JPH0274007A - Trimming method for thick film resistor - Google Patents

Trimming method for thick film resistor

Info

Publication number
JPH0274007A
JPH0274007A JP63226040A JP22604088A JPH0274007A JP H0274007 A JPH0274007 A JP H0274007A JP 63226040 A JP63226040 A JP 63226040A JP 22604088 A JP22604088 A JP 22604088A JP H0274007 A JPH0274007 A JP H0274007A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
trimming
electrodes
resistance value
thick film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63226040A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideki Shibuya
渋谷 秀樹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Chemi Con Corp
Original Assignee
Nippon Chemi Con Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Chemi Con Corp filed Critical Nippon Chemi Con Corp
Priority to JP63226040A priority Critical patent/JPH0274007A/en
Publication of JPH0274007A publication Critical patent/JPH0274007A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To obtain the desired resistance value as well as to prevent concentration of current by a method wherein the resistance value is adjusted by cutting a part of the first or the second electrode together with a resistor. CONSTITUTION:The first and the second electrodes 14A and 14B are cut together with the resistor 16 located between the first and the second electrodes 14A and 14B which are arranged on a substrate 10 leaving an optional space between them. Accordingly, the contact surface of the first and the second electrodes 14A and 14B and the resistor 16 is reduced when the above-mentioned cutting reaches the prescribed limits, and an effective length is increased without narrowing the relative width resistor 16 against the first and the second electrodes 14A and 14B. Also, a part of the resistor 16, located between the first and the second electrodes 14A and 14B, which are provided in an optional interval on the substrate 10, is cut and the effective length of the resistor 16 can be increased even when a part of the first and the second electrodes 14A and 14B is cut subsequently. As a result, the desired resistance value can be obtained easily in a reliable manner, and the concentration of current can also be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、厚膜抵抗体を構成する抵抗体の切削に伴う
電流集中の緩和を実現した厚膜抵抗体のトリミング方法
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for trimming a thick film resistor, which achieves alleviation of current concentration associated with cutting of a resistor constituting the thick film resistor.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ハイブリッドICにおける厚膜抵抗体は、セラミック等
で形成された基板上に対を成す導体電極を印刷した後、
各導体電極間に跨がって抵抗ペーストを印刷し、それを
焼成、固化することによって形成される。このため、印
刷時における抵抗ペーストの粘性による分布状態や焼成
時の温度条件等の製造条件により、その抵抗値が微妙に
変化する。そこで、基板に設置された抵抗体の面積や膜
厚等を設計しても、それが目的の抵抗値との間に製造段
階で誤差を生じるので、最終の抵抗値に対し大まかな抵
抗値に焼成し、その一部を除去して抵抗値を目的の抵抗
値に調整するトリミングが行われている。
Thick film resistors in hybrid ICs are manufactured by printing paired conductor electrodes on a substrate made of ceramic or the like.
It is formed by printing a resistive paste between each conductor electrode, firing it, and solidifying it. Therefore, the resistance value changes slightly depending on manufacturing conditions such as the distribution state due to the viscosity of the resistance paste during printing and the temperature conditions during firing. Therefore, even if you design the area, film thickness, etc. of the resistor installed on the board, there will be an error between it and the target resistance value during the manufacturing stage, so the resistance value will be rough compared to the final resistance value. Trimming is performed by firing and removing a portion of it to adjust the resistance value to the desired resistance value.

そして、厚膜抵抗体のトリミングでは、焼成後の抵抗体
の一部を除去し、その幅や有効長を変更することにより
、抵抗値を増加させ、所望の抵抗値に調整している。
In trimming a thick film resistor, a part of the fired resistor is removed and its width and effective length are changed to increase the resistance value and adjust it to a desired resistance value.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

ところで、このような厚膜抵抗体のトリミングでは、抵
抗体の幅を狭めることによって抵抗値を増加させて所望
の抵抗値に調整するので、調整された抵抗体の幅の狭く
なった部分に電流が集中し、単位面積当りの電流密度の
増加によってジュール熱が発止し、場合によっては抵抗
値の変化や、厚膜抵抗体の劣化等を生じさせる原因にな
る。
By the way, in trimming such a thick film resistor, the resistance value is increased by narrowing the width of the resistor and adjusted to the desired resistance value, so current is applied to the narrowed part of the adjusted resistor. is concentrated and Joule heat is generated due to an increase in current density per unit area, which may cause a change in resistance value or deterioration of a thick film resistor.

