JPH03108152A - Tape feed system measuring method - Google Patents
Tape feed system measuring methodInfo
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- JPH03108152A JPH03108152A JP1245086A JP24508689A JPH03108152A JP H03108152 A JPH03108152 A JP H03108152A JP 1245086 A JP1245086 A JP 1245086A JP 24508689 A JP24508689 A JP 24508689A JP H03108152 A JPH03108152 A JP H03108152A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はVTRの走行系部品の位置および走行中のテー
プ位置の測定方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for measuring the position of running system components of a VTR and the position of a tape during running.
従来の装置は、特開昭57−19616号公報に記載の
ようにテープ状物体の両端のエツジ2点の変位量を光透
過式センサで検出する検出光学系と、該検出光学系から
得られるテープ両端エツジ2点のエツジ変位量をアナロ
グ演算し、テープの幅変位量および蛇行量を出力するア
ナログ演算処理手段を有していた。The conventional device includes a detection optical system that detects the amount of displacement at two edges at both ends of a tape-shaped object using a light transmission type sensor, as described in Japanese Patent Application Laid-open No. 57-19616, and It had analog calculation processing means for performing analog calculations on edge displacement amounts at two edges at both ends of the tape and outputting width displacement amounts and meandering amounts of the tape.
上記従来技術は、ガイドローラのテープ上端を案内する
ためのフランジ下面の位置、ガイドローラの傾き、シリ
ンダのリード位置の測定について配慮がされておらず、
さらに部品が密集しておりセンサーを入れるスペースが
ない場合の測定についても配慮がされておらず、テープ
走行系の性能の確保の点で問題があった。The above conventional technology does not take into consideration the position of the lower surface of the flange for guiding the upper end of the tape on the guide roller, the inclination of the guide roller, and the measurement of the lead position of the cylinder.
Furthermore, there was no consideration given to measurements when there was no space for sensors due to crowded parts, and there was a problem in ensuring the performance of the tape running system.
本発明は、テープ走行系の性能の安定性を確保すること
を目的としており、さらにガイドローラのテープ上端を
案内するためのフランジ下面、ガイドローラの傾き、シ
リンダのリード位置、走行中のテープ位置の測定方法を
提供することにある。The purpose of the present invention is to ensure the stability of the performance of the tape running system, and furthermore, the lower surface of the flange of the guide roller for guiding the upper end of the tape, the inclination of the guide roller, the lead position of the cylinder, and the position of the tape during running. The objective is to provide a method for measuring
上記目的を達成するために、ガイドローラのテープ上端
を案内するためのフランジ下面の位置の測定には、透過
形光センサを上下に走査することおよび半導体レーザス
キャナーを用い、ガイドローラの外径とフランジの外径
の異なる瞬間をとらえて測定する方法を提供するもので
ある。To achieve the above objective, the position of the lower surface of the flange for guiding the upper end of the tape on the guide roller is measured by vertically scanning a transmission optical sensor and using a semiconductor laser scanner. This provides a method for capturing and measuring the outer diameter of a flange at different moments.
さらにシリンダのリード位置の測定にはレーザ変位計を
用いるとともに、レーザ変位計のレーザの光路を2枚の
ミラーを用いて変更させることにより測定する方法を提
供するものである。Furthermore, the present invention provides a method of measuring the lead position of a cylinder by using a laser displacement meter and changing the optical path of the laser of the laser displacement meter using two mirrors.
さらに走行中のテープ位置の測定には半導体レーザスキ
ャナーを用い、2枚のミラーを介して戻り光を検出し測
定する方法を提供するものである。Furthermore, a semiconductor laser scanner is used to measure the tape position while the tape is running, and a method is provided in which the returned light is detected and measured via two mirrors.
さらにガイドローラの傾きの測定には半導体レーザスキ
ャナーを用い、レーザ光の戻り光の幅の違いをとらえ傾
きを測定する方法を提供するものである。Furthermore, a semiconductor laser scanner is used to measure the inclination of the guide roller, and a method of measuring the inclination by detecting the difference in the width of the returned laser beam is provided.
透過形光センサは、ガイドローラの外側を上下に走査し
、フランジ下面にて遮光され、出方電圧が下がり、フラ
ンジ下面の位置を検出する。The transmission type optical sensor scans the outside of the guide roller up and down, is shielded from light by the lower surface of the flange, the output voltage is lowered, and detects the position of the lower surface of the flange.
