JPH02503822A - 物体により回折されたマイクロ波電磁界を複数の位置で測定するための装置 - Google Patents

物体により回折されたマイクロ波電磁界を複数の位置で測定するための装置

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JPH02503822A
JPH02503822A JP63503684A JP50368488A JPH02503822A JP H02503822 A JPH02503822 A JP H02503822A JP 63503684 A JP63503684 A JP 63503684A JP 50368488 A JP50368488 A JP 50368488A JP H02503822 A JPH02503822 A JP H02503822A
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バートハウド,パトリス
ボロミィ,ジャン‐シャルレ
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セントル ナショナル ド ラ ルシェルシェ サイエンティフィック
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 物体により回折されたマイクロ波電磁界を複数の位置で測定するための装置 (技術分野) 本発明は、ある周波数でマイクロ波放射源により照射された物体により回折され たマイクロ波電磁界を複数の位置で測定するための装置であって、前記位置の各 々に設けられ、中心にダイオードが装架された電気タブレットタイプのアンテナ と、回折されたマイクロ波を収集と、低周波信号を発生するための手段と、前記 発生手段と、前記タイオードの各々との間に配置されたマルチプレクサ手段と、 前記低周波信号により前記ダイオードの少な(とも一つにバイアスがかけられる よう前記マルチプレクサ手段を制御し、かつ前記低周波信号および前記収集され たマイクロ波信号に応答し、前記バイアスがかけられたダイオードの装架された 前記タブレットアンテナが位置する点でのマイクロ波電磁界を表示する信号を発 生するための手段とから成る測定装置に関する。
かかる装置は、多数の工業的用途、特にある欠陥を生じ易い物体またはその他の 変化、例えば乾燥、解凍、または重合化を受けた材料または製品を非破壊管理し 、かかる変化の結果をチェックするのに使用できる。
(背景技術) 実際にマイクロ波放射源により照射された物体は、物体の形状、物体内の各点に おける誘電率および導電率に応じてこのマイクロ波放射を回折することは公知で ある。これら最後の2つの値は明らかに物体の内部構造に依存しているので、こ の物体を照射するマイクロ波電磁界の回折を解析すれば物体の内部構造の非破壊 管理を実施できる。
ここで、回折された電磁界とは物体を透過する電磁界または物体により反射され る電磁界を意味するので、透過または反射の際または同時に生じるその双方の回 折の解析を行うことができる。したがって、例えば木材の欠陥、チェックすべき パネルまたはプラスク一層、またはシート状の紙の乾燥の程度および均一性、チ ェックすべきプラスチック材料の重合の発生およびその結果、または評価すべき 食品の解凍段階を解析できる。
このタイプの測定装置は既に公知であって、米国特許第4.552.151号に 記載されている。この装置では、タブレットアンテナが端から端に接続され、「 マトリックス状網膜」のコラムを形成している。すなわち、タブレットアンテナ のアセンブリが長方形パネルを形成している。それぞれがホーン状である導波管 のスタックにより収集手段が形成され、電磁界の値がパネルのいずれかの位置で 次々に測定できるようにこのアセンブリが制御される。
しかしながら、かかる二次元状装置はかなり扱いにくい、その理由は、各ホーン の長さがそのホーンの開口の最大寸法の大きさになるからであり、この寸法は実 質的に最大解析長さを定めている。さらにこの装置は比較的コストが高く、特に マイクロ波マルチプレクサを使用しなければならないことを考慮すると、使用が 比較的複雑である。さらに、生命医学用または研究室用には適するが、上記タイ プの工業用には適していない、よって、本発明の目的は、低コストで高速かつ操 作が簡単であり、工業用媒体に適したコンパクトな測定装置を提供することによ り上記問題を克服することにある。
