JPH0238916B2 - - Google Patents

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JPH0238916B2
JPH0238916B2 JP62265850A JP26585087A JPH0238916B2 JP H0238916 B2 JPH0238916 B2 JP H0238916B2 JP 62265850 A JP62265850 A JP 62265850A JP 26585087 A JP26585087 A JP 26585087A JP H0238916 B2 JPH0238916 B2 JP H0238916B2
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JP
Japan
Prior art keywords
signal
injection molding
molding machine
monitoring
data
Prior art date
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Application number
JP62265850A
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Japanese (ja)
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JPS63118224A (en
Inventor
Masaharu Watanabe
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Sigmax Ltd
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Sigmax Ltd
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Publication date
Application filed by Sigmax Ltd filed Critical Sigmax Ltd
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は射出成形機の監視装置に関し、特に射
出成形機の型の周囲の異常を監視する場合に適用
して好適なものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a monitoring device for an injection molding machine, and is particularly suitable for monitoring abnormalities around a mold of an injection molding machine.

この種の射出成形機の監視装置として従来、型
又はその周囲にある物体等でなる被監視物体の外
観を撮像装置によつて映像信号に変換し、この映
像信号を陰極線管上に表示すると共に、当該陰極
線管の表示面上に輝度センサを付着させ、かくし
て陰極線管上の輝度が物体の有無によつて変化す
ることを利用して物体の有無の確認をするものが
考えられている。
Conventionally, as a monitoring device for this type of injection molding machine, the appearance of the object to be monitored, such as the mold or objects around it, is converted into a video signal by an imaging device, and this video signal is displayed on a cathode ray tube. A method has been proposed in which a brightness sensor is attached to the display surface of the cathode ray tube, and the presence or absence of an object is confirmed by utilizing the fact that the brightness on the cathode ray tube changes depending on the presence or absence of an object.

ところがこのように陰極線管上の輝度を検出す
る方法によれば、表示面上の輝度を検出するため
の輝度センサを監視すべき被監視物体の位置に応
じて表示面上に付着する煩雑な手間が必要であ
り、また比較的大型な陰極線管を用意しなければ
ならないために全体としての構成を小型化するの
に一定の制限があるという問題があり、さらには
表示面への輝度センサの装着状態によつてはセン
サに外部光が混入して輝度の検出結果にノイズが
入るおそれがある。
However, according to this method of detecting the brightness on the cathode ray tube, the brightness sensor for detecting the brightness on the display surface is attached to the display surface depending on the position of the object to be monitored. In addition, there is a problem that there is a certain limit to miniaturizing the overall configuration because a relatively large cathode ray tube must be prepared, and furthermore, it is difficult to attach a brightness sensor to the display surface. Depending on the state, external light may enter the sensor and noise may be included in the brightness detection results.

本発明は以上の点を考慮してなされたもので撮
像装置によつて得た映像信号を電気的に処理する
ことにより物体の有無の確認を煩雑な手間を要せ
ずしかも高い精度で検出できるようにした射出成
形機の監視装置を提案しようとするものである。
The present invention has been made in consideration of the above points, and by electrically processing a video signal obtained by an imaging device, it is possible to confirm the presence or absence of an object without requiring complicated labor and with high accuracy. This paper attempts to propose a monitoring device for an injection molding machine as described above.

以下図面と共に本発明による射出成形機の監視
装置の一実施例を詳述しよう。
An embodiment of the monitoring device for an injection molding machine according to the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図において、射出成形機1の被監視物体と
なる射出成形製品は可動側型2が固定側型3に圧
接した状態(この作業工程を型締工程と呼ぶ)で
導管4を通じて成形材料が射出されることにより
成形された後、可動側型2が固定側型3からガイ
ド5に沿つて後退離間した状態になり(この作業
工程を型開工程と呼ぶ)、続いて可動側型2の後
方から突出したピン(図示せず)を突き出させる
ことにより(この作業工程を突出工程と呼ぶ)、
射出成形製品の射出成形機1の下方に落下させる
ような基本的な作業工程を含むようになされてい
る。
In FIG. 1, the injection molded product, which is the monitored object of the injection molding machine 1, is in a state where the movable side mold 2 is in pressure contact with the fixed side mold 3 (this work process is called the mold clamping process), and the molding material is passed through the conduit 4. After being molded by injection, the movable mold 2 is moved back and away from the fixed mold 3 along the guide 5 (this process is called the mold opening process), and then the movable mold 2 is By protruding a pin (not shown) that protrudes from the rear (this work process is called the protruding process),
It is designed to include the basic work process of dropping the injection molded product below the injection molding machine 1.

ところがこのように可動側型2が後退して型開
状態になつたとき製品が落下すべきであるにもか
かわらず製品が落下しきれずに可動側型2又は固
定側型3に付着して状態になつたとすると、次の
射出成形サイクルにおいて可動側型2が固定側型
3に向つて前進圧接して型締状態になる様に製品
が型2及び3間に挾着されるために型2及び3を
破損させるおそれがある。かかるおそれを未然に
防止するため監視装置6が設けられている。
However, when the movable mold 2 retreats to open the mold, the product does not fall completely and sticks to the movable mold 2 or the fixed mold 3 even though it should fall. In the next injection molding cycle, the movable side mold 2 advances toward the stationary side mold 3 and presses against it, and the product is clamped between the molds 2 and 3, so that the mold 2 and 3 may be damaged. A monitoring device 6 is provided to prevent such a possibility.

監視装置6はビデオカメラ7及び物体検出回路
8とで構成されている。ビデオカメラ7は射出成
形機1の横側における可動側型2に近い位置に配
設され、可動側型2が固定側型3から開き終わつ
たタイミングで型2及びその近傍の情景を撮像し
てビデオ信号VDを物体検出回路8に送出する。
The monitoring device 6 is composed of a video camera 7 and an object detection circuit 8. The video camera 7 is disposed near the movable mold 2 on the side of the injection molding machine 1, and captures images of the mold 2 and its surroundings at the timing when the movable mold 2 has finished opening from the fixed mold 3. The video signal VD is sent to the object detection circuit 8.

ここで射出成形機1は成形材料を射出した後型
2を開き、型2側に設けられた突出しピンを突出
すことによつて型2に付着している製品を突落す
ようになされている。射出成形機1はシーケンサ
(図示せず)によつてシーケンス制御され、その
ためシーケンサは型を開き始めるタイミング、開
き終つたタイミング、突出しピンの突出動作のタ
イミング等のタイミングで必要に応じて指令信号
S1を送出するようになされている。
Here, the injection molding machine 1 opens the mold 2 after injecting the molding material, and by protruding an ejecting pin provided on the mold 2 side, the product attached to the mold 2 is caused to fall out. . The injection molding machine 1 is sequentially controlled by a sequencer (not shown), and therefore the sequencer sends a command signal S1 as necessary at timings such as when the mold starts to open, when it finishes opening, when the ejector pin ejects, etc. It is designed to send out.

この実施例の場合、型2が開き終つたタイミン
グで未だ製品が型2に付着している状態(すなわ
ち型開工程後、突出工程前の状態)で撮像したビ
デオ信号VDを物体検出回路8に取込み得、また
その後製品が突出しピンによつて突き落されたタ
イミング(すなわち突出工程後の状態)で撮像し
たビデオ信号VDを物体検出回路8に取込み得る
ようになされている。
In the case of this embodiment, the video signal VD captured when the mold 2 has finished opening and the product is still attached to the mold 2 (i.e., after the mold opening process and before the ejection process) is sent to the object detection circuit 8. The object detection circuit 8 is configured to be able to capture a video signal VD captured at the timing when the product is captured and then pushed down by the ejection pin (that is, in a state after the ejection process).

物体検出回路8は第2図に示すように、ビデオ
カメラ7から送出される水平及び垂直同期信号を
含んでなる標準テレビジヨン方式のビデオ信号
VDを受けるホールド装置11を有すると共に、
当該同期信号SYをトリガ信号として受ける同期
信号発生装置12を有する。同期信号発生装置1
2は物体検出回路8内の動作をビデオカメラ7と
同期させるためのクロツク信号CLを同期信号SY
に同期して発生するようになされている。
As shown in FIG. 2, the object detection circuit 8 receives a standard television video signal including horizontal and vertical synchronization signals sent from the video camera 7.
It has a hold device 11 for receiving VD, and
It has a synchronization signal generator 12 that receives the synchronization signal SY as a trigger signal. Synchronous signal generator 1
2 is a clock signal CL for synchronizing the operation in the object detection circuit 8 with the video camera 7, and a synchronization signal SY.
It is designed to occur in synchronization with the

ホールド装置11はビデオ信号VDによつて形
成される画像情報の内、所定の複数点例えば2点
の位置における単位領域の輝度信号をアナログ積
分値として記憶するもので、この実施例の場合監
視領域A1及びA2は第3図に示すようにH方向
にx座標を取りかつV方向にy座標を取つて表わ
せば、点(x1、y1)、点(x1+m、y1)、点(x1
y1+n)、点(x1+m、y1+n)の4点で囲まれ
る領域でなり、又監視領域A2は点(x2、y2)、
点(x2+m、y2)、点(x2、y2+n)、点(x2
m、y2+n)の4点で囲まれる領域でなる。
The hold device 11 stores the luminance signal of a unit area at a plurality of predetermined points, for example, two points, as an analog integral value, out of the image information formed by the video signal VD. If A1 and A2 are expressed by taking the x coordinate in the H direction and the y coordinate in the V direction as shown in Figure 3, they are: point (x 1 , y 1 ), point (x 1 +m, y 1 ), point (x 1 ,
y 1 +n), point (x 1 +m, y 1 +n), and the monitoring area A2 is surrounded by the point (x 2 , y 2 ),
Point (x 2 + m, y 2 ), point (x 2 , y 2 + n), point (x 2 +
It consists of an area surrounded by four points (m, y 2 +n).

