JPH02502887A - 電界及び温度プローブ - Google Patents

電界及び温度プローブ

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JPH02502887A
JPH02502887A JP1504813A JP50481389A JPH02502887A JP H02502887 A JPH02502887 A JP H02502887A JP 1504813 A JP1504813 A JP 1504813A JP 50481389 A JP50481389 A JP 50481389A JP H02502887 A JPH02502887 A JP H02502887A
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tumor
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ハッグマン,マーク ジェイ.
バビジ,ダデウスズ,エム.
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 電界及び温度プローブ 本発明は、電界及びこの電界内の周囲温度を測定するブO−プに関し、特に温熱 療法により治療される人体内の電界及び周囲温度についての深部測定用に適した 小型のプローブに関する。
最近では、温熱療法がある種のガン腫瘍に対して容認された治療法となった。第 1型式の温熱療法、及び温熱療法を行なう装置は、米国特許第4,462.41 2号にターナ−(Turner)の名により「生物組織用環状電磁照射適用器及 び方法(Annular ElectromagneticRadiation  Applicator For Biological Ti5sue An dMethod ) Jと題して開示されている。この特許の開示によると、電 磁エネルギを1!瘍に向かって集束させて腫瘍をある温度、例えば42℃以上に 加熱させる。これによる前記集束された′R電磁界及びこれに関連したIIの加 熱は、!1!組織を破壊する結果となる。
高温治療法の熱源として、集束された電磁エネルギを用いたときの問題の一つは 、所望の点、即ち腫瘍の全体に電磁エネルギを正確に集束したか否かの判断が困 難ということである。従来、温度検知プローブは皮膚を介して腫瘍領域に経皮的 に挿入され、iia及び他の組織の温度を測定していた。高温治療法の目的は、 約42℃の破壊温度にまでi!瘍組織の温度を上昇させ、近傍の正常組織の損傷 を最小化させることである。前記目的は、エネルギ・フィールドを腫瘍内に集束 させたときにのみ達成される。
従来技術の温度測定方法は腫瘍内の電磁エネルギ量を表示することはない。更に 、腫瘍に対するエネルギの適用と、温度の上昇と、エネルギ・フィールドを正し く集束させたことに対応した表示との間には、かなりの時間が存在する。従って 、この温度測定方法は、温熱療法装置が正しく集束されていない状態を直接表示 するものではない。
更に、強力な電磁界領域において温度プローブを用いた場合には、他の問題もあ る。ワイヤのような導電線を用いたときは、これらがアンテナとして作用して非 常に高温となり、特に8I電線が体内に存在するときは、火傷させるものとなる 。この問題を解決するため、導電線の代わりに、高抵抗線と関連させてサーミス タを用いる装置が説明されていた。例えば、rlEEEマイクロ波理論及び技術 に関する会報(Transaction On MicrowaveTheor y And Technique ) J 、第MTT−22巻、第438頁〜 第444頁(1974年4月)、ラールセン(L、 E、 Larsen)他著 「マイクロ波デカップル脳温度トランスデユーサ(A Microwave D ecoupled Brain−Temperature Transduce r) J 、及びIEEE、rマイクロ波理論及び技術に関する会報」、第MT T−24巻、第43頁〜第45頁(1976年1月)、ポーマン(R,R,Bo w■an)著「無線周波加熱材料における温度測定用ブO−ブ(A Probe  For Measuring Temperature InRadio F reQuency Heated Material)を参照されたい。
例えば、米国特許第4.136.566号、第4.245.507号及び第4. 437,772号に説明されているように、光フアイバ技術を用いる他のプロー ブも示唆されていた。光フアイバ温度センサは熱の問題がそれほどではないが、 これらは精度が悪く、ラールセン他と、ボーマンとにより示唆された温度プロー ブよりかなり高価である。
その他の問題は、腫瘍内の温度を測定する際に用いるプローブ型式がどのような ものであっても、殆ど瞬時的な電磁界の適用に比較して、温度が緩慢に上昇する 傾向があるということである。従って、エネルギの分布を検出するまでにかなり の時間が必要である。電磁界を指示するものとしては、温度を測定するよりも、 電磁界そのものを直接測定するのが好ましい。しかし、カテーテルに挿入し、次 いで人体に挿入するために十分に小さい、電界の等方性の測定をするプローブは 現存していない。
ある点の電界はX、Y及び2方向のように3つの成分を有するベクトルであると いうことは、良く知られている。
