JPH02287205A - Instrument for inspecting nature and state of magnetic disk surface - Google Patents
Instrument for inspecting nature and state of magnetic disk surfaceInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
利用産業分野
この発明は、磁気ディスクの表面性状を連続的に監視検
査する装置に係り、レーザー光を用いて所要角度で照射
し、ディスク表面での反射が表面粗度に応じて変化する
のを受光素子で把握して記憶することにより、相対値あ
るいは絶対値比較にてディスク表面の部分的な欠陥を検
出し、耐久テスト等の磁気ヘッドが接触した状態で検査
できる磁気ディスクの表面性状検査装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Application This invention relates to an apparatus for continuously monitoring and inspecting the surface quality of a magnetic disk. By using a light-receiving element to understand and store the changes in the disk surface, partial defects on the disk surface can be detected by comparing relative or absolute values, and inspections can be made while the magnetic head is in contact during durability tests, etc. The present invention relates to a magnetic disk surface quality inspection device.
背景技術
磁気ディスクは、今日の高度に発達したコンピューター
の外部記憶装置として多用されており、小型化、大容量
化、高速化の要求から、薄膜磁気ヘッドが開発されて微
小間隔での浮上が不可欠となり、磁気ディスクのより一
層の高性能化、すなわち、ディスク表面の成膜状態の無
欠陥性、耐摩耗性の向上が求められている。Background technology Magnetic disks are widely used as external storage devices in today's highly developed computers, and to meet the demands for smaller size, larger capacity, and faster speeds, thin-film magnetic heads were developed, making it essential to fly at minute intervals. Therefore, there is a demand for further improvement in the performance of magnetic disks, that is, improvement in defect-free film formation on the disk surface and improvement in wear resistance.
磁気ディスクの検査には、−船釣な磁気特性の検査測定
のほか、摩耗試験として摺動テスト、C85(Cont
act 5tart 5top)テストなどがあり、磁
気ディスクの表面性状を検査するには光学顕微鏡や電子
顕微鏡写真が用いられ、また、CSSテスト後の磁気ヘ
ッドの付着物を検査するのに、EPMA等を用いて分析
されていた。Inspection of magnetic disks includes - In addition to inspection and measurement of magnetic properties by boat, abrasion tests such as sliding tests and C85 (Cont.
act 5 tart 5 top) tests, optical microscopes and electron micrographs are used to inspect the surface properties of magnetic disks, and EPMA, etc. are used to inspect deposits on magnetic heads after CSS tests. was analyzed.
例えば、CSSテスト後に磁気ディスクと磁気ヘッドの
表面の変化を検査するには、前記の電子顕微鏡写真、E
PMA分析による付着物の調査が行われるが、解析に多
大の工程と時間を要し、磁気ディスク表面の欠陥箇所の
特定が困難であり、また、これは所要回数の磁気ヘッド
の摺動を完了した後の状態しか把握できず、経時変化を
連続的に捉えることができない問題があった。For example, to inspect changes in the surface of magnetic disks and magnetic heads after a CSS test, the above-mentioned electron micrograph, E
PMA analysis is used to investigate deposits, but the analysis requires a large amount of time and process, and it is difficult to identify defective areas on the magnetic disk surface. There was a problem in that it was only possible to understand the state after the change, and it was not possible to continuously capture changes over time.
そこで、CSSテスト時に磁気ヘッドとディスクとの間
の摺動ノイズをAE(Acoustic Emissi
on)センサーにて検出し、磁気ディスクの表面性状の
変化を把握する試みもなされている。Therefore, during the CSS test, the sliding noise between the magnetic head and the disk was measured using AE (Acoustic Emission).
On) Attempts have also been made to detect changes in the surface properties of magnetic disks using sensors.
AEセンサーの併用は、CSSテストにおける磁気ヘッ
ド材質と磁気ディスク表面膜材質の違いやテスト回数に
よる摺動状態変化などを把握するのには好適であるが、
経時変化を連続的に、また磁気ディスク表面の欠陥箇所
の状態変化を把握するには不適である。The combined use of an AE sensor is suitable for understanding the differences between the magnetic head material and magnetic disk surface film material in CSS tests, as well as changes in sliding conditions due to the number of tests.
It is unsuitable for continuously monitoring changes over time or for understanding changes in the state of defective areas on the surface of a magnetic disk.
一般に、磁気ディスクとスライダー表面間の摺動状態と
表面欠陥の状態変化は必ずしも一致しないことが知られ
ており、特に、従来の検査方法や装置では、表面性状検
査とCSSテストなどを同時に実施することができない
ため、検査時に総合的に判断できず、磁気ディスク表面
の欠陥状態変化を把握することが困難であり、さらには
検査時にリアルタイムに欠陥箇所の表示ができない問題
があった。It is generally known that the sliding state between the magnetic disk and the slider surface does not necessarily match the state change of surface defects, and in particular, with conventional inspection methods and equipment, surface texture inspection and CSS test etc. are performed at the same time. Therefore, it is difficult to make a comprehensive judgment during inspection, making it difficult to grasp changes in the defect state on the surface of the magnetic disk, and furthermore, there is a problem in that defective locations cannot be displayed in real time during inspection.
発明の目的
この発明は、磁気ディスクの表面性状検査において、C
SSテスト等の磁気ヘッドが接触している際に、同時に
表面性状検査を実施でき、例えば、磁気ディスク表面の
所要トラックの所定箇所の摩耗試験結果、摩擦力の測定
結果、表面性状を同時に総合的に連続的に評価でき、表
面欠陥箇所の特定が容易にできる磁気ディスクの表面性
状検査装置の提供を目的としている。Purpose of the Invention The present invention provides a method for inspecting the surface properties of magnetic disks.
When the magnetic head is in contact with the SS test, etc., surface texture inspection can be performed at the same time. For example, the wear test results, friction force measurement results, and surface texture of a specified location on the required track on the magnetic disk surface can be comprehensively examined at the same time. The object of the present invention is to provide a magnetic disk surface texture inspection device that can continuously evaluate the surface properties of magnetic disks and easily identify surface defect locations.
発明の概要
この発明は、
磁気ヘッドスライダ−を備えた磁気ディスク回転駆動装
置において、
磁気ヘッドスライダ−が接触している磁気ディスク表面
のトラック上の所定位置表面に、所要入射角度となるよ
うにレーザー光を発射するレーザー装置と、前記所定位
置のレーザー光の乱反射状態を感知するためディスク表
面上方に配置された1個以上の受光素子と、各位置のレ
ーザー光の乱反射状態を記憶する記憶手段と、磁気ディ
スク半径方向のトラック位置と磁気ディスクの回転角度
とで磁気ディスク上の位置を特定する位置検出手段とを
具備し、
今回記憶された乱反射状態値を前回記憶された表面状態
値、前回までの複数回数の表面状態値の平均値あるいは
設定値と比較して異常値、偏差値を検出し、その位置を
表示するための比較演算手段を有することを特徴とする
磁気ディスクの表面性状検査装置であり、
また、磁気ディスク回転駆動装置がCSSテスト装置の
場合に、磁気ヘッドスライダ−にAEセンサーを付設し
、磁気ディスク上の各位置でのCSSテスト時のAEセ
ンサーのノイズ値と、レーザー光の乱反射状態値とを比
較して異常値を検出し、その位置を表示するための比較
演算手段を設けた磁気ディスクの表面性状検査装置であ
り、
さらに、磁気ディスク回転駆動装置が摩擦力測定装置の
場合に、磁気ディスク上の各位置での摩擦力値と、レー
ザー光の乱反射状態値とを比較して異常値を検出し、そ
の位置を表示するための比較演算手段を設けた磁気ディ
