JPH0283429A - 光ファイバ損失温度変動の測定方法 - Google Patents
光ファイバ損失温度変動の測定方法Info
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- JPH0283429A JPH0283429A JP23491788A JP23491788A JPH0283429A JP H0283429 A JPH0283429 A JP H0283429A JP 23491788 A JP23491788 A JP 23491788A JP 23491788 A JP23491788 A JP 23491788A JP H0283429 A JPH0283429 A JP H0283429A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は光ファイバ損失温度変動測定方法、特に光源の
出力変動を相殺するようにした測定方法に関するもので
ある。
出力変動を相殺するようにした測定方法に関するもので
ある。
[従来の技術]
光損失の温度による変動量を高精度に測定するためには
、使用する測定系、特に光源、光スィッチ、光分岐器等
の光学系の温度による特性変動を小さく抑え、これを相
殺補償する必要がある。従って、測定系は、その周囲温
度を一定に保つため恒温槽に収容されるのが一般的とな
っており、また、恒温槽の温度安定性も高いものが要求
される。
、使用する測定系、特に光源、光スィッチ、光分岐器等
の光学系の温度による特性変動を小さく抑え、これを相
殺補償する必要がある。従って、測定系は、その周囲温
度を一定に保つため恒温槽に収容されるのが一般的とな
っており、また、恒温槽の温度安定性も高いものが要求
される。
第2図に光分岐を用いた測定系を示す、光源11から出
た光は、光分岐器12により、被測定光ファイバ14へ
入射する光と、光源11の出力変動を測定するために光
検出器13aへ入射する光とに分岐される。被測定光フ
ァイバ14の温度による損失変動は、光検出器13bで
の受光レベルから光検出器13aで測定した光源の出力
変動を相殺することにより求めることができる。このと
き測定系は、恒温槽15a、15bにより周囲温度を一
定に保たれている。
た光は、光分岐器12により、被測定光ファイバ14へ
入射する光と、光源11の出力変動を測定するために光
検出器13aへ入射する光とに分岐される。被測定光フ
ァイバ14の温度による損失変動は、光検出器13bで
の受光レベルから光検出器13aで測定した光源の出力
変動を相殺することにより求めることができる。このと
き測定系は、恒温槽15a、15bにより周囲温度を一
定に保たれている。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、上記した従来の方法では、被測定光フアイμを
伝搬後の光検出器13bでの受光レベル変動と、光源出
力変動との差から、被測定光ファイバ自身の損失温度変
動を求めることができるが、測定後のデータの演算解析
処理に多くの労力を必要とする欠点がある。
伝搬後の光検出器13bでの受光レベル変動と、光源出
力変動との差から、被測定光ファイバ自身の損失温度変
動を求めることができるが、測定後のデータの演算解析
処理に多くの労力を必要とする欠点がある。
本発明の目的は、前記した従来技術の欠点を解消し、被
測定光ファイバの微少な損失温度変動を高精度かつ簡便
に評価できる光ファイバ損失温度変動測定方法を提供す
ることにある。
測定光ファイバの微少な損失温度変動を高精度かつ簡便
に評価できる光ファイバ損失温度変動測定方法を提供す
ることにある。
[課題を解決するための手段]
本発明は、光源の出力光を光ファイバに入射させ出射後
の光強度変化から光ファイバの損失温度変動を測定する
方法において、光源の出力光が光ファイバに入射される
までの間に、減衰量が可変の光アブテネータを設けると
共に、該光アヅテネータを通過した後の光強度を検出す
る検出器を設け、該検出器で検出される光強度の変動に
応じ、その変動を相殺するように、上記光アブテネータ
の減衰量を調整するものである。
の光強度変化から光ファイバの損失温度変動を測定する
方法において、光源の出力光が光ファイバに入射される
までの間に、減衰量が可変の光アブテネータを設けると
共に、該光アヅテネータを通過した後の光強度を検出す
る検出器を設け、該検出器で検出される光強度の変動に