(発明の要旨) 本発明によれば、前記タブレットアンテナは少なくとも一本のラインに沿って配 置され、前記収集手段は、前記物体と反射側で、前記タブレットアンテナから一 定の距離に前記タブレットアンテナラインに沿って配置された単一のマイクロ波 導波管構造体から成り、前記導波管構造体に結合するための槽数のカップリング アンテナが設けられ、各カップリングアンテナは樹脂したマイクロ波を前記導波 管により導波される波に変換し、前記導波管構造体の一端には終端部が設けられ 、他端には前記導波管を前記収集されたマイクロ波信号に変換するための手段が 設けられ、前記カップリングアンテナは、前記マイクロ波源が除勢された状態に て前記変換手段に一つのマイクロ波信号が印加された場合、すべてが同一位相で 放射するような位置に配置されており、タブレットアンテナと前記導波管構造体 との間の前記距離は、これら条件下で前記タブレットアンテナライン上に均りな 電磁界が生じるよう決定されたことを特徴とする上記タイプの測定装置が提供さ れる。
本発明の測定装置ではライン上にタブレットアンテナが分布しており、収集手段 はダブレットアンテナから数波長離間し、同一ラインに沿って配置された導波管 構造体のみから成るので、寸法は小さく低コストである。更に上記のような工業 用途では非検査物体は多くの場合測定装置の前方を進む物体である。このタブレ ットアンテナ線は進行方向に実質的に垂直に配置されているので、物体の像を簡 単に得られるようにしている。従来の装置では解析平面に垂直な方向への寸法は いかなる波長に対しても同一寸法の解析長さに対して1mの大きさであったが、 本発明の装置では数波長の大きさ、すなわち9GHzの作動周波数に対しては例 えば]Ocm以下の大きさとなっている。更に、解析ラインに沿う同一長さの装 置に対しては有効ゾーンが広くなっている。
本発明の装置ではダブレットアンテナ線上のカップリングアンテナにより生じる 電磁界は均一であるので、導波管構造体上の伝播の周期性に注意を払うことなく 、予定する用途で望まれる解析の精度の関数としてのみ選択される間隔にダブレ ットアンテナを配置できる。換言すれば、タブレットアンテナの間隔とカップリ ングアンテナの間隔は互いに無関係に選択されるので、このことは本発明の測定 装置の使用をよりフレキシブルにしてい更に本発明の係わる装置は直接ディスプ レイを見ながら、または合成処理をしたりまたは物体内の点に合焦しながら、タ ブレットアンテナラインに沿うマイクロ波電磁界の振幅と位相変化の測定を可能 にしている。従って1合成処理または合焦の場合、物体の断層像を得ることが可 能である。
従って、生産ユニットの制御を見ながら通過して進む物体または材料の非破壊管 理に極めて適した本発明の装置は、研究室で実施されるより完全な解析に適する ので、例えば物体が受ける変換プロセスの良好な理解を可能にする。
好ましくは、前記導波管構造体と前記タブレットアンテナとの間に位置する空間 は前記ラインに平行な2つの壁により閉じ、これら壁は前記マイクロ波周波数の 放射波を吸収する材料から成る層が被覆される。
また好ましくは、前記物体とタブレットアンテナとの間にはマツチングスクリー ンが設けられる。
前記素子はマイクロ波放射の漏れおよび寄生反射を防止し、タブレットアンテナ アレイのマツチングとチューニングを可能にすることにより、マイクロは作動周 波数において本装置を最適化できる。
以下、添付図面を参照すれば本発明に係わる測定装置のいくつかの実施態様の次 の説明から本発明がより理解されよう、(図面の簡単な説明) 第1図は、木材中の欠陥を検出するために使用される本発明の装置の斜視図。
第2図は、第1図の測定装置の導波管構造体および側壁の変形例を示し。
第3図は、第1図の測定装置のタブレットアンテナ用マツチングスクリーンを示 し、 第4図は、第3図のマツチングスクリーンの構造体の変形例を示し、 第5.6.7.8および9図の各々は第1図の測定装置の導波管構造体およびタ ブレットアンテナの変形例を示し、 第10図は、第1図の装置のタブレットアンテナの配置の変形例を詳細に示す。
(好適実施態様の説明) 第1図を参照して、板材1内の欠陥を検出するための測定システムについて説明 する。材料lは、例えば後の切断を最適制御するよう板材内の欠陥を検出するよ うになっている固定測定システムの前方で矢印1】の示すように進む。
マイクロ波放射源、本例ではホーン2にはマイクロ波発生器21から送られたマ イクロ波信号MEが供給される。このマイクロ波信号MEは、単一周波数の信号 である。
ホーンでは、板材lをその全長にわたって照射する。
