JPH02257036A - Cold/hot impact tester - Google Patents

Cold/hot impact tester

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JPH02257036A
JPH02257036A JP31825689A JP31825689A JPH02257036A JP H02257036 A JPH02257036 A JP H02257036A JP 31825689 A JP31825689 A JP 31825689A JP 31825689 A JP31825689 A JP 31825689A JP H02257036 A JPH02257036 A JP H02257036A
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chamber
temperature
hot gas
cooler
test
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JP31825689A
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Takashi Tanaka
隆 田中
Noriyasu Kawakatsu
川勝 紀育
Koichiro Tamakoshi
玉腰 光市郎
Masayuki Kamiya
神谷 正幸
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Daikin Industries Ltd
Original Assignee
Daikin Industries Ltd
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Abstract

PURPOSE:To shorten the defrosting time of a cooler and to prevent melted drain from scattering to a test sample by circulating high-temp. air from a preheating chamber to a precooling chamber at the time of the defrosting of the cooler, and then executing the defrosting of the cooler. CONSTITUTION:An automatic defrosting operation mode is started when the operation of a refrigerator 6 stops upon ending cold/hot impacts cyclic operation and when a heater 3 and fans 4, 8 stop running. While an ordinary temp. damper 19 is closed by the control of a controller, a high-temp. damper 14 and a low- temp. damper 15 are opened. The heater 3 turns on, a high-temperature side compressor 25 turns off, a low-temperature side compressor 27 turns on, and a hot gas solenoid valve 40 turns on. The preheating chamber 5 and precooling chamber 9 are communicated via a test chamber 10 by opening dampers 14, 15 to circulate the high-temp. air from the preheating chamber 5 to the precooling chamber 9. The heater 3 is controlled by the temp. detection of a temp. sensor 47, by which the temp. in the chamber 5 is controlled to about 50 deg.C. The compressor 27 is operated and the defrosting ends when the detection temp. of a detecting sensor 48 attains >=30 deg.C.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、冷熱衝撃試験装置、詳しくは、高温域から低
温域まで温度を変化させるサイクルを繰り返し、試料を
移動させることなく試験試料の熱衝撃や温度耐久性等の
試験を行なうことのできるようにした冷熱衝撃試験装置
に関する。
Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to a thermal shock testing device, and more particularly, to a thermal shock testing device, which repeats a cycle of changing the temperature from a high temperature range to a low temperature range, and measures the heat of the test sample without moving the sample. The present invention relates to a thermal shock testing device capable of testing impact, temperature durability, etc.

(従来の技術) 一般に冷熱衝撃試験装置は、例えば特公昭58−498
17号公報に示され、又、第10図に概略的に示したよ
うに、一側に外気取入用部(A)を備えたテスト室(B
)に隣接して予熱室(C)とクーラー(D)を備えた予
冷室(E)とを設け、前記テスト室(B)と前記予熱室
(C)とは高温ダンパ(F)により、又、前記テスト室
(B)と前記予冷室(E)とは低温ダンパ(G)により
、それぞれ区画されており、これらダンパ(F)(G)
の開閉により、前記テスト室(B)の温度を高温にした
り、低温にしたりする冷熱衝撃サイクルを可能にして、
前記テスト室(B)内の試料の熱衝撃試験を行い得るよ
うにしている。また、前記外気取入用部(A)の開閉操
作により前記テスト室(B)に外気を取り入れて、前記
テスト室(B)を常温にできるようにして、高温から低
温に或は低温から高温に移行するときに一旦常温にする
ことにより、その移行の速度を早くできるようにしてい
る。尚、(H)はファンである。
(Prior art) In general, a thermal shock test device is
As shown in Japanese Patent Application No. 17 and schematically shown in FIG.
) is provided adjacent to a preheating chamber (C) and a precooling chamber (E) equipped with a cooler (D), and the test chamber (B) and the preheating chamber (C) are connected to each other by a high temperature damper (F). , the test chamber (B) and the precooling chamber (E) are separated by low-temperature dampers (G), and these dampers (F) and (G)
enable a thermal shock cycle in which the temperature of the test chamber (B) is raised or lowered by opening and closing;
It is possible to perform a thermal shock test on the sample in the test chamber (B). Further, by opening and closing the outside air intake part (A), outside air is taken into the test chamber (B) so that the test chamber (B) can be brought to room temperature, so that the temperature can be changed from a high temperature to a low temperature or from a low temperature to a high temperature. By once bringing the temperature to room temperature during the transition, the speed of the transition can be accelerated. Note that (H) is a fan.

(発明が解決しようとする課題) ところで、前記テスト室(B)内に取り入れる外気は普
通水蒸気を含むものであるがら、前記予冷室(E)で冷
却されると、結露が生じ、しがも前記クーラー(D)を
フロストすることになり、前記クーラー(D)の能力を
低下させるから、一般に前記クーラー(D)に供給する
冷媒を逆に流したり、またホットガスを供給したりして
前記クーラー(D)をデフロストするのであるが、デフ
ロストにかなり時間を要する問題があった。
(Problem to be Solved by the Invention) By the way, although the outside air taken into the test chamber (B) normally contains water vapor, when it is cooled in the precooling chamber (E), dew condensation occurs, and the Since (D) will be frosted and the capacity of the cooler (D) will be reduced, generally the refrigerant supplied to the cooler (D) is flowed in the opposite direction, or hot gas is supplied to the cooler (D). D) was defrosted, but there was a problem in that it took a considerable amount of time to defrost.

本発明は、従来のこのような問題に鑑みて発明したもの
で、その目的とするところは、予熱室には、高温空気が
存在することに注目して、この高温空気の熱を利用する
ことにより、クーラーのデフロスト時間を短くできる冷
熱衝撃試験装置を提供することにある。
The present invention was invented in view of such conventional problems, and its purpose is to take note of the fact that high-temperature air exists in the preheating chamber, and to utilize the heat of this high-temperature air. Therefore, it is an object of the present invention to provide a thermal shock testing device that can shorten the defrost time of a cooler.

また、高温空気によりデフロスト時間を短縮できながら
、シかも、デフロストにより溶けたドレンがテスト室内
の試料へ水飛びをするのを防ぐことができるようにし、
さらにまた、テスト室内の試験試料のテスト条件により
、予冷室内の高温空気によるデフロストを行う場合の不
都合を解消できるようにした冷熱衝撃試験装置を提供す
ることにある。
In addition, while the defrost time can be shortened by using high-temperature air, it is also possible to prevent melted condensate from splashing onto the sample in the test chamber.
Furthermore, it is an object of the present invention to provide a thermal shock testing apparatus that can eliminate the inconvenience of defrosting with high-temperature air in a pre-cooling chamber depending on the test conditions of the test sample in the test chamber.

