JPH02273738A - Continuous processing device - Google Patents

Continuous processing device

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Publication number
JPH02273738A
JPH02273738A JP9601989A JP9601989A JPH02273738A JP H02273738 A JPH02273738 A JP H02273738A JP 9601989 A JP9601989 A JP 9601989A JP 9601989 A JP9601989 A JP 9601989A JP H02273738 A JPH02273738 A JP H02273738A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
turret
inspection
accompany
processing means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9601989A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tokuji Takahashi
高橋 徳治
Terukazu Murakami
村上 輝一
Makoto Asano
朝野 誠
Koji Hashimoto
橋本 光二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP9601989A priority Critical patent/JPH02273738A/en
Publication of JPH02273738A publication Critical patent/JPH02273738A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To miniaturize the above device and to facilitate the maintenance thereof by constituting the device in such a manner that a material to be processed and a processing means move in company with each other and the processing means moving in accompany at the previous time and the processing means moving in accompany in the circumferential rotation of this time vary when the means return to a processing turret again after the circumferential rotation. CONSTITUTION:The device is so constituted that the material 6 to be processed and the processing means 10 provided on the processing turret 2 move in accompany with each other in at least a part of the process to turn around the processing turret 2. The device is so constituted that the processing means 10 moving in accompany at the previous time and the processing means 10 moving in accompany of this time vary when the unprocessed material 6 to be processed returns again to the processing turret 2 after making the circumferential rotation. Namely, a cartridge 6 supplied to the supply turret 1 is transferred to a holder 5 of a chain 4 after the turret 1 rotates at a certain angle. Since the processing that the material receives before and the processing that the material receives this time are different, the material receives all of the processing in the process of turning around the processing turret 2 several times. The device is miniaturized in this way and the maintenance thereof is facilitated.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、パトローネなどに対する検査などの処理を行
う連続処理装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a continuous processing apparatus that performs processing such as inspection on cartridges and the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

写真フィルムを収容するパトローネに対して、出荷に先
立って、その表面の凹凸、長さなど複数の検°査が要求
される。
Prior to shipping, a cartridge containing photographic film is required to undergo multiple inspections, including its surface irregularities and length.

従来、−船釣には検査装置を固定し、この検査装置に対
してパトローネを間歇的に供給することが行われている
。しかし、これではパトローネの供給および検査が間歇
的となるため、検査速度が遅く、大量の検査には不適で
ある。しかも、複数検査の場合において、その問題が一
層顕在化する。
Conventionally, when fishing on a boat, an inspection device is fixed and a cartridge is intermittently supplied to the inspection device. However, this method requires intermittent supply and testing of cartridges, resulting in slow testing speed and is unsuitable for large-volume testing. Moreover, in the case of multiple inspections, this problem becomes even more obvious.

そこで、本出願人は先に特開昭62〜38349号とし
て、連続検査装置を提案した。この検査装置は、複数の
検査ターレットに1対1で検査用センサーを設けたもの
である。
Therefore, the present applicant previously proposed a continuous inspection device in Japanese Patent Laid-Open No. 62-38349. This inspection device has a plurality of inspection turrets provided with inspection sensors on a one-to-one basis.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、前記公報の検査装置では、検査速度は比較的速
いものの、検査項目が多くなるほど、検査ターレットが
増加することによって、専有スペースが増し、装置が大
型化する問題があるとともに、回転する各検査ターレッ
トと搬送手段によって搬送される被検査物との位置を全
ての個所で同期するように調整することはきわめて難し
い。
However, although the inspection apparatus disclosed in the above publication has a relatively fast inspection speed, the more inspection items there are, the more inspection turrets are required, which increases the exclusive space and increases the size of the apparatus. It is extremely difficult to adjust the positions of the turret and the object to be inspected transported by the transport means so that they are synchronized at all locations.

