JPH0247622A - Light beam scanner - Google Patents

Light beam scanner

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Publication number
JPH0247622A
JPH0247622A JP63198485A JP19848588A JPH0247622A JP H0247622 A JPH0247622 A JP H0247622A JP 63198485 A JP63198485 A JP 63198485A JP 19848588 A JP19848588 A JP 19848588A JP H0247622 A JPH0247622 A JP H0247622A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light beam
optical system
scanning
reference line
sub
Prior art date
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Pending
Application number
JP63198485A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Hiiro
宏之 日色
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP63198485A priority Critical patent/JPH0247622A/en
Publication of JPH0247622A publication Critical patent/JPH0247622A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To uniform the line pitch of a main scanning on a recording material by operating a moving means according to a position shift detected by a position shift detecting means, and providing a control means which performs control so that a light beam aligned with a reference line. CONSTITUTION:When a reflecting surface slants, the light beam does not pass on the reference line, but is deviated and moved. Consequently, the position shift can be detected from the degree of this deviation. The control means 16 outputs a signal to the moving means 44 according to the detected position shift to move a subscanning optical system 26. When the subscanning optical system 26 is moved, a light beam passing through the subscanning optical system 26 is moved in a subscanning direction in parallel, consequently, the light beam is aligned with the reference line. Consequently, the fitting of the optical system for surface tilt correction is facilitated, and the pitch of scanning track lines of light beams by the respective reflecting surfaces of a polygon mirror is uniformed.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ビーム走査装置に係り、特に複数の反射面を
備えた回転多面鏡によって反射される光ビームによって
情報を読取る又は記録する光ビーム走査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a light beam scanning device, and particularly to a light beam that reads or records information by a light beam reflected by a rotating polygon mirror having a plurality of reflecting surfaces. Relating to a scanning device.

〔従来技術〕[Prior art]

一般にレーザから照射された光ビームを画像へ照射し、
その透過又は反射光を読取る光ビーム装置あるいは、光
ビームを記録材料へ照射し、画像を記録する光ビーム走
査装置では、レーザからの記録用光ビームは回転多面鏡
(ポリゴンミラー)等で構成される走査光学系により、
照射方向が連続的に偏向されるようになっている。なす
わち、記録用光ビームのポリゴンミラーへの入射角がポ
リゴンミラーの回転により変更され反射方向を偏向して
いる。ポリゴンミラーによって反射された光ビームは、
例えば光ビーム走査装置の場合、固定された記録ステー
ジ上へ配置されている記録媒体へと照射され、画像が記
録される。この記録媒体としては被照射部の記録層が例
えば融解又は蒸発してその透過率が変化するものが適用
されており、従来のハロゲン化銀感光材料等のように、
画像を記録した後現像処理等をしなくても、書込み(光
ビームの照射)と同時に記録されている状態を確認する
ことができる(特開昭54−153025号公報参照)
Generally, a light beam emitted from a laser is irradiated onto the image,
In a light beam device that reads the transmitted or reflected light, or in a light beam scanning device that irradiates a recording material with a light beam and records an image, the recording light beam from a laser is composed of a rotating polygon mirror, etc. The scanning optical system allows
The irradiation direction is continuously deflected. That is, the angle of incidence of the recording light beam on the polygon mirror is changed by the rotation of the polygon mirror, thereby deflecting the direction of reflection. The light beam reflected by the polygon mirror is
For example, in the case of a light beam scanning device, a recording medium placed on a fixed recording stage is irradiated with light, and an image is recorded. This recording medium is one in which the recording layer in the irradiated area changes its transmittance by melting or evaporating, for example, and like conventional silver halide photosensitive materials,
It is possible to check the recorded state at the same time as writing (light beam irradiation) without performing any development processing after recording an image (see Japanese Patent Laid-Open No. 153025/1983).
.

ところが、このような構造ではポリゴンミラーの反射面
の精度が主走査ラインピッチに大きく影響し、所謂面倒
れが生じていると、記録材料に記録される主走査ライン
のピッチが不均一となり、画像に乱れが生じることにな
る。また、ポリゴンミラーは機械的に回転させているた
め、回転駆動系の寸法誤差や経時的な摩耗により反射面
が傾くことも面倒れの要因となっている。
However, in such a structure, the accuracy of the polygon mirror's reflective surface greatly affects the main scanning line pitch, and if so-called surface tilt occurs, the pitch of the main scanning lines recorded on the recording material becomes uneven, resulting in the image being distorted. This will cause a disturbance. Furthermore, since the polygon mirror is mechanically rotated, the reflective surface may become tilted due to dimensional errors in the rotational drive system or wear over time, which also causes surface inclination.

