JPH02243247A - 送り誤差補正方法 - Google Patents
送り誤差補正方法Info
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- JPH02243247A JPH02243247A JP6114089A JP6114089A JPH02243247A JP H02243247 A JPH02243247 A JP H02243247A JP 6114089 A JP6114089 A JP 6114089A JP 6114089 A JP6114089 A JP 6114089A JP H02243247 A JPH02243247 A JP H02243247A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 206010034719 Personality change Diseases 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
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- Numerical Control (AREA)
- Automatic Control Of Machine Tools (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は直交する座標軸に沿って駆動するテーブルを
備えた工作機械におけるテーブル送り量の誤差を補正す
るピッチエラー補正方法に関する。
備えた工作機械におけるテーブル送り量の誤差を補正す
るピッチエラー補正方法に関する。
従来のこの種のピッチエラー補正方法を第３図を参照し
つつ説明する。
つつ説明する。
第３図は従来のピッチエラー補正方法を実施する場合の
工作機械の要部を示す構成図である。
工作機械の要部を示す構成図である。
工作機械は、第３図に示す如く、Ｘ軸方向に駆動するＸ
テーブル（１）と、Ｙ軸方向に駆動するＸテーブル（２
） とを備え、Ｘテーブル（１）はＸ軸モータ（３）
の駆動力を得たボールネジ（４）によってＸ軸方向に、
Ｘテーブル（２）はＹ軸モータ（５）の駆動力を得たボ
ールネジ（６）によってＹ軸方向に制御装置（７）の送
り指令に基づいてそれぞれ駆動するように構成されてい
る。尚、第３図における（８） 、（ａ）はＸテーブル
（１）＆びＹテーブル（２）を直進するように案内する
ガイドレールである。
テーブル（１）と、Ｙ軸方向に駆動するＸテーブル（２
） とを備え、Ｘテーブル（１）はＸ軸モータ（３）
の駆動力を得たボールネジ（４）によってＸ軸方向に、
Ｘテーブル（２）はＹ軸モータ（５）の駆動力を得たボ
ールネジ（６）によってＹ軸方向に制御装置（７）の送
り指令に基づいてそれぞれ駆動するように構成されてい
る。尚、第３図における（８） 、（ａ）はＸテーブル
（１）＆びＹテーブル（２）を直進するように案内する
ガイドレールである。
而して、Ｘテーブル（１）及びＸテーブル（２）をボー
ルネジ（４）及び（６）を介してＸ軸方向及びＹ軸方向
に駆動する場合には、各テーブル（１）（２）の移動精
度はそれぞれのボールネジ（４）、（６）の送り精度に
左右される。即ち、・ボールネジ（４） （６）の
送り誤差がそのまま各テーブル（１）、（２）の移動距
離の誤差になるため、このようなピッチ送り誤差（ピッ
チエラー）を補正する必要がある。
ルネジ（４）及び（６）を介してＸ軸方向及びＹ軸方向
に駆動する場合には、各テーブル（１）（２）の移動精
度はそれぞれのボールネジ（４）、（６）の送り精度に
左右される。即ち、・ボールネジ（４） （６）の
送り誤差がそのまま各テーブル（１）、（２）の移動距
離の誤差になるため、このようなピッチ送り誤差（ピッ
チエラー）を補正する必要がある。
そこで、ピッチエラーの測定及びその補正方法について
説明する。従来のピッチエラーを測定する場合には、ま
ずＸテーブル（１）をテーブルのストローク内の１ケ所
（ストローク略中央）に位置させ、Ｘテーブル（１）の