そこで、本発明の主たる目的は、装置が小型化し、かつ
位置調整などのメンテナンスが容易な連続処理装置を提
供することにある。
Therefore, the main object of the present invention is to provide a continuous processing device that is compact and easy to maintain such as position adjustment.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記課題は、被処理物を順次間歇的に供給する供給手段
と、回転する処理ターレットと、この処理ターレットに
一体化された複数の処理手段と、前記供給手段によって
供給された被処理物を受けてこれを連続的に移動させ、
前記処理ターレットを巡った後、被処理物の排出位置を
経て当初の被処理物の供給位置まで戻る無端状搬送手段
とを備え、前記処理ターレットを巡る少なくとも一部の
過程で被処理物と処理ターレットに設けられた処理手段
とが同伴するように構成するとともに、未処理の被処理
物が搬送手段によって搬送されある周回において同伴し
、その後一周または複数周周回後、再度処理ターレット
に戻ったとき、前回同伴していた処理手段と当該周回に
おいて同伴する処理手段とが異なるように構成したこと
でかいけってきる。
The above-mentioned problem consists of a supply means for sequentially and intermittently supplying the objects to be processed, a rotating processing turret, a plurality of processing means integrated with the processing turret, and a system for receiving the objects to be processed supplied by the supply means. move this continuously,
After traveling around the processing turret, the endless conveying means returns to the initial supply position of the workpiece through a discharge position of the workpiece, and the transport means transports the workpiece and the processing object during at least a part of the process of traveling around the processing turret. The turret is configured to be accompanied by a processing means provided on the turret, and when an unprocessed workpiece is transported by the transport means and accompanied during a certain round, and then returns to the processing turret again after one or more rounds. This can be achieved by configuring the processing means that accompanied the previous round to be different from the processing means that accompanied the current round.

本発明において、処理とは、後述のように、検査処理の
他、この検査処理とともに、あるいは検査処理とは無関
係に、良品または不良品を該当個所に送るために排出す
る場合、さらに搬送しながら被処理物に複数の加工を施
す場合などが含まれる。しかし、かかる他の例は、検査
処理を説明することで容易に推測できるであろうから、
以下は、主に検査処理について説明を行う。
In the present invention, processing, as will be described later, refers to inspection processing, when non-defective products or defective products are discharged to be sent to a corresponding location, or while being transported, together with the inspection processing, or independently of the inspection processing. This includes cases where a workpiece is subjected to multiple processes. However, such other examples can be easily guessed by explaining the inspection process.
The following will mainly explain the inspection process.

〔作用〕[Effect]

本発明では、処理ターレットを巡る少なくとも一部の過
程で被処理物と処理ターレットに設けられた処理手段と
が同伴するように構成するとともに、未処理の被処理物
が搬送手段によって一周または複数局周回した後、再度
処理ターレットに戻ったとき、前回同伴していた処理手
段と当該口同伴する処理手段とが異なるように構成した
から、前回の同伴過程では受けた処理と当該口受ける処
理とが異なるので、何回か処理ターレットを巡る過程で
、全ての処理を受けることができる。
In the present invention, the object to be processed and the processing means provided on the processing turret are configured to accompany each other during at least a part of the process around the processing turret, and the unprocessed object is transported around the processing turret by the conveying means or at multiple stations. When the robot returns to the processing turret after going around, the processing means that accompanied it last time was configured to be different from the processing means that carried the mouth, so the processing that was received in the previous accompanying process and the processing that carried the mouth were different. Since they are different, you can receive all the treatments by visiting the processing turret several times.

さらに、従来のように一つの検査(処理)ターレットに
一つの検査(処理)手段を設けるのではなく、一つの検
査ターレットに複数の検査手段を設けたので、検査ター
レットの数がその分、削減でき、もって装置の小型化を
達成できる。また、検査ターレット数が減少することに
よって、検査ターレットと搬送手段により搬送される被
処理物との同期調整を行なわなければならない個所が減
少するので、メンテナンス上容易である。
Furthermore, instead of providing one inspection (processing) means on one inspection (processing) turret as in the past, multiple inspection means are provided on one inspection turret, which reduces the number of inspection turrets. This makes it possible to downsize the device. Furthermore, since the number of inspection turrets is reduced, the number of locations where synchronization between the inspection turret and the workpiece transported by the transport means must be adjusted is reduced, which facilitates maintenance.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明を図面に示す実施例によってさらに詳説する
The present invention will be explained in more detail below with reference to embodiments shown in the drawings.

