JPH02297920A - Exposure device - Google Patents
Exposure deviceInfo
- Publication number
- JPH02297920A JPH02297920A JP1118214A JP11821489A JPH02297920A JP H02297920 A JPH02297920 A JP H02297920A JP 1118214 A JP1118214 A JP 1118214A JP 11821489 A JP11821489 A JP 11821489A JP H02297920 A JPH02297920 A JP H02297920A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser light
- mirror
- concave mirror
- mask
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 38
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 53
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 101100269850 Caenorhabditis elegans mask-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明はマスク上に形成された複写元のパターンを基板
(ウェハ)に転写する露光装置に係わり、特に、大型基
板に対する露光を容易に実施できる露光装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to an exposure apparatus that transfers a copy source pattern formed on a mask onto a substrate (wafer), and is particularly applicable to large substrates. The present invention relates to an exposure apparatus that can easily carry out exposure.
(従来の技術)
凹面鏡、凸面鏡等の反射光学系を用いて、マスク上の所
定のパターンをJJ[に投影して、パターンを基板に転
写する露光装置は、例えば第7図のように構成されてい
る。すなわち、水銀ランプ31から出力される光を多数
の平面鏡や凹面鏡等の光学部材32を用いて円弧状断面
を有する光に変換する。そして、この円弧状断面を有し
た光をキ+リア33上に取付けられたマスク34に照射
して、このマスク34を透過した光を台形ミラー35で
反射させ、その反射光を凹面鏡36及び凸面1137で
再反射させる。凹面鏡37で再反射された光を前記台形
ミラー35で再度下方向に反射させ、この反射光の光路
にキャリア38に載置された基板(ウェハ)39を介在
させる。なお、前記各キャリア33.38は図示しない
機構にて一体構成され、光軸に直交する面内(水平面内
)に図示しない移動機構にて移動自在に支持されている
。(Prior Art) An exposure apparatus that uses a reflective optical system such as a concave mirror or a convex mirror to project a predetermined pattern on a mask onto a JJ and transfer the pattern onto a substrate is configured as shown in FIG. 7, for example. ing. That is, the light output from the mercury lamp 31 is converted into light having an arcuate cross section using a large number of optical members 32 such as plane mirrors and concave mirrors. Then, this light having an arcuate cross section is irradiated onto a mask 34 mounted on the rear panel 33, and the light transmitted through the mask 34 is reflected by a trapezoidal mirror 35, and the reflected light is transferred to a concave mirror 36 and a convex surface. Re-reflect at 1137. The light re-reflected by the concave mirror 37 is again reflected downward by the trapezoidal mirror 35, and a substrate (wafer) 39 placed on a carrier 38 is interposed in the optical path of this reflected light. Each of the carriers 33, 38 is integrally constructed by a mechanism (not shown), and is supported movably in a plane (horizontal plane) perpendicular to the optical axis by a moving mechanism (not shown).
なお、マスク34の手前には対物レンズ40が挿入退出
自在に設けられ、マスク34に描かれたパターンを次数
の反射鏡41.42を介して接眼レンズ43にて操作員
が必要に応じて確認できる構造となっている。In addition, an objective lens 40 is provided in front of the mask 34 so that it can be inserted and withdrawn freely, and the operator can check the pattern drawn on the mask 34 through an eyepiece lens 43 via order reflectors 41 and 42 as necessary. The structure is such that it can be done.
このような構造の露光装置においては、マスク34に形
成されたパターンには円弧状断面を有する光が照射され
、その光が基板39に照射されるので、基板39には円
弧状のパターンが投影される。したがって、キャリア3
3.38を水平にかつ一方向に直線的に移動させると、
マスク34に描かれた2次元パターンが基板39上に順
次央写されていく。In an exposure apparatus having such a structure, the pattern formed on the mask 34 is irradiated with light having an arc-shaped cross section, and the light is irradiated onto the substrate 39, so that an arc-shaped pattern is projected onto the substrate 39. be done. Therefore, carrier 3
3.If 38 is moved horizontally and linearly in one direction,
The two-dimensional pattern drawn on the mask 34 is sequentially centrally copied onto the substrate 39.
しかしながら、上記のように構成された露光装置におい
てもまだ次のような問題があった。すなわち、キャリア
33.38は直線的に移動するのみであるので、凹面鏡
36や凸面1137を使用する限り、マスク34に照射
される光の断面形状を円弧状に形成する必要がある。そ
して、点光源である水銀ランプ31から出力される光を
円弧状断面を有する光に変換させるためには、図示する
よう、多数の平面鏡や凹面鏡等の光学部材32を用いる
必要がある。そのために、装置全体が複雑化するととも
に大型化する問題かある。However, the exposure apparatus configured as described above still has the following problems. That is, since the carriers 33 and 38 only move linearly, as long as the concave mirror 36 and the convex surface 1137 are used, it is necessary to form the cross-sectional shape of the light irradiated onto the mask 34 into an arc shape. In order to convert the light output from the mercury lamp 31, which is a point light source, into light having an arcuate cross section, it is necessary to use a large number of optical members 32 such as plane mirrors and concave mirrors, as shown in the figure. Therefore, there is a problem that the entire device becomes complicated and large.
