JPH0244367B2 - - Google Patents

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JPH0244367B2
JPH0244367B2 JP58101447A JP10144783A JPH0244367B2 JP H0244367 B2 JPH0244367 B2 JP H0244367B2 JP 58101447 A JP58101447 A JP 58101447A JP 10144783 A JP10144783 A JP 10144783A JP H0244367 B2 JPH0244367 B2 JP H0244367B2
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Soji Ichikawa
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Mitutoyo Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/0011Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight
    • G01B5/0014Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight due to temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/347Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
    • G01D5/34707Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、直線型変位測定機に係り、特に、比
較的短尺のメインスケールを備えた直線型変位測
定機に用いるのに好適な、相対変位を測定される
べき2つの被測定物の一方に連結される枠体と、
該枠体に保持された、該枠体と熱膨脹係数が異な
る材料からなるメインスケールと、前記被測定物
の他方に連結され、メインスケールに沿つて移動
されるインデツクススケールとを有し、前記メイ
ンスケールとインデツクススケールの相対移動か
ら前記2つの被測定物間の相対変位を測定するよ
うにした直線型変位測定機の改良に関する。
【従来の技術】
一般に物体の長さ等を測定する測定機におい
て、その本体に対する測定子の移動量、コラムに
対するスライダーの移動量等のように、相対移動
するものの移動量を測定する場合、一方にメイン
スケールを保持した枠体、他方にインデツクスス
ケールを含む検出器を固定し、枠体と検出器の相
対変位量を、例えば光学的方法や電磁的方法によ
つて読取るようにした変位測定機が知られてい
る。 このような変位測定機、特に、透過型の変位検
出装置を備えた直線型変位測定機においては、一
般に、形状が複雑となる枠体が、検出部のシール
性、不燃性及び軽量化等のため、アルミニウム押
出型材で形成され、又、該枠体に保持されるメイ
ンスケールがガラスで形成されているため、温度
変化時に熱膨脹量に差が生じ、メインスケールが
変形して測定精度が低下したり、或いは、甚しい
場合には、メインスケールが破壊されることがあ
るという問題点を有していた。 従つて従来から、例えば第1図に示す如く、メ
インスケール10の直交する2面を、ゴム棒12
により枠体14のガイド面14A,14Bに押圧
した状態で、弾性接着剤16等を用いて、メイン
スケール10を枠体14に直接接着して、メイン
スケール10を弾性的に保持するようにしてい
た。 第1図において、20は、前記メインスケール
10の表面上を摺動する摺動駒22により、前記
メインスケール10と所定の位置関係を保持した
状態で、前記メインスケール10の長手方向に移
動するようにされたスライダー、24は、該スラ
イダー20のメインスケール目盛面10Aに対向
した面に固定された、メインスケール10と同様
な縦縞状の目盛が形成されたインデツクススケー
ル、26,28は、それぞれ前記メインスケール
10及びインデツクススケール24を挾んだ状態
で前記スライダー20に固定された、発光素子及
び受光素子である。
【発明が解決しようとする問題点】
しかしながら、前記枠体14を形成するアルミ
ニウム押出型材は、その製造方法からして、既
に、例えばその長さ300mm当り0.03mm程度、即ち、
例えば1μmの目盛分解能の30倍程度の曲り、捩
れやうねり等が不規則に発生しており、これを矯
正してメインスケール10と同程度の高精度に仕
上げることは実際上困難である。又、使用状態に
おいては、温度変化に伴つて熱的な変形も発生す
る。従つて従来においては、例えば1μm程度の
目盛分解能を得るべく、メインスケール10をい
かに高精度に仕上げ加工しても、このメインスケ
ール10を枠体14に接着する際に、メインスケ
ール10が枠体14の曲り等になじんで変形して
しまい、目盛が拡大、縮少されて、測定精度が大
幅に低下してしまうという問題点があつた。 今、メインスケール10が枠体14の曲りの影
響を受けて曲つた場合の測定精度に対する影響を
推定してみると、例えば、第2図に示す如く、目
盛10Bをメインスケール10の中立軸Aに対し
て対称に形成した場合は、メインスケール10の
曲りが、矢印Bに示す如く、その高さ方向に発生
した時には、誤差を生じることはない。しかしな
がら、通常、目盛10Bが形成された目盛面10
