JPH0311617A - Treating method of substance to be treated - Google Patents

Treating method of substance to be treated

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JPH0311617A
JPH0311617A JP14611889A JP14611889A JPH0311617A JP H0311617 A JPH0311617 A JP H0311617A JP 14611889 A JP14611889 A JP 14611889A JP 14611889 A JP14611889 A JP 14611889A JP H0311617 A JPH0311617 A JP H0311617A
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Abstract

PURPOSE:To make the concentration of a treatment solution uniform substantially and thereby to enable execution of stable treatment without being affected by the concentration by a method wherein the treatment solution filled up in supply tanks is detected and registered for setting in sequence and is supplied in sequence from the supply tanks. CONSTITUTION:A vessel mechanism 3 placed on a holdup tank, a supply means 4 for supplying a developer to the holdup tank and a control means 5 for controlling the vessel mechanism 3 and the supply means 4 are provided. The supply means 4 comprises a pressing mechanism 7 for applying a pressure to a liquid surface in at least three canisters 6 wherein the developer is held on standby and a detecting mechanism 8 detecting that a treatment solution is filled up in the canisters 6. When the developer is filled up in each of the canisters 6, the time when the developer is filled up is registered for setting in the sequence of filling up, and the developer is supplied to a wafer from the canister in the sequence of registration for setting. According to this constitution, the time of staying in the canisters becomes equal substantially, the developer having stayed equally substantially in this way is supplied to the wafer, and thus execution of stable developing treatment is enabled.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、被処理体の処理方法に関する。[Detailed description of the invention] [Purpose of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to a method for treating an object to be treated.

(従来の技術) 半導体ウェハの製造工程において、ホトレジスト膜を現
像処理する工程がある。この工程は、レジスト膜を形成
したウェハを露光した後、ウェハをチップデベロッパー
の処理室の現像液槽まで搬送し、現像液槽内で現像処理
するものである。
(Prior Art) In the manufacturing process of semiconductor wafers, there is a process of developing a photoresist film. In this step, after exposing a wafer on which a resist film has been formed, the wafer is transported to a developer tank in a processing chamber of a chip developer, and is developed in the developer tank.

上記現像液を処理室、例えば、容器機構(ト)に供給す
る供給方法は、第7図に示すように、容器機構α)に現
像液を供給する工程において、複数個のキャニスタ−■
が順番に空になってくる。この時に、空になった順のキ
ャニスタ−■に現像液を充填する必要がある。通常、上
記空になったキャニスタ−■内に現像液を充填する際に
、オペレーターは、供給子槽を確認する際、その都度、
見つけた空キャニスタ−■の順、例えば第2キャニスタ
−(2b)、第1キャニスタ−(2a)、第3キャニス
タ−(2c)の順に空になるとすればこの順に従って現
像液を充填している。
As shown in FIG. 7, the method of supplying the developer to the processing chamber, for example, the container mechanism (g), involves the step of supplying the developer to the container mechanism α) using a plurality of canisters
becomes empty one after another. At this time, it is necessary to fill the canisters (1) with developer in the order in which they are emptied. Normally, when filling the developer into the empty canister (■) above, the operator checks the supply tank each time.
If the empty canisters found are empty in the order of ■, for example, the second canister (2b), the first canister (2a), and the third canister (2c), fill them with developer in this order. .

しかし、ウェハが配設されている容器機構■に現像液を
供給する供給類、例えば、第1キャニスター(2a)か
ら、第2キャニスタ−(2b)、第3キャニスタ−(2
c)順に処理液が供給されるように予め設定されている
However, supplies such as the first canister (2a), the second canister (2b), and the third canister (2b) that supply the developer to the container mechanism (2) in which the wafer is disposed, for example,
c) It is set in advance so that the processing liquids are supplied in order.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、従来の処理方法では、オペレーターが現
像液を充填したキャニスタ−順に従って供給されない場
合があるので、滞溜時間の異った現像液は、濃度に変化
が起り、この異った濃度の現像液で現像すると、一定の
安定した現像処理が困難であった。
(Problem to be Solved by the Invention) However, in the conventional processing method, the operator may not supply the canisters according to the order in which they are filled with the developer, so the concentration of the developer may vary depending on the residence time. When developing with developer solutions of different concentrations, it was difficult to achieve a constant and stable development process.