半導体レーザスキャナーを用い、ガイドローラ側からレ
ーザスキャナを上方に移動しながら外径を測定し、フラ
ンジ下面にて外径が異なる瞬間のレーザスキャナーの位
置を検出することにより、フランジ下面の位置が検出で
きる。The position of the bottom surface of the flange is detected by using a semiconductor laser scanner to measure the outer diameter while moving the laser scanner upward from the guide roller side, and detecting the position of the laser scanner at the moment when the outer diameter differs on the bottom surface of the flange. can.
レーザ変位計をシリンダの側面で上下に走査しリード位
置で出力電圧が急変することによりリード位置が検出で
きる。The lead position can be detected by scanning the laser displacement meter up and down on the side of the cylinder and detecting a sudden change in the output voltage at the lead position.
半導体レーザスキャナーを固定し、2枚のミラーを介し
てテープにレーザを照射し、戻り光をall+定するこ
とにより、走行中のテープの位置がa1!I定できる。By fixing the semiconductor laser scanner, irradiating the tape with a laser beam through two mirrors, and setting the returned light to all+, the position of the running tape is set to a1! I can determine.
レーザ変位計のレーザの光路を2枚のミラーを用いて変
更させるため、レーザ変位計とシリンダの距離を自由に
選択し、シリンダのリード位置を測定できる。Since the optical path of the laser of the laser displacement meter is changed using two mirrors, the distance between the laser displacement meter and the cylinder can be freely selected and the lead position of the cylinder can be measured.
半導体レーザスキャナーのスキャニングするレーザの幅
を、ガイドローラの直径より大きく、フランジの直径よ
り小さくなるように設定することにより、レーザスキャ
ナーを上方に移動する際、フランジ下面の位置でフラン
ジ外径の測定が不能になった瞬間のレーザスキャナーの
位置を検出することによりガイドローラのフランジ下面
の位置の測定ができる。By setting the scanning laser width of the semiconductor laser scanner to be larger than the diameter of the guide roller and smaller than the diameter of the flange, the outer diameter of the flange can be measured at the bottom surface of the flange when the laser scanner is moved upward. By detecting the position of the laser scanner at the moment when the laser scanner becomes disabled, the position of the lower surface of the guide roller flange can be measured.
半導体レーザスキャナーにてスキャニングするレーザ光
の投光器と受光器の間に2枚のミラーを用いて光路を変
更させることにより、半導体レーザスキャナーとガイド
ローラとの距離を自由に設定でき、部品が密集している
場合でもガイドローラのフランジ下面の位置の測定がで
きる。By changing the optical path using two mirrors between the emitter and receiver of the laser beam scanned by the semiconductor laser scanner, the distance between the semiconductor laser scanner and the guide roller can be set freely, and parts are not crowded together. The position of the bottom surface of the guide roller flange can be measured even when
レーザ光等の光を用いて測定することにより部品表面に
接触させず測定でき1部品表面に傷をつけることがない
。By using light such as a laser beam, measurement can be performed without contacting the surface of the component, and the surface of the component will not be damaged.
半導体レーザスキャナーのスキャニングするレーザ平行
光線をガイドローラに照射し戻り光がガイドローラの片
側からのみ戻るようにレーザ平行光線の位置に設置し半
導体レーザスキャナーのガイドローラに対する、上部、
下部でのレーザ光の戻り光の幅の違いによりガイドロー
ラの傾きを測定できる。The guide roller is irradiated with the parallel laser beam scanned by the semiconductor laser scanner, and installed at the position of the parallel laser beam so that the returned light returns only from one side of the guide roller.
The inclination of the guide roller can be measured based on the difference in the width of the laser beam returned at the bottom.
以下、本発明の一実施例を第1図から第8図により説明
する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 8.
第1図は、1lll定対象のVTR走行系の略図であり
、ベース1上にガイドローラ2.シリンダ3が搭載され
ている。FIG. 1 is a schematic diagram of a VTR running system for which 1 lll is fixed. Cylinder 3 is installed.
第2図は、透過形光センサでガイドローラのフランジ下
面の位置を測定する方式の略図である。FIG. 2 is a schematic diagram of a method for measuring the position of the lower surface of the flange of a guide roller using a transmission type optical sensor.