よって、板材lにより回折されたマイクロ波電磁界(この回折された電磁界は本 明細書ではこの板材lを透過する電磁界である)を測定するための装置は、ホー ン2に対向するよう板材lの反対側に配置されているが、この配置距離は図面を 明瞭にするという明白な理由により図中では拡大しである。
この測定装置は、先ず第1に電気タブレットクイブの複数のアンテナ3を含む、 すなわち各アンテナは、2つの等しくかつ配列した長方形部分を有する。タブレ ットアンテナ3の各々の中央にはタイオード4(ここではPINタイプ)が装架 されるようタイオード4のカソードは長方形部分の一方に接続され、アノードは 他方の長方形部分に接続されている。このタブレットアンテナ3は、板材の進行 方向に垂直で、ホーン2により照射される細長いゾーンに対応するラインに沿っ て配置されている。
導波管構造体、ここでは、長方形導波管5は、板材と反対側で作業が行われる媒 体、ここでは空気内で前記マイクロ波の周波数で数波長に等しい距離D(これは 後に明らかとなる)だけ離間してダブレットアンテナ3のラインに沿って配置さ れている。
スロット55(この形状上の特徴は後に詳述する)が導波管5の長辺に形成され ており、この導波管はタブレットアンテナ3のラインに対向して位置している。
導波管5の一端には、終端部51 (ここでは短絡回路)が取り付けられている が、他端には公知の同軸導波管タイプの変換部52が取り付けられている0作動 周波数のマイクロ波放射を吸収する材料から成る層531で、被覆された剛性の 2枚の壁53が導波管5の両側にタブレットアンテナ3のラインに平行に配置さ れており、導波管5とタブレットアンテナ3との間の空間を閉じるようになって いる。使用されている吸収材料は、例えば一般タイブのカーボンが充填されたプ ラスチック発泡材料であって、導波管5とタブレットアンテナ3との間での多数 回反射を低減するようになってしする。
第1図に示すように、各タブレットアンテナ3は、例えば壁53の一つに溶接す ることによってシステムの電気アースに接続された部分を有し、このブロックは この目的のため、金属から成り、アースされている。ここでは、各タブレットア ンテナ3の他方の部分は、マルチプレクサ7の出力端の各々に接続されており、 マルチプレクサ7は、発生器6からの低周波信号Bを一つの入力端で受信する。
この明細書では、「低周波信号」とは、周波数レンジが通常マイクロ波と呼ばれ ている周波数レンジよりもかなり低い周期的な矩形またはサイン状の信号のこと を意味する。従って、マイクロ波のレンジは、数百MHzまで下げて定義される と述べることができるので、この信号Bは一般に数10MHzだけ低い周波数と なる。
マイクロプロセッサにより制御される電子回路8には、マイクロ波信号MEj5 よび変換部52により送られるマイクロ波信号MCを受ける2つのマイクロ波入 力端と、信号Bを受ける低周波入力端と、マルチプレクサを制御するための信号 Cを送るデジタル出力端と、測定されたマイクロ波の電磁界を表示し、例えばデ ィスプレイ装置(公知のため図示せず)に印加される信号SIを送る出力端とが 設けられている。
これまで述べた装置は次のように作動する。
電子回路8うちのマイクロプロセッサは、信号Bがダイオード4の一つに印加さ れるように常時マルチプレクサ7を制御する。従って、このダイオードだけに信 号Bのタイミング時に連続して、順方向および逆方向にバイアスがかけられる。
これと同時に、マイクロ波が板材1に照射され、タブレットアンテナ3の各々の レベ〜・ルで回折された電磁界が、照射板材のマイクロ波断層像のサンプル信号 となる。
各スロット55は、更に導波管5に対するカップリングアンテナとして作動し、 受信したマイクロ波、特にダブルアンテナ3のアレイからのマイクロ波を導波管 5により導波される波へと変換する。
異なるスロット55からの導波された波は変換部52によりマイクロ波信号MC に変換される。このマイクロ波信号は収集マイクロ波信号と呼ぶ、その理由は、 この信号は異なるスロット55により受信されたマイクロ波、特にタブレットア ンテナ3からのアレイからのマイクロ波の収集波から生じているからである。
