JPH02297033A - レーザ光の偏光測定板及びこの偏光測定板を用いた偏光測定方法 - Google Patents
レーザ光の偏光測定板及びこの偏光測定板を用いた偏光測定方法Info
- Publication number
- JPH02297033A JPH02297033A JP1117555A JP11755589A JPH02297033A JP H02297033 A JPH02297033 A JP H02297033A JP 1117555 A JP1117555 A JP 1117555A JP 11755589 A JP11755589 A JP 11755589A JP H02297033 A JPH02297033 A JP H02297033A
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Landscapes
- Polarising Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
この発明はレーザビームの偏光測定板及びこの偏光測定
板を用いた偏光測定方法に関する。
板を用いた偏光測定方法に関する。
（従来の技術）
レーザ光によって金属板を照射しその端面から切断する
場合、レーザ光の入射角は金属板の表面に対しては殆ど
０度であるが、その切断面に対しては９０度近い大きな
ものになる。切断面の反射光は、レーザ光の偏光方向に
よって大きく異なり、例えば第６図のように、光の振動
方向が入射面と平行なＰ波の場合には、入射角が大きく
なると、反射率が小さくなり、この場合殆ど０に近くな
る。光の振動方向が入射面に垂直なＳ波の場合には、入
射角が大きくなると反射率は大きくなり、この場合殆ど
１に近くなる。即ちＰ波を利用すると切断速度が向上す
る訳である。
場合、レーザ光の入射角は金属板の表面に対しては殆ど
０度であるが、その切断面に対しては９０度近い大きな
ものになる。切断面の反射光は、レーザ光の偏光方向に
よって大きく異なり、例えば第６図のように、光の振動
方向が入射面と平行なＰ波の場合には、入射角が大きく
なると、反射率が小さくなり、この場合殆ど０に近くな
る。光の振動方向が入射面に垂直なＳ波の場合には、入
射角が大きくなると反射率は大きくなり、この場合殆ど
１に近くなる。即ちＰ波を利用すると切断速度が向上す
る訳である。
レーザ光が円偏光の場合には、Ｐ波、Ｓ波の区別がない
ので、いかなる方向へ切断しても切断速度は変らないが
、楕円偏光や直線偏光の場合には、切断方向によって切
断速度が変り、切断品質が低下する。したがって、金属
材料の切断には切断品質のよい円編光が利用されている
。
ので、いかなる方向へ切断しても切断速度は変らないが
、楕円偏光や直線偏光の場合には、切断方向によって切
断速度が変り、切断品質が低下する。したがって、金属
材料の切断には切断品質のよい円編光が利用されている
。
レーザ光の偏光の程度を測定する方法は、従来第５図の
ような装置によって行なわれていた。即ち、被測定レー
ザ光りを回転可能なブリュスタ板等の偏光子７を通過さ
せ、直線偏光としてその強度をパワーメータ９で測定す
るものである。レーザ光が円偏光の場合には、偏光子７
を回転しても強度が一定で変らないが、楕円偏光の場合
にはその楕円率に応じて強度が変化し、直線偏光の場合
には強度は正弦曲線的に変化する。このようにして、レ
ーザ光の偏光の程度を測定していた。
ような装置によって行なわれていた。即ち、被測定レー
ザ光りを回転可能なブリュスタ板等の偏光子７を通過さ
せ、直線偏光としてその強度をパワーメータ９で測定す
るものである。レーザ光が円偏光の場合には、偏光子７
を回転しても強度が一定で変らないが、楕円偏光の場合
にはその楕円率に応じて強度が変化し、直線偏光の場合
には強度は正弦曲線的に変化する。このようにして、レ
ーザ光の偏光の程度を測定していた。
（発明が解決しようとする課題）
レーザ光の偏光の程度は、従来前記のように、偏光子と
パワーメータによって測定されていたが、測定装置が比
較的大きいので相当のスペースを要すること、また、装
置が比較的高価であり、取扱いが面倒であるため、作業
現場で使用することは必ずしも適当なものではなかった
。
パワーメータによって測定されていたが、測定装置が比
較的大きいので相当のスペースを要すること、また、装
置が比較的高価であり、取扱いが面倒であるため、作業
