JPH0258587B2 - - Google Patents

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JPH0258587B2
JPH0258587B2 JP59076303A JP7630384A JPH0258587B2 JP H0258587 B2 JPH0258587 B2 JP H0258587B2 JP 59076303 A JP59076303 A JP 59076303A JP 7630384 A JP7630384 A JP 7630384A JP H0258587 B2 JPH0258587 B2 JP H0258587B2
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JP
Japan
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light
lens
optical system
cube
cuvette
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP59076303A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60219541A (ja
Inventor
Tomiji Minekane
Kyoo Hosoi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP7630384A priority Critical patent/JPS60219541A/ja
Publication of JPS60219541A publication Critical patent/JPS60219541A/ja
Publication of JPH0258587B2 publication Critical patent/JPH0258587B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明はキユベツト内の情報を正しく直接測光
方式により測光する自動分析装置の光学系に関す
るものである。
[発明の技術的背景] 自動分析装置は、近年反応液をフローセルに吸
引して測光する方式から、微量でクロスコンタミ
ネーシヨン(相互汚染)が小さいという利点があ
る直接測光方式(キユベツト内の反応液を直接測
光する方式)が多く採用されるようになつた。
この方式の光学系は、光源(一般的にはハロゲ
ンタングステンランプ)からの光をレンズ系で集
光し若しくは平行光とし、これをキユベツトに対
する入射光線とするとともにその透過光である出
射光線を再びレンズ系で集光して分光器に導くよ
うにしたものが主流である。この方式を「後分光
方式」と称する。
キユベツトの入射側は光源からの光を直接受け
る光学系として最近では光源に対する断熱、装置
のコンパクト化、サービス向上を考慮し、光フア
イバを用いた光ガイド方式の光学系が注目されて
いる。
上述した直接測光方式は、キユベツトを含む光
学ノイズに弱いという欠点がある。理想的にはレ
ーザ光線のようなビーム径の小さい光線をキユベ
ツトに入射させて測光する方式が望まれるが、光
源としては連続波長光(白色光)を有するものが
必要とされるため、光学ノイズに対する対策につ
いて技術的に苦慮しているのが現状である。
[背景技術の問題点] 従来の直接測光方式の光学系を、第1図a,b
に示す。
第1図aに示す光学系においては、光源1から
の光線がレンズ2で集光されて光源側の光フアイ
バ3に入射し、この光フアイバ3によりガイドさ
れた後レンズ4aにより集光され恒温水槽(図示
せず)の透光ウインド5aを透過して反応液7を
収容したキユベツト6の中心部に結像する。
そして、この光線は透光ウインド5bを透過し
た後レンズ4bにより集光されて分光器(図示せ
ず)側の光フアイバ8の端面に結像し、キユベツ
ト6内の測光情報を分光器に伝送する。この光学
系を2枚レンズを用いた1対1の光学系と称す
る。尚、レンズ4a,4bの焦点距離をLとす
る。
一方、第1図bに示す光学系は第1図aに示す
ものと同一機能を有するものに同一符号を付して
示すものであり、この光学系においては、光フア
イバ3から放射した光線がレンズ9aにより平行
光とされ、透光ウインド5a、キユベツト6及び
透光ウインド5bを平行光のままで透過した後レ
ンズ9bに入射し、このレンズ9bにより集光さ
れて光フアイバ8の端面に結像し、キユベツト6
内の測光情報を分光器に伝送する。この光学系を
2枚レンズを用いたコリメート系と称する。
尚、レンズ9a,9bの焦点距離をL′とする。
上述した1対1の光学系の特徴は、キユベツト
6の中心部に光線を集光できることである。
すなわち、第2図a,bにそれぞれ平面及び側
面を概略的に示すように角型状でかつ反応液7を
収容したキユベツト6を理想光線10が透過した