電子回路8では、この収集マイクロ波信号はマイクロ波信号MEにより同期マイ クロ波検出を受け、次に信号Bにより第2の低周波同期検出を受ける8次に収集 マイクロ波のうちでも信号Bによりバイアスがかけられたダイオードの装架され たタブレットアンテナ3からのマイクロ波だけがこの信号Bによって変調される 。従って、マイクロ波検出、次の低周波検出の後の信号MCは、信号Bによりバ イアスがかけられたダイオード4が装架されたタブレットアンテナ3が位置する 点の電磁界を表示するだけである。従って、回路8のマイクロプロセッサはダイ オード4の各々の連続バイアス化を制御し、かつ測定点の位置を表示する信号C 1この測定点における電磁界の値を表示する二重検出から生じる信号、およびデ ィスプレイ装置を制御するための信号SIから作動する。
当業者には「変調拡散法」の名で知られている方法を使用することにより行うこ のタイプの作動は、上記米国特許第4.552.151号に記載されている。
このタイプの作動は、本発明の装置用に考えられる作動のみに限定されない、従 って、マルチプレクサ7の出力端の各々に制御可能な低周波数の移送器を設け、 フランス特許第8605205号の内容に従ってダイオードに同時にバイアスが かけられるようマルチプレクサを制御すると、本装置は厚い板材の内部の点に合 焦できるので、断暦表示が可能となる。
従って、主として制御用マイクロプロセッサと同期低周波検出器の前に設置され た同期マイクロ波検出器からなる電子口i?88は当業者の考えられる範囲内に あるので、これ以上説明しない。
第2図は、本発明の装置の構造の変形例を示す。
この図では、導波管5aは導波管5よりも狭く、側壁531aは広くされ、端部 はタブレットアンテナ3の平面内で延びる2つの金属フランジ532となってい る。
第3図および第4図には、板材1とタブレットアンテナ3との間に配置できるマ ツチングスクリーンの構造の2つの変形例が示されている。
第3図では、金属プレート31aには開口310が設けられ、これら開口は各ダ ブレットアンテナ3に対向して配置されている。これら開口の寸法およびタブレ ットアンテナまでの距離はアンテナの良好なマツチングが得られるよう、すなわ ちタブレットアンテナにより反射され、被検査物に向かうマイクロ波の電力が最 小となるよう、考えた応用例を考慮して実験的に調節して決定される。
第4図では1つの厚い誘電プレート31bをマツチングスクリーンとして使用し ている。ここでもまた、プレートの厚さだけでなく誘電率も良好なマツチングを 得られるよう、実験的に調節されて決定される。
第5図は、第1図の導波管5内のスロットの配列をより詳細に示す、スロット5 5はここで導波管5の長辺に形成され、タブレットアンテナ3はスロットが配列 されたラインに全て垂直になっている。スロット55は長さβ方向に長く、軸7 0から距MSだけ離間してガイドの長辺の中間軸の両側に交互に配置されている 。2つの連続するスロットは作動周波数で導波される波の半波長λg / 2だ け離間している。これらスロットは作動周波数で放射マイクロ波の波長に近い長 さ、例えばλg / 28よび狭い幅を有するが、その幅の値は重要ではない。
ホーン2が放射していないと考え、かつマイクロ波信号が変換部52に印加され ると考えられれば、スロット55により形成されるカプリングアンテナの作動は 容易に理解できるし容易に特徴化できる0本発明の装置が設けられる応用例はこ のような作動上の仮定には対応しないが、当業者には周知の相反の定理からっこ のような結論に達する。かかる仮定はスロットの作動の理解を容易にする。
従って、変換部52にマイクロ波信号が印加されると考えると導波管5内で導か れる波は、連続するスロット55の各々に対抗する位相状態となる。この理由は スロットがλg/2だけ離間しているからである。しかしながらスロット55は 中間軸70に関して交互になっているので、スロット55ハ全で同一位相で放射 する。更にこれらスロットはマイクロ波の数波長に等しい距離りに配置されたタ ブレットアンテナ1Ji3に沿った均一な電磁界が生じるようかなり接近してい る。この場合、タブレットアンテナ3はすべてに述べたように導波管5内の伝播 の周期性とは独立して、物体の解析に最も適合する距離に離間できる。ここでは タブレットアンテナ3の間の間隔は所望する解析精度に応じて数ミリメートルか ら数センチメートルの間になる。
距離Sは例えば次のように決定できる。導波管5がgに等しい減少したコンダク タンスを有するN個のスロットを有する場合、マツチングを良好にするにはg: 1/Nであることが必要である。減少コンダクタンスgの関数となるように距離 Sの値を決めるための図表を参照する。かかる図表は当業者には周知であり、特 に次の文献で利用できる。すなわちヘンリー・ジャシツクス編「アンテナ エン ジニアリング ハンドブック」第9章、マツフグロウヒル社 ニューヨーク 1 984年のスロットアンテナ アレイ。
