JPH0276040A - Error deciding system - Google Patents

Error deciding system

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JPH0276040A
JPH0276040A JP63228964A JP22896488A JPH0276040A JP H0276040 A JPH0276040 A JP H0276040A JP 63228964 A JP63228964 A JP 63228964A JP 22896488 A JP22896488 A JP 22896488A JP H0276040 A JPH0276040 A JP H0276040A
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JP
Japan
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shift register
contents
buffer storage
shift
flip
Prior art date
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Pending
Application number
JP63228964A
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Japanese (ja)
Inventor
Satoshi Kobayashi
智 小林
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0276040A publication Critical patent/JPH0276040A/en
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Abstract

PURPOSE:To decide the presence and absence of an error at a high speed by comparing the contents of a buffer storing part and the contents of a shift register in synchronism with shift operation, storing a compared result to a flip-flop, which can be referred from an arithmetic processing unit, and reading the result after the shift operation is completed. CONSTITUTION:By a comparing circuit 6 to be connected to a data transfer pass 11, which is between a buffer storing part 2 and a shift register 4, through a switch 5, the contents of the buffer storing part 2 and the contents of the shift register 4 are compared in synchronism with the shift operation. The compared result is stored to a flip-flop 7, which can be referred from an arithmetic processing unit 1, and the condition of the flip-flop 7 is read by the arithmetic processing unit 1 after the shift operation is completed. Thus, the presence and absence of error information, which are dispersed in the latch group of an LSI, can be decided at the high speed.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、データ処理装置におけるエラー内容の判定
方式に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for determining error content in a data processing device.

[従来の技術] 第4図は従来のサービスプロセッサからLSI内のラッ
チ群を読み書きするためのハードウェアを示すブロック
図である。図において、1は後記のサービスプロセッサ
12を制御する演算処理装置、2は演算処理装置1より
書込みデータをあらかじめ保持せしめるためのバッファ
記憶部、3はバッファ記憶部2のアクセスアドレスを保
持するアドレスレジスタ、9及びlOはLSI(大規模
集積回路)、4はLSI9及び10からのシフトデータ
を一定ビット幅だけ保持するシフトレジスタ、12はサ
ービスプロセッサ、11はサービスプロセッサ12内の
データパス、13はLSIQ内のラッチ群、14はシフ
トレジスタ4のデータをLSIQ内のラッチ群13へ供
給するためのシフトパスである。
[Prior Art] FIG. 4 is a block diagram showing hardware for reading and writing from a conventional service processor to a group of latches in an LSI. In the figure, 1 is an arithmetic processing unit that controls a service processor 12 (described later), 2 is a buffer storage unit for holding write data from the arithmetic processing unit 1 in advance, and 3 is an address register that holds the access address of the buffer storage unit 2. , 9 and IO are LSIs (large scale integrated circuits), 4 is a shift register that holds shift data from LSIs 9 and 10 by a fixed bit width, 12 is a service processor, 11 is a data path within the service processor 12, 13 is an LSIQ A latch group 14 within is a shift path for supplying data in the shift register 4 to a latch group 13 in the LSIQ.

第5図は第4図の従来例における動作時の各部のタイミ
ングを示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing the timing of each part during operation in the conventional example shown in FIG.

次に、上記従来例の動作について説明する。まず、サー
ビスプロセッサ12からLSI9及びlOのラッチ群1
3に値をセットする場合について述べる。サービスプロ
セッサ12の演算処理装置1はラッチ群13に設定すべ
き全データをバッファ記憶部2に書き込む。書込みアド
レスはアドレスレジスタ3により逐次に演算処理装置1
からデータパス11を経由してセットされる。バッファ
記憶部2へのデータ蓄積の完了後、演算処理装置1はシ
フト動作を起動せしめる。このシフト動作は、シフトレ
ジスタ4によりバッファ記憶部2から書込みデータを取
り込みつつ自動的に、かつ高速に行われる。
Next, the operation of the above conventional example will be explained. First, from the service processor 12 to the LSI 9 and lO latch group 1
The case where the value is set to 3 will be described. The arithmetic processing unit 1 of the service processor 12 writes all data to be set in the latch group 13 to the buffer storage section 2. The write address is sequentially sent to the arithmetic processing unit 1 by the address register 3.
It is set via the data path 11 from . After completing data accumulation in the buffer storage section 2, the arithmetic processing device 1 starts a shift operation. This shift operation is performed automatically and at high speed while the shift register 4 takes in the write data from the buffer storage section 2.

