JPH02272342A - 光パルス試験装置 - Google Patents
光パルス試験装置Info
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- JPH02272342A JPH02272342A JP1093112A JP9311289A JPH02272342A JP H02272342 A JPH02272342 A JP H02272342A JP 1093112 A JP1093112 A JP 1093112A JP 9311289 A JP9311289 A JP 9311289A JP H02272342 A JPH02272342 A JP H02272342A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 79
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 19
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 75
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 5
- 230000005281 excited state Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 12
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 239000011149 active material Substances 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000253 optical time-domain reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、長距離の光伝送路の伝送損失特性の評価を可
能とする超高感度を有する光パルス試験装置に関するも
のである。
能とする超高感度を有する光パルス試験装置に関するも
のである。
［従来の技術］
従来、光フアイバ伝送路の損失測定及び線路のＣ視には
光パルス試験装置へが広く用いられている。第４図は、
その基本的な構成例を示すもので、同図中１は波長１．
３２μｍのＹＡＧ光パルス光源、２はＡＯ偏向器、３は
光パルス光源１の出力光パルス信号ＬｐをＡＯ偏光器２
に導びくための光ファイバ、３′はＡＯ偏光器２と光フ
アイバ線路４を光学的に接続するための光ファイバ、５
はＣＲＴ （ｃａｔｈｏｄｅ−ｒａｙ ’ｔｕｂｅ）、
６は光コネクタ、７は光フアイバ線路４からの反射光（
ｉ号Ｌｐ″を受光器８に導びくための多モード光ファイ
バ、９は電気系と表示系を内蔵した光パルス試験器本体
、ＳｄはＡＯ偏光器２の駆動信号、Ｓ（Ｍは光パルス光
源１の駆動信号、αは解析後の出力波形である。
光パルス試験装置へが広く用いられている。第４図は、
その基本的な構成例を示すもので、同図中１は波長１．
３２μｍのＹＡＧ光パルス光源、２はＡＯ偏向器、３は
光パルス光源１の出力光パルス信号ＬｐをＡＯ偏光器２
に導びくための光ファイバ、３′はＡＯ偏光器２と光フ
アイバ線路４を光学的に接続するための光ファイバ、５
はＣＲＴ （ｃａｔｈｏｄｅ−ｒａｙ ’ｔｕｂｅ）、
６は光コネクタ、７は光フアイバ線路４からの反射光（
ｉ号Ｌｐ″を受光器８に導びくための多モード光ファイ
バ、９は電気系と表示系を内蔵した光パルス試験器本体
、ＳｄはＡＯ偏光器２の駆動信号、Ｓ（Ｍは光パルス光
源１の駆動信号、αは解析後の出力波形である。
これを動作するには、光パルス光源１を点灯し、高出力
光パルス信号Ｌｌ）をＡＯ偏光器２を介して、光フアイ