(課題を解決するための手段) 上記したようにデフロスト時間を短縮するために、特許
請求の範囲第1項記載の第1発明は、一側に、外気に連
通ずる開口部(18)を開閉する常温ダンパ(19)と
、他側に、試験試料を挿入する挿入口(16)を開閉す
るテスト室扉(17)とを備えたテスト室(10)に、
断熱隔壁(11)を介して、ヒーター(3)とファン(
4)を配置した予熱室(5)と、冷凍機(6)に接続す
るクーラー(7)とファン(8)を配置した予冷室(9
)とを隣接して設けると共に、前記テスト室(10)と
前記予熱室(5)とを連通させる開口部(12)を開閉
する高温ダンパ(14)と、又、前記テスト室(1o)
と前記予冷室(9)とを連通ずる開口部(13)を開閉
する低温ダンパ(15)とを備えた冷熱衝撃試験装置に
おいて、前記クーラー(7)のフロスト時、前記高温及
び低温ダンパ(14)(15)を開放すると共に、前記
常温ダンパ(19)を閉鎖して、前記予熱室(5)と予
冷室(9)とを連通させて、前記予熱室(5)の高温空
気を、前記予熱室(5)から予冷室(9)に循環させ、
前記高温空気を熱源として前記クーラー(7)のデフロ
ストを行うごとくしたのである。
(Means for Solving the Problems) As described above, in order to shorten the defrosting time, the first invention described in claim 1 provides an opening (18) that opens and closes an opening (18) communicating with outside air on one side. A test chamber (10) equipped with a room-temperature damper (19) for inserting a test sample, and a test chamber door (17) for opening and closing an insertion port (16) for inserting a test sample on the other side.
A heater (3) and a fan (
4), and a precooling chamber (9) where a cooler (7) and fan (8) connected to the refrigerator (6) are placed.
), and a high temperature damper (14) that opens and closes an opening (12) that communicates the test chamber (10) and the preheating chamber (5);
and a low temperature damper (15) that opens and closes an opening (13) communicating with the precooling chamber (9), when the cooler (7) is frosted, the high temperature and low temperature dampers (14) ) (15) and close the normal temperature damper (19) to communicate the preheating chamber (5) and the precooling chamber (9), so that the high temperature air in the preheating chamber (5) is transferred to the room temperature damper (19). circulate from the preheating chamber (5) to the precooling chamber (9),
The high temperature air is used as a heat source to defrost the cooler (7).

また、特許請求の範囲第2項に記載の第2発明は、以上
のごとく高温空気を熱源としてデフロストを行う場合、
デフロストにより溶けたドレンがテスト室内の試料へ水
飛びをするのを防ぐことができるようにするために、冷
凍機(6)に、フロスト時、予冷室(9)に内装するク
ーラー(7)へホットガスを流すホットガス弁(40)
をもったホットガスバイパス回路(41)を設けると共
に、高温及び低温ダンパ(14)(15)を開き、予熱
室(5)の高温空気を熱源として前記クーラー(7)の
デフロストを行うとき、前記予冷室(9)を循環する空
気経路の温度を検出し、デフロストによるドレンの飛散
開始時の温度で出力するデフロスト検知センサ(48)
を設け、このデフロスト検知センサ(48)の出力によ
り前記ダンパ(14)(15)を閉じ、ホットガスバイ
パスのみによるデフロスト運転に切り換えるデフロスト
制御コントローラ(49)を設けている。また、特許請
求の範囲第3項記載の第3発明は、第2発明と同様、冷
凍機(6)にフロスト時、予冷室(9)に内装するクー
ラー(7)へホットガスを流すホットガス弁(40)を
もったホットガスバイパス回路(41)を設けると共に
、高温及び低温ダンパ(14)(15)をひらき、予熱
室(5)の高温空気を熱源として前記クーラー(7)の
デフロストを行うとき、前記予冷室(9)を循環する空
気経路の温度を検出し、デフロストによるドレンの飛散
開始時の温度で出力するデフロスト検知センサ(48)
を設ける一方、前記予冷室(9)に内装するファン(8
)を可変速モータ(M)に連動させて、前記デフロスト
検知センサ(48)の出力により前記モータ(M)を、
前記ドレンの飛散を不能にする低速に制御するモータ制
御器(81)を設けるのが好ましい。
Further, the second invention as set forth in claim 2 provides that when defrosting is performed using high temperature air as a heat source as described above,
In order to prevent the condensate melted by defrosting from splashing onto the sample in the test chamber, the refrigerator (6) and the cooler (7) installed in the precooling chamber (9) during frosting are used. Hot gas valve that flows hot gas (40)
In addition to providing a hot gas bypass circuit (41) with A defrost detection sensor (48) detects the temperature of the air path circulating in the precooling chamber (9) and outputs the temperature at the time when condensate starts scattering due to defrost.
A defrost control controller (49) is provided which closes the dampers (14) and (15) based on the output of the defrost detection sensor (48) and switches to defrost operation using only hot gas bypass. In addition, the third invention described in claim 3 provides a hot gas flow system which, like the second invention, flows hot gas into the cooler (7) installed in the precooling chamber (9) when the refrigerator (6) is frosted. A hot gas bypass circuit (41) with a valve (40) is provided, and high and low temperature dampers (14) and (15) are opened to defrost the cooler (7) using the high temperature air in the preheating chamber (5) as a heat source. When performing this, a defrost detection sensor (48) detects the temperature of the air path circulating in the precooling chamber (9) and outputs the temperature at the time when condensate starts scattering due to defrosting.
At the same time, a fan (8) installed in the pre-cooling chamber (9) is provided.
) is linked to the variable speed motor (M), and the motor (M) is operated by the output of the defrost detection sensor (48).
It is preferable to provide a motor controller (81) that controls the speed to a low speed that makes it impossible for the drain to scatter.

さらにまた、特許請求の範囲第4項記載の第4発明は、
前記した高温空気を熱源とするデフロスト運転において
、テスト室内の試験試料のテスト条件により、予冷室内
の高温空気によるデフロストを行う場合の不都合、即ち
、テスト室(10)に前記高温空気の温度で問題が生ず
る試験試料が装入されている状態でデフロストを行う場
合の問題点を解消するために、冷凍機(6)に、フロス
ト時、予冷室(9)に内装するクーラー(7)へホット
ガスを流すホットガス弁(40)をもったホットガスバ
イパス回路(41)を設けると共に、高温及び低温ダン
パ(14)(15)を開き、予熱室(5)の高温空気を
熱源として前記クーラー(7)のデフロストを行なうと
きのヒータ制御温度(T1)と、テスト室(10)の高
温さらし制御時におけるヒータ制御温度(T2)とを比
較し、テスト時のヒータ制御温度(T2)がデフロスト
時のヒータ制御温度(T1)より低いとき、前記高温及
び低温ダンパ(14)(15)を閉じ、前記予熱室(5
)の高温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホ
ットガスバイパスのみによるデフロスト運転に制御する
デフロスト制御コントローラ(4)を設けているのであ
る。
Furthermore, the fourth invention described in claim 4 is:
In the defrosting operation using the high temperature air as the heat source, due to the test conditions of the test sample in the test chamber, there may be problems when performing defrost with the high temperature air in the precooling chamber, i.e., there may be problems with the temperature of the high temperature air in the test chamber (10). In order to solve the problem of defrosting with a test sample loaded, hot gas is sent to the cooler (7) installed in the precooling chamber (9) in the refrigerator (6) during frosting. A hot gas bypass circuit (41) is provided with a hot gas valve (40) to flow the hot gas, and the high temperature and low temperature dampers (14) and (15) are opened, and the hot air in the preheating chamber (5) is used as a heat source to cool the cooler (7). ) and the heater control temperature (T2) during high-temperature exposure control in the test chamber (10). When the temperature is lower than the heater control temperature (T1), the high and low temperature dampers (14) and (15) are closed and the preheating chamber (5
) is provided with a defrost control controller (4) that stops the defrost operation that uses high-temperature air as a heat source and controls the defrost operation using only hot gas bypass.

