JPH02246095A - Address decoder - Google Patents

Address decoder

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JPH02246095A
JPH02246095A JP1067309A JP6730989A JPH02246095A JP H02246095 A JPH02246095 A JP H02246095A JP 1067309 A JP1067309 A JP 1067309A JP 6730989 A JP6730989 A JP 6730989A JP H02246095 A JPH02246095 A JP H02246095A
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address
parallel
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line
address signal
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Haruji Yamazaki
山崎 治二
Hisaaki Takamizo
高溝 久明
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Abstract

PURPOSE:To obtain an address decoder which can cope with mass capacity by equalizing the time constant of a time constant circuit forming of a diffused resistor and parasitic capacity to an address determined time. CONSTITUTION:Charge in parasitic capacitor C of wiring and a load is discharged through a diffused resistor R in the common source area of first parallel channel MOSFETs 210 to 21n/2, and the other charge is discharged through the diffused resistor R in the common source area of a second parallel P channel MOSFETs 21n/2+1 to 21n. Consequently although the address determined time of one word line is extended due to the addition of the diffused resistor, for the other word line, since the diffused resistor of the common source area is reduced by half, the address is determined approximately in a half time which is equivalent to the former time. Thus the increase of the address signal lines for the mass capacity can be coped with.

Description

【発明の詳細な説明】 (イ〉産業上の利用分野 この発明はアドレス信号によりロム等の記憶領域のワー
ド線の1を選択するアドレスデコーダに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (A) Field of Industrial Application This invention relates to an address decoder that selects one of the word lines in a storage area such as a ROM based on an address signal.

(ロ)従来の技術 第3図乃至第5図を参照して従来のアドレスデコーダを
説明する。
(b) Prior Art A conventional address decoder will be explained with reference to FIGS. 3 to 5.

第3図において、アドレス信号A、〜Anと、このアド
レス信号A、〜Anをインバータ!、〜Inにより反転
する反転アドレス信号A8.〜A”nとを入力するアド
レス信号−“ダ(2)はアドレス信号A0〜Anの状態
に対応するワード線W a 、〜Wajを活性化し、ロ
ムマトリクス(3)の活性化されたワード線に接続され
る複数のメモリセル(31a)〜(31d)(7)状態
を各ビット線(32a)〜(32d)に並列出力する。
In FIG. 3, the address signals A, ~An and the address signals A, ~An are inverted! , ~In inverts the inverted address signal A8. The address signal ``da (2) inputting ~A''n activates the word lines W a and ~Waj corresponding to the states of the address signals A0~An, and activates the activated word line of the ROM matrix (3). The states of a plurality of memory cells (31a) to (31d) (7) connected to each bit line are output in parallel to each bit line (32a) to (32d).

なお、後記する理由によりロムマトリクスは2分割され
ており、このアドレス信号A、〜Anによりロムマトリ
クス(4)も同時に選択される。したがって、各ロムマ
トリクス(3) 、 (4)は各々4ビツトのデータを
出力するか、上位のアドレス信号An+、〜A tl、
=を入力するセレクタ(5) 、 (6)によりロムマ
トリクス(3)、(4)を選択するようにして、あるい
はさらに各ロムマトリクス内をアドレス選択してロムマ
トリクス(3)、(4)から各々8ビツトのデータを出
力する。
Note that the ROM matrix is divided into two parts for reasons to be described later, and the ROM matrix (4) is also selected at the same time by these address signals A, .about.An. Therefore, each ROM matrix (3), (4) outputs 4-bit data, or the upper address signals An+, ~A tl,
Select ROM matrices (3) and (4) using selectors (5) and (6) that input =, or select addresses within each ROM matrix to select from ROM matrices (3) and (4). Each outputs 8-bit data.

上記のように構成されるアドレスデコーダ(2)の構造
をその単一のワード線に着目して説明する。
The structure of the address decoder (2) constructed as described above will be explained by focusing on its single word line.