ホールド装置11は第4図に示すように、ビデ
オ信号VDをバツフア回路15を通じて受ける第
1及び第2の領域A1及びA2に対応する第1及
び第2のアナログ積分回路16A及び16Bを有
する。第1のアナログ積分回路16Aは到来する
ビデオ信号VDをアナログスイツチ18Aを通じ
て電圧電流変換回路19Aにおいて電流に変換し
た後積分用コンデンサ20Aに与える。かくして
コンデンサ20Aに蓄積されたアナログ積分値は
バツフア回路21Aを通じて第1のホールド信号
S2Aとして送出する。またコンデンサ20Aの
ホールド電圧は並列に接続されたクリア用アナロ
グスイツチ22Aを通じてクリアされるようにな
されている。
As shown in FIG. 4, the hold device 11 has first and second analog integration circuits 16A and 16B corresponding to first and second areas A1 and A2 which receive the video signal VD through the buffer circuit 15. The first analog integration circuit 16A converts the incoming video signal VD into a current through an analog switch 18A in a voltage-current conversion circuit 19A, and then applies the converted current to an integration capacitor 20A. The analog integrated value thus accumulated in the capacitor 20A is sent out as the first hold signal S2A through the buffer circuit 21A. Further, the hold voltage of the capacitor 20A is cleared through a clearing analog switch 22A connected in parallel.

これに対して第2のアナログ積分回路16Bも
同様に到来するビデオ信号VDをホールド用アナ
ログスイツチ18Bを通じて電圧電流変換回路1
9Bにおいて電流に変換した後積分用コンデンサ
20Bに積分ホールドし、そのホールド値をバツ
フア回路21Bを通じて第2のホールド信号S2
Bとして送出する。この場合もコンデンサ20B
に並列にクリア用アナログスイツチ22Bが接続
されている。
On the other hand, the second analog integration circuit 16B also passes the incoming video signal VD to the voltage-current conversion circuit 1 through the hold analog switch 18B.
After converting into current at 9B, the integration is held in the integrating capacitor 20B, and the hold value is sent to the second hold signal S2 through the buffer circuit 21B.
Send as B. In this case as well, capacitor 20B
A clearing analog switch 22B is connected in parallel to the clearing analog switch 22B.

アナログ積分回路16A及び16Bのホールド
用アナログスイツチ18A及び18B、クリア用
アナログスイツチ22A及び22Bはそれぞれタ
イミング発生装置25(第2図)において発生さ
れる取込信号S3I、クリア信号S3Cによつて
オン制御される。
The hold analog switches 18A and 18B and the clear analog switches 22A and 22B of the analog integration circuits 16A and 16B are turned on by the acquisition signal S3I and clear signal S3C generated by the timing generator 25 (FIG. 2), respectively. be done.

すなわちタイミング発生装置25は第5図に示
すように、垂直同期信号V(第5図A)の開始点
t0を基準にして開始する第1、第2……番目の走
査ラインのうち監視領域A1及びA2を横切る走
査ラインについて監視領域A1及びA2に相当す
るタイミングで取込信号S3Iを発生する。第3
図の実施例の場合監視領域A1は第y1番目のライ
ン(第5図By1)から第(y1+n)番目のライン
(第5図B(y1+n)までのラインについて水平同
期信号Hy1〜H(y1+n)の開始時点からx軸方
向の座標x1に相当する時間だけ経過した時点で取
込タイミング信号TA1を監視領域A1のx軸方
向の距離mに相当する時間だけ立ち上げる。また
監視領域A2について第y2番目のラインから第y2
+n番目のライン(第5図By2〜B(y+n))ま
でのラインについて各水平同期信号Hy2〜H(y2
+n)の立上り時点から監視領域A2の座標x2
相当するタイミングだけ経過した時点でアナログ
スイツチ18Bに対する取込タイミング信号TB
1を監視領域A2のx軸方向の距離mに相当する
時間だけ立ち上げるようになされている。
That is, as shown in FIG. 5, the timing generator 25 generates the starting point of the vertical synchronization signal V (FIG. 5A)
The acquisition signal S3I is generated at timings corresponding to the monitoring areas A1 and A2 for the scanning lines that cross the monitoring areas A1 and A2 among the first, second, . . . th scanning lines starting from t0 . Third
In the case of the embodiment shown in the figure, the monitoring area A1 is a horizontal synchronizing signal for the lines from the y - th line (By 1 in FIG. 5) to the (y 1 +n)-th line (B(y 1 +n) in FIG. 5). When the time corresponding to the coordinate x 1 in the x-axis direction has elapsed from the start point of Hy 1 to H (y 1 + n), the capture timing signal TA1 is sent for a time corresponding to the distance m in the x-axis direction of the monitoring area A1. Also, for monitoring area A2, from the y 2nd line to the y 2
Each horizontal synchronizing signal Hy 2 to H(y 2
+n) When a timing corresponding to the coordinate x 2 of the monitoring area A2 has elapsed from the rising edge of the signal TB, the capture timing signal TB is sent to the analog switch 18B.
1 for a time corresponding to the distance m in the x-axis direction of the monitoring area A2.

かくして第3図において1フイールド分のビデ
オ信号について監視領域A1及びA2を走査ライ
ンが走査するタイミングでそれぞれアナログスイ
ツチ18A及び18Bがオン動作することによ
り、監視領域A1及びA2の光エネルギーに相当
するビデオ信号の積分値が該当するラインごとに
コンデンサ20A及び20Bにホールドされるこ
とになる。
Thus, in FIG. 3, the analog switches 18A and 18B are turned on at the timing when the scanning line scans the monitoring areas A1 and A2 for one field worth of video signal, so that the video signal corresponding to the optical energy of the monitoring areas A1 and A2 is turned on. The integrated value of the signal is held in capacitors 20A and 20B for each corresponding line.

アナログ積分回路16A及び16Bにホールド
されたアナログ積分値は各フイールドの開始時に
到来する垂直同期信号Vのタイミングでタイミン
グ発生装置25から送出されるクリア信号S3C
がクリア用アナログスイツチ22A及び22Bを
オン動作させることによつてクリアされ、これに
より1フイールドごとに監視領域A1及びA2に
相当するビデオ信号の光エネルギーを表すアナロ
グ積分量が得られることになる。
The analog integrated values held in the analog integration circuits 16A and 16B are cleared by a clear signal S3C sent from the timing generator 25 at the timing of the vertical synchronization signal V that arrives at the start of each field.
is cleared by turning on the clearing analog switches 22A and 22B, thereby obtaining an analog integrated amount representing the optical energy of the video signal corresponding to the monitoring areas A1 and A2 for each field.

このようにしてホールド装置11のホールド信
号S2A及びS2Bでなるアナログ積分出力信号
S4は当該ホールド動作をしたフイールド区間に
続くフイールド区間を使つてタイミング発生装置
25から送出されるサンプリングクロツク信号S
5によつてアナログデイジタル変換装置26にお
いてデイジタルデータに変換され、これが測定結
果データとして基準値計算装置27及び比較判定
装置28に与えられる。
In this way, the analog integrated output signal S4 consisting of the hold signals S2A and S2B of the hold device 11 is the sampling clock signal S sent out from the timing generator 25 using the field section following the field section in which the hold operation was performed.
5, the data is converted into digital data in an analog-to-digital converter 26, and this is provided as measurement result data to a reference value calculation device 27 and a comparison/judgment device 28.

基準値計算装置27は現在アナログデイジタル
変換装置26から得られている測定結果データS
6に基づいて射出成形機1において可動側型2及
び固定側型3間に製品が残つているか否かを過去
の測定結果データに基づいて判断できるように当
該判断基準値データを演算するもので、第6図に
示すように監視領域A1及びA2に対応する基準
値計算回路27A及び27Bを有する。
The reference value calculation device 27 uses the measurement result data S currently obtained from the analog-to-digital conversion device 26.
6, the judgment reference value data is calculated so that it can be judged based on past measurement result data whether or not there is a product remaining between the movable side mold 2 and the fixed side mold 3 in the injection molding machine 1. , as shown in FIG. 6, has reference value calculation circuits 27A and 27B corresponding to monitoring areas A1 and A2.

すなわち基準値計算回路27Aはアナログデイ
ジタル変換装置26から送られて来る測定結果デ
ータS6を、タイミング発生装置25から与えら
れるタイミング制御信号S8に基づいて演算処理
をする。すなわち測定結果データS6は互いに縦
続接続されている複数例えばk段のメモリM1,
M2……Mkのうち初段のメモリM1に与えら
れ、射出成形機1が製品を1つずつ成形する各射
出成形サイクルにおいて到来する測定結果データ
S6を順次シフトしながらメモリM1,M2……
Mkに記憶するようになされている。その結果メ
モリM1〜Mkには、過去k回の射出成形サイク
ルにおいて検出されたk個の測定結果データS6
が保存される。このメモリM1〜Mkに保存され
た測定結果データは加算器AD1に与えられ、そ
の加算結果データS9が観測データメモリ31の
出力として割算器32に与えられる。
That is, the reference value calculation circuit 27A performs arithmetic processing on the measurement result data S6 sent from the analog-to-digital converter 26 based on the timing control signal S8 given from the timing generator 25. That is, the measurement result data S6 is stored in a plurality of memories M1, for example, k stages, which are cascade-connected to each other.
M2...Memory M1, M2... is given to the first-stage memory M1 of Mk, and the measurement result data S6 that arrives in each injection molding cycle in which the injection molding machine 1 molds products one by one is sequentially shifted.
It is designed to be stored in Mk. As a result, the memories M1 to Mk contain k measurement result data S6 detected in the past k injection molding cycles.
is saved. The measurement result data stored in the memories M1 to Mk is provided to an adder AD1, and the addition result data S9 is provided to a divider 32 as an output of the observation data memory 31.

