JPH03120796A - Low-noise shield device - Google Patents
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- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、低雑音用の増幅器などを格納して外界から入
り込む雑音を遮蔽する低雑音シールド装置に関し、特に
液体窒素温度から室温(50℃程度)で動作するような
動作温度範囲の広い低雑音増幅器などに適応して好適な
低雑音シールド装置に関する。Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a low-noise shielding device that houses a low-noise amplifier and shields noise from the outside world, and particularly relates to a low-noise shielding device that houses a low-noise amplifier and the like and shields noise from the outside world. The present invention relates to a low-noise shielding device that is suitable for use with low-noise amplifiers with a wide operating temperature range, such as those that operate at low temperatures.
[従来技術〕
近年、液体窒素温度で超電導状態が実現できるようにな
ったことにより、その液体窒素温度の77 Kにて磁気
シールド容器のシールド特性や脳波の測定などを行ない
たい場合が増えてきた。このために微小な検出信号を取
扱うことが多くなっている。[Prior art] In recent years, as it has become possible to achieve a superconducting state at liquid nitrogen temperature, there has been an increase in the number of cases where it is desired to measure the shielding characteristics of magnetically shielded containers and electroencephalogram measurements at the liquid nitrogen temperature of 77 K. . For this reason, very small detection signals are often handled.
第5図は、液体窒素温度における磁気シールド容器のシ
ールド特性の測定装置の概略構成を示す。FIG. 5 shows a schematic configuration of an apparatus for measuring shielding characteristics of a magnetically shielded container at liquid nitrogen temperature.
同図の装置は、超電導磁気シールド容器4の磁気遮蔽効
果を測定するものである。1はレファレンスコイル、2
は励起コイル、3はピックアップコイル、5は低雑音F
ET増幅器である。レファレンスコイル1、励起コイル
2、ピックアップコイル3、シールド容器4、および低
雑音FET増幅器5は液体窒素6中に配置される。The apparatus shown in the figure measures the magnetic shielding effect of the superconducting magnetically shielded container 4. 1 is the reference coil, 2
is an excitation coil, 3 is a pickup coil, and 5 is a low noise F
It is an ET amplifier. Reference coil 1 , excitation coil 2 , pickup coil 3 , shield container 4 , and low-noise FET amplifier 5 are placed in liquid nitrogen 6 .
ファンクションジェネレータ7により発生した信号はパ
ワーアンプ8で電力増幅され、この信号により励起コイ
ル2が駆動される。励起コイル2の駆動により発生した
磁束のうち、シールド容器4の外側から内側に漏れる磁
束をピックアップコイル3で検出する。検出した微小信
号は低雑音FET増幅器5で増幅され、室温中に置かれ
たプリアンプ9に入力される。プリアンプ9で増幅され
た信号はロックインアンプ10に入力される。A signal generated by the function generator 7 is power amplified by a power amplifier 8, and the excitation coil 2 is driven by this signal. Among the magnetic flux generated by driving the excitation coil 2, the magnetic flux leaking from the outside to the inside of the shield container 4 is detected by the pickup coil 3. The detected minute signal is amplified by a low-noise FET amplifier 5 and input to a preamplifier 9 placed at room temperature. The signal amplified by preamplifier 9 is input to lock-in amplifier 10.
一方、励起コイル2に併設してレファレンスコイル1が
設けられている。励起コイル2の駆動により発生した磁
束はレファレンスコイル1により検出され、この検出信
号はプリアンプ11を介してロックインアンプ10に入
力される。On the other hand, a reference coil 1 is provided alongside the excitation coil 2. The magnetic flux generated by driving the excitation coil 2 is detected by the reference coil 1, and this detection signal is input to the lock-in amplifier 10 via the preamplifier 11.