第5図は上記のような従来例の動作時における各部のタ
イミングを示している。シフトクロック「1」に先立っ
てインクリメントクロックによってアドレスレジスタ3
の内容が+1され、新しい書込みデータDoがバッファ
記憶部2から読み出され、シフトレジスタ4に同時に設
定される。シフトレジスタ4のモードは当該タイミング
中は並列セットモードに切り換えである。次に、シフト
レジスタ4のモードをシフトモードにした後、シフトレ
ジスタ4のビット長の8ビット分のシフトクロックを発
生せしめる。
FIG. 5 shows the timing of each part during the operation of the conventional example as described above. The address register 3 is set by the increment clock prior to the shift clock “1”.
The new write data Do is read out from the buffer storage section 2 and set in the shift register 4 at the same time. The mode of the shift register 4 is switched to parallel set mode during this timing. Next, after setting the mode of the shift register 4 to shift mode, a shift clock corresponding to 8 bits of the bit length of the shift register 4 is generated.

以上のように、シフトレジスタ4の内容はシフトパス1
4を経由してLSIQ内のラッチ群13へ順次に書き込
まれる。8ビット分のシフト完了後は、再びシフトレジ
スタ4のモードを並列セットモードに切り換えインクリ
メントクロックを発生せしめることにより、バッファ記
憶部2内の新しい8ビツトデータがシフトレジスタ4ヘ
ロードされる。
As mentioned above, the contents of shift register 4 are shift path 1
4 to the latch group 13 in the LSIQ. After the 8-bit shift is completed, the mode of the shift register 4 is switched to parallel set mode again and an increment clock is generated, thereby loading new 8-bit data in the buffer storage section 2 into the shift register 4.

逆に、LSre内のラッチ群13のデータをバッファ記
憶部2へ読み込む場合には、シフトクロックによるシフ
ト完了後、インクリメントクロックによるアドレスレジ
スタ3の+1タイミングで、シフトレジスタ4の内容を
バッファ記憶部2に書き込む。
Conversely, when reading the data of the latch group 13 in LSre into the buffer storage unit 2, after the shift by the shift clock is completed, the contents of the shift register 4 are read into the buffer storage unit 2 at +1 timing of the address register 3 by the increment clock. write to.

上記のようなハードウェアによって、サービスプロセッ
サ12はLSIe内のラッチ群13の内容を自由に読み
書きできる。この機能を利用して、従来のサービスプロ
セッサ12はLSI9及び10内のエラー情報を読み出
し、演算処理装置1によってエラーの判定を行っていた
The above hardware allows the service processor 12 to freely read and write the contents of the latch group 13 within the LSIe. Utilizing this function, the conventional service processor 12 reads error information in the LSIs 9 and 10, and the arithmetic processing unit 1 determines the error.

[発明が解決しようとする課題] 上記従来のサービスプロセッサ12は以上のように構成
されているので、LSI9及びlOの長大なラッチ群1
3内に散在しているエラー情報を検査するため、演算処
理装置1が多数回にわたってバッファ記憶部2の内容を
アクセスしなければならず、それゆえ、ラッチ群13内
のエラー情報の有無を判定するところのエラー判定には
長時間を要するという問題点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] Since the conventional service processor 12 is configured as described above, the large latch group 1 of the LSI 9 and IO is
In order to check the error information scattered in the latch group 13, the arithmetic processing unit 1 has to access the contents of the buffer storage unit 2 many times, and therefore determines the presence or absence of error information in the latch group 13. However, there was a problem in that error determination required a long time.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、LSIのラッチ群内に散在しているエラー情
報の有無の判定を高速に実行することができるエラー判
定方式を得ることを目的とする。
This invention was made to solve the above-mentioned problems, and aims to provide an error determination method that can quickly determine the presence or absence of error information scattered within a group of LSI latches. purpose.