これを解消するため、反射面によって反射される光ビー
ムを光学系により補正してポリゴンミラーの各反射面に
よる走査線の軌跡を一致させる(面倒れ補正)ことが提
案されている(特公昭52−28666号、実開昭53
−91845号公報参照)。なお、上記公報に記載され
た技術を実施する場合、高品質が要求され製作が困難な
短焦点レンズ(例えばトーリックレンズ)が必要とされ
るため、本出願人は特公昭60−52409号公報にお
いて、比較的安価である長い焦点距離の円柱レンズを用
いることができることを開示している。これらの公報に
よれば、ポリゴンミラーと記録材料との間に光学系を介
在させて前記面倒れを解消している。
In order to solve this problem, it has been proposed to correct the light beam reflected by the reflecting surfaces using an optical system so that the trajectories of the scanning lines from each reflecting surface of the polygon mirror match (face tilt correction) -28666, Utility Model 53
(Refer to Publication No.-91845). In addition, when implementing the technology described in the above-mentioned publication, a short focus lens (for example, a toric lens) that requires high quality and is difficult to manufacture is required, so the present applicant has proposed the technique described in Japanese Patent Publication No. 60-52409. disclose that long focal length cylindrical lenses can be used that are relatively inexpensive. According to these publications, an optical system is interposed between the polygon mirror and the recording material to eliminate the surface tilt.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、上記面倒れ補正のためにポリゴンミラー
と記録材料との間に光学系を配設する場合、面倒れ量(
偏向角度範囲)がそれぞれの反射面によって異なるにも
拘らず光学系の位置は固定であるため、全ての反射面の
面倒れが補正できるようにしなければならない。このた
め、光学系の取り付けに際しては、高精度が要求され、
組み付けがめんどうであると共に部品点数が多く装置自
体が大型となるという問題点があった。特に、収束光学
系の開口数が大きく、収束されたレーザのスポット系が
数μmという精度を要求される場合は、上記問題が顕著
に生じる。
However, when an optical system is installed between the polygon mirror and the recording material to correct the surface tilt, the amount of surface tilt (
Since the position of the optical system is fixed even though the deflection angle range differs depending on each reflecting surface, it is necessary to correct the surface tilt of all reflecting surfaces. For this reason, high precision is required when installing the optical system.
There are problems in that it is troublesome to assemble, has a large number of parts, and the device itself is large. Particularly, when the numerical aperture of the converging optical system is large and the converged laser spot system is required to have an accuracy of several micrometers, the above-mentioned problem occurs conspicuously.

本発明は上記事実を考慮し、面倒れ補正のための光学系
の取り付けが容易で、かつポリゴンミラーの各反射面に
よる光ビームの走査軌跡をほぼ直線とすることができ、
記録材料への主走査ラインピッチを均一とすることがで
きるビーム走査装置を得ることが目的である。
In consideration of the above facts, the present invention allows easy installation of an optical system for surface tilt correction, and allows the scanning locus of the light beam by each reflecting surface of the polygon mirror to be approximately straight.
It is an object of the present invention to obtain a beam scanning device that can make the main scanning line pitch on a recording material uniform.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明に係る光ビーム走査装置は、光ビームを主走査方
向に偏向させる偏向手段と、光ビームの照射軌跡上に配
設され光ビームを副走査方向へ偏向させる副走査光学系
と、光ビームが副走査方向へ平行移動するようにこの副
走査光学系を移動させる移動手段と、前記副走査光学系
を通過した光ビームを分岐させる分岐手段と、前記主走
査の移動軌跡と対応する基準線と前記光ビームの実際の
移動軌跡との位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、
前記位置ずれ検出手段によって検出された位置ずれに基
づいて前記移動手段を作動させ前記光ビームを基準線に
一致させるように制御する制御手段と、を有している。
A light beam scanning device according to the present invention includes: a deflecting means for deflecting a light beam in the main scanning direction; a sub-scanning optical system disposed on the irradiation locus of the light beam and deflecting the light beam in the sub-scanning direction; a moving means for moving the sub-scanning optical system so as to move in parallel in the sub-scanning direction, a branching means for branching the light beam that has passed through the sub-scanning optical system, and a reference line corresponding to the movement locus of the main scanning. positional deviation detection means for detecting a positional deviation between the light beam and the actual movement trajectory of the light beam;
and control means for operating the moving means based on the positional deviation detected by the positional deviation detection means and controlling the light beam to match the reference line.