取付板4に、透過形光センサの投光器5.受光器6が取
付けられ、その間に透過光7が照射されている。ガイド
ローラ2にはフランジ8が取付けられている。ガイドロ
ーラ2の側面に沿って透過光7を上昇させ、フランジ下
面の位置で、透過光7が遮光され出力電圧が急変する。A light transmitter 5 for a transmission type optical sensor is attached to the mounting plate 4. A light receiver 6 is attached, and transmitted light 7 is irradiated therebetween. A flange 8 is attached to the guide roller 2. The transmitted light 7 is raised along the side surface of the guide roller 2, and at the position of the lower surface of the flange, the transmitted light 7 is blocked and the output voltage suddenly changes.
この出方電圧が急変した瞬間のセンサの位置を検出する
ことによりフランジ下面の位置が測定できる。By detecting the position of the sensor at the moment when this output voltage suddenly changes, the position of the lower surface of the flange can be measured.
第3図は、半導体レーザスキャナーを用い、ガ)トロー
ラのフランジ下面の位置を測定する方式の略図である。FIG. 3 is a schematic diagram of a method for measuring the position of the lower surface of the flange of the roller using a semiconductor laser scanner.
半導体レーザスキャナーの投光器9と受光器10.ミラ
ー11とからなり、スキャニングされたレーザ平行光[
12はガイドローラ2に照射され、ガイドローラ2によ
り遮光され、戻り光12′ には影の部分が生じる。こ
の影が生じている時間の長さを演算することによりガイ
ドローラ2の外径を′/Jl’J定することができる。Emitter 9 and receiver 10 of the semiconductor laser scanner. It consists of a mirror 11 and scanned parallel laser light [
The light 12 is irradiated onto the guide roller 2 and is blocked by the guide roller 2, and a shadow portion is generated in the returned light 12'. By calculating the length of time during which this shadow is present, the outer diameter of the guide roller 2 can be determined by '/Jl'J.
半導体レーザスキャナーの投光器9と受光器10、およ
びミラー11を同時に上昇させ、フランジ8の下面で、
フランジ8の外径がガイドローラ2の外径と異なるため
、戻り光12′ に生じる影の部分の時間の長さが長く
なり外径の測定結果が異なる。この時の半導体レーザス
キャナーの投光器9または受光器の位置を検出すること
によりフランジ8の下面の位置が測定できる。The emitter 9, the receiver 10, and the mirror 11 of the semiconductor laser scanner are raised simultaneously, and on the lower surface of the flange 8,
Since the outer diameter of the flange 8 is different from the outer diameter of the guide roller 2, the length of time of the shadow portion produced in the returned light 12' becomes longer, and the measurement results of the outer diameter are different. By detecting the position of the light projector 9 or the light receiver of the semiconductor laser scanner at this time, the position of the lower surface of the flange 8 can be measured.
第4図は、レーザ変位計を用いてシリンダのリード位置
を測定する方法の略図である。シリンダ3の側面に沿っ
て、レーザ変位計14を移動させ、レーザ光線15を照
射し、シリンダのリード位置で反射光が乱反射し、光量
変化が発生し、出力電圧が急変する。出力電圧が急変し
た瞬間のレーザ変位計14の位置を検出することにより
シリンダのリード位置が測定できる。FIG. 4 is a schematic diagram of a method of measuring cylinder lead position using a laser displacement meter. A laser displacement meter 14 is moved along the side surface of the cylinder 3 and irradiated with a laser beam 15, and the reflected light is diffusely reflected at the lead position of the cylinder, causing a change in the amount of light and a sudden change in the output voltage. By detecting the position of the laser displacement meter 14 at the moment when the output voltage suddenly changes, the cylinder lead position can be measured.
