JPH0252236A - 易凝縮性ガスを含むガス状物の分析装置 - Google Patents
易凝縮性ガスを含むガス状物の分析装置Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はガス状物の分析装置に関し、特に炭化水素の熱
分解ガス等の分析において、不純物として島原縮性ガス
が含まれてもこれらの凝縮物により分析精度の低下しな
い分析装置に関する。
分解ガス等の分析において、不純物として島原縮性ガス
が含まれてもこれらの凝縮物により分析精度の低下しな
い分析装置に関する。
〈従来技術とその問題点〉
近年、石油化学原料コストの低廉化を目的として、多種
多様な炭化水素類の石油化学原料としての利用が検討さ
れている。 このような多種多様な炭化水素類は、工
業規模で使用が開始される前に事前に原料の熱分解テス
トを行って、その熱分解組成を把握しておくと原料の付
加価値を適切に判断することができる。
多様な炭化水素類の石油化学原料としての利用が検討さ
れている。 このような多種多様な炭化水素類は、工
業規模で使用が開始される前に事前に原料の熱分解テス
トを行って、その熱分解組成を把握しておくと原料の付
加価値を適切に判断することができる。
このため、測定処理が迅速で精度の高い熱分解ガスの分
析装置が強く求められている。
析装置が強く求められている。
ところが炭化水素の熱分解ガスの様に沸点の非常に低い
ガスから、沸点の高い常温常圧で液化する島原縮性ガス
を含む広い沸点範囲を有する混合ガスの分析では、ガス
分析の際にこのような島原縮性ガスが凝縮するという問
題があり、このため全体を一度にガス分析することがで
きず、混合ガスを一旦冷却し、気液に分離し、２相それ
ぞれの量と組成とから全体の組成を求める方法、すなわ
ち高沸点成分を液化して分離し、残りのガス成分の分析
と高沸点成分の分析とをそれぞれ行う方法が用いられて
いることは周知の通りである。
ガスから、沸点の高い常温常圧で液化する島原縮性ガス
を含む広い沸点範囲を有する混合ガスの分析では、ガス
分析の際にこのような島原縮性ガスが凝縮するという問
題があり、このため全体を一度にガス分析することがで
きず、混合ガスを一旦冷却し、気液に分離し、２相それ
ぞれの量と組成とから全体の組成を求める方法、すなわ
ち高沸点成分を液化して分離し、残りのガス成分の分析
と高沸点成分の分析とをそれぞれ行う方法が用いられて
いることは周知の通りである。
この方法では、熱分解テスト装置等の様に、原料供給量
が、工業規模に比へ、著しく少ない時には、特に、その
分解ガス量および液量が僅かである為、その秤量誤差が
、全体の組成に与える影響は大きく、分解組成に誤差を
生じる大きな要因となる欠点がある。 また、分解ガ
スのサンプリング作業も煩わしく、かつ長時間を要する
等の難点がある。
が、工業規模に比へ、著しく少ない時には、特に、その
分解ガス量および液量が僅かである為、その秤量誤差が
、全体の組成に与える影響は大きく、分解組成に誤差を
生じる大きな要因となる欠点がある。 また、分解ガ
スのサンプリング作業も煩わしく、かつ長時間を要する
等の難点がある。
炭化水素の熱分解反応では、工業的には、般に反応の希
釈ガスとして、水蒸気を用いるか、工業規模て使用か開
始される前の熱分解反応のテスト装置では、希釈ガスに
窒素ガスを用いて、サンプリング通路とガスクロマトグ
ラフィーからなるガス分析装置で分析を行っている。
釈ガスとして、水蒸気を用いるか、工業規模て使用か開
始される前の熱分解反応のテスト装置では、希釈ガスに
窒素ガスを用いて、サンプリング通路とガスクロマトグ
ラフィーからなるガス分析装置で分析を行っている。
希釈ガスに窒素カスを用いると、熱分解反応ガスのサン
プリングを自動化できると共に、窒素ガスをガスクロマ
トグラフィーの内部標準ガスとして利用できる効果があ
る。
プリングを自動化できると共に、窒素ガスをガスクロマ
トグラフィーの内部標準ガスとして利用できる効果があ
る。
このようなガス分析装置において、熱分解ガスのサンプ