場合、この理想光線10はキユベツト6の曲率を
有するコーナー部分にかからないことと、反応液
7の気泡の影響を受けないことが要求されるが、
上記1:1の光学系はこのような条件を満足す
る。
しかしながら、この光学系はキユベツト入射面
が角度を有する場合にはフレネル反射を受け易
く、また、第3図aに示すように光フアイバ3の
端面からこの光学系の光軸に対し平行に放射され
る光線(矢印を付して示す)は、等しい焦点距離
L(焦点をfで示す)を有するレンズ4a、キユ
ベツト中心C、レンズ4bを透過し光フアイバ8
の端面に入射するが、この光線は同図から明らか
なように光軸に平行とならず光フアイバ8の開口
角の影響を受け易い。
さらに、このような光線のうちの一部はレンズ
4bを透過しない場合があり、キユベツト6内の
測光情報を正確に伝送することができない。
一方、コリメート系においては光線がキユベツ
ト6の入射面にほぼ直角に入射するため、フレネ
ル反射の影響は小さく、反応液やキユベツト6に
おける屈析率差に基づく光学ノイズを小さくする
ことができる。
しかしながら第1図b及び第3図bに示すよう
にキユベツト6を透過する光束が大きくなること
から、前述した理想光線10を得ることができな
い。仮に理想光線10のような光線を得ようとす
ると、光路内にマスクを設けてビームを細くする
必要があるが、このことは光量低下を意味し最近
の紫外領域でのレイト(RATE)分析において
著しい測光精度の低下を来す。
また、このコリメート系においては第3図bに
示すように前述した1対1の光学系の場合と同様
光フアイバ3からの光線を光フアイバ8において
十分保持することが難しく、光フアイバ8にとつ
て開口角上鋭感(センシテイブ)なものとなり光
学ノイズの原因となる。
[発明の目的] 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであ
り、光源からの光線を受光側で十分に保持するこ
とが可能で測光情報を漏らさず正確に伝送するこ
とがでる自動分析装置の光学系を提供することを
目的とするものである。
[発明の概要] 上記目的を達成するための本発明の概要は、反
応液を収容したキユベツトに光源からの光線をレ
ンズ系を介して入射し、その出射光線をレンズ系
を介して分光器に導くことにより前記反応液を直
接測光するようにした自動分析装置の光学系にお
いて、前記入射側及び出射側のレンズ系がキユベ
ツト中心に焦点を有し、かつキユベツト近くに対
称配置された各レンズの入射側及び出射側にはそ
れぞれ平行光が生ずるように複数のレンズを配置
したことを特徴とするものである。
[発明の実施例] 以下に本発明の実施例を第5図を参照して説明
する。尚、同図に示す光学系において第1図aに
示すものと同等の機能を有するものには同一の符
号を付し、その詳細な説明は省略する。
同図に示す光学系が第1図aにに示すものと相
違する点は、光源側のレンズ4aの代りに、光フ
アイバ3と透光ウインド5aとの間に2枚の同一
焦点距離Lを有するレンズ11a,11bを配置
し、かつ、光フアイバ3の端面とレンズ11a
間、レンズ11bとキユベツト中心C間のそれぞ
れの距離を焦点距離Lとし、両レンズ11a,1
1b間の距離を2Lとしたこと、さらに分光器側
のレンズ4bの代りに、透光ウインド5bと光フ
アイバ8との間に2枚の同一の焦点距離Lを有す
るレンズ11c,11dを配置し、光源側と同
様、キユベツト中心Cとレンズ11c間、レンズ
11dと光フアイバ8間の距離をLとし、両レン
ズ11c,11d間の距離を2Lとしたことであ
る。このようにして、キユベツト中心Cの光源側
及び分光器側に対称配置の光学系を形成する。
この配置方法を共焦点配置法と称する。
次に、上記構成の光学系の作用を説明する。
光フアイバ3から放射される光源1からの光線
はレンズ11aで平行光とされ、レンズ11bを
介し、かつ透光ウインド5aを透過してキユベツ
ト中心Cに結像する。
そして、さらに透光ウインド5bを透過後レン
ズ11cで平行光とされた後レンズ11dにより
光フアイバ8の端面に結像する。つまり、この光
学系はキユベツト中心Cに焦点を有し、かつキユ
ベツト近くに対称配置された各レンズ11b及び
11cの入射側及び出射側の光がそれぞれ平行光
となるように各レンズが配置されている。
このように第4図に示す光学系は光源からの光
線をキユベツト中心Cに小さく集光させるため、
キユベツト形状に基づく光学ノイズを小さくする
ことができる。
また第5図に示すように、光フアイバ3から光
軸と平行に放射される光線(矢印を付して示す)
は、キユベツト中心Cを通過するときも、また、
光フアイバ8に入射するときもともに光軸に平行
となり、したがつて光フアイバ8における開口角
による入射角依存性が小さく、かつ、キユベツト
入射面でのフレネル反射による損失も一定とな
り、キユベツト6を通過した光線を漏らすことな
く正確に伝送することができる。
本発明は上述した実施例に限定されるものでは