また、光が多数の光学部材32を通過するために光強度
が減衰して、基板39上において十分な露光強度を得ら
れない問題もある。Furthermore, since the light passes through a large number of optical members 32, the light intensity is attenuated, and there is also the problem that sufficient exposure intensity cannot be obtained on the substrate 39.
さらに、面積の大きい基板39に対して露光を実行する
場合には、当然マスク34に描かれた複写元のパターン
も大きくなる。その結果、円弧状の光の断面積(円弧長
さ)を大きくする必要があるが、光の断面積を大きくす
ると、単位面積当りの露光強度が低下する間通もある。Furthermore, when exposing a substrate 39 having a large area, the original pattern drawn on the mask 34 naturally also becomes large. As a result, it is necessary to increase the cross-sectional area (arc length) of the arc-shaped light, but increasing the cross-sectional area of the light sometimes results in a decrease in the exposure intensity per unit area.
よって、この露光装置で露光できる基板39の大きさに
も一定の限界が存在する。Therefore, there is a certain limit to the size of the substrate 39 that can be exposed with this exposure apparatus.
(発明が解決しようとする課題)
・このように、従来の露光装置においては、円弧状断面
の光を用いて露光を行っているので、円弧状断面の光を
形成するための光学系が複雑になるのみならず、大きな
基板に対する露光を行う場合には露光不足になる聞届が
ある。(Problem to be solved by the invention) - In this way, in conventional exposure apparatuses, exposure is performed using light with an arcuate cross section, so the optical system for forming the light with an arcuate cross section is complicated. Not only that, but when exposing a large substrate, there are cases of underexposure.
本発明はこの様な事情に鑑みてなされたものであり、露
光光源としてレーザ光を用いて、マスク及び基板をレー
ザ光の光路に直交する面内に2次元的に移動するXYテ
ーブルに取付けることによって、露光光の断面を円弧状
に形成する必要がなくなり、光学系を簡素化でき、露光
強度を低下させることなく、大型基板に対する露光が容
易にできる露光装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and uses a laser beam as an exposure light source to attach a mask and a substrate to an XY table that moves two-dimensionally in a plane perpendicular to the optical path of the laser beam. To provide an exposure apparatus that eliminates the need to form the cross section of exposure light into an arc shape, simplifies an optical system, and easily exposes a large substrate without reducing exposure intensity.
(課題を解決するための手段)
上記課題を解消するために本発明の露光装置は、レーザ
光を出力するレーザ光源と、光軸がレーザ光源から出力
されたレーザ光に平行し、このレーザ光を反射する凹面
鏡と、この凹面鏡の焦点位置近傍に配設され、この凹面
鏡にて反射されたレーザ光を反射して凹面鏡へ111人
射入射る凸面鏡と、光軸に直交する面内に移動自在に設
けられかつ複写元のパターンが形成されたマスクをレー
ザ光源から凹面鏡へのレーザ光の光路に介挿されるよう
に保持するとともに基板を凹面鏡にて再反射されたレー
ザ光の光路に介挿されるように保持するXYテーブルと
、このXYテーブルを光軸に直交する面内に移動させる
ことによってマスクのパターンを基板に転写させるXY
テーブル移動制御部とを倫えたものである。(Means for Solving the Problems) In order to solve the above problems, an exposure apparatus of the present invention includes a laser light source that outputs laser light, an optical axis parallel to the laser light output from the laser light source, and a laser light source that outputs laser light. a concave mirror that reflects the laser beam, and a convex mirror that is placed near the focal point of the concave mirror and that reflects the laser beam reflected by the concave mirror so that it enters the concave mirror. A mask on which a copy source pattern is formed is held so as to be inserted into the optical path of the laser beam from the laser light source to the concave mirror, and the substrate is inserted into the optical path of the laser beam re-reflected by the concave mirror. An XY table is used to hold the mask, and an
This is a table movement control unit.
