JPH0227595A - Semiconductor memory - Google Patents

Semiconductor memory

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Publication number
JPH0227595A
JPH0227595A JP63177660A JP17766088A JPH0227595A JP H0227595 A JPH0227595 A JP H0227595A JP 63177660 A JP63177660 A JP 63177660A JP 17766088 A JP17766088 A JP 17766088A JP H0227595 A JPH0227595 A JP H0227595A
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JP
Japan
Prior art keywords
port
ports
read
line
type mos
Prior art date
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Pending
Application number
JP63177660A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukinori Yamada
山田 幸典
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority to JP63177660A priority Critical patent/JPH0227595A/en
Publication of JPH0227595A publication Critical patent/JPH0227595A/en
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Abstract

PURPOSE:To read information from two ports by making the gate of la floating type MOS transistor (TR) into a high-voltage rewriting signal line with the memory cell of an EPROM having the two ports, and connecting the word lines of the respective ports through the two MOS TRs at an N channel to the inputted to the gate to a digit line. CONSTITUTION:N-channel type MOS TRs T1 and T2 to transmit the information to a digit line 1 having an A port and a floating type MOS TR T3 constitute a memory cell. At the time of reading, first the input gate of the floating type MOS TR T3 is activated, and word lines 3 and 4 having the A port or a B port are selected. When '1' is read, since the TR T3 remains to be turned off, even when the word line is selected, the digit line remains at the high potential. Further, when '0' is read, since the TR T3 is turned on, by selecting the word line, the potential of the digit line is pulled. Thus, the information can be read from the two ports.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は2ボートから読み出しを行うことができる消去
可能な読み出し半導体メモリーに関し、特にそのメモリ
セルの構成に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an erasable read semiconductor memory capable of reading from two ports, and more particularly to the structure of its memory cells.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

通常、消去可能な読み出し半導体メモリー(以下EP’
ROMと称する)は1ポートの入出力端子から構成され
る。最近EPROMの応用分野が広がるにつれて非同期
に2ボートからアクセスできるEPROMを望むユーザ
ーが出てきた。
Typically, erasable readout semiconductor memory (hereinafter referred to as EP')
(referred to as ROM) is composed of one port of input/output terminals. Recently, as the field of application of EPROM has expanded, some users have begun to desire an EPROM that can be accessed asynchronously from two boards.

従来、1ボートのEFROMのメモリセル構成は第2図
の様にフローティング型MOSトランジスタにワード線
及びディジット線が接続された形になっている。
Conventionally, the memory cell configuration of a one-boat EFROM has a floating type MOS transistor connected to a word line and a digit line, as shown in FIG.

書き込み及び読み出しの動作を説明する。Write and read operations will be explained.

“l”を書き込む時にはディジット線及びワード線に高
電界を印加してフローティングゲートに負電荷を蓄積さ
せる。
When writing "l", a high electric field is applied to the digit line and word line to accumulate negative charges in the floating gate.

“0”を書き込む時にはディジット線は高電界のままで
あるがワード線を選択しない様にすればフローティング
ゲートに電荷が蓄積されることはない。
When writing "0", the digit line remains in a high electric field, but if the word line is not selected, no charge is accumulated on the floating gate.

一方、1″読み出しの時はフローティングゲートに負電
荷が蓄積されているために選択されてもフローティング
型MOSトランジスタはオフしたままである。
On the other hand, at the time of 1'' reading, the floating type MOS transistor remains off even if it is selected because negative charges are accumulated in the floating gate.

′0”読み出しの時はフローティングゲートに負電荷が
蓄積されていないために選択されるとフローティング型
MO3)ランジスタはオンする。
When reading '0', no negative charge is accumulated in the floating gate, so when selected, the floating type MO3) transistor is turned on.

以上の様に選択されたメモリセルの構成上明らかに2ボ
ートからの読み出しは不可能である。
Due to the configuration of the memory cells selected as described above, reading from two ports is clearly impossible.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来のEPROMのメモリセルは、その構成上
2ボートから非同期に読み出すことは不可能であった。
Due to the structure of the conventional EPROM memory cells described above, it was impossible to read data asynchronously from two ports.

本発明の目的はかかるEFROMのメモリセルを改良し
、2ボートから読み出しを行うことが可能7’、CE 
P ROMのメモリセルを提供することにある。
An object of the present invention is to improve such an EFROM memory cell so that reading can be performed from two ports.7', CE
The purpose of the present invention is to provide a PROM memory cell.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の2ボートをもつEFROMのメモリセルは、フ
ローティング型MOSトランジスタのゲートを高電圧の
書き換え用信号線とし、かつ、各々のボートのワード線
をゲート入力とする2ケのNチャネルMOSトランジス
タを通して各々のボートのディジット線に接続されるこ
とを特徴としている。
The EFROM memory cell with two ports of the present invention uses the gate of a floating MOS transistor as a high-voltage rewriting signal line, and the word line of each boat as a gate input through two N-channel MOS transistors. It is characterized by being connected to each boat's digit line.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例である。第1図の実施例に示
す1はAポートにおけるディジット線、2はBポートに
おけるディジット線、3はAポートにおけるワード線、
4はBボートにおけるワード線、T1はAポートのディ
ジット線に情報を伝達するNチャネル型MOSトランジ
スタ、T3はフローティング型MOSトランジスタで、
3つのMOSトランジスタで構成されたメモリセルであ
る。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. In the embodiment shown in FIG. 1, 1 is a digit line in the A port, 2 is a digit line in the B port, 3 is a word line in the A port,
4 is a word line in the B boat, T1 is an N-channel MOS transistor that transmits information to the digit line of the A port, T3 is a floating MOS transistor,
This is a memory cell composed of three MOS transistors.