全電界を測定するためには、その電界のX、Y及び2成分を測定する必要がある 。
従来、一つのダイポールを有し、カテーテルで用いられる弱電界のプローブが作 成されていた。例えば、米国特許第4.642.558号を参照されたい。しか し、一つのダイポールよっては、電界の一成分のみを測定できるのに過ぎない。
このことは、特に、挿入されたダイポールの方向は常時同一というわけでもなく 、また測定している電界の方向も同一というわけではないので、誤った結果を導 出することにもなる。同様に、米国特許第3.750,017号及び第4.09 1.327号に説明されているように、電界の等方性測定に適したプローブも知 られている。しかし、これらのプローブは、カテーテルの中の使用に適するよう に十分に小さく作るのに強度を測定するのと平行して、温度を測定するに適した 装置と組合わせることはできない。
電界強度を測定することは、温熱療法装置の正しい集束の比較的良好な指示を与 えるものではあるが、llsの温度を測定することが望ましいことに変わりはな い。勿論、3次元の電界と、プローブがおかれた環境の周囲温度との両方を測定 することができる単一のプローブが得られることは好ましいことである。ブO− ブの測定領域内において2つ以上の遠方ポイントにおける温度を測定する能力が あれば更に都合がよい。一定の既知の電界に対する潤度上昇の時間を解析するこ とにより、臨床に有用な重要な付加的な情報が得られる。
この発明の一特徴によれば、電界強度を測定する高入力インピーダンスの電圧計 に用いる電界プローブが提供される。この電界プローブは、互いに直交して配置 された低い固有抵抗の3つのダイポール手段を備え、かつ各ダイポール手段はそ れぞれ第1及び第2の端子を有する。
更に、このプローブは、前記ダイポール手段のうちの第1のダイポール手段の1 つの端子から前記ダイポール手段のうちの第2のダイポール手段の1つの端子へ 、更に前記第2のダイポール手段の他方の端子から前記ダイポール手段のうちの 第3のダイポール手段の1つの端子へ接続された、高い固有抵抗の相互接続線手 段を備えている。最後に、この電界プローブは、前記第1及び第2のダイポール 手段の他方の端子を前記電圧計に接続する高い固有抵抗のリード線手段を備えて いる。
本発明の他の特徴によれば、IIIに電界を集束させてl!瘍の特性を判断し、 その温度を上昇させる方法が提供される。この方法は、前記腫瘍の内部電界強度 及びその温度を決定するステップと、時間対温度曲線の傾斜を決定するステップ とを備えている。更に、この方法は、前記時間対温度曲線の2数機分の符号を決 定するステップを備えている。
以下、例示のため、付図を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は、温熱療法を受けている患者及びこのような治療に関連して用いられる 本発明のプローブ装置を示す図である。
第2図は、電界Eの種々の方向のベクトル図である。
第3図は、電界強度を等力測定するために3つのダイポール及び2つのサーミス タを用いる方法を示す図である。
第4図は、電界強度及び温度を測定するために用いる本発明の第1の実施例の電 気回路を示す図である。
第5図は、電界強度及び温度を測定するために用いる本発明の第2の実施例の電 気回路を示す図である。
第6図は、本発明に用いられる種々の部品のレイアウトについて一つの手法を示 す図である。
第7図は、本発明の種々の部品のレイアウトについて他の手法を示す図である。
さて、第1図を参照すると、患者10に、ガン!1ii14を破壊するために環 状フェーズド・アレー温熱療法装置12を用いた治療が行なわれている。環状フ ェーズド・アレー温熱療法装置12は、米lユタ州ソルト・レーク・シティ−市 のメディカル・コーポレーションのB、S、Dにより製造されたものと同じよう なものでよく、ガン1!1!14に電磁エネルギを集束させ、その温度を治療温 度へ上昇させるために用いられる。
環状フェーズド・アレー温熱療法装置によるガン腫瘍の治療では、ガンl!l1 14に挿入でき、かつガン腫l114の電界強度及び温度を測定することが可能 なプローブを備えていることが望ましい。このようなブロー7は、望ましいもの として、プローブを保持しているカテーテルを用いて経皮的に(皮膚を介して) 患者1oのガン腫1114に挿入される。ブO−ブ及びカテーテルから、ガン腫 1i14の電界強度及び温度を共に記録又は表示する測定器に至る接続ケーブル が必要である。このケーブルは、カテーテル内に適合するように小型化される必 要があり、かつ、電界からエネルギを吸収するアンテナとして作用することによ り患者1oを火傷させる型式のものであってはならない。
カテーテル16は、第1図に示すように、ガン1瘍14に挿入するように適応さ れ、カテーテル16内にブロー718が収容されている。ケーブル20はカテー テル16から伸延して電圧計22に接続されている。電圧計22は、それぞれガ ン腫瘍14内の電界を表示する電界表示装置24と、2つの異なる温度を表示す る温度表示装置!26及び28とを備えている。