(作用) 第1発明では、前記クーラー(7)のデフロストを行う
とき、前記高温及び低温ダンパ(14)(15)を開放
することにより、前記予熱室(5)と予冷室(9)とを
前記テスト室(10)を介して連通させ、前記予熱室(
5)の高温空気を前記予熱室(5)から前記予冷室(9
)に循環させることができ、この高温空気の熱を前記予
冷室(9)内のクーラー(7)に与えることができ、該
クーラー(7)のデフロストに要する時間を短縮するこ
とができるのである。
(Function) In the first invention, when defrosting the cooler (7), the preheating chamber (5) and the precooling chamber (9) are separated by opening the high temperature and low temperature dampers (14) and (15). The test chamber (10) communicates with the preheating chamber (
5) high temperature air is transferred from the preheating chamber (5) to the precooling chamber (9).
), and the heat of this high-temperature air can be given to the cooler (7) in the precooling chamber (9), reducing the time required for defrosting the cooler (7). .

また、第2、第3発明では、第1発明と同様デフロスト
時間を短縮できながら、高温空気の熱を熱源としてデフ
ロストを行っている場合で、ドレンが、デフロストによ
り飛散開始を始めようとするときに、第2発明では、デ
フロスト検知センサ(48)の出力によって、前記ダン
パ(14)(15)を閉じて、ホットガスバイパスのみ
によるデフロスト運転に切り換えたり、また、第3発明
では、前記デフロスト検知センサ(48)の出力によっ
て、前記予冷室(9)のファン(8)に連動させた可変
速モータ(8a)を、ドレンの飛散を不能にする低速に
制御することによって、テスト室(10)内へのドレン
の水飛びを防止することができるのである。
In addition, in the second and third inventions, while the defrosting time can be shortened as in the first invention, when defrosting is performed using the heat of high-temperature air as a heat source, when the drain starts to scatter due to defrosting. In the second invention, the dampers (14) and (15) are closed based on the output of the defrost detection sensor (48), and the defrost operation is switched to only by hot gas bypass. The test chamber (10) is controlled by the output of the sensor (48) to control the variable speed motor (8a) linked to the fan (8) of the pre-cooling chamber (9) to a low speed that disables the splashing of condensate. This prevents drain water from splashing inside.

さらにまた、第4発明では、デフロスト運転時の予熱室
(5)のヒータ制御温度(T、)と、テスト時の高温さ
らし制御によるヒータ制御温度(T2)とを比較して、
テスト時のヒータ制御温度(T2 )がデフロスト時の
ヒータ制御温度(T1)より低い時、前記高温及び低温
ダンパ(14)(15)を閉じて、前記予熱室(5)の
高温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホット
ガスバイパスのみによるデフロスト運転を行うことによ
って、テスト室(10)内の試験試料が高温さらし時の
制御温度より高い高温空気に曝されることを防止できる
のである。
Furthermore, in the fourth invention, the heater control temperature (T, ) of the preheating chamber (5) during the defrost operation is compared with the heater control temperature (T2) under high temperature exposure control during the test.
When the heater control temperature (T2) during the test is lower than the heater control temperature (T1) during defrost, the high and low temperature dampers (14) and (15) are closed and the high temperature air in the preheating chamber (5) is used as the heat source. By canceling the defrost operation and performing the defrost operation using only the hot gas bypass, it is possible to prevent the test sample in the test chamber (10) from being exposed to high-temperature air higher than the control temperature during high-temperature exposure.

(実施例) 本発明の一実施例を第1〜第4図に基づいて説明する。(Example) An embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 4.

第1図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の概略を示し
たものであって、基本的には、ハウジング(1)内を断
熱隔壁(2)により区画して、ヒータ(3)及びファン
(4)を配置した予熱室(5)と、カスケード式冷凍機
(6)に低温側冷媒回路(28)を介して接続するクー
ラー(7)及びファン(8)を配置した予冷室(9)と
、冷熱衝撃試験を行う試験試料を収容するテスト室(1
0)とを設けている。
FIG. 1 shows an outline of the thermal shock test apparatus according to the present invention. Basically, the inside of a housing (1) is partitioned by a heat insulating partition wall (2), and a heater (3) and a fan ( 4), and a precooling chamber (9) in which a cooler (7) and a fan (8) connected to the cascade refrigerator (6) via a low-temperature side refrigerant circuit (28) are arranged. , a test chamber (1
0).

前記予熱室(5)及び予冷室(9)は、断熱隔壁(11
)を挾んで前記テスト室(10)の両側に隣接し、前記
テスト室(10)と前記予熱室(5)及び予冷室(9)
とを区画する各断熱隔壁(11)(11)に、前記テス
ト室(10)と前記予熱室(5)とを連通ずる開口部(
12)(12)、及び前記テスト室(10)と予冷室(
9)とを連通ずる開口部(13)(13)を設け、各開
口部(12)(13)に設けた高温及び低温ダンパ(1
4)(15)の開閉により、前記予熱室(5)又は予冷
室(9)を前記テスト室(10)に選択的に連通させて
、前記テスト室(10)に冷風及び熱風を選択的に導入
するようにしている。
The preheating chamber (5) and the precooling chamber (9) are provided with a heat insulating partition wall (11
) adjacent to both sides of the test chamber (10), the test chamber (10), the preheating chamber (5), and the precooling chamber (9).
An opening (11) communicating the test chamber (10) and the preheating chamber (5) is provided in each heat insulating partition wall (11) (11) that partitions the test chamber (10) and the preheating chamber (5).
12) (12), and the test chamber (10) and the pre-cooling chamber (
9) are provided, and high temperature and low temperature dampers (1) provided in each opening (12) (13) are provided.
4) By opening and closing (15), the preheating chamber (5) or the precooling chamber (9) is selectively communicated with the test chamber (10), and cold air and hot air are selectively supplied to the test chamber (10). I am trying to introduce it.

又、前記テスト室(10)の一側には、試験試料を挿入
する開口部(16)を開閉する扉(17)を設けると共
に、他側には、一対の開口部(18)(18)を設けて
、常温ダンパ(19)の開閉により、外気を前記テスト
室(10)内に導入するようにしている。更に、前記一
対の開口部(18)(18)の一方の開口部(18)に
は、除湿器(20)及び吸入ファン(21)を内装した
外気導入ダクト(22)を接続して、前記テスト室(1
0)内に導入する外気を除湿するようにしており、他方
の開口部(18)には、排気ファン(23)を備えた排
気ダクト(24)を接続している。
Further, one side of the test chamber (10) is provided with a door (17) for opening and closing an opening (16) into which a test sample is inserted, and a pair of openings (18) (18) is provided on the other side. is provided, and outside air is introduced into the test chamber (10) by opening and closing the normal temperature damper (19). Furthermore, an outside air introduction duct (22) equipped with a dehumidifier (20) and a suction fan (21) is connected to one opening (18) of the pair of openings (18) (18). Test room (1
The other opening (18) is connected to an exhaust duct (24) equipped with an exhaust fan (23).