第5図は半導体レーザスキャナーとミラーを使用して走
行中のテープの位置を測定する方法の略図である。半導
体レーザスキャナーの投光器1Gおよび受光器17.ミ
ラー19を固定し、ガイドローラ2に案内されたテープ
21に、レーザ平行光線18を照射すると、レーザ平行
光線18はテープ21により遮光され戻り光20に影の
部分を生じる。この影が生じている部分の時間の長さよ
り戻り光20の幅を演算することができる。したがって
テープ21が走行中に上下に移動するとこの戻り光20
の幅が変化するためテープ21の走行中の上下に動く位
置をd111定することができる。FIG. 5 is a schematic diagram of a method for measuring the position of a running tape using a semiconductor laser scanner and mirrors. Semiconductor laser scanner emitter 1G and receiver 17. When the parallel laser beam 18 is irradiated onto the tape 21 guided by the guide roller 2 with the mirror 19 fixed, the parallel laser beam 18 is blocked by the tape 21 and a shadow portion is created in the returned light 20. The width of the returned light 20 can be calculated from the length of time during which this shadow occurs. Therefore, when the tape 21 moves up and down while running, this returned light 20
Since the width of the tape 21 changes, the vertical movement position of the tape 21 while it is running can be determined by d111.
第6図はレーザ変位計の光路を変化させるためレーザ変
位計とりシリンダとの距離を自由に選択できることを説
明できる略図である。レーザ変位計14の投光部より出
たレーザ光15は、レーザ光15に対し45″の角度に
配置されたミラー22により光路を変更さ九レーザ光2
4になり、さらにこのレーザ光24に対し45°の角度
に配置されたミラー23により光路を変更されレーザ光
25になりシリンダ3の表面で反射し戻り光26となリ
レーザ変位計14の受光部に戻る。ミラー22および2
3がない場合はレーザ15は破線28のように進みシリ
ンダ3′の表面で反射し戻り光27となリレーザ変位計
14の受光部に戻る。この場合戻り光26と27は同一
線上にある。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating that the distance between the laser displacement meter and the cylinder can be freely selected in order to change the optical path of the laser displacement meter. The laser beam 15 emitted from the light emitting part of the laser displacement meter 14 has its optical path changed by a mirror 22 arranged at an angle of 45'' with respect to the laser beam 15.
4, the optical path is changed by a mirror 23 arranged at an angle of 45 degrees with respect to this laser beam 24, and the optical path is changed to a laser beam 25, which is reflected on the surface of the cylinder 3 and becomes a return beam 26.The light receiving part of the relay laser displacement meter 14 Return to Mirrors 22 and 2
3, the laser 15 advances as indicated by a broken line 28, is reflected on the surface of the cylinder 3', and returns to the light receiving section of the laser displacement meter 14 as a return beam 27. In this case, the returned beams 26 and 27 are on the same line.
したがって、レーザ変位計14の投光部からシリンダま
での距離をQ、Q’のように変えることが可能となる。Therefore, it is possible to change the distance from the light projecting part of the laser displacement meter 14 to the cylinder like Q and Q'.
第7図、第8図は半導体レーザスキャナーのレーザ平行
光線のガイドローラへの照射の仕方を変えることにより
ガイドローラの傾斜を測定する方法に関する略図である
。半導体レーザスキャナーの投光器9によりスキャニン
グされたレーザ平行光線12を第7図のようにガイドロ
ーラ2に対し戻り光30がガイドローラ2の片側のみに
出るように投光器9.およびミラー11を配置する。こ
の状態で、まずガイドローラ2の上部において戻り光3
0の幅を第5図で説明した方法と同じ方法にて測定する
0次に第8図に示すように半導体レーザスキャナーの投
光器9.受光器10.ミラー11の位置関係を保ったま
まこれらを下方に下げ、ガイドローラ2の下部において
戻り光30の幅を同様に測定する。ガイドローラ2が傾
いている場合、戻り光3゜の幅が上部と下部で異なるた
め、この幅の違いから傾きを演算することができる。7 and 8 are schematic diagrams relating to a method of measuring the inclination of a guide roller by changing the way in which the guide roller is irradiated with a parallel laser beam of a semiconductor laser scanner. The parallel laser beam 12 scanned by the projector 9 of the semiconductor laser scanner is directed to the guide roller 2 as shown in FIG. 7 so that the return light 30 exits only on one side of the guide roller 2. and a mirror 11 is arranged. In this state, first, return light 3 is placed above the guide roller 2.
The width of 0 is measured by the same method as explained in FIG. 5 using the projector 9 of the semiconductor laser scanner as shown in FIG. Light receiver 10. The mirrors 11 are lowered while maintaining their positional relationship, and the width of the returned light 30 is similarly measured below the guide roller 2. When the guide roller 2 is tilted, the width of the returned light 3° differs between the upper and lower portions, so the tilt can be calculated from this difference in width.