ロックインアンプ10は、プリアンプ11からのレファ
レンス信号の周波数に同期してプリアンプ9からの漏れ
磁束検出信号中の同じ周波数成分を取出す。これは、プ
リアンプ9からの漏れ磁束検出信号中には周囲からの雑
音などにより多くの周波数成分が含まれているため、励
起コイル2の脇にシールド容器に依存せずに励起コイル
2からの磁束を検出するレファレンスコイル1を設け、
このレファレンスコイル1からの信号の周波数(ファン
クションジェネレータ7により発生した信号の周波数に
等しい)に同期してプリアンプ9からの漏れ磁束検出信
号(微小信号)中の同じ周波数成分を取出すようにして
、雑音分を除去するものである。このときは、はぼマイ
クロボルト(μV)からミリポルI□(mV)のオーダ
のノイズの中から、当該周波数のナノボルト(n V)
オーダの信号を抽出することとなる。12はロックイン
アンプ10からの出力信号なとに基づいて測定結果を表
示するオシロスコープである。The lock-in amplifier 10 extracts the same frequency component in the leakage flux detection signal from the preamplifier 9 in synchronization with the frequency of the reference signal from the preamplifier 11. This is because the leakage magnetic flux detection signal from the preamplifier 9 contains many frequency components due to noise from the surroundings, so the magnetic flux from the excitation coil 2 is A reference coil 1 is provided to detect the
The same frequency component in the leakage flux detection signal (minimal signal) from the preamplifier 9 is extracted in synchronization with the frequency of the signal from the reference coil 1 (equal to the frequency of the signal generated by the function generator 7), thereby eliminating noise. This is to remove the amount. At this time, nanovolts (n V) of the relevant frequency are selected from noise on the order of microvolts (μV) to millipol I□ (mV).
The order signal will be extracted. Reference numeral 12 denotes an oscilloscope that displays measurement results based on the output signal from the lock-in amplifier 10.
低雑音FET増幅器5は、ピックアップコイル3からの
差動入力(nVオーダの信号)を直ちに増幅してプリア
ンプ9に引渡すものである。この低雑音FET増幅器5
が無いとすると、ピックアップコイル3からプリアンプ
9まで適当な長さ(例えば1.5m程度)のケーブルで
接続することとなるが、この様にケーブルを引き回すと
外界のノイズを多く拾うこととなり、S/N比が悪化す
る。その対策のため低雑音FET増幅器5を設け、増幅
器全体の入力換算雑音電圧を小さくすることとしている
。さらに、外界の雑音が入り込まないように、かかる低
雑音FET増幅器にはシールド装置が適用される。The low-noise FET amplifier 5 immediately amplifies the differential input (signal on the order of nV) from the pickup coil 3 and delivers it to the preamplifier 9. This low noise FET amplifier 5
If there is no such thing, you would need to connect the pickup coil 3 to the preamplifier 9 with a cable of an appropriate length (for example, about 1.5 m), but if you route the cable in this way, it will pick up a lot of external noise, and the S /N ratio deteriorates. To counter this, a low noise FET amplifier 5 is provided to reduce the input equivalent noise voltage of the entire amplifier. Furthermore, a shielding device is applied to such a low-noise FET amplifier to prevent outside noise from entering.
第6図は上述のような低雑音FET増幅器のシールド装
置の上面図、第7図はその斜視図を示す。FIG. 6 shows a top view of the above-described shielding device for a low-noise FET amplifier, and FIG. 7 shows a perspective view thereof.
第7図の斜視図はシールド装置のシールドケース等を透
視して内部の構成を示している。The perspective view of FIG. 7 shows the internal structure of the shield device as seen through the shield case and the like.
これらの図において、151は上述の低雑音FET増幅
器の基板、152は内側(第1の)シールドケース、1
53は外側(第2の)シールドケースである。低雑音F
ET増幅器基板151は内側シールドケース152に取
付けられている。154はコネクタ取付用の孔、155
〜158はケーブル貫通用の孔、159〜162および
159′〜162′は内側シールドケース152の空気
抜き孔、163〜166および163′〜166′は外
側シールドケース153の空気抜き孔である。ツイスト
ペアシールド線からなる入カケープル167はケーブル
貫通用孔158および157を通って基板151に接続
される。また、ツイストペアケーブルからなる出カケー
プル168は基板151からケーブル貫通用孔156を
通ってコネクタ171に接続される。169は電源ケブ
ル(+、GND、 −用3芯ケーブル)、170はブツ
シュである。In these figures, 151 is the board of the above-mentioned low-noise FET amplifier, 152 is the inner (first) shield case, 1
53 is an outer (second) shield case. Low noise F
ET amplifier board 151 is attached to inner shield case 152. 154 is a hole for attaching a connector, 155
158 to 158 are cable penetration holes, 159 to 162 and 159' to 162' are air vent holes in the inner shield case 152, and 163 to 166 and 163' to 166' are air vent holes in the outer shield case 153. An input cable 167 consisting of a twisted pair shielded wire is connected to the substrate 151 through cable penetration holes 158 and 157. Further, an output cable 168 made of a twisted pair cable is connected to the connector 171 from the board 151 through the cable penetration hole 156. 169 is a power cable (3-core cable for +, GND, -), and 170 is a bushing.