第4図において、アドレスデコーダ(2)の単一のワー
ド線は並列PチャンネルMOSFET(21φ)および
(21*)〜(21n)、直列NチャンネルMO8F 
E T(22,d )および(2L)〜(22n)およ
びインバータ(23a) 、 (23b)から構成さレ
テイル。
In Figure 4, a single word line of the address decoder (2) is connected to a parallel P-channel MOSFET (21φ) and (21*) to (21n), a series N-channel MOSFET
ET (22, d) and (2L) to (22n) and inverters (23a) and (23b).

並列PチャンネルMOSFET(21φ)、(21,)
〜(21n)は図面横方向にP0拡散により形成される
共通ドレイン領域(24)と、同じく図面横方向にP4
″拡散により形成され、vDD線に接続される共通ソー
ス領域(25)、およびメタル線(破線で示される。)
で供給されるクロックφに接続されるゲート(26φ)
、アドレス信号線A、〜Anと、このアドレス信号線A
、〜Anにそれぞれ相前後して形成される反転アドレス
信号*A”、〜A”nに選択接続されるゲート(26,
)〜(26n)から構成され、アドレス信号線A、〜A
nおよび反転アドレス信号線A0.〜A”nの下部に形
成される2n個のチャンネルは所定の半数のチャンネル
が常にオフとなるようにマスクされると共に、残る半数
のチャンネルにはアドレス信号か反転アドレス信号が選
択的にゲート入力され、所定のアドレス信号によって対
応するワード線に接続される並列MOSFETの全てが
オフするようなされている。なお、図はPチャンネルM
 OS F E T(21,)のゲート(26@)が反
転アドレス信号線A、に接続される例を示している。
Parallel P-channel MOSFET (21φ), (21,)
~(21n) is a common drain region (24) formed by P0 diffusion in the horizontal direction of the drawing, and a common drain region (24) formed by P4 diffusion in the horizontal direction of the drawing.
A common source region (25) formed by diffusion and connected to the vDD line, and a metal line (shown as a dashed line).
Gate (26φ) connected to clock φ supplied by
, address signal lines A, ~An, and this address signal line A
, ~An, respectively, are formed one after the other, and gates (26, 26,
) to (26n), and address signal lines A, to A
n and inverted address signal line A0. The 2n channels formed at the bottom of ~A”n are masked so that a predetermined half of the channels are always turned off, and the remaining half of the channels are selectively gated with an address signal or an inverted address signal. The parallel MOSFETs connected to the corresponding word line are all turned off by a predetermined address signal.The figure shows the P channel M
An example is shown in which the gate (26@) of OS FET (21,) is connected to the inverted address signal line A.

また、直列NチャンネルMOSFET(224)。Also, a series N-channel MOSFET (224).

(22*)〜(22n)は並列PチャンネルMO3FE
TのP4″拡散により形成される共通ソース領域(24
)、メタル配線、−ポリシリコン配線を介してインバー
タ(23a)の入力とV。線との間に形成されており、
隣り合うMOSFETのソースとドレインが共通となる
よう、また所定の半数のゲート領域の下部のチャンネル
が常にオンとなるようにマスクされている。なお、この
説明ではマスクされた箇所を素子として数えていない。
(22*) to (22n) are parallel P channel MO3FE
A common source region (24
), the input of the inverter (23a) and V via the metal wiring and -polysilicon wiring. It is formed between the line and
Adjacent MOSFETs are masked so that their sources and drains are common and the channels under a predetermined half of the gate regions are always on. Note that in this explanation, masked locations are not counted as elements.

次に、第5図の等価回路を参照して従来のアドレスデコ
ーダの動作を説明する。
Next, the operation of the conventional address decoder will be explained with reference to the equivalent circuit shown in FIG.

