JPH025423Y2 - - Google Patents

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JPH025423Y2
JPH025423Y2 JP1982134387U JP13438782U JPH025423Y2 JP H025423 Y2 JPH025423 Y2 JP H025423Y2 JP 1982134387 U JP1982134387 U JP 1982134387U JP 13438782 U JP13438782 U JP 13438782U JP H025423 Y2 JPH025423 Y2 JP H025423Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、レーダトランスポンダの試験に用
いる、筐体に設けられた電波遮蔽箱の中に供試さ
れるトランスポンダを収容してその動作特性を簡
単に試験できるレーダトランスポンダ試験装置に
関するものである。
従来のレーダトランスポンダ試験装置を第1図
を用いて説明する。
図に於て、1はレーダからの電波を受信して応
答電波を送出する供試トランスポンダである。
2はパルス発生器であつて、レーダ装置のパル
ス諸元に類似した例えばパルス幅1〜2μs、繰返
し周波数1000PPsのシステムパルスを送出する。
3は信号発生器であつて、パルス発生器2から
システムパルスを外部変調入力へ入力し、システ
ムパルス変調をかけた出力信号を送信用アンテナ
4から輻射し、供試レーダトランスポンダ1に送
出する。
5は受信用アンテナであつて、送信用アンテナ
4から送出されたシステムパルス変調信号によつ
て起動したトランスポンダ1が送出する応答電波
を受信して、電力計6により応答電波電力を測定
して受信機7に入力する。さらに受信機7からの
受信出力を周波数計8を用いて周波数を測定する
と共に、ビデオ増幅器9を経てオツシロマコープ
10に送入して観測する事により、供試トランス
ポンダ1の動作特性の良否が判定される。
従来のレーダトランスポンダ試験装置は、以上
のように構成され、トランスポンダ1の試験の必
要が生じる都度、トランスポンダ1以外の試験に
も使用される汎用機材の中からトランスポンダ1
の試験装置の構成に必要な上記2〜10の多数の
機材を集めて組立てねばならなかつたので、これ
に多くの手間が掛ると共に多額の試験経費を費し
ていた。
また、従来の試験装置は、上記2〜10の多数
の機材を組合せて構成されていたので、一度組立
てられた試験装置を分解せずに、組立場所と異る
地点に運搬して、そのまゝ他場所でトランスポン
ダ1の試験を行う事が出来ず、このため機動性の
欠除したものとなつていた。
さらに、従来のレーダトランスポンダ試験装置
は、供試トランスポンダ1の試験中には、試験装
置の外部の自由空間に送信用アンテナ4からトソ
ガ電波とトランスポンダ1から応答電波を輻射し
て、これらの電波の不要な周囲の無線機器に妨害
を与える欠陥があつた。
従来のレーダトランスポンダ試験装置は、以上
のようにトランスポンダの試験に必要な諸器材が
直ぐに試験に掛れるように運搬可能の筐体に取付
けられていなかつたので、必要の場所で簡単迅速
に試験できないばかりか、周囲の空間に不要の電
波を放出して周囲の無線機器に妨害を与える欠点
があつた。
この考案は、従来のレーダトランスポンダ試験
装置の上記の欠点を除去する為になされたもので
あつて、可搬可能の筐体に供試トランスポンダを
収容する電波遮蔽箱と自己機能を点検できる送信
試験装置と受信試験装置を取付け、電波遮蔽箱内
の送信試験アンテナと受信試験アンテナ間で電波
を送受してトランスポンダを試験する事により、
電波遮蔽箱から外部への電波の漏出を防いで周囲
に無線機器に妨害を与えず、所要の場所に運搬し
て容易迅速に試験が出来るレーダトランスポンダ
試験装置を提供するのを目的としている。
以下、この考案の一実施例を第2図と第3図を
用いて説明する。
図に於て、1と2は従来の同符号と同じもので
ある。
11はどこへでも容易に持つて行けるように小
形化され、可搬可能の構造に形成された筐体であ
る。
12は筐体11の中に設けられた電波遮蔽箱で
あつて、発泡ウレタン等に炭素粒あるいは炭素繊
維を含む電波吸収体を用いて箱状に形成され、そ
の中に供試トランスポンダ1を収容し、外部への
電波の漏出を阻止してトランスポンダ1の動作試