又、複数個のキャニスタ−に充填されている現像液面を
すべて加圧しているので、加圧ガスが現像液に溶は込み
現像処理するに際し、溶は込んだ加圧ガスの泡が発生し
て均一な現像処理が困難で即ち本発明は複数個の供給槽
を設け、この供給槽に処理液を充填し、上記供給槽から
処理液を処理室に供給して、被処理体を処理するに際し
、上記供給槽に充填した処理液を検知して、この検知し
た時を順番に設定登録し、この設定登録された順番の供
給槽から処理液を供給するようにしたことを特徴として
いる。
In addition, since the surface of the developer filled in multiple canisters is all pressurized, when the pressurized gas melts into the developer and performs the development process, bubbles are generated from the pressurized gas that penetrates the solution. Therefore, in the present invention, a plurality of supply tanks are provided, the processing liquid is filled in the supply tanks, and the processing liquid is supplied from the supply tanks to the processing chamber to process the object to be processed. At this time, the processing liquid filled in the supply tank is detected, the times of detection are registered in the order of settings, and the processing liquid is supplied from the supply tank in the order in which the settings are registered.

また、複数個の供給槽を設け、この供給槽内に充填され
た処理液を加圧して、処理室に供給するに際し、上記複
数個の供給槽のうち、時期中の供給槽内を減圧するよう
にしたことを特徴としている。
In addition, a plurality of supply tanks are provided, and when the processing liquid filled in the supply tank is pressurized and supplied to the processing chamber, the pressure in the supply tank is reduced during the period among the plurality of supply tanks. It is characterized by the fact that

(作用効果) 即ち、本発明は供給槽に処理液を充填した順の供給槽か
ら処理液を処理室に供給するので、この処理室に供給さ
れる処理液は、一定時間供給槽に滞溜している処理液が
順次処理室に供給されることになる。
(Effects) That is, in the present invention, the processing liquid is supplied to the processing chamber from the supply tanks in the order in which the processing liquid is filled into the supply tanks, so the processing liquid supplied to the processing chamber remains in the supply tank for a certain period of time. The processing liquids are sequentially supplied to the processing chamber.

従って、処理液の濃度が略一定なるので、濃度に影響さ
れることなく安定した処理を可能する。
Therefore, since the concentration of the processing liquid is approximately constant, stable processing is possible without being affected by the concentration.

また、複数個の供給槽のうち、時期している供給槽内を
減圧にしているので、加圧ガスが処理液に溶は込む量を
少なく改善できる。
Moreover, since the pressure inside the supply tank is reduced at certain times among the plurality of supply tanks, it is possible to reduce the amount of pressurized gas dissolved into the processing liquid.

(実施例) 一 以下、本発明方法を半導体製造工程における現像処理に
適用した一実施例につき図面を参照して説明する。
(Example) Hereinafter, an example in which the method of the present invention is applied to a development process in a semiconductor manufacturing process will be described with reference to the drawings.

上記現像処理の装置例えばデツプデベロッパーは、第1
図に示すように、搬送手段、例えば、プリー間を搬送ベ
ルトで張架した搬送ベルト(図示せず)、で搬送された
被処理体、例えばウェハ(図示せず)がウェハチャック
(図示せず)を介して滞溜槽に載置する容器機構(3)
と、上記滞溜槽に現像液を供給する供給手段に)と、上
記容器機構■及び上記供給手段に)を制御する制御手段
0とから成っている。
The apparatus for the above-mentioned development processing, for example, the depth developer,
As shown in the figure, an object to be processed, such as a wafer (not shown), is transported by a transport means, such as a transport belt (not shown) stretched between pulleys, and a wafer chuck (not shown). ) Container mechanism (3) placed on the retention tank via
, a supply means for supplying the developing solution to the reservoir tank), and a control means 0 for controlling the container mechanism (1) and the supply means (1).