バ線路４に入射する。入射された光パルス信ｉ’５ Ｌ
ｐ−は、光ファイバを構成するガラスにより散乱（主
にレイリー散乱）を受け、その一部は光フアイバ線路４
を逆に反射伝播しＡＯ偏向器２にもどってくる。この散
乱光強度は、光ファイバの各位置での伝播光強度に比例
するため、散乱光強度の時間軸上での分布を計測するこ
とにより、光ファイバの伝送損失の距離依存性を、光フ
ァイバを破壊することなく測定することができる。第４
図において、ＡＯ偏向鼎２にもどった散乱光は、駆動信
号Ｓｄの印加によって光ファイバ７に導びかれ、受光固
８で受信され、光パルス試験器本体９に入り、信号処理
の後、ＣＲＴ５で出力波形αが表示される。
光パルス信号Ｌｌ）をＡＯ偏光器２を介して、光フアイ
バ線路４に入射する。入射された光パルス信ｉ’５ Ｌ
ｐ−は、光ファイバを構成するガラスにより散乱（主
にレイリー散乱）を受け、その一部は光フアイバ線路４
を逆に反射伝播しＡＯ偏向器２にもどってくる。この散
乱光強度は、光ファイバの各位置での伝播光強度に比例
するため、散乱光強度の時間軸上での分布を計測するこ
とにより、光ファイバの伝送損失の距離依存性を、光フ
ァイバを破壊することなく測定することができる。第４
図において、ＡＯ偏向鼎２にもどった散乱光は、駆動信
号Ｓｄの印加によって光ファイバ７に導びかれ、受光固
８で受信され、光パルス試験器本体９に入り、信号処理
の後、ＣＲＴ５で出力波形αが表示される。
［発明が解決しようとする課題］
この様な測定法は、光フアイバ線路４の保守・監視に有
効であるが、近年光フアイバ線路４の長尺長寸化に伴な
い極めて高出力のパルス光源１を必要としてきている。
効であるが、近年光フアイバ線路４の長尺長寸化に伴な
い極めて高出力のパルス光源１を必要としてきている。
例えば、単一モード光ファイバ線路４で中継間隔が４０
Ｋｍ以上の場合、レーザダイオード（ＬＤ）光源では、
光パルス信号Ｌｐ出力が不十分であるため、Ｑスイッヂ
付ＹＡＧレーザの様な大出力光パルスレーザが用いられ
てきた。
Ｋｍ以上の場合、レーザダイオード（ＬＤ）光源では、
光パルス信号Ｌｐ出力が不十分であるため、Ｑスイッヂ
付ＹＡＧレーザの様な大出力光パルスレーザが用いられ
てきた。
しかるに、この様な大出力のレーザを使用することは、
光パルス試験装置Ａ （ＯＴＤＲ）が大型になることや
第４図の光コネクタ６の表面が高出力のレーザ光により
損傷を受けるなどの問題があった。また、取り扱い者の
安全性の点からも、装置の改良が望まれていた。
光パルス試験装置Ａ （ＯＴＤＲ）が大型になることや
第４図の光コネクタ６の表面が高出力のレーザ光により
損傷を受けるなどの問題があった。また、取り扱い者の
安全性の点からも、装置の改良が望まれていた。
一方近年、Ｎｄ（ネオジウム）、Ｅｒ（エルビウム）、
Ｐｒ（ブラセオジミウム）、Ｙｂ（イッテリビウム）等
の希土類元素を添加した光ファイバ（以下、希土類元素
添加光ファイバと記す）をレーザ活性物質とした、単一
モード光ファイバレーザ或いは光増幅器が、光センサや
光通信の分野で多くの利用の可能性を有することが報告
され、その応用が期待されている。
Ｐｒ（ブラセオジミウム）、Ｙｂ（イッテリビウム）等
の希土類元素を添加した光ファイバ（以下、希土類元素
添加光ファイバと記す）をレーザ活性物質とした、単一
モード光ファイバレーザ或いは光増幅器が、光センサや
光通信の分野で多くの利用の可能性を有することが報告
され、その応用が期待されている。
希土類元素添加光ファイバを用いた光フアイバレーザ増
幅器としては、Ｅｒを添加した石英系光ファイバをレー
ザ活性物質として用い、半導体レーザを励起光源として
、波長１．５４μｍで光増幅を確認した例がアール・ジ
ェー・メアーズ等（ＲＪ、Ｈｅａｒｓ ｅｔ ａｌ、
