JPH0272650A - 基板収納装置 - Google Patents

基板収納装置

Info

Publication number
JPH0272650A
JPH0272650A JP63223484A JP22348488A JPH0272650A JP H0272650 A JPH0272650 A JP H0272650A JP 63223484 A JP63223484 A JP 63223484A JP 22348488 A JP22348488 A JP 22348488A JP H0272650 A JPH0272650 A JP H0272650A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
carrier
sensor
wafers
absence
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63223484A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsutoshi Kuno
久野 光俊
Koji Marumo
丸茂 光司
Koji Uda
宇田 幸二
Kunitaka Ozawa
小澤 邦貴
Isamu Shimoda
下田 勇
Shunichi Uzawa
鵜澤 俊一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP63223484A priority Critical patent/JPH0272650A/ja
Publication of JPH0272650A publication Critical patent/JPH0272650A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は複数のウェハまたはレチクル(本明細書では両
者を総称して基板という)を収納するキャリアから基板
を1枚ずつ取り出しあるいは回収する基板収納装置に関
し、特に、基板の姿勢状態を検知できるようにして基板
を障害なく取り出せるようにした基板収納装置に関する
[従来の技術] 従来、ウェハ(基板の一例)を並列に収納したキャリア
から1枚ずつ取り出してウェハ露光装置やその他の装置
に供給し、また、別のキャリア内に1枚ずつ回収するウ
ェハ収納装置が知られている。これらの装置は穆動可能
なハンド(保持手段の一例)によってウェハを保持し、
ハントを出入れすることによりウェハ供給及び回収する
ものである。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、ウェハがキャリア内で正しい姿勢で載置
されていない場合や、キャリアの製作誤差があってウェ
ハが正しい位置にない場合には、ウェハ自身あるいはハ
ンド等を破損してしまうという問題点があった。
本発明は、このような問題点を解決し、キャリア内でウ
ェハが傾けられた状態で載置されていたり、キャリアの
製作誤差やキャリアの変形によって所定の位置にウェハ
がない場合でもウェハあるいはアーム等を破損すること
なくウェハを取り出しまたは収納できる装置を提供する
ことを目的としている。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため本発明では、キャリア内に収納
された基板を搬出するために該基板を保持する基板保持
手段と、キャリア内の基板収納位置から所定の位置で該
基板収納位置における基板の有無を検知する有無センサ
と、該有無センサによって検知する基板までの距離を該
有無センサとは別の所定位置で測定する測距センサとを
備え、基板をキャリアから搬出するにあたっては該有無
センサと測距センサとによって該基板の姿勢状態を検知
するようにしている。
また、有無センサと測距センサからの出力を反映するた
めの手段として、例えば、これらからの出力を考慮して
キャリアを駆動することによりキャリアから搬出される
べき基板を前記基板保持手段に対する受渡し位置に位置
決めする駆動制御手段をさらに備えるようにしている。
[作用] この構成において、基板搬出にあたっては、有無センサ
と測距センサとによって搬出されるへきウニへの有無検
知とウェハ位置の測定が行なわれ、その有無検知信号と
測距信号によって、例えばキャリア内にウェハが段違い
で収納されている場合などのウェハ姿勢状態が検出され
る。そして、この結果を用いてキャリアの補正駆動量を