Aは、メインスケール10の中立面Cとは一致し
ないため、第3図に示す如く、メインスケール1
0の曲りが、その厚さ方向に発生した時には、そ
の曲りの半径をR、誤差を評価するべき単位区間
の見込み角度をΔθ、曲り発生前の長さ、即ち中
立面Cの長さをL、目盛面10Aの長さをL0
すると、両者の誤差εは、次式で近似的に表わさ
れる。 ε=L0−L …(1) L0≒(R+t/2)Δθ …(2) L≒RΔθ …(3) ここで、tはメインスケール10の厚さであ
る。 ところで、中立面Cの中央部の最大変形量δは
次式で近似的に表わされる。 δ=R−Rcos(Δθ/2)≒R[1−{1−
(1/2!) ×(Δθ/2)2}]=R(Δθ)2/8=
LΔθ/8…(4) 従つて、前記誤差εは、このδを用いることに
よつて、次式で表わされる。 ε≒(t/2)Δθ ≒(t/2)×(8δ/L)≒4tδ/L …(5) 従つて、メインスケール10の誤差評価単位区
間の長さLが300mm、厚さtが5mm、δが0.06mm
の時、誤差εは約4μmとなる。よつて、例えば
全長900mmのメインスケールの場合には12μmの
誤差が発生することになり、1μm以下の測定精
度を要求される直線型変位測定機においては、致
命的な欠陥となつてしまう。 このような問題を軽減するべく、メインスケー
ル10を枠体14に接着する際に、例えば特開昭
54−48574に開示されている如く、テストインジ
ケータや電気マイクロメータ等を用いて、例え
ば、メインスケール10の2面に電気マイクロメ
ータ等を当接させ、長手方向に渡つて精度を測定
し、その凸凹に合わせて調節ねじを調節したり、
メインスケール10と枠体14の間にシムを挿入
することによつて、メインスケール10の位置出
しを行うことも考えられるが、これは極めて態率
が悪いだけでなく、正確な位置出しが非常に困難
であるという問題点を有していた。 本発明は、前記従来の問題点を解消するべくな
されたもので、枠体の曲り等にかかわらずメイン
スケールを真直に保持すると共に、メインスケー
ルと枠体の熱膨脹量の差を吸収することができ、
従つて、高精度の測定を行うことができる直線型
変位測定機を提供することを目的とする。
【問題点を解決するための手段】
本発明は、相対変位を測定されるべき2つの被
測定物の一方に連結される枠体と、該枠体に保持
された、該枠体と熱膨脹係数が異なる材料からな
るメインスケールと、前記被測定物の他方に連結
され、メインスケールに沿つて移動されるインデ
ツクススケールとを有し、前記メインスケールと
インデツクススケールの相対移動から前記2つの
被測定物間の相対変位を測定するようにした直線
型変位測定機において、前記メインスケールを、
その長手方向の複数箇所で保持するための複数の
メインスケール保持部材を備え、該メインスケー
ル保持部材が、前記メインスケールの目盛面又は
その背面、及び長手方向に沿つたスケール側面の
うち一方の面に対応する2つのガイド面をそれぞ
れ有し、前記枠体に、該メインスケール保持部材
の2つのガイド面の背面にそれぞれ対応する2つ
の接着面が設けられ、各メインスケール保持部材
の2つのガイド面の背面が、それぞれ対応する枠
体の接着面に接着されると共に、前記メインスケ
ールが、複数の押圧手段により各メインスケール
保持部材の2つのガイド面の1つにそれぞれ押圧
された状態で、前記複数のメインスケール保持部
材にそれぞれ接着され、前記メインスケール保持
部材と枠体の接着及び前記メインスケールとメイ
ンスケール保持部材の接着の少くともいずれか一
方が弾性接着であるようにして、前記目的を達成
したものである。
【作用】
本発明によれば、メインスケールが、その交差
する2面に対応する2つのガイド面を有し、該ガ
イド面の真値性を維持した状態で、枠体の複数箇
所に接着された各メインスケール保持部材にそれ
ぞれ接着されるので、枠体の曲り等にかかわら
ず、メインスケールを真直に保持することができ
る。又、前記メインスケール保持部材が、枠体の
長手方向複数箇所で枠体に接着され、しかも、前
記メインスケール保持部材と枠体の接着及び前記
メインスケールとメインスケール保持部材の接着
の少くともいずれか一方が弾性接着とされている
ので、メインスケールと枠体の熱膨脹量の差が容
易に吸収される。 又、本発明の実施態様は、前記ガイド面のメイ
ンスケール厚さ方向中央部に、ガイド突起を形成
するようにして、メインスケール保持部材の形状
精度が高くない場合でも、メインスケールをその
中立面で安定して保持できるようにしたものであ
る。 更に、本発明の他の実施態様は、前記押圧手段
を弾性部材とし、該弾性部材のメインスケールへ
の当接面積が、該メインスケールの前記メインス
ケール保持部材への当接面積より小となるように
して、不釣合なモーメントが発生するのを防止す
るようにしたものである。 又、本発明の更に他の実施態様は、前記メイン
スケール保持部材のガイド面長さとメインスケー
ル保持部材配設間隔の比を、1:7〜1:11とし
て、搬送時に粗雑に取り扱つた場合でも、メイン
スケールの位置ずれ等の不具合が生じないように
したものである。
【実施例】
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説
明する。 本実施例は、第4図及び第5図に示す如く、相
対変位を測定されるべき2つの被測定物の一方、
例えば工作機械のベツドに固定される、例えばア
ルミニウム押出型材からなる枠体14と、該枠体
14に保持された、該枠体14と熱膨脹係数が異