第2図の透過形光センサによる測定精度は、36で、±
4.3μmの精度が得られる。The measurement accuracy of the transmission type optical sensor in Fig. 2 is 36, ±
An accuracy of 4.3 μm is obtained.
第3図の半導体レーザスキャナーを用いる方法による測
定精度は、36で±4.3μmnの精度が得られる。The measurement accuracy according to the method using the semiconductor laser scanner shown in FIG. 3 is 36 and an accuracy of ±4.3 μm is obtained.
また第4図のレーザ変位計を用いる方角によるシリンダ
のリード位置検出方法では、計測精度上3.9μmの計
測精度が得られる。Further, in the method of detecting the lead position of the cylinder by direction using the laser displacement meter shown in FIG. 4, a measurement accuracy of 3.9 μm can be obtained.
また第5図の半導体レーザスキャナーを用いるテープ位
置計測方法では、±3.2μrnの計測精度が得られる
。Further, in the tape position measuring method using the semiconductor laser scanner shown in FIG. 5, a measurement accuracy of ±3.2 μrn can be obtained.
第7図、第8図の半導体レーザスキャナーを用いるガイ
ドローラ傾きの計測方法では、±3.2μlの計測精度
が得られる。In the guide roller inclination measurement method using the semiconductor laser scanner shown in FIGS. 7 and 8, a measurement accuracy of ±3.2 μl can be obtained.
このようにしたので、ガイドローラのフランジ下面、シ
リンダのリード位置、走行中のテープ位置およびガイド
ローラの傾きが正確に測定でき、テープ走行系の安定性
をはかれる効果がある。By doing this, the lower surface of the flange of the guide roller, the lead position of the cylinder, the position of the tape during running, and the inclination of the guide roller can be accurately measured, which has the effect of measuring the stability of the tape running system.
本発明は、以上説明したように構成されているので、以
下に記載されるような効果を有する。Since the present invention is configured as described above, it has the effects described below.
1)透過形光センサでガイドローラフランジ下面の位置
が正確に計測できる。1) The position of the lower surface of the guide roller flange can be accurately measured using a transmission type optical sensor.
2)半導体レーザスキャナーとミラーにより、ガイドロ
ーラフランジの位置が正確に計測できる。2) The position of the guide roller flange can be accurately measured using a semiconductor laser scanner and mirror.
3)レーザ変位計を用いることにより、シリンダのリー
ド位置が正確に計測できる。3) By using a laser displacement meter, the cylinder lead position can be accurately measured.
4)半導体レーザスキャナーとミラーの組合せによる測
定方法で走行中のテープの位置が正確にできる。4) The position of the running tape can be accurately determined using a measurement method that uses a combination of a semiconductor laser scanner and a mirror.
5)レーザ変位計の光路を2枚のミラーにより変更する
ことによりレーザ変位計とシリンダとの距離を自由に選
択できる。5) By changing the optical path of the laser displacement meter with two mirrors, the distance between the laser displacement meter and the cylinder can be freely selected.
6)半導体レーザスキャナーと2枚のミラーによりガイ
ドローラの傾きを正確に計測できる。6) The inclination of the guide roller can be accurately measured using a semiconductor laser scanner and two mirrors.
7)半導体レーザスキャナーと2枚のミラーにより部品
が密集している場合でもガイドローラのフランジ下面の
位置を正確に計δ1りできる。7) By using a semiconductor laser scanner and two mirrors, the position of the lower surface of the guide roller flange can be accurately measured δ1 even when parts are crowded together.
