JPH0243555A - パターン形成方法および露光装置 - Google Patents

パターン形成方法および露光装置

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JPH0243555A
JPH0243555A JP63194758A JP19475888A JPH0243555A JP H0243555 A JPH0243555 A JP H0243555A JP 63194758 A JP63194758 A JP 63194758A JP 19475888 A JP19475888 A JP 19475888A JP H0243555 A JPH0243555 A JP H0243555A
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JP
Japan
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photoreceptor
light
moving
shape
photosensitive body
Prior art date
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Pending
Application number
JP63194758A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasumasa Fujisawa
藤沢 泰全
Masao Uetsuki
植月 正雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kuraray Co Ltd
Original Assignee
Kuraray Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0243555A publication Critical patent/JPH0243555A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、たとえば回折格子などの光学部品を製造す
るのに適したパターン形成方法および露光装置に関する
ものである。
[従来の技術] 従来より、光源と結像レンズとの間に、所定形状の開口
(マスク)を設け、この開口を通過した光を感光体に結
像させながら、上記感光体を回転させて露光を行うパタ
ーン形成方法が知られている。(たとえば、特公昭63
−21171号公報参照)。このパターン形成方法を第
10図ないし第12図に示す。
第10図において、50は光源、51はマスク、52は
結像レンズ、53は感光体、54はモータである。上記
マスク51には、第11図のように、感光体のり動方向
Y1に対し直角な方向X1に、複数個の開口55が形成
されており、この開口55に対応した第12図に示す断
面形状の光学部品56が得られる。
[発明が解決しようとする課題] ところが、上記従来技術では、各開口55における第1
0図の光源50からの光二が互いに異なるのは避けられ
ない。したがって第12図の溝57の形状を均一にする
のが難しい。
しかも、第11図の各開口55は、機械加工により形成
されるものであるから、加工誤差により、各開口55の
形状が互いに相違し、やはり、第12図の溝57の形状
を均一にし難い。
この発明は上記従来の欠点に鑑みてなされたもので、均
一な溝の形状が得られるパターン形成方法および露光装
置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために、この出願の請求項(1)の
発明は、まず、所定の平面領域に強度分布が均一化され
た光を照射する光源装置と、上記光が通過し、かつ所定
の断面形状のパターンが形成される感光体の感度特性に
対応した形状を有する単一の開口と、この開口を通過し
た光を感光体に結像させる結像レンズとを備えている。
上記感光体は、露光状態において一定速度で第1の8勤
装置により第1の方向へ移動され、一方、第2の8勅装
置により第1の方向と交差する第2の方向へ移動されて
、次に露光すべき位置に移動される。
この場合、上記開口は、上記第1の方向に垂直な方向に
延びる基線を中心にして線対称な形状に形成するのが好
ましい。
また、上記開口における第1の方向の幅は、形成すべき
パターンの断面形状における深さの0.9乗ないし0.