このように二重シールドされた低雑音FET増幅器を第
5図に示すように液体窒素の中に沈めて用いる。内側シ
ールドケース152の空気抜き孔159〜162および
159′〜162′並びに外側シールドケース153の
空気抜き孔163〜166および163′〜166′は
、FET増幅器基板151をシールドケースとともに液
体窒素中に入れるときに、シールドケース内の空気を早
急にケース外へ放出するために、あらかじめケースに開
けておくものである。これらの空気抜き孔は低雑音FE
T増幅器を液体窒素中から空気中に取出したときに液体
窒素を抜くためにも必要である。なお、各ケースのコネ
クタ取付は用の孔、ケ−プル貫通用の孔、空気抜き孔の
大きさおよび個数は必要に応じて定める。The double-shielded low-noise FET amplifier is used by submerging it in liquid nitrogen as shown in FIG. The air vent holes 159 to 162 and 159' to 162' of the inner shield case 152 and the air vent holes 163 to 166 and 163' to 166' of the outer shield case 153 are provided when the FET amplifier board 151 is placed in liquid nitrogen together with the shield case. , an opening is made in the case in advance in order to quickly release the air inside the shield case to the outside of the case. These air vents are low noise FE
It is also necessary to remove the liquid nitrogen when the T amplifier is taken out from the liquid nitrogen into the air. The size and number of holes for connector attachment, cable penetration holes, and air vent holes in each case are determined as necessary.
[発明が解決しようとする課題]
ところが、上述のようなシールドケースを用いるとシー
ルドケースに各種の孔が多く開いているため、外界のノ
イズの影響が大きく、室温においても増幅器の入力に孔
から侵入したノイズがまわり込むことがあった。[Problems to be Solved by the Invention] However, when using the above-mentioned shield case, the shield case has many holes of various types, so the influence of external noise is large, and even at room temperature, the input of the amplifier cannot be accessed through the holes. There were times when the intruding noise was reflected.
本発明は、上述の従来形における問題点に鑑み、液体窒
素中に沈めて用いるような場合であっても簡単に沈める
ことができ、外界からのノイズの影響を最少限に押さえ
た低雑音シールド装置を提供することを目的とする。In view of the problems with the conventional type described above, the present invention provides a low-noise shield that can be easily submerged in liquid nitrogen and minimizes the influence of noise from the outside world. The purpose is to provide equipment.
[課題を解決するための手段]
上記の目的を達成するため、本発明は、回路本体を格納
する第1のシールドケース(内側ケース)と、その第1
のシールドケースを格納する第2のシールドケース(外
側ケース)とを具備し、第1のシールドケースおよび第
2のシールドケース中に樹脂を封入することを特徴とす
る。[Means for Solving the Problem] In order to achieve the above object, the present invention includes a first shield case (inner case) that stores a circuit body, and a first shield case (inner case) that stores a circuit main body.
and a second shield case (outer case) for storing the shield case, and is characterized in that resin is sealed in the first shield case and the second shield case.
さらに、回路本体を格納する第1のシールドケースと、
その第1のシールドケースを格納する第2のシールドケ
ースとを具備し、第1のシールドケース中に樹脂を封入
し、第2のシールドケース中に導電性ペーストを封入す
ることを特徴とする。Furthermore, a first shield case that stores the circuit body;
The present invention is characterized in that it comprises a second shield case that stores the first shield case, a resin is sealed in the first shield case, and a conductive paste is sealed in the second shield case.
[作 用コ
上記の構成によれば、第1のシールドケース中および第
2のシールドケース中には樹脂が封入されケース中に満
たされるので、空気抜き用の孔が省略でき液体窒素中に
沈める場合も簡単に沈めることができる。[Function] According to the above configuration, resin is sealed in the first shield case and the second shield case and the cases are filled, so the air vent hole can be omitted and when submerged in liquid nitrogen. can also be easily submerged.
また、第2のシールドケース中に導電性ペーストを封入
することとすれば、この導電性ペーストがシールド効果
を発揮しさらにシールド特性が向上する。Further, if a conductive paste is sealed in the second shield case, this conductive paste exhibits a shielding effect and the shielding characteristics are further improved.
[実施例] 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。[Example] Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.