また、別の発明においては、レーザ光を出力するレーザ
光源と、このレーザ光源から出力されるレーザ光を所定
方向に反射する第1の平面鏡と、光軸かこの第1の・1
シ而鏡にて反射されたレーザ光に平行し、このレーザ光
を反n、1する凹面鏡と、この凹面鏡の焦点位置近傍に
配設され、この凹面鏡にて反射されたレーザ光を反射し
て凹面鏡へ+li人射させる凸面鏡と、凹面鏡にて再反
射されたレーザ光をレーザ光源からのレーザ光に平行す
る方向に反射させる第2の平11ti vtと、レーザ
光源からのレーザ光に直交する市内に移動自在に設けら
れかつ複写元のパターンが形成されたマスクをレーザ光
源から第1の平面鏡へのレーザ光の光路に介挿されるよ
うに保持するとともに基板を第2の平面鏡にて反射され
たレーザ光の光路に介挿されるように保持するXYテー
ブルと、このXYテーブルを直交する市内に移動させる
ことによってマスクのパターンを基板に転写させるXY
テーブル移動制御部とを崗えたものである。Further, in another invention, a laser light source that outputs laser light, a first plane mirror that reflects the laser light output from the laser light source in a predetermined direction,
A concave mirror is arranged near the focal point of this concave mirror and reflects the laser light reflected by this concave mirror. a convex mirror for directing +li radiation onto the concave mirror; a second flat mirror for reflecting the laser beam re-reflected by the concave mirror in a direction parallel to the laser beam from the laser light source; A mask, which is movably provided inside and has a copy source pattern formed thereon, is held so as to be inserted in the optical path of the laser light from the laser light source to the first plane mirror, and the substrate is reflected by the second plane mirror. an XY table that is held so as to be inserted into the optical path of the laser beam, and an XY table that transfers the mask pattern onto the substrate by moving this
This is a combination of a table movement control section and a table movement control section.
(作用)
このように構成された露光装置であれば、レーザ光源か
ら出力されたレーザ光はXYテーブルに取付けられたマ
ス、りに描かれたパターンを透過して凹面鏡に入射され
、この凹ILivLで反射されて凸面鏡で反射され再度
凹面鏡に入射され、再度この凹面鏡で反射される。そし
て、最終的にXYテーブルに取付けられた基板に照射さ
れる。よって、マスクに描かれたパターンは基板上に投
影され、基板が露光される。そして、XYテーブル移動
制御部でもって、XYテーブルをレーザ光に直交する市
内に2次元的に移動させると、マスクに描かれたパター
ンが基板に転写される。(Function) With the exposure apparatus configured in this way, the laser light output from the laser light source passes through the pattern drawn on the grid mounted on the XY table and enters the concave mirror, and the concave ILivL The light is reflected by the convex mirror, enters the concave mirror again, and is reflected by the concave mirror again. Finally, the light is irradiated onto the substrate mounted on the XY table. Therefore, the pattern drawn on the mask is projected onto the substrate, and the substrate is exposed. Then, when the XY table movement control section moves the XY table two-dimensionally within the city perpendicular to the laser beam, the pattern drawn on the mask is transferred to the substrate.
さらに、別の発明においては、レーザ光源から出力され
るレーザ光は、XYテーブルに取り付けられたマスクを
透過した後、第一の平面鏡で所定方向に曲げらで凹面鏡
に入射される。また、凹面鏡にて再反射れたレーザ光は
第2の平面鏡てレーザ光源からのレーザ光に平行する方
向に曲げてらレム後、前記XYテーブルに理つけられた
取付けられた基板に照射される。よって、前述と同様に
、XYテーブル移動制御部でもって、XYテーブルをレ
ーザ光に直交する市内に2次元的に移動させると、マス
クに描かれたパターンが基板に転写される。Furthermore, in another invention, the laser light output from the laser light source passes through a mask attached to an XY table, and then is bent in a predetermined direction by a first plane mirror and is incident on a concave mirror. Further, the laser beam re-reflected by the concave mirror is bent by a second plane mirror in a direction parallel to the laser beam from the laser light source, and then irradiated onto the substrate mounted on the XY table. Therefore, as described above, when the XY table movement control section moves the XY table two-dimensionally within the city perpendicular to the laser beam, the pattern drawn on the mask is transferred to the substrate.
(実施例) 以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。(Example) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は実施例の露光装置の概略構成を示す模式図であ
る。図中1はレーザ光源であり、このレーザ光源1は、
例えば、紫外線領域の波長を有するパルス状のレーザ光
を出力する紫外レーザ発振器1aと反射filbを介し
て入射されたレーザ光をビーム光に成形するビーム成形
レンズICとで構成されている。FIG. 1 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an exposure apparatus according to an embodiment. In the figure, 1 is a laser light source, and this laser light source 1 is
For example, it is composed of an ultraviolet laser oscillator 1a that outputs a pulsed laser beam having a wavelength in the ultraviolet region, and a beam shaping lens IC that shapes the laser beam incident through a reflection film into a beam of light.