リング通路途中における、凝縮性ガスの液化を防ぐ手段
としては、サンプルガス温度を高くして、高沸点成分の
液化を防止したり、サンプリング通路の保温を強化した
り、熱分解反応炉出口にフィルタを設けて液滴を除去す
ることなどが行われている。
リング通路途中における、凝縮性ガスの液化を防ぐ手段
としては、サンプルガス温度を高くして、高沸点成分の
液化を防止したり、サンプリング通路の保温を強化した
り、熱分解反応炉出口にフィルタを設けて液滴を除去す
ることなどが行われている。
ところか、島原縮性ガスを多量に含む熱分解ガスでは、
このような手段を用いても、液化を防ぐ事には限界があ
る。 また、−旦、途中で液化した液の除去には、場所
によっては長時間の不活性ガスによる追出しくパージ）
が必要となり、完全に除去できない時には、次回の分析
に影響を及ぼし、正確な分析ができなくなる。
このような手段を用いても、液化を防ぐ事には限界があ
る。 また、−旦、途中で液化した液の除去には、場所
によっては長時間の不活性ガスによる追出しくパージ）
が必要となり、完全に除去できない時には、次回の分析
に影響を及ぼし、正確な分析ができなくなる。
特に、高沸点成分が、ガスクロマトグラフィーへの導入
管入口の電磁弁付近で液化し、この液滴がある量に達し
た時に管壁から離れ、ガスクロマトグラフィー内に押し
込まれる結果、ガス分析の測定値の基線を測定回数の増
加と共に押上げる。
管入口の電磁弁付近で液化し、この液滴がある量に達し
た時に管壁から離れ、ガスクロマトグラフィー内に押し
込まれる結果、ガス分析の測定値の基線を測定回数の増
加と共に押上げる。
この測定誤差は、高沸点物である程大巾に生じ、測定値
に信頼がおけなくなるし、この液滴は、低温ｌ・ラップ
でも完全に除けない。 また低温トラップによってサン
プリングガスの温度が変化することはガス分析上も好ま
しくない。
に信頼がおけなくなるし、この液滴は、低温ｌ・ラップ
でも完全に除けない。 また低温トラップによってサン
プリングガスの温度が変化することはガス分析上も好ま
しくない。
〈発明が解決しようとする課題〉
本発明の目的は、熱分解テスト装置の炭化水素ガスの分
析装置等の島原縮性ガスを含むガス状物の分析装置にお
いて、凝縮性ガスの液化を抑制し、万一液化した場合も
その液を容易に系外に排出し、また、液が分析装置に入
らない構造をもち、正確な熱分解ガスの分析データを得
ることかでざる分析装置を提供しようとする。
析装置等の島原縮性ガスを含むガス状物の分析装置にお
いて、凝縮性ガスの液化を抑制し、万一液化した場合も
その液を容易に系外に排出し、また、液が分析装置に入
らない構造をもち、正確な熱分解ガスの分析データを得
ることかでざる分析装置を提供しようとする。
〈課題を解決するだめの手段〉
すなわち、本発明は、 島原縮性ガスを含むガス状物の
サンプリング通路と、該通路の下流側に設りられた前記
ガス状物の分析装置とを有し、 前記サンプリング通路において凝縮した島原縮性ガスの
凝縮物を少なくとも前記サンプリング通路から排出する
ための手段とを有することを特徴とする島原縮性ガスを
含むガス状物の分析装置を提供する。
サンプリング通路と、該通路の下流側に設りられた前記
ガス状物の分析装置とを有し、 前記サンプリング通路において凝縮した島原縮性ガスの
凝縮物を少なくとも前記サンプリング通路から排出する
ための手段とを有することを特徴とする島原縮性ガスを
含むガス状物の分析装置を提供する。
ここで、前記凝縮物排出手段が、前記分析装置の分析測
定部より低いレベルに形成した排出路であるのが好まし
い。
定部より低いレベルに形成した排出路であるのが好まし
い。
また、本発明は、島原縮性ガスを含むガス状物のサンプ
リング通路と、該通路の下流側に設けられた前記ガス状
物の分析装置とを有し、前記サンプリング通路と、前記
分析装置との間に介挿され、前記サンプリング通路には
上流側に向けて、前記分析装置には下流側に向りてクリ
ーニングガスな流すためのパージ用ラインとを有するこ
とを特徴とする島原縮性ガスを含むガス状物の分析装置
を提供する。