第1図は本発明の一実施例に係る低雑音シールド装置の
上面図、第2図はその斜視図(シールドケース等は透視
している)を示す。FIG. 1 is a top view of a low-noise shield device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view thereof (the shield case etc. are seen through).
これらの図において、181は低雑音FET増幅器の基
板、182は内側(第1の)シールドケース、183は
外側(第2の)シールドケースである。低雑音FET増
幅器基板181は、内側シールドケース182にスポー
ク部材196を介して取付けられている。また、内側シ
ールドケース182は、外側シールドケース183にス
ポーク部材197を介して取付けられている。184は
コネクタ取付用の孔、185〜188はケーブル貫通用
の孔である。入カケープル191はケーブル貫通用孔1
88および187を通って基板181に接続される。ま
た、出カケープル192は基板181からケーブル貫通
用孔186を通ってコネクタ195に接続される。19
3は電源ケーブル、194はブツシュである。内側シー
ルドケース182には樹脂189が封入され(図の斜線
部)、外側シールドケース183には樹脂190が封入
されている(図の斜線部)。これらの樹脂は、シールド
ケース内に基板181等を配置した後、ケース内の空気
を抜きながら流し込み硬化させる。In these figures, 181 is a substrate of a low-noise FET amplifier, 182 is an inner (first) shield case, and 183 is an outer (second) shield case. Low noise FET amplifier board 181 is attached to inner shield case 182 via spoke members 196. Further, the inner shield case 182 is attached to the outer shield case 183 via spoke members 197. 184 is a hole for attaching a connector, and 185 to 188 are holes for passing a cable through. Input cable 191 is cable penetration hole 1
It is connected to the substrate 181 through 88 and 187. Further, the output cable 192 is connected to the connector 195 from the board 181 through the cable penetration hole 186. 19
3 is a power cable, and 194 is a bushing. A resin 189 is sealed in the inner shield case 182 (shaded area in the figure), and a resin 190 is sealed in the outer shield case 183 (shaded area in the figure). After the substrate 181 and the like are placed inside the shield case, these resins are poured and cured while removing air from the case.
このように樹脂を封入したシールドケースを液体窒素の
中に沈める場合は、従来例に比較して非常に早く沈む。When a shield case filled with resin is submerged in liquid nitrogen in this way, it submerges much faster than in the conventional case.
また、ある程度の時間が経過すれば、内部まで均一な温
度となるので特性も安定する。さらに、M66,7図の
空気抜き孔159〜166および159′〜166′を
無くすことができるので、外界から回り込む雑音が低減
される。Furthermore, after a certain amount of time has passed, the temperature becomes uniform throughout the interior, and the characteristics become stable. Further, since the air vent holes 159 to 166 and 159' to 166' shown in Fig. M66 and 7 can be eliminated, noise coming from the outside world is reduced.
一方、第1,2図のシールド装置においても樹脂モール
ド部はシールド効果を持たず、ケーブル貫通用孔および
コネクタ取付用孔によるシールド特性の劣化かある。On the other hand, even in the shielding devices shown in FIGS. 1 and 2, the resin molded portion does not have a shielding effect, and the shielding characteristics are deteriorated due to the cable penetration holes and the connector mounting holes.
第3図は本発明の他の実施例に係るシールド特性をより
向上させた低雑音シールド装置の上面図、第4図はその
斜視図(シールドケース等は透視している)を示す。FIG. 3 is a top view of a low-noise shielding device with improved shielding characteristics according to another embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a perspective view thereof (the shielding case etc. are seen through).
これらの図において、351は低雑音FET増幅器の基
板、352は内側シールドケース、353は外側シール
ドケースである。低雑音FET増幅器基板351は、内
側シールドケース352にスポーク部材380を介して
取付けられている。In these figures, 351 is a low-noise FET amplifier substrate, 352 is an inner shield case, and 353 is an outer shield case. Low noise FET amplifier board 351 is attached to inner shield case 352 via spoke members 380.
また、内側シールドケース352は、外側シールドケー
ス353にスポーク部材381を介して取付けられてい
る。362,363はシールド板である。内側シールド
ケース352には樹脂364が封入され(図の斜線部)
、同様にシールド板362.363の内側にも樹脂36
5,366が封入されている(図の斜線部)。これらの
樹脂は、シールドケース内に基板351等を配置した後
、ケース内の空気を抜きながら流し込み硬化させる。Further, the inner shield case 352 is attached to the outer shield case 353 via spoke members 381. 362 and 363 are shield plates. A resin 364 is sealed in the inner shield case 352 (shaded area in the figure).