ここで、第2図を参照すると、電界Eは3成分を有し、それぞれを、xly及び 2方向を指向するE、E、及びE2と呼ぶ。アンテナ・ダイポールを用いて総合 的な電界E (E% +E  2+E% )を決定するためには、■ 相対的な3成分の電界E  、E  及びE2を測定するこV とが必要である。これらを測定する際には、各ダイポールをxSy又はz軸のう ちの一つに合わせてその軸上の電界強度を正しく測定をすることが必要である。
このために、プローブ18は独立した3つのアンテナ・ダイポールを備える必要 がある。これらのアンテナ・ダイボールは互いに直角の方向を向いており、これ によって相対的なX%y、z軸を構成している。直角に方向付けられたこのよう なダイポールなしには、電界Eの総合的な大きさを誤って読み取る結果となる。
第3図を参照すると、プローブ18が示されており、総合的な電界E  、E、 、E2の大きさとと、独立した2点における組織内の2つの温度の値とを測定す るために有用な構成を有し、同時に小さな内径(約1履)のカテーテル16内に 十分に適合するものである。プローブ18は三角形のプリズム30を備えており 、このプリズム3oは平行した三角形の2つの端部32及び34と、端部32と 端部34との間の3つの矩形面36.38及び40を有する。プローブ18を1 amのカテーテル16内の開口に適合させるために、三角形の端部32及び34 の各辺の寸法は、その長さは0.86as程度でなければならない。端部32及 び34を隔てる距離は厳密なものではないが、約4sm〜5Al1以上であって はならない。
これらの長さにより、通常のカテーテル16を用いるプローブ18をガンl!8 14に配置することができる。
第2図に示すように、共通の交点を有するx、y1z軸に沿って電界の等方性読 み取りを行うために、3つのダイポールを配置する必要があるということは、実 際的ではなく、また望ましいものではない。このような構成は、カテーテル16 内に適合するようにプローブ18を十分に小さく作成した場合に得られるスペー スより、多くのスペースが必要となる。更に、これらのダイポールを接続する線 間のクロストークも増加する。更に、等方性測定するために、各ダイポールが中 心軸42に対して54.74’の角度をなすように、ダイポールをプリズム30 のような三角構造の中心軸42からずらしてもよいことも周知である。例えば、 ボーランド医学出版、ワルシャワ(1974)第220頁〜第221頁の「マイ クロ波放射の生物学的な効果及び健康に対する危険に」おける、ボーマン(Rl R,Bowma口):「危険な電磁界の特徴及び測定に関する最近のいくつかの 発展(SomeRecent Developments ln The Ch aracterization AndMeasurement  Of  H azardous  Electromagnetic  Fields)   Jを参照されたい。従って、中心軸42に対して54.74@の角度をなすプリ ズム3oの3つの面36.38及び40に上に3つのダイポール44.46及び 48を配置する。以下、第4図、第5図、第6図及び第7図について説明する付 加的な素子は、ケーブル20にダイポール44.46及び48を接続するために 用いる相互接続線及びコネクタ素子と共に、プリズム30の面36.38及び4 0の上に配置されている。
第4図を参照すると、それぞれ3つのダイポール44゜46及び48は、低い固 有抵抗の材料により形成され、その中心でそれぞれダイオード50.52及05 4のような!1!手段により2つのアームに分割される。更に、整流された3つ のダイポール44,46及び48は、高い固有抵抗のリード線により直列接続さ れ、これによって1/2ダイポール44bの終端56は高い固有抵抗のリード線 手段58を介して1/2ダイポール46aの終端60に接続され、また1/2ダ イポール46bの終端62は高い固有抵抗のリード線手段64を介して1/2ダ イポール48aの終端66に接続ぎれている。1/2ダイポール44aの他の終 端66は高い固有抵抗のリード線手段70を介して測定器24に接続され、1/ 2ダイポール48bの他の終端72は高い固有抵抗のリード線手段74を介して 測定器24の他の入力に接続されている。測定器24は、測定している電界強度 を表わす電圧“e″を示す任意の高入力インピーダンスの電圧計でよい。それぞ れ2つの1/2ダイポール44a及び44b、46a及び46b、48a及び4 8bは、銅又は金のように固有抵抗が低い金属で作られたものでよく、またそれ ぞれ高い固有抵抗のリード線手段58,64゜70及び74は高い固有抵抗の材 料、例えばカーボン、又は製造の際に用いられる薄膜又はモノリシック技術に適 した他の材料で作られたものでよい。
従来技術の等方性電界の測定用プローブでは、各ダイポールから測定器まで高い 固有抵抗の2つのリード線を備える必要がある。従フて、3ダイポールの場合は 、6つのリード線が必要となる。しかし、これは、以下において説明するように 、特に、温度測定リード線もこれに含まれるとすれば、ケーブル20は大き過ぎ 、かつ壇れ易いものにとなる。リード線の数を減少させるためには、ダイオード 50.52及び54及び抵抗値が高い相互接@115B及び64を備え、かつ各 ダイオードの電気的な極性を同一方向にする。これにより、3つのダイポール4 4.46及び48の整流出力を十分に大きな抵抗を介して組合わさせることによ り、ダイポール44.46及び48の相互の間において無線周波の分離が得られ る。