リング通路と、該通路の下流側に設けられた前記ガス状
物の分析装置とを有し、前記サンプリング通路と、前記
分析装置との間に介挿され、前記サンプリング通路には
上流側に向けて、前記分析装置には下流側に向りてクリ
ーニングガスな流すためのパージ用ラインとを有するこ
とを特徴とする島原縮性ガスを含むガス状物の分析装置
を提供する。
さらに本発明は、島原縮性ガスを含むガス状物のサンプ
リング通路と、該通路の下流側に設けられた前記ガス状
物の分析装置とを有し、前記サンプリング通路と、前記
分析装置との間に介挿され、前記サンプリング通路には
上流側に向けて、前記分析装置には下流側に向けてクリ
ーニングガスを流すためのパージ用ラインと、 前記サンプリング通路において凝縮した島原縮性ガスの
凝縮物を少なくとも前記サンプリング通路から排出する
だめの前記分析装置の分析測定部より低いレベルに形成
した排出路とを有することを特徴とする島原縮性ガスを
含むガス状物の分析装置を提供する。
リング通路と、該通路の下流側に設けられた前記ガス状
物の分析装置とを有し、前記サンプリング通路と、前記
分析装置との間に介挿され、前記サンプリング通路には
上流側に向けて、前記分析装置には下流側に向けてクリ
ーニングガスを流すためのパージ用ラインと、 前記サンプリング通路において凝縮した島原縮性ガスの
凝縮物を少なくとも前記サンプリング通路から排出する
だめの前記分析装置の分析測定部より低いレベルに形成
した排出路とを有することを特徴とする島原縮性ガスを
含むガス状物の分析装置を提供する。
以下に本発明を図面に示す好適実施例により詳細に説明
する。
する。
第１図は、本発明の分析装置を説明する線図である。
本発明は、ガスクロマトグラフィー等のガス状物（以下
単にガスということがある）のガス分析装置２と、これ
に連通するガスのサンプリング通路１とを有する分析装
置てあって、サンプリング通路１に、ガス中の凝縮物で
ある液体を排出する手段を有する。
単にガスということがある）のガス分析装置２と、これ
に連通するガスのサンプリング通路１とを有する分析装
置てあって、サンプリング通路１に、ガス中の凝縮物で
ある液体を排出する手段を有する。
液体排出手段は、好ましくは、サンプリング通路１の一
部をガス分析装置２の分析測定部３より低いレベルに設
置し、このサンプリング通路１の最下点位１ｊに弁４を
介１７て、排出路５を設ける。 また、ガス分析装置２
への人ロイがＪ近のサンプリング通路１を他の全体のサ
ンプリング通路１中の最も高いレベルあるいはこれ以上
のレベルとする。
部をガス分析装置２の分析測定部３より低いレベルに設
置し、このサンプリング通路１の最下点位１ｊに弁４を
介１７て、排出路５を設ける。 また、ガス分析装置２
への人ロイがＪ近のサンプリング通路１を他の全体のサ
ンプリング通路１中の最も高いレベルあるいはこれ以上
のレベルとする。
これらの構成によって、サンプリング通路１中に滞留す
る液体は、弁４を開け、排出路５によって排出すること
ができる。 また、ガス分析装置２内にサンプリング通
路１中の液体が入るのを防止できる。
る液体は、弁４を開け、排出路５によって排出すること
ができる。 また、ガス分析装置２内にサンプリング通
路１中の液体が入るのを防止できる。
さらに、本発明は、好ましくは以下に説明するパージ用
ラインを有する。 パージ用ライン６は、サンプリング
通路１と、ガス分析装置２との間に弁７を経て介挿され
る。 Ｎ２ガス等のクリーニングガスなこのパージ用ラ
インに流すと、サンプリング通路１には上流側に向けて
クリーニングガスが流され、ガス分析装置２には下流側
に向けてクリーニングガスか流される。
ラインを有する。 パージ用ライン６は、サンプリング
通路１と、ガス分析装置２との間に弁７を経て介挿され
る。 Ｎ２ガス等のクリーニングガスなこのパージ用ラ
インに流すと、サンプリング通路１には上流側に向けて
クリーニングガスが流され、ガス分析装置２には下流側
に向けてクリーニングガスか流される。
特に、第１図に示すようにパージ用ラインをガス分析装
置２のガス導入管人口の電磁弁である弁８の下流側の近
