMOSトランジスタコンダ
クタンス
従って、V G p + V G xを図−3に示す様
な電圧でコントロールする事により、入力電圧の立上り
。N-channel on resistance (=RoN-x) = However, WP
, WN: P-channel MOS transistor, N-channel MO3) transistor channel width, , LN: P-channel MOS transistor, N-channel MOS transistor channel length β6. β,: P-channel MOS transistor, N-channel MOS transistor conductance Therefore, by controlling V G p + V G x with a voltage as shown in Figure 3, the rise of the input voltage.
立下リエツジでトランスファゲート9の抵抗を可変する
事が可能となる。The resistance of the transfer gate 9 can be varied by the falling edge.
次に、遅延時間量は、次式で表わされる。Next, the amount of delay time is expressed by the following equation.
立上り時遅延時間tdn=
(−Cs xRox−r )xβn(1−Vt*/V+
++)CS) (6)立下り時遅延時間tdn’=
(−Cs xRox−1)XIln(1−VTI/V、
N)(S:) (7)以上より、(4)〜(7)式より
、必要な遅延時間を代入し、V G p r V G
Nを求め、その電圧をコントロール端子に入力する事に
より、Rox−p + Rox−yが可変される為、第
4図に示す様にステップ数が7つの場合遅延時間をtd
、〜td7の間で可変する事が出来る。Rise delay time tdn= (-Cs xRox-r)xβn(1-Vt*/V+
++)CS) (6) Falling delay time tdn'= (-Cs xRox-1)XIln(1-VTI/V,
N)(S:) (7) From the above, from equations (4) to (7), substitute the necessary delay time and get V G p r V G
By finding N and inputting that voltage to the control terminal, Rox-p + Rox-y can be varied, so when the number of steps is 7 as shown in Figure 4, the delay time td
, to td7.
又、β4.βN I V T p r V T pコン
デンサがばらついた場合でも、Ampl、Amp2出力
の絶対値を変化させる事により、素子ばらつきによる遅
延時間を吸収する事が出来る為、コンデンサを外付とす
る必要はなくなり、ピンを削減する事が出来る。Also, β4. βN I V T p r V T pEven if the capacitor varies, the delay time due to element variation can be absorbed by changing the absolute value of the Ampl and Amp2 outputs, so there is no need to use an external capacitor. It is possible to reduce the number of pins.
又、tdn、tdn’は、W N / L x 、 W
p / L pの値を適切な値にする事によりtdn
=tdn’とする事が出来る。Also, tdn and tdn' are W N / L x, W
p/L By setting the value of p to an appropriate value, tdn
=tdn'.
以上説明した様に本発明の遅延回路によれば、ステップ
数に合わせて、ステップ数だけのレベルの異なるコント
ロール電圧を印加する事により、時定数回路がひとつで
も異なる遅延時間を持つ出力を得る事が出来る。As explained above, according to the delay circuit of the present invention, by applying control voltages with different levels corresponding to the number of steps, even one time constant circuit can obtain outputs with different delay times. I can do it.
又、素子、コンデンサのばらつきについても、コントロ
ール端子電圧の絶対値を可変する事により、吸収する事
が可能となる為、外付用のピンの削減も可能となる。Also, variations in elements and capacitors can be absorbed by varying the absolute value of the control terminal voltage, which also makes it possible to reduce the number of external pins.
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は、本
発明のコントロール端子に印加される電圧波形、第3図
は、トランスファーゲートのPチャンネルMOSトラン
ジスタ、NチャンネルMOSトランジスタのゲートに印
加される電圧波形、第4図は、本発明の各部の動作波形
、第5図は従来の実施例を示す回路図、第6図は従来の
実施例の各部の動作波形を示す。
l・・・・・・電源端子、2・・・・・・入力端子、3
・・・・・・コントロール端子、4・・・・・・出力端
子、5〜7・・・・・・マルチプレクサコントロール端
子、8・・・・・・マルチプレクザ、
9
・・・・・トランスファーゲート、
INVI〜
NVI
6・・・・・・インバータ、
R1〜R7・・・・・・抵抗、
C+〜Ca・・・・・・コンデンサ。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a voltage waveform applied to a control terminal of the present invention, and FIG. 3 is a diagram of a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor of a transfer gate. The voltage waveform applied to the gate, FIG. 4 shows the operating waveform of each part of the present invention, FIG. 5 is a circuit diagram showing a conventional embodiment, and FIG. 6 shows the operating waveform of each part of the conventional embodiment. l...Power terminal, 2...Input terminal, 3
...control terminal, 4 ...output terminal, 5 to 7 ...multiplexer control terminal, 8 ...multiplexer, 9 ...transfer gate, INVI~ NVI 6...Inverter, R1~R7...Resistor, C+~Ca...Capacitor.
Claims (1)
トランジスタのドレイン、ソースが共通に接続されたト
ランスファーゲートにおいて、ドレイン側に入力端子を
備えPチャンネルMOSトランジスタのゲートにはコン
トロール端子に印加される電圧と逆の極性が出力される
増幅器の出力を、NチャンネルMOSトランジスタのゲ
ートにはコントロール端子に印加される電圧と同じ極性
が出力される増幅器の出力を接続し、ソース側には、G
NDとの間にコンデンサを有する構成の回路において、
コントロール端子に印加される電圧において、前述のト
ランスファーゲートのゲート電圧を発生させゲート電圧
を可変する事により、トランスファーゲートの動作抵抗
を可変し、その動作抵抗と容量の時定数により入力信号
に対する遅延時間を変化させられる事を特徴とする遅延
回路。P-channel MOS transistor and N-channel MOS
In a transfer gate in which the drain and source of a transistor are connected in common, an input terminal is provided on the drain side, and the gate of the P-channel MOS transistor receives the output of an amplifier that outputs a voltage of opposite polarity to the voltage applied to the control terminal. The gate of the N-channel MOS transistor is connected to the output of an amplifier that outputs the same polarity as the voltage applied to the control terminal, and the source side is connected to the G
In a circuit configured to have a capacitor between it and ND,
By generating the gate voltage of the transfer gate described above and varying the gate voltage in the voltage applied to the control terminal, the operating resistance of the transfer gate can be varied, and the delay time for the input signal is determined by the time constant of the operating resistance and capacitance. A delay circuit characterized by being able to change.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1272024A JPH03133210A (en) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Delay circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1272024A JPH03133210A (en) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Delay circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03133210A true JPH03133210A (en) | 1991-06-06 |
Family
ID=17508067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1272024A Pending JPH03133210A (en) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Delay circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03133210A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014161007A (en) * | 2013-01-24 | 2014-09-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Semiconductor device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5950610A (en) * | 1982-09-17 | 1984-03-23 | Hitachi Ltd | Pulse delay circuit |
JPS5990422A (en) * | 1982-11-15 | 1984-05-24 | Hitachi Ltd | Automatic control circuit of pulse phase |
-
1989
- 1989-10-18 JP JP1272024A patent/JPH03133210A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5950610A (en) * | 1982-09-17 | 1984-03-23 | Hitachi Ltd | Pulse delay circuit |
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JP2014161007A (en) * | 2013-01-24 | 2014-09-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Semiconductor device |
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