なく、その要旨の範囲内で種々の変形が可能であ
る。
例えば、上述した実施例では同一の焦点距離を
有するレンズを用いたが、キユベツトの光源側、
分光器側にそれぞれ異なる焦点距離を有する2枚
ずつのレンズを配置してもキユベツト中心を含む
配置が共焦点であれば上述の実施例と同様に実施
できる。
また、光源側、分光器側に配置するレンズの個
数は2個ずつに限定されるものではなく、3個ず
つでもまたそれ以上であつてもよい。
さらに、光フアイバを用いず、光源から直接レ
ンズに光線を入射し、分光器側のレンズから直接
分光器の入射スリツトにキユベツト通過後の光線
を入射させる共焦点配置でもよい。
[発明の効果] 以上詳述した本発明によれば、レンズ系をキユ
ベツト中心に対し共焦点配置としたことによつ
て、光学ノイズが小さく、測光情報を漏らさず正
確に伝送することができる自動分析装置の光学系
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図a,bはそれぞれ従来の自動分析装置の
光学系を示す説明図、第2図aはキユベツトに対
する理想光線の透過状態を示す平面図、第2図b
は同上の側面図、第3図aは第1図aに示す光学
系における光線の光路を示す拡大説明図、第3図
bは第1図bに示す光学系における光線の光路を
示す拡大説明図、第4図は本発明の実施例を示す
説明図、第5図は第4図に示す光学系における光
線の光路を示す拡大説明図である。 1……光源、6……キユベツト、7……反応
液、11a,11b……レンズ、11c,11d
……レンズ、f……焦点。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 反応液を収容したキユベツトに光源からの光
    線をレンズ系を介して入射し、その出射光線をレ
    ンズ系を介して分光器に導くことにより前記反応
    液を直接測光するようにした自動分析装置の光学
    系において、前記入射側及び出射側のレンズ系が
    キユベツト中心に焦点を有し、かつキユベツト近
    くに対称配置された各レンズの入射側及び出射側
    にはそれぞれ平行光が生ずるように複数のレンズ
    を配置したことを特徴とする自動分析装置の光学
    系。 2 前記レンズ系は入射側、出射側ともそれぞれ
    2〜3個のレンズで構成したことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の自動分析装置の光学
    系。
JP7630384A 1984-04-16 1984-04-16 自動分析装置の光学系 Granted JPS60219541A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7630384A JPS60219541A (ja) 1984-04-16 1984-04-16 自動分析装置の光学系

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JP7630384A JPS60219541A (ja) 1984-04-16 1984-04-16 自動分析装置の光学系

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JPS60219541A JPS60219541A (ja) 1985-11-02
JPH0258587B2 true JPH0258587B2 (ja) 1990-12-10

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JP7630384A Granted JPS60219541A (ja) 1984-04-16 1984-04-16 自動分析装置の光学系

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101482572B (zh) * 2008-01-11 2012-07-04 株式会社东芝 自动分析装置以及自动分析方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53143296A (en) * 1977-05-19 1978-12-13 Daiichi Seiyaku Co Judgeing method for anomaly of solution in container

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS53143296A (en) * 1977-05-19 1978-12-13 Daiichi Seiyaku Co Judgeing method for anomaly of solution in container

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