Ｅｌｅｃｔｒｏｎ、 Ｌｅｔｔ、、 ２３．ｐｐ、１０
２８−１（１２９，１９８７）によって報告されている
。
幅器としては、Ｅｒを添加した石英系光ファイバをレー
ザ活性物質として用い、半導体レーザを励起光源として
、波長１．５４μｍで光増幅を確認した例がアール・ジ
ェー・メアーズ等（ＲＪ、Ｈｅａｒｓ ｅｔ ａｌ、
Ｅｌｅｃｔｒｏｎ、 Ｌｅｔｔ、、 ２３．ｐｐ、１０
２８−１（１２９，１９８７）によって報告されている
。
本発明は、従来の課題を解決し、測定感度を大幅に改善
した長距離の光フアイバ伝送路用光パルス試験器を提供
せんとするものである。
した長距離の光フアイバ伝送路用光パルス試験器を提供
せんとするものである。
［課題を解決するための手段］
本発明の光パルス試験装置は、高出力の光パルス信号を
発生する光源と、該光パルス信号をＡＯ偏光器を介して
被測定光ファイバへ入射させる光学系と、前記ＡＯ偏光
器から分岐し該被測定光ファイバのガラスの散乱により
反射されて該ファイバを伝播戻って来る反射光信号を受
光蟲で受信する受光系と、該受信反射光信号を光パルス
試験器本体で電気的に処理する電気系と、その結果をＣ
ＲＴに表示する表示系とからなる光パルス試験装置にお
いて、Ｅｒ添加単一モード光ファイバとこれを励起する
励起光学系から４１６光ノフイバ増幅器が、光パルス光
源の出力側、または該光パルスを制御するＡＯ偏光器と
被測定光ファイバの間、または光ファイバの散乱光を検
出する受光系の前段のうち、少なくとも１部所以上に挿
入されてなることを特徴とする。
発生する光源と、該光パルス信号をＡＯ偏光器を介して
被測定光ファイバへ入射させる光学系と、前記ＡＯ偏光
器から分岐し該被測定光ファイバのガラスの散乱により
反射されて該ファイバを伝播戻って来る反射光信号を受
光蟲で受信する受光系と、該受信反射光信号を光パルス
試験器本体で電気的に処理する電気系と、その結果をＣ
ＲＴに表示する表示系とからなる光パルス試験装置にお
いて、Ｅｒ添加単一モード光ファイバとこれを励起する
励起光学系から４１６光ノフイバ増幅器が、光パルス光
源の出力側、または該光パルスを制御するＡＯ偏光器と
被測定光ファイバの間、または光ファイバの散乱光を検
出する受光系の前段のうち、少なくとも１部所以上に挿
入されてなることを特徴とする。
［作 用］
この様な手段を採用する本発明の光パルス試験！装置は
、レーザダイオード等の比較的低出力のパルス光源を使
いながら、これを効率よく増幅する光フアイバ増幅器を
適宜部所に効果的に配置しているため、高出力の出力パ
ルス信号が（ｑられるほか、被測定光ファイバ線路から
反射されてくる反射光信号をも効率良く光増幅受信でき
る機能を有するしのである。
、レーザダイオード等の比較的低出力のパルス光源を使
いながら、これを効率よく増幅する光フアイバ増幅器を
適宜部所に効果的に配置しているため、高出力の出力パ
ルス信号が（ｑられるほか、被測定光ファイバ線路から
反射されてくる反射光信号をも効率良く光増幅受信でき
る機能を有するしのである。
したがって、本発明の光パルス試験装置においては、出
力光パルスの増幅機能並びに受信パルスの増幅機能を有
するため、高感度にして、長距殖の伝送路の損失評価を
可能にするものである。また、本装置によれば、装置の
大幅な小形化と共に、測定時に光コネクタ等に損傷を与
えることなく、光フアイバ線路の安定な保守管理を実現
できる。
力光パルスの増幅機能並びに受信パルスの増幅機能を有
するため、高感度にして、長距殖の伝送路の損失評価を
可能にするものである。また、本装置によれば、装置の
大幅な小形化と共に、測定時に光コネクタ等に損傷を与
えることなく、光フアイバ線路の安定な保守管理を実現
できる。
［実施例１］
本発明の第１実施例を第１図につき説明する。