2乗に比例した値に設定することができる。
また、請求項(4)のパターン形成方法は、まず、所定
の断面形状のパターンが形成される感光体の感度特性に
対応した形状を有する単一の開口に、強度分布が均一化
された光を照射し、この照射した光を結像させて感光体
を感光させた状態において、感光体を一定速度で第1の
方向へ移動させて部分的な露光を行う。ついで、感光体
を上記第1の方向と交差する第2の方向へ移動させて、
感光体を次に感光すべき位置に移動する。上記部分的な
露光とこの移動とを繰り返して感光体の全体的な感光を
行う。この感光後、感光体を現像して所定の断面形状が
得られる。
[作用] この出願の各請求項の発明によれば、感光体を感光させ
た状態において感光体を一定速度で第1の方向へ移動さ
せ、ついで、感光体を次に感光すべき位置に移動させる
から、これを繰り返すことにより、単一の開口で全体的
な感光が可能になる。
ここで、車−の開口により露光するので、上記従来例と
異なり、開口ごとの照度むらや加工誤差が生じないため
、均一な溝の形状が得られる。
また、単一の開口内においても僅かな照度むらが生じる
のに対し、請求項(2)の発明は、第1の方向に垂直な
方向に延びる基線を中心にして、開口が線対称な形状に
形成されているので、基線を中心とする照度むらの影習
が少なくなる。したがって、溝の形状の精度が向上し得
る。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図面にしたがって発明する
第1図は露光装置を示す。この図において、1は感光体
で、たとえばポジ型レジスト層1aをガラス板lb上に
塗布してなる。
一点鎖線で示す2は光源装置で、所定の平面領域Sに強
度分布が均一化された平行光線L1を照射するもので、
たとえば光源3と、光学繊維束4と、図示しないレンズ
を内蔵した出射口5と、散乱板6と、コリメートレンズ
7とから構成されている。つまり、上記光源3からの光
は、光学繊維束4を介して出射口5に導かれ、この出射
口5から散乱板6に入射して、強度分布が均一化された
光りとなり、その後コリメートレンズ7により平行光線
L1になる。
8はシャッタで、上記平行光線L1を選択的に通過また
は遮光するもので、制御装置9からの開閉信号aにより
開閉する。
10はマスクで、透明フィルムに遮光フィルムが貼り合
わされてなるもので、上記遮光フィルムの一部が切欠さ
れて、単一の開口11が形成されている。この開口11
は、上記平行光線L1が通過し、かつ、後述するように
、所定の断面形状のパターンが形成される感光体1の感
度特性の対応した形状とされている。
12は結像レンズで、上記開口11を通過した光L2を
感光体1のレジスト層1aの表面に結像させるものであ
る。なお、13はCCD撮像素子で、感光体1の表面で
反射されたL3が、ハーフミラ−14を介して結像させ
るものであり、これにより感光体1の表面における結像
状態が観察される。なお、開口11の像はレジスト層1
aの表面において、たとえばl/75倍に縮少されて結
像される。
15はXYステージで、感光体1が載置されるもので、
第1および第2の移動装置16.17により、それぞれ
、第1および第2の方向Y、Xに移動される。上記第1
の移動装置16は、感光体1に光L2が結像している露
光状態において、XYステージ15を穆勅させることに
より、感光体1を一定速度で第1の方向Yへ移動させる
ものである。一方、上記第2の移動装置17はXYステ
ージ15を第2の方向Yに移動させることにより、たと
えば非露光状態において、感光体1を上記第1の方向Y
とたとえば直交する第2の方向Xへ移動させて、感光体
1を次に露光すべき位置に設定するものである。なお、
上記第1および第2の移動装置16.17は、それぞれ
、制御装置9からの移動信号す、cを受けて作動する。
上記第1の移動装置16の駆動源であるモータ(図示せ
ず)には、モータの回転を検知する検知器16aが設け
られている。この検知器16aはモータの回転数が所定
値になったときにのみ定速度信号dを制御装置9に出力
する。これにより、制御装置9は、XYステージ15の
第1の方向Yへの移動速度が一定値であることを認識す
る。
つぎに、開口11の形状と形成されるパターンとの関係
について説明する。開口11の形状は、レジストの感度
特性を考慮して決定しなければならず、その一つの近似
法を示す。
第2図の開口11を用いて、ある特定のレジストに対し
露光した場合、第3図のような、鋸歯状の溝1cが得ら
れる。第2図の開口11内は照度がほぼ一様であるから
レジスト層ta(第1図)の局部の露光エネルギーEは