, Similarly, the resin 36 is also applied to the inside of the shield plates 362 and 363.
5,366 is enclosed (shaded area in the figure). After the substrate 351 and the like are placed inside the shield case, these resins are poured and cured while removing air from the case.
354はコネクタ取付用の孔、355〜361はケーブ
ル貫通用の孔である。入カケープル368はケーブル貫
通用孔358,361,357を通って基板351に接
続される。また、出カケープル369は基板351から
ケーブル貫通用孔356.360を通ってコネクタ37
2に接続される。370は電源ケーブル、371はブツ
シュである。外側シールドケース353には導電性ペー
スト367が封入されている(図の斜線部)。導電性ペ
ースト367は、外側シールドケース353に内側シー
ルドケース352等を配置した後、少しづつ流し込み乾
燥させる。354 is a hole for attaching a connector, and 355 to 361 are holes for passing a cable through. Input cable 368 is connected to substrate 351 through cable penetration holes 358, 361, and 357. In addition, the output cable 369 passes from the board 351 through the cable penetration holes 356 and 360 to the connector 37.
Connected to 2. 370 is a power cable, and 371 is a bushing. A conductive paste 367 is sealed in the outer shield case 353 (shaded area in the figure). After the inner shield case 352 and the like are arranged in the outer shield case 353, the conductive paste 367 is poured little by little and dried.
このように外側シールドケース353に導電性ペースト
367を封入することにより、内側シルトケース352
と外側シールドケース353およびシールド板362,
363で囲まれた空間に導電性ペーストが充填されるこ
ととなり、第1゜2図の実施例よりもシールド特性が向
上する。By sealing the conductive paste 367 in the outer shield case 353 in this way, the inner silt case 352
and outer shield case 353 and shield plate 362,
Since the space surrounded by 363 is filled with conductive paste, the shielding characteristics are improved compared to the embodiment shown in FIG. 1.2.
また、シールドケースを液体窒素の中に沈める場合も非
常に早く沈み、ある程度の時間が経過すれば内部まで均
一な温度となるので特性も安定する。Furthermore, when the shield case is submerged in liquid nitrogen, it sinks very quickly, and after a certain amount of time, the temperature becomes uniform throughout the interior, and its characteristics become stable.
なお、上記の実施例では、シールドケースおよびシール
ド板の材質としてアルミニウムを用いたが、シールド効
果のある他の金属を用いてもよい。In the above embodiment, aluminum was used as the material for the shield case and the shield plate, but other metals having a shielding effect may be used.
また、入カケープル、出カケープルおよび電源ケーブル
についても、それぞれツイストペアシールド、ツイスト
ペアおよび3芯のケーブルを用いたが、シールド効果の
ある他のケーブルを用いてもよい。Further, for the input cable, output cable, and power cable, twisted pair shield, twisted pair, and three-core cable were used, respectively, but other cables having a shielding effect may be used.
1
2
第8図は、本発明の低雑音シールド装置を適用して好適
な低雑音FET増幅器の一例を示す。これは液体窒素温
度で動作するように能動素子にFETを使用した低雑音
FET増幅器の回路図である。液体窒素温度では、通常
のバイポーラトランジスタが低温度のために動作しぬい
ので能動素子としてFETを用いている。1 2 FIG. 8 shows an example of a suitable low-noise FET amplifier to which the low-noise shielding device of the present invention is applied. This is a circuit diagram of a low noise FET amplifier using FETs as active elements to operate at liquid nitrogen temperatures. At liquid nitrogen temperatures, ordinary bipolar transistors do not operate due to the low temperature, so FETs are used as active elements.
同図において、差動入力部205,206から入力した
信号(ピックアップコイル3からの信号)は、それぞれ
入力終端抵抗207,208で接地される。また、入力
終端抵抗207で接地された信号はデュアルFET20
,21を構成するFET201,211のそれぞれのゲ
ートに入力され、入力終端抵抗208で接地された信号
はデュアルFET20,21を構成するFET202,
212のそれぞれのゲートに入力される。ここで、デュ
アルFET20の2つのFET201,202のそれぞ
れのソースは定電流回路213を構成するFET203
のドレインに接続され、またデュアルFET21の2つ
のFET211,212のそれぞれのソースは定電流回
路214を構成するFET204のドレインに接続され
ている。これにより、デュアルFET20,21は各々
定電流駆動される。したがって、差動出力部209.