同図は光パルス試論装置Ｂの構成を説明する概念図であ
って、１ａは波長１．５３５μｍのＬＤ光源で、パルス
幅１００ｎＳＣＣ〜１μｓｅＣの光パルス信＠ＬＯａを
発生する光源であり、ＬＤ光源１ａの出力側に挿入され
た光フアイバ増幅器ａにおいて１０ａ、１０ａ−は波長
０．８０８μｍ出力１５０ｍＷのＬＤ光源、１１ａ、１
１ａは集光レンズ、１２ａは偏波ビームスプリッタ、１
３ａは波長１．５３５μｍの光を透過し、波長０．８０
８μｍの光を反（ト）するダイクロイックミラー １４
８ ｔ、ｔ Ｅ ｒ添加単一モード光ファイバ（Ｅｒ
：３００ｐｐｍ） 、Ｓｄａ、５ｄａ−はしＤ光源１０
ａ、１ｏａ−の馴初信号、１５ａは自然放出光除去フィ
ルタである。なお第４図の従来例と同一素子および信号
は同一符号を付した。
って、１ａは波長１．５３５μｍのＬＤ光源で、パルス
幅１００ｎＳＣＣ〜１μｓｅＣの光パルス信＠ＬＯａを
発生する光源であり、ＬＤ光源１ａの出力側に挿入され
た光フアイバ増幅器ａにおいて１０ａ、１０ａ−は波長
０．８０８μｍ出力１５０ｍＷのＬＤ光源、１１ａ、１
１ａは集光レンズ、１２ａは偏波ビームスプリッタ、１
３ａは波長１．５３５μｍの光を透過し、波長０．８０
８μｍの光を反（ト）するダイクロイックミラー １４
８ ｔ、ｔ Ｅ ｒ添加単一モード光ファイバ（Ｅｒ
：３００ｐｐｍ） 、Ｓｄａ、５ｄａ−はしＤ光源１０
ａ、１ｏａ−の馴初信号、１５ａは自然放出光除去フィ
ルタである。なお第４図の従来例と同一素子および信号
は同一符号を付した。
本実施例を０１作するには、先ずＬ Ｉ）光源１０ａ。
１０ａ′を点灯し、偏波ビームスプリッタ１２ａ。
ダイクロイックミラー１３８．および集光レンズ１１ａ
′を介して、Ｅｒ添加単一モード光ファイバ１４ａに入
射し、Ｅｒイオンを励起状態とする。
′を介して、Ｅｒ添加単一モード光ファイバ１４ａに入
射し、Ｅｒイオンを励起状態とする。
ついで、パルス光源１ａを点灯しくり返し１ｋＨ２１出
力−１８ｄＢｍの光パルス信−Ｑ Ｌ ｐａを発生させ
、レンズ１１ａ、１１ａ−を介して、Ｅｒ添加単一モー
ド光ファイバ１４ａに入）Ｉされる。
力−１８ｄＢｍの光パルス信−Ｑ Ｌ ｐａを発生させ
、レンズ１１ａ、１１ａ−を介して、Ｅｒ添加単一モー
ド光ファイバ１４ａに入）Ｉされる。
ここで、光パルス信５ｔ−ｐａは励起されたＥｒイオン
の増幅作用により増幅され、ＡＯ光偏光器２に導びかれ
、光フン・イバ線路４に結合される。このとき、増幅さ
れた光パルス信号Ｌｌ）ａ−出力は５ｄＢｍであった。
の増幅作用により増幅され、ＡＯ光偏光器２に導びかれ
、光フン・イバ線路４に結合される。このとき、増幅さ
れた光パルス信号Ｌｌ）ａ−出力は５ｄＢｍであった。
この光パルス信号Ｌｐａ−により、光フアイバ線路４の
反射信号Ｌ Ｌ） ａ Ｉ＋を光パルス試験器本体９に
より解析したところ、単一モード光ファイバの総延長７
０Ｋｍの損失特性がＳ／Ｎ比を良好として測定できた。
反射信号Ｌ Ｌ） ａ Ｉ＋を光パルス試験器本体９に
より解析したところ、単一モード光ファイバの総延長７
０Ｋｍの損失特性がＳ／Ｎ比を良好として測定できた。
また、５０＠以上の測定を打つでもコネクタ６の損傷も
全く観測されなかった。
全く観測されなかった。
なお、比較例として、ＬＤを光源とする通常の光パルス
試験５Ａ置により、同様の試験を行なったところ、測定
可能な光ノ？イバ距離は３２Ｋｍが限界であった。
試験５Ａ置により、同様の試験を行なったところ、測定
可能な光ノ？イバ距離は３２Ｋｍが限界であった。
［実施例２］
本発明の第２実施例を第２図につき説明する。
同図は光パルス試験装置Ｃの構成を説明するための概念
図であり、１ｂは波長１．５５μｍのＤＦ［３レーず光
源、１０ｔ）、１０ｂ−は波長１．４９μｍの励起用Ｌ
Ｄ光源である。