[課題を解決するための手段] この発明に係るエラー判定方式は、バッファ記憶部とシ
フトレジスタ間のデータ転送パスに設けたスイッチの両
端に接続された比較回路により、バッファ記憶部の内容
とシフトレジスタの内容とを、シフト動作に同期して比
較し、その比較結果をフリップフロップに記憶させ、シ
フト動作の完了後に、演算処理装置により当該フリップ
フロップの状態を読み取ることにより、LSI内のラッ
チ群に特定のエラーが発生しているか否かを判定し得る
ようにしたものである。
[Means for Solving the Problems] The error determination method according to the present invention uses a comparison circuit connected to both ends of a switch provided in a data transfer path between the buffer storage unit and the shift register to compare the contents of the buffer storage unit and the shift register. By comparing the contents of the register with the contents of the register in synchronization with the shift operation, storing the comparison result in the flip-flop, and reading the state of the flip-flop with the arithmetic processing unit after the shift operation is completed, the latch group in the LSI is This makes it possible to determine whether a specific error has occurred.

[作用] この発明におけるエラー判定方式は、バッファ記憶部と
シフトレジスタ間のデータ転送パスにスイッチを介して
接続された比較回路により、バッファ記憶部の内容とシ
フトレジスタの内容とをシフト動作に同期して比較し、
その比較結果を演算処理装置から参照可能なフリップフ
ロップに記憶させ、シフト動作の完了後に、演算処理装
置により当該フリップフロップの状態を読み取り、これ
により、LSIのラッチ群内に散在しているエラー情報
の有無を高速に判定できる。
[Operation] The error determination method according to the present invention synchronizes the contents of the buffer storage section and the contents of the shift register with the shift operation using a comparison circuit connected to the data transfer path between the buffer storage section and the shift register via a switch. and compare
The comparison result is stored in a flip-flop that can be referenced by the arithmetic processing unit, and after the shift operation is completed, the arithmetic processing unit reads the state of the flip-flop, thereby providing error information scattered within the latch group of the LSI. It is possible to quickly determine the presence or absence of

[実施例] 第1図はこの発明の実施例であるエラー判定方式を用い
た、サービスプロセッサからLSI内のラッチ群を読み
書きするためのハードウェアを示すブロック図で、第4
図と同一符号は同−又は相当部分を表示しており、その
詳細な説明は省略する。図において、5はバッファ記憶
部2とシフトレジスタ4間のデータ転送パスに設けられ
、両者間のデータ転送を切り離すためのスイッチ、6は
バッファ記憶部2の内容とシフトレジスタ4の内容とを
シフト動作に同期して比較する比較回路、7は比較回路
6の比較結果を記憶するフリップフロップ、8はフリッ
プフロップ7の内容をデータパス11へ送り、かつデー
タパス11からのリセットデータを取り込み、フリップ
フロップ7をリセットするためのバッフ7レジスタであ
る。
[Embodiment] FIG. 1 is a block diagram showing hardware for reading and writing from a service processor to a group of latches in an LSI using an error determination method according to an embodiment of the present invention.
The same reference numerals as in the figures indicate the same or corresponding parts, and detailed explanation thereof will be omitted. In the figure, 5 is a switch provided on the data transfer path between the buffer storage unit 2 and the shift register 4 to separate data transfer between the two, and 6 is a switch that shifts the contents of the buffer storage unit 2 and the shift register 4. A comparison circuit that compares in synchronization with the operation; 7 is a flip-flop that stores the comparison result of the comparison circuit 6; 8 is a flip-flop that sends the contents of the flip-flop 7 to the data path 11, takes in reset data from the data path 11, and stores the comparison result of the comparison circuit 6; This is a buffer 7 register for resetting the buffer 7.

第2図は第1図のこの発明の実施例における動作時の各
部のタイミングを示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing the timing of each part during operation in the embodiment of the invention shown in FIG.

次に、上記この発明の実施例の動作について説明する。Next, the operation of the above embodiment of the present invention will be explained.