尚、上記供給手段(イ)は、現像液を時期する少なくと
も3個のキャニスタ−0内の液面を加圧する加圧機構■
と、上記キャニスタ−0に処理液を充填したことを検知
する検知機構(8)とから構成されている。
The supply means (a) is a pressurizing mechanism (i) that pressurizes the liquid level in at least three canisters that supply the developer.
and a detection mechanism (8) for detecting that the canister 0 is filled with the processing liquid.

上述した容器機構■は、第2図に示すように、ウェハ0
の裏面を仮固定、例えば吸着固定したウェハチャック(
10)軸と同軸に有底円筒状のカップ(11)が、囲繞
するように設けられている。
As shown in FIG. 2, the above-mentioned container mechanism
Temporarily fix the back side of the wafer, such as a wafer chuck (
10) A cylindrical cup (11) with a bottom is provided coaxially with the shaft so as to surround it.

さらに、カップ(11)内側と、上記ウェハチャック(
10)外側間にはドーナツ状の上カップ(12)が、ウ
ェハチャック(10)軸と同軸に設けられている。
Furthermore, the inside of the cup (11) and the wafer chuck (
10) A donut-shaped upper cup (12) is provided coaxially with the wafer chuck (10) axis between the outer sides.

上記上カップ(12)の下方には、現像液槽(13)を
形成させる内カップ(14)が設けられている。
An inner cup (14) forming a developer tank (13) is provided below the upper cup (12).

さらに、上記上カップ(12)の上面にはこの現像液槽
(13)に現像液が流れ込む導入路(15)を形成して
いる。
Further, an introduction path (15) through which a developer flows into the developer tank (13) is formed on the upper surface of the upper cup (12).

この導入路(15)は、供給手段に)の供給管(16)
と連通されている。
This introduction path (15) connects the supply pipe (16) to the supply means.
It is communicated with.

この供給管(16)の他端は検知機構0と接続されてい
る。この検知機構0は、第3図に示すように、少なくと
も3系統の供給路、例えば第1供給路(17)、第2供
給路(18)第3供給路(19)、に分かれている。
The other end of this supply pipe (16) is connected to the detection mechanism 0. As shown in FIG. 3, this detection mechanism 0 is divided into at least three supply paths, for example, a first supply path (17), a second supply path (18), and a third supply path (19).

上記第1供給路(17)は供給管(16)から分岐され
て第1供給用エアオペバルブ(20a)と、第1検知セ
ンサ(21a)を有した第1バツフアタンク(22a)
とを介在して第1キャニスタ−(6a)に連通されてい
る。
The first supply path (17) is branched from the supply pipe (16) and includes a first supply air-operated valve (20a) and a first buffer tank (22a) having a first detection sensor (21a).
The first canister (6a) is connected to the first canister (6a) via the first canister (6a).

ここで、上記第1キャニスタ−(6a)内の現像液が第
1バツフアタンク(22a)に流れ込むと、第1検知セ
ンサ(21a)が現像液を検知するように構成されてい
る。
Here, when the developer in the first canister (6a) flows into the first buffer tank (22a), the first detection sensor (21a) is configured to detect the developer.

さらに、バッファタンク(22)例えば、第1バツフア
タンク(22a)に溜った不要なガス等を排出させるた
めにマニアルバルブ(23)を有した排気路(24)が
設けられている。
Further, an exhaust passage (24) having a manual valve (23) is provided to discharge unnecessary gas accumulated in the buffer tank (22), for example, the first buffer tank (22a).

