JPH02272342A - 光パルス試験装置 - Google Patents
光パルス試験装置Info
- Publication number
- JPH02272342A JPH02272342A JP1093112A JP9311289A JPH02272342A JP H02272342 A JPH02272342 A JP H02272342A JP 1093112 A JP1093112 A JP 1093112A JP 9311289 A JP9311289 A JP 9311289A JP H02272342 A JPH02272342 A JP H02272342A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- optical
- light
- optical pulse
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 79
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 19
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 75
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 5
- 230000005281 excited state Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 12
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 239000011149 active material Substances 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000253 optical time-domain reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、長距離の光伝送路の伝送損失特性の評価を可
能とする超高感度を有する光パルス試験装置に関するも
のである。
能とする超高感度を有する光パルス試験装置に関するも
のである。
[従来の技術]
従来、光フアイバ伝送路の損失測定及び線路のC視には
光パルス試験装置へが広く用いられている。第4図は、
その基本的な構成例を示すもので、同図中1は波長1.
32μmのYAG光パルス光源、2はAO偏向器、3は
光パルス光源1の出力光パルス信号LpをAO偏光器2
に導びくための光ファイバ、3′はAO偏光器2と光フ
アイバ線路4を光学的に接続するための光ファイバ、5
はCRT (cathode−ray ’tube)、
6は光コネクタ、7は光フアイバ線路4からの反射光(
i号Lp″を受光器8に導びくための多モード光ファイ
バ、9は電気系と表示系を内蔵した光パルス試験器本体
、SdはAO偏光器2の駆動信号、S(Mは光パルス光
源1の駆動信号、αは解析後の出力波形である。
光パルス試験装置へが広く用いられている。第4図は、
その基本的な構成例を示すもので、同図中1は波長1.
32μmのYAG光パルス光源、2はAO偏向器、3は
光パルス光源1の出力光パルス信号LpをAO偏光器2
に導びくための光ファイバ、3′はAO偏光器2と光フ
アイバ線路4を光学的に接続するための光ファイバ、5
はCRT (cathode−ray ’tube)、
6は光コネクタ、7は光フアイバ線路4からの反射光(
i号Lp″を受光器8に導びくための多モード光ファイ
バ、9は電気系と表示系を内蔵した光パルス試験器本体
、SdはAO偏光器2の駆動信号、S(Mは光パルス光
源1の駆動信号、αは解析後の出力波形である。
これを動作するには、光パルス光源1を点灯し、高出力
光パルス信号Ll)をAO偏光器2を介して、光フアイ
バ線路4に入射する。入射された光パルス信i’5 L
p−は、光ファイバを構成するガラスにより散乱(主
にレイリー散乱)を受け、その一部は光フアイバ線路4
を逆に反射伝播しAO偏向器2にもどってくる。この散
乱光強度は、光ファイバの各位置での伝播光強度に比例
するため、散乱光強度の時間軸上での分布を計測するこ
とにより、光ファイバの伝送損失の距離依存性を、光フ
ァイバを破壊することなく測定することができる。第4
図において、AO偏向鼎2にもどった散乱光は、駆動信
号Sdの印加によって光ファイバ7に導びかれ、受光固
8で受信され、光パルス試験器本体9に入り、信号処理
の後、CRT5で出力波形αが表示される。
光パルス信号Ll)をAO偏光器2を介して、光フアイ
バ線路4に入射する。入射された光パルス信i’5 L
p−は、光ファイバを構成するガラスにより散乱(主