前記カスケード式冷凍機(6)は、第2図に示したよう
に、高温側圧縮機(25)をもった高温側冷媒回路(2
6)、低温側圧縮機(27)をもった低温側冷媒回路(
28)及びこれら両回路(27)(28)が共有するカ
スケードコンデンサー(29)を備えており、前記高温
側冷媒回路(26)には、凝縮器(30)、膨張弁(3
1)及びアキュムレータ(32)を介装する一方、前記
低温側冷媒回路(28)には、膨張弁(33)、前記予
冷室(9)に配置した前記クーラー(7)及びアキュム
レータ(34)を介装している。
As shown in FIG. 2, the cascade type refrigerator (6) has a high temperature side refrigerant circuit (2) having a high temperature side compressor (25).
6), a low-temperature side refrigerant circuit (with a low-temperature side compressor (27)
28) and a cascade condenser (29) shared by both circuits (27) and (28), and the high temperature side refrigerant circuit (26) includes a condenser (30), an expansion valve (3
1) and an accumulator (32), and the low temperature side refrigerant circuit (28) is equipped with an expansion valve (33), the cooler (7) disposed in the precooling chamber (9), and an accumulator (34). I am intervening.

又、前記高温側冷媒回路(26)には、電磁弁(35)
と、前記外気導入ダク) (22)に内装した前記除湿
器(20)を構成する再熱器(36)及びクーラー(3
7)等を直列に介装したバイパス回路(39)を設けて
、前記電磁弁(35)の操作により前記再熱器(36)
及びクーラー(37)に前記高温側圧縮機(25)から
冷媒を供給し、前記テスト室(10)に導入する外気を
除湿できるようにしている。又、前記低温側冷媒回路(
28)には、ホットガス電磁弁(40)を介装したホッ
トガスバイパス回路(41)を設けて、該ホットガス電
磁弁(40)の操作により前記予冷室(9)に配置した
クーラー(7)をホットガスによってもデフロストでき
るようにしている。
Further, the high temperature side refrigerant circuit (26) includes a solenoid valve (35).
and a reheater (36) and a cooler (3) constituting the dehumidifier (20) installed in the outside air introduction duct (22).
7) etc. are installed in series, and the reheater (36) is operated by operating the solenoid valve (35).
A refrigerant is supplied from the high temperature side compressor (25) to the cooler (37) so that the outside air introduced into the test chamber (10) can be dehumidified. Moreover, the low temperature side refrigerant circuit (
28) is provided with a hot gas bypass circuit (41) equipped with a hot gas solenoid valve (40), and the cooler (7) disposed in the precooling chamber (9) is operated by operating the hot gas solenoid valve (40). ) can also be defrosted using hot gas.

尚、第2図中に示した白矢印は、前記ホットガス電磁弁
(40)を作動させて、前記クーラー(7)をデフロス
トするときの前記低温側冷媒回路(28)における冷媒
の流れる方向を示し、黒矢印は前記冷凍機(6)の冷凍
運転時における、前記高温側冷媒回路(26)及び前記
低温側冷媒回路(28)における各冷媒の流れを示して
いるのである。また、(42)はドライヤー (43)
は、前記低温側圧縮機(27)を運転しないとき前記低
温側冷媒回路(28)の冷媒を溜める膨張タンクで、吐
出圧力調整弁(44)を付設している。さらに、(45
)は前記低温側圧縮機(27)の吐出側に介装した油分
離器、(46)はキャピラリーである。
The white arrow shown in FIG. 2 indicates the direction in which the refrigerant flows in the low temperature side refrigerant circuit (28) when the hot gas solenoid valve (40) is activated to defrost the cooler (7). The black arrows indicate the flow of each refrigerant in the high temperature side refrigerant circuit (26) and the low temperature side refrigerant circuit (28) during the freezing operation of the refrigerator (6). Also, (42) is a hair dryer (43)
is an expansion tank that stores refrigerant in the low temperature side refrigerant circuit (28) when the low temperature side compressor (27) is not operated, and is provided with a discharge pressure regulating valve (44). Furthermore, (45
) is an oil separator installed on the discharge side of the low temperature side compressor (27), and (46) is a capillary.

しかして、以上のように構成した冷熱衝撃試験装置にお
いて、前記クーラー(7)のフロスト時、前記高温及び
低温ダンパ(14)(15)を開放すると共に、前記常
温ダンパ(19)を閉鎖して、前記予熱室(5)と予冷
室(9)とを連通させて、前記予熱室(5)の高温空気
を、前記予熱室(5)から予冷室(9)に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー(7)のデフロス
トを行うごとくしたのである。
Therefore, in the thermal shock test apparatus configured as above, when the cooler (7) is frosted, the high temperature and low temperature dampers (14) and (15) are opened, and the room temperature damper (19) is closed. , the preheating chamber (5) and the precooling chamber (9) are communicated with each other, the high temperature air in the preheating chamber (5) is circulated from the preheating chamber (5) to the precooling chamber (9), and the high temperature air is The cooler (7) was used as a heat source to defrost it.

具体的には、第3図に示すごとく、前記予熱室(5)に
予熱室温度センサー(47)を、又前記クーラー(7)
にはデフロスト検知センサー(48)を設けると共に、
デフロスト制御コントローラ(49)を設けて、該コン
トローラ(49)の入力側には、前記予熱室温度センサ
ー(47)及び前記デフロスト検知センサー(48)を
接続する一方、出力側には、前記予熱室(5)に配置し
たヒーター(3)を作動させるヒータースイッチ(50
)、前記高温ダンパ(14)を開閉させる高温ダンパ開
閉用モータ(51)、前記常温ダンパ(19)を開閉さ
せる常温ダンパ開閉用モータ(52)、前記低温ダンパ
(15)を開閉させる低温ダンパ開閉用モータ(53)
、前記低温側圧縮機(27)を駆動する低温側圧縮機駆
動モータ(54)及び、前記低温側冷媒回路(28)の
ホットガスバイパス回路(41)に介装した前記ホット
ガス電磁弁(40)をそれぞれ接続するのである。尚、
(55)は予冷室温度センサーである。
Specifically, as shown in FIG. 3, a preheating chamber temperature sensor (47) is installed in the preheating chamber (5), and a preheating chamber temperature sensor (47) is installed in the
is equipped with a defrost detection sensor (48),
A defrost control controller (49) is provided, and the input side of the controller (49) is connected to the preheating chamber temperature sensor (47) and the defrost detection sensor (48), while the output side is connected to the preheating chamber temperature sensor (47) and the defrost detection sensor (48). Heater switch (50) that operates the heater (3) placed in (5)
), a high temperature damper opening/closing motor (51) that opens and closes the high temperature damper (14), a normal temperature damper opening/closing motor (52) that opens and closes the normal temperature damper (19), and a low temperature damper opening/closing motor (52) that opens and closes the low temperature damper (15). motor (53)
, a low temperature side compressor drive motor (54) that drives the low temperature side compressor (27), and the hot gas solenoid valve (40) interposed in the hot gas bypass circuit (41) of the low temperature side refrigerant circuit (28). ) are connected to each other. still,
(55) is a pre-cooling room temperature sensor.