第1図は本発明の一実施例による計11111対象品の
斜視図、第2図は透過形光センサでガイドローラフラン
ジ下面の位置を測定する方法の斜視図、第3図は半導体
レーザスキャナーで、ガイドローラフランジ下面の位置
を測定する方法の斜視図、第4図はレーザ変位計を用い
てシリンダのリード位置を計31すする方法の斜視図、
第5図は半導体レーザスキャナーとミラーを用いてテー
プを計測する方法の斜視図、第6図はレーザ変位計の光
路を変化させるためレーザ変位計と、シリンダとの距離
を自由に選択できることの説明図、第7図、第8図は半
導体レーザスキャナーを用いるガイドローラ傾きの計測
方法の説明図である。
1・・・ベース、 2・・・ガイドローラ。
3・・・シリンダ、 4・・・ベース、5・・
・投光器、 6・・・受光器、7・・・透過光
、 8・・・フランジ、9・・・半導体レー
ザスキャナー(投光器)。
10・・・半導体レーザスキャナー(受光器)、11・
・・ミラー、 12・・・レーザ平行光線、
13・・・シリンダのリード位置、
14・・・レーザ変位計、 15・・・レーザ光線、
16・・・半導体レーザスキャナーの投光器。
17・・・半導体レーザスキャナーの受光器、18・・
・レーザ平行光線、 19・・・ミラー20・・・レー
ザ戻り光、 21・・・テープ、22・・・ミラー
23・・・ミラー24・・・レーザ光、
25・・・レーザ光、26・・・レーザ戻り光
、27・・・レーザ戻り光、30・・・レーザ戻り光。
第 1 乙
1− ベース
?0.−だイドローラ
3−シリンフ
第
2
圀
躬
第
躬
国
痢
口
佑80Fig. 1 is a perspective view of a total of 11,111 target products according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a perspective view of a method for measuring the position of the lower surface of a guide roller flange using a transmission type optical sensor, and Fig. 3 is a perspective view of a method for measuring the position of the lower surface of a guide roller flange using a transmission type optical sensor. , a perspective view of a method of measuring the position of the lower surface of the guide roller flange, FIG. 4 is a perspective view of a method of measuring a total of 31 lead positions of the cylinder using a laser displacement meter,
Figure 5 is a perspective view of a method for measuring tape using a semiconductor laser scanner and a mirror, and Figure 6 is an explanation of how the distance between the laser displacement meter and the cylinder can be freely selected to change the optical path of the laser displacement meter. 7 and 8 are explanatory diagrams of a method for measuring the guide roller inclination using a semiconductor laser scanner. 1...Base, 2...Guide roller. 3...Cylinder, 4...Base, 5...
- Emitter, 6... Light receiver, 7... Transmitted light, 8... Flange, 9... Semiconductor laser scanner (light emitter). 10... Semiconductor laser scanner (light receiver), 11.
...mirror, 12...laser parallel beam,
13... Cylinder lead position, 14... Laser displacement meter, 15... Laser beam,
16... Floodlight of semiconductor laser scanner. 17...Receiver of semiconductor laser scanner, 18...
・Parallel laser beam, 19...Mirror 20...Laser return light, 21...Tape, 22...Mirror
23... Mirror 24... Laser light,
25... Laser light, 26... Laser return light, 27... Laser return light, 30... Laser return light. No. 1 Otsu 1- Base? 0. -Daidroller 3-Symph No. 2 Kuniman 80
Claims (1)
するもので、ガイドローラのテープ上端を案内するため
のフランジ下面の測定には、透過形光センサを上下に走
査し出力電圧の急変する位置を測定する方法および半導
体レーザスキャナーを用い、ガイドローラ側からレーザ
スキャナーを上方に移動しながら外径を測定し、フラン
ジ下面にて外径が異なる瞬間のレーザスキャナの位置を
検出し、ガイドローラのフランジ下面の位置を測定する
ことを特徴とするテープ走行系計測方法。1. This relates to a method for measuring the assembly accuracy of VTR tape running system parts. To measure the bottom surface of the flange of the guide roller that guides the upper end of the tape, a transmission type optical sensor is scanned up and down to find the position where the output voltage suddenly changes. Using a measuring method and a semiconductor laser scanner, measure the outer diameter while moving the laser scanner upward from the guide roller side, detect the position of the laser scanner at the moment when the outer diameter differs on the bottom surface of the flange, and measure the outer diameter of the guide roller flange. A tape running system measuring method characterized by measuring the position of the lower surface.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1245086A JPH03108152A (en) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | Tape feed system measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP1245086A JPH03108152A (en) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | Tape feed system measuring method |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH03108152A true JPH03108152A (en) | 1991-05-08 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP1245086A Pending JPH03108152A (en) | 1989-09-22 | 1989-09-22 | Tape feed system measuring method |
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-
1989
- 1989-09-22 JP JP1245086A patent/JPH03108152A/en active Pending
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