JPH0262729A - 分離型光ヘッド装置 - Google Patents

分離型光ヘッド装置

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Publication number
JPH0262729A
JPH0262729A JP63213821A JP21382188A JPH0262729A JP H0262729 A JPH0262729 A JP H0262729A JP 63213821 A JP63213821 A JP 63213821A JP 21382188 A JP21382188 A JP 21382188A JP H0262729 A JPH0262729 A JP H0262729A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical system
movable part
reflected
photodetector
Prior art date
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Pending
Application number
JP63213821A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Yamanaka
豊 山中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63213821A priority Critical patent/JPH0262729A/ja
Publication of JPH0262729A publication Critical patent/JPH0262729A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光を用いて情報の記録再生を行う光デイスク用
光ヘッド装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第3図は、従来の光ヘッドの基本的構成を示す図である
。半導体レーザ1からの出射光は、コリメートレンズ2
によって平行光となり、集光レンズ6により光デイスク
7上に微小スポットとして集光する。光ディスクからの
反射光は、ビームスプリッタ3によって分離され、スポ
ット位置エラー検出および信号の検出光学系12に導か
れる。
光ディスクではトラックが円周状に形成されているため
、トラックアクセスを行うためには集光レンズをディス
ク半径方向に数cmに渡り移動する必要がある。従来は
光ヘッド全体を移動していたため、移動重量が重く高速
のアクセスが難しいという難点があった。
移動重量を軽減してアクセスを高速化するために、集光
レンズのみを移動する分離型光ヘッド装置が検討されて
いる。第4図は、その基本構成を示すものである。半導
体レーザ1からの出射光は、コリメートレンズ2で平行
光となり、立ち上げミラー5、集光レンズ6を介して光
デイスク7上へ集光される。光ディスク7からの反射光
はビームスプリンタ3で分離され、検出光学系12へ導
かれ、スポット位置エラーおよび情報信号が検出される
立ち上げミラー5と集光レンズ6のみより成る可動部1
1を平行光の光軸に沿って移動可能とし、その他を固定
光学系10とすることで、光学系に影響を与えず数cm
の距離をアクセスすることが可能である。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の分離型光ヘッド装置では、原理的に光学系ヘッド
の影響はないが、実際には機械的な精度によって検出特
性へ影響が生じる。最も影ピが大きいものは、第5図に
示すような可動部移動軸20と平行光の光軸がずれてい
る場合である。このような軸のずれがあると、可動部1
1の位置によって実線と破線で示すように集光レンズ6
への入射位置が異なり、反射光の光軸は変動してしまう
反射光の光軸移動の影響を最も受けるのは、ファーフィ
ールドにおけるビーム強度の分布からプッシュプル方式
でトラックエラー信号を得るような場合であり、トラッ
クエラーオフセットを発生する。
本発明の目的は、上記のような問題を避けるために、可
動部の位置ずれを検出することのできる分離型光ヘッド
装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、光源と光検出器を有する固定光学系と、集光
レンズを有し前記固定光学系に相対的に移動可能な可動
光学系とを備え、前記光源からの出射光を平行光とし、
前記集光レンズにより微小スポットとして集光し、集光
点からの反射光を前記光検出器で検出する分離型光ヘッ
ド装置において、 前記固定光学系は、2分割型の光検出器と、出射した平
行光の一部、または、前記平行光と光軸が平行な補助光
を、可動部に照射する照射手段とを有し、 前記可動部は、中心にストライプ状の無反射部分が設け
られた、前記照射手段からの光を固定光学系に反射する
反射手段を有し、 前記反射手段によって反射された光を、前記2分割型の
光検出器によって検出することを特徴としている。
〔作用) 可動部が照射手段からの照射ビームに対して移動すると
、反射手段の無反射部をはさむ両側の反射面からの反射
光量が変動し、2分割光検出器での受光量が変わる。従
ってこの検出器からの出力より、可動部の固定光学系に
対する相対的な位置ずれを知ることができる。トラック
オフセットは、位置ずれの量を知ることにより電気的に
補正可能となる。
〔実施例〕
第1図に本発明の一実施例を示す。この分離型光ヘッド
装置は、第1図(a)に示すように、半導体レーザ1.
コリメートレンズ2.ビームスプリッタ3.ビームスプ
リッタ4.2分割光検出器9、検出光学系12を有する
固定光学系10と、立ち上げミラー5.集光レンズ6、
パターンミラー8を有する可動部IIとを備えている。
パターンミラー8上には、第1図(b)に示すようなス
トライプ状の無反射部分13が中心に設けられている。
以上のような構成の分離型光ヘッド装置において、半導
体レーザ1からの出射光はコリノー1−レンズ2で平行
光となり、ビームスプリンタ3で一部が分離され、通過
光は立ち上げミラー5.集光レンズ6を介して光デイス
ク7上へ集光される。
光ディスク7からの反射光は、ビームスプリッタ3で検
出光学系12に系かれる。半導体レーザ1からの出射光
であってビームスプリッタ3で一部分離された光は、ビ
ームスプリッタ4で補助光(照射ビーム)としてパター
ンミラー8に照射される。
前述したようにパターンミラー8上には、第1図(b)
に示すようなストライプ状の無反射部分13が中心に設
けられており、この無反射部77をはずれた照射ビーム
14上の両端部のみを反射する。
両端部からのそれぞれの反射ビーム21は、第1図(c
)のように2分割光検出器9のそれぞれの光検出素子で
受光される。可動部11が照射ビーム14に対して移動
すると、パターンミラー8上で照射ビームは破線14’
のように移動し、両端部それぞれの反射面からの反射光
量が変動し、2分割光検出器9での受光量が変わる。従
ってこの検出器9からの出力より、可動部11の固定光
学系10に対する相対的な位置ずれを知ることができる
。トラックオフセットは、位置ずれの量を知ることによ
り電気的に補正可能となる。
第2図は、本発明の他の実施例を示す図である。
この分離型光ヘッド装置は、第2図(a)に示すように
、半導体レーザ1.コリメートレンズ2゜ビームスプリ
ッタ3.偏光ビームスプリッタ15゜2分割光検出器9
.検出光学系12を有する固定光学系10と、立ち上げ
ミラー5.集光レンズ6.1/4波長板161部分反射
ミラー17を有する可動部11とを備えている。
部分反射ミラー17は、第2図(b)に示すように、中
心にストライプ状の無反射部分、本実施例の場合透過部
分22が設けられている。
以上のような構成の分離型光ヘッド装置において、ビー
ムスプリッタ3の透過光は、偏光ビームスプリッタ15
を透過して可動部11に照射される。
照射光14の一部は部分反射ミラー17によって反射さ
れ、偏光ビー1、スプリッタ15を透過してビームスプ
リンタ3で分離され、2分割光検出器9で受光される。
2分割光検出器9の出力により、可動部11の固定光学
系10に対する相対的な位置ずれを知ることができる理
由は、第1図の実施例と同様である。
部分反射ミラー17は、第2図(b)で説明したように
、ストライブ部分が透過部分22となっている。この透
過部分の透過光は、174波長板16.立ち上げミラー
5.集光レンズ6を介し光デイスク7上に集光される。
光ディスク7からの反射光は1/4波長板を2回透過す
るため、行きの偏光と直交する偏光となり、偏光ビーム
スプリッタ15で反射され検出光学系12に導かれる。
本実施例によれば、補助ビームを使用することなく可動
部の位置ずれを検出できる。
〔発明の効果〕
本発明により、可動部と固定光学系との位置ずれの量を
検出することが可能な分離型光ヘッドを得ることができ
る。
このように、位置ずれの量を知ることができれば、トラ
ックオフセットは電気的に補正可能となるので、可動部
と固定光学系との位置ずれに影古されることの無い、分
離型光ヘッド装置を構成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の実施例をそれぞれ示す図、 第3図〜第5図は従来技術を示す図である。 1・・・・・半導体レーザ 2・・・・・コリメートレンズ 3.4・・・ビームスプリッタ 5・・・・・立ち上げミラー 6・・・・・集光レンズ 7・・・・・光ディスク 8・・・・・パターンミラー 9・・・・・2分割光検出器 10・・・・・固定光学系 11・・・・・可動部 12・・・・・検出光学系 13・・・・・無反射部分 14・・・・・照射ビーム 15・・・・・偏光ビームスプリ・ツク16・・・・弓
/4波長板 17・・・・・部分反射ミラー 20・・・・・可動部移動軸 21・・・・・反射ビーム 22・・・・・透過部分