図であり、１ｂは波長１．５５μｍのＤＦ［３レーず光
源、１０ｔ）、１０ｂ−は波長１．４９μｍの励起用Ｌ
Ｄ光源である。
本実施例の特徴は、Ｅｒ添加単一モード光ファイバを含
む光フアイバ増幅器すが、光偏光器２と被測定光ファイ
バ線路４との間に挿入されている点である。なお前記第
１実施例と同・−素子および信号は同一符号を付した。
む光フアイバ増幅器すが、光偏光器２と被測定光ファイ
バ線路４との間に挿入されている点である。なお前記第
１実施例と同・−素子および信号は同一符号を付した。
本実施例を動作するには、光パルス試験器本体９を駆動
し、励起用ＬＤ光源１０ｂ、１０ｂ−を点灯し、偏波ビ
ームスプリッタ１２ｔ）でこれらを偏波合成し、波長１
．５５μｍと１．４９μｍのダイクロインクミラー１３
ｂを介して、Ｅｒ添加単一モード光ファイバ１４ｂに入
射せしめ、Ｅｒイオンを励起状態とする。ついで、波長
１．５５μｍの光パルス光源１ｂを駆動することにより
光パルス信号Ｌｐｂを出力し、光偏光器２を介して、Ｅ
ｒ添加光フアイバ１４ｂに光パルス信号Ｌｐｂ′を入射
する。このとき、光パルス信号Ｌｐｂ”の平均レベルは
一２０ｄＢｍであった。この光パルス信号Ｌρｂ′は、
Ｅｒ添加光フアイバ１４ｂにより増幅され、被測定光フ
ァイバ線路４に入射される。このときの入力レベルは、
１１ｄＢｍであった。ここに、増幅度が２１ ｄＢとや
や小さいのは、入力レベルが比較的大きく、増幅特性が
飽和したためである。ついで、被測定光ファイバ線路４
により反射された反射光信号（主にレーり散乱光）はフ
ァイバ４を逆Ｉノ向（二伝播し、１．Ｅ ｒ添加単一モ
ード光ファイバ１４ｂにもどり、同ファイバ１４ｂ内で
再び増幅を受ける。このときの増幅度は、約３８ｄＢで
あった。増幅された反射光信号Ｌｐｂ“は、ＡＯ偏光鼎
２により、光ファイバ７に導びかれ受光器８により検出
され、光パルス試験器本体９に入り信号処理後、ＣＲＴ
５で出力波形αｂが表示される。
し、励起用ＬＤ光源１０ｂ、１０ｂ−を点灯し、偏波ビ
ームスプリッタ１２ｔ）でこれらを偏波合成し、波長１
．５５μｍと１．４９μｍのダイクロインクミラー１３
ｂを介して、Ｅｒ添加単一モード光ファイバ１４ｂに入
射せしめ、Ｅｒイオンを励起状態とする。ついで、波長
１．５５μｍの光パルス光源１ｂを駆動することにより
光パルス信号Ｌｐｂを出力し、光偏光器２を介して、Ｅ
ｒ添加光フアイバ１４ｂに光パルス信号Ｌｐｂ′を入射
する。このとき、光パルス信号Ｌｐｂ”の平均レベルは
一２０ｄＢｍであった。この光パルス信号Ｌρｂ′は、
Ｅｒ添加光フアイバ１４ｂにより増幅され、被測定光フ
ァイバ線路４に入射される。このときの入力レベルは、
１１ｄＢｍであった。ここに、増幅度が２１ ｄＢとや
や小さいのは、入力レベルが比較的大きく、増幅特性が
飽和したためである。ついで、被測定光ファイバ線路４
により反射された反射光信号（主にレーり散乱光）はフ
ァイバ４を逆Ｉノ向（二伝播し、１．Ｅ ｒ添加単一モ
ード光ファイバ１４ｂにもどり、同ファイバ１４ｂ内で
再び増幅を受ける。このときの増幅度は、約３８ｄＢで
あった。増幅された反射光信号Ｌｐｂ“は、ＡＯ偏光鼎
２により、光ファイバ７に導びかれ受光器８により検出
され、光パルス試験器本体９に入り信号処理後、ＣＲＴ
５で出力波形αｂが表示される。
本実施例では、全長８４Ｋｍまでの単一七−ド光ファイ
バの損失変動を測定することができた。
バの損失変動を測定することができた。
この様に本実施例では、入射光パルス信号Ｌｐｂ−の増
幅とともに、極めて低レベルの反射光が入射光パルス信
号Ｌｐｂ−とは時間軸上で分離されて再び増幅されるた
め、高感度の光パルス試験器ｆｌＣを実現できる。また
、散乱光は、一般に一７Ｑｄ１３ｍ以下の微弱光である
ため、光フアイバ増幅器すは、非飽和領域で使用でき、