〔作用〕[Effect]

本発明では、光ビームの照射軌跡上に副走査光学系とし
て、例えば無限焦点系のアフォーカル光学系を配設し、
このアフォーカル光学系を通過した光ビームを位置ずれ
検出手段へ照射させる。位置ずれ検出手段では、光ビー
ムの主走査方向と一致する基準線と前記光ビームの実際
の移動軌跡との位置ずれを検出しており、主走査が精度
よくなされている場合は、光ビームはこの基準線上を通
過するので、位置ずれはないと判断できる。一方、反射
面において面倒れが生じていると、光ビームは基準線上
を通過せず、どちらかに偏って移動されることになる。
In the present invention, for example, an afocal optical system of an infinite focus system is disposed as a sub-scanning optical system on the irradiation locus of the light beam,
The light beam that has passed through this afocal optical system is irradiated onto the positional deviation detection means. The positional deviation detection means detects the positional deviation between the reference line that coincides with the main scanning direction of the light beam and the actual movement locus of the light beam, and if the main scanning is performed with high accuracy, the light beam Since it passes on this reference line, it can be determined that there is no positional shift. On the other hand, if the reflective surface is tilted, the light beam will not pass over the reference line, but will be biased to one side.

このため、この偏りの度合いにより、位置ずれを検出す
ることができる。
Therefore, positional deviation can be detected based on the degree of this bias.

制御手段では、この検出された位置ずれに基づいて移動
手段へ信号を出力し、副走査光学系を移動させる。副走
査光学系が移動されると、この副走査光学系を通過する
光ビームは副走査方向へ平行移動され、この結果光ビー
ムは基準線と一致する。
The control means outputs a signal to the moving means based on the detected positional deviation to move the sub-scanning optical system. When the sub-scanning optical system is moved, the light beam passing through the sub-scanning optical system is translated in parallel in the sub-scanning direction, so that the light beam coincides with the reference line.

これを各反射面毎に行うことにより、光ビームは常にほ
ぼ基準線上を通過することとなり、面倒れ補正がなされ
る。
By performing this for each reflecting surface, the light beam always passes approximately on the reference line, and the surface tilt is corrected.

このように、反射面による面倒れの度合いに応じて副走
査光学系を移動させるので、製作が困難な固定タイプの
光学系を用いる必要がなく、容易に組み付けることがで
きる。
In this way, since the sub-scanning optical system is moved according to the degree of inclination of the reflective surface, there is no need to use a fixed type optical system that is difficult to manufacture, and it can be easily assembled.

なお、移動手段としては、電圧等の電気量を機械量に変
化させて表面を微動させることができる圧電素子が適用
できる。材質としてはチタン酸バリウムやその同類であ
るPZT (クチンジルコン酸鉛)等の機械的動作に対
して丈夫な一部の圧電物質が好ましい。
Note that as the moving means, a piezoelectric element that can change an electrical quantity such as a voltage into a mechanical quantity to slightly move the surface can be applied. Preferred materials include some piezoelectric materials that are durable against mechanical action, such as barium titanate and its analog PZT (lead zirconate).

〔実施例〕〔Example〕

本発明は、光ビームを用いた読取りあるいは記録装置の
いずれに適用しても内容に変わりはないので、以下記録
装置を用いて説明する。
Since the content of the present invention remains the same whether it is applied to a reading device using a light beam or a recording device, the following description will be made using a recording device.