全てのゲートがアドレス信号線A、〜Anに接続される
単位回路を考えると、これにより選択されるアドレスデ
コーダ内のワード線は全てのアドレス信号線A、〜An
がハイレベルとなるとき、その並列PチャンネルM O
S F E T (21m )〜(21n)が同時にオ
フし、直列Nチャン永ルM OS F E T (22
* )〜(22n)が同時にオンする。そこで、クロッ
クφに同期してMOSFET(214)がオフ、(22
4”)がオンすることによって、ワード線がv0線より
遮断され、VSS線に接続される。これによりインバー
タ(23a)の出力がハイレベルとなりロム(3)のワ
ード線が活性化される。
Considering a unit circuit in which all gates are connected to address signal lines A, ~An, the word lines in the address decoder that are selected by this are connected to all address signal lines A, ~An.
becomes high level, its parallel P channel M O
S FET (21m) to (21n) are turned off at the same time, and the serial N channel MOS FET (22
*) to (22n) are turned on at the same time. Therefore, MOSFET (214) is turned off in synchronization with clock φ, and MOSFET (22
4") is turned on, the word line is cut off from the v0 line and connected to the VSS line. As a result, the output of the inverter (23a) becomes high level and the word line of the ROM (3) is activated.

上記したアドレスデコーダのアドレス確定時間は主とし
てNチャンネル直列MOSFETによってアドレスデコ
ーダのワード線をローレベルt、=する時間に支配され
ており、NチャンネルMO3FETのオン抵抗、並列P
チャンネルMOSFETのソース領域のP′″拡散抵抗
および配線、負荷の寄生容量Cを小さくする必要が生ず
る。
The address determination time of the address decoder mentioned above is mainly controlled by the time when the word line of the address decoder is brought to a low level t by the N-channel series MOSFET, and the on-resistance of the N-channel MO3FET and the parallel P
It becomes necessary to reduce the P''' diffusion resistance in the source region of the channel MOSFET and the parasitic capacitance C of the wiring and load.

そこで、直列NチャンネルMOSFETから見て、並列
PチャンネルMOSFETのP0拡散により形成される
ソース領域の抵抗を介する負荷が大きくならないように
、前記したようにロム領域を2分割することが行われて
いる。
Therefore, from the perspective of the series N-channel MOSFET, the ROM region is divided into two as described above so that the load through the resistance of the source region formed by P0 diffusion of the parallel P-channel MOSFET does not become large. .

しかし、これにより従来のアドレスデコーダは2分割さ
れるロム(3)とロム(4)のアドレス確定時間に差が
生ずる欠点を有すると共に、さらに大容量化のためのア
ドレス信号線の増加に対応できない欠点を有している。
However, as a result, the conventional address decoder has the disadvantage that there is a difference in address determination time between ROM (3) and ROM (4), which are divided into two parts, and it is not possible to cope with an increase in the number of address signal lines required for further increasing the capacity. It has its drawbacks.

(ハ)発明が解決しようとする課題 この発明は、このような点に鑑みてなされたものであっ
て、ワード線の幅を広くすることなくあるいは高レベル
拡散することなく並列MOSFETのソース領域の実効
抵抗を低下させ、もって高速動作するアドレスデコーダ
を提供することにある。さらには、大容量化に対応可能
なアドレスデコーダを提供することにある。
(c) Problems to be Solved by the Invention The present invention has been made in view of the above points, and it is possible to solve the problem in the source region of a parallel MOSFET without widening the word line width or high-level diffusion. An object of the present invention is to provide an address decoder that can reduce effective resistance and thereby operate at high speed. Another object of the present invention is to provide an address decoder that can handle increased capacity.