210間には、それぞれ差動入力部205,206への
入力信号の差動骨が増幅後出力される。なお、図におい
ては、入力保護抵抗、差動出力部209210のそれぞ
れの後段および後段からの帰還信号は省略しである。In the figure, signals input from differential input sections 205 and 206 (signals from pickup coil 3) are grounded through input termination resistors 207 and 208, respectively. In addition, the signal grounded by the input termination resistor 207 is connected to the dual FET 20
, 21 and is grounded by the input termination resistor 208.
212 gates. Here, the sources of the two FETs 201 and 202 of the dual FET 20 are connected to the FET 203 that constitutes the constant current circuit 213.
The sources of the two FETs 211 and 212 of the dual FET 21 are connected to the drain of the FET 204 constituting the constant current circuit 214. As a result, the dual FETs 20 and 21 are each driven with a constant current. Therefore, the differential output section 209.
Between 210 and 210, differential signals input to the differential input sections 205 and 206 are amplified and output. Note that, in the figure, the input protection resistor, the stage after each of the differential output section 209210, and the feedback signal from the stage after the differential output section 209210 are omitted.
上記の回路では、1つの定電流回路でデュアルFET1
個(FET2個)に対する定電流を供給するようにして
いる。デュアルFET20,21内の1つのFET (
201,202,211または212)に流れるドレイ
ン電流をIDとすると、1つの定電流回路が流す電流値
は2IDですむ。In the above circuit, dual FET1 is used in one constant current circuit.
(two FETs). One FET in dual FETs 20 and 21 (
201, 202, 211, or 212) is ID, the current value flowing through one constant current circuit is only 2ID.
したがって、定電流回路213,214を構成するFE
T203,204の絶対最大定格を超えることなく、か
つ、ある程度の電流量をデュアルFET20,21のそ
れぞれに流すことができ、低ノイズレベルで増幅を行な
うことができる。Therefore, the FE constituting the constant current circuits 213 and 214
A certain amount of current can be passed through each of the dual FETs 20 and 21 without exceeding the absolute maximum ratings of T203 and T204, and amplification can be performed at a low noise level.
第9図は、第8図の回路では必要なFETのバラツキに
伴なう調整を不要とする低雑音FET増幅器の回路図を
示す。第9図の回路では、定電流回路313,314を
構成するFET303,304としてデュアルFET3
2を用いている。デュアルFET30内の2つのFET
303.304は、ドレイン電流−ゲート・ソース間電
圧特性を始めとする電気的特性が揃い、その上温度マツ
チングが取れている。そのため、定電流回路313、
314の電流量を調整するだめの固定抵抗21.9,2
20(第8図)は省略可能となる。さらに、オフセット
電圧の温度ドリフトを低減し、利得対温度がデュアルF
ET301,302,309.310の相互コンダクタ
ンスの温度計数で決まるため、利得の安定化を達成する
ことができる。FIG. 9 shows a circuit diagram of a low-noise FET amplifier that eliminates the need for adjustment due to FET variations, which is required in the circuit of FIG. 8. In the circuit shown in FIG.
2 is used. Two FETs in Dual FET30
No. 303 and No. 304 have the same electrical characteristics including the drain current-gate-source voltage characteristics, and are also temperature matched. Therefore, the constant current circuit 313,
Fixed resistor 21.9,2 for adjusting the current amount of 314
20 (FIG. 8) can be omitted. Furthermore, it reduces the temperature drift of the offset voltage and increases the gain versus temperature with dual F
Since it is determined by the temperature coefficient of the mutual conductance of ET301, 302, 309.310, gain stabilization can be achieved.
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、回路本体を格納
する第1のシールドケースおよび第1のシールドケース
を格納する第2のシールドケース中に樹脂を封入してい
るので、シールドケースに開けていた空気抜き孔を無く
すことができシールド特性が向上する。また、液体窒素
中に沈める場合も早く沈めることができる。[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, resin is sealed in the first shield case that stores the circuit body and the second shield case that stores the first shield case. , the air vent hole in the shield case can be eliminated, improving shielding characteristics. Also, when submerged in liquid nitrogen, it can be submerged quickly.
さらに、第1のシールドケース中に樹脂を封入し、第2
のシールドケース中に導電性ペーストを封入することと
すれば、さらにシールド特性が向上する。Furthermore, resin is sealed in the first shield case, and the second shield case is filled with resin.