割算器32には観測データメモリ31の加算デ
ータ数kに相当する定数信号S10が定数設定器
30から与えられ、かくして割算器32からデー
タS9をデータS10で割つて得られる単純平均
値を表す平均値データS11が送出される。この
平均値データS11は乗算器構成の上限値回路3
3及び下限値回路34に与えられ、それぞれ定数
設定器35及び36から与えられる定数信号S1
2及びS13を乗算してなる上限値基準信号S1
4及び下限値基準信号S15を送出する。ここで
上限回路33に与えられる定数信号S12の内容
はrH(rH>1)に設定されると共に、下限値回路
34に与えられる定数設定信号S13の内容はrL
(rL<1)に設定されている。かくして上限値回
路33から過去k個の測定結果データの平均値よ
り大きい上限値基準信号S14が送出されかつ下
限値回路34から過去k個の測定データの平均値
より小さい下限値基準信号S15が送出される。
A constant signal S10 corresponding to the number k of addition data in the observation data memory 31 is given to the divider 32 from the constant setter 30, and the simple average value obtained by dividing the data S9 by the data S10 is given from the divider 32. Average value data S11 representing the average value is sent out. This average value data S11 is the upper limit value circuit 3 having a multiplier configuration.
3 and lower limit value circuit 34, and constant signal S1 given from constant setters 35 and 36, respectively.
Upper limit reference signal S1 obtained by multiplying 2 and S13
4 and a lower limit reference signal S15. Here, the content of the constant signal S12 given to the upper limit circuit 33 is set to r H (r H >1), and the content of the constant setting signal S13 given to the lower limit value circuit 34 is set to r L
(r L <1). In this way, the upper limit value circuit 33 sends out the upper limit reference signal S14, which is larger than the average value of the past k measurement result data, and the lower limit value circuit 34 sends out the lower limit value reference signal S15, which is smaller than the average value of the past k measurement data. be done.

これ等の基準信号S14及びS15は比較判定
装置28(第2図)に基準信号として与えられて
アナログデイジタル変換装置26から送出される
測定結果データS6と比較され、測定結果データ
S6が上限値基準信号S14より小さくかつ下限
値基準信号S15より大きい時射出成形機1から
製品が正常に落下して可動側型2及び固定側型3
間には物体が無いことを表わす物体検出信号S2
0を送出することになる。
These reference signals S14 and S15 are given as reference signals to the comparison/judgment device 28 (FIG. 2) and compared with the measurement result data S6 sent from the analog-to-digital converter 26, and the measurement result data S6 is used as the upper limit reference. When the signal is smaller than the signal S14 and larger than the lower limit reference signal S15, the product falls normally from the injection molding machine 1, and the movable side mold 2 and the fixed side mold 3
Object detection signal S2 indicating that there is no object between
It will send 0.

これに対して測定結果データS6が上限値基準
信号S14より大きい場合は、可動側型2及び固
定側型3間の明るさが製品が落下した状態と比べ
て明るいことを意味し、このことは製品が存在す
ること(その外表面はかなり明るいものである場
合)を表している。これに対して測定結果データ
S6が下限値基準信号S15より小さい場合は、
可動側型2及び固定側型3間の明るさが製品が無
い場合と比較して暗いこと換言すれば製品がある
こと(この場合製品の外表面はかなり暗いもので
ある)ことを表わしている。かくして射出成形機
1が型を開いた状態すなわち型開工程の後、突出
しピンによつて製品を落下させるべき突出工程を
開始するタイミングにおいて、製品が型2及び3
間にあるか否かを表わす物体検出信号S20を得
ることができる。
On the other hand, if the measurement result data S6 is larger than the upper limit reference signal S14, it means that the brightness between the movable mold 2 and the fixed mold 3 is brighter than when the product is dropped. Indicates the presence of a product (if its outer surface is fairly bright). On the other hand, if the measurement result data S6 is smaller than the lower limit reference signal S15,
The brightness between the movable side mold 2 and the fixed side mold 3 is darker than when there is no product, which means that there is a product (in this case, the outer surface of the product is quite dark). . In this way, when the injection molding machine 1 opens the mold, that is, after the mold opening process, and at the timing when the ejecting process in which the product is dropped by the ejecting pin starts, the product falls into the molds 2 and 3.
It is possible to obtain an object detection signal S20 indicating whether or not there is an object in between.

また基準値計算回路27Bは基準値計算回路2
7Aと同じ構成を有する。
Further, the reference value calculation circuit 27B is the reference value calculation circuit 2.
It has the same configuration as 7A.

かくして各監視領域A1及びA2ごとに物体の
有無の検出がなされてそれぞれ基準信号S14A
及びS14B、S15A及びS15Bが形成さ
れ、これが基準値計算装置27の基準信号S14
及びS15として送出される。
In this way, the presence or absence of an object is detected in each of the monitoring areas A1 and A2, and the reference signal S14A is generated.
, S14B, S15A and S15B are formed, and this is the reference signal S14 of the reference value calculation device 27.
and S15.

以上の構成において射出成形機1が1つの製品
について成形を終つて型開工程において可動側型
2を固定側型3に対して開いた後、空出工程にお
いて突出しピンによつて製品を突き落した後の時
点t1のタイミングで、第7図Aに示すように、射
出成形機1のシーケンサから検出指令信号S1が
タイミング発生装置25に到来すると(第2図)、
タイミング発生装置25は同期信号発生装置12
から送られて来るクロツク信号CLに基づいて、
第7図Bに示すように、その後の最初の垂直同期
信号Vが到来した時点t2において続く1フイール
ド区間に相当するデータ取込信号DTIN(第7図
D)を形成し、その立上りによつて形成したクリ
ア信号S31を用いてホールド装置11の第1及
び第2のアナログ積分回路16A及び16B(第
4図)のクリア用スイツチ22A及び22Bをオ
ン動作させてコンデンサ20A及び20Bのホー
ルド電圧をクリアし、かくしてホールド信号S2
A及びS2B(第7図C1及びC2)を一旦黒レ
ベルにクリアする。
In the above configuration, after the injection molding machine 1 finishes molding one product and opens the movable mold 2 to the fixed mold 3 in the mold opening process, the product is pushed out by the ejecting pin in the emptying process. When the detection command signal S1 arrives at the timing generator 25 from the sequencer of the injection molding machine 1 at the timing of time t1 after the injection molding machine 1 as shown in FIG. 7A (FIG. 2),
The timing generator 25 is the synchronizing signal generator 12
Based on the clock signal CL sent from
As shown in FIG. 7B, a data acquisition signal DT IN (FIG. 7D) corresponding to the following one field section is formed at time t2 when the first vertical synchronizing signal V arrives, and at the rising edge of the data acquisition signal DT IN (FIG. 7D). Using the thus formed clear signal S31, the clear switches 22A and 22B of the first and second analog integration circuits 16A and 16B (FIG. 4) of the hold device 11 are turned on to adjust the hold voltage of the capacitors 20A and 20B. and thus the hold signal S2
A and S2B (C1 and C2 in FIG. 7) are once cleared to black level.

その後タイミング発生装置25はデータ取込信
号DTIN(第7図D)の区間の間に監視領域A1及
びA2(第3図)に相当するデータ取込信号TA
1及びTB1(第7図E1及びE2)を発生する
と共にこれに応動して取込信号S3Iをホールド
装置11に与えることによりアナログ積分回路1
6A及び16B(第4図)のアナログスイツチ1
8A及び18Bを通じてコンデンサ20A及び2
0Bにサンプリングビデオ信号を積分ホールドさ
せる。かくして第1及び第2のアナログ積分回路
16A及び16Bのホールド信号S2A及びS2
Bは、第7図C1及びC2に示すように、時点t2
において一旦黒レベルにクリアされた後、取込信
号TA1及びTB1(第7図E1及びE2が与え
られるごとに上昇することになる。
Thereafter, the timing generator 25 generates a data acquisition signal TA corresponding to the monitoring areas A1 and A2 (FIG. 3) during the period of the data acquisition signal DT IN (FIG. 7D).
1 and TB1 (E1 and E2 in FIG. 7) and in response to this, the analog integrating circuit 1
Analog switch 1 of 6A and 16B (Figure 4)
Capacitors 20A and 2 through 8A and 18B
0B is made to integrate and hold the sampling video signal. Thus, the hold signals S2A and S2 of the first and second analog integration circuits 16A and 16B
B is at time t 2 as shown in FIG. 7 C1 and C2.
After being once cleared to the black level, it rises each time the acquisition signals TA1 and TB1 (E1 and E2 in FIG. 7 are applied).

ここで射出成形機1が正常動作して突出しピン
によつて製品が正しく落下した場合は、ホールド
信号S2A及びS2Bのレベルは基準値計算回路
27A及び27B(第6図)において得られる上
限値基準信号S14及び下限値基準信号S15の
中間のレベルになるので、比較判定装置28は物
体が無いことを表わす物体検出信号S20(第2
図)を送出させることになる。
If the injection molding machine 1 is operating normally and the product is correctly dropped by the ejector pin, the levels of the hold signals S2A and S2B are based on the upper limit values obtained in the reference value calculation circuits 27A and 27B (Fig. 6). Since the level is intermediate between the signal S14 and the lower limit reference signal S15, the comparison/judgment device 28 detects the object detection signal S20 (second
(Fig.) will be transmitted.