上記供給路(17,18,19)は第1供給路(17)
にのみの構成を述べたが、他の2系統も同じなので説明
を省略する。
The above supply path (17, 18, 19) is the first supply path (17)
Although we have only described the configuration for the other two systems, the explanations are omitted since the other two systems are the same.

上記供給路(17,18,19)のキャニスタ−0、例
えば第2キャニスタ−(6a)内に充填されている現像
液を容器機構(3)側に供給させるため、現像液面を加
圧させる必要がある。
In order to supply the developer filled in canister 0, for example, the second canister (6a) of the supply path (17, 18, 19) to the container mechanism (3), the developer solution surface is pressurized. There is a need.

この現像液を加圧させる加圧機構■が各キャニスタ−0
に設けられている。
The pressure mechanism ■ that pressurizes this developer is in each canister 0.
It is set in.

この加圧機構■は、第4図に示すように、加圧ガス、例
えばN2ガスが、キャニスタ−0例えば第1キャニスタ
−(6a)内を加圧するように配管されている。また、
第2キャニスタ−(6b)、第3キャニスタ−(6c)
も同様に配管されている。
As shown in FIG. 4, this pressurizing mechanism (2) is piped so that a pressurized gas, for example, N2 gas, pressurizes the inside of the canister 0, for example, the first canister (6a). Also,
2nd canister (6b), 3rd canister (6c)
are similarly piped.

この配管の径路には、配管路を通過してキャニスタ−0
、例えば第2キャニスタ−(6b)内に導入するガス圧
を調整するレギュレーター(25)と、制御手段0の指
令に基づいて、ガスの導入を遮断または開口する加圧用
エアオペバルブ(26)がそれぞれの配管路に設けられ
ている。
This piping route includes a canister 0 that passes through the piping path.
, for example, a regulator (25) that adjusts the gas pressure introduced into the second canister (6b), and a pressurizing air operated valve (26) that shuts off or opens the introduction of gas based on a command from the control means 0. It is installed in the piping route.

さらに、上記加圧機構■は、少なくとも3個のキャニス
タ−0が設けられているが、1個所のキャニスタ−例え
ば、第1キャニスタ−(6a)から容器機構■側に現像
液を供給している際、他のキャニスタ−0例えば、第1
キャニスタ−(6a)及び第3キャニスタ−(6c)が
供給するのに時期している間は液面を加圧させることが
、不必要なので、減圧するように構成されている。
Further, the pressure mechanism (2) is provided with at least three canisters 0, and the developer is supplied from one canister (for example, the first canister (6a)) to the container mechanism (2). When the other canister 0, e.g.
Since it is unnecessary to pressurize the liquid level while the canister (6a) and the third canister (6c) are supplying, the pressure is reduced.

上記制御手段(ハ)は、第5図に示すように、この装置
全体を制御する制御部例えばcpu(5a)と、とのc
pu (5a)からの指令信号により各駆動部分をコン
トロールするコントローラー(5b)とこのコントロー
ラ(5b)により、空圧力でエアオペバルブ等を開閉動
作させるソレノイドバルブ(5c)とから構成されてい
る。
As shown in FIG.
It is composed of a controller (5b) that controls each driving part in response to a command signal from the pu (5a), and a solenoid valve (5c) that opens and closes an air-operated valve or the like using pneumatic pressure using the controller (5b).

上記cpu(5a)は予め検知センサ(21)で検知し
た検知信号を時間登録し、この設定登録された順のキャ
ニスタ−(0から現像液を供給するようにプログラムさ
れている。
The CPU (5a) is programmed to time-register the detection signal detected by the detection sensor (21) in advance, and supply the developer to the canister (0) in the order in which the settings are registered.

次に動作について説明する。第1図に示すように先ず、
各バッファタンク(22a、22b、22C)に設けら
れているマニアルバルブ(23a、23b、23c)を
開放し、バッファタンク(22)に溜っている不要なガ
ス等を排出したのち、上記マニアルバルブを閉鎖する。
Next, the operation will be explained. As shown in Figure 1, first,
After opening the manual valves (23a, 23b, 23c) provided in each buffer tank (22a, 22b, 22C) and discharging unnecessary gas etc. accumulated in the buffer tank (22), open the manual valve. Close.