レーザ光源1から出力されたレーザ光2は第1のXYテ
ーブル3aの一方側に形成されたマスク取付窓4を透過
して凹面鏡5へ入射される。凹面鏡5の一方の周辺部へ
入射されたレーザ光2はこの凹面鏡5の焦点位置近傍に
配設された凸面鏡6で反射されて再度凹面鏡5の他方側
の周辺部へ入射される。凹面鏡5で再度反射されたレー
ザ光は第2のXYテーブル3bに形成された基板取付窓
7へ入射される。Laser light 2 output from laser light source 1 is transmitted through mask mounting window 4 formed on one side of first XY table 3a, and is incident on concave mirror 5. The laser beam 2 incident on one peripheral portion of the concave mirror 5 is reflected by a convex mirror 6 disposed near the focal point of the concave mirror 5, and is again incident on the other peripheral portion of the concave mirror 5. The laser beam reflected again by the concave mirror 5 enters the substrate mounting window 7 formed in the second XY table 3b.
前記凹面fn5および凸面鏡6は、その光軸8がレーザ
光k1.1から出力されるレーザ光2に平行するように
配設されている。すなわち、レーザ光源1から凹面11
5へ入射するレーザ光と凹面鏡5から再反射されて第2
のXYテーブル3bの基板取付窓7へ入射されるレーザ
光は平行関係を保ち、かつ光軸8に対して互いに等しい
距1111dだけ離れている。また、前記第1および第
2のXYテーブル3a、3bは前記光軸8に直交する面
内に移動自在に支持されており、XYテーブル移動制御
部9によって、図中X方向およびY方向にそれぞれ等速
度で移動制御される。The concave surface fn5 and the convex mirror 6 are arranged so that their optical axes 8 are parallel to the laser beam 2 output from the laser beam k1.1. That is, from the laser light source 1 to the concave surface 11
The laser light incident on the concave mirror 5 is re-reflected from the second laser beam.
The laser beams incident on the substrate mounting window 7 of the XY table 3b maintain a parallel relationship and are spaced from each other by an equal distance 1111d with respect to the optical axis 8. The first and second XY tables 3a and 3b are supported movably in a plane perpendicular to the optical axis 8, and are controlled by an XY table movement control section 9 in the X direction and Y direction in the figure, respectively. Movement is controlled at constant speed.
第1のXYテーブル3aのマスク取付窓4には、第2図
に示すような、複写元のパターン10が描かれたマスク
11が取付けられており、第2のXYテーブル3bの基
tNjfg付窓7にはパターンを転写すべき基板(ウニ
/%)12が取付られている。A mask 11 on which a copy source pattern 10 is drawn is attached to the mask attachment window 4 of the first XY table 3a, as shown in FIG. Attached to 7 is a substrate (U/%) 12 onto which a pattern is to be transferred.
このように構成された露光装置においては、レーザ光源
1から出力されたレーザ光2はマスク11を垂直に透過
して、四面115へ入射され、この凹面115にて再反
射された後、基板12へ垂直に照射される。したがって
、マスク11のパターンが基板12上に投影され、基板
12に転写される。In the exposure apparatus configured in this way, the laser beam 2 output from the laser light source 1 perpendicularly passes through the mask 11, enters the four surfaces 115, is re-reflected by the concave surfaces 115, and then passes through the substrate 12. is irradiated perpendicularly to Therefore, the pattern of the mask 11 is projected onto the substrate 12 and transferred to the substrate 12.
そして、XYテーブル移動制御部9を起動させて、第1
のxy子テーブルaを図中(+)X方向に、第2のXY
テーブル3bを(−)X方向に、さらにY方向にも同様
に、前記XY平面で2次元的に掃引すれば、マスク11
に描かれた2次元のパターン10が基板12に2次元的
に転写される。Then, the XY table movement control section 9 is activated, and the first
xy child table a in the (+)X direction in the figure, and the second
If the table 3b is two-dimensionally swept in the XY plane in the (-)X direction and also in the Y direction, the mask 11
The two-dimensional pattern 10 drawn on is two-dimensionally transferred onto the substrate 12.
このように構成された露光装置によれば、レーザ光源1
から出力されるレーザ光2の断面は点(スボソ]・)で
あり、第7図に示した従来装置のように円弧状断面に形
成する必要がない。よって、レーザ光源1内に簡単なビ
ーム成形レンズICを組み込むのみでよく、従来装置の
ように、円弧状断面に形成するための複雑な光学系を構
築する必要がない。その結果、光学系の構造を大幅に簡
素化できる。また、光軸合せ等の繁雑な調整作業を簡略
化できる。According to the exposure apparatus configured in this way, the laser light source 1
The cross section of the laser beam 2 outputted from the laser beam 2 is a point (suboso), and there is no need to form it into an arcuate cross section as in the conventional device shown in FIG. Therefore, it is only necessary to incorporate a simple beam shaping lens IC into the laser light source 1, and there is no need to construct a complicated optical system for forming an arcuate cross section unlike the conventional apparatus. As a result, the structure of the optical system can be significantly simplified. Further, complicated adjustment work such as optical axis alignment can be simplified.