これに対して射出成形機1が突出しピンを動作
させたにもかかわらず製品が可動側型2から落下
しなかつた場合には、第7図に対応させて第8図
に示すように、取込信号TA1及びTB1(第8
図E1及びE2)が与えられた時のビデオ信号
VDの値は製品の表面がかなり明るいためにビデ
オ信号VDのレベルが大きくなる。したがつてホ
ールド装置11の第1及び第2のアナログ積分回
路16A及び16B(第4図)から送出されるホ
ールド信号S2A及びS2Bのレベルは基準値計
算回路27A及び27Bにおいて得られる上限値
基準信号S14A及びS14Bより大きくなる。
(第8図C1及びC2)。従つてこのとき比較判定
装置28は物体があることを内容とする物体検出
信号S20を送出することになる。
On the other hand, if the product does not fall from the movable mold 2 even though the injection molding machine 1 operates the ejector pin, the removal procedure is as shown in FIG. 8 corresponding to FIG. including signals TA1 and TB1 (8th
Video signal when given Figures E1 and E2)
Since the surface of the product is quite bright, the level of the video signal VD increases. Therefore, the levels of the hold signals S2A and S2B sent out from the first and second analog integration circuits 16A and 16B (FIG. 4) of the hold device 11 are equal to the upper limit reference signal obtained in the reference value calculation circuits 27A and 27B. It is larger than S14A and S14B.
(Figure 8 C1 and C2). Therefore, at this time, the comparison/judgment device 28 sends out an object detection signal S20 indicating that an object is present.

なお上述の場合は製品の表面の明るさが明るい
場合について述べたが、逆に製品の表面が製品が
無い場合と比較して暗い場合(たとえば製品の表
面が黒いような場合)には、第8図C1及びC2
に示すホールド信号S2A及びS2Bのレベルが
極端に低くなつて基準値計算装置27において得
られる下限値基準信号S15より低くなる。そこ
で、この場合も比較判定装置28は製品が射出成
形機1から落下しなかつたことを表わす物体検出
信号S20を送出することになる。
In addition, in the above case, the brightness of the surface of the product was described, but conversely, when the surface of the product is darker than when there is no product (for example, when the surface of the product is black), the brightness of the surface of the product is bright. 8 Figures C1 and C2
The levels of the hold signals S2A and S2B shown in FIG. Therefore, in this case as well, the comparison/judgment device 28 sends out the object detection signal S20 indicating that the product has not fallen from the injection molding machine 1.

ところでかかる物体検出動作は射出成形機1が
その後型締工程において可動側型2を閉じて1回
の射出成形サイクルを終了した後、続く射出成形
サイクルにおいて1つの製品を作るごとにシーケ
ンサから送られて来る指令信号S1によつて、ア
ナログデイジタル変換装置26から各サイクルご
とに送出される測定結果データS6が基準値計算
装置27に順次与えられ、この時基準値計算装置
27は基準値計算回路27A及び27Bのメモリ
M1,M2,M3……Mkに順次到来するデータ
をその到来ごとにシフトさせながら更新記録して
行く(第6図)。従つて過去k回の射出成形サイ
クルにおける製品落下時のビデオ信号の大きさが
基準値計算装置27に蓄えられ、このデータに基
づいて上限値基準信号S14及び下限値基準信号
S15が演算されることになる。
By the way, such object detection operation is sent from the sequencer every time one product is manufactured in the subsequent injection molding cycle after the injection molding machine 1 closes the movable mold 2 in the mold clamping process and completes one injection molding cycle. The measurement result data S6 sent from the analog-to-digital converter 26 every cycle is sequentially given to the reference value calculation device 27 by the command signal S1 that comes from the analog-to-digital conversion device 26, and at this time, the reference value calculation device 27 is connected to the reference value calculation circuit 27A. The data that arrives sequentially in the memories M1, M2, M3, . Therefore, the magnitude of the video signal when the product falls during the past k injection molding cycles is stored in the reference value calculation device 27, and the upper limit value reference signal S14 and the lower limit value reference signal S15 are calculated based on this data. become.

その結果、カメラ7による射出成形機1に対す
る撮像条件が途中で変化したような場合、例えば
光源の劣化や温度特性等によつてビデオ信号VD
のレベルがドリフトしたような場合には、その影
響が測定結果データS6のレベル変化として比較
判定装置28の測定入力側端の信号レベルの変動
として表われるが、この時基準値計算装置27の
基準値信号S14及びS15のレベルも同じ様な
傾向をもちながら変動することになるので、比較
判定装置28の判定動作において当該変動成分は
キヤンセルされることにより物体検出信号S20
による判定動作を安定化し得ることになる。
As a result, if the imaging conditions for the injection molding machine 1 by the camera 7 change during the process, for example due to deterioration of the light source or temperature characteristics, the video signal VD
When the level of the reference value calculation device 27 drifts, the influence appears as a level change in the measurement result data S6 as a fluctuation in the signal level at the measurement input side of the comparison/judgment device 28. Since the levels of the value signals S14 and S15 also fluctuate with the same tendency, the fluctuation components are canceled in the determination operation of the comparison and determination device 28, so that the object detection signal S20
Therefore, the determination operation can be stabilized.

以上のように第2図の構成によれば、ビデオ信
号VDによつて形成される画面上の所定の監視領
域A1及びA2について、射出成形機1におい
て、突出工程が終了したタイミングで、可動側型
2に射出成形された製品が残留しているか否かを
確実に検出することができ、かくするにつき撮像
条件の変動に基づくビデオ信号VDのドリフトが
生じてもその影響を受けない判定結果を得ること
ができる。
As described above, according to the configuration shown in FIG. 2, in the injection molding machine 1, at the timing when the ejection process is completed, the movable side It is possible to reliably detect whether or not the injection-molded product remains in the mold 2, and thus the determination result is not affected by the drift of the video signal VD due to fluctuations in the imaging conditions. Obtainable.

第2図の実施例の場合タイミング発生装置25
は、ホールド装置11に対して取込信号S3(従
つて第5図の取込信号TA1及びTB1)を発生
するために第9図の構成の取込信号発生回路41
を具えている。第9図において取込信号発生回路
41はRAM構成の監視位置指定メモリ42を有
し、この監視位置指定メモリ42に第3図につい
て上述した監視領域A1及びA2の走査位置に関
するデータがあらかじめ書込回路40を通じてメ
インコントローラ(図示せず)からのデータ信号
DPとして書込まれるようになされている。例え
ば第10図及び第11図に示すように第3図につ
いて上述した監視領域A1及びA2がV方向に4
本の走査ラインの長さを用いかつH方向に5つの
位置をもつような長さの領域を監視するものとす
ると、監視位置指定メモリ42は第12図に示す
ように監視領域A1についてライン番号データy1
〜y1+3についてx方向位置データx1及び積分回
路指定データ〔16A〕を内容とするデータを格
納し、また監視領域A2についてライン番号デー
タy2〜y2+3に対応してx方向位置データx2及び
積分回路指定データ〔16B〕を内容とするデー
タを格納している。各ライン番号データy1〜y1
3、y2〜y2+3はメモリ42の所定のメモリエリ
アに割当られ、当該メモリリエアのアドレスを読
出すことによりこれに割当られたライン番号デー
タに対応するx方向位置データ及び積分回路指定
データが読み出される。
In the embodiment shown in FIG. 2, the timing generator 25
is a take-in signal generation circuit 41 configured as shown in FIG.
It is equipped with In FIG. 9, the acquisition signal generation circuit 41 has a monitoring position designation memory 42 having a RAM configuration, and data regarding the scanning positions of the monitoring areas A1 and A2 described above with reference to FIG. 3 is written in advance in this monitoring position designation memory 42. Data signals from the main controller (not shown) through circuit 40
It is written as DP. For example, as shown in FIGS. 10 and 11, the monitoring areas A1 and A2 described above in FIG.
Assuming that the length of the scanning line of a book is used to monitor an area having five positions in the H direction, the monitoring position designation memory 42 stores line numbers for the monitoring area A1 as shown in FIG. data y 1
~y 1 +3 stores data containing x-direction position data x 1 and integral circuit designation data [16A], and stores x-direction position data corresponding to line number data y 2 ~y 2 +3 regarding monitoring area A2. x 2 and integral circuit designation data [16B] are stored. Each line number data y 1 ~ y 1 +
3, y 2 to y 2 +3 are allocated to a predetermined memory area of the memory 42, and by reading the address of the memory area, the x-direction position data and integral circuit designation data corresponding to the line number data allocated thereto can be obtained. Read out.

監視位置指定メモリ42には読出信号としてy
カウンタ43のカウント内容がアドレス変換器4
4を通じてメモリ42に与えられる。yカウンタ
43は同期信号発生装置12(第2図)から水平
同期信号Hに同期して与えられるクロツクパルス
CLHをカウントして行き、かくしてyカウンタ
43の内容はビデオ信号VDの走査ライン番号を
順次指定しく行くことになる。かかるyカウンタ
43の動作時のその内容がy1〜y1+3又はy2〜y2
+3になれば、対応するライン番号データに関す
るx方向位置データ及び積分回路指定データメモ
リ42に記憶されているので、これがそれぞれx
方向位置レジスタ45及び積分回路指定レジスタ
46に読み出される。x方向位置レジスタ45の
内容はコンパレータ47に与えられ、xカウンタ
48の内容と一致するかどうか監視される。xカ
ウンタ48はx方向の監視点の番号を順次指定し
て行くようになされ、例えば同期信号発生装置1
2(第2図)から得られる水平同期信号をを所定
数だけ分周したと同様の周期を有するクロツク信
号CLxをカウントして行くようになされている。
The monitoring position designation memory 42 receives y as a read signal.
The count contents of the counter 43 are the address converter 4
4 to the memory 42. The y counter 43 receives a clock pulse provided from the synchronization signal generator 12 (FIG. 2) in synchronization with the horizontal synchronization signal H.
CLH is counted, and thus the contents of the y counter 43 are sequentially designated as scanning line numbers of the video signal VD. The contents of the y counter 43 during operation are y 1 to y 1 +3 or y 2 to y 2
If it becomes +3, the x-direction position data and integral circuit designation data related to the corresponding line number data are stored in the memory 42, so these are
It is read out to the direction position register 45 and the integral circuit designation register 46. The contents of the x-direction position register 45 are given to a comparator 47 and monitored to see if they match the contents of the x counter 48. The x counter 48 is configured to sequentially designate the number of monitoring points in the x direction.
2 (FIG. 2) is divided by a predetermined number to count the clock signal CLx.