にレイリー散乱)を受け、その一部は光フアイバ線路4
を逆に反射伝播しAO偏向器2にもどってくる。この散
乱光強度は、光ファイバの各位置での伝播光強度に比例
するため、散乱光強度の時間軸上での分布を計測するこ
とにより、光ファイバの伝送損失の距離依存性を、光フ
ァイバを破壊することなく測定することができる。第4
図において、AO偏向鼎2にもどった散乱光は、駆動信
号Sdの印加によって光ファイバ7に導びかれ、受光固
8で受信され、光パルス試験器本体9に入り、信号処理
の後、CRT5で出力波形αが表示される。
[発明が解決しようとする課題]
この様な測定法は、光フアイバ線路4の保守・監視に有
効であるが、近年光フアイバ線路4の長尺長寸化に伴な
い極めて高出力のパルス光源1を必要としてきている。
効であるが、近年光フアイバ線路4の長尺長寸化に伴な
い極めて高出力のパルス光源1を必要としてきている。
例えば、単一モード光ファイバ線路4で中継間隔が40
Km以上の場合、レーザダイオード(LD)光源では、
光パルス信号Lp出力が不十分であるため、Qスイッヂ
付YAGレーザの様な大出力光パルスレーザが用いられ
てきた。
Km以上の場合、レーザダイオード(LD)光源では、
光パルス信号Lp出力が不十分であるため、Qスイッヂ
付YAGレーザの様な大出力光パルスレーザが用いられ
てきた。
しかるに、この様な大出力のレーザを使用することは、
光パルス試験装置A (OTDR)が大型になることや
第4図の光コネクタ6の表面が高出力のレーザ光により
損傷を受けるなどの問題があった。また、取り扱い者の
安全性の点からも、装置の改良が望まれていた。
光パルス試験装置A (OTDR)が大型になることや
第4図の光コネクタ6の表面が高出力のレーザ光により
損傷を受けるなどの問題があった。また、取り扱い者の
安全性の点からも、装置の改良が望まれていた。
一方近年、Nd(ネオジウム)、Er(エルビウム)、
Pr(ブラセオジミウム)、Yb(イッテリビウム)等
の希土類元素を添加した光ファイバ(以下、希土類元素
添加光ファイバと記す)をレーザ活性物質とした、単一
モード光ファイバレーザ或いは光増幅器が、光センサや
光通信の分野で多くの利用の可能性を有することが報告
され、その応用が期待されている。
Pr(ブラセオジミウム)、Yb(イッテリビウム)等
の希土類元素を添加した光ファイバ(以下、希土類元素
添加光ファイバと記す)をレーザ活性物質とした、単一
モード光ファイバレーザ或いは光増幅器が、光センサや
光通信の分野で多くの利用の可能性を有することが報告
され、その応用が期待されている。
希土類元素添加光ファイバを用いた光フアイバレーザ増
幅器としては、Erを添加した石英系光ファイバをレー
ザ活性物質として用い、半導体レーザを励起光源として
、波長1.54μmで光増幅を確認した例がアール・ジ
ェー・メアーズ等(RJ、Hears et al、
Electron、 Lett、、 23.pp、10
28−1(129,1987)によって報告されている
。
幅器としては、Erを添加した石英系光ファイバをレー
ザ活性物質として用い、半導体レーザを励起光源として
、波長1.54μmで光増幅を確認した例がアール・ジ
ェー・メアーズ等(RJ、Hears et al、
Electron、 Lett、、 23.pp、10
28−1(129,1987)によって報告されている
。
本発明は、従来の課題を解決し、測定感度を大幅に改善
した長距離の光フアイバ伝送路用光パルス試験器を提供
せんとするものである。
した長距離の光フアイバ伝送路用光パルス試験器を提供
せんとするものである。
[課題を解決するための手段]
本発明の光パルス試験装置は、高出力の光パルス信号を
発生する光源と、該光パルス信号をAO偏光器を介して
被測定光ファイバへ入射させる光学系と、前記AO偏光
器から分岐し該被測定光ファイバのガラスの散乱により
反射されて該ファイバを伝播戻って来る反射光信号を受
光蟲で受信する受光系と、該受信反射光信号を光パルス
試験器本体で電気的に処理する電気系と、その結果をC
RTに表示する表示系とからなる光パルス試験装置にお
いて、Er添加単一モード光ファイバとこれを励起する
励起光学系から416光ノフイバ増幅器が、光パルス光
源の出力側、または該光パルスを制御するAO偏光器と
被測定光ファイバの間、または光ファイバの散乱光を検
出する受光系の前段のうち、少なくとも1部所以上に挿
入されてなることを特徴とする。
発生する光源と、該光パルス信号をAO偏光器を介して
被測定光ファイバへ入射させる光学系と、前記AO偏光
器から分岐し該被測定光ファイバのガラスの散乱により
反射されて該ファイバを伝播戻って来る反射光信号を受
光蟲で受信する受光系と、該受信反射光信号を光パルス
試験器本体で電気的に処理する電気系と、その結果をC
RTに表示する表示系とからなる光パルス試験装置にお