接位置に介挿すると、ガス中の島原縮成分は、この電磁
弁付近で液化して液体が貯留しやすいので、クリーニン
グガスが弁８を通ってサンプリング通路１の上流側に流
れ、電磁弁付近に貯留する液体がクリーニングガスによ
り容易にパージされる。 同時にクリーニングガスはガ
ス分析装置２の分析測定部３にも流され、分析測定部も
パージされる。
置２のガス導入管人口の電磁弁である弁８の下流側の近
接位置に介挿すると、ガス中の島原縮成分は、この電磁
弁付近で液化して液体が貯留しやすいので、クリーニン
グガスが弁８を通ってサンプリング通路１の上流側に流
れ、電磁弁付近に貯留する液体がクリーニングガスによ
り容易にパージされる。 同時にクリーニングガスはガ
ス分析装置２の分析測定部３にも流され、分析測定部も
パージされる。
次に、本発明を熱分解テスト装置の炭化水素ガスの分析
装置に用いた例で本発明の詳細な説明する。
装置に用いた例で本発明の詳細な説明する。
第１図に点線で示される加熱炉１０中には希釈用の窒素
ガスと共に炭化水素が導入される。
ガスと共に炭化水素が導入される。
この炭化水素は、例えば、本プラントでナフサ油を分解
する工程が工業規模で開始される前に、少量のナフサ油
等の炭化水素油を熱分解し、この熱分解反応生成物をガ
ス分析することによって、本プラントの原料の付加価値
を判断するために熱分解テストされるものである。
する工程が工業規模で開始される前に、少量のナフサ油
等の炭化水素油を熱分解し、この熱分解反応生成物をガ
ス分析することによって、本プラントの原料の付加価値
を判断するために熱分解テストされるものである。
炭化水素は、加熱炉内で気化され、サンプリング通路１
を通って、ガスクロマトグラフィー等のガス分析装置２
でその組成を分析される。
を通って、ガスクロマトグラフィー等のガス分析装置２
でその組成を分析される。
ところが従来例では、この炭化水素中に高沸点成分であ
る島原縮性ガスが含まれると、サンプリング通路１やガ
ス分析装置２のガス導入管人口の電磁弁である弁８近く
で凝縮液化して、この量がある一定量になると分析され
るガスと共にガス分析装置２中へと持込まれ分析精度の
低下がおこる。
る島原縮性ガスが含まれると、サンプリング通路１やガ
ス分析装置２のガス導入管人口の電磁弁である弁８近く
で凝縮液化して、この量がある一定量になると分析され
るガスと共にガス分析装置２中へと持込まれ分析精度の
低下がおこる。
このため本発明の分析装置はパージ用ライン６から、弁
４、弁７、弁８および弁９を開いて予め乾燥窒素等のク
リーニングガスを流し、サンプリング通路１および分析
測定部３を同時にパージする。 また、ガス分析中も適
宜加熱炉１０からのガス流出を止めて、サンプリング通
路１および分析測定部３をクリーニングガスによりパー
ジし、凝縮性ガスの液化を抑制する方で、凝縮液がガス
クロマトグラフィーに入らないようにする。
４、弁７、弁８および弁９を開いて予め乾燥窒素等のク
リーニングガスを流し、サンプリング通路１および分析
測定部３を同時にパージする。 また、ガス分析中も適
宜加熱炉１０からのガス流出を止めて、サンプリング通
路１および分析測定部３をクリーニングガスによりパー
ジし、凝縮性ガスの液化を抑制する方で、凝縮液がガス
クロマトグラフィーに入らないようにする。
また、サンプリング通路１の最下点にある排出路５より
弁４を開いて、適宜サンプリング通路１に貯留する液体
を系外に排出することができる。
弁４を開いて、適宜サンプリング通路１に貯留する液体
を系外に排出することができる。
クリーニングガスとしての窒素ガスパージ量は、１〜１
０ｆｌ／ｍｉｎの範囲とし、窒素ガスによるパージは、
ガスクロマトグラフィーに炭化水素等のサンプルガスを
導く直前まで続けるのが良い。
０ｆｌ／ｍｉｎの範囲とし、窒素ガスによるパージは、
ガスクロマトグラフィーに炭化水素等のサンプルガスを
導く直前まで続けるのが良い。
〈実施例〉
以下に、第１図に示す本発明の分析装置を用いてガス分
析を行った結果を示し、本発明を具体的に説明する。