かくしてコンパレータ47において位置が検出
されると、その位置検出出力PSが例えばモノマ
ルチバイブレータ構成のパルス発生回路49にト
リガ信号として与えられ、これにより所定パルス
幅のパルスがデコーダ構成の取込信号発生回路5
0に対してロード信号として与えられる。取込信
号発生回路50は積分回路指定レジスタ46に記
憶されている積分回路指定データをライン信号
SW1又はSW2に変換し、これがアナログ積分
回路16A及び16B(第4図)のアナログスイ
ツチ18A及び18Bに対するオン制御信号とし
て送出される。
When the position is detected by the comparator 47 in this way, the position detection output PS is given as a trigger signal to the pulse generation circuit 49 having a mono-multivibrator configuration, for example, so that a pulse with a predetermined pulse width is sent to the acquisition signal generation circuit having a decoder configuration. 5
0 as a load signal. The acquisition signal generation circuit 50 converts the integration circuit designation data stored in the integration circuit designation register 46 into a line signal.
This signal is converted into SW1 or SW2 and sent as an ON control signal to analog switches 18A and 18B of analog integration circuits 16A and 16B (FIG. 4).

第9図の構成によれば、監視位置指定メモリ4
2は、第10図、第11図及び第12図から明ら
かなように、監視領域A1及びA2の左側端のx
方向位置データを対応する積分回路指定データと
共に記憶しており、かくしてビデオ信号が当該監
視領域A1又はA2の左側端を横切るような走査
ラインに相当する区間になればこの時のyカウン
タ43の内容に応じて監視位置指定メモリ42の
x方向位置データ及び積分回路指定データがx方
向位置レジスタ45及び積分回路指定レジスタ4
6に読み出され、これと同時に当該走査ラインに
ついてxカウンタ48の内容が当該走査ラインを
順次左側から右側に走査して行くようにカウント
動作する。やがてxカウンタ48の内容がx方向
位置レジスタ45に読出された内容と一致する状
態になると、このことはビデオ信号VDのうち監
視領域A1及びA2の左側端に相当する部分のビ
デオ信号が到来していることを意味する。この時
コンパレータ47は一致出力PSを発生するので
パルス発生回路49において発生されるパルスの
パルス幅に相当する時間の間取込信号発生回路5
0が積分回路指定レジスタ46の内容に相当する
取込指定信号をアナログ積分回路16A及び16
Bに送出することになる。ここでパルス発生回路
49のパルス幅は監視領域A1及びA2のx方向
の長さに相当する長さに選定されているので、取
込信号発生回路50から出力される取込信号の発
生時間は丁度監視領域A1及びA2を走査してい
る時間と一致することを意味している。
According to the configuration shown in FIG. 9, the monitoring position designation memory 4
2 is x at the left end of the monitoring areas A1 and A2, as is clear from FIGS. 10, 11, and 12.
The direction position data is stored together with the corresponding integration circuit designation data, and thus, when the video signal reaches a section corresponding to a scanning line that crosses the left end of the monitoring area A1 or A2, the contents of the y counter 43 at this time are stored. In accordance with
6, and at the same time, the contents of the x counter 48 for the relevant scanning line are counted so as to sequentially scan the relevant scanning line from the left to the right. When the contents of the x-counter 48 eventually match the contents read to the x-direction position register 45, this means that the video signal of the portion of the video signal VD corresponding to the left end of the monitoring areas A1 and A2 has arrived. means that At this time, the comparator 47 generates a coincidence output PS, so the acquisition signal generation circuit 5
A capture designation signal whose value 0 corresponds to the content of the integration circuit designation register 46 is sent to the analog integration circuits 16A and 16.
It will be sent to B. Here, since the pulse width of the pulse generation circuit 49 is selected to be a length corresponding to the length of the monitoring areas A1 and A2 in the x direction, the generation time of the acquisition signal output from the acquisition signal generation circuit 50 is This means that the time exactly coincides with the time when the monitoring areas A1 and A2 are being scanned.

従つて第7図及び第8図について上述したよう
に、監視領域A1及びA2を横切る4本の走査ラ
インについて取込信号TA1及びTB1(第7図
E1及びE2、第8図E1及びE2)が得られる
ことになり、これによりアナログ積分回路16A
及び16Bに監視領域A1及びA2に相当するビ
デオ信号の積分値が当該監視領域A1及びA2の
光エネルギーを表す情報としてホールドされて基
準値と比較されることにより、簡易に判定結果を
得ることができる。
Therefore, as described above with respect to FIGS. 7 and 8, the acquisition signals TA1 and TB1 (E1 and E2 in FIG. 7, E1 and E2 in FIG. 8) for the four scan lines crossing the monitoring areas A1 and A2 are As a result, the analog integration circuit 16A
and 16B, the integrated values of the video signals corresponding to the monitoring areas A1 and A2 are held as information representing the optical energies of the monitoring areas A1 and A2, and are compared with a reference value, thereby making it possible to easily obtain a determination result. can.

かくするにつき第9図のように構成すれば、監
視領域に相当するビデオ信号VDが到来したこと
を判知するにつき比較的簡易な構成で済むことに
なる。因に監視位置指定メモリ42のデータとし
ては監視領域の開始位置についてのデータだけを
格納しておけば良く、従つて監視領域の数が大き
くなつてもメモリ42の記憶容量をそれほど大き
くしなくても良い。また監視位置の指定や監視領
域の面積などを変更する場合には監視位置メモリ
42の格納データを変更するだけで済み、かくし
て汎用性の大きい射出成形機の監視装置を実現で
きる。
Therefore, if the configuration is as shown in FIG. 9, a relatively simple configuration is required for determining the arrival of the video signal VD corresponding to the monitoring area. Incidentally, it is only necessary to store data regarding the start position of the monitoring area as the data in the monitoring position designation memory 42, and therefore, even if the number of monitoring areas increases, the storage capacity of the memory 42 does not need to be increased that much. Also good. Further, when changing the designation of the monitoring position or the area of the monitoring area, it is only necessary to change the data stored in the monitoring position memory 42, thus realizing a highly versatile injection molding machine monitoring device.

なお第10図〜第12図の実施例の場合は、監
視領域A1及びA2が同一走査ライン上に重なつ
ていない場合について述べたが、複数の監視領域
が同一走査ライン上に重なつて設定されるような
場合には、第9図において点線で示すように、ア
ドレス変換器44に対してxカウンタ48のカウ
ント内容を入力し、これによりx及びy方向の位
置を指定することによつて対応するx方向位置デ
ータ及び積分回路指定データを指定するようにし
ても良い。またコンパレータ47においてxカウ
ンタ48の内容に限らずyカウンタ43の内容を
必要に応じて比較入力として与えるようにしても
良い。もちろん監視領域の数は上述の実施例の場
合のように2個に限らず3個以上にすることもで
きるし、逆に1つにすることもできる。
In the embodiments shown in FIGS. 10 to 12, the case where the monitoring areas A1 and A2 do not overlap on the same scanning line has been described, but it is also possible to set multiple monitoring areas so that they overlap on the same scanning line. In this case, as indicated by the dotted line in FIG. Corresponding x-direction position data and integrating circuit designation data may also be specified. Furthermore, the comparator 47 may be provided with not only the contents of the x counter 48 but also the contents of the y counter 43 as a comparison input as necessary. Of course, the number of monitoring areas is not limited to two as in the above embodiment, but can be three or more, or conversely can be one.

また上述においては映像画面を監視するにつき
特定の領域を指定するようにした場合について述
べたが、これに代え第13図に示すように、走査
ラインに沿つて所定長さの間だけ監視するように
しても良い。この場合は第12図において例えば
監視領域指定位置についての記憶データとして1
つだけのライン(第12図の場合は複数ラインだ
が)についてのx方向位置データ及び積分回路脂
定データを記憶するようにすれば良い。このよう
にしても上述の監視領域について上述した場合と
同様にして、当該監視領域の光エネルギーを表す
検出出力を用いて簡易に判定結果を得ることがで
きる。
Furthermore, in the above description, a case has been described in which a specific area is designated for monitoring the video screen, but instead of this, as shown in FIG. You can also do it. In this case, in FIG. 12, for example, 1
It is sufficient to store the x-direction position data and integral circuit stability data for only one line (in the case of FIG. 12, there are multiple lines). Even in this case, the determination result can be easily obtained using the detection output representing the optical energy of the monitoring area in the same manner as described above regarding the monitoring area.

この明細書において、第13図に示すような走
査ラインに沿う監視対象を含めて監視領域と呼
ぶ。
In this specification, the monitoring area includes the monitoring target along the scanning line as shown in FIG. 13.