験を行う事が出来る。
13は筐体11に取付けられた送信試験装置で
あつて、トランスポンダ1を起動するパルス信号
を発生して、電波遮蔽箱12の中に取付けられた
送信試験アンテナ14から試験電波を電波遮蔽箱
12内に限定して送出する。
この送信試験装置13は、パルス発生器2、パ
ルススイツチ回路15、マイクロ波発振器16、
電圧可変回路17とアイソレータ18を接続して
形成され、パルス発生器2が発生したパルスを高
速のパルススイツチ回路15により可変容量ダイ
オードを備えたマイクロ波発振器16に与える。
一方温度変化による発振周波数の変化を防ぐ温度
補償回路を備えた電圧可変回路17は、一定周期
例えば1〜2μsの鋸歯状波をマイクロ発振器16
の可変容量ダイオードに与えて、その容量変化に
よりマイクロ発振器16の発振周波数を一定の帯
域内例えば140MHzで掃引する。このマイクロ波
発振器16の出力は、送信試験アンテナ14が外
部の影響によりインピーダンスの変化を起して
も、マイクロ波発振器16の発振周波数の変化が
少なくなるように挿入されたアイソレータ18を
経て送信試験アンテナ14に供給される。
19は筐体11に設けられた受信試験装置であ
つて、電波遮蔽箱12の中に取付けられた受信試
験アンテナ20により、トランスポンダ1が送出
した応答電波を受信して、供試されたトランスポ
ンダ1の動作特性を試験する。
この受信試験装置19は、送信試験アンテナ1
4からの試験電波によつて供試トランスポンダ1
が送出した応答電波を受信試験アンテナ20から
受信すると、帯域濾波器21を通じて例えば
140MHz内の周波数の応答信号を直接検波器22
により検波し、その検波出力をビデオ増幅器23
により増幅して廻り込み抑止回路24に送る。こ
の廻り込み抑止回路24は供試トランスポンダ1
の試験中、ビデオ増幅器23の受信ビデオ出力を
抑止、すなわちその出力レベルを所定レベル減衰
させるためのもので、この抑止機能により送信試
験アンテナ14から受信試験アンテナ20に直接
廻り込む試験電波の影響を除去している。なお、
この廻り込み試験電波はトランスポンダ1の応答
電波に比して微弱なものである。この廻り込み抑
止回路24を介して出力されるビデオ増幅器23
出力は単安定マルチバイブレータ回路25に着信
毎にトソガ与え、一定の幅例えば100μsのパルス
を発生する。このパルスは低周波増幅器26で増
幅されラウドスピーカ27を駆動するので、ラウ
ドスピーカ27が発するモニタ音からトリガパル
スの繰返し周波数を検知する事が出来る。
28は切換回路であつて、点検モードの切換ス
イツチ29を介して送信試験装置13のパルス発
生器2と受信試験装置19の廻り込み抑止回路2
4との間を接続して形成され、この切換スイツチ
29を「ノーマル」にセツトした時は上記動作に
より廻り込み抑止回路24の抑止機能を動作させ
て供試トランスポンダ1の試験を行い、この切換
スイツチ29を「テスト」側に切換えると、廻り
込み抑止回路24の抑止機能が解除される。これ
により送信試験アンテナ14から受信試験アンテ
ナ20に直接廻り込む試験電波の一部が受信検出
され、送信試験装置13と受信試験装置19間に
テストループが形成され、このレーダトランスポ
ンダ試験装置全体の自己機能を点検する事が出来
る。
筐体11の中には電池30を内蔵し、電池メー
タ31によりその電圧を確認して電源スイツチ3
2を投入する事により、安定化回路33が動作し
てこの試験装置全体の動作を安定に継続させるも
のである。
また、第3図a,b,cはこの考案に係るレー
ダトランスポンダ試験装置の正面図及び両側面図
であり、第2図と同一符号は同一又は相当部分を
示すもので、説明は省略する。
この考案に係るのレーダトランスポンダ試験装
置は、以上のようにトランスポンダ1を試験に必
要な電波遮蔽箱12および送信試験装置13と受
信試験装置19等の諸器材が総て可搬可能構造に
形成された筐体11の中にコンパクトに取付けら
れているので、従来の試験装置の試験の都度汎用
機材を集めて組立てるのに多くの手間を要した欠
点と、組立てたまゝ必要の場所に運搬できなかつ
た欠点を除去して、どこへでも簡単に運搬できる
機動性のある試験装置に改善する事が出来た。
また、この試験装置は、必要な場所に運搬した
ら直ちに点検モードの切換スイツチ29を「テス
ト」側に切換えて試験装置全体の自己機能を点検
出来るので、従来の試験装置が試験にとりかゝれ