さらに、マスク11および基板12に照射されるレーザ
光の断面形状は点(スポット)であるので、例えば同一
光強度の光源を使用した場合においては、単位面積当り
の露光強度は、従来装置の円弧状断面形状における単位
面積当りの露光強度に比較して、大幅に大きくなる。よ
って、たとえ大きな面積の基板に大面積のパターンを転
写したとしても、露光強度が低下することはない。Furthermore, since the cross-sectional shape of the laser beam irradiated onto the mask 11 and the substrate 12 is a point (spot), for example, when using light sources with the same light intensity, the exposure intensity per unit area is equal to that of the conventional device. This is significantly greater than the exposure intensity per unit area in an arcuate cross-sectional shape. Therefore, even if a large area pattern is transferred to a large area substrate, the exposure intensity will not decrease.
したがって、大型基板に対する露光を容品に実施できる
。Therefore, it is possible to expose a large substrate to light.
また、露光光源として、レーザ光を使用しているので、
光強度を容易に増加できる。その結果、露光時間を短縮
でき、全体の処理時間が短縮され、生産性を向上できる
。In addition, since laser light is used as the exposure light source,
Light intensity can be easily increased. As a result, exposure time can be shortened, overall processing time can be shortened, and productivity can be improved.
さらに、紫外線領域の波長を有するパルス状のレーザ光
を使用しているので、通常の可視光線に比較して、転写
されたパターンの解像度を大幅に向上できる。Furthermore, since pulsed laser light having a wavelength in the ultraviolet region is used, the resolution of the transferred pattern can be significantly improved compared to normal visible light.
なお、露光の作業能率を向上させるために、第3図に示
すように複数のレーザ光源IA、IBを設け、各レーザ
光源IA、IBから別々にレーザ光2A、2Bをマスク
11に所定距離だけ離れた位置に照射させることも可能
である。なお、この場合、各レーザ光2A、2Bの前記
光軸8からの距離は互いに等しい値dに設定する必要が
ある。In order to improve the work efficiency of exposure, a plurality of laser light sources IA and IB are provided as shown in FIG. It is also possible to irradiate a remote location. In this case, the distances of the laser beams 2A and 2B from the optical axis 8 must be set to the same value d.
また、第4図に示すように、1台のレーザ光源ICから
出力される1本のレーザ光2を複数枚のハーフミラ−1
3a、13b、13cを用いて複数のレーザ光2B、2
b、2cに分割してマスク11に照射させることも可能
である。In addition, as shown in FIG. 4, one laser beam 2 output from one laser light source IC is transmitted to a plurality of half mirrors
A plurality of laser beams 2B, 2 using 3a, 13b, 13c
It is also possible to irradiate the mask 11 by dividing the radiation into parts b and 2c.
第5図は本発明のさらに別の実施例に係4〕る露光装置
を示す模式図である。第1図の実施例と同一部分には同
一符号が付しである。FIG. 5 is a schematic diagram showing an exposure apparatus according to still another embodiment of the present invention. The same parts as in the embodiment of FIG. 1 are given the same reference numerals.
レーザ光源1から出力されたレーザ光2は、第1のXY
テーブル21Hの一方の側壁に1し成されたマスク取付
窓4を垂直に透過し、台形部材22の一方面に貼付けら
れた第1の平面鏡22aにて直角に曲げられる。第1の
平面VL22aにて反q・lされたレーザ光2は、凹面
鏡5および凸面VL6で反QJを繰り返し、最終的に前
記台形部材22の他方面に貼付られた第2の平面鏡22
bにて前記レーザ光源1から出力されたレー・ザ光2と
同一方向に反射される。この第2の平面鏡22bにて反
射されたレーザ光は、第2のXYテーブル211)の側
壁に形成された基板取付窓7へ垂直1と入射される。Laser light 2 output from laser light source 1
The light passes vertically through the mask attachment window 4 formed on one side wall of the table 21H, and is bent at a right angle by the first plane mirror 22a attached to one side of the trapezoidal member 22. The laser beam 2 that has been reflected q and l on the first plane VL22a repeats the reflection QJ on the concave mirror 5 and the convex surface VL6, and finally reaches the second plane mirror 22 attached to the other surface of the trapezoidal member 22.
b is reflected in the same direction as the laser beam 2 output from the laser light source 1. The laser beam reflected by the second plane mirror 22b is incident perpendicularly 1 into the substrate mounting window 7 formed in the side wall of the second XY table 211).
第1および第2のXYテーブル21a、21bは、図示
するように、レーザ光?fi、1から出力されるレーザ
光2に直交する面内に移動自在に支持されており、XY
テーブル移動制御部9によって、X方向およびY方向に
2次元的に移動制御される。The first and second XY tables 21a and 21b are illuminated by laser beams, as shown in the figure. It is supported movably in a plane perpendicular to the laser beam 2 output from fi, 1, and
The table movement control unit 9 controls movement two-dimensionally in the X direction and the Y direction.