第4図を参照して動作を説明する。The operation will be explained with reference to FIG.

書き込み時は、フローティング型MOSトランジスタT
3のゲート入力及び選択ディジ、ト線を高電界に活性化
しておく。その後、“1”書き込みの場合はAポートも
しくはBポートのワード線に高電界を印加してフローテ
ィングゲートに負電荷を蓄積させる6、10″書き込み
の場合はAポートもしくはBポートのワード線を非選択
の状態にしておけばフローティングゲートに電荷が蓄積
されることはない。
During writing, floating type MOS transistor T
The gate input and selected digital and digital lines of No. 3 are activated to a high electric field. After that, in the case of writing "1", a high electric field is applied to the word line of port A or port B to accumulate negative charge on the floating gate. If it is left in the selected state, charges will not be accumulated on the floating gate.

一方、読み出し時は、まずフローティング型MOS)ラ
ンジスタT3の入力ゲートを活性化させておき、Aボー
トもしくはBボートのワード線を選択する 111”読
み出しの場合はフローティング型MOSトランジスタT
3はオフのままであるのでワード線を選択してもディジ
、ト線の高電位のままである。′0”読み出しの場合は
フローティング型MO3)ランジスタT3はオンしてい
るのでワード線を選択することによりディジット線の電
位を引っばる。
On the other hand, when reading, first activate the input gate of floating type MOS transistor T3 and select the word line of A boat or B boat.
3 remains off, so even if the word line is selected, the high potential of the digital and digital lines remains. In the case of '0' reading, the floating type MO3) transistor T3 is on, so by selecting the word line, the potential of the digit line is pulled.

つまり、読み出し時にはフローティング型MOSトラン
ジスタの負電荷の有無により該トランジスタがオン/オ
フして情報を次段のセンス7ンブに伝達するわけである
。ここで読み出し時におけるフローティング型MOSト
ランジスタのゲート入力は全メモリセルを常に活性化さ
せておいても良い。
That is, at the time of reading, the floating type MOS transistor is turned on/off depending on the presence or absence of negative charge in the floating type MOS transistor to transmit information to the next stage sense circuit. Here, the gate input of the floating type MOS transistor during reading may keep all memory cells activated at all times.

本発明のメモリセルは、AポートとBポートの各々にワ
ード線及びディジット線をもっているのでAボートから
もBボートからも非同期にアクセスすることが可能とな
る。
Since the memory cell of the present invention has a word line and a digit line for each of the A port and the B port, it is possible to access the memory cell asynchronously from both the A port and the B port.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、非同期に2ボートから読
み出し可能なメモリセルなので複雑なアービター回路の
周辺回路が省略でき、2ポ一トEPROMの設計を容易
にする効果がある。
As described above, since the present invention is a memory cell that can be read from two ports asynchronously, a complicated peripheral circuit of an arbiter circuit can be omitted, and the present invention has the effect of facilitating the design of a two-point EPROM.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のメモリセルの回路図である。 第2図は従来のメモリセルの回路図である。 1・・・・・・Aポートにおけるディジット線、2・・
・・・・Bボートにおけるディジット線、3・・・・・
・Aボートにおけるワード線、4・・・・・・Bポート
におけるワード線5・・・・・・高電圧の書き換え用信
号線、TI、T2・・・・・・Nチャネル型MOSトラ
ンジスタ、T3・・・・・・フローティング型MO3)
ランジスタ。 代理人 弁理士  内 原   音
FIG. 1 is a circuit diagram of a memory cell of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional memory cell. 1... Digit line at A port, 2...
... Digit line on B boat, 3...
・Word line in A boat, 4... Word line 5 in B port... High voltage rewriting signal line, TI, T2... N channel type MOS transistor, T3 ...Floating type MO3)
Ranjista. Agent Patent Attorney Oto Uchihara

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 2ポートから読み出しを行うことができる消去可能な読
み出し半導体メモリにおいて、このメモリーを構成する
メモリセルが、フローティング型MOSトランジスタの
ゲートを高電圧の書き換え用信号線とし、かつ、各々の
ポートのワード線をゲート入力とする2ケのトランジス
タを通して各々のポートのディジット線に接続されるこ
とを特徴とする消去可能な読み出し半導体メモリ。
In an erasable read semiconductor memory that can be read from two ports, the memory cells constituting this memory have a floating MOS transistor whose gate is a high-voltage rewriting signal line, and a word line of each port. What is claimed is: 1. An erasable readout semiconductor memory connected to a digit line of each port through two transistors having gate inputs.
JP63177660A 1988-07-15 1988-07-15 Semiconductor memory Pending JPH0227595A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63177660A JPH0227595A (en) 1988-07-15 1988-07-15 Semiconductor memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63177660A JPH0227595A (en) 1988-07-15 1988-07-15 Semiconductor memory

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0227595A true JPH0227595A (en) 1990-01-30

Family

ID=16034876

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JP63177660A Pending JPH0227595A (en) 1988-07-15 1988-07-15 Semiconductor memory

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