６動方向と並行に且つＸテーブル（１）中央にレーザ光
が走るようにレーザ発振器（９）を設置する。そしてこ
のレーザ光と同軸上に干渉ミラー（ｌＯ）と反射ミラー
（１１）をセットし、Ｘテーブル（１）をフルストロー
ク移動させてもレーザ光が干渉ミラー（１０）を通過し
て反射ミラー（１１）で反射した後、再度干渉ミラー（
ｌＯ）を通過してレーザ発振器（９）の受光口に戻るよ
うにレーザ発振器（９）を設置する。この時、Ｙ＠番士
ストローク内のどの位置でもよいが、通常はストローク
中央に位置させる。
説明する。従来のピッチエラーを測定する場合には、ま
ずＸテーブル（１）をテーブルのストローク内の１ケ所
（ストローク略中央）に位置させ、Ｘテーブル（１）の
６動方向と並行に且つＸテーブル（１）中央にレーザ光
が走るようにレーザ発振器（９）を設置する。そしてこ
のレーザ光と同軸上に干渉ミラー（ｌＯ）と反射ミラー
（１１）をセットし、Ｘテーブル（１）をフルストロー
ク移動させてもレーザ光が干渉ミラー（１０）を通過し
て反射ミラー（１１）で反射した後、再度干渉ミラー（
ｌＯ）を通過してレーザ発振器（９）の受光口に戻るよ
うにレーザ発振器（９）を設置する。この時、Ｙ＠番士
ストローク内のどの位置でもよいが、通常はストローク
中央に位置させる。
続いて、制御装置（７）から任意の一定穆動距離を指令
し、Ｘテーブル（１）を駆動させると、指令した移動距
離と実際にＸテーブル（１）が６動した距離との間には
若干のピッチエラーが生じる。このピッチエラーをレー
ザ発振器（１）とピッチエラー計算器（１２）とで検出
及び算出し、算出した値からデータ作成器（１３）によ
って補正データを作成する。ここでＸ軸の原点位置から
フルストロークまでを約１／１０〜１／２０程度に等分
し、原点位置からその等分した位置までの距離を随時制
御装置（７）にて指令する。更に、その送りを繰り返し
行ない、原点からストロークエンド間を一往復させてそ
の平均値を送り誤差として６動した各位置でのテーブル
送り誤差の補正データをそれぞれ作成し、ｘ軸ストロー
ク内のピッチエラー補正データ群を作成する０以上の方
法でＹ軸に関しても同様にピッチエラー補正データ群を
作成する。
し、Ｘテーブル（１）を駆動させると、指令した移動距
離と実際にＸテーブル（１）が６動した距離との間には
若干のピッチエラーが生じる。このピッチエラーをレー
ザ発振器（１）とピッチエラー計算器（１２）とで検出
及び算出し、算出した値からデータ作成器（１３）によ
って補正データを作成する。ここでＸ軸の原点位置から
フルストロークまでを約１／１０〜１／２０程度に等分
し、原点位置からその等分した位置までの距離を随時制
御装置（７）にて指令する。更に、その送りを繰り返し
行ない、原点からストロークエンド間を一往復させてそ
の平均値を送り誤差として６動した各位置でのテーブル
送り誤差の補正データをそれぞれ作成し、ｘ軸ストロー
ク内のピッチエラー補正データ群を作成する０以上の方
法でＹ軸に関しても同様にピッチエラー補正データ群を
作成する。
このようにして作成されたＸ軸、Ｙ軸の各ピッチエラー
補正データ群が制御装置（７）のピッチエラー補正デー
タエリアに入力された後、制御装置（７）によって原点
位置から測定の時と同じ等分した位置毎にテーブル送り
誤差補正が行なわれる。
補正データ群が制御装置（７）のピッチエラー補正デー
タエリアに入力された後、制御装置（７）によって原点
位置から測定の時と同じ等分した位置毎にテーブル送り
誤差補正が行なわれる。
従来のピッチエラー補正方法は、上述の如くＸ、Ｘテー
ブル（１） （２）のＸ軸方向とＹ軸方。向との補
正値はそれぞれ独立しており、それぞれの補正値を求め
た中央位置においては、ピッチエラーを正確に補正する
ことができる。しかしながら、Ｘテーブル（１）がＸ軸
の＋、−のいずれかのストロークエンドに位置している
場合には、若干のピッチング（上下方向への傾き）を生
じ、このピッチングがそのままＹ軸のローリング及びヨ
ーイングをもたらしてＹ軸方向のピッチエラーに影響を
及ぼし、また、逆にＸテーブル（２）がＹ軸の＋、−の