第1図は第1実施例を示し、それぞれ円盤状の同一周速
で回転する(回転手段はモータなどによる)供給ターレ
ット1、処理ターレットとしての検査ターレット2およ
び検査・分別ターレット3を備えている。検査ターレッ
ト2と検査・分別ターレット3とには、本発明にいう無
端状搬送手段を各ターレット1.2.3とともに構成す
るチェーン4が巻き掛けられ、各ターレット2.3間に
供給ターレット1の外周が噛合している。チェーン4に
は複数のホルダー5が間隔を置いて一体化されている。
FIG. 1 shows a first embodiment, which is equipped with a supply turret 1, an inspection turret 2 as a processing turret, and an inspection/separation turret 3, each of which has a disk shape and rotates at the same circumferential speed (rotation means is a motor or the like). . A chain 4, which together with each turret 1.2.3 constitutes an endless conveyance means according to the present invention, is wound around the inspection turret 2 and the inspection/sorting turret 3, and the supply turret 1 is connected between each turret 2.3. The outer periphery is engaged. A plurality of holders 5 are integrated into the chain 4 at intervals.

このホルダー5には、第2図のように、パトローネ6が
着脱自在に設けられる。
As shown in FIG. 2, a cartridge 6 is detachably provided on this holder 5.

一方、供給ターレット1には、供給コンベア7が連結さ
れており、この供給コンベア7に乗ってパトローネ6が
供給ターレット1に順次間歇的に供給されるようになっ
ている。供給ターレットlに供給されたパトローネ6は
供給ターレットlがある角度回転した後、チェーン4の
ホルダー5に移載される。移載されたパトローネ6は、
チェーン4の移動に伴って、検査ターレット2を巡り、
検査・分別ターレット3まで達し、そこで検査が終了し
たものについては、たとえば検査・分別ターレット3に
設けられた選択排除手段11によって、良品、不良品に
振り分けられ、それぞれ良品コンベア8または不良品コ
ンベア9に移載される。
On the other hand, a supply conveyor 7 is connected to the supply turret 1, and the cartridges 6 are sequentially and intermittently supplied to the supply turret 1 on this supply conveyor 7. The cartridge 6 supplied to the supply turret l is transferred to the holder 5 of the chain 4 after the supply turret l rotates by a certain angle. The transferred Patrone 6 is
As the chain 4 moves, it moves around the inspection turret 2,
Items that have reached the inspection/sorting turret 3 and have been inspected there are sorted into non-defective items and defective items by the selection/exclusion means 11 provided in the inspection/sorting turret 3, and are transferred to the non-defective conveyor 8 or defective item conveyor 9, respectively. It will be transferred to.

パトローネ6が取り外されたホルダー5は再び供給ター
レット1から新しいパトローネ6を受ける。
The holder 5 from which the cartridge 6 has been removed receives a new cartridge 6 from the supply turret 1 again.

検査が未了のものについては、再度何回かの検査ターレ
ットを巡る過程で検査がなされる。
Items that have not yet been inspected will be inspected again in the process of visiting the inspection turret several times.