第1図には本実施例に係る光ビーム走査装置10の概略
図が示されている。本実施例では光ビーム照射用レーザ
が2個設けられ、一方は書込み用レーザ12、他方は読
み取り用レーデ14として適用されている。これらのレ
ーザ12.14は並設され、制御部16からの信号に応
じて光ビーム(第1図1点鎖線Bm)が照射されるよう
になっている。書込み用レーザ12から照射される書込
み用光ビームBmwは光変調器18へ供給されることに
より、変調され、グイクロイックミラー20を通過して
回転多面鏡であるポリゴンミラー22へと照射されるよ
うになっている。一方、読み取り用光ビームBmrはミ
ラー24によって前記グイクロイックミラー20方向へ
反射され、このグイクロイックミラー20により前記書
込み用光ビームBmwと光軸が一致されるようになって
いる。従って、ポリゴンミラー22へは書込み用光ビー
ムBmwと読み取り用光ビームBmrとが合成された合
成光ビームBmが副走査光学系であるレンズ26を介し
て照射されることになる。このレンズ26は、本実施例
では望遠鏡等の集光力のない無限焦点系であるアフォー
カル系を構成している。
FIG. 1 shows a schematic diagram of a light beam scanning device 10 according to this embodiment. In this embodiment, two lasers for light beam irradiation are provided, one of which is used as the writing laser 12 and the other as the reading radar 14. These lasers 12 and 14 are arranged in parallel and emit a light beam (indicated by a dashed line Bm in FIG. 1) in response to a signal from the control section 16. The writing light beam Bmw emitted from the writing laser 12 is supplied to the optical modulator 18, where it is modulated, passes through the gicroic mirror 20, and is irradiated onto the polygon mirror 22, which is a rotating polygonal mirror. It looks like this. On the other hand, the reading light beam Bmr is reflected by the mirror 24 in the direction of the guichroic mirror 20, and the optical axis of the reading light beam Bmr is made to coincide with the writing light beam Bmw by the guichroic mirror 20. Therefore, the polygon mirror 22 is irradiated with a combined light beam Bm, which is a combination of the writing light beam Bmw and the reading light beam Bmr, through the lens 26, which is a sub-scanning optical system. In this embodiment, this lens 26 constitutes an afocal system, which is an infinite focal system such as a telescope that does not have a light-gathering power.

ポリゴンミラー22は複数の反射面22Aを有しており
、図示しない駆動モータの回転により回転軸23を介し
て回転されるようになっている。
The polygon mirror 22 has a plurality of reflective surfaces 22A, and is rotated via a rotation shaft 23 by rotation of a drive motor (not shown).

このポリゴンミラー22の回転によって、所定の角度範
囲で入射される合成光ビームBmの入射角を連続的に変
更させる役目を有している。
The rotation of the polygon mirror 22 serves to continuously change the angle of incidence of the composite light beam Bm incident within a predetermined angle range.

ポリゴンミラー22から反射された合成光ビームBmは
、光学系27を介してビームスプリッタ28によって、
前記読み取り用光ビームBmrのみが反射され、ビーム
スプリッタ28を通過する書込み用光ビームBmwとは
分離されるようになっている。
The combined light beam Bm reflected from the polygon mirror 22 passes through the optical system 27 and is split by the beam splitter 28.
Only the reading light beam Bmr is reflected and separated from the writing light beam Bmw passing through the beam splitter 28.

レンズ26は、内ホルダ42に保持されており、この内
ホルダ42は、その第1図左右方向(副走査方向)に圧
電素子44を介して外ホルダ46に保持されている。圧
電素子44は所定の電圧を加えることにより、その表面
が微動して内ホルダ42と外ホルダ46との相対位置を
変更させることができるようになっている。これにより
、レンズ26は角度が変更され、入射される光ビームを
移動させることができる。
The lens 26 is held by an inner holder 42, and this inner holder 42 is held by an outer holder 46 via a piezoelectric element 44 in the left-right direction in FIG. 1 (sub-scanning direction). By applying a predetermined voltage to the piezoelectric element 44, the surface of the piezoelectric element 44 can be slightly moved to change the relative position between the inner holder 42 and the outer holder 46. Thereby, the angle of the lens 26 is changed, and the incident light beam can be moved.

前記ビームスプリッタ28を通過した書込み用光ビーム
Bmwは収束光学系38を介して、記録ズテージ40に
配置された前記ロール状の記録媒体36の記録面上へ照
射して主走査を行なうようになっている。記録媒体36
は一定速度で一方のローラから他方のローラへと巻き取
られており、これにより副走査が行われている。なお、
本実施例では記録媒体36をロール状のフィルムとした
が、シート状の記録媒体36に複数の画像を記録する所
謂マイクロフィッシュであってもよい。
The writing light beam Bmw that has passed through the beam splitter 28 is irradiated onto the recording surface of the roll-shaped recording medium 36 placed in the recording stage 40 via a converging optical system 38 to perform main scanning. ing. Recording medium 36
is wound up from one roller to the other roller at a constant speed, thereby performing sub-scanning. In addition,
In this embodiment, the recording medium 36 is a roll-shaped film, but it may be a so-called microfiche that records a plurality of images on the sheet-shaped recording medium 36.