第5図の下方部分に示すように、スロット55は導波管5の長辺の平面xO2内 で電気タブレッi・アンテナ3に垂直な磁気タブレットmに等価である。
第6図はダブレットアンテナ3bがこれらアンテナが配置されているラインに対 して全て平行である構造体の変形例を示す、短辺にスロット55bが形成された 長方形導波管5bはこれらスロット55bがダブノットアンテナ3bに対向する よう配置されている。スロット55bはλg / 2だけ離間しており、短辺と 中間軸70bが等しくて、かつ交互に対向する角度を形成する。スロット55b は磁気タブレットmbに等価なカップリングアンテナのように作動する。マイク ロ波信号が導波管5bに印加されると、スロットは同一位相で放射し、ダブレッ トアンテナ3bの方向への合成電磁界が、これらダブレットアンテナ3bの高さ で均一となるような電磁界を発生する。
第7図には本発明の装置の別の変形例を示す、このタブレットアンテナ3bは先 の実施例と同じように、すなわちアライマントに並列に配向しあているが、ここ では導波管構造体はマイクロストリップライン5Cであり、このマイクロストリ ップライン5Cは、それ自体公知のように誘電プレート58を含む、このプレー ト58の一方の面は電気アースに接続された金属層がコーティングされ、他方の 面は導電性マイクロストリップ56cを支持している。第7図に示すように、マ イクロストリップ56cはマイクロストリップライン5Cに直列接続される長方 形の金属バッチ57cを形成するよう1周期的に広げられている。電磁力線の変 形のためにマイクロストリップ56cに垂直な長方形57cのエツジ55cは磁 気ダイポールmeに等価であり、これらダイポールはここではタブレットアンテ ナ3bに垂直である。エツジ55cがλg / 2だけ離間しており、ガイド5 のスロット55はマイクロウェーブライン5Cにマイクロ波信号が印加されたと き、同一位相で放射するようにライン5Cが設けられている。
第8図は、導波管構造体がマイクロ波ライン5dとなっているが、アライメント に対して垂直に配向したタブレットアンテナ3に適するようになっている別の変 形例を示す、第8図では、長方形金属プレート57dはライン5dのマイクロス トリップにシャント接続されているが、このライン5Dに垂直になっているので 、プレート57dの、ライン5dに平行な2つのエツジ55dは、電気タブレッ トアンテナ3に垂直な磁気タブレットmdのように作動する。ここで再び、ライ ン5dは、このライン5dに印加された信号がカップリングアンテナ55dに同 一位相で供給されるように設計されている。
ここでシャントは、導波波長λdだけ離間し、エツジ5dはλg / 2だけ離 間する。
これらのバッチアンテナの作動は、上記文献ヘンリージャシックス編、「アンテ ナ工学ハンドブック」第7章、マツフグローヒル、ニューヨーク、1984年「 マイクロ ストリップ アンテナ」に記載されている。
カップリングアンテナが同一位相で放射するうようにそれらの位置も対称性を調 節しながら導波波長の半分だけカップリングアンテナが離間するようにカプリン グアンテナを設置することは実際的であるが、このことは強制的なものではなく 、例えばこれを同一位置に配置することにより導波波長だけ離間するようにこれ らのカップリングアンテナを放置することもできる。唯一の基準は、かかる条件 下でタブレットアンテナライン3に均一な電磁界が発生するよう十分に接近した 位置に全てが同一位相で放射するように配置し、これらタブレットアンテナと導 波管構造体は結合現象を防止するよう充分に維持しなければならないことである 。
第9図には、2つの直交偏極に沿って回折した電磁界を測定できるようにする本 発明の装置の変形例を示す。
第1シリーズのアンテナ3I2は、中間軸70に対して45°に配向され、タイ オード4εが装架され、周波数Feの低周波信号Beを受けるマルチプレクサ7 eに接続されている。第2シリーズのアンテナ3fはアンテナ3eに垂直に配向 され、ダイオード4fが装架され1周波数Ffの低周波信号Bfを受けるマルチ プレクサ7fに接続されている0図示しないが、一つの周期低周波検出を受ける 代わりに収集マイクロ波は、2つの周期検出(一方は周波数Fe、他方は周波数 Ff)を受け、これにより一点で電磁界の2つの成分の同時測定が可能となる。
一点での電磁界の2つの成分を連続的に測定するようダイオード42および4f の各々に連続的にバイアスをかけることによりチャンネル数の倍を有する一つの マルチプレクサのみを使用することも可能である。