いずれかのストロークエンドに位置していると、Ｘ軸方
向のピッチエラーに影響を及ぼし、Ｘ、Ｙ軸方向のピッ
チエラーは相互に密接に関係している。従って、Ｘ、Ｙ
軸方向を無関係に画一的に補正すると正確な補正をする
ことができない、また、Ｘ、Ｘテーブル（１） 、（２
）上の被加工物の重量もピッチエラーに影響を及ぼすし
、更にその補正は不正確なものになる。
ブル（１） （２）のＸ軸方向とＹ軸方。向との補
正値はそれぞれ独立しており、それぞれの補正値を求め
た中央位置においては、ピッチエラーを正確に補正する
ことができる。しかしながら、Ｘテーブル（１）がＸ軸
の＋、−のいずれかのストロークエンドに位置している
場合には、若干のピッチング（上下方向への傾き）を生
じ、このピッチングがそのままＹ軸のローリング及びヨ
ーイングをもたらしてＹ軸方向のピッチエラーに影響を
及ぼし、また、逆にＸテーブル（２）がＹ軸の＋、−の
いずれかのストロークエンドに位置していると、Ｘ軸方
向のピッチエラーに影響を及ぼし、Ｘ、Ｙ軸方向のピッ
チエラーは相互に密接に関係している。従って、Ｘ、Ｙ
軸方向を無関係に画一的に補正すると正確な補正をする
ことができない、また、Ｘ、Ｘテーブル（１） 、（２
）上の被加工物の重量もピッチエラーに影響を及ぼすし
、更にその補正は不正確なものになる。
つまり、従来の如くｘ％Ｙテーブル（１） （２）
のストローク内の１ケ所のみによる補正値の測定では、
ピッチエラーを正確に補正することができず、特に高精
度化を目的としたピッチエラーの補正をすることができ
ないという課題があった。
のストローク内の１ケ所のみによる補正値の測定では、
ピッチエラーを正確に補正することができず、特に高精
度化を目的としたピッチエラーの補正をすることができ
ないという課題があった。
この発明は、上記課題を解決するためになされたもので
、Ｘ％Ｙテーブルの相互の位置を２次元座標として把持
し、Ｘ％Ｙテーブルの各座標位置におけるＸ、Ｙ方向の
ピッチエラーを関連付けた２次元的な補正をすることに
よってＸ％Ｙテーブルのピッチング、ローリング及びヨ
ーイングなどの姿勢変化による影響を抑制してより正確
にピッチエラーを補正することができるピッチエラー補
正方法を提供できるものである。
、Ｘ％Ｙテーブルの相互の位置を２次元座標として把持
し、Ｘ％Ｙテーブルの各座標位置におけるＸ、Ｙ方向の
ピッチエラーを関連付けた２次元的な補正をすることに
よってＸ％Ｙテーブルのピッチング、ローリング及びヨ
ーイングなどの姿勢変化による影響を抑制してより正確
にピッチエラーを補正することができるピッチエラー補
正方法を提供できるものである。
本発明のピッチエラー補正方法は、Ｘ軸方向に移動する
Ｘテーブルの該Ｘ軸方向のストロークを等分して各Ｘ座
標値を設定するとともに、該Ｘ軸に直交するＹ軸方向に
移動するＸテーブルの該Ｙ軸方向のストロークを等分し
て各Ｙ座標値を設定してＸ、Ｙ座標をマトリックス化し
、その後、方のテーブルの座標値の各位置における、他
方のテーブルの座標値の各位置におけるテーブル送り誤
差を測定することにより作成された補正データ群をマト
リックス構成し、該マトリックス上の各位置における補
正データによりテーブル送り誤差補正をＸ％Ｙ軸同時に
行なうように構成されたものである。
Ｘテーブルの該Ｘ軸方向のストロークを等分して各Ｘ座
標値を設定するとともに、該Ｘ軸に直交するＹ軸方向に
移動するＸテーブルの該Ｙ軸方向のストロークを等分し
て各Ｙ座標値を設定してＸ、Ｙ座標をマトリックス化し
、その後、方のテーブルの座標値の各位置における、他
方のテーブルの座標値の各位置におけるテーブル送り誤
差を測定することにより作成された補正データ群をマト
リックス構成し、該マトリックス上の各位置における補
正データによりテーブル送り誤差補正をＸ％Ｙ軸同時に
行なうように構成されたものである。
（作用）
この発明のピッチエラー補正方法によれば、直交する座
標軸のなす座標内をマトリックス化することにより、任
意の位置にあるテーブルのピッチエラーをそれぞれの座
標位置における補正値に基づき２軸間時に補正する。