(ニ)課題を解決するための手段 この発明は、ワード線と第1の電位線間に形成される直
列MOSFETと、この直列MOSFETに隣接する第
1の領域においてワード線と第2の電位線間に形成され
、2分割されたアドレス信号の一方をゲート入力する第
1の並列MO3FETと、直列MO3FETに隣接する
第2の領域においてワード線と第2の電位線間に形成さ
れ、2分割された他方のアドレス信号をゲート入力する
第2の並列MOSFETからなる点を特徴とする。
(d) Means for Solving the Problems This invention provides a series MOSFET formed between a word line and a first potential line, and a series MOSFET formed between a word line and a second potential line in a first region adjacent to the series MOSFET. A first parallel MO3FET is formed between the word line and the second potential line in a second area adjacent to the series MO3FET, and the first parallel MO3FET is formed between the word line and the second potential line and is divided into two. It is characterized by comprising a second parallel MOSFET whose gate inputs the other address signal.

(ホ)作用 上記構成は、直列MOSFETの電荷となる並列MOS
FETの共通ソース領域の拡散抵抗を2分の1とするこ
とにより、この拡散抵抗と寄生容量とにより形成される
時定数回路の時定数を2分の1とし、もってアドレス確
定時間を略2分の1とするよう作用する。さらに、複数
のロムマトリクスのアドレス確定時間を等しくするよう
作用する。
(E) Effect The above configuration is a parallel MOS that becomes the charge of the series MOSFET.
By reducing the diffused resistance in the common source region of the FET to 1/2, the time constant of the time constant circuit formed by this diffused resistance and parasitic capacitance is reduced to 1/2, thereby reducing the address determination time to approximately 2 minutes. It acts to make it 1. Furthermore, it acts to equalize the address determination time of a plurality of ROM matrices.

(へ)実施例 以下、図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。(f) Example Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図に示すように、この発明のアドレスデコーダの単
一のワード線は、直列NチャンネルMOSFET(22
φ)および<2z、)〜(22n)、この直列Nlヤン
ネルMOSFETに隣接する第1の領域に略半数が形成
される第1の並列PチャンネルMOS F E T (
21a )〜(21n/ # )、前記直列Nチャンネ
ルMO8FE、Tに隣接する第2の領域に残る半数が形
成される第2の並列PチャンネルMOSFET(21n
/m−t)〜(21n)および(214)、インバータ
(23a) 、 (23b)から構成されている。
As shown in FIG.
φ) and <2z, )~(22n), a first parallel P-channel MOS FET (approximately half of which is formed in the first region adjacent to this series Nl channel MOSFET)
21a) to (21n/#), a second parallel P-channel MOSFET (21n/#), the remaining half of which is formed in the second region adjacent to the series N-channel MO8FE, T
/m-t) to (21n) and (214), and inverters (23a) and (23b).

直列NチャンネルMOSFET(22φ”) 、 (2
2,)〜(22n)はワード線とV。線間に、隣り合う
MOSFETのソースとドレインが共通となるよう形成
されており、そのゲートにはアドレス信号!ilA。
Series N-channel MOSFET (22φ”), (2
2,) to (22n) are word lines and V. Adjacent MOSFETs are formed between the lines so that their sources and drains are common, and an address signal (!) is sent to their gates. ilA.

〜Anか反転アドレス信号線A″、〜A”nが選択的に
接続されている。ただし、この発明においてはコンタク
ト方式は必要条件ではない。
~An or inverted address signal lines A'' and ~A''n are selectively connected. However, in this invention, the contact method is not a necessary condition.

第1および第2の並列PチャンネルMOS F ET(
21φ) = (21e )〜(21n)は2分割され
て前記直列Nf”rンネルMO3FET(22φ) 、
 (22v )〜(22n)に隣接する2つの領域に形
成され、図面横方向にP′″拡散により形成される共通
ソース領域(24)と、同じく図面横方向にP+拡散に
より形成され、voに接続される共通ドレイン領域(2
5)、およびメタル線で形成されるクロック線φに接続
されるゲート(26φ)、アドレス信号線A、〜Anと
、このアドレス信号線A、〜Anにそれぞれ相前後して
形成される反転アドレス信号線A0.〜A”nに選択接
続されるゲー)(26e)〜(26n)から構成されて
いる。なお、第1の並列PチャンネルMOSFETのゲ
ートにアドレス信号を供給するアドレス信号線はA、〜
An八およびこれを反転するAo、〜A*n八であり、
第2の並列PチャンネルMOSFETのゲートにアドレ
ス信号を供給するアドレス信号線はAnn+1〜Anお
よびこれを反転するアドレス信号線はA11n八、1〜
A”nである。
First and second parallel P-channel MOS FET (
21φ) = (21e) to (21n) are divided into two to form the series Nf”r channel MO3FET (22φ),
A common source region (24) is formed in two regions adjacent to (22v) to (22n) and is formed by P''' diffusion in the horizontal direction of the drawing, and a common source region (24) is also formed by P+ diffusion in the horizontal direction of the drawing and is formed in vo. Common drain region (2
5), a gate (26φ) connected to the clock line φ formed by a metal line, address signal lines A, ~An, and inverted addresses formed one after another on the address signal lines A, ~An, respectively. Signal line A0. ~A''n) (26e) to (26n) selectively connected to A"n. Note that the address signal line that supplies an address signal to the gate of the first parallel P-channel MOSFET is A, ~A"n.
An8 and Ao which inverts this, ~A*n8,
The address signal lines that supply address signals to the gates of the second parallel P-channel MOSFET are Ann+1 to An, and the address signal lines that invert this are A11n8, 1 to
A”n.

実施例の動作を第2図の等価回路を参照して説明する。The operation of the embodiment will be explained with reference to the equivalent circuit shown in FIG.

全てのMOSFETのゲートがアドレス信号線Aゆ〜A
nに接続される単位回路は全てのアドレス信号A、〜A
nがハイレベルとなるとき、その第1の並列Pチャンネ
ルMOS F E T(21*)〜(21n八)および
第2の並列PチャンネルMOSFET(21n八−+)
〜(21n)の全てのMOSFETがオフし、直列Nチ
ャンネルM OS F E T (22* )〜(22
n)が全てオンする。ここで、クロックφに同期してM
OSFET(21φ)がオフ、(22φ)がオンするこ
とによって、ワード線がv0線より遮断され、VSS線
に接続される。
The gates of all MOSFETs are connected to the address signal line A~A
The unit circuit connected to n receives all address signals A, ~A
When n becomes high level, the first parallel P-channel MOSFET (21*) to (21n8) and the second parallel P-channel MOSFET (21n8-+)
All MOSFETs ~(21n) are turned off, and the series N-channel MOSFET (22*) ~(22
n) are all turned on. Here, in synchronization with clock φ, M
By turning off OSFET (21φ) and turning on OSFET (22φ), the word line is cut off from the v0 line and connected to the VSS line.

このとき、一方の配線および負荷の寄生容量Cに充電さ
れている電荷は第1の並列PチャンネルM OS F 
E T(21=)〜(21n八)の共通ソース領域の拡
散抵抗Rを介して放電され、他方のそれは第2の並列P
チャンネルM OS F E T (21n/*−t 
)〜(21n)の共通ソース領域の拡散抵抗Rを介して
放電される。したがって、一方のワード線は拡散抵抗が
付加されることによって、並列PチャンネルMO3FE
Tが形成されない従来例と比較してアドレス確定時間が
長くなるものの、他方のワード線は共通ソース領域の拡
散抵抗が2分の1となることによって、前者と等しい略
2分の1の時間でアドレスが確定する。
At this time, the charge stored in the parasitic capacitance C of one wiring and the load is transferred to the first parallel P-channel MOSFET.
E T(21=) to (21n8) are discharged through the diffused resistance R of the common source region, and the other one is discharged through the second parallel P
Channel MOS FET (21n/*-t
) to (21n) are discharged through the diffused resistor R of the common source region. Therefore, one word line is connected to a parallel P-channel MO3FE by adding a diffusion resistor.
Although the address determination time is longer than in the conventional example in which T is not formed, the other word line can be fixed in about half the time as the former because the diffusion resistance of the common source region is halved. The address is confirmed.

(ト)発明の詳細 な説明したようにこの発明によれば、 (1)高レベルのP′″拡散をすることなくワード線の
実効抵抗を低下させることができ、高速化に対応できる
(G) As described in detail, according to the present invention, (1) the effective resistance of the word line can be lowered without high-level P'' diffusion, and high speed operation can be achieved.

(2) ワード線の線幅を広くすることなくワード線の
実効抵抗を低下させることができるため、高集積化に対
応できる。
(2) Since the effective resistance of the word line can be lowered without increasing the line width of the word line, it is possible to cope with high integration.

(3)2分割された記憶領域のアドレス確定時間を同じ
にすることができる。
(3) The address determination time of the two divided storage areas can be made the same.

という顕著な効果を奏するアドレスデコーダを提供する
ことができる。
It is possible to provide an address decoder that achieves this remarkable effect.

【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明の一実施例の構造を説明する部分パタ
ーン図、第2図はこの発明の一実施例の部分等価回路図
、第3図は従来例のブロック図、第4図は従来例の構造
を説明する部分パターン図、第5図は従来例の部分等価
回路図である。 (211) −(21J〜(21n)・・・並列Pチャ
ンネルMOSFET、  (22φ) 、 (22= 
)〜(22n) ・・・直列NチャンネルM OS F
 E T 、  (23a) 、 (23b)”・イン
バータ、(24)・・・ソース領域、(25)・・・ド
レイン領域、 (26φ) −(2L)〜(26n)=
ゲート、 A、〜An・・・アドレス信号、 A1.〜
A”n・・・反転アドレス信号、 C・・・寄生容量、
 R・・・拡散抵抗。
[Brief Description of the Drawings] Fig. 1 is a partial pattern diagram explaining the structure of an embodiment of this invention, Fig. 2 is a partial equivalent circuit diagram of an embodiment of this invention, and Fig. 3 is a block diagram of a conventional example. 4 are partial pattern diagrams for explaining the structure of the conventional example, and FIG. 5 is a partial equivalent circuit diagram of the conventional example. (211) −(21J~(21n)...Parallel P-channel MOSFET, (22φ), (22=
) ~ (22n) ...Series N channel MOS F
E T , (23a), (23b)” inverter, (24) source region, (25) drain region, (26φ) −(2L) to (26n)=
Gate, A, ~An...address signal, A1. ~
A"n...inverted address signal, C...parasitic capacitance,
R...Diffusion resistance.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ワード線と第1の電位線間に形成され、アドレス
信号をゲート入力する直列MOSFETと、この直列M
OSFETに隣接する第1の領域においてワード線と第
2の電位線間に形成され、2分割されたアドレス信号の
一方をゲート入力する第1の並列MOSFETと、直列
MOSFETに隣接する第2の領域においてワード線と
第2の電位線間に形成され、2分割された他方のアドレ
ス信号をゲート入力する第2の並列MOSFETからな
るアドレスデコーダ。
(1) A series MOSFET formed between the word line and the first potential line and inputting the address signal to the gate, and this series MOSFET
A first parallel MOSFET formed between a word line and a second potential line in a first region adjacent to the OSFET and inputting one of the two divided address signals as a gate input, and a second region adjacent to the series MOSFET. An address decoder comprising a second parallel MOSFET formed between the word line and the second potential line in which the other divided address signal is input to the gate.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0798989A (en) * 1993-09-29 1995-04-11 Sony Corp Control circuit for semiconductor memory

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0798989A (en) * 1993-09-29 1995-04-11 Sony Corp Control circuit for semiconductor memory

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