各キャニスタ−(6a、6b、6c)を不同順に選び出
して、例えば第2キャニスタ−(6b)、第1キャニス
タ−(6a)、第3キャニスタ−(6c)の不同順に選
び出して、現像液を充填する。
The canisters (6a, 6b, 6c) are selected in random order, for example, the second canister (6b), the first canister (6a), and the third canister (6c) are selected in random order and filled with developer. do.

第2検知センサー(21b) 、第1検知センサー(2
1a)第3検知センサー(21c)で順に検知する。
Second detection sensor (21b), first detection sensor (2
1a) The third detection sensor (21c) detects in order.

この検知した検知信号は予め記憶されているプログラム
に従って、検知した時間を第2キャニスタ−(6b)、
第1キャニスタ−(6a)第3キャニスタ−(6c)の
順に設定登録する。
The detected detection signal is sent to the second canister (6b) at the detected time according to a pre-stored program.
The settings are registered in the order of the first canister (6a) and the third canister (6c).

この状態からデツプデベロッパーの稼動スイッチがオン
する。
From this state, the operating switch of the depth developer is turned on.

上記検知機構(8)では各の検知センサ(21)からの
検知信号の入力の有無を確認する。この確認した結果、
検知信号に変化が無ければ、すべてのキャニスタ−内に
は、現像液が無いものとして、オペレーターに知らせる
ように、アラーム表示等をする。次に検知信号に変化が
有れば、入力信号を発したキャニスタ−0例えば、第1
キャニスタ−(6a)が満か空かを判断する。この第1
キャニスタ−(6a)が満であれば優先順位通りにセッ
トする、即ち、第1キャニスタ−(6a)から現像液を
供給するように第1供給用エア・オペバルブ(20a)
を開口する。
The detection mechanism (8) checks whether a detection signal is input from each detection sensor (21). As a result of this confirmation,
If there is no change in the detection signal, it is assumed that there is no developer in all the canisters, and an alarm is displayed to notify the operator. Next, if there is a change in the detection signal, the canister that has emitted the input signal - 0, for example, the first
Determine whether the canister (6a) is full or empty. This first
If the canister (6a) is full, set the first supply air operated valve (20a) according to the priority order, that is, to supply the developer from the first canister (6a).
Open.

上記第1キャニスタ−(6a)が空であれば、次のキャ
ニスタ−例えば、第3キャニスタ−(6C)の満か空か
を判断する。
If the first canister (6a) is empty, it is determined whether the next canister, for example, the third canister (6C), is full or empty.

上記第3キャニスタ−(6c)が満であれば、優先順位
通リセットする。
If the third canister (6c) is full, the priority order is reset.

即ち、第3キャニスタ−(6c)から現像液を供給する
ように第3供給用エア・オペバルブ(20c)を開口す
る。
That is, the third supply air operated valve (20c) is opened so that the developer is supplied from the third canister (6c).

この間に、既に空になったキャニスタ−0に現像液を充
填すると、全部のキャニスタ−が終了していないので、
検知センサ(21)からの入力変化信号が有ったキャニ
スタ−から供給するようになる。
During this time, if you fill the already empty canister 0 with developer, all the canisters will not be filled.
The signal is supplied from the canister that received the input change signal from the detection sensor (21).

このように、各キャニスタ−0に現像液を充填すると、
充填した順に充填された時間を設定登録し、この設定登
録された順のキャニスタ−から、現像液をウェハに供給
するのでキャニスタ−に滞溜している時間が略均等にな
り、この略均等に滞溜した現像液がウェハに供給するこ
とになり、安定した現像処理が可能となる。
In this way, when each canister 0 is filled with developer,
The filling times are set and registered in the order in which they were filled, and developer is supplied to the wafer from the canisters in the order in which they are filled, so the time spent in the canisters becomes approximately equal. The accumulated developer is supplied to the wafer, allowing stable development processing.