いて、Er添加単一モード光ファイバとこれを励起する
励起光学系から416光ノフイバ増幅器が、光パルス光
源の出力側、または該光パルスを制御するAO偏光器と
被測定光ファイバの間、または光ファイバの散乱光を検
出する受光系の前段のうち、少なくとも1部所以上に挿
入されてなることを特徴とする。
[作 用]
この様な手段を採用する本発明の光パルス試験!装置は
、レーザダイオード等の比較的低出力のパルス光源を使
いながら、これを効率よく増幅する光フアイバ増幅器を
適宜部所に効果的に配置しているため、高出力の出力パ
ルス信号が(qられるほか、被測定光ファイバ線路から
反射されてくる反射光信号をも効率良く光増幅受信でき
る機能を有するしのである。
、レーザダイオード等の比較的低出力のパルス光源を使
いながら、これを効率よく増幅する光フアイバ増幅器を
適宜部所に効果的に配置しているため、高出力の出力パ
ルス信号が(qられるほか、被測定光ファイバ線路から
反射されてくる反射光信号をも効率良く光増幅受信でき
る機能を有するしのである。
したがって、本発明の光パルス試験装置においては、出
力光パルスの増幅機能並びに受信パルスの増幅機能を有
するため、高感度にして、長距殖の伝送路の損失評価を
可能にするものである。また、本装置によれば、装置の
大幅な小形化と共に、測定時に光コネクタ等に損傷を与
えることなく、光フアイバ線路の安定な保守管理を実現
できる。
力光パルスの増幅機能並びに受信パルスの増幅機能を有
するため、高感度にして、長距殖の伝送路の損失評価を
可能にするものである。また、本装置によれば、装置の
大幅な小形化と共に、測定時に光コネクタ等に損傷を与
えることなく、光フアイバ線路の安定な保守管理を実現
できる。
[実施例1]
本発明の第1実施例を第1図につき説明する。
同図は光パルス試論装置Bの構成を説明する概念図であ
って、1aは波長1.535μmのLD光源で、パルス
幅100nSCC〜1μseCの光パルス信@LOaを
発生する光源であり、LD光源1aの出力側に挿入され
た光フアイバ増幅器aにおいて10a、10a−は波長
0.808μm出力150mWのLD光源、11a、1
1aは集光レンズ、12aは偏波ビームスプリッタ、1
3aは波長1.535μmの光を透過し、波長0.80
8μmの光を反(ト)するダイクロイックミラー 14
8 t、t E r添加単一モード光ファイバ(Er
:300ppm) 、Sda、5da−はしD光源10
a、1oa−の馴初信号、15aは自然放出光除去フィ
ルタである。なお第4図の従来例と同一素子および信号
は同一符号を付した。
って、1aは波長1.535μmのLD光源で、パルス
幅100nSCC〜1μseCの光パルス信@LOaを
発生する光源であり、LD光源1aの出力側に挿入され
た光フアイバ増幅器aにおいて10a、10a−は波長
0.808μm出力150mWのLD光源、11a、1
1aは集光レンズ、12aは偏波ビームスプリッタ、1
3aは波長1.535μmの光を透過し、波長0.80
8μmの光を反(ト)するダイクロイックミラー 14
8 t、t E r添加単一モード光ファイバ(Er
:300ppm) 、Sda、5da−はしD光源10
a、1oa−の馴初信号、15aは自然放出光除去フィ
ルタである。なお第4図の従来例と同一素子および信号
は同一符号を付した。
本実施例を01作するには、先ずL I)光源10a。
10a′を点灯し、偏波ビームスプリッタ12a。
ダイクロイックミラー138.および集光レンズ11a
′を介して、Er添加単一モード光ファイバ14aに入
射し、Erイオンを励起状態とする。
′を介して、Er添加単一モード光ファイバ14aに入
射し、Erイオンを励起状態とする。
ついで、パルス光源1aを点灯しくり返し1kH21出
力−18dBmの光パルス信−Q L paを発生させ
、レンズ11a、11a−を介して、Er添加単一モー
ド光ファイバ14aに入)Iされる。
力−18dBmの光パルス信−Q L paを発生させ
、レンズ11a、11a−を介して、Er添加単一モー
ド光ファイバ14aに入)Iされる。
ここで、光パルス信5t−paは励起されたErイオン
の増幅作用により増幅され、AO光偏光器2に導びかれ
、光フン・イバ線路4に結合される。このとき、増幅さ
れた光パルス信号Ll)a−出力は5dBmであった。
の増幅作用により増幅され、AO光偏光器2に導びかれ
、光フン・イバ線路4に結合される。このとき、増幅さ
れた光パルス信号Ll)a−出力は5dBmであった。
この光パルス信号Lpa−により、光フアイバ線路4の
反射信号L L) a I+を光パルス試験器本体9に
より解析したところ、単一モード光ファイバの総延長7
0Kmの損失特性がS/N比を良好として測定できた。
反射信号L L) a I+を光パルス試験器本体9に
