JPH02501684A - 指紋分析 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 指紋分析 本発明は指紋分析技術に関し、証拠照合に利用できるものであり、より具体的に は、それに限定されるものではないが、指紋に関する情報のコード化及び記憶を 行って人物の同一性を証明するための装置及び方法に関する。

国際特許出＠ＰＣＴ／ＣＢ／８７１００２Ｂ２では、ある指紋の範囲からデータ を引き出すことにより指紋からの情報が得られ、そのデータは上記範囲を延びる ある線と直力な方向において数えた隆起部の数に関し、その総数が上記線に沿う 複数の位置のそれぞれにおいて得られるようになっている。データは指紋のグレ イ・レベル像のスレブシ冒ルド（スレッシュホールド、閾値）化゛、により引き 出される。

上記出願には、単純かつ有効な証拠照合システムが記載されているが、本件では 、それについて、特に隆起部（又は溝）総数に関する値を得ることに関して改良 がなされている。

本発明の１つの特徴によると、２個の隆起部（又は溝）の間の距離を測定するこ とにより、隆起部の総数の測定値を得ることが提案されている。２又は３個の隆 起部を含むようなごく狭いセクション（区域）の指紋によりその様な測定を行う ことができ、測定値の逆数がそのセクションでの単位長さ当りの隆起部総数に直 接的に関連する。無論、あるセクションにおける２個又は３個だけの隆起部では 、隆起部の全体数による特徴値を出すことはできない。更に、その様な測定を指 紋の狭いセクシ■ンで行うことにより、その他の複数のセクションについて測定 を繰り返すことができ、これにより、比較的多数の組の特徴値を出し、それらに より、より独創的な指紋の照合が行い易くなる。

更に、いくつかの測定を個々のセフシロンの互いに具なる複数箇所において行う ことができ、平均を取うてそのセフシロンについての値を出すことができる。分 析を行うセクシ會ンは「列」及び「行」に配置されていることが好ましい。

数についての値を得ることにより、更に別の特徴値を出すことができ、その場合 も隆起部間隔の測定により総数を得るようにする。

本発明の一実施例によると、指紋から特徴データを引き出すための装置であって 、該装置が、指紋のある範囲）　の像の表示を受け取るための手段と、任意の方 向において上記範囲のセクションを走査して、上記方向において互いに続くセク ションの特定の部分のビットパターンをその近傍のビットパターンと比較するよ うに配置された手段とを設け、それにより、各特定部分から、該特定部分と最大 の相関関係にあるその近傍のビットパターンまでの距離に対応する一連の値を得 るようにした装置が提供されている。

その様なパターン相関技術を使用することにより、最大相関関係を発見すること が可能であり、従って、像のセフシーンが比較的ノイズの多いものであったり、 指紋の損傷部分を含んでいる場合でも、距離測定が可能となる。

セフシーンの隆起部総数に対応する値を測定するのにどの様な手段が使用されて も、その様なセクシヨンの２次元配列の列及び行に像を分割して、その各セクシ ヨンについての値を得ることにより、複数の特徴値を得ることができ、又、分析 のために選択されるセフシロンの全てが同じ行にはない。すなわち、本発明の別 の実施例によると、指紋像から特徴データを引き出すための装置であって、該装 置が、像の範囲の多数のセクションの内の所定の複数のセクションを調査して、 そのセクションの任意の方向における多数の隆起部（又は溝）に関連する値を複 数のセフシーンのそれぞれについて発生させるように配置された手段を備え、上 記多数のセクタ１ンが列及び行に配置されており、複数のそれらのセフシーンの 全てが同じ列又は行にはないことを特徴とする装置が提供されている。

人が自己の指紋の分類を行う都度、指紋の同じ範囲を調べることが望ましく、そ のために、実施例には、指を縦方向のずれ及び回転に対して拘束するための手段 が組み込んである。