直線性の良い計測が可能であった。
幅とともに、極めて低レベルの反射光が入射光パルス信
号Ｌｐｂ−とは時間軸上で分離されて再び増幅されるた
め、高感度の光パルス試験器ｆｌＣを実現できる。また
、散乱光は、一般に一７Ｑｄ１３ｍ以下の微弱光である
ため、光フアイバ増幅器すは、非飽和領域で使用でき、
直線性の良い計測が可能であった。
さらに、被測定光ファイバ４の長さによって、光パルス
試験お本体９より駆動イム号５ｄｔ）、Ｓｄｂ′を変化
させ、増幅度を調整できるため、汎用性のある計測が実
現できた。
試験お本体９より駆動イム号５ｄｔ）、Ｓｄｂ′を変化
させ、増幅度を調整できるため、汎用性のある計測が実
現できた。
［実施例３］
本発明の第３実施例を第３図について説明する。
同図は光パルス試験装置りの構成を説明するための概念
図である。なお前記第１実施例と同一素子および信号は
同一符号を付した。図中１０ｃ。
図である。なお前記第１実施例と同一素子および信号は
同一符号を付した。図中１０ｃ。
１００′は波長１．４９μｍの励起用ＬＤ光源である。
本実施例においては、散乱光を受光するための受光器８
の前段に光フアイバ増幅器Ｃが挿入されているのが特徴
である。偏光器２により光ファイバ７に導びかれた散乱
反射光信号Ｌ ｐ ｃ ″を、前記第１乃至２実施例と
同様の手法で増幅し、受光器８で受光する。ここに、入
国レベルの大小によって、駆動信＠３ｄｃ、５ｄｃ−を
調整し、増幅度が制Ｗさ°れる。
の前段に光フアイバ増幅器Ｃが挿入されているのが特徴
である。偏光器２により光ファイバ７に導びかれた散乱
反射光信号Ｌ ｐ ｃ ″を、前記第１乃至２実施例と
同様の手法で増幅し、受光器８で受光する。ここに、入
国レベルの大小によって、駆動信＠３ｄｃ、５ｄｃ−を
調整し、増幅度が制Ｗさ°れる。
本実施例の装置りによって、単一モード光ファイバ４の
損失特性を測定したところ、仝良６５Ｋｍまでの伝送損
失長手方向依存性の評価が可能であった。本実施例では
、送出光パルス信号ＬＤＣのレベルが比較的低くても、
受光反射光信号Ｌｐｃ ”を高レベルまでＳ／Ｎ比を良
好として増幅できるため、高感度の測定が提供できる。
損失特性を測定したところ、仝良６５Ｋｍまでの伝送損
失長手方向依存性の評価が可能であった。本実施例では
、送出光パルス信号ＬＤＣのレベルが比較的低くても、
受光反射光信号Ｌｐｃ ”を高レベルまでＳ／Ｎ比を良
好として増幅できるため、高感度の測定が提供できる。
なお、本実施例では、多数回の測定を行なってもコネク
タ等の損傷がなく安定な動作が可能であった。
タ等の損傷がなく安定な動作が可能であった。
以上のこれら実施例では、いずれも個別光部品を主体に
使用した例を述べたが、光ファイバ形部品、導波路形部
品を適用できることは言うまでもない。また、Ｅｒはｏ
、８μｍ、１．５μｍ帯ばかりでなく１．３μｍ帯やそ
の他にレーザ遷移を有し１． Ｅ ｒ以外のレーザ遷移
を有する希土類元素も適用できることは言うまでもない
。
使用した例を述べたが、光ファイバ形部品、導波路形部
品を適用できることは言うまでもない。また、Ｅｒはｏ
、８μｍ、１．５μｍ帯ばかりでなく１．３μｍ帯やそ
の他にレーザ遷移を有し１． Ｅ ｒ以外のレーザ遷移
を有する希土類元素も適用できることは言うまでもない
。
［発明の効果］
かくして、本発明の光パルス試験装置によれば、高感度
にしてＳ／Ｎ比が良く双方向にも増幅可能な光フアイバ
増幅器を効果的な位置に内蔵し、その増幅度を制御して
光ファイバの損失測定を行なうように装置が構成されて
いるため、極めて高感度の損失測定を可能とするばかり
でなく、装置の小形化が可能であり、かつ測定時のコネ
クタの損傷がなく、６０Ｋｍ以上の艮尺艮寸の光ファイ
バの損失特性を安定に評価できる光パルス試験装置を実