析を行った結果を示し、本発明を具体的に説明する。
（実施例）
ベンゼン、トルエン、ｍ−キシレン、スチレン、ｎ−へ
ブタンのそれぞれの試薬からなる混合溶液を用いてガス
クロマトグラフィー分析を行った。 混合溶液は、ダブ
ルプランジャーポンプで、約２ ｃｃ／ｍｉｎの割合で
、定量的に供給し、加熱炉１０人口で、希釈用の窒素ガ
ス（５〜１０１７ｍ１ｎ）と合流して、加熱炉内部の反
応管に導いた。 加熱炉１０は、３００〜５００℃の範
囲で、温度を一定に保ち、混合溶液を気化させサンプル
ガスとした。 加熱炉出口では、冷却用の窒素ガス（５
〜１０ ｆＬ ７ｍ１ｎ）が供給され、気化した混合溶
液のガス温度を下げると共に、炭化水素分圧を下げた。
ブタンのそれぞれの試薬からなる混合溶液を用いてガス
クロマトグラフィー分析を行った。 混合溶液は、ダブ
ルプランジャーポンプで、約２ ｃｃ／ｍｉｎの割合で
、定量的に供給し、加熱炉１０人口で、希釈用の窒素ガ
ス（５〜１０１７ｍ１ｎ）と合流して、加熱炉内部の反
応管に導いた。 加熱炉１０は、３００〜５００℃の範
囲で、温度を一定に保ち、混合溶液を気化させサンプル
ガスとした。 加熱炉出口では、冷却用の窒素ガス（５
〜１０ ｆＬ ７ｍ１ｎ）が供給され、気化した混合溶
液のガス温度を下げると共に、炭化水素分圧を下げた。
こ の後、混合ガス（サンプルガス）は、温度を約１
５０℃で一定に保ちながら、サンプリング通路１を通し
て、ガスクロマトグラフィー分析装置に導いた。
５０℃で一定に保ちながら、サンプリング通路１を通し
て、ガスクロマトグラフィー分析装置に導いた。
ただし、加熱炉より出る混合溶液のガスをガスクロマト
グラフィー内に導く１０分前から、パージ用ライン６を
用いて、弁８とサンプリング通路１およびガスクロマト
グラフィー分析測定部３をそれぞれ乾燥窒素ガス（クリ
ーニングガス）、流量２ Ｊ２ ／ｍｉｎでパージした
。 また、ガス分析および窒素パージを行わない時は、
適宜、弁４を開けて排出路５から液体を系外に排出させ
て分析装置中に液体が取り込まれないようにした。
グラフィー内に導く１０分前から、パージ用ライン６を
用いて、弁８とサンプリング通路１およびガスクロマト
グラフィー分析測定部３をそれぞれ乾燥窒素ガス（クリ
ーニングガス）、流量２ Ｊ２ ／ｍｉｎでパージした
。 また、ガス分析および窒素パージを行わない時は、
適宜、弁４を開けて排出路５から液体を系外に排出させ
て分析装置中に液体が取り込まれないようにした。
以上の工程を１回として同様なガス分析を５回行い、そ
れぞれの結果を第２図に示した。
れぞれの結果を第２図に示した。
（比較例）
比較として、分析装置中に液体が取り込まれないように
するパージ工程およびサンプルリング通路中の液体の排
出工程を全く行わず、他は実施例と同様にして同様のガ
ス分析を行った。
するパージ工程およびサンプルリング通路中の液体の排
出工程を全く行わず、他は実施例と同様にして同様のガ
ス分析を行った。
結果を第３図に示した。
第２図および第３図の結果を比較すると、本発明の分析
装置を用いた結果を示す第２図は、分析値の良好な再現
性が得られている。
装置を用いた結果を示す第２図は、分析値の良好な再現
性が得られている。
方、第３図に示すように比較例では、テストを重ねる毎
に、分析値の濃度の上昇が見られ、特に、今回使用した
試薬の中では、沸点の高い、スチレン、ｍ−キシレン濃
度の上昇が著しい。 このように、再現性が得られない
分析装置では、正確な熱分解ガスの分析は、困難であっ
た。
に、分析値の濃度の上昇が見られ、特に、今回使用した
試薬の中では、沸点の高い、スチレン、ｍ−キシレン濃
度の上昇が著しい。 このように、再現性が得られない
分析装置では、正確な熱分解ガスの分析は、困難であっ
た。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明装置を用いると従来技術で
は、時間がかかり、また、自動分析を行う上で問題のあ
った、熱分解テスト装置の炭化水素ガスの分析装置に於
いて、以下のような効果を得ることができる。