スクの表面性状検査装置である。Summary of the Invention The present invention provides a magnetic disk rotation drive device equipped with a magnetic head slider, in which a laser beam is emitted at a predetermined angle of incidence onto the surface of the magnetic disk at a predetermined position on a track in contact with the magnetic head slider. a laser device that emits light, one or more light receiving elements disposed above the disk surface to sense the diffused reflection state of the laser light at the predetermined position, and a storage means for storing the diffused reflection state of the laser light at each position. , a position detecting means for specifying the position on the magnetic disk based on the track position in the radial direction of the magnetic disk and the rotation angle of the magnetic disk, and detects the currently stored diffuse reflection state value, the previously stored surface state value, and the previously stored surface state value. An apparatus for inspecting surface properties of magnetic disks, characterized in that it has a comparison calculation means for detecting abnormal values and deviation values by comparing them with an average value or a set value of surface condition values obtained multiple times, and displaying the position thereof. In addition, when the magnetic disk rotation drive device is a CSS test device, an AE sensor is attached to the magnetic head slider, and the noise value of the AE sensor and the laser beam during the CSS test at each position on the magnetic disk are measured. This is a surface texture inspection device for a magnetic disk, which is equipped with a comparison calculation means for detecting an abnormal value by comparing it with a diffuse reflection state value and displaying its position. In this case, the magnetic disk is equipped with a comparison calculation means for comparing the friction force value at each position on the magnetic disk and the diffuse reflection state value of the laser beam, detecting an abnormal value, and displaying the position. This is a surface texture inspection device.
発明の構成
この発明は、磁気ヘッドスライダ−が当接したトラック
上の磁気ディスク面に、レーザー光を入射角5〜30’
の角度で、該トラック上の測定点に照射すると、測定点
の表面粗度に応じて反射方向が変化し乱反射が起こるの
を、前記測定点直上近傍に配置された1個以上のフォト
セルなどの受光素子により、各受光素子に入射する反射
光量の変化として捉え、反射光量の変化より、磁気ディ
スク表面粗度の変化の割合を検出したり、あるいは急激
な反射光量の変化より、薄膜の剥離や脱落のなどの部分
的な欠陥の検出を行うことを要旨としている。Structure of the Invention The present invention is directed to a magnetic disk surface on a track in contact with a magnetic head slider at an incident angle of 5 to 30'.
When the measurement point on the track is irradiated at an angle of The light-receiving elements detect changes in the amount of reflected light incident on each light-receiving element, and from changes in the amount of reflected light, the rate of change in the surface roughness of the magnetic disk can be detected, or from rapid changes in the amount of reflected light, it is possible to detect thin film peeling. The gist of this is to detect partial defects such as cracks and dropouts.
さらに、この発明は、磁気ヘッドが接触した状態で、磁
気ディスクの表面性状を連続的に監視検査できることを
特徴とし、例えば、各測定点での受光素子に入射する反
射光量の変化と、CSSテスト時のAEセンサーのノイ
ズ値、あるいは摩擦力測定値と比較検討して、磁気ディ
スクの表面性状を総合的にかつ相対的に判断できる検査
装置である。Furthermore, the present invention is characterized in that the surface quality of the magnetic disk can be continuously monitored and inspected while the magnetic head is in contact with the magnetic disk. This is an inspection device that can comprehensively and relatively judge the surface quality of a magnetic disk by comparing it with the noise value of the AE sensor or the measured value of friction force.
