JPH0690185B2 - Ultrasonic inspection device - Google Patents

Ultrasonic inspection device

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JPH0690185B2
JPH0690185B2 JP1083924A JP8392489A JPH0690185B2 JP H0690185 B2 JPH0690185 B2 JP H0690185B2 JP 1083924 A JP1083924 A JP 1083924A JP 8392489 A JP8392489 A JP 8392489A JP H0690185 B2 JPH0690185 B2 JP H0690185B2
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、同種形状の多数の被検体をパルス反射法によ
り水浸探傷する超音波検査装置に係わり、特に、検査装
置におけるエコーレベルの感度校正を、簡単な構成で容
易かつ無段階に行うのに好適な検査装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an ultrasonic inspection apparatus for performing water immersion flaw detection on a large number of objects of the same shape by a pulse reflection method, and in particular, echo level sensitivity in the inspection apparatus. The present invention relates to an inspection device suitable for performing calibration easily and steplessly with a simple configuration.

〔従来の技術〕 製品の一定の品質を確保するために、超音波検査に際し
て、合否判定値,エコーレベルに対するしきい値,マス
ターワークの構成(材質,寸法,形状など)等の検査基
準や、プローブの位置,超音波探傷器におけるゲインや
ゲート等の探傷条件等を含む検査条件が、各種の被検体
に応じて決められるが、これらの条件のうち超音波探傷
器のゲインは、合否判定値やしきい値に直接関係するも
のであり、また、同種形状の多数の被検体を連続して検
査する場合には一定に保って検査するとが特に必要であ
る。しかし上記ゲインは、同一の検査装置を使用して検
査しても、例えば使用している水の汚濁や温度変化、あ
るいはプローブの劣化等によりかなり変化するから、サ
イクルを決めて感度校正する必要がある。
[Prior Art] In order to ensure a certain quality of a product, in ultrasonic inspection, inspection criteria such as a pass / fail judgment value, a threshold value for echo level, a structure of a master work (material, size, shape, etc.), Inspection conditions including probe position, gain in ultrasonic flaw detector, flaw detection conditions such as gate, etc. are determined according to various types of objects. Among these conditions, the gain of ultrasonic flaw detector is the pass / fail judgment value. It is directly related to the threshold value, and when a large number of objects of the same shape are continuously inspected, it is particularly necessary to keep them constant. However, even if the above-mentioned gain is inspected using the same inspection device, it changes considerably due to, for example, contamination of the water being used, temperature change, or deterioration of the probe, so it is necessary to determine the cycle and perform sensitivity calibration. is there.

従来の超音波探傷器の感度校正は、被検体の被検部の材
質,寸法,形状等と同一構成にして製作したマスターワ
ークや感度標準試験片等を使用して反射エコーを検出
し、該反射エコーレベルが一定となるように超音波探傷
器のつまみを回してゲインを変化させることにより行わ
れていた。
Sensitivity calibration of a conventional ultrasonic flaw detector uses a masterwork or sensitivity standard test piece manufactured with the same material, size, shape, etc. of the test part of the test object to detect the reflection echo, This is done by rotating the knob of the ultrasonic flaw detector so as to change the gain so that the reflected echo level becomes constant.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

このため、従来の感度校正は、ゲインを段階状に飛び飛
びにしか調整することができず、その幅内の感度校正に
とどまり正確な感度校正ができない問題点を有してい
た。
For this reason, the conventional sensitivity calibration has a problem that the gain can be adjusted only stepwise in a stepwise manner, and the sensitivity calibration is limited to within the range and accurate sensitivity calibration cannot be performed.

また、前記従来のマスターワーク等からの反射エコーレ
ベルが一定になるようにゲインを変化させる方法を自動
検査に適用する場合には、超音波探傷器をコンピュータ
コントロールする必要があり、大幅なコストアップにな
る問題があり、さらにゲインコントロールにも多少困難
な点がありトラブル発生の原因となる問題点を有してい
た。
Further, when applying the method of changing the gain so that the level of the reflection echo from the conventional master work is constant to the automatic inspection, it is necessary to computer-control the ultrasonic flaw detector, resulting in a significant cost increase. In addition, there is a problem in that the gain control is somewhat difficult, which causes troubles.

本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、超音波検査装
置におけるエコーレベルの感度校正を、簡単な構成で容
易かつ無段階に行うことができる超音波検査装置を提供
することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems of the prior art, and an object thereof is to provide an ultrasonic inspection apparatus capable of easily and steplessly performing echo level sensitivity calibration in the ultrasonic inspection apparatus. .