なる材料、例えばガラスからなるメインスケール
10と、前記被測定物の他方、例えば被加工物或
いは工具に連結され、メインスケール10に沿つ
て移動されるインデツクススケール(図示省略)
等を有し、前記メインスケール10とインデツク
ススケールの相対移動から前記2つの被測定物間
の相対変位を測定するようにした直線型変位測定
機において、前記メインスケール10の直交する
2面に対応する2つのガイド面30A,30Bを
有するメインスケール保持部材30を、前記ガイ
ド面30A,30Bの真直性を維持した状態で、
弾性接着剤32により前記枠体14の長手方向に
所定ピツチで接着すると共に、前記メインスケー
ル10を、押圧手段であるゴム棒12により前記
メインスケール保持部材30のガイド面30Aに
押圧した状態で、弾性接着剤34により前記メイ
ンスケール保持部材30に接着するようにしたも
のである。 前記メインスケール保持部材30は、第6図に
詳細に示す如く、略L字形状とされ、その一方の
ガイド面30Bのメインスケール厚さ方向中央部
に、ガイド突起30Cが形成されている。これ
は、前記メインスケール保持部材30の折り曲げ
角度θに若干の誤差があつても、メインスケール
10の底面が確実にガイド面30Bに当接するよ
うにするためである。なお、メインスケール保持
部材30の折り曲げを高精度で行える場合には、
このガイド突起30Cを省略することも可能であ
る。 前記ゴム棒12のメインスケール10への当接
面積は、前記メインスケール10のメインスケー
ル保持部材30への当接面積よりも小となるよう
にされている。これは、不釣合なモーメントが発
生するのを防止するためである。 前記メインスケール保持部材30のガイド面長
さlとメインスケール保持部材配設間隔Pの比
は、1:7〜1:11の範囲とされている。これ
は、メインスケール10と枠体14の熱膨脹量の
差を吸収して、熱応力によるメインスケール10
の破損を防止すると共に、測定時の温度変化によ
る測定値のヒステリシスを軽減し、更に、運搬時
の粗雑な取り扱いによるメインスケール位置ずれ
等の不具合を防止するためのものである。 即ち、出願人が既に特開昭58−174806で提案し
ているように、メインスケール10が、例えば
1500mm〜4500mm程度の長尺スケールである場合に
は、メインスケール10の長手方向に、メインス
ケール10、枠体14及び弾性接合部材の材質並
びにメインスケール10の長さによつて決定され
るピツチ及び長さの弾性部材非接合部を設け、温
度変化時に弾性接合部材を介してメインスケール
10に加わる熱応力を軽減することによつて、熱
応力によるメインスケール10の破損を防止する
と共に、測定時の温度変化による測定値のヒステ
リシスを軽減することが可能である従つて、前記
メインスケール10が、例えば1500mm以上の長尺
物である場合には、前記メインスケール保持部材
30のガイド面長さlとメインスケール保持部材
配設間隔Pの比を1:15〜1:20の範囲とするこ
とができる。一方メインスケール10の長さが、
例えば1500mm以下の比較的短いものである場合に
は、軽く、持運び易いので、運搬時に粗雑に扱わ
れやすいため、梱包落下に対する配慮を充分に行
い、例えば、最大許容外力を、長尺スケールの場
合の12G程度に対して、短尺スケールの場合に
は、20〜50G程度に高める必要がある。 発明者が、有効長が夫々1600mm、1800mm、2000
mm、2200mm、2400mm、2600mm、2800mm、3000mmで
あるメインスケール10を有する直線型変位測定
機について、直径3mmのニトリルゴム(硬度60)
製ゴム棒12を、接合部長さが15±2mm、非接合
部長さが135mmとなるように等ピツチで配置して
実験したところ、下記第1表に示すような実験結
果が得られ、いずれも充分であることが確認でき
た。
【表】 第1表において、F(l/2)は、温度が70℃
変化した場合のメインスケール10の最大張力
(単位Kg:規格値330Kg/mm)、σgmaxは、同じく
メインスケール10の最大応力(単位Kg/mm2:規
格値3Kg/mm2)、σrmaxはゴム棒12の最大応力
(単位Kg/、mm2:規格値0.8Kg/mm2)、λ(l)は、同
じく枠体14とメインスケール10の熱膨脹量の
差(単位mm)、λ′(l)は、同じくメインスケール1
0のゴム棒12の張力による伸び(単位μm)、
λ″(l)は、ゴム棒12の伸び(単位mm)、λ(h)は、
温度に対するヒステリシスの量(単位μm)、n
は、最大許容外力(単位G)である。 第1表から明らかなように、最大許容外力20G
〜50Gが確保され、温度に対するヒステリシス量
も、1600mmの場合で4.4μmと比較的小さく、しか
も、梱包の費用が大幅に改善されることがわか
る。 又、同様にして温度に対するヒステリシスの量
を計算したところ、メインスケールの有効長が
1000mmである場合のヒステリシスの量は1.7μm、
有効長が1200mmのである場合のヒステリシスの量
は2.5μm、有効長が1400mmである場合のヒステリ
シスの量は3.4μmであり、問題のない量であつ
た。 本実施例におけるメインスケール10の枠体1
4に対する取付けは、具体的には、例えば、次の
ようにして行われる。即ち、まず、少なくとも前
記メインスケール保持部材30の配設位置に対応
して設けられた、メインスケール10の直交する
2面に対応する形状の磁石部分を含む位置出し治
具に、磁性体からなるメインスケール保持部材3
0を、所定ピツチで吸引固定する。次いで、前記
位置出し治具に吸引固定されたメインスケール保
持部材30に、前記枠体14を、弾性接着剤32
により接着する。更に、前記位置出し治具をはず
して、その代りに、メインスケール10を、弾性
接着剤34によりメインスケール保持部材30に
接着する。これによつて、ガイド面30A,30
Bの真直性を維持した状態で、メインスケール保
持部材30を容易に枠体14に接着することがで
きる。 本実施例においては、枠体14とメインスケー
ル保持部材30の接着、及び、メインスケール保
持部材30とメインスケール10の接着に際し
て、いずれも弾性接着剤32,34を用いている
ので、メインスケール10と枠体14間の熱膨脹
量の差を吸収する効果が特に高い。なお、前記接
着剤の種類はこれに限定されず、例えば、いずれ
か一方に、弾性を持たない接着剤を用いることも
可能である。 前記実施例においては、本発明が、アルミニウ
ム製の枠体とガラス製のメインスケールが用いら
れた直線型変位測定機に適用されていたが、本発
明の適用範囲はこれに限定されず、他の材質から
なる枠体やメインスケールを用いた直線型変位測
定機にも同様に適用できることは明らかである。
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明によれば、枠体の曲
り等にかかわらずメインスケールを真直に保持す
ると共に、メインスケールと枠体の熱膨脹量の差
を吸収することができる。従つて、高い測定精度
を得ることができるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来の直線型変位測定機の一例にお
けるメインスケールの保持構造を示す断面図、第
2図は、メインスケールにおける目盛形成位置と
曲りの方向の関係の例を示す正面図、第3図は、
メインスケールの厚さ方向の曲りによつて発生す
る測定誤差を計算するための平面図、第4図は、
本発明に係る直線型変位測定機の実施例における
メインスケール保持構造を示す断面図、第5図
は、第4図の−線に沿う断面図、第6図は、
前記実施例で用いられているメインスケール保持
部材の形状を示す断面図である。 10……メインスケール、12……ゴム棒、1
4……枠体、24……インデツクススケール、3
0……メインスケール保持部材、30A,30B
……ガイド面、30C……ガイド突起、32,3
4……弾性接着剤、l……ガイド面長さ、P……
メインスケール保持部材配設間隔。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 相対変位を測定されるべき2つの被測定物の
    一方に連結される枠体と、該枠体に保持された、
    該枠体と熱膨脹係数が異なる材料からなるメイン
    スケールと、前記被測定物の他方に連結され、メ
    インスケールに沿つて移動されるインデツクスス
    ケールとを有し、 前記メインスケールとインデツクススケールの
    相対移動から前記2つの被測定物間の相対変位を
    測定するようにした直線型変位測定機において、 前記メインスケールを、その長手方向の複数箇
    所で保持するための複数のメインスケール保持部
    材を備え、 該メインスケール保持部材が、前記メインスケ
    ールの目盛面又はその背面、及び長手方向に沿つ
    たスケール側面のうちの一方の面に対応する2つ
    のガイド面をそれぞれ有し、 前記枠体に、該メインスケール保持部材の2つ
    のガイド面の背面にそれぞれ対応する2つの接着
    面が設けられ、 各メインスケール保持部材の2つのガイド面の
    背面が、それぞれ対応する枠体の接着面に接着さ
    れると共に、 前記メインスケールが、複数の押圧手段により
    各メインスケール保持部材の2つのガイド面の1
    つにそれぞれ押圧された状態で、前記複数のメイ
    ンスケール保持部材にそれぞれ接着され、 前記メインスケール保持部材と枠体の接着及び
    前記メインスケールとメインスケール保持部材の
    接着の少くともいずれか一方が弾性接着であるこ
    とを特徴とする直線型変位測定機。 2 前記ガイド面のメインスケール厚さ方向中央
    部に、ガイド突起が形成されている特許請求の範
    囲第1項記載の直線型変位測定機。 3 前記押圧手段が弾性部材とされ、該弾性部材
    のメインスケールへの当接面積が、該メインスケ
    ールの前記メインスケール保持部材への当接面積
    より小となるようにされている特許請求の範囲第
    1項記載の直線型変位測定機。 4 前記メインスケール保持部材のガイド面長さ
    とメインスケール保持部材配設間隔の比が1:7
    〜1:11とされている特許請求の範囲第1項記載
    の直線型変位測定機。
JP10144783A 1983-06-07 1983-06-07 直線型変位測定機 Granted JPS59226807A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10144783A JPS59226807A (ja) 1983-06-07 1983-06-07 直線型変位測定機
US06/616,181 US4569137A (en) 1983-06-07 1984-06-01 Linear scale type displacement measuring device and main scale attaching method thereof