一方、ビームスプリッタ28によって書込み用光ビーム
Bmwと分離された読み取り用光ビームBmrは収束光
学系30によって収束され、位置ずれ検出手段である光
検出センサ32へ照射されるようになっている。光検出
センサ32は、光電変換素子34が2列(以下第1図紙
面左側の列を第1列34A1右側の列を第2列34Bと
いう)に整列された状態で構成されており、読み取り用
光ビームBmrは前記ポリゴンミラー22による走査に
応じて第1図縦方向く上側から下側)へ順次走査される
ようになっている。
On the other hand, the reading light beam Bmr separated from the writing light beam Bmw by the beam splitter 28 is converged by a converging optical system 30, and is irradiated onto a photodetection sensor 32, which is a positional deviation detection means. The photodetection sensor 32 is configured with photoelectric conversion elements 34 arranged in two rows (hereinafter, the row on the left side of the paper in Figure 1 will be referred to as the first row 34A, and the row on the right side will be referred to as the second row 34B). The light beam Bmr is sequentially scanned in accordance with the scanning by the polygon mirror 22 from the top to the bottom in the vertical direction in FIG.

第1列34Aと第2列34Bとの間は基準線BSとされ
、読み取り用光ビームBmrの正規の走査位置を示して
いる。すなわち、この基準線BS上を読み取り用光ビー
ムBmrが通過している場合は、第1列34A及び第2
列34Bのそれぞれ対応する光電変換素子34の出力値
が同一とされるようになっている。また、実際の読み取
り用光ビームBmrがこの基準線からずれている場合は
(例えば第1図P線)、ずれた側の列(第1列34A)
の光電変換素子34の出力値の方が大きくなり、光電変
換素子34の出力値が互いに異なることになる。
The line between the first column 34A and the second column 34B is a reference line BS, which indicates the normal scanning position of the reading light beam Bmr. That is, when the reading light beam Bmr passes on this reference line BS, the first row 34A and the second row
The output values of the respective corresponding photoelectric conversion elements 34 in the column 34B are made to be the same. In addition, if the actual reading light beam Bmr deviates from this reference line (for example, line P in FIG. 1), the column on the deviated side (first column 34A)
The output value of the photoelectric conversion element 34 becomes larger, and the output values of the photoelectric conversion element 34 are different from each other.

第1列34Aの光電変換素子34の出力値は、作動増幅
器48のプラス側入力端子へ供給され、第2列34Bの
光電変換素子34の出力値は、作動増幅器48のマイナ
ス側入力端子へ供給されるようになっている。これによ
り、作動増幅器48の出力端子からは、第1列34Aと
第2列34Bとの出力差に応じた電気信号が出力される
ことになる。この作動増幅器48の出力端子は、制御部
16へ接続されている。
The output value of the photoelectric conversion element 34 in the first row 34A is supplied to the positive side input terminal of the operational amplifier 48, and the output value of the photoelectric conversion element 34 in the second row 34B is supplied to the negative side input terminal of the operational amplifier 48. It is now possible to do so. As a result, the output terminal of the operational amplifier 48 outputs an electric signal corresponding to the output difference between the first column 34A and the second column 34B. The output terminal of this operational amplifier 48 is connected to the control section 16.

制御部16は、CPU50、RAM52、ROM54、
人出力ポート56及びこれらを接続するデータバスやコ
ントロールバス等のバス58で構成されたマイクロコン
ピュータ60を備えており、入出力ポート56には、A
/D変換器62を介して前記作動増幅器48が接続され
、ドライバ64を介して書込み用レーザ12が接続され
、ドライバ66を介して読み取り用レーザ14が接続さ
れている。
The control unit 16 includes a CPU 50, a RAM 52, a ROM 54,
The microcomputer 60 is equipped with a human output port 56 and a bus 58 such as a data bus or a control bus that connects these ports.
The operational amplifier 48 is connected through a /D converter 62, the writing laser 12 is connected through a driver 64, and the reading laser 14 is connected through a driver 66.

マイクロコンピュータ60のRAM52には、前記作動
増幅器48からの出力電気信号と基準線BSに対する走
査線のずれ量との関係を示す特性マツプ(第2図参照)
が記憶されており、このマツプによって作動増幅器4・
8からの出力電気信号に応じてずれ量が定められる。ま
た、CPU50では、このずれ量から前記レンズ26の
移動量が演算されるようになっている。
The RAM 52 of the microcomputer 60 stores a characteristic map (see FIG. 2) showing the relationship between the output electrical signal from the operational amplifier 48 and the amount of deviation of the scanning line with respect to the reference line BS.
is memorized, and this map determines the operational amplifier 4.
The amount of deviation is determined according to the output electrical signal from 8. Further, the CPU 50 calculates the amount of movement of the lens 26 from this amount of deviation.