通常、スイッチ5は閉成(接続状態)されており、上記
従来例と同様にバッファ記憶部2のデータをシフトレジ
スタ4へ供給し、逆にシフトレジスタ4の内容をバッフ
ァ記憶2へ書き込めるようにする。
Normally, the switch 5 is closed (connected) so that the data in the buffer storage section 2 can be supplied to the shift register 4 and the contents of the shift register 4 can be written into the buffer storage 2 as in the conventional example. do.

ここで、サービスプロセッサ12が、ラッチ群13内に
散在するエラー情報の数ビットのうちの1つでも「l」
であることで、重大なエラーが発生しているか否かを判
定しようとする時、演算処理装置lは、まず、比較デー
タとなる比較パターンをバッファ記憶部2内に書き込む
。次に、演算処理装置1はバッファレジスタ8によりフ
リップフロップ7をリセットし、スイッチ5をrWI放
することによりバッファ記憶部2とシフトレジスタ4間
のデータ転送パスを切り離す。
Here, if the service processor 12 determines that even one of the several bits of error information scattered within the latch group 13 is "l",
When attempting to determine whether or not a serious error has occurred, the arithmetic processing unit 1 first writes a comparison pattern serving as comparison data into the buffer storage unit 2. Next, the arithmetic processing unit 1 resets the flip-flop 7 using the buffer register 8, and releases the switch 5 rWI to disconnect the data transfer path between the buffer storage section 2 and the shift register 4.

以上のような状態において、バッファ記憶部2について
はラッチ群13への書込み動作を行い、シフトレジスタ
4についてはラッチ群13の読取り動作を行う。その結
果、比較回路6へは、バッファ記憶部2から比較パター
ンが入力され、シフトレジスタ4からラッチ群13の読
取りデータが人力され、比較回路6による比較結果がフ
リップフロップ7に記憶される。
In the above state, the buffer storage unit 2 performs a write operation to the latch group 13, and the shift register 4 performs a read operation from the latch group 13. As a result, the comparison pattern is inputted to the comparison circuit 6 from the buffer storage section 2, the read data of the latch group 13 is inputted from the shift register 4, and the comparison result by the comparison circuit 6 is stored in the flip-flop 7.

第2図は上記のようなこの発明の実施例の動作時におけ
る各部のタイミングを示している。シフトレジスタ4ヘ
シフトクロツクを8回印加した後、シフトレジスタ4の
モードはシフトのままでインクリメントクロックを発生
せしめる。これにより、アドレスレジスタ3の内容が+
1され、新たな比較データがバッファ記憶部2から読み
出される。
FIG. 2 shows the timing of each part during operation of the embodiment of the present invention as described above. After applying the shift clock to the shift register 4 eight times, the mode of the shift register 4 remains in shift and an increment clock is generated. As a result, the contents of address register 3 become +
1 and new comparison data is read from the buffer storage section 2.

このタイミングでフリップフロップ7へクロックを印加
することにより、比較回路6からの比較結果をフリップ
フロップ7が記憶することができる。
By applying a clock to the flip-flop 7 at this timing, the flip-flop 7 can store the comparison result from the comparison circuit 6.

フリップフロップ7へのクロックはシフトクロックを8
回発生した後の1クロック分のすきまでのみ発生させる
ので、シフト中のデータとの比較結果をフリップフロッ
プ7が誤って拾うことはない。
The clock to flip-flop 7 is the shift clock 8.
Since the signal is generated only up to a gap of one clock after the signal is generated, the flip-flop 7 will not accidentally pick up the result of comparison with the data being shifted.

また、シフトモードをシフトしているので、インクリメ
ントクロックの発生タイミングで、シフトレジスタ4が
誤って保持データを壊すこともない。
Furthermore, since the shift mode is shifted, the shift register 4 will not accidentally destroy the held data at the timing of the increment clock generation.