If a conductive paste is sealed in the shield case, the shielding characteristics will be further improved.
第1図は、本発明の一実施例に係る低雑音シールド装置
の上面図、
第2図は、第1図のシールド装置の斜視図、第3図は、
本発明の他の実施例に係るシールド特性をより向上させ
た低雑音シールド装置の上面図、
第4図は、第3図のシールド装置の斜視図、第5図は、
液体窒素温度における磁気シールド容器のシールド特性
の測定装置の概略構成図、第6図は、従来の低雑音FE
T増幅器のシールド装置の上面図、
第7図は、第6図のシールド装置の斜視図、5
6
第8図および第9図は、本発明の低雑音シールド装置を
適用して好適な低雑音FET増幅器の回路図である。
181.351・・・低雑音FET増幅器基板、182
.352・・・内側シールドケース、183,353・
・・外側シールドケース、184,354・・・コネク
タ取付用孔、185〜188,355〜361・・・ケ
ーブル貫通用孔、189・・・内側モールド樹脂、19
0・・・外側モールド樹脂、191,368・・・入カ
ケープル、192,369・・・出カケープル、195
.372・・・コネクタ、362,363・・・シール
ド板、364〜366・・・モールド樹脂、367・・
・導電性ペースト。FIG. 1 is a top view of a low-noise shielding device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of the shielding device of FIG. 1, and FIG.
A top view of a low-noise shielding device with improved shielding characteristics according to another embodiment of the present invention, FIG. 4 is a perspective view of the shielding device of FIG. 3, and FIG.
A schematic configuration diagram of a measuring device for measuring shielding characteristics of a magnetically shielded container at liquid nitrogen temperature, FIG. 6 shows a conventional low-noise FE.
FIG. 7 is a perspective view of the shielding device of FIG. 6, and FIGS. 8 and 9 are a top view of the shielding device of the T amplifier; FIG. 7 is a perspective view of the shielding device of FIG. 6; and FIGS. FIG. 2 is a circuit diagram of a FET amplifier. 181.351...Low noise FET amplifier board, 182
.. 352...Inner shield case, 183,353.
...Outer shield case, 184,354...Connector mounting hole, 185-188,355-361...Cable penetration hole, 189...Inner mold resin, 19
0... Outer mold resin, 191,368... Input caple, 192,369... Output caple, 195
.. 372... Connector, 362, 363... Shield plate, 364-366... Mold resin, 367...
・Conductive paste.
Claims (2)
第1のシールドケースを格納する第2のシールドケース
とを具備し、該第1のシールドケースおよび第2のシー
ルドケース中に樹脂を封入することを特徴とする低雑音
シールド装置。(1) A first shield case that stores a circuit body and a second shield case that stores the first shield case, and a resin is provided in the first shield case and the second shield case. A low noise shielding device characterized by being sealed.
第1のシールドケースを格納する第2のシールドケース
とを具備し、該第1のシールドケース中に樹脂を封入し
、該第2のシールドケース中に導電性ペーストを封入す
ることを特徴とする低雑音シールド装置。(2) A first shield case that stores the circuit body and a second shield case that stores the first shield case, a resin is sealed in the first shield case, and the second shield case is provided with a resin. A low-noise shielding device characterized by encapsulating conductive paste in a shielding case.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25772789A JPH03120796A (en) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | Low-noise shield device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25772789A JPH03120796A (en) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | Low-noise shield device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03120796A true JPH03120796A (en) | 1991-05-22 |
Family
ID=17310257
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25772789A Pending JPH03120796A (en) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | Low-noise shield device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03120796A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0580118U (en) * | 1992-03-30 | 1993-10-29 | 住友電装株式会社 | Protector |
JP2007109684A (en) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | Yazaki Corp | Shield structure of shielded line, and shielding method |
JP2020088033A (en) * | 2018-11-19 | 2020-06-04 | Tdk株式会社 | Magnetic shield room |
-
1989
- 1989-10-04 JP JP25772789A patent/JPH03120796A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0580118U (en) * | 1992-03-30 | 1993-10-29 | 住友電装株式会社 | Protector |
JP2007109684A (en) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | Yazaki Corp | Shield structure of shielded line, and shielding method |
JP2020088033A (en) * | 2018-11-19 | 2020-06-04 | Tdk株式会社 | Magnetic shield room |
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