検査ターレット2および検査・分別ターレット3には検
査手段IOが一体的にそれぞれ複数取り付けられている
。各ターレット2および3の中心と隣接する検査手段1
0.10とがなす角度は、各ターレット2および3の中
心と隣接するホルダー5.5がなす角度と同一となって
いる。したがって、ホルダー5に装着されたパトローネ
6と検査手段10とは検査行程Saおよびsbおいて近
接対向して同伴移動するように構成されている。
A plurality of inspection means IO are integrally attached to each of the inspection turret 2 and the inspection/separation turret 3. Inspection means 1 adjacent to the center of each turret 2 and 3
The angle formed by 0.10 is the same as the angle formed by the center of each turret 2 and 3 and the adjacent holder 5.5. Therefore, the cartridge 6 mounted on the holder 5 and the inspection means 10 are configured to move together in close opposition to each other during the inspection steps Sa and sb.

他方、検査・分別ターレット3においては、選択排除手
段11が設けられている。したがって、図面から明らか
なように、ホルダー5の数が9個、検査手段10の数が
7個となっているが、選択・排除手段も本発明いう処理
手段を構成するので、処理手段の数としては、8個とな
っている。
On the other hand, the inspection/separation turret 3 is provided with selection/exclusion means 11. Therefore, as is clear from the drawings, the number of holders 5 is nine and the number of inspection means 10 is seven, but since the selection/exclusion means also constitute the processing means of the present invention, the number of processing means is nine. As a result, there are 8 pieces.

このように構成された装置においては、供給コンベア7
によって供給ターレット1にホルダー5の数の4個置き
ごとにパトローネ6が供給され、4周周回する過程で、
各検査手段lOによって7種類の検査を受ける。あるパ
トローネ6の(1)が検査を受ける検査手段10の順番
は、1−2−3−4−5−6−7であり、最後に選択排
除手段11によって良品、不良品に振り分けられる。逆
に検査手段10の1が検査するパトローネ6の順番は、
1−5−9→4−8−3−7−2−6である。
In the apparatus configured in this way, the supply conveyor 7
The cartridges 6 are supplied to the supply turret 1 every fourth of the number of holders 5, and in the process of making four revolutions,
Seven types of tests are performed by each test means IO. The order in which a certain cartridge 6 (1) is inspected by the inspection means 10 is 1-2-3-4-5-6-7, and finally the selection and exclusion means 11 sorts the cartridges into good and defective products. Conversely, the order of the cartridges 6 to be inspected by one of the inspection means 10 is as follows:
1-5-9→4-8-3-7-2-6.

第3図には、よりシンプルな検査装置が示されている。A simpler inspection device is shown in FIG.

この例では、ホルダー5の数が4個、検査手段10の数
が3個となっている。第4図の検査装置では、ホルダー
5の数が5個、検査手段10の数が4個となっている。
In this example, the number of holders 5 is four and the number of inspection means 10 is three. In the inspection apparatus shown in FIG. 4, the number of holders 5 is five and the number of inspection means 10 is four.

このような検査装置において、検査ターレットの周長を
L1一つの検査ターレットに一体化された検査手段の数
をNとしたとき、ホルダー間のピッチは、L/N、ホル
ダーの数nは、N+x、チェーンの全長は、L(N+x
)/Nとされる。ここに、Xは整数で、通常は、Nの整
数倍でないものとされる。
In such an inspection device, when the circumference of the inspection turret is L1 and the number of inspection means integrated into one inspection turret is N, the pitch between the holders is L/N, and the number n of holders is N+x. , the total length of the chain is L(N+x
)/N. Here, X is an integer, and is usually not an integer multiple of N.

上記例では、無端状搬送手段として、チェーンを用いた
が、エンドレスの孔や溝に沿ってホルダ=を連続的に移
動させるものでもよい。
In the above example, a chain is used as the endless conveyance means, but it may be one that moves the holder continuously along an endless hole or groove.

他方、第5図は、検査ターレットエ0を3個設けたもの
で、処理手段の数としては12個、ホルダー6の数を1
1個としたものである。したがって、前記Xとしては、
前記例が正の整数であったが、この例では負の整数とな
っている。
On the other hand, in FIG. 5, three inspection turrets 0 are provided, the number of processing means is 12, and the number of holders 6 is 1.
It is one piece. Therefore, as the above X,
While the previous example was a positive integer, this example is a negative integer.