第3図(a)及び(b)は第1図のこの発明の実施例に
おける比較回路の構成及びラッチ群のデータ例を示す図
である。図に示すように比較回路6はANDゲート15
とORゲート16から構成される。比較回路6へ入力す
るバッファ記憶部2からの比較パターンは、シフトレジ
スタ4からのラッチ群13のデータに対してマスクパタ
ーンとして働き、エラー判定に必要なビット位置にのみ
「1」を有する。比較回路6はANDゲー)15によっ
て、バッファ記憶部2からの比較パターンとシフトレジ
スタ4からのラッチ群13のデータとの論理積をとるこ
とにより、比較パターンの「l」に対応するラッチ群1
3のデータ中のエラー情報のみを取り出す。次に、比較
回路6は取り出したエラー情報のすべてをORゲー)1
6によって論理和をとることにより、フリップフロップ
7への出力信号とする。フリップフロップ7はその出力
信号をさらに前回の比較結果との論理和をとった上で記
憶する。以上のような操作を、ラッチ群13をすへてシ
フトするまで繰り返すことにより、所望のエラー情報を
演算処理装置lによりバッファレジスタ8を通して読み
取ることができる。
FIGS. 3(a) and 3(b) are diagrams showing the configuration of the comparator circuit and data examples of the latch group in the embodiment of the invention shown in FIG. As shown in the figure, the comparator circuit 6 has an AND gate 15
and an OR gate 16. The comparison pattern input from the buffer storage unit 2 to the comparison circuit 6 acts as a mask pattern for the data in the latch group 13 from the shift register 4, and has "1" only in bit positions necessary for error determination. The comparison circuit 6 uses an AND game (AND game) 15 to logically AND the comparison pattern from the buffer storage section 2 and the data of the latch group 13 from the shift register 4, thereby determining the latch group 1 corresponding to "l" of the comparison pattern.
Only the error information in the data in step 3 is extracted. Next, the comparator circuit 6 performs an OR game (OR game)1 on all the extracted error information.
By performing a logical sum using 6, an output signal to the flip-flop 7 is obtained. The flip-flop 7 further performs a logical sum on the output signal with the previous comparison result and stores the result. By repeating the above operations until the latch group 13 is completely shifted, desired error information can be read by the arithmetic processing unit 1 through the buffer register 8.

なお、上記実施例では、比較回路6へ人力する比較パタ
ーンの記憶バッファとして、通常使用するバッファ記憶
部2を使用した構成を示しているが、比較パターン専用
のバッファ記憶部を別途に設け、スイッチ5を省略した
構成としても良く、さらに、ラッチ群13の内容を同時
にバッファ記憶部2へ読み込むことも可能である。
Although the above embodiment shows a configuration in which the normally used buffer storage section 2 is used as a storage buffer for the comparison pattern manually inputted to the comparison circuit 6, a buffer storage section exclusively for the comparison pattern is separately provided, and the switch 5 may be omitted, and it is also possible to read the contents of the latch group 13 into the buffer storage section 2 at the same time.