より解析したところ、単一モード光ファイバの総延長7
0Kmの損失特性がS/N比を良好として測定できた。
また、50@以上の測定を打つでもコネクタ6の損傷も
全く観測されなかった。
全く観測されなかった。
なお、比較例として、LDを光源とする通常の光パルス
試験5A置により、同様の試験を行なったところ、測定
可能な光ノ?イバ距離は32Kmが限界であった。
試験5A置により、同様の試験を行なったところ、測定
可能な光ノ?イバ距離は32Kmが限界であった。
[実施例2]
本発明の第2実施例を第2図につき説明する。
同図は光パルス試験装置Cの構成を説明するための概念
図であり、1bは波長1.55μmのDF[3レーず光
源、10t)、10b−は波長1.49μmの励起用L
D光源である。
図であり、1bは波長1.55μmのDF[3レーず光
源、10t)、10b−は波長1.49μmの励起用L
D光源である。
本実施例の特徴は、Er添加単一モード光ファイバを含
む光フアイバ増幅器すが、光偏光器2と被測定光ファイ
バ線路4との間に挿入されている点である。なお前記第
1実施例と同・−素子および信号は同一符号を付した。
む光フアイバ増幅器すが、光偏光器2と被測定光ファイ
バ線路4との間に挿入されている点である。なお前記第
1実施例と同・−素子および信号は同一符号を付した。
本実施例を動作するには、光パルス試験器本体9を駆動
し、励起用LD光源10b、10b−を点灯し、偏波ビ
ームスプリッタ12t)でこれらを偏波合成し、波長1
.55μmと1.49μmのダイクロインクミラー13
bを介して、Er添加単一モード光ファイバ14bに入
射せしめ、Erイオンを励起状態とする。ついで、波長
1.55μmの光パルス光源1bを駆動することにより
光パルス信号Lpbを出力し、光偏光器2を介して、E
r添加光フアイバ14bに光パルス信号Lpb′を入射
する。このとき、光パルス信号Lpb”の平均レベルは
一20dBmであった。この光パルス信号Lρb′は、
Er添加光フアイバ14bにより増幅され、被測定光フ
ァイバ線路4に入射される。このときの入力レベルは、
11dBmであった。ここに、増幅度が21 dBとや
や小さいのは、入力レベルが比較的大きく、増幅特性が
飽和したためである。ついで、被測定光ファイバ線路4
により反射された反射光信号(主にレーり散乱光)はフ
ァイバ4を逆Iノ向(二伝播し、1.E r添加単一モ
ード光ファイバ14bにもどり、同ファイバ14b内で
再び増幅を受ける。このときの増幅度は、約38dBで
あった。増幅された反射光信号Lpb“は、AO偏光鼎
2により、光ファイバ7に導びかれ受光器8により検出
され、光パルス試験器本体9に入り信号処理後、CRT
5で出力波形αbが表示される。
し、励起用LD光源10b、10b−を点灯し、偏波ビ
ームスプリッタ12t)でこれらを偏波合成し、波長1
.55μmと1.49μmのダイクロインクミラー13
bを介して、Er添加単一モード光ファイバ14bに入
射せしめ、Erイオンを励起状態とする。ついで、波長
1.55μmの光パルス光源1bを駆動することにより
光パルス信号Lpbを出力し、光偏光器2を介して、E
r添加光フアイバ14bに光パルス信号Lpb′を入射
する。このとき、光パルス信号Lpb”の平均レベルは
一20dBmであった。この光パルス信号Lρb′は、
Er添加光フアイバ14bにより増幅され、被測定光フ
ァイバ線路4に入射される。このときの入力レベルは、
11dBmであった。ここに、増幅度が21 dBとや
や小さいのは、入力レベルが比較的大きく、増幅特性が
飽和したためである。ついで、被測定光ファイバ線路4
により反射された反射光信号(主にレーり散乱光)はフ
ァイバ4を逆Iノ向(二伝播し、1.E r添加単一モ
ード光ファイバ14bにもどり、同ファイバ14b内で
再び増幅を受ける。このときの増幅度は、約38dBで
あった。増幅された反射光信号Lpb“は、AO偏光鼎
2により、光ファイバ7に導びかれ受光器8により検出
され、光パルス試験器本体9に入り信号処理後、CRT
5で出力波形αbが表示される。
本実施例では、全長84Kmまでの単一七−ド光ファイ
バの損失変動を測定することができた。
バの損失変動を測定することができた。
この様に本実施例では、入射光パルス信号Lpb−の増
幅とともに、極めて低レベルの反射光が入射光パルス信
号Lpb−とは時間軸上で分離されて再び増幅されるた
め、高感度の光パルス試験器flCを実現できる。また
、散乱光は、一般に一7Qd13m以下の微弱光である
ため、光フアイバ増幅器すは、非飽和領域で使用でき、
直線性の良い計測が可能であった。
幅とともに、極めて低レベルの反射光が入射光パルス信
号Lpb−とは時間軸上で分離されて再び増幅されるた
め、高感度の光パルス試験器flCを実現できる。また