更に、指紋から得られた像はグレイ・スケール像である場合があり、処理全体を その像について実施できないことがある。その様な処理について演算能力が不足 している場合、グレイ・スケール像を純黒色及び白色の２進像に変換してから、 距離及び総数の測定を行うこともできる。いずれの場合でも、例えば、各画素の グレイ９スケール値を、その画素の近傍の最大及び最大強度の補間値又は実際値 に応じて変更することにより、グレイ・スケール像を強化することが好ましい。

次に本発明を図示の実施例に基づいてより詳細に説明する。

第１図は指紋記録照合装置の図； 第２図は第１図の装置の指紋整列装置の略図；第３図は第２図の変形例の略図； 第４図は像強化のために調査される指紋の像の一部分を示す略図； 第５図はその特徴値を得るために調査される指紋像の範囲を示す略図； 第６図はカードへの記憶のための指紋データ取り出し手順を示すフローチャート ； 第７図は指紋照合手順を゛説明するためのフローチャートである。

第１図に示す装置は指紋の像を取り込み、それを分析して特徴値に変え、次に、 それらの値を将来使用するためにカードに記憶するか、又は、既にカードに記憶 されている値と比較する。

この目的のために、装置は市販の複数の要素を備えており、具体的には、カード 読み取り／書き込み装置１とコンピュータ２、像デジタイザー３、ＣＯＤカメラ ４を備えている。、これらの要素の他に、装置は直角プリズム６を備えている。

プリズム５は黒色表面６と光源８で照明される斜辺表面７と、指をその上に置く 上側表面９とを有している。第２図及び第３図でより詳細に後述する如く、指拘 束手段が指を正確に位置決めするために設けである。該手段は、指を縦方向に揃 えるための指拘束部１０を含んでいる。この拘束部には、マイクロスイッチ１１ が、プリズム上の図示の位置に指が置かれた時に作動させられるように配置され ている。別のマイクロスイッチ１２がプリズムの近傍に設けである。指が正確に 位置決めされた時、両方のマイクロスイッチが作動し、この作動状態がコンピュ ータ２により検知され、コンピュータに接続したアンドゲート１３により表され る。アンドゲート１３は光源８も作動させる。すなわち、指がプリズムの上側表 面９上に正しく乗せられると、光源８が作動し、像を取り込める状態にあるとい う意味の信号がコンピュータに与えられる。指がプリズムの面に接触していない 時、ＣＯＤカメラは像の暗色又は黒色部分な見ることになるが、指がプリズムの 面に触ると、指の汗が光をＣＯＤカメラに反射させ、カメラはそれらの部分を比 較的照度の高い領域として見る。これにより、プリズムに接触している隆起部と 接触していない溝との間でコントラストの高い像が生じる。カメラに取り込まれ た像は像デジタイザー３に送られ、そこで像は２５６ｘ２５θ列の画素としてメ モリーに記憶される。各画素は、対応する像の点における明度により決定される ｅビット値を有している。このメモリーは、コンピュータ２によるアクセス及び 変更が可能である。

第２図から明らかなように、プリズム５上の指拘束部１０は概ねＵ形で、指を横 方向及び縦方向に拘束するようになっており、それにより、指の回転に対抗する とともに、指拘束部材１０の湾曲部に指先が正確に位置する状態を確保するよう になっている。この指先の位置決めに関する特徴により、指の基部を基準点とし て使用することができ、図示の実施例では、処理対象である指紋の像がこの基準 点から所定距離（例えば４〜８ミ！ｊ）ｉ！ｉｌれたところから始まっている。

すなわち、同一人物が繰り返してこの装置を使用すると、その人の指は使用時毎 にプリズムに対して概ね同じ位置となる。後述する如く、コンピュータ２のソフ トウェアにより、像を調節してオリジナル位置からの一切の僅かなずれを補償す ることができる。