また、第1のXYテーブル21aのマスク取付窓4には
複写元のパターン10が描かれたマスク11か取付けら
れ、第2のXYテーブル21bの基板取付窓4には基板
12か取付けられる。Further, a mask 11 on which the original pattern 10 is drawn is attached to the mask attachment window 4 of the first XY table 21a, and a substrate 12 is attached to the substrate attachment window 4 of the second XY table 21b.
なお、第1および第2のXYテーブル21a。Note that the first and second XY tables 21a.
21bの間に位置する第1.第2の平面鏡22a。21b. Second plane mirror 22a.
22bが貼付られた台形部+122は図示しない支持部
材で固定フレームに固定されており、第1゜第2のXY
テーブル21a、21bの移動動作に連動しない。The trapezoidal part +122 to which 22b is attached is fixed to a fixed frame by a support member (not shown), and
It is not linked to the movement of the tables 21a and 21b.
このように構成された露光装置において、レーザ光源1
から出力されたレーザ光2はマスク11を垂直に透過し
て、第1の平面鏡22aで直角に反射されて凹面鏡5へ
入射され、この凹面vL5にて再反射された後、第2の
平面鏡22bで再度直角方向に反射された後、基板12
に垂直に照射される。したがって、マスク11のパター
ン10が基板12上に投影され、基板12に転写される
。In the exposure apparatus configured in this way, the laser light source 1
The laser beam 2 output from the laser beam 2 perpendicularly passes through the mask 11, is reflected at right angles by the first plane mirror 22a, enters the concave mirror 5, is re-reflected by the concave surface vL5, and then passes through the second plane mirror 22b. After being reflected again in the right angle direction, the substrate 12
is irradiated perpendicularly to. Therefore, the pattern 10 of the mask 11 is projected onto the substrate 12 and transferred to the substrate 12.
そして、XYテーブル移動制御部9を起動させて、第1
のXYテーブル21aを図示するXY平平向内おいて2
次元的に掃引し、これと連動して、移動方向が互いに光
軸に対して点対称となるように第2のXYテーブル21
bを掃引すれば、マスク11に描かれた2次元のパター
ン10が基板12に2次元的に転写される。よって、前
述した第1図に示す実施例とほぼ同様の効果を得ること
が可能である。Then, the XY table movement control section 9 is activated, and the first
2 in the XY plane shown in the XY table 21a.
The second XY table 21 sweeps dimensionally, and in conjunction with this, the second XY table 21
By sweeping b, the two-dimensional pattern 10 drawn on the mask 11 is two-dimensionally transferred to the substrate 12. Therefore, it is possible to obtain substantially the same effect as the embodiment shown in FIG. 1 described above.
さらに、この実施例においては、マスク]1および基板
12の大きさを第1および第2のXYテーブル21a、
21bの移動可能範囲に亘り自由に設定できる。すなわ
ち、第1図の実施例においては、第1および第2のXY
テーブル3a、3bに形成されたマスク取付窓4および
基板取付窓7の大きさは凹面鏡5の外径寸法に規制され
るか、この実施例においては、マスク取付窓4と基板取
付窓7とは同一平面内に形成されていないので、マスク
取付窓4および基板取付窓7の大きさを、凹面ff15
の大きさに関係なく設定できる。Furthermore, in this embodiment, the sizes of the mask] 1 and the substrate 12 are controlled by the first and second XY tables 21a,
It can be set freely over the movable range of 21b. That is, in the embodiment of FIG. 1, the first and second XY
The sizes of the mask mounting window 4 and the board mounting window 7 formed on the tables 3a and 3b are regulated by the outer diameter dimension of the concave mirror 5, or in this embodiment, the mask mounting window 4 and the board mounting window 7 are Since they are not formed in the same plane, the size of the mask mounting window 4 and the board mounting window 7 is determined by the concave surface ff15.
can be set regardless of the size of the
その結果、装置を大型化することなく、さらに大きな基
板12に対して大面積のパターン10を転写できる。As a result, a pattern 10 with a large area can be transferred onto a larger substrate 12 without increasing the size of the apparatus.
なお、本発明は上述した各実施例に限定されるものでは
ない。例えは、第6図に示すように、第1図における第
1のXYテーブル3aと第2のXYテーブル3bとを一
体形成したXYテーブル3を使用することも可能である
。この場合、マスク11が取付けられたマスク取付窓4
と凹面鏡5との間の光路に第1の反射鏡25aを配設し
、凹面115と基板付窓7との間の光路に第2の反射鏡
25bおよび第3の反射m 25 cを介挿させている
。Note that the present invention is not limited to the embodiments described above. For example, as shown in FIG. 6, it is also possible to use an XY table 3 in which the first XY table 3a and the second XY table 3b in FIG. 1 are integrally formed. In this case, the mask attachment window 4 to which the mask 11 is attached
A first reflecting mirror 25a is disposed in the optical path between the concave mirror 5 and the concave mirror 5, and a second reflecting mirror 25b and a third reflecting mirror m25c are inserted in the optical path between the concave surface 115 and the window 7 with a substrate. I'm letting you do it.