、散乱光は、一般に一7Qd13m以下の微弱光である
ため、光フアイバ増幅器すは、非飽和領域で使用でき、
直線性の良い計測が可能であった。
さらに、被測定光ファイバ4の長さによって、光パルス
試験お本体9より駆動イム号5dt)、Sdb′を変化
させ、増幅度を調整できるため、汎用性のある計測が実
現できた。
試験お本体9より駆動イム号5dt)、Sdb′を変化
させ、増幅度を調整できるため、汎用性のある計測が実
現できた。
[実施例3]
本発明の第3実施例を第3図について説明する。
同図は光パルス試験装置りの構成を説明するための概念
図である。なお前記第1実施例と同一素子および信号は
同一符号を付した。図中10c。
図である。なお前記第1実施例と同一素子および信号は
同一符号を付した。図中10c。
100′は波長1.49μmの励起用LD光源である。
本実施例においては、散乱光を受光するための受光器8
の前段に光フアイバ増幅器Cが挿入されているのが特徴
である。偏光器2により光ファイバ7に導びかれた散乱
反射光信号L p c ″を、前記第1乃至2実施例と
同様の手法で増幅し、受光器8で受光する。ここに、入
国レベルの大小によって、駆動信@3dc、5dc−を
調整し、増幅度が制Wさ°れる。
の前段に光フアイバ増幅器Cが挿入されているのが特徴
である。偏光器2により光ファイバ7に導びかれた散乱
反射光信号L p c ″を、前記第1乃至2実施例と
同様の手法で増幅し、受光器8で受光する。ここに、入
国レベルの大小によって、駆動信@3dc、5dc−を
調整し、増幅度が制Wさ°れる。
本実施例の装置りによって、単一モード光ファイバ4の
損失特性を測定したところ、仝良65Kmまでの伝送損
失長手方向依存性の評価が可能であった。本実施例では
、送出光パルス信号LDCのレベルが比較的低くても、
受光反射光信号Lpc ”を高レベルまでS/N比を良
好として増幅できるため、高感度の測定が提供できる。
損失特性を測定したところ、仝良65Kmまでの伝送損
失長手方向依存性の評価が可能であった。本実施例では
、送出光パルス信号LDCのレベルが比較的低くても、
受光反射光信号Lpc ”を高レベルまでS/N比を良
好として増幅できるため、高感度の測定が提供できる。
なお、本実施例では、多数回の測定を行なってもコネク
タ等の損傷がなく安定な動作が可能であった。
タ等の損傷がなく安定な動作が可能であった。
以上のこれら実施例では、いずれも個別光部品を主体に
使用した例を述べたが、光ファイバ形部品、導波路形部
品を適用できることは言うまでもない。また、Erはo
、8μm、1.5μm帯ばかりでなく1.3μm帯やそ
の他にレーザ遷移を有し1. E r以外のレーザ遷移
を有する希土類元素も適用できることは言うまでもない
。
使用した例を述べたが、光ファイバ形部品、導波路形部
品を適用できることは言うまでもない。また、Erはo
、8μm、1.5μm帯ばかりでなく1.3μm帯やそ
の他にレーザ遷移を有し1. E r以外のレーザ遷移
を有する希土類元素も適用できることは言うまでもない
。
[発明の効果]
かくして、本発明の光パルス試験装置によれば、高感度
にしてS/N比が良く双方向にも増幅可能な光フアイバ
増幅器を効果的な位置に内蔵し、その増幅度を制御して
光ファイバの損失測定を行なうように装置が構成されて
いるため、極めて高感度の損失測定を可能とするばかり
でなく、装置の小形化が可能であり、かつ測定時のコネ
クタの損傷がなく、60Km以上の艮尺艮寸の光ファイ
バの損失特性を安定に評価できる光パルス試験装置を実
現できるため、光ファイバの品質管理、光フアイバ伝送
路の保守・管理に極めて有効な手段を提供できる利点が
ある。
にしてS/N比が良く双方向にも増幅可能な光フアイバ
増幅器を効果的な位置に内蔵し、その増幅度を制御して
光ファイバの損失測定を行なうように装置が構成されて
いるため、極めて高感度の損失測定を可能とするばかり
でなく、装置の小形化が可能であり、かつ測定時のコネ
クタの損傷がなく、60Km以上の艮尺艮寸の光ファイ
バの損失特性を安定に評価できる光パルス試験装置を実
現できるため、光ファイバの品質管理、光フアイバ伝送
路の保守・管理に極めて有効な手段を提供できる利点が
ある。
また、本発明の装置によれば、光ファイバの損失評価を
、石英系光ファイバに43いて木質的に低損失の領域で
ある1、5μm帯での光増幅作用をb利用して行なうこ
ともできるため、光源の光出力レベルを小さく抑制する
ことができ、装置の信頼性(LDの寿命)向上及び作業
者の安全性を確保できるという優れた効果を秦する。
、石英系光ファイバに43いて木質的に低損失の領域で
ある1、5μm帯での光増幅作用をb利用して行なうこ
ともできるため、光源の光出力レベルを小さく抑制する
ことができ、装置の信頼性(LDの寿命)向上及び作業