第３図は指拘束部の別の構造の平面図である。この場合は、前記指拘束部材１０ が３個の要素、すなわち、２個の側部拘束部１４．１５と回転可能な端部位置決 め拘束部１６とに置き換えられている。要素１６は間隔を隔てて３個の円弧状の 切り欠き、すなわち、太い市川の切り欠き１７と中程度の太さの市川の切り欠き １８と、細い市川の切り欠き１９とを有している。これらの円弧状の切り欠きの それぞれには爪を入れるための棚２０が設けである。要素１６は円筒状部材２１ に回転自在に取り付けてあり、部材２１に設けた楕円形の孔２２に、軸２３がそ の楕円２２の長軸に沿って横方向に移動できるように取り付けである。軸２３は ばね手段２４で付勢されている。マイクロスイッチ１１は上記楕円の長袖上に設 けである。以上から明らかなように、指を円弧状切り欠き１７．１８．１９のい ずれかに入れて前方へ押すと、マイクロスイッチ１１が作動するまで部材１６が 楕円の長袖の方向に移動して、正確な指装置状態となる。この方法で像取り込み をうまく行えない場合、使用者はエレメント１６を回転させて別の円弧状切り欠 きを利用することもできる。

像処理について説明すると、既に説明してように、像は６ビツト画素値の列とし て取り込まれる。それに続く演算は、演算能力が充分であれば、そのような゛６ ビツト画素について行うことができる。但し、図示の実施例では、この像は黒色 及び白色の２進像に変換される。その像では、各画素が単一ビットで表される。

この処理は２つの段階を追って実施され、第１段階では、８ビット画素の強度の 等化（イコライザー処理）を行い、第２段階で大域（グローバル）スレッシール ド化を行う。第１段階に関し、黒色プリズム面と指を乗せたプリズムの面との照 明が不均一であるために、像強度は像の各部で異なる。このような差の程度は、 指紋の隆起部の頻度よりも低い。この処理段階のために、それぞれ１８ｘ１６画 素の領域である５６個の領域に像が分割される。そのような各領域において、コ ンピュータのソフトウェアにより強度の最小値（Ｕ）と最大値（Ｖ）とを計算し 、この最小値及び最大値を１８ｘｌＢ画素の領域の中心点に与える。第４図はそ のような４個の領域が示されており、そこでは、ＭＬ　Ｍ２、Ｍ３、Ｍ４の値の 最大値が示しである。

像の各点に関し、点（ｘ＋　ｙ）で強度Ｐとすると、ソフトウェアにより、第４ 図に示す複数の点についての値の間での線形補間により概略最小値及び最大値が 計算される。次に、図示の点βついて最終的に記憶される強度がＳ　（Ｐ−Ｕ） ／　（Ｖ−Ｕ）　で計３Ｅされ、ソノ場合、Ｓは新たな値が整数として記憶され るこ七を許容するための適当な定数である。過剰値はＳに設定され、過小値はＯ に設定される。ソフトウェアは上記補間にアルゴリズムを利用し、それによると 、点（ｘ、ｙ）の近傍における（１−ｙ）（（１−ｘ）Ｍｘ＋ｘＭ２）＋ｙ（（ １−ｘ）Ｍ３＋ｘλ４４）。

最小値も類似した方法で計算される。

この計算は一見したところ複雑であるが、１回毎にスクラッチから計算する場合 に比べ、次の点についての値を修正するためにＸ及びｙの増分について処理を行 うことは単純である。

このようにして像を強化させた後、コンピュータソフトウェアにより第２段階、 すなわち、像の大域スレッシールド化を行う。平均強度は、隆起部及び溝を含む と分かっている領域（例えば像範囲の中央領域）から分かり、全体像はこの平均 についてスレッショルド化が行われる。

それにより生じた２進像はフンピユータの内部メモリーに記憶される。

第６図について説明すると、この図はコンピュータ２のソフトウェアのフローチ ャートを表しており、又、図から明らかなように、第６図の最初の３つの段階は 上述の段階に対応している。