このように、マスク11から基板12までの光路にレー
ザ光2を反射させる3枚の反射鏡25a。In this way, the three reflecting mirrors 25a reflect the laser beam 2 onto the optical path from the mask 11 to the substrate 12.
25b、25cを介挿させることによって、マスク11
の像が基板12上で左右正像に結像されるので、マスク
1】および基板12を同一方向へ移動させながらマスク
11のパターンを基板12に転写できる。By interposing 25b and 25c, the mask 11
Since the images are formed on the substrate 12 as left and right images, the pattern of the mask 11 can be transferred to the substrate 12 while moving the mask 1 and the substrate 12 in the same direction.
[発明の効果]
以上説明したように本発明の露光装置によれば、露光光
源としてレーザ光を用いて、マスク及び基板をレーザ光
の光路に直交する面内に2次元的に移動するXYテーブ
ルに取付けている。よっ−c、露光光の断面を円弧状に
形成する必要がなくムリ、光学系を簡素化でき、露光強
度を低下させることなく、大型基板に対する露光か容易
にできる。[Effects of the Invention] As explained above, according to the exposure apparatus of the present invention, a laser beam is used as an exposure light source, and an XY table that moves a mask and a substrate two-dimensionally in a plane perpendicular to the optical path of the laser beam. It is installed on. Therefore, there is no need to form the cross section of the exposure light into an arc shape, the optical system can be simplified, and large substrates can be easily exposed without reducing the exposure intensity.
第1図は本発明の一実施丙に係わる露光!A置の概略構
成を示す模式図、第2図は同実施例のマスクを示す図、
第3図および第4図はそれぞれ本発明の他の実施例の要
部を取出して示す図、第5図は本発明のさらに別の実施
例の露光装置の概略構成を示す模式図、第6図は本発明
のさらに別の実施例の露光装置の要部を示す模式図、第
7図は従来の露光装置を示す図である。
1・・・レーザ光源、2・・・レーザ光、3a。
21 a、、、第1のXYテーブル、3b、21b−・
・TS2のXYテーブル、4・・・マスク取付窓、5・
・・凹面鏡、6・・・凸面鏡、7・・・基板取付窓、8
・・・光軸、9・・・XYテーブル移動制御部、10・
・・パターン、11・・・マスク、12・・・基板、2
2・・・台形部材、22 a・・・第1の平面鏡、22
b・・・252の平面鏡。
出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
第3図
工
第4図FIG. 1 shows exposure according to the second embodiment of the present invention! A schematic diagram showing the schematic configuration of the A position, FIG. 2 is a diagram showing the mask of the same example,
3 and 4 are diagrams showing main parts of other embodiments of the present invention, FIG. 5 is a schematic diagram showing a schematic configuration of an exposure apparatus according to still another embodiment of the present invention, and FIG. The figure is a schematic diagram showing the main parts of an exposure apparatus according to yet another embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a diagram showing a conventional exposure apparatus. 1... Laser light source, 2... Laser light, 3a. 21 a, first XY table, 3b, 21b-.
・TS2 XY table, 4...mask mounting window, 5.
... Concave mirror, 6... Convex mirror, 7... Board mounting window, 8
...Optical axis, 9...XY table movement control unit, 10.
...Pattern, 11...Mask, 12...Substrate, 2
2... Trapezoidal member, 22 a... First plane mirror, 22
b...252 plane mirror. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue Figure 3 Figure 4
Claims (2)
ーザ光源から出力されたレーザ光に平行し、このレーザ
光を反射する凹面鏡と、この凹面鏡の焦点位置近傍に配
設され、この凹面鏡にて反射されたレーザ光を反射して
前記凹面鏡へ再入射させる凸面鏡と、前記光軸に直交す
る面内に移動自在に設けられかつ複写元のパターンが形
成されたマスクを前記レーザ光源から前記凹面鏡へのレ
ーザ光の光路に介挿されるように保持するとともに基板
を前記凹面鏡にて再反射されたレーザ光の光路に介挿さ
れるように保持するXYテーブルと、このXYテーブル
を前記光軸に直交する面内に移動させることによって前
記マスクのパターンを前記基板に転写させるXYテーブ
ル移動制御部とを備えた露光装置。(1) A laser light source that outputs laser light, a concave mirror whose optical axis is parallel to the laser light output from the laser light source and that reflects the laser light, and a concave mirror that is disposed near the focal point of the concave mirror. a convex mirror that reflects the laser beam reflected by the concave mirror and causes it to re-enter the concave mirror, and a mask that is movably provided in a plane perpendicular to the optical axis and has a copy source pattern formed thereon, from the laser light source to the concave mirror. an XY table that is held so as to be inserted in the optical path of the laser beam to the concave mirror, and a substrate that is held so as to be inserted in the optical path of the laser beam that is re-reflected by the concave mirror; and this XY table is placed on the optical axis. An exposure apparatus comprising: an XY table movement control section that transfers the pattern of the mask onto the substrate by moving it in a perpendicular plane.