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

上記目的を達成するため、本発明の超音波検査装置は、
被検体と該被検体に対向するプローブとを一定距離の間
を相対変位させる移動装置と、前記プローブを介して被
検体に超音波パルスを送受信し被検体からの反射エコー
のアナログ信号を出力する超音波探傷器と、前記移動装
置を制御し超音波探傷器の出力信号を取り込んでデータ
表示するコンピュータ装置とを備えた超音波検査装置に
おいて、前記被検体の被検部と構成が同一で、かつ該被
検部に存在する欠陥数が既知のマスターワークを前記被
検体に変えて前記プローブと相対変位可能に載置し、相
対変位させた位置に対応するタイミング信号を発生させ
る移動装置と、前記タイミング信号に同期して前記相対
変位する一定距離の間マスターワークからの反射エコー
のアナログ信号を出力する超音波探傷器と、該超音波探
傷器より出力される各反射エコーのピーク値を入力して
蓄積し、蓄積された各反射エコーのピーク値で形成され
るエコー包絡線に前記マスターワークの欠陥数に対応す
るしきい値を設定し、前記マスターワークを同じゲイン
で測定して得られたエコーレベルの異なるエコー包絡線
に前記しきい値における欠陥数と欠陥数が同一になる異
なるしきい値を設定表示するコンピュータ装置と、に構
成したものである。
In order to achieve the above object, the ultrasonic inspection apparatus of the present invention,
A moving device that relatively displaces the subject and a probe facing the subject within a certain distance, and transmits and receives an ultrasonic pulse to and from the subject through the probe and outputs an analog signal of a reflection echo from the subject. In an ultrasonic inspection apparatus including an ultrasonic flaw detector and a computer device that controls the moving device and captures an output signal of the ultrasonic flaw detector to display data, the configuration is the same as the test portion of the subject, And a moving device that generates a timing signal corresponding to the relative displaced position by placing the master work in which the number of defects existing in the inspected part is known so that the master work is changed to the subject and the probe is relatively displaceable, An ultrasonic flaw detector that outputs an analog signal of a reflection echo from the master work for a certain distance that is relatively displaced in synchronization with the timing signal, and is output from the ultrasonic flaw detector. The peak value of each reflected echo is input and accumulated, and the threshold value corresponding to the number of defects of the master work is set in the echo envelope formed by the accumulated peak value of each reflected echo, and the master work is set. And a computer device for setting and displaying different thresholds at which the number of defects and the number of defects at the threshold are the same on echo envelopes having different echo levels obtained by measuring with the same gain.

〔作用〕[Action]

まず、被検体の被検部と材質,寸法,形状等の構成が同
一で、かつ被検部に存在する欠陥数が既知のマスターワ
ークを用意し、該マスターワークを移動装置によりプロ
ーブと相対変位させる。このとき移動装置は、前記相対
変位させた位置に対応するタイミング信号を発生する。
超音波探傷器からは、前記タイミング信号に同期してマ
スターワークとプローブとが相対変位する一定距離の
間、マスターワークからの反射エコーのアナログ信号が
出力される。出力されたアナログ信号はコンピュータ装
置に入力され、該コンピュータ装置においてディジタル
化され、そのディジタル値とタイミング信号の探傷位置
とを対にしてメモリーに蓄積される。蓄積されたディジ
タル値は、そのピーク値で形成されるエコー包絡線がグ
ラフ表示され、マスターワークの欠陥数に対応するしき
い値が設定される。このしきい値が合否判定値となり、
つづいて行われる実際の製品の被検体の合否が判定され
る。しかし、探傷条件の変化や超音波の性質上、サイク
ルを決めて感度校正をする必要があるが、この場合、前
記マスターワークを使用して前記のエコー包絡線および
しきい値を設定した際のゲインと同一のゲインでエコー
包絡線をグラフ表示された場合に、両エコー包絡線のエ
コーレベルは必ずしも同一レベルになるとは限らず、ピ
ーク値の異なるエコー包絡線が形成される場合がある。
この場合の感度校正の方法は、この異なるエコー包絡線
におけるしきい値を、当初のエコー包絡線に設定された
しきい値における欠陥数と欠陥数が同一になるように設
定することにより行われ、この感度校正されたしきい値
により再び実際製品の被検体の合否判定が行われる。
First, prepare a master work having the same material, size, shape, etc., as that of the inspected part of the subject and a known number of defects existing in the inspected part, and move the master work relative to the probe by a moving device. Let At this time, the moving device generates a timing signal corresponding to the relative displaced position.
The ultrasonic flaw detector outputs an analog signal of a reflection echo from the master work during a certain distance in which the master work and the probe are relatively displaced in synchronization with the timing signal. The output analog signal is input to the computer device, digitized in the computer device, and stored in the memory with the digital value and the flaw detection position of the timing signal as a pair. With respect to the accumulated digital value, an echo envelope formed by the peak value is displayed in a graph, and a threshold value corresponding to the number of defects in the master work is set. This threshold becomes the pass / fail judgment value,
Subsequently, the pass / fail of the actual product subject is judged. However, due to changes in flaw detection conditions and the nature of ultrasonic waves, it is necessary to determine the cycle and perform sensitivity calibration.In this case, when the echo envelope and threshold value are set using the master work, When the echo envelopes are graphically displayed with the same gain as the gain, the echo levels of both echo envelopes are not always the same level, and echo envelopes having different peak values may be formed.
The sensitivity calibration method in this case is performed by setting the threshold values for the different echo envelopes so that the number of defects is the same as the number of defects at the threshold value set for the original echo envelope. The acceptance / rejection determination of the subject of the actual product is performed again using the sensitivity-calibrated threshold value.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の1実施例を第1図および第2図により説明す
る。図において、1は実際の製品である被検体1′の被
検部(円周溶接部)1′aと材質,寸法,形状等の構成
を同じにした被検部1aを有するマスターワークで、被検
部1aの欠陥数は既知になっている。2はマスターワーク
1と相対して配置されているプローブ、3はマスターワ
ーク1(または被検体1′)を回動可能に載置する回転
装置で、マスターワーク1(または被検体1′)の回動
により被検部1a(又は1′a)とプローブ2が相対変位
させられ、同時に回転装置3より相対変位させた位置に
対応する所定のタイミング信号を発生させる。4はプロ
ーブ2を介して前記タイミング信号に同期してマスター
ワーク1に超音波パルスを送受信し、相対変位する一定
距離(本実施例の場合は1回転)の間、マスターワーク
1からの反射エコーのアナログ信号を出力する超音波探
傷器である。5は超音波探傷器4より出力される複数の
反射エコー、例えば1回転当り1,000点の各反射エコー
のピーク値を入力してディジタル化するA/D変換器、6
はA/D変換器5によりディジタル化されたピーク値と前
記タイミング信号による探傷位置とを対にしたデータを
蓄積するメモリー、7はディスプレイで、メモリー6に
蓄積されたデータで形成されるエコー包絡線および該エ
コー包絡線に設定されるしきい値を表示する。8はキー
ボード、9はCPU、10はA/D変換器5,メモリー6,ディスプ
レイ7,キーボード8,CPU9等からなるコンピュータ装置で
ある。
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. In the figure, reference numeral 1 denotes a masterwork having an inspected portion 1a having the same material, size, and shape as the inspected portion (circumferential welded portion) 1'a of the inspected object 1'which is an actual product. The number of defects in the test portion 1a is already known. Reference numeral 2 denotes a probe arranged to face the master work 1 and 3 denotes a rotating device for rotatably mounting the master work 1 (or the subject 1 '). Due to the rotation, the test portion 1a (or 1'a) and the probe 2 are relatively displaced, and at the same time, a predetermined timing signal corresponding to the relative displacement position is generated by the rotating device 3. Reference numeral 4 denotes an echo reflected from the master work 1 during a fixed distance (one rotation in the case of this embodiment) in which ultrasonic waves are transmitted and received to and from the master work 1 in synchronization with the timing signal via the probe 2. Is an ultrasonic flaw detector that outputs an analog signal of. Reference numeral 5 denotes an A / D converter for inputting and digitizing a plurality of reflected echoes output from the ultrasonic flaw detector 4, for example, the peak value of each reflected echo at 1,000 points per rotation.
Is a memory for accumulating data paired with the peak value digitized by the A / D converter 5 and the flaw detection position by the timing signal, 7 is a display, and an echo envelope formed by the data accumulated in the memory 6. Display the threshold set on the line and the echo envelope. Reference numeral 8 is a keyboard, 9 is a CPU, and 10 is a computer device including an A / D converter 5, a memory 6, a display 7, a keyboard 8, a CPU 9, and the like.