、開口11における第1の移動方向Yの幅Wに比例し、
次式で表わされる。
 QCW 一方、第4図のように、露光深さDは露光エネルギーE
を成る数αでべき乗した値に比例すると近似でき、次式
で表わされる。
D oc E“ 上記2つの式から、第2図の開口11の幅Wは、露光深
さD(第3図)のl/α乗に比例する。
ここで、レジストの感度特性は、この発明者の研究によ
れば、αが1.0ないし5.0の範囲にあり、l/αの
値は0.2ないし1.0になる。
つぎに、開口11の形状の決定手順について説明する。
第5図において、(a)は形成される感光体1の断面形
状を示し、まず、溝1cの形状から露光深さDを第5図
(b)のようにOから1まで規格化する。ついで、レジ
ストの感度特性から、αの値を決定し、第5図(C)の
ような開口11Aの形状を得る。この形状を、第5図(
d)のように第1の方向Yに垂直な方向に延びる基線C
を中心にして、折り返し、二点鎖線で示す形状を得、こ
の形状を幅方向Wに172倍して、開口11の形状を得
る。
つまり、開口11の幅Wは開口11Aの幅Wと同一の値
に設定されているとともに、基線Cを中心にして線対称
な形状に形成されている。
第1図のマスク10は、平行光線L1により照射された
平面領域Sにおける第2の方向Xに延びる中心線C1に
、第2図の基線Cが一致した位置に配設されている。
つぎに、パターンの形成方法について説明する。
まず、第1図のシャッタ8が閉止している状態において
、第1の移動装置16により、感光体1を第1の方向Y
にO動させ始める。この8勤開始後、第1の移動装置1
6のモータ(図示せず)の回転速度が一定値になったと
き、検知器16aが定速度信号dを制御装置9に出、力
する。この出力を受けて上記制御装置9は開閉信号aを
シャッタ8に出力し、これによりシャッタ8が開放され
る。このシャッタ8が開放している状態において、つま
り光L2がし、シスト層1aに結像している状態におい
て、第1の穆動装fii16により、感光体1が第1の
方向Yに一定速度で移動され、これによって、第6図(
a)の−点鎖線で示すように、レジスト層1aが感光す
る。この部分露光工程の後、第1図のシャッタ8を閉止
し、平行光線L1を遮光する。
上記遮光後、つまり非露光状態において、第1の移動装
置16のモータを減速させて、感光体15の移動を停止
させる。この停止後、第2の移動装置17により、感光
体1を第2の方向Xに第3図のピッチP1だけ移動させ
る。これにより感光体1は次に露光されるべき位置に設
定される。この移動工程後、第1の移動装置16により
感光体15を第1の方向に移動させ、一定速度になった
後に、第1図のシャッタ8を再び開放して、露光状態に
する。これによって、第6図(b)の−点鎖線で示すよ
うに、レジスト層1aが感光する。これらの動作を繰り
返すことにより、レジスト層1aを感光させる感光工程
が完了する。
上記感光工程の後に、レジスト層1aを現像して、第3
図のような鋸歯状の溝1cを有する回折格子が得られる
上記構成において、第1図の平行光線L1は光強度の均
一化が図られているものの、平面領域Sにおいて照度む
らが生じるのは避けられない。これに対し、この発明は
、第1図の単一の開口11により露光するので、第11
図の従来例と異なり、55ごとの照度むらが生じるおそ
れがない。
また、第2図の開口11は車−であるから、第11図の
従来例と異なり、開口55ごとの加工誤差が生じること
もない。このように、この発明は、第2図の開口11ご
との照度むらおよび加工誤差が生じないので、第3図の
谷溝ICの形状が均一になる。
ところで、第1図の単一の開口11内においても、僅か
な照度むらが生じるのは避けられず、この照度むらは平
行光線L1が照射される平面領域Sの中心位置に対して
点対称に生じ易い。ここで、この実施例では、第2図の
開口11が基線Cに対して線対称に形成されているから
、この基線Cを第1図の中心線C1に一致した位置に配
設することにより、第2図の基線Cに対して線対称に生
じる照度むらの影響を緩和できる。したがって、開口1
1の形状に対応した精密な第3図の溝1cの形状が得ら
れる。
ところで、第1図の光源3としては、レジストを感光さ
せるために、青または紫外の波長で高輝度の光を発生す
るものが必要である。したがって、利用できる光源3と
しては、たとえば、波長365nmの輝線を有する水銀
ランプやキセノン水銀ランプがあり、また、レーザでは
、波長442nmのヘリウム・カドミウムレーザや、波
長458nmのアルゴンレーザなどが利用できる。
第7図は開口11の他の形状を示す第8図のレジスト層
1aの現象後の深さDは、たとえば、露光量に対し2.