者の安全性を確保できるという優れた効果を秦する。
第1図は、本発明の第1実施例を示す¥X装置構成概念
図、第2図は、本発明の第2実施例を示す装置構成の概
念図、第3図は、本発明の第3実施例を示す装置構成の
概念図、第4図tま、従来装置の描成図である A、B、C,D・・・光パルス試@装置a、b、c・・
・光フアイバ増幅器 1.1a・・・光パルス光源。 1 b、1 c−DFBレーザ光源 2・・・AO偏光器 3.3′・・・早−モード光ファイバ 4・・・被測定光ファイバ線路 5・・・CRT 6・・・光コネクタ7
・・・多モード光ファイバ 8・・・受光器9・・・光
パルス試験器本体 10a、10a=、10b、10b−,10c。 10C′・・・励起用LD 11a、11a=、11b、11b−、llc。 11C′・・・集光レンズ 12a、12b、12c・・・偏波ビームスプリッタ1
3a、13b、13c・・・ダイクロイックミラー14
a、14b、14cmEr添加光7 メー1’ ハLp
、Lp−,Lpa、Lpa−Lpb、L−pb= L
DC,LDC・・・光パルス信号Lp″、Lpa″、L
pb″LpC″ ・・・反射光信号 Sd、Sd−、Sda、5da−、Sdb、5db=、
Sdc、5dc−・・・駆動信号α、αa、αb、αC
・・・出力波形
図、第2図は、本発明の第2実施例を示す装置構成の概
念図、第3図は、本発明の第3実施例を示す装置構成の
概念図、第4図tま、従来装置の描成図である A、B、C,D・・・光パルス試@装置a、b、c・・
・光フアイバ増幅器 1.1a・・・光パルス光源。 1 b、1 c−DFBレーザ光源 2・・・AO偏光器 3.3′・・・早−モード光ファイバ 4・・・被測定光ファイバ線路 5・・・CRT 6・・・光コネクタ7
・・・多モード光ファイバ 8・・・受光器9・・・光
パルス試験器本体 10a、10a=、10b、10b−,10c。 10C′・・・励起用LD 11a、11a=、11b、11b−、llc。 11C′・・・集光レンズ 12a、12b、12c・・・偏波ビームスプリッタ1
3a、13b、13c・・・ダイクロイックミラー14
a、14b、14cmEr添加光7 メー1’ ハLp
、Lp−,Lpa、Lpa−Lpb、L−pb= L
DC,LDC・・・光パルス信号Lp″、Lpa″、L
pb″LpC″ ・・・反射光信号 Sd、Sd−、Sda、5da−、Sdb、5db=、
Sdc、5dc−・・・駆動信号α、αa、αb、αC
・・・出力波形
Claims (1)
- 1、高出力の光パルス信号を発生する光源と、該光パル
ス信号を被測定光フアイバへ入射させる光学系と、該光
学系途中から分岐し該被測定光ファイバのガラスの散乱
により反射されて該ファイバを伝播戻つて来る反射光信
号を受信する受光系と、該受信反射光信号を電気的に処
理する電気系と、その結果を表示する表示系とからなる
光パルス試験装置において、前記光源と前記受光系分岐
端間の前記光学系と、前記受光系分岐端と前記被測定フ
アイバ問の前記光学系と、前記受光系の前段とのうち少
なくとも1ケ所以上に、所定帯にレーザ遷移を有する希
土類元素を添加した光ファイバが光学的に接続されかつ
該光ファイバに添加された希土類元素を励起する光源お
よび光学系で組成される光ファイバ増幅器を挿入してな
る光パルス試験装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9311289A JP2769504B2 (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | 光パルス試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9311289A JP2769504B2 (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | 光パルス試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02272342A true JPH02272342A (ja) | 1990-11-07 |
JP2769504B2 JP2769504B2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=14073442
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9311289A Expired - Lifetime JP2769504B2 (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | 光パルス試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2769504B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04223246A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-13 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 光ファイバ伝送システム用遠隔計測システム |