現場で使用することは必ずしも適当なものではなかった
。
この発明は、このような点に着目して創案されたもので
、比較的簡単で作業現場でも容易に実施できるレーザ光
の偏光測定板及びこれを用いた偏光測定方法を提供する
ことを目的とするものである。
、比較的簡単で作業現場でも容易に実施できるレーザ光
の偏光測定板及びこれを用いた偏光測定方法を提供する
ことを目的とするものである。
（課題を解決するための手段）
前記の目的を達成するために、この発明に係る偏光測定
板は、アクリル平板の上面に薄い金属板を設けた構成で
あり、またこの発明のレーザ光の偏光の測定方法は、ア
クリル平板の上面に薄い金属板を接着してなる偏光測定
板を、レーザ加工機のテーブル上に固定し、これを被測
定レーザ光により、任意の方向へ切断し、切断方向に垂
直な断面の左右形状の差を調べ、いかなる方向へ切断し
ても、前記断面の左右形状に差のない場合を円偏光と定
め、切断方向によって左右形状に差のある場合を楕円偏
光と定め、その差の大小に対応して楕円偏光の程度を定
性的に定めるものである。
板は、アクリル平板の上面に薄い金属板を設けた構成で
あり、またこの発明のレーザ光の偏光の測定方法は、ア
クリル平板の上面に薄い金属板を接着してなる偏光測定
板を、レーザ加工機のテーブル上に固定し、これを被測
定レーザ光により、任意の方向へ切断し、切断方向に垂
直な断面の左右形状の差を調べ、いかなる方向へ切断し
ても、前記断面の左右形状に差のない場合を円偏光と定
め、切断方向によって左右形状に差のある場合を楕円偏
光と定め、その差の大小に対応して楕円偏光の程度を定
性的に定めるものである。
（作用）
偏光測定板にレーザ光を照射し、これを端面から切断し
て行くと、金属板が加熱され、その熱によりアクリル板
が溶け、金属板と共にアクリル板も蒸発して凹部ができ
る。即ち偏光板の切断面に生ずる凹部は高熱になった部
分を表わす訳である。
て行くと、金属板が加熱され、その熱によりアクリル板
が溶け、金属板と共にアクリル板も蒸発して凹部ができ
る。即ち偏光板の切断面に生ずる凹部は高熱になった部
分を表わす訳である。
レーザ光が円偏光の場合には前記のようにＰ波、Ｓ波の
区別がないので、どのような方向から切断しても切断面
の凹部の形状は左右対称になる。レーザ光が楕円偏光で
あると、Ｐ波、Ｓ波の区別があり、どちらかが楕円の長
短軸になるが、前記のようにＰ波とＳ波は反射率が異な
るので、長軸方向と短軸方向では切断速度が異なる。長
軸方向と、短軸方向では切断面の凹部の形状は左右対称
になり、差がないが、その他の方向では切断面の四部の
形状は左右非対称になり差がある。
区別がないので、どのような方向から切断しても切断面
の凹部の形状は左右対称になる。レーザ光が楕円偏光で
あると、Ｐ波、Ｓ波の区別があり、どちらかが楕円の長
短軸になるが、前記のようにＰ波とＳ波は反射率が異な
るので、長軸方向と短軸方向では切断速度が異なる。長
軸方向と、短軸方向では切断面の凹部の形状は左右対称
になり、差がないが、その他の方向では切断面の四部の
形状は左右非対称になり差がある。
したがって、任意の方向から切断しても、切断面の凹部
の形状に差がなければ円偏光と判断し、差があれば楕円
偏光と判断し、その差の大小に対応して楕円の偏光の程
度を定性的に判断することができる。
の形状に差がなければ円偏光と判断し、差があれば楕円
偏光と判断し、その差の大小に対応して楕円の偏光の程
度を定性的に判断することができる。
（実施例）
次に、この発明の実施例について図面に基づいて説明す
る。第１図にこの発明の偏光測定板を示しである。即ち
、この偏光測定板１は、厚さ０゜５ｒｎｍの鉄板３をア
クリル樹脂板５に接着したものである。
る。第１図にこの発明の偏光測定板を示しである。即ち
、この偏光測定板１は、厚さ０゜５ｒｎｍの鉄板３をア
クリル樹脂板５に接着したものである。
この偏光測定板１を図示しないレーザ加工機のテーブル
に固定し、第２図（ａ）のように、レーザ光りを照射し
て端面から任意の方向へ切断する。
に固定し、第２図（ａ）のように、レーザ光りを照射し
て端面から任意の方向へ切断する。
切断面の傾斜は同図（ｂ）のように、水平面に対してα
でレーザ光りの入射角θとはゾ等しくなる。
でレーザ光りの入射角θとはゾ等しくなる。
このα、θは切断速度によって異なるが９０度に近いも
のである。したがって、前記のようにＰ波、Ｓ波に対す