第1O図には、タブレットアンテナ3の配置およびこれらアンテナのマルチプレ クサ7への接続を詳細に示す、単一誘電プレート38は、吸収層531がカバー された壁53の上端に載っている。ダブレット、アンテナ3が配置されているゾ ーンの各個でプレート38の下方に2つの金属“層36が設けられており、プレ ート38の上面にて、プレート38に支持された導電マイクロストリップにより 各タブレットアンテナ3の2つの部分31および32が形成されている。これら 2つの部分31および32にはPINグリード4が接続され、これら部分31お よび32はそれぞれローパスフィルタ371および372として延びており、こ れらフィルタは、狭いマイクロストリップ部分と広いマイクロストリップ部分が 交互となるようマイクロストリップの幅を変えることにより、金属層36の上方 でそれ自体公知の方法で形成されている。ローパスフィルタ371はそれぞれマ ルチプレクサの出力端に接続され、ローパスフィルタ372はすべてアースされ ている。これらローパスフィルタ371および372は、低周波信号Bに対して は短絡回路のように作動し、マイクロ波周波数の信号に対しては開回路のように 作動する。
これまでの説明では、マイクロ波は物体を透過するものと常に考えた。すなわち 、回折マイクロ波電磁界は、透過した電磁界であるとした。このことは強制的な ものでなく1本発明の装置を用いれおば、マイクロ波が照射された物体により反 射された電磁界または、必要であれば数個の装置を使用すれば、透過電磁界と反 射電磁界の双方を同時に測定することができる。
同様に、第1図には板材1を照射するため辺ホーン2が示されている。このこと は強制的なものでなく、このホーンの代わりに明らかにタブレットアンテナを使 用せずに収集用に用いられているものと同じ、カップリングアンテナを有する導 波管構造体を含むマイクロ波源を有利に使用することができる。かかる導波管構 造体を照射すべき物体から数波長離して設置する。
ある応用例では、ダブルバイアスを加えたマイクロ波源を使用することが有利で ある。
PINダイオードの使用は強制的ではなく、これらダイオードはレーザビームに よるバイアスをかけることができるフォトダイオードまたは光ファイバーと置換 できる。
同様に、導波管5.5a、5bおよびライン5cおよび5dのような導波管構造 体は、短絡回路により必ずしも終端する必要はないので、これらは公知のように マツチングされた負荷に終端されることが多い。
物体が移動していない場合、および物体の二次元像を得たい場合、上記装置に従 うい(つかの装置を並置できることは明らかである。
第1図を参照して距111i1Dを実験的に測定するための手順を次に説明する 。ホーンとダブレットアンテナ3との間に板材lのような物体がない場合、アン テナは均一に照射される1回路8が、上記のように信号Bによりダイオード4の 各々のバイアス化を次々に制御する間1表示信号を観察中にタブレットアンテナ 3に対向して位置する位置から導波管が離間する。最初にスロット55の分布の 周期に対応して振動が見られるが、これら振動は、距離りが大きくなるにつれて 次第に減衰する。同時に、受信信号のレベルも低下する。電磁界がダブレットア ンテナのライン上で均一になったとき、すなわち残留起伏が充分必要とされる精 度に適合しているとき、受信信号レベルは停止する。一般に、数波長の大きさの 距離りに対してはこの結果が得られる。適当な較正をすれば、装置の欠陥は修正 できることに留意のこと。
当然ながら、この装置は、工業用アプリケータおよびラドームが設けられる可能 性のある無線通信またはレーダアンテナから放射される電磁界をテストするのに 使用できる。
国際調査報告 国際調査報告

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ある周波数でマイクロ波放射源により照射された物体により回折されたマ イクロ波電磁界を複数の位置で測定するための装置であって、 前記位置の各々に設けられ、中心にダイオードが装架された電気ダブレットタイ プのアンテナと、回折されたマイクロ波を収集し、この収集されたマイクロ波信 号を送るための手段と、 低周波信号を発生するための手段と、 前記発生手段と、前記ダイオードの各々ヒの間に配置されたマルチプレクサ手段 と、 前記低周波信号により前記ダイオードの少なくとも一つにバイアスがかけられる よう前記マルチプレクサ手段を制御し、かつ前記低周波信号および前記収集され