第3図から、ダイポール44,46及び48を相対的に定められたx、y、z軸 の一つに沿って配置したこと、及び総合的な電界の平方値は各軸について測定さ れた成分の平方の和(E%+E  2+E  2)であることをz 想起すべきである。ダイポールの側68とダイポールの側72との間の電圧は、 各ダイポール44.46及び48の両端間電圧と、各リードI!58及び64の 両端間電丁圧との和である。測定器24のインピーダンスが低いために、N流は 非常に小さく、従りて抵抗性のリード1158及び64の両端間の電圧降下は無 視できる。平方則領域にあるダイオード50.52及び54のために、各ダイオ ードの電圧は各ダイポールに平行な電界の平方に比例している。従って、総合的 な電界の平方値は側部68と’tlAm72との簡の電圧降下により決定するこ とができる。また、高い固有抵抗のリード線58及び64をインダクタにより置 換してもよいが、半導体技術によりインダクタを製造することは非常に困難であ り、ミニチュア化に適したものでもない。更に、インダクタを用いると、異なっ た周波数に対するリアクタンスのばら付きが大きく、広帯域のブO−ブを作成す ることができない。
高い固有抵抗のリード線70及び74ば一国有抵抗が高いプローブ18内のリー ド線に接続されており、更にプローブ18は測定器24に接続されている。前述 のように、測定器24は高入力インピーダンスを有する必要があるので、以下説 明するように、特に、温度を測定するためにサーミスタがリードI!58及び6 4を備えているときは、電圧抵抗の値が大きく、かつ、可変のリード線58及び 64が電圧測定の精度に対して影響を与えることはない。
プローブ18を電界測定装置として用いると共に、温度測定装置として用いるた めに、一対のサーミスタ76及び78がそれぞれ高い固有抵抗のリード線58及 び64の一部分として備えられている。更に、高い固有抵抗のリード[180, 82,84及び86がサーミスタ76及び78の両側部からそれぞれ測定器26 及び28に接続されている。更に、サーミスタ76及び78を介して一定IR流 を流すようにするために電流源88を備えている。N流l#I88は時分割動作 を行ない、電界測定と干渉しないように、温度の読み取りの間のみ動作する。こ れは、スイッチ89により示されている。
周知のように、サーミスタはその抵抗がその要素を取り囲む温度に関連して変化 する。このために、ガンll114内の温度が上昇するに従って、サーミスタ7 6及び78の抵抗値が変化する。従って、電流源88からの一定電流がサーミス タ76及び78を介して供給されると、温度が変化することによる抵抗値の変化 により、それらの両端間の電圧が変化する。この電圧は測定器26及び28によ り測定される。測定器26及び28は、高入力インピーダンスの増幅器でもよく 、それらの出力はサーミスタ76及び78により検知された温度を表わしている 。
コンデンサ90及び92は高い固有抵抗のリード[170と高い固有抵抗のり− ド1172との間に接続され、電界測定ではフィルタとして用いられる。また、 コンデンサ94及び96は、リード線の対の80.82と、リード線の対の84 .86のそれぞれの間に備えられ、サーミスタ76及び78のRF加熱を防止し ている。コンデンサ94及び96は、特に、sI!又は厚膜技術のような半導体 製造方法を利用しているリード線80とリード線82との間、又はリード[18 4とリード線86との間においては、固有のライン容量である。これに代わって 、コンデンサ94及び96は個別のミニアチュア部品であってもよい。
第5図を参照すると、プローブi8Aが示されている。
プローブ18Aは、第4図の実施例のものと比べると、ダイオード50.52及 び54を全波整流器98.100及び102により置換した点のみが異なる。適 宜、同一部品には同一番号が与えられている。全波整流器98゜100及び10 2は、それぞれブリッジ構成により接続された4つのダイオードを有する。ダイ オードのアノードとカソードとを共通接続したブリッジの2端子は、各ダイポー ル44.46及び48のアームに接続されている。ブリッジ構成の反対側の2端 子は、2つのアノードか又は2つのカソードを共通接続しており、リード115 s、64.70及び74を接続する端子として用いるものである。更に、コンデ ンサ104,106及び1o8が、全波整流器98,100及び102の端子間 に接続されている。
他の構成のダイポール44.46及び48も可能である。重要なことは、互いに 直交する3つのダイポール・アンテナ44.46及び48がリード1170とリ ード線74との間に印加可能な直流出力を有することである。
換言すれば、リード115B及び64の高抵抗値が各アンテナ44.46及び4 8の間のRF分離を与えるように、3つのダイポール44.46及び48の整流 出力を組合わせることを意図している。
第6図及び第7図を参照すると、第3図及び第4図について以上で説明した種々 の部品を物理的に配置する構成の例が示されている。第6図及び第7図において 、部品は、第3図に示すように、プリズム30を形成するシリコン又はガリウム ひ素の基板上に直接構築されてもよく、又は、カプトン(にapton)若しく は他の誘電体膜上に薄膜又は圧膜技術により作成されてもよく、この誘電体膜は 、後でプリズム30の形式を有するガラス若しくは他の不活性物質の基板上に付 着される。
