JPH02270300A - Method and apparatus for modulating cyclotron beam - Google Patents
Method and apparatus for modulating cyclotron beamInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はサイクロトロンの調整方法および装置に関し、
特にサイクロトロン内のイオンビームのターンパターン
を調整する方法および装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method and apparatus for adjusting a cyclotron,
In particular, it relates to a method and apparatus for adjusting the turn pattern of an ion beam in a cyclotron.
［従来の技術］
サイクロトロン装置においては、イオンビームが渦巻状
の軌跡を描き、デフレクタで取り出される。このサイク
ロトロンのビーム調整においては、ビーム電流を最大に
するように調整パラメータを設定する。[Prior Art] In a cyclotron device, an ion beam draws a spiral trajectory and is extracted by a deflector. In this cyclotron beam adjustment, adjustment parameters are set to maximize the beam current.
ビーム電流プローブをサイクロトロン内部の中央部まで
挿入し、半径方向に走査し、ビーム電流を測定すること
によってイオンビームのターンパターンを計測し、この
ターンパターンをそのままペン書きオシロやＣＲＴデイ
スプレィ上に表示する。The beam current probe is inserted into the center of the cyclotron, scanned in the radial direction, and the beam current is measured to measure the turn pattern of the ion beam, and this turn pattern is displayed as is on a pen writing oscilloscope or CRT display. .
従来、ターンパターンの良否の評価は、オペレータが自
らの経験に照らして行っていた。Conventionally, operators have evaluated the quality of turn patterns based on their own experience.
［発明が解決しようとする課題］
このように従来のサイクロトロンにおいては、イオンビ
ームのターンパターンを計測し、全ての調整パラメータ
を試行錯誤的に調整していたため、その作業は熟練者に
しかできなかった。[Problems to be solved by the invention] As described above, in conventional cyclotrons, the turn pattern of the ion beam was measured and all adjustment parameters were adjusted by trial and error, and this work could only be done by experts. Ta.
本発明の目的は、イオンビームのターンパターンを測定
した際、ターンパターンの良否の評価を自動的に行うこ
とのできるサイクロトロンのビーム調整方法および装置
を提供することである。An object of the present invention is to provide a cyclotron beam adjustment method and apparatus that can automatically evaluate whether the turn pattern is good or bad when the turn pattern of an ion beam is measured.
ターンパターンの良否の評価を表示することによって、
熟練度の低いオペレータにとっても調整作業を容易にす
る。By displaying the evaluation of the quality of the turn pattern,
To facilitate adjustment work even for less skilled operators.
ターンパターンの良否の評価を自動的に行うことにより
、サイクロトロンの操作性の向上を図る。By automatically evaluating the quality of turn patterns, we aim to improve the operability of the cyclotron.
［課題を解決するための手段］
サイクロトロンの種々のターンパターンを計測し、それ
ぞれに対して熟練者の経験的総合評価を与え、一方ター
ンパターンについて平均ターン間隔、半径方向振動の周
期、半径方向振動の大きさ、ターン消失半径、振動成分
のノード数、包絡線面積等の特徴量を抽出し、これらの
特徴量に基づいたファジィ積分モデルを作り、熟練者の
経験的総合評価と合致するようにファジィ積分モデルの
パラメータを決定し、新たに測定したターンパターンを
同定したファジィ積分モデルにより評価し、その評価値
を表示する。[Means for solving the problem] Various turn patterns of the cyclotron are measured, and an expert's comprehensive evaluation is given for each, while the average turn interval, period of radial vibration, and radial vibration are determined for each turn pattern. We extracted features such as the size of the curve, the turn vanishing radius, the number of vibration component nodes, and the envelope area, and created a fuzzy integral model based on these features to match the empirical comprehensive evaluation of experts. The parameters of the fuzzy integral model are determined, the newly measured turn pattern is evaluated using the identified fuzzy integral model, and the evaluation value is displayed.
［作用コ“
ファジィ積分モデルを用い、ファジィ積分モデルによる
評価を熟練者の経験的総合評価と一致させるようにパラ
メータを決定することにより、新たなターンパターンを
入力した時、熟練者の経験的総合評価に近いファジィ積
分モデルによる評価を与えることができる。[Action Co.] By using a fuzzy integral model and determining parameters so that the evaluation by the fuzzy integral model matches the empirical comprehensive evaluation of an expert, when a new turn pattern is input, It is possible to give an evaluation based on a fuzzy integral model that is close to the evaluation.
経験の浅い操作者がサイクロトロンを調整するに当って
、調整の指標が与えられるのでサイクロトロンのビーム
調整が容易になる。Beam adjustment of the cyclotron is facilitated by an inexperienced operator who is provided with an indication of the adjustment.
［実施例］
第１図（Ａ）〜（Ｃ）に本発明の実施例によるサイクロ
トロン装置のビーム調整装置を示す、第１図（Ａ）は全
体のブロック図である。[Embodiment] FIGS. 1A to 1C show a beam adjustment device for a cyclotron device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1A is an overall block diagram.
一対のデイ−１１（一方のデイ−のみを図示する）によ
って加速された磁場中のイオンビームが渦巻き状にビー
ム軌道１２を描き、サイクロトロンを構成する。サイク
ロトロンの中央部までビーム電流１０−ブ１３が挿入さ
れ、ビームを流を検出する。An ion beam in a magnetic field accelerated by a pair of days 11 (only one day is shown) draws a spiral beam trajectory 12, forming a cyclotron. A beam current 10-13 is inserted into the center of the cyclotron, and the beam current is detected.
ビーム電流プローブ１３はモータ１５によりギヤ１６を
介して、図中水平方向に走査される。モータ１５の運動
は、位！検出用エンコーダ１７によって位置信号２１と
して検出され、図中下方に示すターンパターン評価装置
３０のビーム電流入力部１９へ供給される。The beam current probe 13 is scanned in the horizontal direction in the figure by a motor 15 via a gear 16. The movement of motor 15 is ! It is detected as a position signal 21 by the detection encoder 17, and is supplied to the beam current input section 19 of the turn pattern evaluation device 30 shown in the lower part of the figure.
また、ビーム電流１０−ブ１３によって検出されたビー
ム電流はビーム電流アンプ２０によって増幅され、ビー
ム電流信号２２として信号入力部１９に供給される。Further, the beam current detected by the beam current 10 - 13 is amplified by a beam current amplifier 20 and supplied to the signal input section 19 as a beam current signal 22 .
以上述べた、ビーム電流１０−ブ１３、ギヤ１６、モー
タ１５、位置検出用エンコーダ１７、ビーム電流アンプ
２０はターンパターン計測装置２５を構成する。The beam current 10-13, gear 16, motor 15, position detection encoder 17, and beam current amplifier 20 described above constitute a turn pattern measuring device 25.
図中、下方に示すターンパターン評価装置３０内には、
信号入力部１９、ターンパターンの特徴量抽出部２６、
ターンパターンのモデル評価算出部（ファジィ積分ユニ
ット）２８、ターンパターン出力部３１、評価値出力部
３３、評価モデル同定ユニット３５、並びに必要な情報
を記憶し、必要とする部分に情報を供給するメモリ３７
が配！されている。Inside the turn pattern evaluation device 30 shown below in the figure,
a signal input section 19, a turn pattern feature amount extraction section 26,
A turn pattern model evaluation calculation unit (fuzzy integration unit) 28, a turn pattern output unit 31, an evaluation value output unit 33, an evaluation model identification unit 35, and a memory that stores necessary information and supplies information to necessary parts. 37
is assigned! has been done.
ターンパターン出力部３１およびモデル評価値出力部３
３からの信号が表示装置４０に供給される。Turn pattern output section 31 and model evaluation value output section 3
3 is supplied to a display device 40.
第１図（Ｂ）はビーム電流１０−プ部分の動作を説明す
るための該略図である。ビーム電流プローブ１３はディ
ファレンシャルヘッド１３ａとインテグラルヘッド１３
ｂを含む、ディファレンシャルヘッド１３ａがインテグ
ラルヘッド１３ｂよりも約０．５ｎｌ程前方に突出し、
入射するイオンビームを受けてビーム電流を発生させる
。FIG. 1(B) is a schematic diagram for explaining the operation of the beam current 10-p portion. The beam current probe 13 has a differential head 13a and an integral head 13.
The differential head 13a including b protrudes forward about 0.5nl from the integral head 13b,
Generates a beam current by receiving the incident ion beam.
半径方向にビーム電流プローブを走査し、渦巻き状のイ
オンビーム軌道を検出することによ、す、第３図（Ｂ）
下部に示すようなビーム電流を検出する。By scanning the beam current probe in the radial direction and detecting the spiral ion beam trajectory, Figure 3 (B)
Detect the beam current as shown at the bottom.
第１図（Ｃ）は表示装置４０上に表示される情報の１例
を示す、デイスプレィ上の下部に横軸を半径方向距離と
し、縦軸をビーム電流すなわちイオンビーム強度とした
グラフが表示される。FIG. 1(C) shows an example of information displayed on the display device 40. A graph is displayed at the bottom of the display, with the horizontal axis representing the radial distance and the vertical axis representing the beam current or ion beam intensity. Ru.
このターンパターンの上にモデル総合評価のバーグラフ
が表示されている。ここで総合評価は、Ｏから１までの
実数で与えられている。Ｏを悪、１を良の状態とした図
の場合は、０．４の評価が与えられており、未だ改善の
余地が多い事を示している。A bar graph of the overall model evaluation is displayed above this turn pattern. Here, the overall evaluation is given as a real number from 0 to 1. In the case of the diagram in which O is bad and 1 is good, a rating of 0.4 is given, indicating that there is still much room for improvement.
第２図に第１図（Ａ）のターンパターン評価装置３０で
行われるアルゴリズムを示す。FIG. 2 shows an algorithm performed by the turn pattern evaluation device 30 of FIG. 1(A).
第１図（Ａ）に示したターンパターン計測装置２５によ
って、ステップ４１で示すターンパターンの計測が行わ
れる。この計測したターンパターンは第１図（Ａ）に示
す表示装置４０に表示され、熟練オペレータによる評価
が与えられる（ステップ４２）。The turn pattern measuring device 25 shown in FIG. 1(A) measures the turn pattern shown in step 41. The measured turn pattern is displayed on the display device 40 shown in FIG. 1(A), and evaluated by a skilled operator (step 42).
種々のターンパターンを計測し、それぞれについて熟練
オペレータによる評価を与える。この経験的総合評価は
、たとえば１に規格化した値ｄｊによって与えられる。Various turn patterns are measured and each is evaluated by a skilled operator. This empirical comprehensive evaluation is given by a value dj normalized to 1, for example.
また、各ターンパターンからその特徴量を抽出する（ス
テップ４３）。Further, the feature quantity is extracted from each turn pattern (step 43).
第３図にターンパターンの表示例をより詳細に示す、第
３図において横軸が半径方向の距離を示し、縦軸はビー
ム電流強度を示す、特徴量としては、たとえば隣接する
ビーム電流ピーク間の距離であるターン間隔、半径方向
の振動の周期、半径方向の振動の大きさ等が考えられる
。Fig. 3 shows a display example of a turn pattern in more detail. In Fig. 3, the horizontal axis shows the distance in the radial direction, and the vertical axis shows the beam current intensity. Possible factors include the turn interval, which is the distance of , the period of vibration in the radial direction, and the magnitude of vibration in the radial direction.
さらに、これらを平均化した平均ターン間隔、所望の半
径方向振動の平均周期、所定の半径方向振動の平均的大
きさ等を求めてもよい、各特徴量は規格化されて、０〜
１の実数値として与えられる。Furthermore, the average turn interval obtained by averaging these, the average period of the desired radial vibration, the average size of the predetermined radial vibration, etc. may be obtained. Each feature quantity is normalized and
It is given as a real value of 1.
第２図に戻って、この規格化した特徴量によって部分的
評価ｈ（ｘｉ）が与えられる（ステップ４４）。Returning to FIG. 2, a partial evaluation h(xi) is given by this normalized feature amount (step 44).
これらの各特徴量を総合評価に結び付けるファジィ積分
モデルを準備する。このファジィ積分モデルによって、
各特徴量を入力した時のモデル総合評価を与える（ステ
ップ４５）。A fuzzy integral model is prepared that connects each of these features to a comprehensive evaluation. With this fuzzy integral model,
A comprehensive model evaluation is given when each feature quantity is input (step 45).
このモデル総合評価と熟練オペレータによる経験的総合
評価とを比較し、その偏差が最少になるようにファジィ
積分モデルのパラメータを決定する（ステップ４６）。This model comprehensive evaluation is compared with the empirical comprehensive evaluation by a skilled operator, and the parameters of the fuzzy integral model are determined so as to minimize the deviation (step 46).
このようにしてファジィ積分モデルが同定される。In this way, a fuzzy integral model is identified.
ファジィ積分モデルを同定した後、新たにサイクロトロ
ンを走査し、ターンパターンを得な場合は、以下のよう
にしてモデル総合評価Ｗを与える。After identifying the fuzzy integral model, the cyclotron is scanned anew, and if a turn pattern is not obtained, a comprehensive model evaluation W is given as follows.
