JPH02228086A - フッ素系エキシマレーザーの出力安定化制御方法およびその装置 - Google Patents
フッ素系エキシマレーザーの出力安定化制御方法およびその装置Info
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- JPH02228086A JPH02228086A JP4818589A JP4818589A JPH02228086A JP H02228086 A JPH02228086 A JP H02228086A JP 4818589 A JP4818589 A JP 4818589A JP 4818589 A JP4818589 A JP 4818589A JP H02228086 A JPH02228086 A JP H02228086A
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- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用骨W]
本発明は、フッ素含有ガスを使用するエキシマレーザ−
装置においてフッ素濃度を制御することにより出力を安
定化させる方法およびその装置に関するものである。
装置においてフッ素濃度を制御することにより出力を安
定化させる方法およびその装置に関するものである。
[従来の技術およびその解決しようとする課題]フッ素
系エキシマレーザ−は、ガス成分としてAr−F2−H
e、NeまたはKr−F2−)1e、Neが使用されて
おり、上記ガス中に含まれるフッ素の含有量は普通0.
1〜1%程度である。
系エキシマレーザ−は、ガス成分としてAr−F2−H
e、NeまたはKr−F2−)1e、Neが使用されて
おり、上記ガス中に含まれるフッ素の含有量は普通0.
1〜1%程度である。
このエキシマレーザ−装置は、作動中に出力の低下が起
きる場合があるが、その主な原因はガス中のフッ素濃度
の低下によるもので、そのため迅速なフッ素濃度の測定
とその結果をフィードバックさせてフッ素濃度を制御す
る装置の開発が望まれていた。
きる場合があるが、その主な原因はガス中のフッ素濃度
の低下によるもので、そのため迅速なフッ素濃度の測定
とその結果をフィードバックさせてフッ素濃度を制御す
る装置の開発が望まれていた。
本出願人は、特願昭63−330115 rフッ素濃
度測定方法およびその装置」、平成元年1月30日出願
の「含フツ素ガス成分濃度測定方法およびそめ装置j等
において、フッ素ガスを酸素や二酸化炭素等の他のガス
に定量的に変換せしめた後、その濃度を検知器により検
出することにより、フッ素を含むガス中のフッ素濃度を
迅速に測定する方法を提案した。
度測定方法およびその装置」、平成元年1月30日出願
の「含フツ素ガス成分濃度測定方法およびそめ装置j等
において、フッ素ガスを酸素や二酸化炭素等の他のガス
に定量的に変換せしめた後、その濃度を検知器により検
出することにより、フッ素を含むガス中のフッ素濃度を
迅速に測定する方法を提案した。
本出願人はさらに上記フッ素濃度の測定方法に基づいて
検知器による情報をフッ素ガス供給系にうまくフィード
バックさせ、ガス中のフッ素濃度をコントロールできる
ような方法、装置を案出した0本発明により、エキシマ
ガスレーザー中のフッ素濃度を一定に保ち安定した出力
を維持することを目的とした装置および方法を提供でき
ることとなった。
検知器による情報をフッ素ガス供給系にうまくフィード
バックさせ、ガス中のフッ素濃度をコントロールできる
ような方法、装置を案出した0本発明により、エキシマ
ガスレーザー中のフッ素濃度を一定に保ち安定した出力
を維持することを目的とした装置および方法を提供でき
ることとなった。
[問題点を解決するための手段]
すなわち本発明は、レーザー装置内部のフッ素等を含む
試料ガス中のフッ素を他のガスに変換した後、検出器に
導き濃度を測定し、濃度測定信号を受けてフッ素ガス濃
度を設定値まで補正するための演算を行った後、演算結
果に従い装置内のフッ素ガス濃度が設定値になるようフ
ッ素ガス導入量をコントロールすることを特徴とするフ
ッ素系エキシマレーザ−の出力安定化制御方法、および
レーザー装置内部のフッ素等を含む試料ガス中のフッ素
を他のガスに変換した後、検出器に導き濃度を測定する
測定部、濃度測定信号を受けてフッ素ガス濃度を設定値
まで補正するための演算部、演算結果に従い装置内のフ
ッ素ガス濃度を設定値まで操作するための流量制御装置
を有する供給部よりなるフッ素系エキシマレーザ−の出
力安定化制御装置である。
試料ガス中のフッ素を他のガスに変換した後、検出器に
導き濃度を測定し、濃度測定信号を受けてフッ素ガス濃
度を設定値まで補正するための演算を行った後、演算結
果に従い装置内のフッ素ガス濃度が設定値になるようフ
ッ素ガス導入量をコントロールすることを特徴とするフ
ッ素系エキシマレーザ−の出力安定化制御方法、および
レーザー装置内部のフッ素等を含む試料ガス中のフッ素
を他のガスに変換した後、検出器に導き濃度を測定する
測定部、濃度測定信号を受けてフッ素ガス濃度を設定値
まで補正するための演算部、演算結果に従い装置内のフ
ッ素ガス濃度を設定値まで操作するための流量制御装置
を有する供給部よりなるフッ素系エキシマレーザ−の出
力安定化制御装置である。
本発明の装置は第1図に示すような装置よりなる。まず
、レーザー装置内のガスをカラム■に流す、カラム■は
前記本出願人の発明に詳述しているように、アルカリ金
属またはアルカリ土類金属の化合物、例えば水酸化?I
(水酸化リチウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム
、水酸化カルシウム、水酸化マグネシウム、水酸化スト
ロンチウム、水酸化バリウム等)、酸化物(例えば酸化
リチウム、酸化ナトリウム、酸化カリウム、酸化カルシ
ウム、酸化マグネシウム、酸化バリウム等)、炭酸塩(
例えば炭酸リチウム、炭酸ソーダ、炭酸カリウム、炭酸
マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸ストロンチウム、
炭酸バリウム等)、重炭酸塩、硫酸塩、硝酸塩またはソ
ーダライム(水酸化カルシウム、酸化カルシウム、水酸
化ナトリウム、水等の混合物)からなる充填層を使用す
ることができ、この場合下記に示す化学反応により定量
的に酸素が発生する。
、レーザー装置内のガスをカラム■に流す、カラム■は
前記本出願人の発明に詳述しているように、アルカリ金
属またはアルカリ土類金属の化合物、例えば水酸化?I
(水酸化リチウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム
、水酸化カルシウム、水酸化マグネシウム、水酸化スト
ロンチウム、水酸化バリウム等)、酸化物(例えば酸化
リチウム、酸化ナトリウム、酸化カリウム、酸化カルシ
ウム、酸化マグネシウム、酸化バリウム等)、炭酸塩(
例えば炭酸リチウム、炭酸ソーダ、炭酸カリウム、炭酸
マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸ストロンチウム、
炭酸バリウム等)、重炭酸塩、硫酸塩、硝酸塩またはソ
ーダライム(水酸化カルシウム、酸化カルシウム、水酸
化ナトリウム、水等の混合物)からなる充填層を使用す
ることができ、この場合下記に示す化学反応により定量
的に酸素が発生する。
F2 +Ca(OH)2−+ CaF2 ++I20
+1/202 =lal一方アルカリアルカリ金属ルカ
リ土類金属の化合物の炭酸塩または重炭酸塩をカラム■
として使用した場合は酸素とともに二酸化炭素も定置的
に発生する。
+1/202 =lal一方アルカリアルカリ金属ルカ
リ土類金属の化合物の炭酸塩または重炭酸塩をカラム■
として使用した場合は酸素とともに二酸化炭素も定置的
に発生する。
カラム■は、室温においても使用可能であるが、100
℃以上に保つのが好ましい。カラムおよびカラムまでの
導入管の材質はモネル、ステンレス鋼等のものが使用で
きるが、使用前にフッ素によるパッシベーションを行う
必要がある。
℃以上に保つのが好ましい。カラムおよびカラムまでの
導入管の材質はモネル、ステンレス鋼等のものが使用で
きるが、使用前にフッ素によるパッシベーションを行う
必要がある。
カラムは、8m−φで約100mm程度あれば十分であ
る。
る。