第6図を参照すると、3次元のダイポール44.46及び48が公知のil膜技 術によりカプトン91110上に形成される。ダイポール44.46及び48の 各1/2ダイポールは、銅又は金のように固有抵抗が低いものでもよい。それに 代えて、10μΩ・メートル以下の固有抵抗を有する任意の物質を用いてもよい 。高周波応答のために、約1Ω・メートルの高抵抗のダイポールを用いることが 望ましい。各ダイポール44.46及び48は、第6図において垂直方向に対し て54.74°に配置される。各ダイポールのアーム間に、ダイオード50.5 2及び54が1/2ダイポールの回路内に接続されている。好ましいものとして は、ダイオード50.52及び54は、0バイアスされたビーム・リード・ショ ットキー・ダイオードである。このショットキー・ダイオードは、一般的に低レ ベルのRF他信号対する好適な検出器である。例えば、第4図の構成ではヒユー レット・パラカード5082〜283フ型ダイオードを用いてもよく、第5図の 構成では5082〜9394型カツド・ダイオードを用いてもよい。
ダイポール44.46及び48の各終端には、高い固有抵抗のリードa70.5 8.64及び74が接続されている。高い固有抵抗のリード1!70.58.6 4及び74の材質は約10・メートルの抵抗を有するカーボン添加のテフロンで もよい。それに代えて、リードl1170゜58.64及び74の固有抵抗が測 定している電界の擾乱を最小限にするほど十分に大きく、かつ、リード[158 及び64の固有抵抗がダイポールの無線周波電圧をデカップルするほど十分に大 きければ、ダイポールに用いた物質の固有抵抗の少なくともi ooo倍以上の 固有抵抗を有する任意の物質を用いることができる。
高い固有抵抗のリード線58及び64をそれぞれ形成する2つの線の間には、ハ イブリッド構成に適したサーミスタ76及び78が接続されている。適当なサー ミスタの例としては、米国ニュージャージ州エジソンのサーモメトリックス(T hermometrics )により製造された「サー−t”−フレーク(Th etvo Flake) Jサーミスタがある。それに代えて、モノリシック技 術を用いてサーミスタを形成してもよい。サーミスタ76及び78から延伸して いるリード1!80.82.84及び86は、前述の高い固有抵抗のリード線7 0.58.64及び74と同じような高固有抵抗材料からなる。
物理的な大きさとして、各ダイポール44.48及び48の結合長は約1.0o mにされるべきであり、また各リード線58.64,70,74.80,82. 84及び86の幅は約0.10jwにされるべきである。プリズム30の面36 .38及び4oに対応する各パネルの総合的な幅は約0.86a+rある。面3 8.38及ヒ4゜に対応する各パネルの総合的な長さは、約2mlである。
前記の大きさは、1.2omの内径を有するカテーテル16にはめこめうるほと 十分に小さいブO−ブを構成するのに適している。多くの応用では、カテーテル 16に内蔵するのに必要な電界計と同程度の小さな電界計を作成することが必要 である。このような場合では、前述の大きさは例示したものの数倍であってもよ い。しかし、通常、ダイポールの長さは、測定している電界の波長の17”2未 満である。
第7図を参照すると、第6図の実施例のレイアウトと比較されるべき他の実施例 のレイアウトが示されている。
相違のみについて説明するものとし、かつ、同等部品には同一参照番号が与えら れている。第7図の実施例においては、プリズム3002つの終端32及び34 上にベリリウム酸化物、又はダイヤモンド層112及び114が配置される。ベ リリウム酸化物及びダイヤモンド層は、異常な特性の組合わせを有するyh電体 材料であり、高い熱伝導率及び低誘電体損失を有する誘電体であることは周知で ある。従って、サーミスタ76及び78を、ベリリウム酸化物、又はダイヤモン ド層112及び114と物理的な接触状態に置くと、その物質の高い熱伝導特性 のために、サーミスタ76及び78をガン腫瘍14内の2つの異なった離隔した 位置における温度の平均温度に到達させる。ベリリウム酸化物又はダイヤモンド 層112及び114の形状は、カテーテル16の中へ又はそれより外にプローブ 18を滑動させることをより容易にするだめに、三角形ではなく円形にしてもよ い。ベリリウム酸化物又はダイヤモンド層112及び114の誘電体損失が低い ために、これらは、測定している電界においてRF加熱されることは殆どない。
更に、プローブ18の背面の終端上には、コネクタ・ストリップ116が設けて あり、それに向かってリード線74.80.82゜84及び86が延伸し、かつ 、より容易にケーブル20に接続可能になっている。
腫瘍が組成上不均質となり得ることは周知である。臨床医は、ls内における電 界と、温度上昇の態様とを知ることにより、これまで入手不可能であった治療に 関する付加的な情報を得ることができる。例えば、電界強度の平方と温度の時間 変化の微分との比は、σ/I)Cに比例している。ここで、σは導電率、pは密 度、0は比熱であり、これらは全て組織の特性である。従って、組織の構成に関 する情報が治療中に得られる。更に、温度の時間変化の二次微分を計禅すること により、測定領域が周回の組織に対して高温であるか低温であるかを判l1i1 jることができる。この後者の情報は、臨床医にとって、所望の領域に電界が正 しく集束されているか否かを判断するのに有用である。