次に、前記予冷室(9)に配置した前記クーラー(7)
のデフロストについて第4図に示すフローチャートに基
づいて説明する。
Next, the cooler (7) placed in the precooling chamber (9)
Defrosting will be explained based on the flowchart shown in FIG.

冷熱衝撃試験終了時、即ち、冷熱衝撃のサイクル運転が
終了して前記冷凍機(6)の運転が止まると共に、前記
ヒーター(3)及び各ファン(4)(8)が停止したと
き、自動デフロスト運転入/切スイッチ(図示せず)が
人であれば、自動デフロスト運転モードに入る。この自
動デフロスト運転モードは、前記コントローラ(49)
の制御により、常温ダンパ(19)を閉鎖する一方、前
記高温ダンパ(14)、低温ダンパ(15)を開放する
。次に、前記ヒーター(3)がON1前記高温側圧縮機
(25)が0FF1前記低温側圧縮機(27)がON1
前記ホットガス電磁弁(40)がONとなるのである。
At the end of the thermal shock test, that is, when the thermal shock cycle operation is completed and the refrigerator (6) stops operating, and the heater (3) and each fan (4) and (8) stop, the automatic defrost If the operation on/off switch (not shown) is operated by a human, the automatic defrost operation mode is entered. This automatic defrost operation mode is controlled by the controller (49).
Under this control, the normal temperature damper (19) is closed, while the high temperature damper (14) and low temperature damper (15) are opened. Next, the heater (3) is ON1, the high temperature side compressor (25) is 0FF1, the low temperature side compressor (27) is ON1
The hot gas solenoid valve (40) is turned on.

そして、高温及び低温ダンパ(14)(15)を開放す
ることにより、前記予熱室(5)と予冷室(9)とを前
記テスト室(10)を介して連通させ、前記予熱室(5
)の高温空気を前記予熱室(5)から前記予冷室(9)
に循環させると共に、前記予熱室温度センサー(47)
の温度検出により、前記ヒーター(3)を制御して、前
記予熱室(5)内の温度を約50°Cに制御して、前記
低温側圧縮機(27)を+30Hzで運転するのである
。そして、前記クーラー(7)に設けた前記デフロスト
検知センサー(48)の検出温度(T)が30℃以上に
なるか、又は、デフロスト開始からの経過時間(1)が
45分を越えると、デフロストを終了するのである。デ
フロスト終了時、前記低温側圧縮機(27)及び前記ホ
ットガス電磁弁(4o)はOFFとなると共に、又全ダ
ンパ(14)(15)(19)は閉となり、また前記ヒ
ーター(3)もOFFとなるのである。尚、デフロスト
時、高温及び低温ダンパ(14)(15)を開放するこ
とにより、前記予熱室(5)と予冷室(θ)とを前記テ
スト室(10)を介して連通させている場合は、前記予
熱室(5)に配置したファン(4)及び前記予冷室(9
)に配置したファン(8)はいづれも運転させるのであ
る。
Then, by opening the high temperature and low temperature dampers (14) and (15), the preheating chamber (5) and the precooling chamber (9) are communicated via the test chamber (10), and the preheating chamber (5) is communicated with the precooling chamber (9) through the test chamber (10).
) from the preheating chamber (5) to the precooling chamber (9).
and the preheating chamber temperature sensor (47).
Based on the temperature detection, the heater (3) is controlled to control the temperature in the preheating chamber (5) to about 50°C, and the low temperature side compressor (27) is operated at +30Hz. When the temperature (T) detected by the defrost detection sensor (48) provided in the cooler (7) becomes 30°C or higher, or when the elapsed time (1) from the start of defrost exceeds 45 minutes, defrost starts. It ends. At the end of defrosting, the low temperature side compressor (27) and the hot gas solenoid valve (4o) are turned off, all dampers (14), (15), and (19) are closed, and the heater (3) is also turned off. It becomes OFF. In addition, when the preheating chamber (5) and the precooling chamber (θ) are communicated through the test chamber (10) by opening the high temperature and low temperature dampers (14) and (15) during defrosting, , a fan (4) disposed in the preheating chamber (5) and the precooling chamber (9).
) are all operated.

したがって、以上のように、前記予熱室(5)と予冷室
(9)とを連通させることにより、前記予熱室(5)か
らの高温空気から前記クーラー(7)に直接熱を与える
ことができ、前記低温側冷媒回路(28)のホットガス
バイパス回路(41)に介装した前記ホットガス電磁弁
(40)を作動させて行う前記冷凍機(6)のデフロス
ト運転に要する時間を短縮することができるのである。
Therefore, as described above, by communicating the preheating chamber (5) and the precooling chamber (9), heat can be directly applied to the cooler (7) from the high temperature air from the preheating chamber (5). To shorten the time required for defrosting operation of the refrigerator (6) by operating the hot gas solenoid valve (40) installed in the hot gas bypass circuit (41) of the low temperature side refrigerant circuit (28). This is possible.

又、デフロスト時、前記ヒーター(3)を作動させるこ
とにより、前記予熱室(5)の空気を加熱できるから、
前記ヒーター(3)以外に特に前記クーラー(7)のデ
フロスト用の熱源を設けることなく、−層迅速なデフロ
ストが可能となる。
Moreover, since the air in the preheating chamber (5) can be heated by operating the heater (3) during defrosting,
Rapid defrosting is possible without providing a heat source for defrosting the cooler (7) other than the heater (3).

尚、本実施例では、前記低温側冷媒回路(28)のホッ
トガスバイパス回路(41)に設けた前記ホットガス電
磁弁(41)の作動により、前記低温側圧縮機(27)
からの冷媒を前記カスケードコンデンサー(29)を側
路しして、直接前記クーラー(7)に送ることにより、
該クーラー(7)をデフロストする前記冷凍機(6)の
デフロスト運転を併用できるようにしたが、併用しなく
てもよい。この場合、デフロスト時、前記各圧縮機(2
5)(27)の運転はしないでデフロストが行なえるこ
とになる。
In this embodiment, the low temperature side compressor (27) is operated by the hot gas solenoid valve (41) provided in the hot gas bypass circuit (41) of the low temperature side refrigerant circuit (28).
By bypassing the refrigerant from the cascade condenser (29) and directly sending it to the cooler (7),
Although the defrosting operation of the refrigerator (6) for defrosting the cooler (7) can be used in combination, it is not necessary to use the defrosting operation in combination. In this case, during defrosting, each of the compressors (2
5) Defrosting can be performed without performing the operation in (27).