上述のように、カラム■によって定量的に他のガスに変
換され、これを含むガスは検知器よりなる測定部に導入
される。
換され、これを含むガスは検知器よりなる測定部に導入
される。
測定部■では、カラム■によって発生するガスの濃度を
測定して元のフッ素ガス濃度に換算するもので、その濃
度を迅速に測定でき測定した結果を電気信号に変えられ
る装置であればどんなものでも使用できるが、各種セン
サーは迅速にその濃度が測定でき、得られる情報が電気
信号であるので後述する制御系への伝送を考えても、極
めて優れた方法である。
測定して元のフッ素ガス濃度に換算するもので、その濃
度を迅速に測定でき測定した結果を電気信号に変えられ
る装置であればどんなものでも使用できるが、各種セン
サーは迅速にその濃度が測定でき、得られる情報が電気
信号であるので後述する制御系への伝送を考えても、極
めて優れた方法である。
変換ガスが酸素の場合に用いる酸素センサーは、検知部
が酸素イオン導電体で、両端の酸素濃度勾配により濃淡
電池を形成するものであれば、どんなものでも使用でき
るが、特にジルコニアに酸化カルシウム、酸化イツトリ
ウム等を固溶化させたいわゆる安定化ジルコニウムは、
高温において酸素イオン導電体となり、この焼結体を使
用することにより、未知試料の酸素濃度を測定開始後数
十秒という早さで正確に測定することができる。
が酸素イオン導電体で、両端の酸素濃度勾配により濃淡
電池を形成するものであれば、どんなものでも使用でき
るが、特にジルコニアに酸化カルシウム、酸化イツトリ
ウム等を固溶化させたいわゆる安定化ジルコニウムは、
高温において酸素イオン導電体となり、この焼結体を使
用することにより、未知試料の酸素濃度を測定開始後数
十秒という早さで正確に測定することができる。
このジルコニア式酸素センサーの場合の濃度測定方法と
しては、普通レーザー中のガスの圧力は大気圧より1
kg/cj以上高いので、レーサー装置に直結したバ
ルブを開くことによりガスはカラムに流れ込むが、バル
ブを開いた状態で数分間保つことにより、十分その濃度
を測定することができる。
しては、普通レーザー中のガスの圧力は大気圧より1
kg/cj以上高いので、レーサー装置に直結したバ
ルブを開くことによりガスはカラムに流れ込むが、バル
ブを開いた状態で数分間保つことにより、十分その濃度
を測定することができる。
また、変換ガスが炭酸ガスである場合には、センサーと
して赤外吸収率を測定できる装置等を用いて炭酸ガス濃
度を測定した後換算することによりフッ素ガス濃度を求
めることができる。
して赤外吸収率を測定できる装置等を用いて炭酸ガス濃
度を測定した後換算することによりフッ素ガス濃度を求
めることができる。
測定方法は、酸素センサーと同様である。
これら濃度の測定においては、初めに既知の濃度と測定
値の関係を検!線として求めておき、これにより測定値
を補正すればよい。
値の関係を検!線として求めておき、これにより測定値
を補正すればよい。
このように測定部■で測定した濃度信号は濃度I旨示と
して指示部■で計器等により表示することができる。こ
の信号はその後演算部■に伝送されることになるが、こ
れをジルコニア式酸素センサーに例をとって説明すると
、測定部■で得られた濃度信号(電圧0−5V D、
C,)は制御ケーブルで演算部■に伝送され、目標濃度
と指示値との補正量をプログラマブルコントローラー等
を用いて演算し、その結果(電圧出力0−5V D、
C,)を制御ケーブル等で伝送し、マスフローコントロ
ーラー等の流量制御装置を含む供給部で設定された流量
のフッ素ガスを導入するものである。演算部における補
正量の計算式は例えば下記の式等による。
して指示部■で計器等により表示することができる。こ
の信号はその後演算部■に伝送されることになるが、こ
れをジルコニア式酸素センサーに例をとって説明すると
、測定部■で得られた濃度信号(電圧0−5V D、
C,)は制御ケーブルで演算部■に伝送され、目標濃度
と指示値との補正量をプログラマブルコントローラー等
を用いて演算し、その結果(電圧出力0−5V D、
C,)を制御ケーブル等で伝送し、マスフローコントロ
ーラー等の流量制御装置を含む供給部で設定された流量