-
1989
- 1989-04-14 JP JP9311289A patent/JP2769504B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04223246A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-13 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 光ファイバ伝送システム用遠隔計測システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2769504B2 (ja) | 1998-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0674403B1 (en) | Optical amplifier and optical communication system provided with the optical amplifier | |
JP2957696B2 (ja) | 光学的時間ドメイン反射計 | |
JP2001235772A (ja) | ラマン増幅制御装置および光伝送システム | |
US5442479A (en) | Fiber-optic amplifier with a facility for monitoring the pump power and input power | |
US6744947B2 (en) | High power, low noise, fluorescent device and methods related thereto | |
JP2769504B2 (ja) | 光パルス試験装置 | |
EP0138623B1 (en) | Test method for optical fibres and apparatus for performing the test method | |
JP2862145B2 (ja) | 双方向光増幅器 | |
JP2859386B2 (ja) | 双方向光ファイバ増幅器 | |
JPH11112065A (ja) | 光ファイバ増幅器 | |
JP3222046B2 (ja) | 光ファイバ歪測定装置 | |
JPH0933394A (ja) | 光増幅器の特性測定方法 | |
Horiguchi et al. | Stimulated Raman amplification of 1.6-mu m-band pulsed light in optical fibers | |
EP0516363A2 (en) | Optical amplifying apparatus | |
JP2859385B2 (ja) | 双方向光ファイバ増幅器 | |
JP2891266B2 (ja) | 光ファイバ増幅器 | |
JPH0663908B2 (ja) | 光パルス試験装置 | |
Chang et al. | Signal amplification in ytterbium-doped double-clad fiber amplifier | |
JP3248559B2 (ja) | 光ファイバ零分散波長分布の測定方法および測定装置 | |
JP2823344B2 (ja) | 光ファイバ伝送路の試験監視方法及び装置 | |
Liaw et al. | Low noise-figure miniature erbium-doped fibre amplifier using uncooled pump laser | |
CN115963477A (zh) | 一种基于外腔受激拉曼放大的激光雷达光源 | |
Miyazaki et al. | High-power Nd-doped double-clad fiber amplifier at 1.06 um | |
JPH0951136A (ja) | 光増幅装置 | |
JPH03168726A (ja) | 光分岐結合器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090417 Year of fee payment: 11 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |