JPH0241583Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0241583Y2 JPH0241583Y2 JP1113784U JP1113784U JPH0241583Y2 JP H0241583 Y2 JPH0241583 Y2 JP H0241583Y2 JP 1113784 U JP1113784 U JP 1113784U JP 1113784 U JP1113784 U JP 1113784U JP H0241583 Y2 JPH0241583 Y2 JP H0241583Y2
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- Japan
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- tube
- pipeline
- sensor
- probe
- exploration
- Prior art date
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- Expired
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02872—Pressure
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、パイプラインを構成する管体の欠
陥を探査するための管体の欠陥探査装置に関す
る。
陥を探査するための管体の欠陥探査装置に関す
る。
パイプラインを構成する管体の例えば肉厚不良
のような欠陥の探査は、一般に超音波や渦流など
を使用する非破壊探査によつて行なわれている。
のような欠陥の探査は、一般に超音波や渦流など
を使用する非破壊探査によつて行なわれている。
このような非破壊探査において重要なことは、
センサーが管体の内面に対して一定の角度および
距離で保持されていることであり、センサーの角
度や位置が変ると、確実な探査はできない。
センサーが管体の内面に対して一定の角度および
距離で保持されていることであり、センサーの角
度や位置が変ると、確実な探査はできない。
そこで、従来は平行四辺形のリンクを使用し、
リンクの一辺に保持させたセンサーを、ばねによ
つて管体の内面に押しつけることが一般に行なわ
れていた。しかしながら、このような装置は、セ
ンサーの取付け機構が複雑でその取付けのために
広いスペースを必要とするので、探査装置内に搭
載する計測器のためのスペースが狭くなり、且
つ、こわれやすく、更に、探査装置が管内の溶接
ビードを通過するときに、装置が溶接ビードによ
つてばたつくため、腐食が発生しやすい溶接ビー
ド部近傍の探査ができない問題があつた。
リンクの一辺に保持させたセンサーを、ばねによ
つて管体の内面に押しつけることが一般に行なわ
れていた。しかしながら、このような装置は、セ
ンサーの取付け機構が複雑でその取付けのために
広いスペースを必要とするので、探査装置内に搭
載する計測器のためのスペースが狭くなり、且
つ、こわれやすく、更に、探査装置が管内の溶接
ビードを通過するときに、装置が溶接ビードによ
つてばたつくため、腐食が発生しやすい溶接ビー
ド部近傍の探査ができない問題があつた。
探査装置自体にセンサーを取付ければ上述した
問題は解消されるが、一方、管体の肉厚が変動す
ると、センサーの管体内面からの距離も変り、特
に管体の曲り部においては、前記距離の変動が大
になるため、探査が不可能になる問題があつた。
問題は解消されるが、一方、管体の肉厚が変動す
ると、センサーの管体内面からの距離も変り、特
に管体の曲り部においては、前記距離の変動が大
になるため、探査が不可能になる問題があつた。
超音波を用いる非破壊探査においては、接触媒
質が必要であり、従来は一般に水を接触媒質とし
た水浸超音波が行なわれている。しかしながら、
ガス用のパイプラインにおいては、パイプライン
内に水を入れることができないため、水浸超音波
による探査を行なうことができない。接触媒質と
して、水の代りにエチルアルコール、メチルアル
コール、グリコールのようなものを使用すること
も考えられるが、上記のような接触媒質は、高価
である上、人体や環境に有害なため、そのパイプ
ラインからの排出が問題となる。更に、探査器
は、ライン内の通常の流速と比較して低速で走行
するため、ライン内の流送量を下げる必要があ
り、操業上からも問題がある。
質が必要であり、従来は一般に水を接触媒質とし
た水浸超音波が行なわれている。しかしながら、
ガス用のパイプラインにおいては、パイプライン
内に水を入れることができないため、水浸超音波
による探査を行なうことができない。接触媒質と
して、水の代りにエチルアルコール、メチルアル