のフッ素ガスを導入するものである。演算部における補
正量の計算式は例えば下記の式等による。
×装置ガス量[cclX−XK・・・・・・(b)ただ
し、上式でMは目標濃度に達するまでの時間[min]
、Kは補正係数である。
し、上式でMは目標濃度に達するまでの時間[min]
、Kは補正係数である。
マスフローコントローラーは、普通関度ヲコントロール
できるバルブ、流量検出部および設定量との偏差値を調
整する部分よりなり、これにより設定した流量または設
定した導入量のガスが導入できるものである。
できるバルブ、流量検出部および設定量との偏差値を調
整する部分よりなり、これにより設定した流量または設
定した導入量のガスが導入できるものである。
エキシマガスレーザー装置の作動中に出力の低下の原因
として、ガス中のフッ素濃度の低下の他、酸素、その他
の不純物ガスの生成も考えられ、この場合の精製法とし
て種々の充填層、すなわち固定アルカリ充填層やゼオラ
イト充填層等を使用して、その充填層を通過させること
によりガス中の不純物を除去する方法を本出願人が特願
昭61−122206 r希ガスハライドエキシマレ
ーザ−ガスの精製法」や平成元年1月30日出願の「エ
キシマレーザ−ガスの精製方法並びにその装置」で提案
しているが、上記方法および装置と本発明の方法および
装置を組合せ、精製装置を使用しながらフッ素濃度を制
御する方法も必要に応じて採用することができる。
として、ガス中のフッ素濃度の低下の他、酸素、その他
の不純物ガスの生成も考えられ、この場合の精製法とし
て種々の充填層、すなわち固定アルカリ充填層やゼオラ
イト充填層等を使用して、その充填層を通過させること
によりガス中の不純物を除去する方法を本出願人が特願
昭61−122206 r希ガスハライドエキシマレ
ーザ−ガスの精製法」や平成元年1月30日出願の「エ
キシマレーザ−ガスの精製方法並びにその装置」で提案
しているが、上記方法および装置と本発明の方法および
装置を組合せ、精製装置を使用しながらフッ素濃度を制
御する方法も必要に応じて採用することができる。
[実施例]
以下、実施例により詳しく説明するが、本発明はかかる
実施例に限られるものではない。
実施例に限られるものではない。
実施例1
第1図に示す装置を用いて、本発明を実施した。すなわ
ち、エキシマレーザ−のガスとしてフッ素70.2L
クリプトン4.8Lヘリウム:952に設定した組成の
ものを使用し、レーザー発振前にその濃度を測定し、こ
の濃度を目標濃度として維持するようプログラマブルコ
ントローラー(演算部■)を設定する。
ち、エキシマレーザ−のガスとしてフッ素70.2L
クリプトン4.8Lヘリウム:952に設定した組成の
ものを使用し、レーザー発振前にその濃度を測定し、こ
の濃度を目標濃度として維持するようプログラマブルコ
ントローラー(演算部■)を設定する。
カラム■にはモネル製8φX100Lのカラムにソーダ
ライム8gを充填したものを用いた。
ライム8gを充填したものを用いた。
フッ素ガスが通過する配管は、5O5−316製のもの
を用い、カラム■、配管とも実施前にフッ素ガスによる
パフシベーシッンを行い使用した。
を用い、カラム■、配管とも実施前にフッ素ガスによる
パフシベーシッンを行い使用した。
また、供給部■はマスフローコントローラーを用い、C
b1式によりその導入量を調整した。
b1式によりその導入量を調整した。
レーザー装置発振後、30分毎にカラム■に接続してい
る配管の自動弁を2分間開け、ガス中のフッ素濃度を測
定し、自動的に低下分のフッ素ガスを供給した。
る配管の自動弁を2分間開け、ガス中のフッ素濃度を測
定し、自動的に低下分のフッ素ガスを供給した。
この結果レーザー装置の出力は非常に安定した状態を保
った。
った。
比較例
実施例と同じレーザー装置を用い、初めのガス成分を同
じにしたが、濃度の補正は行わず連続発振を行ったとこ
ろ、出力が次第に低下し、4時間後には、初期出力の5
0%になった。
じにしたが、濃度の補正は行わず連続発振を行ったとこ
ろ、出力が次第に低下し、4時間後には、初期出力の5
0%になった。
〔発明の効果J
本発明によれば、第1図で示すようなフッ素ガス濃度測
定装置、演算部、供給部を組み合わせて自動的にエキシ