第14図は基準値計算装置27の他の実施例を
示したもので、第6図との対応部分に同一符号を
付して示すように、基準値の演算をするにつき、
第6図の場合は射出成形機1の可動側型2が型開
工程において動いた後、突出工程において突出し
ピンによつて製造された製品が落下させられた後
のタイミングで基準値を得るための観測データメ
モリ31及び割算器32をもつように構成された
が、第14図の場合はこれに加えて、突出しピン
によつて製品が落下させられる前のタイミングで
基準値を演算するようになされている点に特徴が
ある。
FIG. 14 shows another embodiment of the reference value calculation device 27, and as shown by assigning the same reference numerals to the corresponding parts as in FIG.
In the case of Fig. 6, the reference value is obtained at the timing after the movable mold 2 of the injection molding machine 1 moves in the mold opening process and after the manufactured product is dropped by the ejection pin in the ejection process. However, in the case of Fig. 14, in addition to this, the reference value is calculated at the timing before the product is dropped by the ejector pin. It is characterized by the fact that it is done.

すなわち第14図の場合の基準値計算装置27
は、観測データメモリ31と同様の構成を有する
前置観測データメモリ55、割算器32と同様の
割算器56、及び定数設定器30と同様の定数設
定器57を具える。ここで観測データメモリ31
及び前置観測データメモリ55への測定結果デー
タS6の入力は切換スイツチ回路58を介してな
される。
That is, the reference value calculation device 27 in the case of FIG.
includes a pre-observation data memory 55 having the same configuration as the observation data memory 31, a divider 56 similar to the divider 32, and a constant setter 57 similar to the constant setter 30. Here, observation data memory 31
The measurement result data S6 is input to the pre-observation data memory 55 via the changeover switch circuit 58.

この切換スイツチ58は射出成形機1のシーケ
ンサから与えられる切換制御信号S21によつて
切換制御され、スイツチ58は射出成形機1が可
動側型2を開き終つた後の時点で前置観測データ
メモリ55側に切り換わつて測定結果データS6を
スイツチ回路58を通じて前置観測データメモリ
55側に入力し、これに対して突出動作がなされ
て製品が落下された後のタイミングで測定結果デ
ータS6を観測データメモリ31に入力するよう
になされている。
This changeover switch 58 is controlled by a changeover control signal S21 given from the sequencer of the injection molding machine 1, and the switch 58 is switched to the pre-observation data memory after the injection molding machine 1 has finished opening the movable mold 2. 55 side, the measurement result data S6 is inputted to the front observation data memory 55 side through the switch circuit 58, and the measurement result data S6 is input at the timing after the ejecting operation is performed and the product is dropped. It is designed to be input into an observation data memory 31.

かくして突出工程において突出しピンの突出動
作前後の観測データがメモリ31及び55にそれ
ぞれ格納され、その単純平均値を割算器32及び
56で求め、その演算結果を加算器60及び割算
器61において単純平均演算をした後比較判定装
置28へ基準信号S25として送出する。これに
加えて割算器32及び56の出力が比較器62に
与えられ、射出成形機1の突出動作前の演算デー
タと突出後の演算データとの変化を比較機62に
おいて検出して比較判定装置28に対する基準値
信号S26として送出される。
Thus, in the ejecting process, the observation data before and after the ejecting operation of the ejector pin are stored in the memories 31 and 55, respectively, and the simple average value of the data is calculated by the dividers 32 and 56, and the calculation result is calculated by the adder 60 and the divider 61. After performing a simple average calculation, it is sent to the comparison/judgment device 28 as a reference signal S25. In addition, the outputs of the dividers 32 and 56 are given to a comparator 62, and the comparator 62 detects a change between the calculated data before the ejection operation of the injection molding machine 1 and the calculated data after the ejected operation, and makes a comparative judgment. It is sent out as a reference value signal S26 to the device 28.

第14図の構成において、基準値計算装置27
は射出成形機1の突出動作の前及び後の観測デー
タをそれぞれ観測データメモリ31及び55に格
納できる。ところが突出動作前のデータは射出成
形機1によつて製造された製品が未だ可動側型2
上に残つている状態におけるデータであり、従つ
て当該データは製品の外表面の明るさを表わして
いることになる。これに対して突出後に観測デー
タメモリ31に格納されたデータは射出成形機1
から製品が落下した状態におけるデータであり、
従つて射出成形機1が正常動作をしていれば観測
データメモリ31のデータは製品が無い状態にお
ける射出成形機1の明るさを表わしていることに
なる。
In the configuration of FIG. 14, the reference value calculation device 27
can store observation data before and after the ejection operation of the injection molding machine 1 in observation data memories 31 and 55, respectively. However, the data before the ejection operation shows that the product manufactured by injection molding machine 1 is still in the movable mold 2.
This data represents the brightness of the outer surface of the product. On the other hand, the data stored in the observation data memory 31 after ejection is the injection molding machine 1.
This is data when the product was dropped from
Therefore, if the injection molding machine 1 is operating normally, the data in the observation data memory 31 will represent the brightness of the injection molding machine 1 when there is no product.

従つて割算器61において単純平均演算によつ
て得られる基準値信号S25は射出成形機1に製
品が有る場合と無い場合との中間値を表わしてい
ることになり、かくして比較判定装置28に与え
られる測定結果データS6は確実に基準値S25
を中心にして製品が有る場合と無い場合とで基準
値S25を越える場合と越えない場合とについて
明確な判断ができる。かくするにつき基準値S2
5は光源やカメラなどのドリフトがあつても、こ
れを含んで基準値を形成していることにより比較
判定装置28の判定動作時にこれらのドリフトを
キヤンセルできることにより、物体検出信号S2
0はドリフトの影響を生じさせないようにでき
る。
Therefore, the reference value signal S25 obtained by the simple average calculation in the divider 61 represents the intermediate value between when there is a product in the injection molding machine 1 and when there is no product in the injection molding machine 1. The given measurement result data S6 is definitely the reference value S25.
A clear judgment can be made as to whether the standard value S25 is exceeded or not, depending on whether the product is present or not. Therefore, the standard value S2
5, even if there are drifts of the light source, camera, etc., these drifts can be canceled during the judgment operation of the comparison judgment device 28 by forming a reference value that includes them, so that the object detection signal S2
0 can prevent the effect of drift from occurring.

また比較器62においては製品が有る場合の測
定データと無い場合の測定データとを比較してい
るので製品の表面の色が黒又は白いずれの場合で
あつても製品が有るか無いかの判断を確実に行う
ことができる。
In addition, since the comparator 62 compares the measured data when the product is present and the measured data when the product is not present, it can be determined whether the product is present or not regardless of whether the surface color of the product is black or white. can be done reliably.

因に製品が黒であれば製品が有る場合の観測デ
ータのレベルは低くなるのに対して製品が落下し
て無くなれば黒い物体が無くなることになるの
で、当該製品が無い時の観測データのレベルは有
る場合と比較して高くなる。従つて比較器62に
到来する信号のレベルに変化があれば、射出成形
機1は突出しピンによる突出動作によつて製品が
無い状態になつたことを確実に表わす基準信号S
26を送出できることになる。逆に製品が白い場
合は製品がある場合の観測データのレベルの方が
無い場合の観測データのレベルより高いので、こ
の場合も比較器62に到来する2つの信号に差異
があることに基づいて製品が射出成形機1内に無
いことを確実に判別することができる。そしてこ
の場合も比較判定装置28における判定結果にド
リフトによる影響を生じさせないようにできる。
Incidentally, if the product is black, the level of observation data when the product is present will be low, whereas if the product falls and disappears, there will be no black object, so the level of observation data when the product is absent will be lower. is higher than when it exists. Therefore, if there is a change in the level of the signal arriving at the comparator 62, the injection molding machine 1 outputs a reference signal S that reliably indicates that the product is no longer present due to the ejecting operation of the ejector pin.
26 can be sent. Conversely, when the product is white, the level of observation data when there is a product is higher than the level of observation data when there is no product. It can be reliably determined that there is no product in the injection molding machine 1. Also in this case, it is possible to prevent the influence of drift from occurring on the determination result in the comparison and determination device 28.

第14図の構成において、タイミング発生装置
25(第2図)は射出成形機1のシーケンサから
の指令に基づいて、第15図Aに示すように、突
出しピンが突出動作をする前の時点t11において
演算指令S81を受けると共に、突出動作後の時
点t21において再度演算指令S82を受けるよう
になされている。このように演算指令S81及び
S82を受けると基準値計算装置27は、第7図
に対応させて第15図に示すように、演算指令S
81を受けた時、第15図C1及びC2に示すよ
うに、製品がある状態においてアナログ積分回路
16A及び16Bにおいて積分した結果得られる
高いレベルのホールド信号S2A及びS2Bが得
られ、これが前置観測データメモリ55に格納さ
れる。
In the configuration shown in FIG. 14, the timing generator 25 (FIG. 2) generates a signal at a time t before the ejector pin performs the ejecting operation, as shown in FIG. 15A, based on a command from the sequencer of the injection molding machine 1. 11 , the calculation command S81 is received, and at the time t21 after the ejection operation, the calculation command S82 is received again. Upon receiving the calculation commands S81 and S82 in this way, the reference value calculation device 27 calculates the calculation command S81 and S82 as shown in FIG. 15 corresponding to FIG.
81, as shown in FIG. 15 C1 and C2, high-level hold signals S2A and S2B are obtained as a result of integration in the analog integration circuits 16A and 16B in a certain state of the product, and these are the pre-observation signals. The data is stored in the data memory 55.

これに対して演算指令S82が得られた時はア
ナログ積分回路16A及び16Bには製品が無い
状態を表わす低レベルのビデオ信号が到来してい
るので、第15図C1及びC2に示すように、低
いレベルのホールド信号S2A及びS2Bが得ら
れ、これが観測データメモリ31に格納される。
従つて割算器56から得られる演算結果データの
レベルは高いのに対して割算器32から得られる
演算結果データは低いレベルになる。
On the other hand, when the calculation command S82 is obtained, the analog integration circuits 16A and 16B receive a low-level video signal representing a state in which there is no product, so as shown in FIG. 15 C1 and C2, Low level hold signals S2A and S2B are obtained and stored in observation data memory 31.
Therefore, the level of the operation result data obtained from the divider 56 is high, whereas the operation result data obtained from the divider 32 is at a low level.