次に第５図において、この図はコンピュータメモリーに記憶された像の範囲を略 図的に示しており、幅が１６０画素（約１．５センチメートル）で高さが１９２ 画素の範囲である（幅は指紋のＸ方向であり、高さは指紋の長さに沿うＸ方向で ある）。既に説明したように、この範囲は指紋の先端から一定の距離にあり、指 紋の相対的中央部に位置している。前述のような光学的装置が採用されているの で、この矩形の像は指紋の台形の範囲を表している。必要であれば、この歪みを 公知の技術で取り除（こともでき、その場合は、逆形状の台形への像のマツピン グを行い、メモリーに形成される像が元の指紋に対して均一な尺度となるように する。

第５図に示す範囲はコンピュータメモリーに記憶されるデータを表しており、そ の範囲は３０のセクタ１ンに更に分割され、各セフシロンの３２ｘ３２画素がＸ 方向の列として配置された８ビツト・バイトで構成される。

次の処理段階は、これら３０の領域のそれぞれについて、特徴値を見つけ出すこ とである。特徴値は、セフシロンにおける４ｘ４グリツドで得られる１６０点に ついて、線形自動相関方法を使用して、隆起部間の間隙の平均を取ることにより 見つけ出す。点は、セフシロンの土庄から８画素間隔で選ぶ。これをより詳細に 検討するために、第５図のセフシーン２５を例にとって以下に説明する。

第１点は頂部左角部とし、その点について調査される像の部分は、破線で示す如 ＜、１６ｘ１Ｂ画素部分２８である。部分２６などの各部分の寸法は、少なくと も２個（好ましくは少なくとも３個）の隆起部を包含するように選択し、整数項 のバイト幅である。部分２６のビットパターンは取り込まれて、Ｘ方向に続く後 続の１６×１６部分と比較される。そのような各部分は、先行する部分から１画 素だけずらすことができる。以上から明らかなように、部分２６が最初にそれ自 体と比較されると、非常に大きい相関関係が比較により見出される。距ｍＮが開 始点から増加するにつれて、相似性に乏しくなって相関値が低下し、隆ｄ″部が 溝と比較されるまで移動させられると、最小相関値に到達する。Ｘ方向において 後続の部分を更に比較すると、通常は、相関関係が次第に窩くなって最大値に到 達し、その後、相関値は再び低下する。図示の実施例では、２７の連続的な比較 が行われて、目標物の最小及び最大値が決定される。比較は適合画素を数えるこ とにより行うことができ、その処理は、対応するバイトの排他的論理和（Ｘオア ）処理を行って０の数を数えることにより実施できる。バイトでの０の数を見つ けるために、ルック・アップ表を使用する。

移動した距離に対して得られる相関値をプロットしたとすると、そのグラフの全 体的な形は減衰正弦波の形となる。実際には、ノイズのためにいくつかの小さい 最小値及び最大値が生じるので、得られた相関値をある二にわたって平滑化する 処理段階が必要になる。次に、所定量よりも大きい値の差をもって最大値が続く 最小値をめる。その最大値までの移動距離Ｎが、この特別の調査についての特徴 値とみなされる。以上から明らかなように、この値は部分２８の隆起部間の距離 に相当する。この方法では充分な信緘性を持って局部的な最大値を発見できない ことも時々あり、この場合、　「間隙発見不能」フラッグが設定され、この点は 、セフシロン２５全体の特徴値を測定するのには使用されない。

間隙幅を発見するための別の方法では、減衰正弦波で形成される形状を、相関関 係対距離データに適合させることが試みられる。最も接近した正弦波は、隆起部 間隙幅に関連する周波数を有している。

この方法は第５図でセクタタン２５の点として示され、かつ、８画素だけ離れた 残りの１６の点のそれぞれにつ（箇て、セフシロン２５で繰り返される。１個の セクタ。

ン２５について１６もの値が得られ、有効値として測定されたもの（すなわちフ ラッグが設定されなかったもの）が平均化されるか、又は中間値が得られ、それ により、セクシ習ン２５についての全体特性が与えられる。　「間隙発見不能」 フラッグが設定される都度、総数が増分化され、像範囲全体の処理が終了した段 階で、この総数を調べることができる。総数が所定値よりも大きい場合、この像 の処理は拒否され、コンピュータは使用者に対して指紋を取り直さなければなら ないとのメツセージを与える。