標軸のなす座標内をマトリックス化することにより、任
意の位置にあるテーブルのピッチエラーをそれぞれの座
標位置における補正値に基づき２軸間時に補正する。
以下第１図及び第２図に示す実施例に基づいて従来と同
−又は相当部分には同一符号を付して本発明の詳細な説
明する。
−又は相当部分には同一符号を付して本発明の詳細な説
明する。
まず、従来と同様にＸテーブル（１）のＹ軸方向中央に
干渉ミラー（１０）及び反射ミラー（１１）を距離を隔
ててそれぞれ配置し、レーザ発振器（９）を、該発振器
（９）と反射ミラー（１１）とで干渉ミラー（ｌＯ）を
挟む位置に配置して、Ｘテーブル（２）を固定したまま
Ｘテーブル（１）をＸ軸方向に移動させてＸ軸方向のピ
ッチエラーを測定する。
干渉ミラー（１０）及び反射ミラー（１１）を距離を隔
ててそれぞれ配置し、レーザ発振器（９）を、該発振器
（９）と反射ミラー（１１）とで干渉ミラー（ｌＯ）を
挟む位置に配置して、Ｘテーブル（２）を固定したまま
Ｘテーブル（１）をＸ軸方向に移動させてＸ軸方向のピ
ッチエラーを測定する。
次いで、Ｘテーブル（２）を原点位置まで移動させて、
Ｘ％Ｙ軸各軸向方向ける各テーブル（１）（２）のスト
ローク内を第２図に示す如くマトリックス化するために
Ｘ軸方向、Ｙ軸方向の各ストロークを等分してＸ座標値
（ｘ、％Ｘ２、ＸＳ、・・・ ｘｎ）及びＹ座標値（ｙ
Ｉ、ｙ７、ｙ３、・・・、ｙｎ）をそれぞれ設定する。
Ｘ％Ｙ軸各軸向方向ける各テーブル（１）（２）のスト
ローク内を第２図に示す如くマトリックス化するために
Ｘ軸方向、Ｙ軸方向の各ストロークを等分してＸ座標値
（ｘ、％Ｘ２、ＸＳ、・・・ ｘｎ）及びＹ座標値（ｙ
Ｉ、ｙ７、ｙ３、・・・、ｙｎ）をそれぞれ設定する。
そして原点位置にあるＸテーブル（２）を第１図にＡで
示すＹ座標値３’ｌの位置に移動させ、更にＸテーブル
（２）の移動に合せてレーザ発振器（９）を移動させて
レーザ光の光軸を干渉ミラー（ｌＯ）及び反射ミラー（
１１）の成す軸に一致させる。然る後、Ｙ座標値ｙ１に
おいてＸテーブル（１）を上述したと同様に移動させて
座標値（ｘ＋、ｙＩ）、（Ｘ２、ｙＩ）、（ＸＳ、ｙ、
）、・・・、（Ｘｎｂｙｔ ）の各位置におけるピッチ
エラーを測定する０次いでＸテーブル（２） をＹ座標
ｙ２の位置に１ピツチだけ移動させ、その位置でＸテー
ブル（１）を８勤させて同様に各座標値におけるピッチ
エラーを測定し、以下同様にＹ座標値ｙ５、・・・、ｙ
Ｉ、についてもピッチエラーを測定する。このようにし
て得られたピッチエラーに対してそれぞれの補正データ
を作成し、Ｘ軸ストローク内のピッチエラー補正データ
群をピッチエラー計算器（１２）及びデータ作成器（１
３）によって作成する。この方法に基づいてＸテーブル
（２）についてもそのピッチエラー補正データ群を作成
する。
示すＹ座標値３’ｌの位置に移動させ、更にＸテーブル
（２）の移動に合せてレーザ発振器（９）を移動させて
レーザ光の光軸を干渉ミラー（ｌＯ）及び反射ミラー（
１１）の成す軸に一致させる。然る後、Ｙ座標値ｙ１に
おいてＸテーブル（１）を上述したと同様に移動させて
座標値（ｘ＋、ｙＩ）、（Ｘ２、ｙＩ）、（ＸＳ、ｙ、
）、・・・、（Ｘｎｂｙｔ ）の各位置におけるピッチ
エラーを測定する０次いでＸテーブル（２） をＹ座標
ｙ２の位置に１ピツチだけ移動させ、その位置でＸテー
ブル（１）を８勤させて同様に各座標値におけるピッチ
エラーを測定し、以下同様にＹ座標値ｙ５、・・・、ｙ
Ｉ、についてもピッチエラーを測定する。このようにし
て得られたピッチエラーに対してそれぞれの補正データ
を作成し、Ｘ軸ストローク内のピッチエラー補正データ
群をピッチエラー計算器（１２）及びデータ作成器（１
３）によって作成する。この方法に基づいてＸテーブル
（２）についてもそのピッチエラー補正データ群を作成
する。
次いで、作成されたＸ軸方向、Ｙ軸方向それぞれのピッ
チエラー補正データ群を制御装置（７） に入力し、第
２図に示す如＜Ｘ、Ｘテーブル（１）、（２）のストロ
ーク内をマトリックス構成し、各位置におけるピッチエ