また、人出力ボート56にはドライバ68を介して圧電
素子44が接続され、CPU50によって演算された移
動量に応じた電圧値が圧電素子44へ供給されるように
なっている。
Further, a piezoelectric element 44 is connected to the human output boat 56 via a driver 68, and a voltage value corresponding to the amount of movement calculated by the CPU 50 is supplied to the piezoelectric element 44.

以下に本実施例の作用を第3図のフローチャートに従い
説明する。
The operation of this embodiment will be explained below with reference to the flowchart of FIG.

まず、ステップ100でポリゴンミラー22を回転させ
、ステップ102へ移行して読み取り用レーザ14から
読み取り用光ビームBmrの照射が開始されると、この
読み取り用光ビームBmrはミラー24、グイクロイッ
クミラー20及びレンズ26を介してポリゴンミラー2
2へ入射される。ポリゴンミラー22は制御部16から
の信号によって等速度回転しており、これにより読み取
り用光ビームBmrは所定の範囲内で入射角が変更され
、これに応じて反射光の方向が偏向される。
First, in step 100, the polygon mirror 22 is rotated, and the process proceeds to step 102, where the irradiation of the reading light beam Bmr from the reading laser 14 is started. 20 and the polygon mirror 2 via the lens 26
2. The polygon mirror 22 is rotated at a constant speed by a signal from the control section 16, so that the angle of incidence of the reading light beam Bmr is changed within a predetermined range, and the direction of the reflected light is deflected accordingly.

この反射光は光学系27、ビームスプリッタ28及び収
束光学系30を介して光検出センサ32へと至る。光学
系27はなくてもよい。光検出センサ32では、光電変
換素子34 (第1図)で前記読み取り用光ビームBm
rの受光が開始されると(ステップ104)、制御部1
6ではこの受光時点から所定時間後が書込み(画像記録
)開始時期であると判断する(ステップ106)。
This reflected light reaches a photodetection sensor 32 via an optical system 27, a beam splitter 28, and a converging optical system 30. The optical system 27 may be omitted. In the photodetection sensor 32, the photoelectric conversion element 34 (FIG. 1) converts the reading light beam Bm
When light reception of r starts (step 104), the control unit 1
In step 6, it is determined that writing (image recording) is to be started after a predetermined time from the time of light reception (step 106).

ここで、画像記録タイミングとなると(ポリゴンミラー
22の位置が主走査開始位置となる)、ステップ108
へ移行して記録媒体3Gが一定速度で移動を開始し、次
いでステップ112で書込み用レーザ12から書込み用
光ビームBmwの照射が開始される。書込み用光ビーム
Bmwは光変調器18によって変調された後、グイクロ
イックミラー20を通過してポリゴンミラー22へ入射
される。ポリゴンミラー22から反射される光ビームは
前記書込み用と読み取り用の光ビームの合成光ビームB
mとされているが、ポリゴンミラー22の下流に設置さ
れたビームスプリッタ28によってこれらは分離され、
書込み用光ビームF3 m wのみが直進して記録媒体
36上へ照射され、主走査がなされる。
Here, when the image recording timing comes (the position of the polygon mirror 22 becomes the main scanning start position), step 108
Then, in step 112, the recording medium 3G starts moving at a constant speed, and then, in step 112, the writing laser 12 starts irradiating the writing light beam Bmw. After the writing light beam Bmw is modulated by the optical modulator 18, it passes through the gicroic mirror 20 and enters the polygon mirror 22. The light beam reflected from the polygon mirror 22 is a composite light beam B of the writing and reading light beams.
m, but these are separated by a beam splitter 28 installed downstream of the polygon mirror 22,
Only the writing light beam F3mw travels straight and is irradiated onto the recording medium 36 to perform main scanning.

一方、読み取り用光ビームBmrは、上記主走査に対応
して、光電変換素子34に沿って走査される。この場合
基準線BS上を通過している場合は、現在の走査点の第
1図左右の光電変換素子の出力値は同一であり、次のス
テップ114によって読込まれる作動増幅器からの出力
は0となる。
On the other hand, the reading light beam Bmr is scanned along the photoelectric conversion element 34 in correspondence with the main scanning. In this case, if it passes over the reference line BS, the output values of the left and right photoelectric conversion elements in FIG. 1 at the current scanning point are the same, and the output from the operational amplifier read in the next step 114 is 0. becomes.