は、時間がかかり、また、自動分析を行う上で問題のあ
った、熱分解テスト装置の炭化水素ガスの分析装置に於
いて、以下のような効果を得ることができる。
（１）熱分解ガスに含まれる一部凝縮性ガスの液化を抑
制する一方で、万一液化した場合、その液を容易に排出
し、また、液がガスクロマトグラフィー等のガス分析装
置に入らない構造とする事により、分析データの再現性
が、著しく向上する。
制する一方で、万一液化した場合、その液を容易に排出
し、また、液がガスクロマトグラフィー等のガス分析装
置に入らない構造とする事により、分析データの再現性
が、著しく向上する。
（２）分析データの再現性の向上により、正確な熱分解
ガスの分析データを得ることができる。
ガスの分析データを得ることができる。
（３）サンプリング通路のパージが、より効果的に行わ
れるようになり、パージ時間の短縮が図れる。
れるようになり、パージ時間の短縮が図れる。
（４）上記効果により、熱分解ガスの自動サンプリング
、自動分析が可能となり、熱分解ガスのサンプリング作
業が容易になり、かつ作業時間の大幅な短縮が図れる。
、自動分析が可能となり、熱分解ガスのサンプリング作
業が容易になり、かつ作業時間の大幅な短縮が図れる。
９・・・・弁、
１０・・・・加熱炉
第１図は、本発明の分析装置を説明する線図である。
第２図は、実施例の結果を示すグラフである。
第３図は、比較例の結果を示すグラフである。
符号の説明
１・・・・サンプリング通路、
２・・・・ガス分析装置、
３・・・・分析測定部、
４・・・・弁、
５・・・・排出路、
６・・・・パージ用ライン、
７・・・・弁、
８・・・・弁、
Claims (4)
- （１）易凝縮性ガスを含むガス状物のサンプリング通路
と、該通路の下流側に設けられた前記ガス状物の分析装
置とを有し、 前記サンプリング通路において凝縮した易凝縮性ガスの
凝縮物を少なくとも前記サンプリング通路から排出する
ための手段とを有することを特徴とする易凝縮性ガスを
含むガス状物の分析装置。 - （２）前記凝縮物排出手段が、前記分析装置の分析測定
部より低いレベルに形成した排出路である請求項１記載
の易凝縮性ガスを含むガス状物の分析装置。 - （３）易凝縮性ガスを含むガス状物のサンプリング通路
と、該通路の下流側に設けられた前記ガス状物の分析装
置とを有し、 前記サンプリング通路と、前記分析装置との間に介挿さ
れ、前記サンプリング通路には上流側に向けて、前記分
析装置には下流側に向けてクリーニングガスを流すため
のパージ用ラインとを有することを特徴とする易凝縮性
ガスを含むガス状物の分析装置。 - （４）易凝縮性ガスを含むガス状物のサンプリング通路
と、該通路の下流側に設けられた前記ガス状物の分析装
置とを有し、 前記サンプリング通路と、前記分析装置との間に介挿さ
れ、前記サンプリング通路には上流側に向けて、前記分
析装置には下流側に向けてクリーニングガスを流すため
のパージ用ラインと、 前記サンプリング通路において凝縮した易凝縮性ガスの
凝縮物を少なくとも前記サンプリング通路から排出する
ための前記分析装置の分析測定部より低いレベルに形成
した排出路とを有することを特徴とする易凝縮性ガスを
含むガス状物の分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63203524A JP2619494B2 (ja) | 1988-08-16 | 1988-08-16 | 易凝縮性ガスを含むガス状物の分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63203524A JP2619494B2 (ja) | 1988-08-16 | 1988-08-16 | 易凝縮性ガスを含むガス状物の分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0252236A true JPH0252236A (ja) | 1990-02-21 |
| JP2619494B2 JP2619494B2 (ja) | 1997-06-11 |
Family