この発明において、レーザー装置は、磁気ヘッドスライ
ダ−が接触している磁気ディスク表面のトラック上の測
定位置表面に、所定入射角度となるようにレーザー光を
発射できる構成が必要であり、例えば、レーザーの照射
部が所定角度傾斜して、レーザー装装置が磁気ヘッドス
ライダ−と同期してスライダーの他方のレール面と接触
するディスク摺動面上へ移動する構成、他方の摺動面上
へ同時に照射できるよう複数の照射部と受光素子を有す
る構成など、種々の構成が利用できる。In this invention, the laser device needs to be configured to be able to emit a laser beam at a predetermined angle of incidence onto the measurement position surface on the track of the magnetic disk surface that is in contact with the magnetic head slider. The irradiation part is tilted at a predetermined angle, and the laser device moves in synchronization with the magnetic head slider onto the disk sliding surface that contacts the other rail surface of the slider, and simultaneously irradiates onto the other sliding surface. Various configurations can be used, such as a configuration having a plurality of irradiation units and light receiving elements.
この発明において、受光素子は、測定位置のレーザー光
の乱反射状態を感知するものであり、測定位置の上方に
1個以上の受光素子を配置し、レーザー装置の移動に伴
い所要のトラックの測定点へ移動できるよう構成するの
もよい。In this invention, the light-receiving element senses the state of diffuse reflection of the laser beam at the measurement position, and one or more light-receiving elements are arranged above the measurement position, and as the laser device moves, the measurement point of the desired track is adjusted. It is also a good idea to configure it so that it can be moved to.
受光素子の配置は、測定位置のレーザー光の乱反射状態
が各受光素子に入射する反射光量の変化として定量的に
捕捉できる必要があり、レーザー装置のレーザ一種や強
度、照射角度に応じて適宜する必要がある。The arrangement of the light-receiving elements must be such that the state of diffuse reflection of the laser light at the measurement position can be quantitatively captured as a change in the amount of reflected light incident on each light-receiving element. There is a need.
また、この発明において、各測定位置のレーザー光の乱
反射状態を記憶する記憶手段は、所要位置に配置された
n個の受光素子(Xi〜Xn)のどの位置の素子に入射
したかを記憶するほか、このアナログデータをデジタル
変換して、n個の受光素子のレーザー光の入射の有無及
びその強度を数値化して記憶するとよく、コンピュータ
ーの内部メモリーあるいは外部記憶装置に記憶、蓄積す
ればよい。Further, in the present invention, the storage means for storing the diffused reflection state of the laser beam at each measurement position stores information on which element of the n light-receiving elements (Xi to Xn) arranged at required positions the laser beam is incident. In addition, this analog data may be converted into digital data to quantify and store the presence or absence of laser light incident on the n light receiving elements and its intensity, and may be stored and stored in the computer's internal memory or external storage device.
また、各測定位置の位置検出手段は、例えば、現在、磁
気ヘッドスライダ−が接触している半径方向のトラック
位置の検出と、予め磁気ディスクの1回転を所要角度で
分割し、公知の回転角度検出器でその一定角度を検知し
カウントすることにより、トラック位置と回転角度で磁
気ディスク上の位置を特定でき、この信号をレーザー光
の乱反射状態の記憶に際して各測定位置の位置信号とし
て記憶手段に記憶させる。In addition, the position detection means at each measurement position can, for example, detect the track position in the radial direction that the magnetic head slider is currently in contact with, and divide one rotation of the magnetic disk in advance by a required angle, and calculate the known rotation angle. By detecting and counting the fixed angle with a detector, the position on the magnetic disk can be specified based on the track position and rotation angle, and this signal is stored in the storage means as a position signal of each measurement position when memorizing the diffuse reflection state of the laser beam. Make me remember.
前記の磁気ディスクの回転角度検出器は、例えば、CS
Sテストのための磁気ディスクの回転駆動制御装置、磁
気ヘッドスライダ−の制御装置等と組み合せて、同一の
制御系内に取り入れることもできる。The magnetic disk rotation angle detector described above is, for example, a CS
It can also be combined with a magnetic disk rotation drive control device, a magnetic head slider control device, etc. for the S test and incorporated into the same control system.
