JPH02263156A - Ultrasonic inspecting device - Google Patents

Ultrasonic inspecting device

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JPH02263156A
JPH02263156A JP1083924A JP8392489A JPH02263156A JP H02263156 A JPH02263156 A JP H02263156A JP 1083924 A JP1083924 A JP 1083924A JP 8392489 A JP8392489 A JP 8392489A JP H02263156 A JPH02263156 A JP H02263156A
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echo
master work
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ultrasonic
flaw detector
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Takashi Shirai
隆 白井
Tadashi Muraoka
村岡 正
Katsuyoshi Miyaji
宮路 勝善
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To calibrate the sensitivity to an echo level continuously by setting threshold values of different echo envelopes so that the number of defects at a threshold value set for a starting envelope is equal to the number of defects. CONSTITUTION:A master work 1 which faces a probe 2 is rotated by a rotating device 3 to generate a timing signal and an ultrasonic flaw detector 4 outputs analog signals of reflection echoes from the master work 1 from the start position to the end position of flaw detection, i.e. according to the angle of the rotation throughout one turn of the master work 1 in synchronism with the timing signal. The analog signals are inputted to a computer device 10 and digitized by an A/D converter 5 to display an echo envelope on a display 7, thereby setting a threshold value corresponding to the number of defects of the master work 1 as the echo envelope. Thus, when the threshold value is set, the inspection of a body 1' to be inspected, i.e. an actual product is started instead of the master work 1.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、同種形状の多数の被検体をパルス反射法によ
り水浸探傷する超音波検査装置に係わり、特に、検査装
置におけるエコーレベルの感度校正を、簡単な構成で容
易かつ無段階に行うのに好適な検査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an ultrasonic inspection device for water immersion flaw detection on a large number of specimens having the same shape by pulse reflection method, and in particular, the present invention relates to an ultrasonic inspection device for water immersion flaw detection on a large number of objects having the same shape. The present invention relates to an inspection device suitable for easily and steplessly performing calibration with a simple configuration.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

製品の一定の品質を確保するために、超音波検査に際し
て、合否判定値、エコーレベルに対するしきい値、マス
ターワークの構成(材質2寸法。
In order to ensure a certain level of product quality, during ultrasonic testing, we set pass/fail judgment values, echo level thresholds, and masterwork configuration (material, 2 dimensions).

形状など)等の検査基準や、プローブの位置、超音波探
傷器におけるゲインやグー1〜等の探傷条件等を含む検
査条件が、各種の被検体に応して決められるが、これら
の条件のうち超音波探傷器のゲインは、合否判定値やし
きい値に直接関係するものであり、また、同種形状の多
数の被検体を連続して検査する場合には一定に保って検
査することが特に必要である。しかし上記ゲインは、同
一の検査装置を使用して検査しても、例えば使用してい
る水の汚濁や温度変化、あるいはプローブの劣化等によ
りかなり変化するから、サイクルを決めて感度校正する
必要がある。
Inspection conditions, including inspection criteria such as shape (shape, etc.), probe position, gain of the ultrasonic flaw detector, and flaw detection conditions such as Goo 1~ are determined depending on the various specimens, but these conditions The gain of the ultrasonic flaw detector is directly related to the pass/fail judgment value and threshold value, and it is necessary to keep it constant when inspecting many objects of the same shape in succession. Especially necessary. However, even if the same test equipment is used for testing, the gain can vary considerably due to, for example, contamination of the water being used, changes in temperature, or deterioration of the probe, so it is necessary to determine the cycle and calibrate the sensitivity. be.

従来の超音波探傷器の感度校正は、被検体の被検部の材
質2寸法、形状等と同一構成にして製作したマスターワ
ークや感度標準試験片等を使用して反射エコーを検出し
、該反射エコーレベルが一定となるように超音波探傷器
のつまみを回してゲインを変化させることにより行われ
ていた。
Sensitivity calibration of conventional ultrasonic flaw detectors involves detecting reflected echoes using a master work or a sensitivity standard test piece made with the same material, dimensions, shape, etc., as the part to be inspected. This was done by changing the gain by turning the knob on the ultrasonic flaw detector so that the reflected echo level remained constant.

〔発明が解決しようとする課題〕 このため、従来の感度校正は、ゲインを階段状に飛び飛
びにしか調整することができす、その幅内の感度校正に
とどまり正確な感度校正ができない問題点を有していた
[Problem to be solved by the invention] For this reason, in conventional sensitivity calibration, the gain can only be adjusted stepwise and intermittently, and the sensitivity calibration can only be performed within that range, making it impossible to perform accurate sensitivity calibration. had.

また、前記従来のマスターワーク等からの反射エコーレ
ベルが一定になるようにゲインを変化させる方法を自動
検査に適用する場合には、超音波探傷器をコンピュータ
コン1〜ロールする必要があり、大幅なコストアップに
なる問題があり、さらにゲインコントロールにも多少困
難な点がありトラブル発生の原因となる問題点を有して
いた。
In addition, when applying the conventional method of changing the gain so that the level of reflected echoes from the masterwork etc. is constant to automatic inspection, it is necessary to use the computer controller of the ultrasonic flaw detector, which requires a large amount of time. In addition, gain control was somewhat difficult, which caused problems.

本発明は、」−記従来技術の問題点に鑑み、超音波検査
装置におけるエコーレベルの感度校正を、簡単な構成で
容易かつ無段階に行うことができる超音波検査装置を提
供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the problems of the prior art mentioned above, an object of the present invention is to provide an ultrasonic inspection apparatus that can easily and steplessly calibrate the echo level sensitivity in an ultrasonic inspection apparatus with a simple configuration. shall be.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

」―記目的を達成するため、本発明の超音波検査装置は
、被検体と該被検体に対向するプローブとを一定距離の
間を相対変位させる移動装置と、前記プローブを介して
被検体に超音波パルスを送受信し被検体からの反射エコ
ーのアナログ信号を出力する超音波探傷器と、前記移動
装置を制御し超音波探傷器の出力信号を取り込んでデー
タ表示するコンピュータ装置とを備えた超音波検査装置
において、前記被検体の被検部と構成が同一で、かつ該
被検部に存在する欠陥数が既知のマスターワークを前記
被検体に変えて前記プローブと相対変位可能に載置し、
相対変位させた位置に対応するタイミング信号を発生さ
せる移動装置と、前記タイミング信号に同期して前記相
対変位する一定距離の間マスターワークからの反射エコ
ーのアナログ信号を出力する超音波探傷器と、該超音波
探傷器より出力される各反射エコーのピーク値を入力し
て蓄積し、蓄積された各反射エコーのピーク値で形成さ
れるエコー包絡線に前記マスターワークの欠陥数に対応
するしきい値を設定し、前記マスターワークを同じゲイ
ンで測定して得られたエコーレベルの異なるエコー包絡
線に前記しきい値における欠陥数と欠陥数が同一になる
異なるしきい値を設定表示するコンピュータ装置と、に
構成したものである。
In order to achieve the object described above, the ultrasonic testing apparatus of the present invention includes a moving device that relatively displaces a subject and a probe facing the subject over a certain distance, and a moving device that relatively displaces a subject and a probe facing the subject, and a moving device that moves a subject to the subject via the probe. An ultrasonic flaw detector comprising an ultrasonic flaw detector that transmits and receives ultrasonic pulses and outputs analog signals of reflected echoes from the object to be inspected, and a computer device that controls the moving device, captures the output signal of the ultrasonic flaw detector, and displays the data. In the sonic inspection apparatus, a master work having the same configuration as the test part of the test object and a known number of defects existing in the test part is replaced with the test object and placed so as to be movable relative to the probe. ,
a moving device that generates a timing signal corresponding to a relatively displaced position; an ultrasonic flaw detector that outputs an analog signal of a reflected echo from the master work during a certain distance of the relative displacement in synchronization with the timing signal; The peak value of each reflected echo output from the ultrasonic flaw detector is input and accumulated, and an echo envelope formed by the peak value of each accumulated reflected echo is set at a threshold corresponding to the number of defects in the master work. a computer device for setting and displaying different threshold values such that the number of defects at the threshold value is the same as the number of defects for echo envelopes with different echo levels obtained by measuring the master work with the same gain; It is structured as follows.

〔作 用〕[For production]

まず、被検体の被検部と材質2寸法、形状等の構成が同
一で、かつ被検部に存在する欠陥数が既知のマスターワ
ークを用意し、該マスターワークを移動装置によりプロ
ーブと相対変位させる。このとき移動装置は、前記相対
変位させた位置に対応するタイミング信号を発生する。
First, a master work is prepared that has the same material, dimensions, shape, etc. as the part to be inspected of the test object, and the number of defects present in the part to be inspected is known, and the master work is moved relative to the probe using a moving device. let At this time, the moving device generates a timing signal corresponding to the relatively displaced position.

超音波探傷器からは、前記タイミング信号に同期してマ
スターワークとプローブとが相対変位する一定距離の間
、マスターワークからの反射エコーのアナログ信号が出
力される。出力されたアナログ信号はコンピュータ装置
に入力され、該コンピュータ装置においてディジタル化
され、そのディジタル値とタイミング信号の探傷位置と
を対にしてメモリーに蓄積される。蓄積されたディジタ
ル値は、そのピーク値で形成されるエコー包絡線がグラ
フ表示され、マスターワークの欠陥数に対応するしきい
値が設定される。このしきい値が合否判定値となり、つ
づいて行われる実際の製品の被検体の合否が判定される
。しかし、探傷条件の変化や超音波の性質」二、サイク
ルを決めて感度校正をする必要があるが、この場合、前
記マスターワークを使用して前記のエコー包絡線および
しきい値を設定した際のゲインと同一のゲインでエコー
包絡線をグラフ表示された場合に、両エコー包絡線のエ
コーレベルは必ずしも同一レベルになるとは限らず、ピ
ーク値の異なるエコー包絡線が形成される場合がある。
The ultrasonic flaw detector outputs an analog signal of a reflected echo from the master work during a certain distance during which the master work and the probe are relatively displaced in synchronization with the timing signal. The output analog signal is input to a computer device, where it is digitized, and the digital value and the flaw detection position of the timing signal are stored in a memory as a pair. The echo envelope formed by the peak value of the accumulated digital values is displayed graphically, and a threshold value corresponding to the number of defects in the master work is set. This threshold value becomes the pass/fail judgment value, and the pass/fail of the actual product to be tested is subsequently judged. However, due to changes in flaw detection conditions and the properties of ultrasonic waves, it is necessary to determine the cycle and calibrate the sensitivity.In this case, when setting the echo envelope and threshold value using the master work, When echo envelopes are displayed graphically with the same gain as the gain of , the echo levels of both echo envelopes are not necessarily at the same level, and echo envelopes with different peak values may be formed.

この場合の感度校正の方法は、この異なるエコー包絡線
におけるしきい値を、当初のエコー包絡線に設定された
しきい値における欠陥数と欠陥数が同一になるように設
定することにより行われ、この感度校正されたしきい値
により再び実際製品の被検体の合否判定が行われる。
The method of sensitivity calibration in this case is to set the threshold value for this different echo envelope so that the number of defects at the threshold value set for the original echo envelope is the same as the number of defects. Based on this sensitivity-calibrated threshold value, the pass/fail determination of the actual product to be tested is performed again.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の1実施例を第1図および第2図により説明する
。図において、1は実際の製品である被検体1′の被検
部(円周溶接部)1′aと材質2寸法、形状等の構成を
同じにした被検部1aを有するマスターワークで、被検
部1aの欠陥数は既知になっているa2はマスターワー
ク1と相対して配置されているプローブ、3はマスター
ワーク1(または被検体1′)を回動可能に載置する回
転装置で、マスターワーク1(または被検体1′)の回
動により被検部1.a(または1′a)とプローブ2が
相対変位させられ、同時に回転装置3より相対変位させ
た位置に対応する所定のタイミング信号を発生させる。
One embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. In the figure, 1 is a master work having a test part 1a made of the same material, 2 dimensions, shape, etc. as the test part (circumferential welded part) 1'a of the test object 1' which is the actual product. The number of defects in the part to be inspected 1a is known.a2 is a probe placed opposite to the master work 1; 3 is a rotating device on which the master work 1 (or the object 1') is placed rotatably; Then, by rotating the master work 1 (or the subject 1'), the subject part 1. a (or 1'a) and the probe 2 are displaced relative to each other, and at the same time, the rotating device 3 generates a predetermined timing signal corresponding to the relatively displaced position.

4はプローブ2を介して前記タイミング信号に同期して
マスターワーク1に超音波パルスを送受信し、相対変位
する一定距離(本実施例の場合は1回転)の間、マスタ
ーワーク1からの反射エコーのアナログ信号を出力する
超音波探傷器である。5は超音波探傷器4より出力され
る複数の反射エコー、例えば1回転当り1 、000点
の各反射エコーのピーク値を入力してディジタル化する
A/D変換器、6はA/D変換器5によリディジタル化
されたピーク値と前記タイミング信号による探傷位置と
を対にしたデータを蓄積するメモリー、7はデイスプレ
ィで、メモリー6に蓄積されたデータで形成されるエコ
ー包絡線および該エコー包絡線に設定されるしきい値を
表示する。8はキーボード、9はCPU、10はA/D
変換器5,メモリー6、デイスプレィ7、キーボード8
,CPU9等からなるコンピュータ装置である。
4 transmits and receives ultrasonic pulses to and from the master work 1 via the probe 2 in synchronization with the timing signal, and during a certain distance of relative displacement (one rotation in this example), reflected echoes from the master work 1 are generated. This is an ultrasonic flaw detector that outputs an analog signal. 5 is an A/D converter that inputs and digitizes the peak value of a plurality of reflected echoes output from the ultrasonic flaw detector 4, for example, 1,000 points per rotation; 6 is an A/D converter; 7 is a display that stores the data of the peak value re-digitized by the device 5 and the flaw detection position based on the timing signal; 7 is a display that displays the echo envelope formed by the data stored in the memory 6; Displays the threshold set on the echo envelope. 8 is the keyboard, 9 is the CPU, 10 is the A/D
Converter 5, memory 6, display 7, keyboard 8
, a CPU 9, etc.

プローブ2に相対しているマスターワーク1を回転装置
3により回動させると、回動と同時に前記タイミング信
号が発生し、超音波探傷器4からは該タイミング信号に
同期して探傷開始位置から終了位置まで、つまりマスタ
ーワーク1の1回転の間口転角度に応じて、マスターワ
ーク1から複数(例えば1 、 000点)の反射エコ
ーのアナログ信号が出力される。該アナログ信号はコン
ピュータ装置10に入力され、A/D変換器5によりデ
ィジタル化され、該ディジタル値は探傷位置信号と対に
されてメモリー6に蓄積される。蓄積されたデータは、
反射エコーのピーク値で形成されるエコー包絡線として
デイスプレィ7に表示され、該エコー包絡線にマスター
ワーク1の欠陥数に対応するしきい値が設定される。
When the master work 1 facing the probe 2 is rotated by the rotating device 3, the timing signal is generated at the same time as the rotation, and the ultrasonic flaw detector 4 outputs the flaw detection from the start position to the end in synchronization with the timing signal. The master work 1 outputs analog signals of a plurality of reflected echoes (for example, 1,000 points) according to the position, that is, the frontal rotation angle of one rotation of the master work 1. The analog signal is input to the computer device 10 and digitized by the A/D converter 5, and the digital value is stored in the memory 6 in pairs with the flaw detection position signal. The accumulated data is
The echo envelope formed by the peak value of the reflected echo is displayed on the display 7, and a threshold value corresponding to the number of defects in the master work 1 is set on the echo envelope.

しきい値が設定されると、マスターワーク1に変えて実
際の製品の被検体1′の検査に移るが、合否判定は前記
しきい値により行われる。しかし、一定期間経過後検査
を再開する場合や、同種形状の被検体であっても多数の
検査が行われた後等においては、水の汚濁やプローブの
劣化等により検査装置における検査条件が変化し、中で
も超音波探傷器4のゲインは変化しやすく、このためサ
イクルを決めて感度校正をする必要がある。
Once the threshold value is set, the actual product to be inspected 1' is inspected instead of the master work 1, and pass/fail judgment is made based on the threshold value. However, when restarting the test after a certain period of time has elapsed, or after a large number of tests have been performed even on objects with the same shape, the test conditions in the test equipment may change due to water contamination, probe deterioration, etc. However, the gain of the ultrasonic flaw detector 4 is likely to change, so it is necessary to determine the cycle and calibrate the sensitivity.

感度校正の方法としては、再びマスターワーク1を使用
し、前記当初に得られたエコー包絡線の場合のゲインと
同一のゲインでエコー包絡線をデイスプレィ7にグラフ
表示させる。ところが第2図に示すように、当初に得ら
れたエコー包絡線をaとすると、前記検査条件の変化等
によりデイスプレィ7においてはエコーレベルの異なる
エコー包絡線すが形成され、エコー包絡線a,bのエコ
ーレベルは必ずしも同一レベルにならないことがある。
As a sensitivity calibration method, the master work 1 is used again, and the echo envelope is graphically displayed on the display 7 with the same gain as the gain for the echo envelope obtained initially. However, as shown in FIG. 2, if the initially obtained echo envelope is a, echo envelopes with different echo levels are formed on the display 7 due to changes in the test conditions, etc., and the echo envelopes a, The echo levels of b may not necessarily be at the same level.

このようにエコー包絡線a,bのエコーレベルが異なる
場合は、エコー包絡線aに設定されたしきい値Aにおけ
る回転角度m − n間の既知の欠陥数と、エコー包絡
線すにおける欠陥数が同一になるようにエコー包絡線す
にしきい値Bを設定する。しきい値Bが設定されると再
び実際の製品の被検体1′の検査に移り、しきい値Bに
より合否判定が行われる。この場合しきい値Bは、第2
図に示すようにしきい値Aに比べてエコーレベルは低い
が、検査条件の変化等に対応して感度校正されたもので
あり、実際の製品の被検体1′をしきい値Aで検査した
結果と同一の検査結果を得ることができる。
If the echo levels of echo envelopes a and b are different in this way, the known number of defects between the rotation angle m - n at the threshold value A set for echo envelope a and the number of defects in echo envelope The threshold value B is set for the echo envelope so that the values are the same. Once the threshold value B is set, the actual product to be inspected 1' is inspected again, and a pass/fail determination is made based on the threshold value B. In this case, the threshold value B is the second
As shown in the figure, the echo level is lower than threshold A, but the sensitivity has been calibrated in response to changes in inspection conditions, etc., and the actual product test object 1' was tested at threshold A. You can obtain the same test results as the results.

上記したようにエコーレベルの感度校正は、その場合の
検査条件に対応したものに無段階に正確に移行させるこ
とが可能になり、精度のよい合否判定値を得ることがで
きる。
As described above, the sensitivity calibration of the echo level can be steplessly and accurately shifted to one corresponding to the inspection conditions in that case, and a highly accurate pass/fail judgment value can be obtained.