ID=16475577
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63203524A Expired - Lifetime JP2619494B2 (ja) | 1988-08-16 | 1988-08-16 | 易凝縮性ガスを含むガス状物の分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2619494B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7388108B2 (en) | 2001-12-06 | 2008-06-17 | Mitsubishi Chemical Corporation | Oxidation reactor, process for producing (meth)acrylic acids, and method for analyzing easily-polymerizable compounds |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7562556B2 (en) * | 2006-10-02 | 2009-07-21 | General Electric Company | Cleaning system and method for continuous emissions monitoring equipment |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50144680U (ja) * | 1974-05-16 | 1975-11-29 | ||
| JPS5486390A (en) * | 1977-12-22 | 1979-07-09 | Hitachi Ltd | Process gas sampling apparatus |
| JPS5876138U (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-23 | 日本鋼管継手株式会社 | ガス採取装置 |
| JPS62126748U (ja) * | 1986-02-04 | 1987-08-11 |
-
1988
- 1988-08-16 JP JP63203524A patent/JP2619494B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50144680U (ja) * | 1974-05-16 | 1975-11-29 | ||
| JPS5486390A (en) * | 1977-12-22 | 1979-07-09 | Hitachi Ltd | Process gas sampling apparatus |
| JPS5876138U (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-23 | 日本鋼管継手株式会社 | ガス採取装置 |
| JPS62126748U (ja) * | 1986-02-04 | 1987-08-11 |
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| US7388108B2 (en) | 2001-12-06 | 2008-06-17 | Mitsubishi Chemical Corporation | Oxidation reactor, process for producing (meth)acrylic acids, and method for analyzing easily-polymerizable compounds |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2619494B2 (ja) | 1997-06-11 |
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