また、前記実施例において、高温空気を熱源としてデフ
ロストを行う場合、前記低温ダンパ(15)を開いて行
うため、デフロストの進行によりテスト室(10)内へ
デフロストにより溶けたドレンの水飛びが生ずることに
なるが、この水飛びを防止するために、以下のように構
成するのが好ましい。即ち、第5図に示すごとく、前記
予冷室(9)のクーラー(7)の管板(71)の側面に
、管板(71)の温度、ひいては前記予冷室(9)を循
環する空気の入口側温度を検出し、デフロストによるド
レンの飛散開始時の温度によって出力するデフロスト検
知センサ(48)を設け、第6図のフローチャートに示
すように、高温空気による前記デフロスト運転中で、前
記クーラー(7)の出口側の温度が0℃以上となってド
レンが飛散しようとするとき、つまり、前記管板(71
)に設けた前記デフロスト検知センサ(48)の検出温
度(T)が7℃以上になると、前記デフロスト制御コン
トローラ(49)の制御により、前記高温及び低温ダン
パ(14)(15)を閉鎖させると共に、前記冷凍機(
6)における前記ホットガス電磁弁(40)を開いて、
前記ホットガスバイパス回路(41)のみによるデフロ
スト運転を行うように構成するのである。
In addition, in the above embodiment, when defrosting is performed using high temperature air as a heat source, the low temperature damper (15) is opened, so as the defrost progresses, condensate melted by the defrost splashes into the test chamber (10). However, in order to prevent this water splash, it is preferable to configure as follows. That is, as shown in FIG. 5, the temperature of the tube plate (71) and, as a result, the temperature of the air circulating in the pre-cooling chamber (9) is shown on the side surface of the tube plate (71) of the cooler (7) in the pre-cooling chamber (9). A defrost detection sensor (48) is provided that detects the inlet side temperature and outputs an output based on the temperature at the time when condensate starts scattering due to defrost, and as shown in the flowchart of FIG. When the temperature on the outlet side of tube plate (7) is 0°C or more and the drain is about to scatter, that is,
) When the detected temperature (T) of the defrost detection sensor (48) provided in , said refrigerator (
Opening the hot gas solenoid valve (40) in 6),
The defrost operation is performed using only the hot gas bypass circuit (41).

尚、第6図のフローチャートにおいて、ホットガスバイ
パスによるデフロスト運転は、第4図のフローチャート
で説明したように制御されるが、デフロスト運転終了後
、冷凍機(6)を再運転させるときに、デフロストによ
り溶けたドレンが完全に排出するまで、例えば、2〜3
分間前記冷凍機(6)の運転の開始を遅らせるようにし
ている。
In the flowchart of FIG. 6, the defrost operation by hot gas bypass is controlled as explained in the flowchart of FIG. For example, 2 to 3 hours until the melted condensate is completely drained.
The start of operation of the refrigerator (6) is delayed for one minute.

また、第1図乃至第2図に示した実施例において、前記
予冷室(9)に内装するファン(8)のモータ(M)を
可変速モータとして、第7図に示すように、前記デフロ
スト制御コントローラ(49)の出力側に、前記可変速
モータ(M)を制御するモータ制御器(81)を接続す
ると共に、前記した実施例と同様、前記デフロスト検知
センサ(48)を設けて、前記コントローラ(49)の
入力側に接続し、第8図のフローチャートに示すように
、デフロスト運転中に前記デフロスト検知センサ(48
)の検出温度(T)が7℃以上になると、前記デフロス
ト制御コントローラ(49)の制御により、前記可変速
モータ(M、)をポールチェンジまたは周波数変換など
により、前記モータ(M)の回転数を下げて、例えば風
速が1 、5 m/seeになるように、前記ファン(
8)の風量を減少させると共に、風量の減少で、前記ド
レンの飛散を不能にした状態で、前記冷凍機(6)にお
けるホットガス電磁弁(40)を開いて、前記ホットガ
スバイパス回路(41)によるデフロスト運転のみによ
って、デフロストを行うようにしてもよい。また、この
実施例における前記ホットガスバイパスによるデフロス
ト運転は、前記した実施例と同様に制御されるのである
In the embodiment shown in FIGS. 1 and 2, the motor (M) of the fan (8) installed in the precooling chamber (9) is a variable speed motor, and as shown in FIG. A motor controller (81) for controlling the variable speed motor (M) is connected to the output side of the control controller (49), and the defrost detection sensor (48) is provided similarly to the embodiment described above. The defrost detection sensor (48) is connected to the input side of the controller (49), and as shown in the flowchart of FIG.
) when the detected temperature (T) of the motor (M) becomes 7°C or higher, the defrost controller (49) controls the variable speed motor (M,) to change the rotation speed of the motor (M) by pole change or frequency conversion. The fan (
8), and the hot gas solenoid valve (40) in the refrigerator (6) is opened, and the hot gas bypass circuit (41 ) may perform defrosting only by defrosting operation. Further, the defrost operation using the hot gas bypass in this embodiment is controlled in the same manner as in the above-described embodiment.

また、前記実施例において、前記予熱室(5)の高温空
気を熱源として、前記予冷室(9)のクーラー(7)の
デフロストを行うとき、前記テスト室(10)内の試験
試料のテスト条件により、予熱室(5)内の高温空気に
よるデフロストを行うかどうかを選択するようにしても
よい。即ち、テスト室(10)の高温さらし制御時にお
けるヒータ制御温度、つまり、前記予熱室温度センサ(
47)により前記ヒータ(3)をオン、オフして制御す
る前記予熱室(5)の高温温度をもとに制御されるテス
ト室(10)内の温度は、試験試料に応じた任意温度を
設定するのであって、高温加熱を好まない試料について
は、前記予熱室(5)の高温空気を熱源としてデフロス
トを行う場合 のヒータ制御温度(例えば35℃〜40
’C)より低い温度(例えば30°C)に設定されるこ
とが ある。従って、この場合には前記予熱室(5)内
の高温空気によるデフロスト運転を中止し、ホットガス
バイパス回路(41)のみによるデフロスト運転に切換
えるのである。しかして、この場合、前記デフロスト制
御コントローラ(49)に、前記予熱室(5)の高温空
気を熱源としてデフロストを行うときのヒータ制御温度
(T1)と前記予熱室温度センサ(47)により制御さ
れる前記テスト室(10)の高温さらし制御時における
ヒータ制御温度(T2)とを比較する比較器(図示せず
)を用い、前記テスト時のヒータ制御温度(T2)がデ
フロスト時のヒータ制御温度(T1)より低いときに前
記高温及び低温ダンパ(14)(15)を閉じて出力す
るように構成するのである。従って、この実施例によれ
ば、第9図のフローチャートに示すように、前記予熱室
温度センサ(47)により制御する予熱室(5)の高温
空気を熱源として前記クーラー(7)のデフロストを行
なうときのヒータ制御温度(T、)と、前記予熱室温度
センサ(47)により制御する試験試料の高温さらし制
御時におけるテスト室(10)のヒータ制御温度(T2
)とを比較し、テスト時のヒータ制御温度(T2)がデ
フロスト時のヒータ制御温度(T□)より低いときに、
前記高温及び低温ダンパ(14)(15)を閉じ、前記
予熱室(5)の高温空気を熱源とするデフロスト運転を
中止し、前記冷凍機(6)のホットガスバイパス回路(
41)のみによるデフロスト運転に切換えるのであって
、以降は第4図のフローチャートで説明した通り制御す
るのである。
Further, in the embodiment, when defrosting the cooler (7) of the pre-cooling chamber (9) using the high-temperature air of the pre-heating chamber (5) as a heat source, the test conditions for the test sample in the test chamber (10) are Accordingly, it may be possible to select whether or not to perform defrosting using high-temperature air in the preheating chamber (5). That is, the heater control temperature during high temperature exposure control of the test chamber (10), that is, the preheating chamber temperature sensor (
The temperature in the test chamber (10), which is controlled based on the high temperature of the preheating chamber (5) which is controlled by turning on and off the heater (3), can be set to an arbitrary temperature according to the test sample. For samples that do not like high-temperature heating, the heater control temperature (e.g. 35°C to 40°C) when defrosting is performed using the high-temperature air in the preheating chamber (5) as a heat source
'C) may be set to a lower temperature (e.g. 30°C). Therefore, in this case, the defrost operation using the high temperature air in the preheating chamber (5) is stopped, and the defrost operation is switched to using only the hot gas bypass circuit (41). In this case, the defrost controller (49) is controlled by the heater control temperature (T1) and the preheating chamber temperature sensor (47) when defrosting is performed using the high temperature air in the preheating chamber (5) as a heat source. A comparator (not shown) is used to compare the heater control temperature (T2) during the high-temperature exposure control of the test chamber (10) with the heater control temperature (T2) during the defrosting. When the temperature is lower than (T1), the high temperature and low temperature dampers (14) and (15) are closed to output an output. Therefore, according to this embodiment, as shown in the flowchart of FIG. 9, the cooler (7) is defrosted using the high temperature air of the preheating chamber (5) controlled by the preheating chamber temperature sensor (47) as a heat source. and the heater control temperature (T2) of the test chamber (10) during the high temperature exposure control of the test sample controlled by the preheating chamber temperature sensor (47).
), and when the heater control temperature (T2) during the test is lower than the heater control temperature (T□) during the defrost,
The high-temperature and low-temperature dampers (14) and (15) are closed, the defrost operation using the high-temperature air in the preheating chamber (5) as a heat source is stopped, and the hot gas bypass circuit (
41), and thereafter the control is performed as explained in the flowchart of FIG. 4.