源から出力されるレーザ光を所定方向に反射する第1の
平面鏡と、光軸がこの第1の平面鏡にて反射されたレー
ザ光に平行し、このレーザ光を反射する凹面鏡と、この
凹面鏡の焦点位置近傍に配設され、この凹面鏡にて反射
されたレーザ光を反射して前記凹面鏡へ再入射させる凸
面鏡と、前記凹面鏡にて再反射されたレーザ光を前記レ
ーザ光源からのレーザ光に平行する方向に反射させる第
2の平面鏡と、前記レーザ光源からのレーザ光に直交す
る面内に移動自在に設けられかつ複写元のパターンが形
成されたマスクを前記レーザ光源から前記第1の平面鏡
へのレーザ光の光路に介挿されるように保持するととも
に基板を前記第2の平面鏡にて反射されたレーザ光の光
路に介挿されるように保持するXYテーブルと、このX
Yテーブルを前記直交する面内に移動させることによっ
て前記マスクのパターンを前記基板に転写させるXYテ
ーブル移動制御部とを備えた露光装置。(2) A laser light source that outputs laser light, a first plane mirror that reflects the laser light output from this laser light source in a predetermined direction, and an optical axis parallel to the laser light reflected by the first plane mirror. A concave mirror that reflects this laser beam, a convex mirror that is disposed near the focal point of this concave mirror and that reflects the laser beam reflected by this concave mirror and makes it re-enter the concave mirror, and a convex mirror that reflects the laser beam again by the concave mirror. a second plane mirror that reflects the generated laser light in a direction parallel to the laser light from the laser light source; and a second plane mirror that is movably provided in a plane orthogonal to the laser light from the laser light source and forms a pattern to be copied. holding the mask so that it is inserted in the optical path of the laser beam from the laser light source to the first plane mirror, and holding the substrate so that it is inserted in the optical path of the laser beam reflected by the second plane mirror. The XY table to hold and this
An exposure apparatus comprising: an XY table movement control section that transfers the pattern of the mask onto the substrate by moving the Y table in the orthogonal plane.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1118214A JPH02297920A (en) | 1989-05-11 | 1989-05-11 | Exposure device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1118214A JPH02297920A (en) | 1989-05-11 | 1989-05-11 | Exposure device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02297920A true JPH02297920A (en) | 1990-12-10 |
Family
ID=14731039
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1118214A Pending JPH02297920A (en) | 1989-05-11 | 1989-05-11 | Exposure device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02297920A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999027569A1 (en) * | 1997-11-22 | 1999-06-03 | Nikon Corporation | Aligner, exposure method and device manufacturing method |
-
1989
- 1989-05-11 JP JP1118214A patent/JPH02297920A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999027569A1 (en) * | 1997-11-22 | 1999-06-03 | Nikon Corporation | Aligner, exposure method and device manufacturing method |
US6894763B2 (en) | 1997-11-22 | 2005-05-17 | Nikon Corporation | Exposure apparatus and methods utilizing plural mask and object stages movable in opposite directions, and methods of producing devices using the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2655465B2 (en) | Reflection type homogenizer and reflection type illumination optical device | |
KR920012964A (en) | Fine pattern transfer method and apparatus | |
JPS5453867A (en) | Printing device | |
KR970011202B1 (en) | Overhead projector | |
TW200403544A (en) | Scanning exposure apparatus and method | |
GB1194813A (en) | Improvements in and relating to Optical Arrangements | |
JPH02297920A (en) | Exposure device | |
JPH0375846B2 (en) | ||
TW200400419A (en) | Exposure method and apparatus | |
JP3996794B2 (en) | Exposure method and apparatus | |
JPH0349213A (en) | Exposure device | |
JPH11338162A (en) | Exposure device | |
JP3060540B2 (en) | Fine pattern transfer method and apparatus | |
JPS639186A (en) | Illuminating optical device | |
JPS59218729A (en) | Projection exposing device | |
JP2958078B2 (en) | Reflective illumination device with parabolic mirror | |
JPS587664A (en) | Optical device for copying machine | |
JPS613006A (en) | Planar shape measuring apparatus | |
JP3531245B2 (en) | Illumination device and exposure device | |
TW526391B (en) | Device for step-and-repeat exposure of a substrate | |
JPS59113426A (en) | Exposing device for long-sized plate | |
JPH028473B2 (en) | ||
JPH02220038A (en) | Copying camera with scan light source | |
JPS61117554A (en) | Exposing device | |
JPS61188517A (en) | Illuminating optical system |