また、高抵抗の厚膜抵抗体を得たい場合には、抵抗体に
更に複雑なトリミングを施さなければならず、構造上に
無理が生して信頼性が低下する。
Furthermore, if it is desired to obtain a thick film resistor with high resistance, the resistor must be trimmed in a more complicated manner, resulting in strain on the structure and reduced reliability.

さらに、複雑なトリミングを施すことになれば、工程数
が増加する分だけ厚膜抵抗体の製造コストが増加するこ
とになる。
Furthermore, if complicated trimming is performed, the manufacturing cost of the thick film resistor increases as the number of steps increases.

そこで、この発明は、信頼性が高くしかも容易に所望の
抵抗値が得られるとともに、電流集中を防止した厚膜抵
抗体のトリミング方法の堤供を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a method for trimming a thick film resistor that is highly reliable, easily obtains a desired resistance value, and prevents current concentration.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

この発明の厚膜抵抗体のトリミング方法は、基板上ムこ
設置された第1及び第2の電極間に設置された抵抗体と
ともに前記第1又は第2の電極の一部を除去し、前記第
1及び第2の電極間の前記抵抗体の有効長の変更により
、抵抗値を調整することを特徴とする。
The thick film resistor trimming method of the present invention includes removing a part of the first or second electrode together with the resistor installed between the first and second electrodes disposed on the substrate; The resistance value is adjusted by changing the effective length of the resistor between the first and second electrodes.

また、この厚膜抵抗体のトリミング方法は、基板上に任
意の間隔を以て設置された第1及び第2の電極間の抵抗
体の一部を除去した後、前記第1又は第2の電極の一部
を除去することを特徴とする。
In addition, in this thick film resistor trimming method, after removing a part of the resistor between the first and second electrodes installed on the substrate with an arbitrary interval, the first or second electrode is removed. It is characterized by removing part of it.

〔作  用〕[For production]

この発明の厚膜抵抗体のトリミング方法によれば、基板
上に任意の間隔を以て配置された第1及び第2の電極間
の抵抗体とともに第1又は第2の電極を切削することに
よ、す、この切削が所定域に達したときに第1及び第2
の電極と抵抗体との接触面積が縮小し、第1及び第2の
電極に対する相対的な抵抗体の幅を狭めずに有効長を拡
大している。
According to the thick film resistor trimming method of the present invention, by cutting the first or second electrode together with the resistor between the first and second electrodes arranged on the substrate at an arbitrary interval, When this cutting reaches a predetermined area, the first and second
The contact area between the electrode and the resistor is reduced, and the effective length is expanded without narrowing the width of the resistor relative to the first and second electrodes.

また、基板上に任意の間隔を以て設置された第1及び第
2の電極間の抵抗体の一部を切削し、これを切削した後
に第1又は第2の電極の一部を切削しても、同様に抵抗
体の有効長を拡大することができる。
Alternatively, it is also possible to cut a part of the resistor between the first and second electrodes installed on the substrate at an arbitrary interval, and then cut a part of the first or second electrode. , the effective length of the resistor can be expanded as well.

〔実 施 例〕〔Example〕

第1図は、この発明の厚膜抵抗体のトリミング方法の実
施例を示す。
FIG. 1 shows an embodiment of the thick film resistor trimming method of the present invention.

第1図の(A)に示すように、セラミック等で形成され
た基jli l Oの表面には、導体12A、12B、
第1及び第2の電極としてトリミング用電極14A、1
4Bが導体ペーストの印刷、焼成によって設置され、抵
抗ペーストを印刷、焼成して抵抗体16が設置されてい
る。トリミング用電極14A、14Bは、導体12A、
12Bとともに回路パターンに応じて形成される。導体
12A、12Bとトリミング用電極14A、14Bとの
接続点には、トリミングの開始点を表す凸状のトリミン
グ導入バッド18A、18Bが形成されている。
As shown in FIG. 1(A), conductors 12A, 12B,
Trimming electrodes 14A, 1 as the first and second electrodes
4B is installed by printing and firing a conductor paste, and the resistor 16 is installed by printing and firing a resistor paste. The trimming electrodes 14A, 14B are conductors 12A,
Together with 12B, it is formed according to the circuit pattern. Convex trimming introduction pads 18A, 18B representing trimming starting points are formed at the connection points between the conductors 12A, 12B and the trimming electrodes 14A, 14B.

抵抗体I6は、トリミング用電極14A114Bを全面
的に覆って設置され、トリミング用電極14A、14B
側に突部を持つ変則的な矩形形状を成している。
The resistor I6 is installed to completely cover the trimming electrodes 14A and 114B.
It has an irregular rectangular shape with protrusions on the sides.

そして、トリミングは、研磨粉の高圧噴射によって抵抗
体16を切削するサンドブラスト法(アブレンジブトリ
ミング)を適用し、抵抗体16とともに導体12A、1
2Bも切削する。第1図の(B)に示すように、トリミ
ングはトリミング導入バンド18A、18Bを導入点と
して開始される。これによって、各トリミング用電極1
4A114Bの位置が決定され、トリミングはこれらト
リミング用電極14A、14Bに沿って正確に実行され
る。
The trimming is performed by applying a sandblasting method (abbreviated trimming) in which the resistor 16 is cut by high-pressure jetting of abrasive powder, and the resistor 16 and the conductors 12A, 1
Also cut 2B. As shown in FIG. 1B, trimming is started using trimming introduction bands 18A and 18B as introduction points. As a result, each trimming electrode 1
4A114B is determined and trimming is performed precisely along these trimming electrodes 14A, 14B.

次に、第1図の(C)は、トリミング開始時の厚膜抵抗
体の状態を示しており、トリミング導入パッド18A、
18Bが既に切削された状態である。トリミング用電極
14Aは、切削によって導体12Aと切り離され、これ
は単に抵抗体16中に存在する導体として作用している
。従って、トリミング用電極14Aは、これを挟む左右
の抵抗体16を短絡する役割を果たしている。このとき
、導体12Aは抵抗体16との接触部分を斜線で示した
接点2OAのみとし、接触面積の縮小によって抵抗値を
増加させている。また、トリミング用電極14Bは、導
体12Bと接しており、この状態ではトリミングによる
実質的な抵抗値の変化は少ない。この場合の厚膜抵抗体
の抵抗値変化は、トリミング終了時14Aの切削にほぼ
依存している。
Next, (C) in FIG. 1 shows the state of the thick film resistor at the start of trimming, and shows the trimming introduction pad 18A,
18B has already been cut. The trimming electrode 14A is separated from the conductor 12A by cutting, and simply acts as a conductor existing in the resistor 16. Therefore, the trimming electrode 14A serves to short-circuit the left and right resistors 16 sandwiching the trimming electrode 14A. At this time, the conductor 12A makes contact with the resistor 16 only at the hatched contact point 2OA, and the resistance value is increased by reducing the contact area. Further, the trimming electrode 14B is in contact with the conductor 12B, and in this state, there is little substantial change in resistance value due to trimming. In this case, the resistance value change of the thick film resistor almost depends on the cutting of 14A at the end of trimming.

このトリミング状態では、導体12A、12B間には、
矢印で示すように、導体12A、接点20A、抵抗体1
6、トリミング用電極14B及び導体12Bからなる経
路を以て抵抗値が設定される。
In this trimming state, between the conductors 12A and 12B,
As shown by the arrow, conductor 12A, contact 20A, resistor 1
6. A resistance value is set using a path consisting of the trimming electrode 14B and the conductor 12B.

次に、第1図の(D)は、トリミング途中の厚膜抵抗体
の状態を示し、トリミング用電極14A、14Bの一部
が切削されている。トリミング用電極14Bも導体12
Bと切り離され、導体12Bは抵抗体16との接触部分
を斜線で示した接点20Bのみとし、第1図の(C)に
示したトリミング用電極14Aの場合と同様に、接触面
積の縮小によっ゛ζ抵抗値を増加させている。
Next, (D) in FIG. 1 shows the state of the thick film resistor during trimming, with parts of the trimming electrodes 14A and 14B being cut off. The trimming electrode 14B is also the conductor 12
The conductor 12B makes contact with the resistor 16 only at the hatched contact point 20B, and as in the case of the trimming electrode 14A shown in FIG. 1C, the contact area is reduced. Therefore, the ζ resistance value is increased.

このようにトリミングされると、その導通の経路は、各
導体12A、12Bにそれぞれ正極及び負極が接続され
るものとすると、電流は矢印で示すように、導体12A
、接点20A、抵抗体16、接点20B及び導体12B
からなる経路を経て流れる。この結果、抵抗体16を構
成する有効長が増大し、その結果、厚膜抵抗体の抵抗値
が増加することになる。
When trimmed in this way, the conduction path is such that the current flows through the conductor 12A as shown by the arrow, assuming that the positive and negative electrodes are connected to each conductor 12A and 12B, respectively.
, contact 20A, resistor 16, contact 20B and conductor 12B
It flows through a path consisting of. As a result, the effective length of the resistor 16 increases, resulting in an increase in the resistance value of the thick film resistor.

そして、第2図は、トリミング終了時の厚膜抵抗体の状
態を示しており、トリミング用電極14A、14Bの全
部が切削された状態である。
FIG. 2 shows the state of the thick film resistor at the end of trimming, in which all of the trimming electrodes 14A and 14B have been cut.

このようにトリミングされると、第1図のCD)に示し
た抵抗体16に比較し、その有効長は第2図の矢印で示
すように増大し、その結果、厚膜抵抗体の抵抗値は更に
増加することになる。
When trimmed in this way, the effective length of the resistor 16 increases as shown by the arrow in FIG. 2 compared to the resistor 16 shown in FIG. will further increase.

抵抗体16の切削と同時にトリミング用電極14A、1
4Bも切削されるので、設定される抵抗体16の幅に対
応した形状のトリミング用電極14A、14Bに成形さ
れる。この結果、電流集中が防止され、信転性の高い厚
膜抵抗体が実現されるのである。
At the same time as cutting the resistor 16, the trimming electrodes 14A, 1
4B is also cut, so that the trimming electrodes 14A and 14B are formed in a shape corresponding to the width of the resistor 16 to be set. As a result, current concentration is prevented and a thick film resistor with high reliability is realized.

ところで、各導体12A、12Bの幅は、例えば300
μm(マイクロメートル)、トリミング用電極14A、
14Bの幅は、例えば100μm、トリミングの幅は、
例えば300〜500μmのように決めてお(。このよ
うに各トリミング用電極14A、14Bの幅を決め、ト
リミングの幅を各電極14A、14Bの幅よりも大きく
すれば、正確なトリミングを実行することが可能である
By the way, the width of each conductor 12A, 12B is, for example, 300 mm.
μm (micrometer), trimming electrode 14A,
The width of 14B is, for example, 100 μm, and the width of trimming is:
For example, if the width of each trimming electrode 14A, 14B is determined and the trimming width is made larger than the width of each electrode 14A, 14B, accurate trimming can be performed. Is possible.

次に、第3図の(A)及び(B)は、この発明の厚膜抵
抗体のトリミング方法の他の実施例を示す。即ち、導体
12A、12Bの間には長方形状の抵抗体16が形成さ
れ、トリミング用電極14A、14B、抵抗体16の形
状や方向等種々の形態において、この発明の厚膜抵抗体
のトリミング方法が適用できるものである。
Next, FIGS. 3A and 3B show another embodiment of the thick film resistor trimming method of the present invention. That is, a rectangular resistor 16 is formed between the conductors 12A and 12B, and the thick film resistor trimming method of the present invention can be applied in various forms such as the trimming electrodes 14A and 14B and the shape and direction of the resistor 16. is applicable.

また、第4図に示すように、前記実施例におけるトリミ
ング導入パッド18A、18Bに代えて、トリミング開
始マーク22を設置してもよく、このようにすれば、ト
リミング導入のためのバッドを形成する手数がない。
Further, as shown in FIG. 4, a trimming start mark 22 may be provided in place of the trimming introduction pads 18A and 18B in the above embodiment, and in this way, a pad for introducing trimming is formed. There's no hassle.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明によれば、抵抗体とともに第1又は第2の電極
の一部を切削することによって、抵抗値が調整できると
ともに、その設定される抵抗値に対応した最適な電極に
成形するので所望の抵抗値調整とともに、電流集中を防
止でき、しかも短いトリミング長で大きな抵抗値変化を
得ることができるので、厚膜抵抗体自身の規模を縮小で
き、例えば、ハイブリッ)ICにおける基板上の専有面
積を削減でき、集積密度を向上させることができる。
According to this invention, by cutting a part of the first or second electrode together with the resistor, the resistance value can be adjusted, and the electrode can be formed into the optimum electrode corresponding to the set resistance value, so that the desired result can be obtained. In addition to adjusting the resistance value, current concentration can be prevented, and a large change in resistance value can be obtained with a short trimming length, so the size of the thick film resistor itself can be reduced, and, for example, the area occupied on the substrate of a hybrid IC can be reduced. can be reduced and the integration density can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図及び第2図はこの発明の厚膜抵抗体のトリミング
方法を示す図、第3図及び第4図はこの発明の厚膜抵抗
体のトリミング方法の他の実施例を示す図である。 10・・・基板 12A、12B・・・導体 I4A・・・トリミング用電極(第1の電極)14B トリミング用電極 (第2の電極) ・抵抗体 第 図 第 図 第 図
1 and 2 are views showing a method for trimming a thick film resistor according to the present invention, and FIGS. 3 and 4 are views showing other embodiments of the method for trimming a thick film resistor according to the present invention. . 10... Substrate 12A, 12B... Conductor I4A... Trimming electrode (first electrode) 14B Trimming electrode (second electrode) - Resistor diagram diagram diagram diagram

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 1.基板上に設置された第1及び第2の電極間に設置さ
れた抵抗体とともに前記第1又は第2の電極の一部を除
去し、前記第1及び第2の電極間の前記抵抗体の有効長
の変更により、抵抗値を調整することを特徴とする厚膜
抵抗体のトリミング方法。
1. A part of the first or second electrode is removed together with the resistor installed between the first and second electrodes installed on the substrate, and the resistor between the first and second electrodes is removed. A method for trimming a thick film resistor, characterized by adjusting the resistance value by changing the effective length.
2.基板上に任意の間隔を以て設置された第1及び第2
の電極間の抵抗体の一部を除去した後、前記第1又は第
2の電極の一部を除去することを特徴とする厚膜抵抗体
のトリミング方法。
2. The first and second parts are installed at an arbitrary interval on the board.
A method for trimming a thick film resistor, the method comprising: removing a portion of the resistor between the electrodes, and then removing a portion of the first or second electrode.
JP63226040A 1988-09-09 1988-09-09 Trimming method for thick film resistor Pending JPH0274007A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63226040A JPH0274007A (en) 1988-09-09 1988-09-09 Trimming method for thick film resistor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63226040A JPH0274007A (en) 1988-09-09 1988-09-09 Trimming method for thick film resistor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0274007A true JPH0274007A (en) 1990-03-14

Family

ID=16838836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63226040A Pending JPH0274007A (en) 1988-09-09 1988-09-09 Trimming method for thick film resistor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0274007A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH01302803A (en) Chip resistor and its manufacture
US7907046B2 (en) Chip resistor and method for producing the same
JP2005026525A (en) Wiring board and method of manufacturing the same
JPH09205004A (en) Chip resistor and its manufacturing method
JPH0274007A (en) Trimming method for thick film resistor
JP3567144B2 (en) Chip type resistor and method of manufacturing the same
JPS63141388A (en) Manufacture of thick film circuit board
JPH0795483B2 (en) Method for manufacturing thick film resistance element
JP2741762B2 (en) Temperature sensitive resistor and method of manufacturing the same
JPH04214601A (en) Rectangular chip resistor for function correction use and manufacture thereof
JP3096122B2 (en) Thermistor and manufacturing method thereof
JP2004039882A (en) Chip type thermistor and its manufacturing method
JP2002246206A (en) Chip resistor and its manufacturing method
JP2775718B2 (en) Chip resistor and manufacturing method thereof
JPH0766019A (en) Trimming method of resistor film
JP3649668B2 (en) Trimming method for chip network resistor
EP1414280A2 (en) The multilayer electronic substrate and its method of manufacturing
JPS62169301A (en) Temperature coefficient regulation of thick film resistance element
JPH11111513A (en) Manufacture of chip resistor
JPH0770378B2 (en) Circuit board
JPH08330115A (en) Network electronic component
JPH0497501A (en) Resistor and its manufacture
JP2003332101A (en) Resistor
JPH0696914A (en) Manufacture of angular chip resistor
JPH10321403A (en) Manufacture of resistor