測定されたターンパターンから選定したターンパターン
の特徴量を抽出する（ステップ４３）。The feature amount of the selected turn pattern is extracted from the measured turn patterns (step 43).
抽出した特徴量を規格化し、部分評価を与える（ステッ
プ４４）。The extracted feature quantities are normalized and a partial evaluation is given (step 44).
各部分評価をまとめ、ファジィ積分モデルによりモデル
総合評価Ｗを与える（ステップ４５）。The partial evaluations are summarized and a comprehensive model evaluation W is given using the fuzzy integral model (step 45).
この総合評価を表示装！に表示する。Display this comprehensive evaluation! to be displayed.
ファジィ積分による評価値の算出のアルゴリズムを以下
に説明する。The algorithm for calculating the evaluation value using fuzzy integral will be explained below.
今ターンパターンの特徴量の集合Ｋを考える。Now consider a set K of feature quantities of turn patterns.
Ｋ＝（Ｓｔ、Ｓ２．５３１
Ｓｌ ：平均ターン間隔
Ｓ２二半径方向振動の周期
Ｓ３二半径方向振動の大きさ
また各特徴量の個別の評価値ｈ （Ｓｉ ） （１＝
１〜３）を以下のように与える。関数りは以下のように
Ｋの要素の値を実数０〜１に対応させる。K=(St, S2.531 Sl: Average turn interval S2 Period of radial vibration S3 Size of radial vibration and individual evaluation value of each feature h (Si) (1=
1 to 3) are given as follows. The function associates the values of the elements of K with real numbers 0 to 1 as follows.
ｈ：に→［０，１］
ｈ （Ｓｉ ） ：特徴量Ｓ１についての評価値に上の
ファジィ積分ｅを以下のように考え、ターンパターンの
総合評価とする。h: ni → [0, 1] h (Si): The above fuzzy integral e is considered as follows for the evaluation value for the feature amount S1, and is used as a comprehensive evaluation of the turn pattern.
積分のパラメータであるファジィ測度ｇλは、ｇ’＝ｇ
（（Ｓｉ ｌ）、０５ｇ Ｉ≦１に゛はＫの任意の部分
集合
ｈ（Ｓｉ）を大きさの順に並べ、
ｈ （Ｓｌ ）≧（Ｓ２’）≧ｈ （Ｓ３°）とすれば
、ｅは次式で得られる。The fuzzy measure gλ, which is a parameter of integration, is g'=g
((Si l), 05g I≦1, ゛ is an arbitrary subset h(Si) of K arranged in order of size, and h (Sl)≧(S2')≧h (S3°), then e is obtained by the following formula.
Ｋ ＝（Ｓ ’）、Ｋ２＝（Ｓ ’、Ｓ２°）Ｋ
＝（Ｓ ’、Ｓ２°、Ｓ３°）但し、Δは最小演
算、■は最大演算を示す。K = (S'), K2 = (S', S2°)K
=(S', S2°, S3°) However, Δ indicates the minimum calculation, and ■ indicates the maximum calculation.
ファジィ積分によるターンパターンの評価モデルは以下
のような手順で行う。The turn pattern evaluation model using fuzzy integration is performed in the following steps.
今Ｎ個のターンパターンのサンプル（集合Ｇ）を得たと
し、熟練オペレータの経験的評価値ｄｊ明細書の浄書（
内容に変更なし）
（ｊ＝１〜Ｎ）が与えられているとする。Suppose that we have now obtained N samples of turn patterns (set G), and the engraving of the experienced operator's empirical evaluation value dj specification (
No change in content) (j = 1 to N) is given.
各ターンパターンサンプルについて特徴量を抽出し、そ
れぞれの特徴量の個別の評価値ｈｊ（Ｓｉ ） （ｉ
＝１〜３）ｊ＝（１〜Ｎ）が以下のように表わされる
とする。Features are extracted for each turn pattern sample, and individual evaluation values hj(Si)(i
=1 to 3) j=(1 to N) is expressed as follows.
ｈｊ：に→［Ｏ１１］
ｈｊ （Ｓｉ ）はサンプルｊの特徴量Ｓｌについて
の個別の評価値とする。hj:ni→[O11] Let hj (Si) be an individual evaluation value for the feature amount Sl of sample j.
前述の手順と同様に、各サンプルについての総合評価値
ｅＪを考える。Similar to the above procedure, consider the overall evaluation value eJ for each sample.