上述の処理は第６図の第４．５．６段階に対応する。

第６図から明らかなように、取り込まれたデータが適当であると見なされると、 それ以後の処理が行われる。それ以後の処理は、Ｘ方向での、８画素づつ離れた ２４の走査毎に隆起部総数を得るために行われる。これらの走査の最初の３個が 第５図に矢印２７で略図的に示されている。矢印２７は、指紋像の左側境界上の 点から延びている。その様な点のそれぞれにおいて、既に説明したように、１６ ｘ１６画素範囲が取られ、この場合、比較はＸ方向において行われるが、単一セ クションに対してだけ行われるのではなく、８画素間隔の複数の開始点を使用し て繰り返しながら、像全体に対して行われる。この方法では、複数の間隙値が、 ８画素間隔毎の点について線に沿って発見され、これらの間隙値の逆数が合計さ れ、定数によりスケール化を行って、その特定の線についての隆起部総数を表す 値が得られる。これに関し、線と述べているが、この術語は走査の位置及び方向 を示すために使用したものであり、調査は、線ではなく、前述のものと同じ（す なわち、範囲間の）相関方法により実施され、この方が信頼性が高いことが分か っている。その様な線は隆起部の切れ目を通過することもあり、従って、隆起部 総数にもれが生じることがあるが、相関関係による範囲全体のパターン比較によ り、その様な状況でも、隆起部間隔を設定することができる。Ｘ方向の相関関係 では、バイトのビットについての作業が必要である。これは、像データをバッフ ァーに記憶し、ビット方向回転を行ってそれを揃えることにより処理できる。

この処理の結果は、３０のセフシーンについて間隙特性を表す３０の値と、２４ の線に沿う隆起部総数を表す２４の値となる。５４の値は次にコンピュータ２か らカード読み取り／書き込み装置１へ出力され、そこでカードの磁気ストリップ に記録される 上述の如く、システムを利用して指紋像を取り込み、指紋の特性を５４の一連の 数として得て、照合システムで後に使用するためにカードに記録できる。

照合システムでも、第１図に示す機器が使用される。

カード保持者はカード読み取り／書き込み装置１ヘカードを入れ、装置１から５ ４の値が読み取れられてコンピュータの内部メモリーに記憶される。カード保持 者は次に自己の指を前述の如くプリズム上に置き、デジタイザーにより指紋が取 り込まれる。特に第７図から明らかなように、最初の６段階は、第６図の段階と 同じであり、そこに初期カード読み取りが加わる。この段階で指位置が調査され 、必要な場合には修正が行われる。指拘束部が設けであるが、指は、過去のコー ド化した場所と正確に同じ場所にないことがある。これを補償するために、コン ピュータは２５の識別範囲のリストを記憶している。

その各範囲は第５図に示す通りであり、その近傍の範囲に対して、あるものはＸ 方向に、又、あるものはＸ方向に、１．　６ｍ腸だけずれてい°る。これらの２ ５の範囲のそれぞれについて、３０の間隙特性値が発見される。各範囲について 、３０の特性値はカードの対応する値と比較され、像のセフシロン内の各比較に 、照合において発見された間隙の数による加重化が行われる。最良の比較を行え る範囲は、元のコード化中に調査された領域であるといえる。プリセット・スレ ッシールドを使用して行った比較が充分に密でない場合、照合は像不整合にため に失敗したといえる（無論、指紋が元のコード化された指紋に実際に対応しない ことが原因となる場合もある）。

比較は以下のアルゴリズムに従って行われる。

ΣＮ１ １＝１ このアルゴリズムにおいて、Ｅｔはセクションｉ（ｉは１から３０まで変化する ）についてのコード化値を表し、ｖｌはセフシーンｉについて発見された間隙値 を表し、Ｎ１はセクタｍ　７　ｉでの発見に成功した間隙の数を表す（ＮＩは１ ６以下である）。Ｅｌ−Ｖｌの絶対的な大きさが２画素以下であれば、この大き さはＯに設定される。

