JPH0248830U - - Google Patents

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JPH0248830U
JPH0248830U JP12706388U JP12706388U JPH0248830U JP H0248830 U JPH0248830 U JP H0248830U JP 12706388 U JP12706388 U JP 12706388U JP 12706388 U JP12706388 U JP 12706388U JP H0248830 U JPH0248830 U JP H0248830U
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light transmitting
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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の実施例の構成を示す図、第
２図は遮蔽部材と光フアイバの構造を拡大した図
、第３図は実験の結果の一例を示す図、第４図は
積分球とその積分球を用いた反射率測定のための
構成を示す図、第５図は標準反射材の構造および
拡散反射分布を示す図である。 図中の、１，２，３，４はＬＤ光源、５は光切
換器、６は光フアイバ、６ａは素線、７ａは入射
開口（第１の開口）、７ｂは反射開口（第３の開
口）、７ｃは受光開口（第２の開口）、８は遮蔽
部材、８ａは金属筒、８ｂ，９ａは硫酸バリユー
ム、９は標準反射材又は試料、９ｂは金属板、１
０は受光器、１１は指示装置、２０は白色光源、
２１は分光器、２２はコリメータレンズである。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 球状の内壁に囲まれた空洞を有し、第１、
    第２の開口７ａ，７ｃおよび試料を取り付け可能
    にされた第３の開口７ｂを備えて、前記第１の開
    口から前記試料に対して照射された光に対する前
    記試料からの反射光を拡散反射し、拡散反射され
    た拡散光を前記第２の開口より取り出すようにさ
    れた積分球において、 前記第１の開口を介して前記内壁を貫通して第
    ３の開口の近傍まで延在し、かつその端面から前
    記試料に光を照射するように配置された光伝送体
    ６を備え、前記球状の内壁の面積に対する前記第
    １の開口の面積の比を小さくできることを特徴と
    する光伝送体を備えた積分球。 (2) 空洞内の光伝送体の外側面を被覆するため
    の遮蔽部材８を設け、前記光伝送体の光が前記光
    伝送体の外側面から前記空洞内へ入るのを遮断す
    るようにしたことを特徴とする請求項１記載の光
    伝送体を備えた積分球。 (3) 球状の内壁に囲まれた空洞を有し、第１、
    第２，７ａ，７ｃの開口および試料を取り付け可
    能にされた第３の開口７ｂを備えて、前記第２の
    開口より照射された光を拡散反射し、拡散反射さ
    れた拡散光に対する前記試料からの反射光を第１
    の開口より取り出すようにされた積分球において
    、 前記第１の開口を介して前記内壁を貫通して第
    ３の開口の近傍まで延在し、その端面から前記拡
    散光に対する前記試料からの反射光を取り出すよ
    うに配置された光伝送体６と、前記空洞内の光伝
    送体の外側面を被覆するように設けられ、前記照
    射された光及び前記拡散光が前記光伝送体の外側
    面から前記光伝送体内へ入るのを遮断するための
    遮蔽部材８とを備えたことを特徴とする光伝送体
    を備えた積分球。 (4) 遮蔽部材８は、拡散反射性塗料８ｂである
    ことを特徴とする請求項２又は３記載の光伝送体
    を備えた積分球。
JP1988127063U 1988-09-30 1988-09-30 光伝送体を備えた積分球 Expired - Lifetime JPH0617054Y2 (ja)

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JPH0617054Y2 JPH0617054Y2 (ja) 1994-05-02

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002062189A (ja) * 2000-08-24 2002-02-28 Shimadzu Corp 分光測定用検出器及びこれを用いた積分球測定器および分光光度計
JP6492220B1 (ja) * 2018-09-26 2019-03-27 大塚電子株式会社 測定システムおよび測定方法

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JP2020051854A (ja) * 2018-09-26 2020-04-02 大塚電子株式会社 測定システムおよび測定方法

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JPH0617054Y2 (ja) 1994-05-02

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