コール、グリコールのようなものを使用すること
も考えられるが、上記のような接触媒質は、高価
である上、人体や環境に有害なため、そのパイプ
ラインからの排出が問題となる。更に、探査器
は、ライン内の通常の流速と比較して低速で走行
するため、ライン内の流送量を下げる必要があ
り、操業上からも問題がある。
この考案は、上述のような観点から、パイプラ
インなどの管体の欠陥を、超音波などにより探査
するに当り、センサーの保持のために特別な取付
け機構を必要とせず、計測器の搭載のためのスペ
ースが広く、溶接ビート部の探査も適確に行ない
得る上、特別の接触媒質を必要としない管体の欠
陥探査装置を提供するもので、パイプラインを構
成する管体の欠陥を検出するための、前記パイプ
ライン内を走行する探査器と、前記探査器を、前
記パイプライン内を流れる流体によつて走行させ
るための、前記探査器に固定された、前記管体の
内面にその外周面が摺接する弾性を有する円板状
のスクレーパカツプと、前記スクレーパカツプ内
に、前記管体の内面から所定の距離をおき且つ所
定の角度で埋め込まれたセンサーとからなること
に特徴を有するものである。
インなどの管体の欠陥を、超音波などにより探査
するに当り、センサーの保持のために特別な取付
け機構を必要とせず、計測器の搭載のためのスペ
ースが広く、溶接ビート部の探査も適確に行ない
得る上、特別の接触媒質を必要としない管体の欠
陥探査装置を提供するもので、パイプラインを構
成する管体の欠陥を検出するための、前記パイプ
ライン内を走行する探査器と、前記探査器を、前
記パイプライン内を流れる流体によつて走行させ
るための、前記探査器に固定された、前記管体の
内面にその外周面が摺接する弾性を有する円板状
のスクレーパカツプと、前記スクレーパカツプ内
に、前記管体の内面から所定の距離をおき且つ所
定の角度で埋め込まれたセンサーとからなること
に特徴を有するものである。
次に、この考案の装置を、図面を参照しながら
説明する。図面はこの考案の装置の１つの実施態
様を示す断面図である。図面において、２は管体
１内に挿入された探査器で、探査器２の前端およ
び後端には、探査器２を管体１内に走行させるた
めのスクレーパカツプ３が固定されている。
説明する。図面はこの考案の装置の１つの実施態
様を示す断面図である。図面において、２は管体
１内に挿入された探査器で、探査器２の前端およ
び後端には、探査器２を管体１内に走行させるた
めのスクレーパカツプ３が固定されている。
スクレーパカツプ３は、例えばウレタンゴムの
ような耐摩耗性ゴム製の、その直径が管体１の内
径よりも２〜３％大きい、弾性を有する円板状で
あり、その外周面が管体１の内面にしつかりと押
しつけられて摺接し、管体１内の流体をシールし
て流体の圧力や流れにより、探査器２を通常ピグ
と呼ばれる方式で走行させる。
ような耐摩耗性ゴム製の、その直径が管体１の内
径よりも２〜３％大きい、弾性を有する円板状で
あり、その外周面が管体１の内面にしつかりと押
しつけられて摺接し、管体１内の流体をシールし
て流体の圧力や流れにより、探査器２を通常ピグ
と呼ばれる方式で走行させる。
スクレーパカツプ３内には、管体１の内面から
所定の距離をおき且つ所定の角度（通常は管体に
対して直角）でセンサー４が密に埋め込まれてい
る。５はセンサー４の導線である。
所定の距離をおき且つ所定の角度（通常は管体に
対して直角）でセンサー４が密に埋め込まれてい
る。５はセンサー４の導線である。
この考案の装置は、上述のように構成されてい
るので、探査器２は、管体１内を流れる流体の圧
力や流れによつて管体１内を走行すると共に、ス
クレーパカツプ３内に埋め込まれているセンサー
４によつて、管体１の欠陥を探査する。このと
き、スクレーパカツプ３の外周面は、管体１の内
面に、前記内面と平行して常に押し付けられてい
るので、良好な条件で管体１内を探査することが
でき、溶接ビード部の探査も可能である。
るので、探査器２は、管体１内を流れる流体の圧
力や流れによつて管体１内を走行すると共に、ス
クレーパカツプ３内に埋め込まれているセンサー
４によつて、管体１の欠陥を探査する。このと
き、スクレーパカツプ３の外周面は、管体１の内
面に、前記内面と平行して常に押し付けられてい
るので、良好な条件で管体１内を探査することが
でき、溶接ビード部の探査も可能である。
また上述したように、センサー４は、弾性を有
する円板状のスクレーパカツプ３内に埋め込ま
れ、前記スクレーパカツプ３によつて、管体１の
内面から所定の距離をおき且つ所定の角度で保持
されているから、センサー４の保持のために特別
な取付け機構を必要とせず、従つて、計測器の搭
載のためのスペースを広くすることができる。
する円板状のスクレーパカツプ３内に埋め込ま
れ、前記スクレーパカツプ３によつて、管体１の
内面から所定の距離をおき且つ所定の角度で保持