プログラムにより、どの像が元のコード化された像に最も近いかの判定に成功す ると、すなわち、この時点での像ができる限り正確に揃えられていると、その範 囲についての隆起部総数の更に２４の値が前述の如く発見され、それらがカード の対応する値と比較される。これらの総数の比較結果が所定限界内であれば、照 合がバスしたとされ、それ以外の場合、コンピュータは失敗との結果を出す。

種々のスレッシロルド及びレベル、限界が以上の説明において記載されているが 、無論、それらは、許容誤差と拒絶誤差の所望の割合に応じて、特定の用途毎に 調節できる。

更に、カメ・うは、コンピュータにより直接アクセスされるＣＣＤ列に置き換え ることもできる。

浄書（内容に変更なし） 浄ｉＦ（内容に変更なし） イエス バス 手続補正書（方式） ％式％ １　事件の表示 ＰＣＴ／ＧＢ８８１００８２４ ２　発明の名称 指紋分析 ３　補正をする者 〒１０５　７Ｇ１１５ビル８階 ６　補正の対象　特許法第１８４条の５第１項の規定による書面、委任状及びそ の訳文用線香 の第１頁、並びに、図面のＦｉｇ６．７７　補正の内容　別紙の通り 国際調査報告 ―・−−１１−″”＠ＰＣＴ／ＧＢ羽１００８２４国際調査報告 ＰＣＴ／ＧＢ　８Ｊｌ１１００Ｂ２４

Claims (29)