かかる動作は正常時の動作であるが、異常が生
じて射出成形機1内に製品が残つたような場合に
は観測データメモリ31に格納されるデータのレ
ベルも高くなつて割算器32の出力レベルは割算
器56とほぼ等しくなる。
This operation is a normal operation, but if an abnormality occurs and a product remains in the injection molding machine 1, the level of data stored in the observation data memory 31 becomes high, and the level of the data stored in the observation data memory 31 increases. The output level becomes approximately equal to that of the divider 56.

第16図は基準値計算装置27のさらに他の実
施例を示す。すなわち第6図及び第14図におい
て、観測データメモリ31及び55の構成を第1
6図の観測データメモリ65に置き代える。観測
データメモリ65は、第6図及び第14図との対
応部分に同一符号を付して示すように、メモリM
1,M2……Mkの出力を重み設定器W1,W2
……Wkの重み付け出力w1,w2……wkを係数入
力として乗算器PL1,PL2……PLkを通じて加
算器AD1に与えるようになされている。
FIG. 16 shows yet another embodiment of the reference value calculation device 27. That is, in FIGS. 6 and 14, the configuration of observation data memories 31 and 55 is
It is replaced with the observation data memory 65 shown in FIG. The observation data memory 65 is a memory M, as shown by attaching the same reference numerals to the corresponding parts in FIGS. 6 and 14.
1, M2...The output of Mk is set by weight setters W1, W2
... Wk's weighted outputs w 1 , w 2 ...w k are applied as coefficient inputs to the adder AD1 through multipliers PL1, PL2 ... PLk.

第16図のように構成すれば、過去k個のデー
タに基づいて基準データを得るにつき、各データ
の重要度に応じて重みづけをすることによつて基
準値として最適なデータを得ることができる。例
えば射出成形機1の背景の明るさが時間の経過と
共に変化するような場合は、より新しい観測デー
タがもつとも有効なデータであると考えられるか
ら、重み付け設定値w1,w2……wkはw1>w2……
>wkの関係に設定しておけば背景の明るさの変
化に基づく誤差が比較判定装置28の判定結果に
表れるのを未然に防止できることになる。
With the configuration shown in Fig. 16, when obtaining reference data based on k pieces of past data, it is possible to obtain optimal data as a reference value by weighting each data according to its importance. can. For example, if the background brightness of the injection molding machine 1 changes over time, newer observation data is considered to be more effective data, so the weighting set values w 1 , w 2 ... w k is w 1 > w 2 ……
By setting the relationship > wk , it is possible to prevent errors due to changes in background brightness from appearing in the determination results of the comparison and determination device 28.

なお第2図の実施例の場合、ホールド装置11
はビデオ信号をアナログ値としてホールドし、当
該ホールド信号をアナログデイジタル変換装置2
6によつてデイジタル値に変換した後比較判定装
置28においてデイジタル的に物体の有無の判定
をするようになされているが、これに代えて第1
7図に示すように、ホールド装置11において得
られるアナログホールド信号を直接比較判定装置
28に与え、比較判定装置28においてアナログ
的に物体の有無の判定をするようにしても良い。
この場合ホールド装置11の出力S4はアナログ
デイジタル変換装置71においてデイジタル信号
に変換されて基準値計算装置27に測定結果デー
タとして与えられ、また基準値計算装置27にお
いて演算の結果得られる基準値信号はデイジタル
アナログ変換装置72においてアナログ信号に変
換された後比較判定装置28に与えられる。この
ようにしても第2図について上述したと同様の効
果を得ることができる。
In the case of the embodiment shown in FIG. 2, the hold device 11
holds the video signal as an analog value, and converts the hold signal into an analog-to-digital converter 2.
6, the comparison and determination device 28 digitally determines the presence or absence of the object.
As shown in FIG. 7, the analog hold signal obtained in the hold device 11 may be directly applied to the comparison and determination device 28, and the comparison and determination device 28 may determine the presence or absence of an object in an analog manner.
In this case, the output S4 of the hold device 11 is converted into a digital signal by the analog-to-digital converter 71 and given to the reference value calculation device 27 as measurement result data, and the reference value signal obtained as a result of calculation in the reference value calculation device 27 is The signal is converted into an analog signal by the digital-to-analog converter 72 and then provided to the comparison/judgment device 28 . Even in this case, the same effect as described above with respect to FIG. 2 can be obtained.

また第2図の構成に代え、第18図に示すよう
に、ホールド装置11としてデイジタルデータを
ホールドするような構成に変更しても良い。すな
わちこの場合カメラ7から到来するビデオ信号
VDはタイミング発生装置25の取込信号S3に
応じて積分回路73において監視領域A1及びA
2(第3図)の面積に応じて積分した後、その積
分結果をアナログデイジタル変換装置74におい
てデイジタル信号に変換してデイジタルメモリ7
5に格納する。かくすればホールド装置11から
デイジタル信号形式の測定結果データS6を得る
ことができ、従つてこの測定結果データS6を直
接基準値計算装置27及び比較判定装置28に与
えるようにできる。かくしても第2図の場合と同
様の効果を得ることができる。
Further, instead of the configuration shown in FIG. 2, the configuration may be changed to one in which digital data is held as the hold device 11, as shown in FIG. i.e. in this case the video signal coming from camera 7
VD is detected in the monitoring areas A1 and A in the integrating circuit 73 according to the input signal S3 of the timing generator 25.
After integrating according to the area of 2 (FIG. 3), the integration result is converted into a digital signal in an analog-to-digital converter 74 and stored in the digital memory 7.
Store in 5. In this way, measurement result data S6 in digital signal format can be obtained from the hold device 11, and therefore, this measurement result data S6 can be directly provided to the reference value calculation device 27 and the comparison/judgment device 28. In this way, the same effect as in the case of FIG. 2 can be obtained.

さらに第18図における積分回路73の構成に
代えてこれをデイジタル的に積分するような第1
9図の構成のように変更しても良い。すなわち第
19図においてカメラ7から到来するビデオ信号
VDは各ライン上のx方向の位置に対応する瞬時
値をサンプル回路76においてサンプリングして
アナログデイジタル変換装置77においてデイジ
タル値に変換した後加算器78に与える。加算器
78は監視領域におる各サンプル点ごとに到来す
る瞬時値データを順次加算し、その加算結果をデ
イジタルメモリ79に格納する。このようにすれ
ば加算器78の出力端には監視領域の面積全体に
わたつてサンプルされたビデオデータが積算され
ることにより実質的にアナログ信号を積分したと
同様のデータを得ることができる。このようにす
れば、第18図において得ることができる効果を
第19図の構成によつても得ることができる。
Furthermore, instead of the configuration of the integrating circuit 73 in FIG. 18, a first
The structure may be changed as shown in FIG. 9. That is, in FIG. 19, the video signal coming from camera 7
VD samples instantaneous values corresponding to positions in the x direction on each line in a sampling circuit 76 and converts them into digital values in an analog-to-digital converter 77, which is then applied to an adder 78. The adder 78 sequentially adds the instantaneous value data arriving at each sample point in the monitoring area, and stores the addition result in the digital memory 79. In this way, the video data sampled over the entire area of the monitoring area is integrated at the output end of the adder 78, thereby making it possible to obtain data substantially similar to integrating an analog signal. In this way, the effect that can be obtained in FIG. 18 can also be obtained with the configuration shown in FIG. 19.

またアナログ信号をホールドするホールド装置
11として第4図のアナログ積分回路16A及び
16Bに代えて、それぞれ第20図の構成のもの
を適用しても良い。すなわち第20図の場合は第
4図の電圧電流変換回路19A及び19Bに代え
てフイルタ回路81を設けた点が異なる。ここで
フイルタ回路81はハイパスフイルタで構成さ
れ、従つてカメラから得られるビデオ信号に含ま
れる直流成分はフイルタ回路81を通過すること
ができず、その結果ビデオ信号だけがコンデンサ
20A及び20Bにホールドされることになる。
従つて直流成分の変化にともなう判定結果の誤差
を軽減することができる。これに加えてフイルタ
回路81はコンデンサ20A及び20Bにホール
ドするビデオ信号の周波数を特定の領域に制限す
るのでこの分低周波帯域部分に含まれるノイズを
除去することができる。
Furthermore, instead of the analog integrating circuits 16A and 16B shown in FIG. 4 as the hold device 11 for holding analog signals, those having the configuration shown in FIG. 20 may be applied. That is, the case of FIG. 20 differs in that a filter circuit 81 is provided in place of the voltage-current conversion circuits 19A and 19B of FIG. Here, the filter circuit 81 is composed of a high-pass filter, and therefore, the DC component contained in the video signal obtained from the camera cannot pass through the filter circuit 81, and as a result, only the video signal is held in the capacitors 20A and 20B. That will happen.
Therefore, it is possible to reduce errors in the determination results due to changes in the DC component. In addition, since the filter circuit 81 limits the frequency of the video signal held in the capacitors 20A and 20B to a specific region, it is possible to remove noise contained in the low frequency band portion.