る反射率が大きく異なる。
のである。したがって、前記のようにＰ波、Ｓ波に対す
る反射率が大きく異なる。
レーザ光が第３図（ａ）のように、円偏光である場合に
、偏光測定板１をす、ｃの方向へ切断すると切断面の形
状は、第３図（ｂ）、（ｃ）のようになり、凹部は共に
左右対称になる。図面ではす、ｃの方向は直角になって
いるが、いかなる方向へ切断しても同じようになる。
、偏光測定板１をす、ｃの方向へ切断すると切断面の形
状は、第３図（ｂ）、（ｃ）のようになり、凹部は共に
左右対称になる。図面ではす、ｃの方向は直角になって
いるが、いかなる方向へ切断しても同じようになる。
レーザ光が第４図（ａ）のように、４５度の楕円偏光で
ある場合に（長軸がＰ波、短軸がＳ波）、偏光測定板１
をす、ｃ、ｄ、ｅの方向へ切断すると、切断面の形状は
それぞれ第４図（ｂ）、（Ｃ）（ｄ）、（ｅ）のように
なり、凹部は左右非対称になる。この場合、長袖又は短
軸の方向へ切断すると切断面の四部は左右対称になる。
ある場合に（長軸がＰ波、短軸がＳ波）、偏光測定板１
をす、ｃ、ｄ、ｅの方向へ切断すると、切断面の形状は
それぞれ第４図（ｂ）、（Ｃ）（ｄ）、（ｅ）のように
なり、凹部は左右非対称になる。この場合、長袖又は短
軸の方向へ切断すると切断面の四部は左右対称になる。
したがって、偏光測定板１を被測定レーザ光により任意
の方向へ切断し、いかなる方向へ切断しても切断面の左
右形状に差のない場合を円偏光と定め、切断方向によっ
て左右形状に差のある場合を楕円偏光と定め、その差の
大小に対応して楕円偏光の程度を定性的に定めることが
できる。
の方向へ切断し、いかなる方向へ切断しても切断面の左
右形状に差のない場合を円偏光と定め、切断方向によっ
て左右形状に差のある場合を楕円偏光と定め、その差の
大小に対応して楕円偏光の程度を定性的に定めることが
できる。
以上の説明から理解されるように、この発明は特許請求
の範囲に記載の構成を備えているので、極めて簡単な偏
光測定板により作業現場でも、容易に実施できるレーザ
光の偏光測定板及びこれを用いた偏光測定方法を提供す
ることができる。
の範囲に記載の構成を備えているので、極めて簡単な偏
光測定板により作業現場でも、容易に実施できるレーザ
光の偏光測定板及びこれを用いた偏光測定方法を提供す
ることができる。
第１図はこの実施例の偏光測定板、第２図（ａ）は偏光
測定板の切断方法を示す図面、第２図（ｂ）は切断面の
説明図、第３図（ａ）は円偏光による偏光測定板の切断
方向を示す図面、第３図（ｂ）。 （ｃ）はそれぞれの切断方向に垂直な断面図、第４図（
ａ）は楕円偏光による偏光測定板の切断方向を示す図面
、第４図（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）。 （ｅ）はそれぞれの切断方向に垂直な断面図、第５図は
従来の偏光測度装置の概略図、第６図は金属材料のＰ波
、Ｓ波に対する入射角と反射率の関係図である。 図面の主要な部分を表わす符号の説明 １・・・偏光測定板 ３・・・鉄板 ５・・・アクリル樹脂 代理人 弁理士 三 好 秀 和 １・・・偏光測定板 ３・・・鉄板 第１図 第３図（ａ） 第２図（ａ） 襖２図（ｂ） 第３図（ｂ） 鵞３図（Ｃ） 第５図 第４図（ａ） ｖ、４シ（ｂ） 第４図（Ｃ） 入射角 稟４０（ｄ） 第４図（ｅ） 第６図 手 続 補 正 書 （自発） ５゜ 補正の対象 （＋） 明細書 平成 年 月 日 ６゜ 補正の内容
測定板の切断方法を示す図面、第２図（ｂ）は切断面の
説明図、第３図（ａ）は円偏光による偏光測定板の切断
方向を示す図面、第３図（ｂ）。 （ｃ）はそれぞれの切断方向に垂直な断面図、第４図（
ａ）は楕円偏光による偏光測定板の切断方向を示す図面
、第４図（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）。 （ｅ）はそれぞれの切断方向に垂直な断面図、第５図は
従来の偏光測度装置の概略図、第６図は金属材料のＰ波
、Ｓ波に対する入射角と反射率の関係図である。 図面の主要な部分を表わす符号の説明 １・・・偏光測定板 ３・・・鉄板 ５・・・アクリル樹脂 代理人 弁理士 三 好 秀 和 １・・・偏光測定板 ３・・・鉄板 第１図 第３図（ａ） 第２図（ａ） 襖２図（ｂ） 第３図（ｂ） 鵞３図（Ｃ） 第５図 第４図（ａ） ｖ、４シ（ｂ） 第４図（Ｃ） 入射角 稟４０（ｄ） 第４図（ｅ） 第６図 手 続 補 正 書 （自発） ５゜ 補正の対象 （＋） 明細書 平成 年 月 日 ６゜ 補正の内容