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源と光検出器を有する固定光学系と、集光レン
    ズを有し前記固定光学系に相対的に移動可能な可動光学
    系とを備え、前記光源からの出射光を平行光とし、前記
    集光レンズにより微小スポットとして集光し、集光点か
    らの反射光を前記光検出器で検出する分離型光ヘッド装
    置において、前記固定光学系は、2分割型の光検出器と
    、出射した平行光の一部、または、前記平行光と光軸が
    平行な補助光を、可動部に照射する照射手段とを有し、
    前記可動部は、中心にストライプ状の無反射部分が設け
    られた、前記照射手段からの光を固定光学系に反射する
    反射手段を有し、 前記反射手段によって反射された光を、前記2分割型の
    光検出器によって検出することを特徴とする分離型光ヘ
    ッド装置。
JP63213821A 1988-08-30 1988-08-30 分離型光ヘッド装置 Pending JPH0262729A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63213821A JPH0262729A (ja) 1988-08-30 1988-08-30 分離型光ヘッド装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP63213821A JPH0262729A (ja) 1988-08-30 1988-08-30 分離型光ヘッド装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0262729A true JPH0262729A (ja) 1990-03-02

Family

ID=16645587

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63213821A Pending JPH0262729A (ja) 1988-08-30 1988-08-30 分離型光ヘッド装置

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JP (1) JPH0262729A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0417125A (ja) * 1990-05-09 1992-01-21 Mitsubishi Electric Corp 光記録再生装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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