るまでに長時間が掛つた欠点を除去して、誰でも
容易迅速に供試トランスポンダ1の試験が出来る
ように改善された。
さらに、この試験装置は、装置自体の機能点検
をしても、供試トランスポンダ1の動作試験中に
於ても、電波遮蔽箱12から外部へ電波を漏出し
ないので、従来の試験装置が周囲の無線機器に不
要の電波を輻射して妨害を与えた欠点を除去し
て、周囲に妨害を与えずに試験を遂行できるよう
に改善する事が出来たのである。
また、この試験装置は、試験電波を電波遮蔽箱
12内の限定された小空間にだけ輻射し、これを
受信試験アンテナ20が微少電波を受信するだけ
で試験出来るので、従来の試験装置が周囲の広い
自由空間に不用の電波を放射して多くの電力を消
費した欠点を除去して、送信試験装置13と受信
試験装置19は小容量で感度の低いもので試験が
可能となり装置全体を小形安価に製作できるよう
に改善できたのである。
尚、上記実施例では、供試トランスポンダの良
否の判定にラウドスピーカを用いた場合を説明し
たが、他にブザー、発光表示灯あるいはブラウン
管等各種の検出手段を用いて前記と同様の効果が
得られる。
この考案は、以上のように可搬可能の筐体に、
供試トランスポンダを収容する電波遮蔽箱と自己
機能を点検できる送信試験装置と受信試験装置を
取付け、電波遮蔽箱内の送信試験アンテナと受信
試験アンテナ間で電波を送受してトランスポンダ
を試験できるようにしたので、電波遮蔽箱から外
部への電波の漏出を妨いで、周囲の無線機器に妨
害を与えず、必要な場所に運搬して容易迅速に試
験が出来るレーダトランスポンダ試験装置を提供
する効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のレーダトランスポンダ試験装置
の構成を示す接続図、第2図はこの考案の一実施
例の構成を示す接続図、第3図は第2図の外形図
である。 図に於て、1はトランスポンダ、11は筐体、
12は電波遮蔽箱、13は送信試験装置、14は
送信試験アンテナ、19は受信試験装置、20は
受信試験アンテナ、28は切換回路、29は切換
スイツチである。尚各図中、同一符号は同一また
は相当部分を示すものとする。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 可搬可能な構造に形成された筐体、この筐体の
    内部に設けられ、電波吸収体を用いて箱状に形成
    され、その中に供試されるトランスポンダを収容
    し、外部への電波の漏出を阻止して試験を行う電
    波蔽箱、 上記筐体に設けられ、上記トランスポンダを起
    動するパルス信号をパルス発生器より発生して、
    上記電波遮蔽箱の中に取付けられた送信試験アン
    テナから試験電波を送出する送信試験装置、 上記筐体に設けられ、上記電波遮蔽箱の中に取
    付けられた受信試験アンテナにより、上記トラン
    スポンダが送出した応答電波を受信すると共に、
    この応答電波に比して微弱な廻り込み電波を受信
    する受信試験装置、この受信試験装置の出力から
    上記廻り込み電波を減衰させる廻り込み電波抑止
    回路、この廻り込み抑止回路と上記パルス発生器
    との間に接続された切換スイツチを備え、この切
    換スイツチの切換制御により、上記廻り込み電波
    抑止回路を動作させて上記廻り込み電波を減衰さ
    せ、上記トランスポンダの動作性能を試験し、又
    は上記廻り込み電波抑止回路を解除して上記送信
    試験装置と上記受信試験装置間にテストループを
    形成して自己機能の点検を行なうことを特徴とす
    るレーダトランスポンダ試験装置。
JP1982134387U 1982-09-03 1982-09-03 レ−ダトランスポンダ試験装置 Granted JPS5937573U (ja)

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JPS5937573U JPS5937573U (ja) 1984-03-09
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Families Citing this family (8)

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