また、上記実施例において、バッファ記憶部2゜比較回
路6及びフリップフロップ7を複数個設けることにより
、複数のエラー判定を同時に行うことができるようにな
ることは云うまでもない。 [発明の効果] 以上のように、この発明のエラー判定方式によれば、バ
ッファ記憶部とシフトレジスタ間のデータ転送パスにス
イッチを介して接続された比較回路により、バッファ記
憶部の内容とシフトレジスタの内容とをシフト動作に同
期して比較し、その比較結果を演算処理装置から参照可
能なフリップフロップに記憶させ、シフト動作の完了後
に、演算処理装置により当該フリップフロップの状態を
読み取るようにしたので、LSIのラッチ群内に散在し
ているエラー情報の有無の判定を高速に実行することが
でき、さらに装置を安価に実現できるなど優れた効果を
奏する。
Furthermore, in the above embodiment, by providing a plurality of buffer storage unit 2° comparison circuits 6 and flip-flops 7, it goes without saying that a plurality of error determinations can be made simultaneously. [Effects of the Invention] As described above, according to the error determination method of the present invention, the contents of the buffer storage section and the shift The contents of the register are compared in synchronization with the shift operation, the comparison result is stored in a flip-flop that can be referenced by the arithmetic processing unit, and the state of the flip-flop is read by the arithmetic processing unit after the shift operation is completed. Therefore, it is possible to quickly determine the presence or absence of error information scattered within the latch group of an LSI, and furthermore, the device can be realized at a low cost, which is an excellent effect.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の実施例であるエラー判定方式を用い
た、サービスプロセッサからLSI内のラッチ群を読み
書きするためのハードウェアを示すブロック図、第2図
は第1図のこの発明の実施例における動作時の各部のタ
イミングを示す図、第3図(a)及び(b)は第1図の
この発明の実施例における比較回路の構成及びラッチ群
のデータ例を示す図、第4図は従来のサービスプロセッ
サからLSI内のラッチ群を読み書きするためのハード
ウェアを示すブロック図、第5図は第4図の従来例にお
ける動作時の各部のタイミングを示す図である。 図において、l・・・演算処理装置、2・・・バッファ
記憶部、3・・・アドレスレジスタ、4・・・シフトレ
ジスタ、5・・・スイッチ、6・・・比較回路、7・・
・フリップフロップ、8・・・バッファレジスタ、9,
10・・・LSI、11・・・データパス、12・・・
サービスプロセッサ、13・・・ラッチ群、14・・・
シフトパス、15・・・ANDゲート、16・・・OR
・・・ゲート である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a block diagram showing hardware for reading and writing from a service processor to a group of latches in an LSI using an error determination method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an implementation of the present invention shown in FIG. 3(a) and (b) are diagrams showing the configuration of the comparison circuit and data example of the latch group in the embodiment of the present invention in FIG. 1, and FIG. 4 shows the timing of each part during operation in the example. 5 is a block diagram showing hardware for reading and writing a latch group in an LSI from a conventional service processor, and FIG. 5 is a diagram showing the timing of each part during operation in the conventional example of FIG. In the figure, 1... Arithmetic processing unit, 2... Buffer storage section, 3... Address register, 4... Shift register, 5... Switch, 6... Comparison circuit, 7...
・Flip-flop, 8...Buffer register, 9,
10...LSI, 11...Data path, 12...
Service processor, 13... Latch group, 14...
Shift pass, 15...AND gate, 16...OR
...It's a gate. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] LSI内のラッチ群をシリアルに読み書きするためのシ
フトレジスタと、このシフトレジスタへデータを順次に
供給するバッファ記憶部と、このバッファ記憶部のアド
レスを上記ラッチ群のシフト動作と同期して変化せしめ
るアドレスレジスタを備えたサービスプロセッサにおい
て、上記バッファ記憶部と上記シフトレジスタ間のデー
タ転送パスにスイッチを設け、このスイッチの両端に接
続された比較回路と、この比較回路の比較結果を記憶す
るフリップフロップを設け、このフリップフロップの内
容の判定及びリセット等の動作を、上記サービスプロセ
ッサを制御する演算処理装置で行うことにより、上記比
較回路は上記バッファ記憶部の内容と上記シフトレジス
タの内容とを上記ラッチ群のシフト動作に同期して比較
し、上記ラッチ群内のエラー情報の有無を判定すること
を特徴とするエラー判定方式。
A shift register for serially reading and writing a group of latches in the LSI, a buffer storage section that sequentially supplies data to this shift register, and an address of this buffer storage section that changes in synchronization with the shifting operation of the latch group. In a service processor equipped with an address register, a switch is provided in the data transfer path between the buffer storage section and the shift register, a comparison circuit connected to both ends of the switch, and a flip-flop that stores the comparison result of the comparison circuit. By providing an arithmetic processing unit that controls the service processor to perform operations such as determining and resetting the contents of this flip-flop, the comparison circuit compares the contents of the buffer storage section with the contents of the shift register. An error determination method characterized in that the presence or absence of error information in the latch group is determined by comparing in synchronization with the shift operation of the latch group.
JP63228964A 1988-09-13 1988-09-13 Error deciding system Pending JPH0276040A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5113704A (en) * 1990-02-19 1992-05-19 Hitachi Metals, Ltd. Gear tester

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5113704A (en) * 1990-02-19 1992-05-19 Hitachi Metals, Ltd. Gear tester

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