さらに、この発明において、比較演算手段は、今回記憶
された1測定位置あるいはあるトラック全周の乱反射状
態値を、記憶している前回記憶された当該状態値、ある
いは予め演算した前回までの複数回数の平均値または設
定した所要値と比較し、異常値あるいは偏差値として検
出し、記憶した各測定位置の位置信号とともに表示する
機能を有する。Furthermore, in the present invention, the comparison calculation means compares the currently stored diffuse reflection state value of one measurement position or the entire circumference of a certain track with the previously stored state value or a plurality of pre-computed values up to the previous time. It has a function to compare with the average value or set required value, detect it as an abnormal value or deviation value, and display it together with the stored position signal of each measurement position.
図面に基づ〈発明の開示
第1図a、b図は磁気ディスクと磁気ヘッドスライダ−
及びレーザー装置を示す上面説明図と磁気ディスクの縦
断説明図である。Based on the drawings (Disclosure of the invention) Figures 1a and 1b show a magnetic disk and a magnetic head slider.
FIG. 2 is an explanatory top view showing a laser device and a longitudinal cross-sectional view of a magnetic disk.
第2図は磁気ディスクの回転駆動制御装置を示すブロッ
ク図である。FIG. 2 is a block diagram showing a magnetic disk rotation drive control device.
第3図はこの発明の受光素子、記憶手段、比較演算手段
を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing the light receiving element, storage means, and comparison calculation means of the present invention.
ここでは、CSSテスト装置にAEセンサーを設けた磁
気ディスクの回転駆動制御装置に、レーザー装置を組合
わせた磁気ディスクの表面性状検査装置の例を説明する
。Here, an example of a magnetic disk surface quality inspection device will be described in which a laser device is combined with a magnetic disk rotation drive control device in which a CSS test device is provided with an AE sensor.
構成
磁気ディスク(1)はディスク駆動装置(2)にクラン
プされて回転駆動され、磁気ディスク(1)面にはスラ
イダー駆動制御装置(4)にディスク半径方向の移動を
制御された磁気ヘッドスライダ−(3)が接触している
。A magnetic disk (1) is clamped and rotationally driven by a disk drive device (2), and a magnetic head slider whose movement in the disk radial direction is controlled by a slider drive control device (4) is mounted on the surface of the magnetic disk (1). (3) are in contact.
さらに、磁気ヘッドスライダ−(3)にはAEセンサー
(5)が接続され、検知したスライダーとディスク間の
ノイズは、アンプ(6)で増幅されて記録装置(7)に
入力される。Further, an AE sensor (5) is connected to the magnetic head slider (3), and detected noise between the slider and the disk is amplified by an amplifier (6) and input to the recording device (7).
また、ディスク駆動装置(2)には、CSSテストが実
施できるよう回転駆動を制御するCSS制御装置(8)
が接続され、付設する回転角度検出器(9)にて磁気デ
ィスク(1)の回転角度が監視される。The disk drive device (2) also includes a CSS control device (8) that controls rotational drive so that CSS tests can be performed.
is connected, and the rotation angle of the magnetic disk (1) is monitored by an attached rotation angle detector (9).
レーザー装置(10)は、測定位置表面にレーザー光が
所定入射角度となるようにレーザー照射部が所定角度傾
斜しており、装置全体が磁気ヘッドスライダ−(3)と
同期して同一トラック上へ移動させるのもよい。In the laser device (10), the laser irradiation part is tilted at a predetermined angle so that the laser beam is incident on the measurement position surface at a predetermined angle, and the entire device moves onto the same track in synchronization with the magnetic head slider (3). It is also a good idea to move it.
測定位置のレーザー光の乱反射状態を感知するため、レ
ーザー装置(10)からの支持アーム(図示せず)に、
n個の受光素子(111〜11n)が所要位置に配置さ
れている。In order to sense the diffused reflection state of the laser beam at the measurement position, a support arm (not shown) from the laser device (10) is equipped with a
n light receiving elements (111 to 11n) are arranged at required positions.