プローブ2に相対しているマスターワーク1を回転装置
3により回動させると、回動と同時に前記タイミング信
号が発生し、超音波探傷器4からは該タイミング信号に
同期して探傷開始位置から終了位置まで、つまりマタス
ーワーク1の1回転の間回転角度に応じて、マスターワ
ーク1から複数(例えば1,000点)の反射エコーのアナ
ログ信号が出力される。該アナログ信号はコンピュータ
装置10に入力され、A/D変換器5によりディジタル化さ
れ、該ディジタル値は探傷位置信号と対にされてメモリ
ー6に蓄積される。蓄積されたデータは、反射エコーの
ピーク値で形成されるエコー包絡線としてディスプレイ
7に表示され、該エコー包絡線にマスターワーク1の欠
陥数に対応するしきい値が設定される。
When the master work 1 facing the probe 2 is rotated by the rotating device 3, the timing signal is generated at the same time as the rotation, and the ultrasonic flaw detector 4 finishes from the flaw detection start position in synchronization with the timing signal. The analog signals of a plurality of (for example, 1,000 points) reflected echoes are output from the master work 1 up to the position, that is, according to the rotation angle during one rotation of the matus work 1. The analog signal is input to the computer device 10, digitized by the A / D converter 5, and the digital value is paired with the flaw detection position signal and stored in the memory 6. The accumulated data is displayed on the display 7 as an echo envelope formed by the peak value of the reflected echo, and a threshold value corresponding to the number of defects of the master work 1 is set in the echo envelope.

しきい値が設定されると、マスターワーク1に変えて実
際の製品の被検体1′の検査に移るが、合否判定は前記
しきい値により行われる。しかし、一定期間経過後検査
を再開する場合や、同種形状の被検体であっても多数の
検査が行われた後等においては、水の汚濁やプローブの
劣化等により検査装置における検査条件が変化し、中で
も超音波探傷器4のゲインは変化しやすく、このためサ
イクルを決めて感度校正をする必要がある。
When the threshold value is set, the master work 1 is changed to the inspection of the actual object 1'of the product, and the acceptance / rejection determination is performed based on the threshold value. However, when the inspection is restarted after a certain period of time, or after a large number of inspections have been performed even for the same type of object, the inspection conditions in the inspection device may change due to water contamination or probe deterioration. However, the gain of the ultrasonic flaw detector 4 is likely to change, and therefore it is necessary to determine the cycle and calibrate the sensitivity.

感度校正の方法としては、再びマスターワーク1を使用
し、前記当初に得られたエコー包絡線の場合のゲインと
同一のゲインでエコー包絡線をディスプレイ7にグラフ
表示させる。ところが第2図に示すように、当初に得ら
れたエコー包絡線をaとすると、前記検査条件の変化等
によりディスプレイ7においてはエコーレベルの異なる
エコー包絡線bが形成され、エコー包絡線a,bのエコー
レベルは必ずしも同一レベルにならないことがある。こ
のようにエコー包絡線a,bのエコーレベルが異なる場合
は、エコー包絡線aに設定されたしきい値Aにおける回
転角度m−n間の既知の欠陥数と、エコー包絡線bにお
ける欠陥数が同一になるようにエコー包絡線bにしきい
値Bを設定する。しきい値Bが設定されると再び実際の
製品の被検体1′の検査に移り、しきい値Bにより合否
判定が行われる。この場合しきい値Bは、第2図に示す
ようにしきい値Aに比べてエコーレベルは低いが、検査
条件の変化等に対応して感度校正されたものであり、実
際の製品の被検体1′をしきい値Aで検査した結果と同
一の検査結果を得ることができる。
As a method of sensitivity calibration, the master work 1 is used again, and the echo envelope is displayed on the display 7 as a graph with the same gain as that of the echo envelope obtained at the beginning. However, as shown in FIG. 2, assuming that the echo envelope initially obtained is a, an echo envelope b having different echo levels is formed in the display 7 due to a change in the inspection condition or the like, and the echo envelope a, The echo level of b may not always be the same level. When the echo envelopes a and b have different echo levels as described above, the number of known defects between the rotation angles m and n at the threshold value A set for the echo envelope a and the number of defects in the echo envelope b. The threshold value B is set to the echo envelope b so that the values are the same. When the threshold value B is set, the inspection of the actual object 1 ′ of the product is performed again, and the acceptance / rejection determination is performed by the threshold value B. In this case, the threshold value B has a lower echo level than that of the threshold value A as shown in FIG. 2, but the sensitivity is calibrated in response to changes in inspection conditions and the like. It is possible to obtain the same inspection result as the inspection result of 1'with the threshold value A.

上記したようにエコーレベルの感度校正は、その場合の
検査条件に対応したものに無段階に正確に移行させるこ
とが可能になり、精度のよい合否判定値を得ることがで
きる。
As described above, the sensitivity calibration of the echo level can be steplessly and accurately shifted to the one corresponding to the inspection condition in that case, and an accurate pass / fail judgment value can be obtained.