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10144783A JPS59226807A (ja) 1983-06-07 1983-06-07 直線型変位測定機

Publications (2)

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JPS59226807A JPS59226807A (ja) 1984-12-20
JPH0244367B2 true JPH0244367B2 (ja) 1990-10-03

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2627193B2 (ja) * 1989-07-21 1997-07-02 ソニー・プレシジョン・テクノロジー株式会社 スケール装置
JPH0499014U (ja) * 1991-01-31 1992-08-27
DE19854318A1 (de) * 1998-11-25 2000-05-31 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Längenmeßeinrichtung
JP4803798B2 (ja) * 2005-11-10 2011-10-26 ハイデンハイン株式会社 リニアエンコーダ
JP6708449B2 (ja) * 2016-03-22 2020-06-10 株式会社ミツトヨ 直線変位測定装置のスケール保持構造

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53140056A (en) * 1977-03-22 1978-12-06 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Length measuring apparatus installed in casing with londitudinally sliding scale
JPS5448574A (en) * 1977-08-04 1979-04-17 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Measuring instrument
JPS56112604A (en) * 1980-02-12 1981-09-05 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Linear-scale type measuring apparatus

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53140056A (en) * 1977-03-22 1978-12-06 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Length measuring apparatus installed in casing with londitudinally sliding scale
JPS5448574A (en) * 1977-08-04 1979-04-17 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Measuring instrument
JPS56112604A (en) * 1980-02-12 1981-09-05 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Linear-scale type measuring apparatus

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JPS59226807A (ja) 1984-12-20

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