第1図を参照すると、プローブ18の使用に際して、患者10を温熱療法装@1 2に位置決めする前に、プローブ18をガン腫!t14に挿入してもよい。温熱 療法装置12に対して患者1oを正しく位置決めした後に、電磁界の初期集束は 、測定器24により読み取られるガン腫瘍14の電界強度を最大化することによ り連成される。同時に、温度上昇の時間内の連続的な読み取りを、測定器26及 び28によって行なう0次に、時間対温度の変化の一次微分、すなわち温度上昇 率が決定される。
電界強度の平方と、温度の時間変化の一次微分との比は、治療を゛実施している 組織の型の表示を与える。
組織の型が一般的に分かつているときに、温度上昇が予想以上に緩慢ならば、温 熱療法装置12が正しく集束されていないことを示すものである。最初の温度の 時間8を挿入しているガン111114は局所的な「ホット・スポット」であり 、これは所望の応答である。また、二次微分がOより大きいときは、プ0−11 8を挿入しているガン腫瘍14は「コールド・スポット」であり、従って、温熱 療法側r2からの電界強度は治療に不充分であるか、又は正しく集束されていな いことを示している。
温度と電界強度とを同一位置で同時に測定すれば、これらの測定の精度は増加す る。従って、ブ0−718は付加的な情報を得るのに理想的である。
更に、ブO−ブ18は、適用装置112のエネルギの初期集束の間に、臨床医を 助けるためにも使用することができる。初期集束においては、適用装置112に より加えられる信号の電力は、健康な組織が破壊されないように低い値に保持さ れる。プローブ18がガンl!1iA14の中に挿入された後は、適用装置f1 2の集束は、測定器26により最高電界の指示が示されるまで調整される。その 後に、適用@1i12から全出力の電磁界エネルギが供給される。
本発明の排他的な権利即ち特許権の請求の範囲は特許請求の範囲により決定され る。
j佼−Z 手続補正書 1、事件の表示 PCT / US 89 / 016052、発明の名称 電界測定用プローブ及びその使用方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称  フロリダ インターナショナル居 所 〒100東京都千代田区大手町 二丁目2番1号新大手町ビルヂング331 7、補正の内容  別紙のとおり 8、添付書類の目録 同時に出願審査請求書を提出してあります。
1、発明の名称を次の通り訂正する。
1電界測定用プローブ及びその使用方法J2、特許請求の範囲を別紙の通り補正 する。
疼 明細書第5頁第3.4.5.6.7.8.9 (2箇所)、 10゜12及 び13行の「手段」を削除する。
4、 明細書第7頁第19行の括弧の中の「E82Jの前にrE2=Jを加入す る。
5、 明細書第8頁第6行の「総合的な」を1相対的な3成分の1に補正する。
6、 明細書第8頁第10行の「三角形」をr正三角柱1に補正する。
7、 明細書第9頁第5行の「三角構造」を1正三角柱構造jに補正する。
8、 明細書第9頁第5.5.8.10及び16行の「手段Jを削除する。
9、 明細書第11頁第2行より第3行までの「相互接続線」を1相互接続リー ド線jに補正する。
10、  明細書第11頁第10行の「総合的な電界」の後にrEJを加入する 。
11、明細書第11頁第16行の「抵抗性の」を削除する。
12、明細書第17頁第13行の「終端」を1端部1に補正する。
「2、特許請求の範囲 1、電界(E、 E、及びE、)の強さを測定す刺な笠高入力インピーダンス電 圧検出器(24)と共に用いられ、互いに直交して配置された3つの低固直抵抗 のダイポール(44,46及び48)を含んでいる電界測定里プローブ(18) であって、前記ダイボニ>bcv’)ちの第1のダイポール凹の一端(56)旦 前記ダイボニ)1/ (1)立ちの第2のダイボールエ昶工の一端(60)との 間に接続され、之2前記第2のダイポール(46)の他端(62) h tJ  記ダイポールのうちの第3のダイポールGしの一端(66)との間にそれぞれ接 続された泉皿宣抵抗の相互接続リード線(58及び64)と、 前記第1及び第3のダイポール(,44及び48)の他端(68及び72)をそ れぞれ前記二玉検出器(24)に接続するための高固有抵抗の電圧検出器リード 線(70及び74)と を有することを特徴とする電界測定里プローブ。
2、請求項1記載の電界測定反プローブにおいて、更に、前記NE検出器2ユは 、前記電界(E、 E、及びE、)の強さを表わすものとして、印加て、更に、 前記ダイポール(44,46及び48)は、正三角狂のプリズム(30)の3つ の皿面(36,38及び。
40)上にそれぞれ配置され、かつ前記ダイポール(44,46及び48)旦工 韮プリズム(30)の軸(42)ダイポール素子(44a、 44b ; 46 a、 46b ;及び48a。
48b)を皇亘ことを特徴とする電界測定里プローブ。