現できるため、光ファイバの品質管理、光フアイバ伝送
路の保守・管理に極めて有効な手段を提供できる利点が
ある。
にしてＳ／Ｎ比が良く双方向にも増幅可能な光フアイバ
増幅器を効果的な位置に内蔵し、その増幅度を制御して
光ファイバの損失測定を行なうように装置が構成されて
いるため、極めて高感度の損失測定を可能とするばかり
でなく、装置の小形化が可能であり、かつ測定時のコネ
クタの損傷がなく、６０Ｋｍ以上の艮尺艮寸の光ファイ
バの損失特性を安定に評価できる光パルス試験装置を実
現できるため、光ファイバの品質管理、光フアイバ伝送
路の保守・管理に極めて有効な手段を提供できる利点が
ある。
また、本発明の装置によれば、光ファイバの損失評価を
、石英系光ファイバに４３いて木質的に低損失の領域で
ある１、５μｍ帯での光増幅作用をｂ利用して行なうこ
ともできるため、光源の光出力レベルを小さく抑制する
ことができ、装置の信頼性（ＬＤの寿命）向上及び作業
者の安全性を確保できるという優れた効果を秦する。
、石英系光ファイバに４３いて木質的に低損失の領域で
ある１、５μｍ帯での光増幅作用をｂ利用して行なうこ
ともできるため、光源の光出力レベルを小さく抑制する
ことができ、装置の信頼性（ＬＤの寿命）向上及び作業
者の安全性を確保できるという優れた効果を秦する。
第１図は、本発明の第１実施例を示す￥Ｘ装置構成概念
図、第２図は、本発明の第２実施例を示す装置構成の概
念図、第３図は、本発明の第３実施例を示す装置構成の
概念図、第４図ｔま、従来装置の描成図である Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ・・・光パルス試＠装置ａ、ｂ、ｃ・・
・光フアイバ増幅器 １．１ａ・・・光パルス光源。 １ ｂ、１ ｃ−ＤＦＢレーザ光源 ２・・・ＡＯ偏光器 ３．３′・・・早−モード光ファイバ ４・・・被測定光ファイバ線路 ５・・・ＣＲＴ ６・・・光コネクタ７
・・・多モード光ファイバ ８・・・受光器９・・・光
パルス試験器本体 １０ａ、１０ａ＝、１０ｂ、１０ｂ−，１０ｃ。 １０Ｃ′・・・励起用ＬＤ １１ａ、１１ａ＝、１１ｂ、１１ｂ−、ｌｌｃ。 １１Ｃ′・・・集光レンズ １２ａ、１２ｂ、１２ｃ・・・偏波ビームスプリッタ１
３ａ、１３ｂ、１３ｃ・・・ダイクロイックミラー１４
ａ、１４ｂ、１４ｃｍＥｒ添加光７ メー１’ ハＬｐ
、Ｌｐ−，Ｌｐａ、Ｌｐａ−Ｌｐｂ、Ｌ−ｐｂ＝ Ｌ
ＤＣ，ＬＤＣ・・・光パルス信号Ｌｐ″、Ｌｐａ″、Ｌ
ｐｂ″ＬｐＣ″ ・・・反射光信号 Ｓｄ、Ｓｄ−、Ｓｄａ、５ｄａ−、Ｓｄｂ、５ｄｂ＝、
Ｓｄｃ、５ｄｃ−・・・駆動信号α、αａ、αｂ、αＣ
・・・出力波形
図、第２図は、本発明の第２実施例を示す装置構成の概
念図、第３図は、本発明の第３実施例を示す装置構成の
概念図、第４図ｔま、従来装置の描成図である Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ・・・光パルス試＠装置ａ、ｂ、ｃ・・
・光フアイバ増幅器 １．１ａ・・・光パルス光源。 １ ｂ、１ ｃ−ＤＦＢレーザ光源 ２・・・ＡＯ偏光器 ３．３′・・・早−モード光ファイバ ４・・・被測定光ファイバ線路 ５・・・ＣＲＴ ６・・・光コネクタ７
・・・多モード光ファイバ ８・・・受光器９・・・光
パルス試験器本体 １０ａ、１０ａ＝、１０ｂ、１０ｂ−，１０ｃ。 １０Ｃ′・・・励起用ＬＤ １１ａ、１１ａ＝、１１ｂ、１１ｂ−、ｌｌｃ。 １１Ｃ′・・・集光レンズ １２ａ、１２ｂ、１２ｃ・・・偏波ビームスプリッタ１
３ａ、１３ｂ、１３ｃ・・・ダイクロイックミラー１４
ａ、１４ｂ、１４ｃｍＥｒ添加光７ メー１’ ハＬｐ
、Ｌｐ−，Ｌｐａ、Ｌｐａ−Ｌｐｂ、Ｌ−ｐｂ＝ Ｌ
ＤＣ，ＬＤＣ・・・光パルス信号Ｌｐ″、Ｌｐａ″、Ｌ