また、上記各側では、処理手段のピッチとホルダーのピ
ッチとが同じであるが、ピッチを異ならせ1周後に半ピ
ツチずれ、2周後に次の処理手段と同伴するようにして
もよい(この例は図示していない)。
Further, on each side, the pitch of the processing means and the pitch of the holder are the same, but the pitch may be different so that the pitch shifts by half a pitch after one round, and it accompanies the next processing means after two rounds (this (Example not shown).

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のとおり、本発明によれば、装置の小型化を図るこ
とができるなどの利点がもたらされる。
As described above, the present invention provides advantages such as being able to downsize the device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明装置の第1実施例を示す概要図、第2図
は検査ターレットと検査手段との関係を示す立面図、第
3図、第4図および第5図は態様を異にする検査装置の
概要図である。 1・・・供給ターレット 2・・・検査ターレット(処
理ター°レット) 3・・・検査・分別ターレット 4・・・チェーン5・
・・ホルダー 6・・・パトローネ(被処理物)lO・
・・検査手段(処理手段) 11・・・選択排除手段 特許出願人    コニカ株式会社 口代理人 弁理士
   水弁 義久 第 図 第 図 第 図 第 図
FIG. 1 is a schematic diagram showing a first embodiment of the apparatus of the present invention, FIG. 2 is an elevational view showing the relationship between the inspection turret and the inspection means, and FIGS. 3, 4, and 5 show different aspects. FIG. 1... Supply turret 2... Inspection turret (processing turret) 3... Inspection/separation turret 4... Chain 5.
...Holder 6...Patrone (processed object) lO・
...Inspection means (processing means) 11... Selection and exclusion means patent applicant Konica Co., Ltd. Accountant Patent attorney Yoshihisa Mizuben

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)被処理物を順次間歇的に供給する供給手段と、回
転する処理ターレットと、この処理ターレットに一体化
された複数の処理手段と、前記供給手段によって供給さ
れた被処理物を受けてこれを連続的に移動させ、前記処
理ターレットを巡った後、被処理物の排出位置を経て当
初の被処理物の供給位置まで戻る無端状搬送手段とを備
え、前記処理ターレットを巡る少なくとも一部の過程で
被処理物と処理ターレットに設けられた処理手段とが同
伴するように構成するとともに、未処理の被処理物が搬
送手段によって搬送されある周回において同伴し、その
後一周または複数周周回後、再度処理ターレットに戻っ
たとき、前回同伴していた処理手段と当該周回において
同伴する処理手段とが異なるように構成したことを特徴
とする連続処理装置。
(1) A supply means for sequentially and intermittently supplying the workpiece, a rotating processing turret, a plurality of processing means integrated with the processing turret, and a system for receiving the workpiece supplied by the supply means. an endless conveyance means for continuously moving the processing turret, returning to the initial supply position of the processing material through a discharge position of the processing material, and at least a portion of the transporting means moving the processing turret; In the process, the object to be processed and the processing means provided on the processing turret are configured to accompany each other, and the unprocessed object is transported by the transport means and is accompanied in a certain round, and then after one round or multiple rounds. . A continuous processing apparatus characterized in that when returning to the processing turret again, the processing means that accompanied the last time is different from the processing means that accompanies this round.
JP9601989A 1989-04-14 1989-04-14 Continuous processing device Pending JPH02273738A (en)

Priority Applications (1)

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JP9601989A JPH02273738A (en) 1989-04-14 1989-04-14 Continuous processing device

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JP9601989A Pending JPH02273738A (en) 1989-04-14 1989-04-14 Continuous processing device

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JP (1) JPH02273738A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995010068A1 (en) * 1993-10-06 1995-04-13 Noritsu Koki Co., Ltd. Photographic printer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995010068A1 (en) * 1993-10-06 1995-04-13 Noritsu Koki Co., Ltd. Photographic printer

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