先 電界(E)の強さを測定するための第1の高入力インピーダンス電圧検出器 (24)と共に、用いられ、かつ、前記電存(E)の±大濫叉を測定するための 第2の高入力インピーダンス電圧検出器(26又は28)と共に用いられる電界 及び温度測定尻プローブであ2二、更に、前記電界及び温度測定用プローブは、 互いに直交して配置された3つの低里血抵抗のダイポニj) l$、46及び4 8)を有し、かつ、前記3つのダイボニtb (、g、 46 及148 )は それぞれ第1及び第2の終端(B 56 ; 60.62 ; 71) IF6 6、721i有する前記電界及び温度測定反プローブあって、サーミスタ(76 又は78)を含み、前記ダイボ≦2立ちの第1のダイポール亙Unの一端(56 )&前記ダイポー)Ii(7)立ちの第2のダイポール亙の一′jWJ(60) との間に接続され、かつ前記第2のダイポール(46)の他端(62)&前記ダ イボー)kユちの第3のダイボールエタユの一端(66)&(7)間にそれぞれ 接続された前記第に五里血抵抗のリード線(58及び64)と、 前記第1及び第3のダイポール(44及び48)二里168及び72)をそれぞ れ前記第1の’tJEfE検出器(24)l:接続するための第2の高■抵抗の リード線(70及び74)と、 前記サーミスタ(76又は78とt匹第2のtBE検出器(26又は28)に接 続するための第3二五里!抵抗のリード線(80,82;ス旦84.並)と、を 有することを特徴とする電界及び温度測定具プローブ。
■ 電界(E)を集束させて温度を上昇させることにより腫瘍(14)の特性を 決定するための電界及び温度測定用プローブの使用方法であって、前記腫瘍(1 4)における電界(E)の強さ及びその温度を決定するステップと、温度対時間 曲線の傾斜をことにより腫瘍(14)の特性を決定することを特徴とする電 及 び温度測定用プローブの使用方法。
焦 温熱療法を開始する前に、腫瘍(14)に対す前記腫瘍(14)の中に肌n 隻界及1温叉測定用プローブ(18)を配置するステップと、前記温熱適用器( 12)より低電力の電界(E)を発生するステップと、 最初は前記低電力の電界(E)を前記腫瘍(14)に対し集束させるステップと 、 前記三11匹邸酊釦肌定月−ブローブ(18)により最大の電界(E)が測定さ れるまで前記電界(E)の集束を調節するステップと、 前記温熱適用器(12)により発生される前記電界(E)の電力を増加させるス テップと を包含することにより腫瘍皿に対する温熱適用器(12)の集束を調節すること を特徴とする電び温度測定用プローブの使用方法。」 国際調査報告

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.電界(Ex、Ey及びEz)の強さ測定する高入力インピータンス電圧検出 器(24)と共に用いられ、互いに直交して配置された3つの低い固有抵抗のダ イポール(44,46及び48)を含んでいる電界測定プローブ(18)であっ て、 前記ダイポール(44)のうちの第1のダイポールの一端(56)から前記ダイ ポール(46)のうちの第2のダイポールの一端(60)に接続され、前記第2 のダイポール46の他端62から前記ダイポール48のうちの第3のダイポール の一端(66)に接続された高い固有抵抗の相互接続線(58及び64)と、前 記第1及び第3のダイポール(44及び48)の他端(68及び72)を前記検 出器(24)に接続するための高固有抵抗検出器接続線(70及び74)とを有 することを特徴とする電界測定プローブ。 2.請求項1記載の電界測定プローブにおいて、更に、前記検出器は、前記電界 (Ex、Ey及びEz)の強さを表わすものとして印加された電圧(e)を検出 して表示することを特徴とする電界測定プローブ。 3.請求項1記載の電界測定プローブにおいて、更に、前記ダイポール(44, 46及び48)は、それぞれ正三角形のプリズム(30)の3つの面(36,3 8及び40)上に配置され、かつ、前記ダイポール(44,46及び48)は、 それぞれ前記プリズム(30)の軸(42)に対して54,74°の角度で前記 プリズム(30)の面上に配置されたダイポール素子(44a,44b,及び4 6a,46b,及び48a,48b)を有することを特徴とする電界測定プロー ブ。 4.請求項1記載の電界測定プローブにおいて、更に、前記ダイポール(44, 46及び48)のおのおのの長さと、被測定電界(Ex,Ey,Ez)の波長と の比は、1/2未満であることを特徴とする電界測定プロープ。 5.請求項1、2、3又は4記載の電界測定プロープにむいて、更に、前記ダイ ポール(44,46及び48)は、それぞれ整流回路(50,52及び54,又 は98,100及び102)を有することを特徴とする電界測定プローブ。 6.請求項5記載の電界測定プローブにおいて、更に、前記ダイポール(44, 46及び48)の終端(56,60,62,66,72及び68)は、それぞれ 前記整流回路(50,52又は54)から遠方にあることを特徴とする電界測定 プローブ。 7.請求項5記載の電界測定プローブにおいて、更に、前記整流回路は、それぞ れ前記ダイポール(44,46及び48)の終端(56,60,62,66,7 2及び68)の中間に配置されたダイオード(50,52又は54)であること を特徴とする電界測定プローブ。 8‘請求項5記載の電界測定プローブにおいて、更に、ダイポール(44,46 及び48)の終端(56,60,62,66,72及び68)は、それぞれ整流 回路(98,100及び102)の一部分であることを特徴とする電界測定プロ ーブ。 