なお、上記実施例においては、円周溶接部などの被検部
1a、l’aを有するマスターワーク1または被検体1
′を回転装置3により回動させる場合を示したが、本発
明はこれに限定されることなく、平面材における一定長
さの直線状の溶接部を探傷するような場合にも同様に通
用し得ることはもちろんで、その場合には回転装置3に
変えて移動装置3が使用さることになる。
In the above embodiment, the master work 1 or the test object 1 having the test parts 1a, l'a such as circumferential welds
' is rotated by the rotating device 3, but the present invention is not limited to this, and can be similarly applied to detecting flaws in a straight welded part of a fixed length on a flat material. Of course, in that case, the moving device 3 would be used instead of the rotating device 3.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明は、以上説明したように構成されているので、超
音波検査装置におけるエコーレベルの感度校正を、簡単
な構成で容易かつ無段階に行うことが可能になり、被検
体に対して精度のよい正確な合否判定を行うことができ
る効果を奏でる。
Since the present invention is configured as described above, it is possible to easily and steplessly calibrate the sensitivity of the echo level in an ultrasonic inspection device with a simple configuration, and to improve the accuracy for the subject. This has the effect of allowing accurate pass/fail judgments to be made.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の超音波検査装置の1実施例を示すブロ
ック図、第2図は第1図の装置のデイスプレィにグラフ
表示されたデータの1例を示すもので、感度校正方法の
説明用図である。 1・・マスターワーク、1′・・・実製品の被検体、l
a、l’a・・・被検部、2・・・プローブ、3・・回
転装置(移動装置)、4・・・超音波探傷器、10・・
・コンピュータ装置。
Fig. 1 is a block diagram showing one embodiment of the ultrasonic testing device of the present invention, and Fig. 2 shows an example of data displayed graphically on the display of the device shown in Fig. 1, and explains the sensitivity calibration method. This is a diagram for use. 1... Master work, 1'... Actual product subject, l
a, l'a...Test part, 2...Probe, 3...Rotating device (moving device), 4...Ultrasonic flaw detector, 10...
- Computer equipment.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、被検体と該被検体に対向するプローブとを一定距離
の間を相対変位させる移動装置と、前記プローブを介し
て被検体に超音波パルスを送受信し被検体からの反射エ
コーのアナログ信号を出力する超音波探傷器と、前記移
動装置を制御し超音波探傷器の出力信号を取り込んでデ
ータ表示するコンピュータ装置とを備えた超音波検査装
置において、前記被検体の被検部と構成が同一で、かつ
該被検部に存在する欠陥数が既知のマスターワークを前
記被検体に変えて前記プローブと相対変位可能に載置し
、相対変位させた位置に対応するタイミング信号を発生
させる移動装置と、前記タイミング信号に同期して前記
相対変位する一定距離の間マスターワークからの反射エ
コーのアナログ信号を出力する超音波探傷器と、該超音
波探傷器より出力される各反射エコーのピーク値を入力
して蓄積し、蓄積された各反射エコーのピーク値で形成
されるエコー包絡線に前記マスターワークの欠陥数に対
応するしきい値を設定し、前記マスターワークを同じゲ
インで測定して得られたエコーレベルの異なるエコー包
絡線に前記しきい値における欠陥数と欠陥数が同一にな
る異なるしきい値を設定表示するコンピュータ装置と、
に構成したことを特徴とする超音波検査装置。
1. A moving device that relatively displaces a subject and a probe facing the subject over a certain distance, and transmitting and receiving ultrasonic pulses to and from the subject via the probe and receiving analog signals of reflected echoes from the subject. In an ultrasonic inspection apparatus comprising an ultrasonic flaw detector that outputs an output, and a computer device that controls the moving device, captures the output signal of the ultrasonic flaw detector, and displays the data, the configuration is the same as that of the test part of the test object. and a moving device that replaces a master work with a known number of defects existing in the test part as the test object, places it so that it can be displaced relative to the probe, and generates a timing signal corresponding to the position of the relative displacement. and an ultrasonic flaw detector that outputs analog signals of reflected echoes from the master work during a certain distance of relative displacement in synchronization with the timing signal, and a peak value of each reflected echo output from the ultrasonic flaw detector. is input and accumulated, and a threshold corresponding to the number of defects in the master work is set on the echo envelope formed by the peak value of each accumulated reflected echo, and the master work is measured with the same gain. a computer device that sets and displays different threshold values for which the number of defects at the threshold value is the same as the number of defects for echo envelopes of different obtained echo levels;
An ultrasonic inspection device characterized by having the following configuration.
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