JPH03122371U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH03122371U JPH03122371U JP2991890U JP2991890U JPH03122371U JP H03122371 U JPH03122371 U JP H03122371U JP 2991890 U JP2991890 U JP 2991890U JP 2991890 U JP2991890 U JP 2991890U JP H03122371 U JPH03122371 U JP H03122371U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insulating sheet
- measuring jig
- conductive pattern
- correspondence
- laminated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Description
第１図は本考案の実施例を示す測定治具の側断
面図、第２図は第１図治具に用いられる絶縁シー
トの斜視図、第３図は本考案の他の実施例として
用いられる絶縁シートの斜視図、第４図は従来の
測定治具の一例を示す一部断面斜視図である。 ９……測定治具、１０，１０′……絶縁シート
、１１ａ，１１ｂ……導電パターン。
面図、第２図は第１図治具に用いられる絶縁シー
トの斜視図、第３図は本考案の他の実施例として
用いられる絶縁シートの斜視図、第４図は従来の
測定治具の一例を示す一部断面斜視図である。 ９……測定治具、１０，１０′……絶縁シート
、１１ａ，１１ｂ……導電パターン。
Claims (1)
- 可撓性の絶縁シートに積層形成した導電パター
ンを被測定物の電極に対応して絶縁シートの周縁
部に延在させたことを特徴とする測定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2991890U JPH03122371U (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2991890U JPH03122371U (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03122371U true JPH03122371U (ja) | 1991-12-13 |
Family
ID=31532662
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2991890U Pending JPH03122371U (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03122371U (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS644042A (en) * | 1987-06-09 | 1989-01-09 | Tektronix Inc | Prober |
| JPH01108738A (ja) * | 1987-10-21 | 1989-04-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 測定装置 |
| JPH01120838A (ja) * | 1987-08-28 | 1989-05-12 | Tektronix Inc | プロープ |
| JPH01128381A (ja) * | 1987-11-12 | 1989-05-22 | Fujitsu Ltd | Ｌｓｉウエハの試験方法 |
-
1990
- 1990-03-23 JP JP2991890U patent/JPH03122371U/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS644042A (en) * | 1987-06-09 | 1989-01-09 | Tektronix Inc | Prober |
| JPH01120838A (ja) * | 1987-08-28 | 1989-05-12 | Tektronix Inc | プロープ |
| JPH01108738A (ja) * | 1987-10-21 | 1989-04-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 測定装置 |
| JPH01128381A (ja) * | 1987-11-12 | 1989-05-22 | Fujitsu Ltd | Ｌｓｉウエハの試験方法 |