【特許請求の範囲】
1. １．指紋から特徴データを引き出す方法であって、指紋像のセクションを選択し 、該セクションにおいて任意の方向で隆起部間（又は溝間）の距離を測定するこ とを特徴とする方法。
2. ２．上記測定段階において、セクションの複数の特定の部分のそれぞれについて 、１個の上記部分のビットパターンを、上記方向において互いに続く別の部分の ビットバターンと比較して、１個の特定部分から、該特定部分と最大の相関関係 を有するビットバターンまで走査された距離に対応する値を得るようにする請求 項１記載の方法。
3. ３．各ビットバターンが２次元配列状態の画素である請求項２記載の方法。
4. ４．上記距離が、像の２次配列状態に配置された複数のセクションのそれぞれに ついて測定される請求項１、２又は３に記載の方法。
5. ５．上記距離が、像のある線上を延びる複数のセクションのそれぞれについて測 定され、測定された距離の関数としてその線での隆起部総数を表す値が発生させ られ、像の複数の線について方法が繰り返される請求項１ないし４のいずれか１ 項に記載の方法。
6. ６．指紋から特徴データを引き出すための装置であって、該装置が、指紋のある 範囲の像の表示を受け取るための手段と、像のあるセクションを調査して、その セクションの任意の方向における隆起部間（又は溝間）の距離を測定する調査手 段とを備えていることを特徴とする装置。
7. ７．上記調査手段が、そのセクションの部分のビットパターンを、上記方向にお ける像の次の部分のビットパターンと比較するように配置された手段を備え、そ れにより、その部分から、上記特定の部分と最大の相関関係を有する次の部分ま で走査された距離に対応する値を得るようにした請求項６記載の装置。
8. ８．上記走査手段が、上記セクションの複数の異なる部分についてその走査を繰 り返すように配置され、それにより、その１個のセクションについて複数の一連 の値を得るようになっている請求項７記載の装置。
9. ９．上記走査手段が、複数の走査領域に沿って上記方向において上記セクション を走査するように配置されている請求項８記載の装置。
10. １０．走査領域が重なるような走査である請求項９記載の装置。
11. １１．ビットパターンが上記セクションの２次元的部分のビットバターンてある 請求項７、８、９又は１０に記載の装置。
12. １２．上記表示を２進語として記憶するように配置されており、セクションが複 数の列及び行と見なされ、各列が一連の語として表され、走査方向が、行の方向 である請求項６ないし１１のいずれか１項に記載の装置。
13. １３．１個のセクション又は複数のセクションのグループについての特徴値を、 セクション又はグループの複数の異なる部分において得られた複数の距離値の平 均として測定するように構成された請求項６ないし１２のいずれか１項に記載の 装置。
14. １４．像の複数のセクションからなるグループについての特徴値を、セクション のグループの異なる部分において得られた複数の距離値の逆数の合計を測定する ことにより得るように構成されている請求項６ないし１３のいずれか１項に記載 の装置。
15. １５．指紋から特徴データを引き出すための装置であって、該装置が、指紋のあ る範囲の像の表示を受け取るための手段と、上記範囲の多数のセクションの内の 所定の複数のセクションを調査して、そのセクションの任意の方向における多数 の隆起部（又は溝）に関連する値を複数のセクションのそれぞれについて発生さ せるように配置された手段とを備え、上記多数のセクションが列及び行に配置さ れており、複数のそれらのセクションの全てが同じ列又は行にはないことを特徴 とする装置。
16. １６．上記セクションが上記範囲に隣接したセクションである請求項１５記載の 装置。
17. １７．上記任意の方向とは別の方向において上記範囲の複数の線のそれぞれにつ いて、該線に沿う隆起部（又は溝）の数に関連する値を発生させるように配置さ れた手段を備えている請求項１５又は１６記載の装置。
18. １８．上記調査手段が、像強度最大値間（又は最小値間）の距離の測定により、 隆起部（又は溝）の数に関連する値を測定するための手段を有している請求項１ ５、１６又は１７に記載の装置。
19. １９．上記測定手段が、上記部分のビットパターンを、任意の方向においてそれ に続く部分のビットパターンと比較し、それにより、両者間の最大相関関係を見 つけ出せるようにするための手段を備え、それらの相関関係部分の間の距離が最 大値間（又は量小値間）距離として記憶される請求項１８記載の装置。
20. ２０．上記発生手段が、線上の複数の部分のそれぞれについて上記距離を測定す るように配置されている手段を備えている請求項１７に従属する請求項１８又は １９に記載の装置。
21. ２１．上記測定手段が、上記各セクションの複数の部分のそれぞれについて上記 距離を測定するように配置されている請求項１８、１９又は２０に記載の装置。
22. ２２．セクション又は線についての値を、セクション又は線の複数の異なる部分 で得られた複数の距離値の平均として測定するように構成された請求項２０又は ２１に記載の装置。
23. ２３．セクション又は線についての値を、選択されたセクション又は線の複数の 異なる部分で得られた複数の距離値の逆数の合計として測定するように構成され た請求項２０、２１又は２２に記載の装置。
24. ２４．測定値を機械読み取り可能形態で照合装置に記録するための手段を備えた 請求項６ないし２３のいずれか１項に記載の装置。
25. ２５．照合装置から特徴値を蔑み取るための手段と、それらの値と指紋像から装 置により測定された値とを比較する手段と、その比較に基づいて合格又は拒絶信 号を発生させる手段とを備えた請求項６ないし２３のいずれか１項に記載の指紋 照合装置。
26. ２６．指紋の像の表示がデジタル表示であり、該デジタル表示において、画素が それぞれグレイ・スケール表示を提供する複数のビットにより表されている請求 項６ないし２５のいずれか１項に記載の装置。
27. ２７．装置が、その像を、距離又は総数の測定を行う前に単一ビットにより各画 素が表される像に変換するためのスレッショルド化手段を備えている請求項２６ 記載の装置。
28. ２８．画素値（ｐ）をその近傍の強度最小値（ｕ）及び最大値（ｖ）に応じて（ Ｐ−ｕ）／（ｖ−ｕ）の関数に従って調節することにより、像をその多ビット画 素形態で処理する手段を備えている請求項２５又は２６に記載の装置。
29. ２９．不連続状態に分離した複数の点での強度最大値及び最小値を測定するとと もに、それらの点の間の画素の値を調節するために、それらの最大値及び最小値 の間で値の補間を行うための手段を備えた請求項２８記載の装置。