ラー補正データ（ｅつ、ｅｙ）によってストローク範囲
内を２次元的なピッチエラー補正を２軸以上同時に行な
う、この際、Ｘ、Ｙ座標のピッチが細かければ細かいほ
ど補正ポイント数が増し、マトリックス化の領域が面に
近くなって補正精度が向上する。
チエラー補正データ群を制御装置（７） に入力し、第
２図に示す如＜Ｘ、Ｘテーブル（１）、（２）のストロ
ーク内をマトリックス構成し、各位置におけるピッチエ
ラー補正データ（ｅつ、ｅｙ）によってストローク範囲
内を２次元的なピッチエラー補正を２軸以上同時に行な
う、この際、Ｘ、Ｙ座標のピッチが細かければ細かいほ
ど補正ポイント数が増し、マトリックス化の領域が面に
近くなって補正精度が向上する。
尚、上記実施例ではＸ、Ｘテーブル（１） （２）
が無負荷状態の場合についてのみ説明したが、例えば被
加工物の重量が各テーブル（１） （２）よりも大
きい場合や加工液を充満させるテーブル構造の場合など
では、予めテーブル負荷を想定し、重量負荷を加えた状
態下で上述の如くピッチエラーを測定し、ピッチエラー
補正群を作成しておくことによって、制御装置（７）内
でテーブルに負荷のある場合とない場合について使い分
けることができる。
が無負荷状態の場合についてのみ説明したが、例えば被
加工物の重量が各テーブル（１） （２）よりも大
きい場合や加工液を充満させるテーブル構造の場合など
では、予めテーブル負荷を想定し、重量負荷を加えた状
態下で上述の如くピッチエラーを測定し、ピッチエラー
補正群を作成しておくことによって、制御装置（７）内
でテーブルに負荷のある場合とない場合について使い分
けることができる。
（発明の効果）
以上本発明によれば、テーブルの移動による姿勢変化（
ピッチング、ヨーイングなと）による影響を最小限に抑
制したピッチエラー補正をすることができる。
ピッチング、ヨーイングなと）による影響を最小限に抑
制したピッチエラー補正をすることができる。
第１図は本発明のピッチエラー補正方法を実施する状態
を示す工作機械の要部を示す構成図、第２図はピッチエ
ラー補正データ群をマトリックス化した座標図、第３図
は従来のピッチエラー補正方法を説明するための第１図
相当図である。 各図において、（１）はＸテーブル、（２） はＹテー
ブル、（９）はレーザ発振器、（ｉｏ）は干渉ミラー
（１１）は反射ミラー、（１２）はピッチエラー計算器
、（１３）はデータ作成器である。 尚、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
を示す工作機械の要部を示す構成図、第２図はピッチエ
ラー補正データ群をマトリックス化した座標図、第３図
は従来のピッチエラー補正方法を説明するための第１図
相当図である。 各図において、（１）はＸテーブル、（２） はＹテー
ブル、（９）はレーザ発振器、（ｉｏ）は干渉ミラー
（１１）は反射ミラー、（１２）はピッチエラー計算器
、（１３）はデータ作成器である。 尚、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- Ｘ軸方向に移動するＸテーブルの該Ｘ軸方向のストロー
クを等分して各Ｘ座標値を設定するとともに、該Ｘ軸に
直交するＹ軸方向に移動するＹテーブルの該Ｙ軸方向の
ストロークを等分して各Ｙ座標値を設定してＸ、Ｙ座標
をマトリックス化し、その後、一方のテーブルの座標値
の各位置において、他方のテーブルの座標値の各位置に
おけるテーブル送り誤差を測定することにより作成され
た補正データ群をマトリックス構成し、該マトリックス
上の各位置における補正データによりテーブル送り誤差
補正をＸ、Ｙ軸同時に行なうことを特徴とするピッチエ
ラー補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1061140A JPH0818227B2 (ja) | 1989-03-14 | 1989-03-14 | 送り誤差補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1061140A JPH0818227B2 (ja) | 1989-03-14 | 1989-03-14 | 送り誤差補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02243247A true JPH02243247A (ja) | 1990-09-27 |