応じ、その変動を相殺するように、上記光アブテネータ
の減衰量を調整するものである。
[作用]
光源の光出力が変動した場合、これに応じて検出器で検
出される光強度も変動する。光アッテネータは、検出器
で検出される光強度の変動に応じて、その減衰量を調整
されるが、この調整減衰量の増減方向は、光強度の変動
を相殺する方向である。即ち、見掛上光源の出力変動が
ない状態に維持される。このように光ファイバに入射さ
れる光が安定化されると、光ファイバから出射される光
の強度変化は、光ファイバの損失温度変動のみとなる。
出される光強度も変動する。光アッテネータは、検出器
で検出される光強度の変動に応じて、その減衰量を調整
されるが、この調整減衰量の増減方向は、光強度の変動
を相殺する方向である。即ち、見掛上光源の出力変動が
ない状態に維持される。このように光ファイバに入射さ
れる光が安定化されると、光ファイバから出射される光
の強度変化は、光ファイバの損失温度変動のみとなる。
従って、測定系の温度特性を気にせず、光ファイバの微
少な損失温度変動を高精度かつ簡便に測定することがで
きる。
少な損失温度変動を高精度かつ簡便に測定することがで
きる。
[実施例]
以下、本発明を図示の実施例について説明する。
第1図に、光ファイバ損失温度変動測定方法を実施する
測定系を示す。
測定系を示す。
第1図において、1は光源、2は光源1の出力光が被測
定光ファイバ5に入射されるまでの間に設けた減衰量が
可変の光アッテネータ、3は光アッテネータ2を通過し
た後の光の一部を取り出すための光分岐器、4aは光分
岐器3で分岐された光の強度変動を検出する光源出力変
動測定用の光検出器、6は光検出器4aで検出される光
強度の変動に応じ、その変動を相殺するように、上記光
アッテネータ2の減衰量を調整するコントローラである
。これらの送光側の装置は、コントローラ6を除き恒温
槽7aに収容されている。4bは受光側の光検出器であ
り、恒温ff17bで収容されている。
定光ファイバ5に入射されるまでの間に設けた減衰量が
可変の光アッテネータ、3は光アッテネータ2を通過し
た後の光の一部を取り出すための光分岐器、4aは光分
岐器3で分岐された光の強度変動を検出する光源出力変
動測定用の光検出器、6は光検出器4aで検出される光
強度の変動に応じ、その変動を相殺するように、上記光
アッテネータ2の減衰量を調整するコントローラである
。これらの送光側の装置は、コントローラ6を除き恒温
槽7aに収容されている。4bは受光側の光検出器であ
り、恒温ff17bで収容されている。
光源1から出た光は、減衰量が可変の光アッテネータ2
.光分岐器3を経た後、一方は被測定光ファイバ5へ、
もう一方は、光源出力変動測定用の光検出器4aに導か
れる。光アッテネータ2の減衰量可変人力端子及び光検
出器4aの出力端子は、計測器制御用のインターフェー
スケーブル8により、コントローラ6のI10端子と接
続されており、コントローラ6の命令により、光アッテ
ネータ2の減衰量が制御される。光アッテネータ2は、
予め数dBの減衰量を付加した状態としておかれ、この
減衰量がコントローラ6により0.01dBの精度で増
減される。
.光分岐器3を経た後、一方は被測定光ファイバ5へ、
もう一方は、光源出力変動測定用の光検出器4aに導か
れる。光アッテネータ2の減衰量可変人力端子及び光検
出器4aの出力端子は、計測器制御用のインターフェー
スケーブル8により、コントローラ6のI10端子と接
続されており、コントローラ6の命令により、光アッテ
ネータ2の減衰量が制御される。光アッテネータ2は、
予め数dBの減衰量を付加した状態としておかれ、この
減衰量がコントローラ6により0.01dBの精度で増
減される。
コントローラ6は、内蔵するCPUにより光検出器4a
の出力を読み込み、光源lの出力変動を常時監視する。
の出力を読み込み、光源lの出力変動を常時監視する。
更にコントローラ6は、この変動量に応じた調整命令を
光アブテネータ2に与え、結果的に変動量が相殺される
ように、光アッテネータ2の減衰量を増減調整する。こ
の為、光分岐器3を通し被測定光ファイバ5に入射する
光は、常に一定と見なすことができる。
光アブテネータ2に与え、結果的に変動量が相殺される
ように、光アッテネータ2の減衰量を増減調整する。こ
の為、光分岐器3を通し被測定光ファイバ5に入射する
光は、常に一定と見なすことができる。
このようにして、被測定光ファイバ5に対する入射強度
が送光側で一定化される結果、受光側の光検出器4b′