(発明の効果) 以上説明したように、第1発明の冷熱衝撃試験装置では
、前記クーラー(7)のフロスト時、前記高温及び低温
ダンパ(14)(15)を開放すると共に、前記常温ダ
ンパ(19)を閉鎖して、前記予熱室(5)と予冷室(
9)とを連通させて、前記予熱室(5)の高温空気を、
前記予熱室(5)から予冷室(9)に循環させ、前記高
温空気を熱源として前記クーラー(7)のデフロストを
行うごとくしたから、前記予熱室(5)の高温空気の熱
を前記予冷室(9)内のクーラー(7)に直接与えるこ
とができ、該クーラー(7)のデフロストに要する時間
を短縮することができるのである。
(Effects of the Invention) As explained above, in the thermal shock test apparatus of the first invention, when the cooler (7) is frosted, the high temperature and low temperature dampers (14) and (15) are opened, and the room temperature damper ( 19) is closed, and the preheating chamber (5) and the precooling chamber (
9) to communicate the high temperature air in the preheating chamber (5),
Since the preheating chamber (5) is circulated to the precooling chamber (9) and the high temperature air is used as a heat source to defrost the cooler (7), the heat of the high temperature air in the preheating chamber (5) is transferred to the precooling chamber. (9) can be directly supplied to the cooler (7), and the time required for defrosting the cooler (7) can be shortened.

また、第2、第3発明では、第1発明と同様デフロスト
時間を短縮できながら、高温空気を熱源としてデフロス
ト運転を行う場合で、デフロストの進行でドレンが飛散
しようとするとき、第2発明では、前記高温及び低温ダ
ンパ(14)(15)を閉鎖するようにし、また第3発
明では、前記予冷室(9)に内装したファン(8)の風
量を減少させるようにしたから、デフロストにより溶け
たドレンが前記テスト室(10)へ入ってしまうことを
防止でき、その結果、前記テスト室(10)内でのフロ
ストを防止できるし、試験試料への影響もなくなるので
ある。
Further, in the second and third inventions, while the defrosting time can be shortened as in the first invention, when defrosting operation is performed using high temperature air as a heat source, and when drain is about to scatter as the defrosting progresses, the second invention , the high temperature and low temperature dampers (14) and (15) are closed, and in the third invention, the air volume of the fan (8) installed in the precooling chamber (9) is reduced, so that melting due to defrosting is prevented. It is possible to prevent the drain from entering the test chamber (10), and as a result, it is possible to prevent frosting in the test chamber (10) and to eliminate any influence on the test sample.

さらに、第4発明では、デフロスト時の前記予熱室(5
)のヒータ制御温度とテスト時の高温さらし制御による
ヒータ制御温度とを比較して、テスト時のヒータ制御温
度がデフロスト時のヒータ制御温度より低いとき、前記
高温及び低温ダンパ(14)(15)を閉じ、前記予熱
室(5)の高温空気を熱源とするデフロスト運転を中止
し、ホットガスバイパスのみによるデフロスト運転に制
御するようにしたから、テスト室(10)に試験試料を
装入したままデフロスト運転を行う場合で、しかも、前
記試料が高温を好まない場合であっ ても、前記試料が
デフロスト時に前記予熱室(5)の高温空気により、曝
される問題が生じてしまうのを阻止できるのである。
Furthermore, in the fourth invention, the preheating chamber (5
) and the heater control temperature by high-temperature exposure control during the test, and when the heater control temperature during the test is lower than the heater control temperature during defrost, the high-temperature and low-temperature dampers (14) (15) was closed, the defrost operation using the high temperature air in the preheating chamber (5) as a heat source was stopped, and the defrost operation was controlled using only the hot gas bypass, so the test sample was left in the test chamber (10). Even when defrosting operation is performed and the sample does not like high temperatures, it is possible to prevent the sample from being exposed to high-temperature air in the preheating chamber (5) during defrosting. It is.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の全体構造を
示す断面図、第2図は冷凍機の配管系統図、第3同角び
第7図はデフロスト作動プロ・ツク図、第5図はクーラ
ーの斜視図、第4図、第6図、第8図及び第9図はデフ
ロスト作動フローチャート、第10図は従来例を示す概
略断面図である。 (3)・・・・・・・・ヒーター (4)・・・・・・・・ファン (40)・・・・ホットガス弁 (41)・・・・ホットガスバイパス回路(48)・・
・・デフロスト検知センサ(49)・・・・デフロスト
制御コントローラ(5)・・・・・・・・予熱室 (6)・・・・・・・・冷凍機 (7)・・・・・・・・クーラー (8)・・・・・・・・ファン (8a)・・・・可変速モータ (81)・・・・モータ制御器 (9)・・・・・・・・予冷室 (10)・・・・・・・・テスト室 (14)・・・・・・・・高温ダンパ (15)・・・・・・・・低温ダンパ (19)・・・・・・・・常温ダンパ
Fig. 1 is a sectional view showing the overall structure of the thermal shock test device according to the present invention, Fig. 2 is a piping system diagram of the refrigerator, Fig. 3 and Fig. 7 are a defrost operation diagram, and Fig. 5. 1 is a perspective view of the cooler, FIGS. 4, 6, 8, and 9 are defrost operation flowcharts, and FIG. 10 is a schematic sectional view showing a conventional example. (3)...Heater (4)...Fan (40)...Hot gas valve (41)...Hot gas bypass circuit (48)...
... Defrost detection sensor (49) ... Defrost control controller (5) ... Preheating chamber (6) ... Refrigerator (7) ... ...Cooler (8) ...Fan (8a) ...Variable speed motor (81) ...Motor controller (9) ...Precooling chamber (10 )...Test chamber (14)...High temperature damper (15)...Low temperature damper (19)...Normal temperature damper