たマイクロ波信号に応答し、前記バイアスがかけられたダイオードの装架された 前記ダブレットアンテナが位置する点でのマイクロ波電磁界を表示する信号を発 生するための手段とから成り、 前記タブレットアンテナは少なくとも一本のラインに沿って配置され、 前記収集手段は、前記物体と反射側で、前記タブレットアンテナから一定の距離 に前記ダブレットアンテナラインに沿って配置された単一のマイクロ波導波管構 造体から成り、 前記導波管構造体に沿って前記導波管構造体に結合するための複数のカップリン グアンテナが設けられ、各カップリングアンテナは受信したマイクロ波を前記導 波管により導波される波に変換し、 前記導波管構造体の一端には終端部が設けられ、他端には前記導波管を前記収集 されたマイクロ波信号に変換するための手段が設けられ、 前記カップリングアンテナは、前記マイクロ波源が除勢された状感にて前記変換 手段に一つのマイクロ波信号が印加された場合、すべてが同一位相で放射するよ うな位置に配置されており、 タブレットアンテナと前記導波管構造体との間の前記距離は、これら条件下で前 記タブレットアンテナライン上に均一な電磁界が生じるよう決定されている測定 装置。
  2. (2)前記導波管構造体を前記タブレットアンテナとの間に位置する空間は、前 記ラインに平行な2つの壁により閉じられ、これら壁は前記マイクロ波の周波数 の電磁波を吸収する材料からなる属で被覆されている請求項1に記載の装置。
  3. (3)前記壁は前記タブレットアンテナの平面で延びる2つの金属フランジによ り終端されている請求項2に記載の測定装置。
  4. (4)前記物体とタブレットアンテナとの間にマッチングスクリーンが設けられ ている請求項1〜3のいずれかに記載の測定装置。
  5. (5)前記マッチングスクリーンは前記タブレットアンテナの各々に対向して配 置された開口が設けられた金属プレートである請求項4に記載の測定装置。
  6. (6)前記マッチングスクリーンは厚い誘電プレートである請求項4に記載の測 定装置。
  7. (7)前記導波管構造体は中空の金属導波管であり、前記カップリングアンテナ は前記導波管の壁に形成されたスロットである請求項1〜6のいずれかに記載の 測定装置。
  8. (8)前記導波管構造体はマイクロストリップラインであり、前記カップリング アンテナは前記マイクロストリップラインに接続された長方形の金属プレートの エッジである請求項1〜6のいずれかに記載の測定装置。
  9. (9)前記タブレットアンテナはすべて前記ラインに垂直であり、このラインに 沿ってタブレットアンテナが配置されている請求項1〜8のいずれかに記載の測 定装置。
  10. (10)前記タブレットアンテナはすべて前記ラインに平行であり、前記ライン に沿ってタブレットアンテナが配置されている請求項1〜8のいずれかに記載の 測定装置。
  11. (11)前記カップリングアンテナは前記タブレットアンテナに垂直な磁気タブ レットに等価である請求項9または10のいずれかに記載の測定装置。
  12. (12)前記マルチプレクサ手段は、これらダイオードの装架されたタブレット アンテナの2つの部分の1つにより前記クイオードの各々に接続され、前記マル チプレクサ手段と前記部分との間に第1ローバスフィルタが配置され、前記タブ レットアンテナの2つの部分のうちの他方は第2ローバスフィルタを介してアー スされている請求項1〜11のいずれかに記載の測定装置。
  13. (13)前記第1ローバスフィルタ、前記第1部分、前記第2部分および第2ロ ーバスフィルタは幅が異なる同じ導電性マイクロストリップにより形成され、ア ースされ、第1およひ第2ローバスフィルタの下方に配置された金属化部分を有 する誘電プレートにより支持されている請求項12に記載の測定装置。
  14. (14)前記マイクロ波放射源は前記収集手段のために使用されている導波管構 造体と同一の、カップリングアンテナを有する導波管構造体からなる請求項1〜 13のいずれかに記載の測定装置。
  15. (15)前記タブレットアンテナは2つのシリーズのタブレットアンテナから成 り、1つのシリーズの各アンテナは他方のシリーズのアンテナに直交し、前記発 生手段、前記マルチプレクサ手段、およびマイクロは電磁界を表示する前記信号 を制御して発生するための前記手段は、マイクロ波電磁界の2つの直交成分を測 定するようになっている。
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