これにより、記録媒体36への主走査が正確に行われて
いることが判断できる。
Thereby, it can be determined that main scanning to the recording medium 36 is being performed accurately.

ここで、反射面22Aによって反射された光ビームは、
この反射面22Aの傾きや反射面22Aの粗さ等により
全ての反射面22Aによる反射光ビームが同一の走査軌
跡とはならず、反射面22Aによっては、副走査方向へ
ずれることがある。
Here, the light beam reflected by the reflective surface 22A is
Due to the inclination of the reflective surface 22A, the roughness of the reflective surface 22A, etc., the light beams reflected by all the reflective surfaces 22A do not follow the same scanning locus, and depending on the reflective surface 22A, they may shift in the sub-scanning direction.

本実施例では、この位置ずれを作動増幅器48の出力値
に応じて定めている。すなわち、読み取り用光ビームが
基準線BSに対してずれが生じていると、その走査線の
第1図左右の光電変換素子34の受光量が異なる。例え
ば第1図想線上が実際の走査軌跡線であると、第1列3
4Aの光電変換素子34の出力が第2列の光電変換素子
34の出力よりも多くなり、作動増幅器48のプラス側
入力端子とマイナス側入力端子とへ供給される出力値が
異なる。作動増幅器48からは、この出力差に応じた値
が出力される。
In this embodiment, this positional shift is determined according to the output value of the operational amplifier 48. That is, if the reading light beam deviates from the reference line BS, the amounts of light received by the photoelectric conversion elements 34 on the left and right sides of the scanning line in FIG. 1 differ. For example, if the first imaginary line is the actual scanning trajectory line, the first row 3
The output of the 4A photoelectric conversion element 34 is greater than the output of the second row photoelectric conversion element 34, and the output values supplied to the positive input terminal and the negative input terminal of the operational amplifier 48 are different. The operational amplifier 48 outputs a value corresponding to this output difference.

作動増幅器48からの出力電気信号は、A/D変換器6
2により、A/D変換され入出力ポート56へ供給され
る(ステップ114)。ここで、CPU50では、RA
M52に記憶された作動増幅器48からの出力電気信号
と基準線に対する走査線のずれ量との関係を示す特性マ
ツプ(第2図参照)によって、ずれ量を定める(ステッ
プ116)。なお、この場合前述のように作動増幅器4
8の出力が0の場合はずれ量が0となる。次にステップ
118において、このずれ量に応じてP線を基準線BS
上へ補正するためのレンズ26の移動量を演算し、この
演算結果に基づいて圧電素子44へ所定の電圧を印加す
る(ステップ120)。
The output electrical signal from the operational amplifier 48 is sent to the A/D converter 6.
2, the signal is A/D converted and supplied to the input/output port 56 (step 114). Here, in the CPU 50, RA
The amount of deviation is determined based on a characteristic map (see FIG. 2) showing the relationship between the output electrical signal from the operational amplifier 48 stored in M52 and the amount of deviation of the scanning line from the reference line (step 116). In this case, as mentioned above, the operational amplifier 4
When the output of 8 is 0, the deviation amount is 0. Next, in step 118, the P line is changed to the reference line BS according to this amount of deviation.
The amount of movement of the lens 26 for upward correction is calculated, and a predetermined voltage is applied to the piezoelectric element 44 based on the calculation result (step 120).

これにより、内ホルダ42と外ホルダ46との相対位置
が偏向され、レンズ26は第1図想像線の如(、下方へ
位置され、グイクロイックミラー20から照射される光
ビームを第1図想像線の如く、移動させる。この光ビー
ムがポリゴンミラー22で反射されると光学系27の入
射位置で適正光ビームと一致させることができる。なお
、ずれ量が0の場合は、印加電圧を0と成り、実際には
レンズ26は移動されない。
As a result, the relative positions of the inner holder 42 and the outer holder 46 are deflected, and the lens 26 is positioned downward as shown in the imaginary line in FIG. The light beam is moved as shown in the imaginary line. When this light beam is reflected by the polygon mirror 22, it can be made to coincide with the proper light beam at the incident position of the optical system 27. Note that if the amount of deviation is 0, the applied voltage is 0, and the lens 26 is not actually moved.

次のステップ122では、1画像の記録が終了したか否
かが判断され、終了していない場合は、ステップ114
へ移行して以下ステップ114.116.118.12
0を繰り返す。また、1画像の記録が終了した場合は、
このルーチンは終了する。
In the next step 122, it is determined whether recording of one image has been completed, and if not, step 114
Move to the following steps 114.116.118.12
Repeat 0. Also, when recording of one image is finished,
This routine ends.