9.請求項5記載の電界測定プローブにおいて、前記ダイポール(44,46及 び48)は、それぞれ第1及び第2のダイポール・アーム(44a,44b,及 び46a,46b,及び48a,48b)を有し、更に、前記整流回路は、それ ぞれ前記ダイポール・アーム(44a,44b,及び46a,46b,及び48 a,48b)の間に配置された全波整流器(104,106又は108)であり 、かつ、それらには、前器ダイポール(44,46及び48)の終端(56,6 0,62,66,72及び68)とダイポール・アーム(44a,44b,及び 46a,46b,及び48a,48b)とがそれぞれ接続されていることを特徴 とする電界測定プロープ。 10.電界(E)の強さを測定するための第1の高入力インピーダンス電圧検出 器(24)と共に用いられ、かつ、前記電界(E)の環境の温度を測定するため の第2の高入力インピーダンス電圧検出器(26又は28)と共に用いられる電 界及び温度測定プローブであり、更に、前記プローブは、互いに直交して配置さ れた3つの低い固有抵抗のダイポール素子(44,46及び48)を有し、かつ 、前記ダイポール素子(44,46又は48)はそれぞれ第1及び第2の終端( 56,60,62,66,72及び68)を有する前記電界及び温度測定プロー プにおいて、 第1の高い固有抵抗のリード線(58及び64)であって、サーミスタ(76又 は78)を含み、前記ダイポール(44)のうちの第1のダイポールの一端(5 6)から前記ダイポール(46)のうちの第2のダイポールの一端(60)へ接 続され、かつ前記第2のダイポール(46)の他端(62)から前記ダイポール (48)のうちの第3のダイポールの一端(66)へ接続された前記第1の高い 固有抵抗のリード線(58及び64)と、前記第1及び第3のダイポール(44 及び48)の他の終端(68及び72)を前記第1の検出器(24)へ接続する 第1の高い固有抵抗のリード線(70及び74)と、前記サーミスタ(76又は 78)をそれぞれ前記第2の検出器(26又は28)に接続する第3の高い固有 抵抗のリード線(80,82,84,及び86)と、を有することを特徴とする 電界及び温度測定プローブ。 11.請求項10記載の電界及び温度測定プローブにおいて、前記プローブ(1 8)は更に、前記温度を測定している間、前記第1の高い固有抵抗のリード線( 76)と首記第2の高い固有抵抗のリード線(78)との間に一定電流を流すた めの時分割電流源(88)を有することを特徴とする電界及び温度測定プローブ 。 12.請求項10記載の電界及び温度測定プローブにおいて、更に、 前記3つの低い固有抵抗のダイポール素子(44,46及び48)は、三角形の プリズム(30)の軸(42)に対して54.74°の角度で前記プリズム(3 0)の面(36,38及び40)の上に配置されていることを特徴とする電界及 び温度測定プローブ。 13.請求項10記載の電界及び温度測定プローブにおいて、前記ダイポール素 子(44,46及び48)は、それぞれ整流手段(50,52及び54,又は9 8,100及び102)を有することを特徴とする電界及び温度測定プローブ。 14.請求項10記載の電界及び温度測定プローブにむいて、更に、前記リード 線(58,64,70,72,80,82,84及び86)のそれぞれの固有抵 抗は、前記ダイポール素子(44,46及び48)のそれぞれの固有抵抗の少な くとも千倍の大きさを有することを特徴とする電界及び温度測定プローブ。 15.電界(E)を集束させて温度を上昇させることにより腫瘍(14)の特性 を決定するための方法であって、前記腫瘍(14)における電界(E)の強さ及 びその温度を決定するステップと、温度対時間曲線の傾斜を決定するステップと 、温度対時間曲線の二次微分の符号を決定するステップとを含むことを特徴とす る腫瘍(14)の特性を決定するための方法。 16.請求項15記載の方法にむいて、更に、前記符号を決定するステップは、 前記腫瘍の特性を表示することを特徴とする腫瘍(14)の特性を決定するため の方法。 17.請求項15記載の方法にむいて、更に、前記符号を決定するステップは、 前記電界の適正な集束を表示することを特徴とする腫瘍(14)の特性を決定す るための方法。 18.請求項15記載の方法において、更に、前記符号を決定するステップは、 前記電界(E)の適正な値を表示することを特徴とする腫瘍(14)の特性を決 定するための方法。 19.温熱療法を開始する前に、腫瘍(14)に対する温熱適用器(12)の集 束を調節するための方法であって、 前記腫瘍(14)の中に温度及び電界強度測定用プロープ(18)を配置するス テップと、前記温熱適用器(12)より低電力の電界(E)を発生するステップ と、 最初は前記低電力の電界(E)を前記腫瘍(14)に対し集束させるステップと 、 前記プローブ(18)により最大の電界(E)が測定されるまで前記電界(E) の集束を調節するステップと、前記温熱適用器(12)により発生される前記電 界(E)の電力を増加させるステップと を包含することを特徴とする、腫瘍に対する温熱適用器(12)の集束を調節す るための方法。
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