なお、上記実施例においては、円周溶接部などの被検部
1a,1′aを有するマスターワーク1または被検体1′を
回転装置3により回動させる場合を示したが、本発明は
これに限定されることなく、平面材における一定長さの
直線状の溶接部を探傷するような場合にも同様に通用し
得ることはもちろんで、その場合には回転装置3に変え
て移動装置3が使用さることになる。
In addition, in the above-mentioned embodiment, the portion to be inspected such as the circumferential welded portion.
The case where the master work 1 having 1a, 1'a or the subject 1'is rotated by the rotating device 3 has been described, but the present invention is not limited to this, and a linear material having a constant length on a flat material can be used. In the case of flaw detection of the welded portion, it is of course possible to use it in the same manner. In that case, the moving device 3 is used instead of the rotating device 3.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明は、以上説明したように構成されているので、超
音波検査装置におけるエコーレベルの感度校正を、簡単
な構成で容易かつ無段階に行うことが可能になり、被検
体に対して精度のよい正確な合否判定を行うことができ
る効果を奏でる。
Since the present invention is configured as described above, it is possible to easily and steplessly perform sensitivity calibration of the echo level in the ultrasonic inspection apparatus with a simple configuration, and the accuracy of the object can be improved. The effect that a good and accurate pass / fail judgment can be performed is produced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の超音波検査装置の1実施例を示すブロ
ック図、第2図は第1図の装置のディスプレイにグラフ
表示されたデータの1例を示すもので、感度校正方法の
説明用図である。 1……マスターワーク、1′……実製品の被検体、1a,
1′a……被検部、2……プローブ、3……回転装置
(移動装置)、4……超音波探傷器、10……コンピュー
タ装置。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the ultrasonic inspection apparatus of the present invention, and FIG. 2 shows an example of data graphically displayed on the display of the apparatus of FIG. It is a diagram. 1 ... Masterwork, 1 '... Actual product specimen, 1a,
1'a ... Inspected part, 2 ... probe, 3 ... rotating device (moving device), 4 ... ultrasonic flaw detector, 10 ... computer device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被検体と該被検体に対向するプローブとを
一定距離の間を相対変位させる移動装置と、前記プロー
ブを介して被検体に超音波パルスを送受信し被検体から
の反射エコーのアナログ信号を出力する超音波探傷器
と、前記移動装置を制御し超音波探傷器の出力信号を取
り込んでデータ表示するコンピュータ装置とを備えた超
音波検査装置において、前記被検体の被検部と構成が同
一で、かつ該被検部に存在する欠陥数が既知のマスター
ワークを前記被検体に変えて前記プローブと相対変位可
能に載置し、相対変位させた位置に対応するタイミング
信号を発生させる移動装置と、前記タイミング信号に同
期して前記相対変位する一定距離の間マスターワークか
らの反射エコーのアナログ信号を出力する超音波探傷器
と、該超音波探傷器より出力される各反射エコーのピー
ク値を入力して蓄積し、蓄積された各反射エコーのピー
ク値で形成されるエコー包絡線に前記マスターワークの
欠陥数に対応するしきい値を設定し、前記マスターワー
クを同じゲインで測定して得られたエコーレベルの異な
るエコー包絡線に前記しきい値における欠陥数と欠陥数
が同一になる異なるしきい値を設定表示するコンピュー
タ装置と、に構成したことを特徴とする超音波検査装
置。
1. A moving device that relatively displaces a subject and a probe facing the subject within a certain distance, and an ultrasonic pulse is transmitted to and received from the subject via the probe to generate a reflection echo from the subject. In an ultrasonic inspection apparatus including an ultrasonic flaw detector that outputs an analog signal, and a computer device that controls the moving device and captures an output signal of the ultrasonic flaw detector to display data, a test portion of the subject and A master work having the same structure and having a known number of defects existing in the inspected part is changed to the object to be placed so as to be relatively displaceable with the probe, and a timing signal corresponding to the relative displaced position is generated. Moving device, an ultrasonic flaw detector that outputs an analog signal of a reflection echo from a master work for a certain distance that is relatively displaced in synchronization with the timing signal, and the ultrasonic flaw detector Accumulated by inputting the peak value of each reflected echo output by, the threshold value corresponding to the number of defects of the master work is set to the echo envelope formed by the peak value of each accumulated reflected echo, A computer device configured to set and display different threshold values at which the number of defects and the number of defects at the threshold value are set and displayed on echo envelopes having different echo levels obtained by measuring the masterwork with the same gain. An ultrasonic inspection device characterized by the above.
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