| JPH0818227B2 JPH0818227B2 (ja) | 1996-02-28 |
Family
ID=13162493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1061140A Expired - Lifetime JPH0818227B2 (ja) | 1989-03-14 | 1989-03-14 | 送り誤差補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0818227B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1327923A2 (en) * | 2002-01-15 | 2003-07-16 | Mori Seiki Co., Ltd. | Correction apparatus for NC lathe |
| JP2008269316A (ja) * | 2007-04-20 | 2008-11-06 | Makino Milling Mach Co Ltd | 数値制御工作機械及び数値制御装置 |
| JP2010257388A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Nakamura Tome Precision Ind Co Ltd | 旋盤及び旋盤における刃物台位置の補正方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61214950A (ja) * | 1985-03-18 | 1986-09-24 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Ｘ−ｙテ−ブルの駆動・制御装置 |
-
1989
- 1989-03-14 JP JP1061140A patent/JPH0818227B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61214950A (ja) * | 1985-03-18 | 1986-09-24 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Ｘ−ｙテ−ブルの駆動・制御装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1327923A2 (en) * | 2002-01-15 | 2003-07-16 | Mori Seiki Co., Ltd. | Correction apparatus for NC lathe |
| EP1327923A3 (en) * | 2002-01-15 | 2008-01-23 | Mori Seiki Co., Ltd. | Correction apparatus for NC lathe |
| JP2008269316A (ja) * | 2007-04-20 | 2008-11-06 | Makino Milling Mach Co Ltd | 数値制御工作機械及び数値制御装置 |
| JP2010257388A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Nakamura Tome Precision Ind Co Ltd | 旋盤及び旋盤における刃物台位置の補正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0818227B2 (ja) | 1996-02-28 |
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