次にｅｊを以下のように規格化する。Next, ej is normalized as follows.
以上よりｄｅｗとなるように次式の評価関数値σができ
るだけ小さくなるようにファジィ測度ｇｉとλを決定す
る。From the above, the fuzzy measures gi and λ are determined so that the evaluation function value σ of the following equation is as small as possible so that dew is satisfied.
［発明の効果］
以上説明した様に本発明によれば、試行銘誤的に行って
いたサイクロトロンのビーム調整においてターンパター
ンの良否に関する総合評価が自動的に与えられ、調整の
指針が与えられる。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, a comprehensive evaluation regarding the quality of the turn pattern is automatically given in the beam adjustment of the cyclotron, which has been performed by trial and error, and a guideline for the adjustment is provided.
未熟練者がサイクロトロンを操作しても適切に調整をす
ることができる。Even if an unskilled person operates the cyclotron, he or she can make appropriate adjustments.
第１図（Ａ）〜（Ｃ）は本発明の実施例を表わし、第１
図（Ａ）は全体を示すブロック図、第１図（Ｂ）はビー
ム電流１０−ブの拡大図およびビーム電流の波形図、第
１図（Ｃ）は表示装置の表示例を示す線図、
第２図は、ファジィ積分モデルを同定する手順およびタ
ーンパターンのモデル総合評価をを与える手順を示すブ
ロック図、
第３図はターンパターンの波形を示す拡大図である。
図において、
１１ デイ−
１２イオンビームの軌跡
１３ ビーム電流プローブ
１５ グローブ駆動用モータ
１６ ギヤ
１７ 位置検出用エンコーダ
１９ 信号入力部
２０ ビーム電流増幅器
２１ 位置信号
２２ ビーム電流信号
２５ ターンパターン計測装置２６
特徴量抽出部
２８ ターンパターンのモデル評価算出部
３１ ターンパターン出力部
３３ モデル評価値出力部
３５ 評価モデル同定部
３７ メモリ
４０ 表示装置
復代理人 弁理士 高橋 敬四部
（Ａ）全＃図
サイクロトロンのビーム調整装置
第１ｒｌｌ＜その１）
（Ｂ）ビーム電流プローブ
（Ｃ）表示装置４０の表示例
サイクロトロンのビーム調整装置
第１ 図（その２）
手続補正書く方式）
平成 元年 ８月２４日FIGS. 1(A) to 1(C) represent embodiments of the present invention, and the first
FIG. 1(A) is a block diagram showing the whole, FIG. 1(B) is an enlarged view of the beam current 10-B and a waveform diagram of the beam current, FIG. 1(C) is a line diagram showing an example of the display of the display device, FIG. 2 is a block diagram showing a procedure for identifying a fuzzy integral model and a procedure for giving a model comprehensive evaluation of a turn pattern, and FIG. 3 is an enlarged diagram showing a waveform of a turn pattern. In the figure, 11 Day 12 Ion beam trajectory 13 Beam current probe 15 Globe drive motor 16 Gear 17 Position detection encoder 19 Signal input section 20 Beam current amplifier 21 Position signal 22 Beam current signal 25 Turn pattern measuring device 26
Feature amount extraction unit 28 Turn pattern model evaluation calculation unit 31 Turn pattern output unit 33 Model evaluation value output unit 35 Evaluation model identification unit 37 Memory 40 Display device sub-agent Patent attorney Keishibu Takahashi (A) All # diagrams Cyclotron beam Adjustment device No. 1 rll <Part 1) (B) Beam current probe (C) Display example of display device 40 Cyclotron beam adjustment device Figure 1 (Part 2) Procedure correction writing method) August 24, 1989
Claims (2)
し、それぞれに対して経験的総合評価を表わす電気的信
号を与える工程と、 各ターンパターンから特徴量を抽出し規格化した電気的
な特徴量信号を発生させる工程と、特徴量信号に基き、
ファジィ積分モデルにより各ターンパターンに対してモ
デル総合評価の信号を電気的に算出する工程と、 前記経験的総合評価の信号と前記モデル総合評価の信号
の偏差が最小になるようにモデルパラメータを算出する
工程と、 測定したターンパターンから特徴量を抽出し、規格化し
た電気的特徴量信号を発生させ、同定したパラメータを
有するファジィ積分モデルによりモデル総合評価の信号
を電気的に算出し、表示装置上にモデル総合評価を表示
する工程とを含むサイクロトロンのビーム調整方法。(1) A process of measuring various turn patterns of the cyclotron and providing an electrical signal representing an empirical comprehensive evaluation for each, and an electrical feature signal in which features are extracted from each turn pattern and standardized. Based on the process of generating and the feature signal,
A step of electrically calculating a model comprehensive evaluation signal for each turn pattern using a fuzzy integral model, and calculating model parameters so that the deviation between the empirical comprehensive evaluation signal and the model comprehensive evaluation signal is minimized. A process of extracting features from the measured turn pattern, generating a standardized electrical feature signal, electrically calculating a signal for model comprehensive evaluation using a fuzzy integral model with the identified parameters, and displaying the signal on a display device. A cyclotron beam adjustment method including a step of displaying an overall model evaluation on the top.