されているから、センサー４の保持のために特別
な取付け機構を必要とせず、従つて、計測器の搭
載のためのスペースを広くすることができる。
更に、超音波探査の場合に、従来のような特別
な接触媒質を必要としないから、ガス用のパイプ
ラインにおいて、エチルアルコールなどのような
接触媒質を使用しないで済む結果、パイプライン
内にガスを所定の流量で流すことができ、探査器
２の移動速度は、スクレーパカツプ３に適宜の孔
を設け、ガスを孔から逃がすことによつて調節す
ることができる。
な接触媒質を必要としないから、ガス用のパイプ
ラインにおいて、エチルアルコールなどのような
接触媒質を使用しないで済む結果、パイプライン
内にガスを所定の流量で流すことができ、探査器
２の移動速度は、スクレーパカツプ３に適宜の孔
を設け、ガスを孔から逃がすことによつて調節す
ることができる。
なお、探査器２の取り付けられたスクレーパカ
ツプ３は弾性体のために、探査器２がパイプライ
ン内を走行する際に微振動が発生するが、その振
動周波数は100〜200Hzの範囲内であり、超音波探
査の周波数１〜5MHzに比べて格段に小さいため、
探査上全く問題にならない。
ツプ３は弾性体のために、探査器２がパイプライ
ン内を走行する際に微振動が発生するが、その振
動周波数は100〜200Hzの範囲内であり、超音波探
査の周波数１〜5MHzに比べて格段に小さいため、
探査上全く問題にならない。
以上述べたように、この考案によれば、パイプ
ラインなどの管体の欠陥を、超音波などにより探
査するに当り、センサーの保持のために特別な取
付け機構を必要とせず、計測器の搭載のためのス
ペースが広く、溶接ビード部の探査も適確に行な
い得る上、特別の接触媒質も必要としない等、多
くの優れた効果がもたらされる。
ラインなどの管体の欠陥を、超音波などにより探
査するに当り、センサーの保持のために特別な取
付け機構を必要とせず、計測器の搭載のためのス
ペースが広く、溶接ビード部の探査も適確に行な
い得る上、特別の接触媒質も必要としない等、多
くの優れた効果がもたらされる。
図面はこの考案の装置の１つの実施態様を示す
断面図である。図面において、 １……管体、２……探査器、３……スクレーパ
カツプ、４……センサー、５……導線。
断面図である。図面において、 １……管体、２……探査器、３……スクレーパ
カツプ、４……センサー、５……導線。
Claims (1)
- パイプラインを構成する管体の欠陥を検出する
ための、前記パイプライン内を走行する探査器
と、前記探査器を、前記パイプライン内を流れる
流体によつて走行させるための、前記探査器に固
定された、前記管体の内面にその外周面が摺接す
る弾性を有する円板状のスクレーパカツプと、前
記スクレーパカツプ内に、前記管体の内面から所
定の距離をおき且つ所定の角度で埋め込まれたセ
ンサーとからなることを特徴とする管体の欠陥探
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1113784U JPS60123661U (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 管体の欠陥探査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1113784U JPS60123661U (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 管体の欠陥探査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60123661U JPS60123661U (ja) | 1985-08-20 |
| JPH0241583Y2 true JPH0241583Y2 (ja) | 1990-11-06 |
Family
ID=30492973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1113784U Granted JPS60123661U (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 管体の欠陥探査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60123661U (ja) |
-
1984
- 1984-01-31 JP JP1113784U patent/JPS60123661U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60123661U (ja) | 1985-08-20 |
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