また、1個のキャニスタ−からウェハに供給している際
に、他のキャニスタ−は時期しているが、この待期間は
、他のキャニスタ−に加圧をしていないので、N2ガス
が現像液に溶は込む量を減少させることも可能となる。
Also, while one canister is supplying wafers, the other canisters are waiting, but during this waiting period, the other canisters are not pressurized, so N2 gas is used for developing. It also becomes possible to reduce the amount dissolved in the liquid.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明方法の一実施例を説明するためのデツ
プデベロッパ概略説明図、第2図は、第1図のウェハを
現像する現像液槽を説明するための容器機構説明図、第
3図は、第1図のキャニスタ−に充填された現像液の検
知手段を説明するための検知機構説明図、第4図は、第
1図のキャニスタ−内を加圧する機構を説明するための
加圧機構説明図。 第5図は、第1図の制御部を説明するための制御部説明
図。 第6図は、第1図の動作を説明するためのフローチャー
ト説明図。 第7図は、従来のデツプデベロッパ゛を説明するための
概略説明図である。 1.3 容器機構   2.6 キャニスタ−4供給手
段     5 制御手段 7 加圧機構     8 検知機構 1] 13  現像液槽     16  供給管17  第
1供給路    18  第2供給路I9  第3供給
路 20  供給用エアオペバルブ 21  検知センサ    22バツフアタンク23 
 マニアルバルブ 2
FIG. 1 is a schematic explanatory diagram of a depth developer for explaining one embodiment of the method of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of a container mechanism for explaining a developer tank for developing the wafer of FIG. 1, 3 is an explanatory diagram of a detection mechanism for explaining the means for detecting the developer filled in the canister of FIG. 1, and FIG. 4 is an explanatory diagram of a mechanism for pressurizing the inside of the canister of FIG. 1. An explanatory diagram of the pressurizing mechanism. FIG. 5 is a control section explanatory diagram for explaining the control section of FIG. 1. FIG. 6 is a flowchart explanatory diagram for explaining the operation of FIG. 1. FIG. 7 is a schematic explanatory diagram for explaining a conventional depth developer. 1.3 Container mechanism 2.6 Canister 4 supply means 5 Control means 7 Pressure mechanism 8 Detection mechanism 1] 13 Developer tank 16 Supply pipe 17 First supply path 18 Second supply path I9 Third supply path 20 For supply Air operated valve 21 Detection sensor 22 Buffer tank 23
manual valve 2

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数個の供給槽を設け、この供給槽に処理液を充
填し、上記供給槽から処理液を処理室に供給して、被処
理体を処理するに際し、上記供給槽に充填した処理液を
検知して、この検知した時を順番に設定登録し、この設
定登録された順番の供給槽から処理液を供給するように
したことを特徴とする被処理体の処理方法。
(1) Provide a plurality of supply tanks, fill the supply tank with a processing liquid, supply the processing liquid from the supply tank to the processing chamber, and process the processing liquid filled in the supply tank when processing the object to be processed. A method for processing an object to be processed, characterized in that the liquid is detected, the times of detection are registered in order, and the processing liquid is supplied from supply tanks in the order in which the settings are registered.
(2)複数個の供給槽を設け、この供給槽内に充填され
た処理液を加圧して、処理室に供給するに際し、上記複
数個の供給槽のうち、待期中の供給槽内を減圧するよう
にしたことを特徴とする被処理体の処理方法。
(2) A plurality of supply tanks are provided, and when the processing liquid filled in the supply tank is pressurized and supplied to the processing chamber, the pressure inside the waiting supply tank among the plurality of supply tanks is reduced. A method for processing an object to be processed, characterized in that:
JP1146118A 1989-06-08 1989-06-08 Processing liquid supply device Expired - Lifetime JP2715144B2 (en)

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Cited By (2)

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