ーム強度を表わす信号を発生する手段と、計測した結果
を表わす信号を記憶し、表示する手段と、 計測結果を表わす信号から特徴量を抽出し、規格化した
特徴量信号を発生する手段と、 経験的総合評価を操作者入力し、電気的な経験的総合評
価信号を発生し、記憶する手段と、前記特徴量とパラメ
ータを含むファジィ積分モデルを記憶する手段と、 前記特徴量信号に基づきファジィ積分モデルに従つてモ
デル総合評価信号を算出する手段と、前記経験的総合評
価信号と前記モデル総合評価信号との偏差が極小になる
ようにパラメータを定める手段と、 モデル総合評価信号に基づき、表示装置に総合評価を表
示する手段と を含むサイクロトロンのビーム調整装置。(2) means for measuring the beam pattern of the cyclotron and generating a signal representing the beam intensity; means for storing and displaying the signal representing the measurement result; and extracting feature amounts from the signal representing the measurement result; means for generating a standardized feature quantity signal; means for inputting an empirical comprehensive evaluation signal by an operator to generate and store an electrical empirical comprehensive evaluation signal; and a fuzzy integral model including the feature quantities and parameters. means for storing, means for calculating a model comprehensive evaluation signal according to a fuzzy integral model based on the feature quantity signal, and means for calculating parameters such that a deviation between the empirical comprehensive evaluation signal and the model comprehensive evaluation signal is minimized. A beam adjustment device for a cyclotron, comprising means for determining the overall evaluation, and means for displaying the overall evaluation on a display device based on the overall model evaluation signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1090098A JP2716794B2 (en) | 1989-04-10 | 1989-04-10 | Method and apparatus for evaluating turn pattern for beam adjustment of cyclotron |
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02270300A true JPH02270300A (en) | 1990-11-05 |
| JP2716794B2 JP2716794B2 (en) | 1998-02-18 |
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| JP1090098A Expired - Lifetime JP2716794B2 (en) | 1989-04-10 | 1989-04-10 | Method and apparatus for evaluating turn pattern for beam adjustment of cyclotron |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2716794B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012134146A (en) * | 2010-12-23 | 2012-07-12 | General Electric Co <Ge> | Particle accelerator having electromechanical motor and method of operating and manufacturing the same |
| WO2016092622A1 (en) * | 2014-12-08 | 2016-06-16 | 株式会社日立製作所 | Accelerator and particle beam irradiation device |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5863108U (en) * | 1981-10-24 | 1983-04-27 | ダイハツ工業株式会社 | Rear heater duct structure |
| JPS60159936U (en) * | 1984-03-31 | 1985-10-24 | ダイハツ工業株式会社 | Duct connection structure for heating and cooling equipment |
-
1989
- 1989-04-10 JP JP1090098A patent/JP2716794B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5863108U (en) * | 1981-10-24 | 1983-04-27 | ダイハツ工業株式会社 | Rear heater duct structure |
| JPS60159936U (en) * | 1984-03-31 | 1985-10-24 | ダイハツ工業株式会社 | Duct connection structure for heating and cooling equipment |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012134146A (en) * | 2010-12-23 | 2012-07-12 | General Electric Co <Ge> | Particle accelerator having electromechanical motor and method of operating and manufacturing the same |
| WO2016092622A1 (en) * | 2014-12-08 | 2016-06-16 | 株式会社日立製作所 | Accelerator and particle beam irradiation device |
| JPWO2016092622A1 (en) * | 2014-12-08 | 2017-06-29 | 株式会社日立製作所 | Accelerator and particle beam irradiation device |
| US10306745B2 (en) | 2014-12-08 | 2019-05-28 | Hitachi, Ltd. | Accelerator and particle beam irradiation system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2716794B2 (en) | 1998-02-18 |
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