Claims (2)
- （１）アクリル平板の上面に薄い金属板を設けてなるこ
とを特徴とするレーザ光の偏光測定板。 - （２）アクリル平板の上面に薄い金属板を設けてなる偏
光測定板を、レーザ加工機のテーブル上に固定し、これ
を被測定レーザ光により、任意の方向へ切断し、切断方
向に垂直な断面の左右形状の差を調べ、いかなる方向へ
切断しても、前記断面の左右形状に差のない場合を円偏
光と定め、切断方向によって左右形状に差のある場合を
楕円偏光と定め、その差の大小に対応して楕円偏光の程
度を定性的に定めることを特徴とするレーザビームの偏
光の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1117555A JPH02297033A (ja) | 1989-05-12 | 1989-05-12 | レーザ光の偏光測定板及びこの偏光測定板を用いた偏光測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1117555A JPH02297033A (ja) | 1989-05-12 | 1989-05-12 | レーザ光の偏光測定板及びこの偏光測定板を用いた偏光測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02297033A true JPH02297033A (ja) | 1990-12-07 |
Family
ID=14714716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1117555A Pending JPH02297033A (ja) | 1989-05-12 | 1989-05-12 | レーザ光の偏光測定板及びこの偏光測定板を用いた偏光測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02297033A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52138246A (en) * | 1976-04-01 | 1977-11-18 | Salomon & Fils F | Ski boots having upper portion providing regulatable hardness |
| JPS60227701A (ja) * | 1984-01-13 | 1985-11-13 | アデイダス フアブリ−ク ド シヨ−スユ−ル ド スポ−ル | ハイトツプ靴 |
| JPS6166506U (ja) * | 1984-10-06 | 1986-05-07 | ||
| JPH01236002A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-09-20 | Koeflach Sport Gmbh & Co Kg | スキー靴の脚部と、脚との間の密閉を改善する為の装置 |
-
1989
- 1989-05-12 JP JP1117555A patent/JPH02297033A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52138246A (en) * | 1976-04-01 | 1977-11-18 | Salomon & Fils F | Ski boots having upper portion providing regulatable hardness |
| JPS60227701A (ja) * | 1984-01-13 | 1985-11-13 | アデイダス フアブリ−ク ド シヨ−スユ−ル ド スポ−ル | ハイトツプ靴 |
| JPS6166506U (ja) * | 1984-10-06 | 1986-05-07 | ||
| JPH01236002A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-09-20 | Koeflach Sport Gmbh & Co Kg | スキー靴の脚部と、脚との間の密閉を改善する為の装置 |
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