作用
第1図a、b図に示す如く、磁気ディスク(1)上の磁
気ヘッドスライダ−(3)が接触しているトラック上の
測定位置表面に、所定入射角度で照射されたレーザー光
は、表面粗度に応じて乱反射を起こし、反射光が複数の
受光素子(111〜11n)に入射する。As shown in FIGS. 1A and 1B, the laser beam irradiated at a predetermined incident angle onto the measurement position surface on the track that the magnetic head slider (3) on the magnetic disk (1) is in contact with, Diffuse reflection occurs depending on the surface roughness, and the reflected light enters a plurality of light receiving elements (111 to 11n).
第3図において、受光素子(111〜11n)での光感
知の度合いに応じた信号は、アンプ(12)で増幅され
て九り変換器(13)でデジタル信号に変換され、記憶
装置(14)に最新の測定値として記憶され、同時にス
ライダー駆動制御装置(4)と回転角度検出器(9)か
らの位置信号も合わせて記憶される。In FIG. 3, a signal corresponding to the degree of light sensing by the light receiving elements (111 to 11n) is amplified by an amplifier (12), converted to a digital signal by a nine-way converter (13), and is converted into a digital signal by a storage device (14). ) as the latest measured value, and at the same time, the position signals from the slider drive control device (4) and rotation angle detector (9) are also stored.
この測定を繰り返して、トラック全周の乱反射状態値を
記憶する。This measurement is repeated to store the diffuse reflection state values around the entire circumference of the track.
記憶装置(14)内の測定データは、比較演算装置(1
5)にて、最新の記憶された1測定位置あるいはあるト
ラック全周の乱反射状態値として、前回記憶された当該
状態値、あるいは予め演算した前回までの複数回数の乱
反射状態値の平均値、または別途設定した所要値と比較
し、異常値あるいは偏差値として検出し、記憶した各測
定位置の位置信号とともに表示装置(16)に出力する
。The measurement data in the storage device (14) is stored in the comparison calculation device (1
In 5), as the latest memorized one measurement position or the diffused reflection state value for the entire circumference of a certain track, the last stored state value, or the average value of multiple diffused reflection state values calculated in advance up to the previous time, or It is compared with a separately set required value, detected as an abnormal value or deviation value, and outputted to the display device (16) together with the stored position signals of each measurement position.
また、比較演算装置(15)で、AEセンサー(5)の
記録装置(7)からのAEセンサーデータや、別途入力
されたCSSテストデータと比較対照して測定位置の位
置信号とともに表示装置(16)に出力する。In addition, the comparison calculation device (15) compares and contrasts the AE sensor data from the recording device (7) of the AE sensor (5) and the CSS test data input separately, and displays the position signal of the measurement position together with the display device (16). ).
実施例
材質Al2O3−TiC系、IBM3380(商品名)
タイプの磁気ヘッドスライダ−を備えた磁気ディスク回
転装置において、125rpmにて回転する材質A1、
寸法5)インチの磁気ディスク表面に、前記スライダー
をばね荷重9.5gにて接触させた前記ディスクのトラ
ック上の所定測定位置に、入射角度15°、He−Ne
レーザー光を発射し、前記測定位置のレーザー光の乱反
射状態を、測定位置の磁気ディスク表面直上に配置され
た1個のフォトセルにより受光し、乱反射状態を関知し
た。Example material: Al2O3-TiC system, IBM3380 (product name)
In a magnetic disk rotating device equipped with a type of magnetic head slider, a material A1 that rotates at 125 rpm,
The slider was brought into contact with the surface of a magnetic disk of size 5) inch with a spring load of 9.5 g. At a predetermined measurement position on the track of the disk, an incident angle of 15°, He-Ne
A laser beam was emitted, and the diffused reflection state of the laser beam at the measurement position was received by one photocell placed directly above the surface of the magnetic disk at the measurement position, to determine the diffused reflection state.
光感類の度合いに応じたフォトセルの信号は、アンプと
ん0変換器を介して記憶装置に最新の測定値として記憶
した。The photocell signal corresponding to the degree of photosensitivity was stored as the latest measured value in a storage device via an amplifier and zero converter.
同時に、磁気ディスクの1回転を分割角度0.35°で
1024に分割した時の位置を検出する回転角度検出器
とスライダー駆動制御装置からの位置信号を合わせて記
憶した。At the same time, a rotation angle detector that detects the position when one revolution of the magnetic disk is divided into 1024 parts at a division angle of 0.35° and a position signal from the slider drive control device were stored together.
前記測定を繰り返して、トラック全周の乱反射状態値を
記憶した。The above measurement was repeated and the diffuse reflection state values around the entire circumference of the track were memorized.
記憶装置内の測定データは、比較演算装置にて、最新の
記憶された1測定位置とトラック全周の乱反射状態値と
して、前回記憶された当該状態値、前回までに記憶され
て演算された乱反射状態平均値と比較し、異常値あるい
は偏差値として検出し、記憶した各測定位置の位置信号
とともに表示装置に出力した。The measurement data in the storage device is processed by a comparison calculation device as the latest stored one measurement position and the diffuse reflection state value for the entire track circumference, the previously stored state value, and the previously stored and calculated diffuse reflection. It was compared with the state average value, detected as an abnormal value or deviation value, and outputted to a display device together with the stored position signal of each measurement position.
その結果、磁気ディスク表面の所要トラックの所定箇所
の摩耗試験において、同時に表面性状を総合的に連続的
に評価でき、摩耗試験後の薄膜の剥離や脱落のなどの部
分的な表面欠陥箇所の特定ができた。As a result, during abrasion tests on predetermined locations on required tracks on the magnetic disk surface, the surface properties can be evaluated comprehensively and continuously at the same time, and local surface defects such as peeling or falling off of thin films can be identified after the abrasion test. was completed.
第1図a、b図は磁気ディスクと磁気ヘッドスライダ−
及びレーザー装置を示す上面説明図と磁気ディスクの縦
断説明図である。
第2図は磁気ディスクの回転駆動制御装置を示すブロッ
ク図である。
第3図はこの発明の受光素子、記憶手段、比較演算手段
を示すブロック図である。
1・・・磁気ディスク、2・・・ディスク駆動装置、3
・・・磁気ヘッドスライダ−14・・・スライダー駆動
制御装置、5・・・AEセンサー、6・・・アンプ、7
・・・記録装置、計・CSS制御装置、9・・・回転角
度検出器、10・・・レーザー装置、11・・・受光素
子、12・・・アンプ、13・・・九の変換器、14・
・・記憶装置、15・・・比較演算装置、16・・・表
示装置。Figures 1a and 1b show the magnetic disk and magnetic head slider.
FIG. 2 is an explanatory top view showing a laser device and a longitudinal cross-sectional view of a magnetic disk. FIG. 2 is a block diagram showing a magnetic disk rotation drive control device. FIG. 3 is a block diagram showing the light receiving element, storage means, and comparison calculation means of the present invention. 1... Magnetic disk, 2... Disk drive device, 3
...Magnetic head slider-14...Slider drive control device, 5...AE sensor, 6...Amplifier, 7
...recording device, meter/CSS control device, 9...rotation angle detector, 10...laser device, 11...light receiving element, 12...amplifier, 13...9 converter, 14・
. . . Storage device, 15 . . . Comparison calculation device, 16 . . . Display device.
Claims (1)
置において、 磁気ヘッドスライダーが接触している磁気ディスク表面
のトラック上の所定位置表面に、所要入射角度となるよ
うにレーザー光を発射するレーザー装置と、前記所定位
置のレーザー光の乱反射状態を感知するためディスク表
面上方に配置された1個以上の受光素子と、各位置のレ
ーザー光の乱反射状態を記憶する記憶手段と、磁気ディ
スク半径方向のトラック位置と回転角度とで磁気ディス
ク上の位置を特定する位置検出手段とを具備し、今回記
憶された乱反射状態値を前回記憶された表面状態値、前
回までの複数回数の表面状態値の平均値あるいは設定値
と比較して異常値、偏差値を検出し、かつその位置を表
示するための比較演算手段を有することを特徴とする磁
気ディスクの表面性状検査装置。 2 磁気ディスク回転駆動装置がCSSテスト装置からなり
、磁気ヘッドスライダーにAEセンサーを付設し、磁気
ディスク上の各位置でのCSSテスト時のAEセンサー
のノイズ値と、レーザー光の乱反射状態値とを比較して
異常値を検出し、その位置を表示するための比較演算手
段を設けたことを特徴とする請求項1記載の磁気ディス
クの表面性状検査装置。 3 磁気ディスク回転駆動装置が摩擦力測定装置からなり、
磁気ディスク上の各位置での摩擦力値と、レーザー光の
乱反射状態値とを比較して異常値を検出し、その位置を
表示するための比較演算手段を設けたことを特徴とする
請求項1記載の磁気ディスクの表面性状検査装置。[Claims] 1. In a magnetic disk rotation drive device equipped with a magnetic head slider, a laser beam is emitted at a predetermined angle of incidence onto the surface of the magnetic disk at a predetermined position on a track in contact with the magnetic head slider. a laser device for emitting light; one or more light-receiving elements disposed above the disk surface to sense the state of diffuse reflection of the laser light at the predetermined position; a storage means for storing the state of diffuse reflection of the laser light at each position; and a magnetic field. It is equipped with a position detection means for specifying the position on the magnetic disk based on the track position in the disk radial direction and the rotation angle, and the diffuse reflection state value stored this time is used as the surface state value stored last time, and the surface state value stored a plurality of times until the previous time. What is claimed is: 1. A surface texture inspection device for a magnetic disk, comprising a comparison calculation means for detecting an abnormal value or deviation value by comparing it with an average value or a set value of state values, and displaying the position thereof. 2. The magnetic disk rotation drive device consists of a CSS test device, and an AE sensor is attached to the magnetic head slider, and the noise value of the AE sensor during the CSS test at each position on the magnetic disk and the diffuse reflection state value of the laser beam are measured. 2. The magnetic disk surface texture inspection apparatus according to claim 1, further comprising comparison calculation means for comparing and detecting an abnormal value and displaying the position thereof. 3. The magnetic disk rotation drive device consists of a friction force measuring device,
A claim characterized in that a comparison calculation means is provided for comparing the friction force value at each position on the magnetic disk and the diffuse reflection state value of the laser beam, detecting an abnormal value, and displaying the position. 1. The magnetic disk surface quality inspection device according to 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1110733A JPH07119588B2 (en) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | Surface inspection device for magnetic disk |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1110733A JPH07119588B2 (en) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | Surface inspection device for magnetic disk |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02287205A true JPH02287205A (en) | 1990-11-27 |
JPH07119588B2 JPH07119588B2 (en) | 1995-12-20 |
Family
ID=14543135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1110733A Expired - Lifetime JPH07119588B2 (en) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | Surface inspection device for magnetic disk |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07119588B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010231831A (en) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Hitachi High-Technologies Corp | Method for detecting surface defects in patterned medium |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102004052302B4 (en) * | 2004-09-30 | 2013-05-23 | Immobiliengesellschaft Helmut Fischer Gmbh & Co. Kg | Method for outputting measured values and display device |
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JPS6138408A (en) * | 1984-07-30 | 1986-02-24 | Toshiba Corp | Warning device for detecting state of surface |
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JPS62132282A (en) * | 1985-12-03 | 1987-06-15 | Fujitsu Ltd | Floating test method for floating type magnetic head |
-
1989
- 1989-04-28 JP JP1110733A patent/JPH07119588B2/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07119588B2 (en) | 1995-12-20 |
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