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)一側に、外気に連通する開口部(18)を開閉する
常温ダンパ(19)と、他側に、試験試料を挿入する挿
入口(16)を開閉するテスト室扉(17)とを備えた
テスト室(10)に、断熱隔壁(11)を介して、ヒー
ター(3)とファン(4)を配置した予熱室(5)と、
冷凍機(6)に接続するクーラー(7)とファン(8)
を配置した予冷室(9)とを隣接して設けると共に、前
記テスト室(10)と前記予熱室(5)とを連通させる
開口部(12)を開閉する高温ダンパ(14)と、又、
前記テスト室(10)と前記予冷室(9)とを連通する
開口部(13)を開閉する低温ダンパ(15)とを備え
た冷熱衝撃試験装置において、前記クーラー(7)のフ
ロスト時、前記高温及び低温ダンパ(14)(15)を
開放すると共に、前記常温ダンパ(19)を閉鎖して、
前記予熱室(5)と予冷室(9)とを連通させて、前記
予熱室(5)の高温空気を、前記予熱室(5)から予冷
室(9)に循環させ、前記高温空気を熱源として前記ク
ーラー(7)のデフロストを行うごとくしたことを特徴
とする冷熱衝撃試験装置。 2)冷凍機(6)にフロスト時、予冷室(9)に内装す
るクーラー(7)へホットガスを流すホットガス弁(4
0)をもったホットガスバイパス回路(41)を設ける
と共に、高温及び低温ダンパ(14)(15)をひらき
、予熱室(5)の高温空気を熱源として前記クーラー(
7)のデフロストを行うとき、前記予冷室(9)を循環
する空気経路の温度を検出し、デフロストによるドレン
の飛散開始時の温度で出力するデフロスト検知センサ(
48)を設け、このデフロスト検知センサ(48)の出
力により前記ダンパ(14)(15)を閉じ、ホットガ
スバイパスのみによるデフロスト運転に切り換えるデフ
ロスト制御コントローラ(49)を設けている請求項1
記載の冷熱衝撃試験装置。 3)冷凍機(6)にフロスト時、予冷室(9)に内装す
るクーラー(7)へホットガスを流すホットガス弁(4
0)をもったホットガスバイパス回路(41)を設ける
と共に、高温及び低温ダンパ(14)(15)をひらき
、予熱室(5)の高温空気を熱源として前記クーラー(
7)のデフロストを行うとき、前記予冷室(9)を循環
する空気経路の温度を検出し、デフロストによるドレン
の飛散開始時の温度で出力するデフロスト検知センサ(
48)を設ける一方、前記予冷室(9)に内装するファ
ン(8)を可変速モータ(M)に連動させて、前記デフ
ロスト検知センサ(48)の出力により前記モータ(M
)を、前記ドレンの飛散を不能にする低速に制御するモ
ータ制御器(81)を設けている請求項1記載の冷熱衝
撃試験装置。 4)冷凍機(6)に、フロスト時、予冷室(9)に内装
するクーラー(7)へホットガスを流すホットガス弁(
40)をもったホットガスバイパス回路(41)を設け
ると共に、高温及び低温ダンパ(14)(15)を開き
、予熱室(5)の高温空気を熱源として前記クーラー(
7)のデフロストを行なうときのヒータ制御温度と、テ
スト室(10)の高温さらし制御時におけるヒータ制御
温度とを比較し、テスト時のヒータ制御温度がデフロス
ト時のヒータ制御温度より低いとき、前記高温及び低温
ダンパ(14)(15)を閉じ、前記予熱室(5)の高
温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホットガ
スバイパスのみによるデフロスト運転に制御するデフロ
スト制御コントローラ(49)を設けている請求項1記
載の冷熱衝撃試験装置。
[Claims] 1) A room temperature damper (19) that opens and closes an opening (18) communicating with outside air on one side, and a test chamber that opens and closes an insertion port (16) into which a test sample is inserted on the other side. A preheating chamber (5) in which a heater (3) and a fan (4) are arranged in a test chamber (10) equipped with a door (17) through a heat insulating partition (11)
Cooler (7) and fan (8) connected to refrigerator (6)
A high temperature damper (14) that opens and closes an opening (12) that communicates the test chamber (10) and the preheating chamber (5) with a precooling chamber (9) in which the test chamber (10) and the preheating chamber (5) are arranged;
In a thermal shock test apparatus comprising a low-temperature damper (15) that opens and closes an opening (13) communicating between the test chamber (10) and the pre-cooling chamber (9), when the cooler (7) is frosted, the Opening the high temperature and low temperature dampers (14) and (15) and closing the normal temperature damper (19),
The preheating chamber (5) and the precooling chamber (9) are communicated with each other, the high temperature air in the preheating chamber (5) is circulated from the preheating chamber (5) to the precooling chamber (9), and the high temperature air is used as a heat source. A thermal shock testing apparatus characterized in that the cooler (7) is defrosted. 2) A hot gas valve (4) that flows hot gas to the cooler (7) installed in the precooling chamber (9) when the refrigerator (6) is frosted.
At the same time, a hot gas bypass circuit (41) with a hot gas bypass circuit (41) is provided, and high-temperature and low-temperature dampers (14) (15) are opened, and the hot air in the preheating chamber (5) is used as a heat source to cool the cooler (41).
When defrosting in step 7), a defrost detection sensor (
48), and a defrost control controller (49) that closes the dampers (14) and (15) based on the output of the defrost detection sensor (48) and switches to defrost operation using only hot gas bypass.
Thermal shock test apparatus described. 3) A hot gas valve (4) that flows hot gas to the cooler (7) installed in the pre-cooling chamber (9) when the refrigerator (6) is frosted.
At the same time, a hot gas bypass circuit (41) with a hot gas bypass circuit (41) is provided, and high-temperature and low-temperature dampers (14) (15) are opened, and the hot air in the preheating chamber (5) is used as a heat source to cool the cooler (41).
When defrosting in step 7), a defrost detection sensor (
48), and a fan (8) installed in the pre-cooling chamber (9) is linked to a variable speed motor (M) so that the motor (M) is controlled by the output of the defrost detection sensor (48).
2. The thermal shock testing apparatus according to claim 1, further comprising a motor controller (81) for controlling the motor (81) to a low speed that makes it impossible for the drain to scatter. 4) The refrigerator (6) has a hot gas valve (
A hot gas bypass circuit (41) is provided with a hot gas bypass circuit (40), and the high temperature and low temperature dampers (14) and (15) are opened, and the high temperature air in the preheating chamber (5) is used as a heat source to cool the cooler (40).
The heater control temperature when defrosting in step 7) is compared with the heater control temperature during high temperature exposure control in the test chamber (10), and when the heater control temperature during the test is lower than the heater control temperature during defrosting, A defrost control controller (49) is provided that closes the high-temperature and low-temperature dampers (14) and (15), stops the defrost operation using the high-temperature air in the preheating chamber (5) as a heat source, and controls the defrost operation using only the hot gas bypass. The thermal shock testing device according to claim 1.
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