また第4図の構成をホールド装置においては複
数のサンプル信号をホールドするにつきコンデン
サ40A及び40Bでなるアナログメモリを取込
用アナログスイツチ18A及び18Bを介して並
列に接続した構成を有するがこれに代え、第21
図に示すように、バツフア回路15を通じて得ら
れるビデオ信号をそれぞれアナログスイツチ82
A,82B……82(N−1)を通じて互いに縦
続接続されたアナログメモリ83A,83B……
83Nに与えるようにし、各アナログメモリ83
A,83B……83Nから並列に各監視点に相当
する測定出力信号S31A,S31B……S31
Nを送出するようにしても良い。
In addition, in the hold device having the configuration shown in FIG. 4, in order to hold a plurality of sample signals, an analog memory consisting of capacitors 40A and 40B is connected in parallel via input analog switches 18A and 18B, but instead of this, , 21st
As shown in the figure, the video signals obtained through the buffer circuit 15 are transferred to analog switches 82 and 82 respectively.
Analog memories 83A, 83B... which are cascade-connected to each other through A, 82B...82(N-1).
83N, and each analog memory 83
Measurement output signals corresponding to each monitoring point S31A, S31B...S31 in parallel from A, 83B...83N
It is also possible to send out N.

さらに第22図に示すように、第21図の構成
において測定出力信号を最終段のアナログメモリ
83Nだけから送出するようにすれば、かくして
得られる出力信号S32は各監視点に対応する測
定信号を時間直列の態様で送出することができる
ことになる。このようにしても第4図について上
述したと同様の効果を得ることができる。
Furthermore, as shown in FIG. 22, in the configuration shown in FIG. 21, if the measurement output signal is sent only from the final stage analog memory 83N, the output signal S32 obtained in this way will be the measurement signal corresponding to each monitoring point. This means that it can be transmitted in a time-series manner. Even in this case, the same effect as described above with respect to FIG. 4 can be obtained.

さらに上述の実施例においてはカメラ7から同
期信号発生装置12に対して同期信号を与えるよ
うにしたがこれこに代え、同期信号発生装置12
において発生した同期信号にカメラ7が同期する
ようにしても良い。
Furthermore, in the above-described embodiment, the synchronizing signal is given from the camera 7 to the synchronizing signal generating device 12, but instead of this, the synchronizing signal generating device 12
The camera 7 may be synchronized with the synchronization signal generated in the above.

上述のように本発明によれば、射出成形機から
与えられるタイミング指令信号に基づいて、型開
工程が終了して突出工程が開始するタイミングに
おいて射出成形製品があるべき監視位置の映像
と、突出工程が終了するタイミングにおける当該
監視位置の映像とを比較することにより突出工程
において製品が突き落されたか否かを確実に判定
し得る。かかる判定をするにつき、上記監視領域
に対応するビデオ信号を積分することにより当該
監視領域における光エネルギーを検出し、この検
出結果を基準値と比較するようにしたことによ
り、一段と雑音を低減できる。これに加えて従来
の場合のように一旦陰極線管上に画面を再現しな
くとも良いので、この分全体としての構成を小型
化できると共に測定作業が煩雑にならないで済
み、かつ操作ミスや画面の表面に配設すべきセン
サに対して光が入るために誤差が生ずるおそれの
ない射出成形機の監視装置を容易に得ることがで
きる。
As described above, according to the present invention, based on the timing command signal given from the injection molding machine, an image of the monitoring position where the injection molded product should be at the timing when the mold opening process ends and the ejection process starts, and the ejection By comparing the image of the monitoring position at the timing at which the process ends, it is possible to reliably determine whether or not the product has been pushed down in the ejection process. In making such a determination, the light energy in the monitoring area is detected by integrating the video signal corresponding to the monitoring area, and the detection result is compared with a reference value, thereby making it possible to further reduce noise. In addition, unlike the conventional case, it is not necessary to reproduce the screen on the cathode ray tube once, so the overall configuration can be made smaller and the measurement work does not become complicated, and it is possible to prevent operational errors and screen errors. It is possible to easily obtain a monitoring device for an injection molding machine in which there is no possibility of errors occurring due to light entering the sensor to be disposed on the surface.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明による射出成形機監視装置の概
要を示す略線的斜視図、第2図はその物体検出回
路の詳細構成を示すブロツク図、第3図は監視領
域の説明に供する略線図、第4図は第2図のホー
ルド装置11の詳細構成を示す接続図、第5図は
第2図のタイミング発生装置25からホールド装
置11に与えられる取込信号を表わす信号波形
図、第6図は第2図の基準値計算装置27の具体
的構成を示すブロツク図、第7図及び第8図は第
2図の各部の信号を示す信号波形図、第9図は第
2図のタイミング発生装置25に含まれる取込信
号発生回路41を詳細に示すブロツク図、第10
図〜第12図は第9図の構成の説明に供する略線
図及び図表、第13図は監視領域の他の実施例を
示す略線図、第14図は第2図の基準値計算装置
27の他の実施例を示すブロツク図、第15図は
その動作の説明に供する信号波形図、第16図は
第2図の基準値計算装置27のさらに他の実施例
を示すブロツク図、第17図〜第19図は第2図
のさらに他の実施例を示すブロツク図、第20図
は第2図のホールド装置11の他の実施例を示す
接続図、第21図及び第22図は第2図のホール
ド装置11のさらに他の実施例を示すブロツク図
である。 1……射出成形機、2,3……可動側、固定側
型、7……ビデオカメラ、8……物体検出回路、
11……ホールド装置、12……同期信号発生装
置、25……タイミング発生装置、26……アナ
ログデイジタル変換装置、27……基準値計算装
置、28……比較判定装置、41……取込信号発
生回路。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing an overview of the injection molding machine monitoring device according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing the detailed configuration of the object detection circuit, and FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the monitoring area. 4 is a connection diagram showing the detailed configuration of the hold device 11 in FIG. 2, FIG. 6 is a block diagram showing the specific configuration of the reference value calculation device 27 in FIG. 2, FIGS. 7 and 8 are signal waveform diagrams showing signals of each part in FIG. 2, and FIG. 10 is a block diagram showing details of the acquisition signal generation circuit 41 included in the timing generation device 25.
12 are schematic diagrams and charts for explaining the configuration of FIG. 9, FIG. 13 is a schematic diagram showing another embodiment of the monitoring area, and FIG. 14 is the reference value calculation device of FIG. 2. 15 is a signal waveform diagram for explaining its operation. FIG. 16 is a block diagram showing still another embodiment of the reference value calculation device 27 of FIG. 2. 17 to 19 are block diagrams showing still other embodiments of the holding device 11 of FIG. 2, FIG. 20 is a connection diagram showing another embodiment of the holding device 11 of FIG. 2, and FIGS. 3 is a block diagram showing still another embodiment of the holding device 11 of FIG. 2. FIG. 1... Injection molding machine, 2, 3... Movable side, fixed side mold, 7... Video camera, 8... Object detection circuit,
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... Hold device, 12... Synchronization signal generator, 25... Timing generator, 26... Analog-to-digital converter, 27... Reference value calculation device, 28... Comparison/judgment device, 41... Capture signal generation circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 型を締めた状態で成形材料を射出する第1の
工程と、射出成形終了後上記型を開く第2の工程
と、上記型によつて成形された製品を突き出し処
理することにより取り出す第3の工程とを作業工
程として含む射出成形サイクルにおける異常を監
視する射出成形機の監視装置において、 (a) 上記射出成形サイクルにおける上記射出成形
機の上記型の周囲の作業状態を撮像するビデオ
カメラと、 (b) 上記射出成形サイクルに含まれる作業工程の
進行を表すタイミング指令信号を上記射出成形
機から受け、当該タイミング指令信号に基づい
て、上記ビデオカメラから送出されるビデオ信
号のうち、当該ビデオ信号によつて表される画
像情報において所定の監視位置に所定の大きさ
をもつ監視領域に対応するビデオ信号部分を取
り込み、当該取り込んだビデオ信号の積分値に
対応するレベルを有する検出結果信号を出力す
る検出手段と、 (c) 上記検出手段から出力される上記検出結果信
号の上記レベルを上記監視領域ごとに設定され
た基準値と比較して上記作業工程における上記
射出成形機の作業が正常であるか否かを判定
し、当該判定結果を表す判定信号を送出する比
較判定手段と を具えることを特徴とする射出成形機の監視装
置。 2 上記基準値は上記検出手段の上記検出結果信
号に基づいて基準値計算手段において演算して得
るようにしてなる特許請求の範囲第1項に記載の
射出成形機の監視装置。 3 上記基準値計算手段は上記各監視位置につい
ての過去複数個の上記検出結果信号の上記レベル
に基づいて上記基準値を演算するようにしてなる
特許請求の範囲第2項に記載の射出成形機の監視
装置。
[Claims] 1. A first step of injecting the molding material with the mold closed, a second step of opening the mold after injection molding, and ejecting the product molded by the mold. In a monitoring device for an injection molding machine that monitors an abnormality in an injection molding cycle that includes a third step of taking out the injection molding machine as a work step, (a) a working state around the mold of the injection molding machine during the injection molding cycle; (b) a video camera that receives a timing command signal from the injection molding machine indicating the progress of a work process included in the injection molding cycle, and sends out a video from the video camera based on the timing command signal; Of the signal, a video signal portion corresponding to a monitoring area having a predetermined size at a predetermined monitoring position in the image information represented by the video signal is captured, and a level corresponding to the integral value of the captured video signal is captured. (c) comparing the level of the detection result signal output from the detection means with a reference value set for each of the monitoring areas, and determining the injection rate in the work process; 1. A monitoring device for an injection molding machine, comprising: comparison and determination means for determining whether or not the operation of the molding machine is normal, and transmitting a determination signal representing the determination result. 2. The injection molding machine monitoring device according to claim 1, wherein the reference value is obtained by calculation in a reference value calculation means based on the detection result signal of the detection means. 3. The injection molding machine according to claim 2, wherein the reference value calculation means calculates the reference value based on the levels of the plurality of past detection result signals for each monitoring position. monitoring equipment.
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