c測定される受光レベル変動が、被測定光ファイバ5自
身の損失変動と言えることになる。従って、光検出器4
bにおける受光レベルの変動から、直ちに、光ファイバ
の微少な損失温度変動を、高精度かつ簡便に測定評価す
ることができる。よって、測定後のデータの演算解析処
理が不要となり、測定が簡略化される。また、測定の際
に使用する恒温槽7aの温度安定性が悪く、光源1の出
力変動が多少大きな場合でも、光アッテネータ2の調整
可能な範囲にあり、十分な測定精度を保証できる。
が送光側で一定化される結果、受光側の光検出器4b′
c測定される受光レベル変動が、被測定光ファイバ5自
身の損失変動と言えることになる。従って、光検出器4
bにおける受光レベルの変動から、直ちに、光ファイバ
の微少な損失温度変動を、高精度かつ簡便に測定評価す
ることができる。よって、測定後のデータの演算解析処
理が不要となり、測定が簡略化される。また、測定の際
に使用する恒温槽7aの温度安定性が悪く、光源1の出
力変動が多少大きな場合でも、光アッテネータ2の調整
可能な範囲にあり、十分な測定精度を保証できる。
[発明の効果]
本発明によれば、光アッテネータの減衰量が調整して見
掛上光源の出力変動がない状態にするので、測定系の温
度特性を気にせず、光ファイバの微少な損失温度変動を
高精度かつ簡便に測定することができる。
掛上光源の出力変動がない状態にするので、測定系の温
度特性を気にせず、光ファイバの微少な損失温度変動を
高精度かつ簡便に測定することができる。
第1図は本発明の方法を実施する光ファイバ損失温度変
動測定装置の構成図、第2図は従来の光ファイバ損失温
度変動測定装置の構成図である。 図中、1は光源、2は光アブテネータ、3は光分岐器、
4a、4bは光検出器、5は被測定光ファイバ、6はコ
ントローラ、7a、7bは恒温槽、8は計測器制御用イ
ンターフェースケーブルを示す。 6;コントローラ
動測定装置の構成図、第2図は従来の光ファイバ損失温
度変動測定装置の構成図である。 図中、1は光源、2は光アブテネータ、3は光分岐器、
4a、4bは光検出器、5は被測定光ファイバ、6はコ
ントローラ、7a、7bは恒温槽、8は計測器制御用イ
ンターフェースケーブルを示す。 6;コントローラ
Claims (1)
- 1、光源の出力光を光ファイバに入射させ出射後の光強
度変化から光ファイバの損失温度変動を測定する方法に
おいて、光源の出力光が光ファイバに入射されるまでの
間に、減衰量が可変の光アッテネータを設けると共に、
該光アッテネータを通過した後の光強度を検出する検出
器を設け、該検出器で検出される光強度の変動に応じ、
その変動を相殺するように、上記光アッテネータの減衰
量を調整することを特徴とする光ファイバ損失温度変動
の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23491788A JPH0283429A (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 光ファイバ損失温度変動の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23491788A JPH0283429A (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 光ファイバ損失温度変動の測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0283429A true JPH0283429A (ja) | 1990-03-23 |
Family
ID=16978310
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23491788A Pending JPH0283429A (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 光ファイバ損失温度変動の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0283429A (ja) |
-
1988
- 1988-09-21 JP JP23491788A patent/JPH0283429A/ja active Pending
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