2乗に比例した特性がある。したがって、第7図の開口
11の幅Wは、第8図の正弦曲線を172.2でべき乗
した値に比例した値に設定されている。上記第7図の開
口11を用いることにより、第9図のような正弦波状の
格子を有する回折格子IAが得られる。
[発明の効果] 以上説明したように、この出願の各請求項の発明によれ
ば、単一の開口により露光するので、開口ごとの照度む
らや加工誤差が生じないため、均一な溝の形状を有する
パターンを形成し得る。
また、請求項(2)の発明によれば、開口が基線を中心
とした線対称な形状に形成されているから、単一の開口
内のおける照度むらが少なくなるので、溝の形状の精度
が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す露光装置の概略構成
図、第2図は開口の形状を示すマスクの平面図、第3図
は回折格子の縦断面図、第4図はレジストの感度特性を
示す特性図、第5図は開口形状の決定方法を示す工程図
、第6図は露光方法を示す工程図、第7図は開口の他の
形状を示す平面図、第8図は他の回折格子の縦断面図、
第9図は回折格子の斜視図、第10図は従来の露光装置
を示す概略構成図、第11図はマスクの平面図、第12
図はパターンの断面図である。 1・・・感光体、1c・・・溝、2・・・光源装置、1
1・・・開口、12・・・結像レンズ、16・・・第1
の移動装置、17・・・第2の移動装置、C・・・基線
、D・・・深さ、W・・・幅、X・・・第2の方向、Y
・・・第1の方向。 躬1図 第4図 露光エネルキ゛=−E 第57 一]−一 第67

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)所定の平面領域に強度分布が均一化された光を照
    射する光源装置と、上記光が通過し、かつ、所定の断面
    形状のパターンが形成される感光体の感度特性に対応し
    た形状を有する単一の開口と、この開口を通過した光を
    上記感光体に結像させる結像レンズと、露光状態におい
    て上記感光体を一定速度で第1の方向へ移動させる第1
    の移動装置と、上記感光体を上記第1の方向と交差する
    第2の方向へ移動させて、上記感光体を次に感光すべき
    位置に設定する第2の移動装置とを備えた露光装置。
  2. (2)請求項(1)において、上記開口は、上記第1の
    方向に垂直な方向に延びる基線を中心にして線対称な形
    状に形成されてなる露光装置。
  3. (3)請求項(1)もしくは(2)において、上記開口
    における上記第1の方向の幅が形成すべきパターンの断
    面形状における溝の深さの0.9乗ないし0.2乗に比
    例した値に設定されている露光装置。
  4. (4)所定の断面形状のパターンが形成される感光体の
    感度特性に対応した形状を有する単一の開口に、強度分
    布が均一化された光を照射し、この照射した光を結像さ
    せて感光体を感光させた状態において、上記感光体を一
    定速度で第1の方向へ移動させる部分露光工程と、上記
    感光体を上記第1の方向と交差する第2の方向へ移動さ
    せて、上記感光体を次に感光すべき位置に移動する移動
    工程とを繰り返して、上記感光体を感光させる感光工程
    と、上記感光体を現像して所定の断面形状を得る現像工
    程とを備えたパターン形成方法。
JP63194758A 1988-08-03 1988-08-03 パターン形成方法および露光装置 Pending JPH0243555A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002169010A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Minolta Co Ltd 回折光学素子
JP2011017748A (ja) * 2009-07-07 2011-01-27 Nikon Corp 回折光学素子の製造方法および製造装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60168104A (ja) * 1984-02-10 1985-08-31 Toshiba Mach Co Ltd 電子ビ−ム露光方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60168104A (ja) * 1984-02-10 1985-08-31 Toshiba Mach Co Ltd 電子ビ−ム露光方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002169010A (ja) * 2000-12-04 2002-06-14 Minolta Co Ltd 回折光学素子
JP2011017748A (ja) * 2009-07-07 2011-01-27 Nikon Corp 回折光学素子の製造方法および製造装置

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