このように、各反射面22Aの面倒れを常に補正してい
るので、記録媒体36へ記録される主走査軌跡が副走査
方向へ変移することなく、画像むらを防止することがで
きる。また、レンズ26を移動させて面倒れ補正を行う
ようにしたので、製作が困難で高コストの固定タイプの
レンズを使用する必要がなく、組み付は性が向上する。
In this way, since the surface tilt of each reflective surface 22A is constantly corrected, the main scanning locus recorded on the recording medium 36 does not shift in the sub-scanning direction, and image unevenness can be prevented. Further, since the lens 26 is moved to correct the surface tilt, there is no need to use a fixed type lens that is difficult to manufacture and expensive, and ease of assembly is improved.

また、部品点数も少なくて済み、装置自体をコンパクト
にすることができる。
Furthermore, the number of parts can be reduced, and the device itself can be made more compact.

なお、本実施例では、レンズ26をポリゴンミラー22
の上流へ配設したが、ポリゴンミラー22の下流側へ配
設してもよい。ただし、ポリゴンミラー22の下流側へ
配設した場合は、光ビームが主走査方向へ移動するので
、その移動範囲に亘る大型のレンズが必要となる。
In this embodiment, the lens 26 is replaced by the polygon mirror 22.
Although it is arranged upstream of the polygon mirror 22, it may be arranged downstream of the polygon mirror 22. However, when disposed downstream of the polygon mirror 22, the light beam moves in the main scanning direction, so a large lens that covers the movement range is required.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した如く本発明に係る光ビーム走査装置は、面
倒れ補正のための光学系の取り付けが容易で、かつポリ
ゴンミラーの各反射面による光ビームの走査軌跡ライン
ピッチを均一とすることができるという優れた効果を有
する。
As explained above, in the light beam scanning device according to the present invention, the optical system for surface tilt correction can be easily installed, and the line pitch of the scanning locus of the light beam by each reflecting surface of the polygon mirror can be made uniform. It has this excellent effect.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本実施例に係る光ビーム記録装置の概略図、第
2図は作動増幅器からの出力電気信号と基準線に対する
走査線のずれ量との関係を示す特性マツプ、第3図は制
御フローチャートである。 10・・・光ビーム走査装置、 12・・・書込用レーザ、 14・・・読み取り用レーザ、 16・・・制御部、 22・ 26 ・ 34 ・ 36・ 44 ・ ・ポリゴンミラー ・レンズ、 ・光電変換素子、 ・記録媒体、 ・圧電素子。
Fig. 1 is a schematic diagram of the optical beam recording device according to this embodiment, Fig. 2 is a characteristic map showing the relationship between the output electrical signal from the operational amplifier and the amount of deviation of the scanning line with respect to the reference line, and Fig. 3 is a control map. It is a flowchart. 10... Light beam scanning device, 12... Writing laser, 14... Reading laser, 16... Control unit, 22, 26, 34, 36, 44, polygon mirror lens, Photoelectric conversion element, ・Recording medium, ・Piezoelectric element.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)光ビームを主走査方向に偏向させる偏向手段と、
光ビームの照射軌跡上に配設され光ビームを副走査方向
へ偏向させる副走査光学系と、光ビームが副走査方向へ
平行移動するようにこの副走査光学系を移動させる移動
手段と、前記副走査光学系を通過した光ビームを分岐さ
せる分岐手段と、前記主走査の移動軌跡と対応する基準
線と前記光ビームの実際の移動軌跡との位置ずれを検出
する位置ずれ検出手段と、前記位置ずれ検出手段によっ
て検出された位置ずれに基づいて前記移動手段を作動さ
せ前記光ビームを基準線に一致させるように制御する制
御手段と、を有する光ビーム走査装置。
(1) Deflection means for deflecting the light beam in the main scanning direction;
a sub-scanning optical system disposed on the irradiation locus of the light beam and deflecting the light beam in the sub-scanning direction; a moving means for moving the sub-scanning optical system so that the light beam moves in parallel in the sub-scanning direction; a branching means for branching the light beam that has passed through the sub-scanning optical system; a positional deviation detection means for detecting a positional deviation between a reference line corresponding to the main scanning movement trajectory and the actual movement trajectory of the light beam; A light beam scanning device comprising: control means for controlling the moving means to operate the moving means based on the positional deviation detected by the positional deviation detection means so as to make the light beam coincide with a reference line.
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