ｐｂ″ＬｐＣ″ ・・・反射光信号 Ｓｄ、Ｓｄ−、Ｓｄａ、５ｄａ−、Ｓｄｂ、５ｄｂ＝、
Ｓｄｃ、５ｄｃ−・・・駆動信号α、αａ、αｂ、αＣ
・・・出力波形
Claims (1)
- １、高出力の光パルス信号を発生する光源と、該光パル
ス信号を被測定光フアイバへ入射させる光学系と、該光
学系途中から分岐し該被測定光ファイバのガラスの散乱
により反射されて該ファイバを伝播戻つて来る反射光信
号を受信する受光系と、該受信反射光信号を電気的に処
理する電気系と、その結果を表示する表示系とからなる
光パルス試験装置において、前記光源と前記受光系分岐
端間の前記光学系と、前記受光系分岐端と前記被測定フ
アイバ問の前記光学系と、前記受光系の前段とのうち少
なくとも１ケ所以上に、所定帯にレーザ遷移を有する希
土類元素を添加した光ファイバが光学的に接続されかつ
該光ファイバに添加された希土類元素を励起する光源お
よび光学系で組成される光ファイバ増幅器を挿入してな
る光パルス試験装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9311289A JP2769504B2 (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | 光パルス試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9311289A JP2769504B2 (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | 光パルス試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02272342A true JPH02272342A (ja) | 1990-11-07 |
| JP2769504B2 JP2769504B2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=14073442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9311289A Expired - Lifetime JP2769504B2 (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | 光パルス試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2769504B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04223246A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-13 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 光ファイバ伝送システム用遠隔計測システム |
-
1989
- 1989-04-14 JP JP9311289A patent/JP2769504B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04223246A (ja) * | 1990-03-26 | 1992-08-13 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 光ファイバ伝送システム用遠隔計測システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2769504B2 (ja) | 1998-06-25 |
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