演算し、キャリアの駆動を制御して、より精度よくウェ
ハの搬出が行なわれる。したがって、キャリアの製作誤
差や変形などを原因とするキャリアとウニへの接触等の
危険を防いだ搬出が行なわれる。
[実施例] 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例に係るウェハキャリア収納装
置とウェハハンドの概略構成図、第2図はこのウェハキ
ャリア収納装置によってウェハが取り出されるウェハキ
ャリアの断面図である。
第1図のウェハキャリア収納装置は、同図に示すように
、ウェハキャリア1内に収納されたウェハ2a〜20等
を搬出するためにウェハ2a〜20等を保持するウェハ
ハンド3と、キャリア1内の各ウェハ収納位置から所定
の位置で該ウェハ収納位置におけるウェハの有無を検知
する静電容量センサ等のウェハ有無センサ4と、有無セ
ンサ4によって検知するウェハまでの距離を有無センサ
4とは別の所定位置で測定する測距センサ5とを備える
。また、有無センサ4と測距センサ5からの出力を考慮
してキャリア1を駆動することによりキャリア1から搬
出されるべきウェハをウェハハンド3に対する受渡し位
置に位置決めする駆動制御手段を備える。第3図は、こ
の制御手段の電気回路を示すブロック図であり、第4図
はこの制御手段を備えた第1図の装置によるウェハ搬出
手順を示すフローチャートである。
ウェハキャリア1は、上下移動するキャリア台6に設置
されており、キャリア台6はDCモータ等のアクチュエ
ータであるパルスモータフによって移動する。ウェハ有
無センサ4と光反射型の測距センサ5はウェハキャリア
1内のウェハの下側にキャリア1とは別構成で固定され
ている。
次に、第1図の装置によるウェハ搬出手順の概要を第1
図および第3図を用いて説明する。
ウェハ2Cをウェハハンド3によって搬送する場合、ウ
ェハ有無センサ4によってウェハ有を検出後、測距セン
サ5によってその位置からウエハ2e裏面までの高さ方
向の距離を測距する。この測距値はレベルコンバータ8
を経てからAD変換器9においてデジタル信号に変換さ
れ、さらにラッチ回路10を経てから変位量演算回路1
1において本来正常位置とされるウェハ位置との差が演
算され、この結果がμコントローラ12に人力される。
μコントローラ12はこの演算結果によりウェハキャリ
ア1の駆動量を決定する。そしてウェハ2Cをキャリア
1から搬出するにあたっては、ウェハハンド3がキャリ
ア1内に挿入されてから、μコントローラ12は決定し
たキャリアの駆動量をパルスモータコントローラ13に
出力しトライバ14によってパルスモータ7を駆動する
ことによりキャリア1を下降する。これによりウェハハ
ンド3上にウェハ2Cが載置される。また、ウェハハン
ド3がウェハ2Cを確実に保持するためには、ウェハハ
ンド3をキャリア1内に挿入する際、ウェハハンド3と
ウェハ2Cとか接触しないようなりリアランスがあるこ
とが必要である。また、この際ウェハ2Cの保持方法は
、本実施例ては真空吸着であるが、例えば静電チャック
で保持する方法も可能である。
このようにしてウェハハント3にウェハ2Cが保持され
た後、ウェハハンド3をキャリア1から退避させてから
ウェハ有無センサ4と測距センサ5とでウェハ2cが無
いことを検知することによりウェハ2Cが搬出されたこ
とを確認することができる。さらに、次のウェハ2bの
搬出も上記シーケンスを繰り返すことによって行なうこ
とができる。これらの搬出手順はキャリア1内にウェハ
がすべて水平状態て載置されていることによって成立つ
ものである。
しかしながら、例えば第2図に示すように、キャリア1
内にウェハが何らかの原因によって段違いに収納されて
いる場合や、キャリア1内体に製作誤差あるいは変形が
ある場合においては、ウェハの収納位置が所定の位置に
対してばらつきを生じるため、搬出時にウェハとキャリ
ア1との接触やウェハハント3によるウェハ吸着不良が
生したりする。また、段違いに収納されているウェハに
対してはウェハハンド3によるウェハ破損の恐れがでて
くる。そのため本実施例では、このような状況にも充分
対処できる搬送シーケンスを実現しており、この具体的
なシーケンスを第2図および第4図に沿って次に説明す
る。
キャリア1からのウェハ搬出を開始すると、まずキャリ
ア1の初期設定を行う(ステップ101)。この初期設
定ではキャリア1を上昇駆動し初期位置まで移動する。
これによってパルスモータコントローラ13と搬出シー
ケンスの初期化が行なわれる。
次に、ウェハキャリア1はコントローラ13h)らの指
令により、初期設定後では1枚目のウェハ測距位置、シ
ーケンス途中ではN枚目のウェハ測距位置まで下降する
(ステップ102)。そして、ウェハ有無を静電センサ
4によって検出しくステップ103)、その結果ウェハ
有の場合にはそのクエへが差込違いであるかどうかを測
距センサ5によって検出する(ステップ104)。
ここで、第2図に示すように、キャリア1内のウェハが
ウェハ2dの状態にあるときには、ステップ104にお
いて、ウェハ有の検出と測距可能な範囲内にあることと
が判断される。
しかし、ウェハ2eや2fのようにウェハが段違いで収
納される場合であってウェハ2eの状態にあるときは、
ウェハ有無センサ4で検出しようとするウェハ位置が正
常位置ではウェハ2dの位置であるのに対し、キャリア
1の収納スペースの1ピッチ分上方付近にウェハ2eと
して存在することになる。従って、有無センサ4の検出
閾値をウェハ2dと2eとの間のレベルAに設定してお
けば、有無センサ4による検出結果は無と判断される。
また、測距センサ5は、測距しようとするウェハ2eの
位置がほとんどウェハ2dの位置とかわらないような範
囲において測距範囲は任意に調整可能ではあるが、図中
Bで示すような測距範囲に設定しておけば、ウェハ2e
の測距は可能となる。
従ってウェハ2eの場合については、2つのセンサ4と
5の出力を比較して、ウェハの姿勢状態がキャリア1の
中で段違いに載置されている状態である差込み違いと判
断されエラーとなりシーケンスはストップしてキャリア
1の駆動やウェハハンド3の挿入は行なわれず、エラー
処理待ちとなる(ステップ114)。ウェハ2eの状態
ては、搬出のためウェハハンド3を挿入しキャリア1を
下降させてウェハハンド3上にウェハを保持しようとし
ても、差込み違いによるウニへの姿勢は制御できないた
め保持不良となり、ウェハ搬出の際クエへをウェハハン
ド3から落下させ破損する恐れがあるからである。
ウェハ2fの場合には、ウェハ有無センサ4は有を検出
し、測距センサ5は測距範囲外と検知する。従って、こ
の場合もウェハ2eの場合と同じ処理が施されシーケン
スはストップされる。
このよ)にクエへの差込み違いの場合は、差込み違いで
あることを2つのセンサ4と5の出力の比較を行なって
ウェハが斜状態で載置されていることを検知し、ウェハ
破損とウニハントへの吸着不良を未然に防ぐシーケンス
となっている。
ウェハ2dの場合のようにカセット1内で正常に載置さ
れているときのシーケンスでは、次に、ウェハ裏面位置
の測距を行ない(ステップ105)、この測距値に基づ
いて補正量の演算を行って補正駆動量を決定する(ステ
ップ106)。これは、カセットの製作誤差やウェハキ
ャリアの変形によるウェハ収納位置のばらつきを補正す
るためのものである。
第5図はキャリア1の拡大した断面図であり、ウェハハ
ンド3が挿入された状態を示す。有無センサはここては
図示ししていない。以下、第5図をも参照して説明する
ステップ106における補正量の計算結果、ウェハが所
定の位置にない場合は補正駆動を行う(ステップ107
)。ウェハが正常位置にあるウェハ2gの場合には、測
距センサ5による測距値×0が出力される。
いずれにしても、その後、正常位置にあると判定されれ
ば(ステップ108)、ウェハハンド3を挿入しくステ
ップ109)、キャリア1を下降させてウェハ保持を行
う(ステップ110)。この場合のキャリア移動量は第
5図に示すようにyであり、ウェハは破線で示したウェ
ハ21の位置にくる(実際はウェハ位置は固定でキャリ
ア位置が変わるのだが、図示の都合上キャリアを固定と
して表わした)。このときウェハ21はウェハハンド3
上に載置され、真空吸着により保持される。
ここで、測距センサ5の出力より算出された測距値が測
距値×0のときはウェハ位置が正常位置にあるため補正
量はなく、キャリアを下降する際の補正駆動はない。と
ころが本来ウェハ2gの位置にキャリア1を駆動しても
、キャリア1の製作誤差や変形例えば歪みなどがある。
この場合ウェハ位置はウェハ2hの位置になる可能性が
ある(この場合も位置関係をわかりやすくためキャリア
を固定して表わし、また、ウェハ位置のばらつきも極端
にして第5図に示している)。ただし、ウェハ2hの位
置は測距センサ5の測距範囲内にある。
このような場合、測距センサ5による測距はこのとき測
距値×1を出力し、これと正常位置のときの測距出力×
0との変位量△Xを算出し、ウェハ位置が正常位置でな
いことを判断する(ステップ108)。そして、キャリ
ア1を下降するときのキャリア穆動補正量△Xを計算し
、この第5図において△Xに相当するキャリア1の駆動
量に基づいてパルスモータコントローラ13によりパル
スモータ7を制御駆動しウェハ位置が正常位置21にく
るようにキャリア1の補正駆動を行ない(ステップ10
7)ウェハが正常位置であることを確認しくステップ1
08)、その後、ウェハハント3を挿入しくステップ1
09)、キャリア1の下降とウェハ保持により(ステッ
プ110)、ウェハの正常搬出が可能となる。
ステップ106においてキャリアの補正量穆動量へXを
算出した後、ウェハ21と2hとの差△yを算出し、ウ
ェハハンド3を挿入後△yに相当したパルスモータの駆
動をステップ110において制御してもウェハ保持は可
能である。ただし、ウェハは測距したときにウェハハン
ド3と干渉しない位置にあることが前提で、ウェハ2g
の位置よりも上方にある必要がある。
このようにして、ウェハ位置を測距した結果、正常位置
にない場合にはそのウェハがウェハ2gの正常なウェハ
位置に対してどれだけのばらつき量があるかを測距セン
サによって検出し、キャリア1の補正駆動を行うことで
搬出時のキャリア1とウェハとの接触搬送や、ウェハの
ウェハハンド3に対する吸着不良、さらにはウェハハン
ド3とウェハとの干渉によるウェハ破損を未然に防止す
ることができる。
ウェハをウェハハンド3によフて保持し、搬出(ステッ
プ111)した後は、ウェハが無いことを再度ウェハ有
無センサ4と測距センサ5により確認しくステップ11
2)、ステップ102へ戻って、次のウェハ搬出シーケ
ンスに移る。
また、ステップ103および104において、クエへの
有無センサ4と測距センサ5の両方ともウェハ無の検出
をした場合にはその位置にウェハが収納されていないと
し、ウェハ無と判断され(ステップ113)ステップ2
に戻る。
ウェハをキャリアから搬出する場合において、以上のよ
うにしてウェハ有無センサ4と測距センサ5を用いて第
4図に示したシーケンスを行うことでキャリアとの接触
や、ウニへの破損やウェハハンドへの吸着不良を未然に
防止でき、確実な搬出を実現することができる。
次に、ウェハ回収方法についての説明をする。
第6図はウェハキャリア1の拡大した断面図である。同
図において、2jは回収されたウェハ、2にはウェハハ
ント3が挿入されキャリア内に回収するときのウェハを
示す。また、第7図はこの回収シーケンスを表わしたフ
ローチャートである。
ウェハ回収を開始すると、ウェハをウェハハンド3によ
ってキャリア1内に回収するシーケンスにおいても、キ
ャリア1について初期設定を行う(ステップ201)。
上述と同様の初期化駆動を行うが、キャリア1は下降駆
動し初期化位置まで移動してパルスモータコントローラ
13と回収シーケンスの初期化が行なわれる。次に、キ
ャリア1はコントローラ13からの指令により測距位置
までキャリア1の上昇を行う(ステップ202)。この
場合、初期設定後においては1枚目のウェハ測距位置、
シーケンス途中であればN枚目のウェハ測距位置まで上
昇する。上昇後、ウェハ有無センサ4によりウェハ有の
検出確認を行う(ステップ203)。もし、ウェハ無の
検出をした場合はキャリア1のウェハ収納の1ピッチ分
(ウェハ1枚の収納スペース分)キャリアlの下降を行
い(ステップ204)、再度ウェハ有無センサ4の検出
を行う。この状態は第6図に対応し、ウェハ有無センサ
4はウェハ2jを検知する。そして測距センサ5により
ウェハ裏面の測距を行い(ステップ205)、測距値y
0を算出することでキャリア1の補正量を演算する(ス
テップ206)。この補正量の算出理由は、キャリアの
製作誤差や、変形などがあった場合、ウェハキャリア1
とウェハとがウェハ2J2や2mのような位置関係にな
る場合があり、その状態ではウニへの上面もしくは下面
をキャリア1と接触しなからウェハ搬送を行う可能性が
ありウェハ破損や接触による塵埃発生が充分起こりつる
からである(実際はウェハ位置は固定でキャリア位置が
変わる)。従って測距値より挿入するウェハおよびウェ
ハハンド3の位置と、ウェハとキャリア1とが挿入時に
接触しないウェハ2にの位置との差が補正量とされる。
第6図においては、ウェハ2J2の時には△y1、ウェ
ハ2mの時には△y2が補正量となる。
ステップ207ではこの補正量分だけキャリアの上昇あ
るいは下降駆動を行いウェハ挿入時にウェハ2にの位置
にくるような制御を行う。そしてステップ208におい
てウェハハンド3を挿入した後、キャリア1をウェハ収
納の1ピッチ分y1だけ駆動しくステップ209)、キ
ャリア1内にウェハを収納させる。当然この時のウェハ
ハンド3の吸着は解除されている。ウェハハンド3はキ
ャリア1内にウェハを回収しこれを終了した時点で退避
する(ステップ210)。また、ウェハ有無センサ4は
回収したウニへの有無を確認しくステップ211)ウェ
ハが有ならばひき続き次のシーケンスへ、ウェハが無け
ればキャリア内にウェハが正常に回収されていないこと
と判断しエラーとしてエラー処理が行われる(ステップ
212)。
以上のシーケンスのように、本実施例ではウニ八回収に
おいて、キャリアの製作誤差や変形によって回収時にウ
ェハとキャリアが接触して回収動作を行ったりウェハが
破損したりするのを測距センサ5でウェハ裏面までの測
距を行いその測距値からキャリア補正量を算出し、駆動
制御して上記のような事故を未然に防ぐことを実現して
いる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれは、基板有無センサと
測距センサを用いることにより、以下の効果を奏する。
■ 基板をキャリアから搬出、回収する時の基板の破損
あるいはキャリアと基板との接触搬送を防ぐことができ
る。
■ ■の効果により真空内での搬送においては塵埃発生
が生じない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係るウェハキャリア収納
装置とウェハハンドの概略構成図、第2図は、第1図の
ウェハキャリア収納装置によってウェハが取り出される
ウェハキャリアの断面図、 第3図は、第1図の装置の制御手段の電気回路を示すブ
ロック図、 第4図は、第3図の制御手段を備えた第1図の装置によ
るウェハ搬出手順を示すフローチャート、 第5図および第6図は、ウェハキャリア1の拡大した断
面図、そして 第7図は、第1図の装置による回収シーケンスを表わし
たフローチャートである。 1:ウェハキャリア、 4:ウェハ有無センサ、 5:測距センサ、 2a〜2m・ウェハ、 7:アクチュエータ、 3・ウェハハンド。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)キャリア内に収納された基板を搬出するために該
    基板を保持する基板保持手段と、キャリア内の基板収納
    位置から所定の位置で該基板収納位置における基板の有
    無を検知する有無センサと、該有無センサによって検知
    する基板までの距離を該有無センサとは別の所定位置で
    測定する測距センサとを備え、基板をキャリアから搬出
    するにあたっては該有無センサと測距センサとによって
    該基板の姿勢状態を検知することを特徴とする基板収納
    装置。
  2. (2)前記有無センサと測距センサからの出力を考慮し
    てキャリアを駆動することによりキャリアから搬出され
    るべき基板を前記基板保持手段に対する受渡し位置に位
    置決めする駆動制御手段を備えた、請求項1記載の基板
    収納装置。
JP63223484A 1988-09-08 1988-09-08 基板収納装置 Pending JPH0272650A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63223484A JPH0272650A (ja) 1988-09-08 1988-09-08 基板収納装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63223484A JPH0272650A (ja) 1988-09-08 1988-09-08 基板収納装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0272650A true JPH0272650A (ja) 1990-03-12

Family

ID=16798857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63223484A Pending JPH0272650A (ja) 1988-09-08 1988-09-08 基板収納装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0272650A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0629141U (ja) * 1992-09-11 1994-04-15 国際電気株式会社 被処理物位置検出装置
EP1826812A1 (de) * 2006-02-23 2007-08-29 Integrated Dynamics Engineering GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Aufnehmen und/oder Transportieren von Substraten
CN106783686A (zh) * 2016-12-26 2017-05-31 武汉新芯集成电路制造有限公司 一种具有晶圆侦测功能的炉管设备

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0629141U (ja) * 1992-09-11 1994-04-15 国際電気株式会社 被処理物位置検出装置
EP1826812A1 (de) * 2006-02-23 2007-08-29 Integrated Dynamics Engineering GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Aufnehmen und/oder Transportieren von Substraten
CN106783686A (zh) * 2016-12-26 2017-05-31 武汉新芯集成电路制造有限公司 一种具有晶圆侦测功能的炉管设备
CN106783686B (zh) * 2016-12-26 2019-05-03 武汉新芯集成电路制造有限公司 一种具有晶圆侦测功能的炉管设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6415220B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
KR101877425B1 (ko) 기판 반송 장치, 기판 반송 방법 및 기억 매체
US6323616B1 (en) Self teaching robotic wafer handling system
US9373531B2 (en) Substrate transfer device, substrate processing apparatus, and substrate accommodation method
CN100407394C (zh) 基板处理装置及其搬送定位方法
JP4863985B2 (ja) 基板処理装置
KR100309932B1 (ko) 웨이퍼 운반 장치 및 방법
JP2004503926A (ja) 自己学習式ロボット・キャリア・ハンドリング・システム
JP2015156437A (ja) 基板処理装置、位置ずれ補正方法及び記憶媒体
KR20190047902A (ko) 호이스트 모듈의 위치 보정 방법
KR20210089083A (ko) 기판의 위치 어긋남 검출 방법, 기판 위치의 이상 판정 방법, 기판 반송 제어 방법, 및 기판의 위치 어긋남 검출 장치
JPH07153818A (ja) 半導体ウエハ認識装置
JP2011108958A (ja) 半導体ウェーハ搬送装置及びこれを用いた搬送方法
JPH0272650A (ja) 基板収納装置
JP3904843B2 (ja) 基板検出装置、基板処理装置及び基板検出方法
KR101690229B1 (ko) 기판 반송 방법, 기판 반송 장치 및 기억 매체
JPH0714908A (ja) 基板搬送装置
KR102512865B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 반송 방법
JPH10335420A (ja) ワークのアライメント装置
JPH0566734B2 (ja)
JPH06236910A (ja) 検査装置
JPH10173030A (ja) 基板搬送装置およびこれを用いた露光装置
JP3174452B2 (ja) 基板検出方法
JPH04154144A (ja) 基板入出機構
KR102316946B1 (ko) 스토커 및 이의 레티클 처리 방법