マレーザ−ガス中のフッ素濃度を正確に測定し、その結
果を供給系にフィードバックすることにより、フッ素濃
度を自動的に制御することができるので、エキシマレー
ザ−の出力を極めて安定した形で維持することができる
という効果を奏する。
定装置、演算部、供給部を組み合わせて自動的にエキシ
マレーザ−ガス中のフッ素濃度を正確に測定し、その結
果を供給系にフィードバックすることにより、フッ素濃
度を自動的に制御することができるので、エキシマレー
ザ−の出力を極めて安定した形で維持することができる
という効果を奏する。
第1図は、本発明の装置の一例の概略図を示す。
■・・−・・・カラム ■・・・・・・測定部■・・
・・・・指示部(表示部) ■・・・・・・演算部 ■・・・・・・供給部第 図 ]6一
・・・・指示部(表示部) ■・・・・・・演算部 ■・・・・・・供給部第 図 ]6一
Claims (2)
- (1)レーザー装置内部のフッ素等を含む試料ガス中の
フッ素を他のガスに変換した後、検出器に導き濃度を測
定し、濃度測定信号を受けてフッ素ガス濃度を設定値ま
で補正するための演算を行った後、演算結果に従い装置
内のフッ素ガス濃度が設定値になるようフッ素ガス導入
量をコントロールすることを特徴とするフッ素系エキシ
マレーザーの出力安定化制御方法。 - (2)レーザー装置内部のフッ素等を含む試料ガス中の
フッ素を他のガスに変換した後、検出器に導き濃度を測
定する測定部、濃度測定信号を受けてフッ素ガス濃度を
設定値まで補正するための演算部、演算結果に従い装置
内のフッ素ガス濃度を設定値まで操作するための流量制
御装置を有する供給部よりなるフッ素系エキシマレーザ
ーの出力安定化制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4818589A JPH02228086A (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | フッ素系エキシマレーザーの出力安定化制御方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4818589A JPH02228086A (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | フッ素系エキシマレーザーの出力安定化制御方法およびその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02228086A true JPH02228086A (ja) | 1990-09-11 |
Family
ID=12796326
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4818589A Pending JPH02228086A (ja) | 1989-02-28 | 1989-02-28 | フッ素系エキシマレーザーの出力安定化制御方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02228086A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020535392A (ja) * | 2017-09-25 | 2020-12-03 | サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー | ガス放電光源におけるフッ素検出 |
JP2022545182A (ja) * | 2019-08-29 | 2022-10-26 | サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー | ガス放電光源におけるフッ素検出 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS639183A (ja) * | 1986-06-30 | 1988-01-14 | Komatsu Ltd | エキシマレ−ザのガス循環回路 |
JPH02112292A (ja) * | 1988-10-20 | 1990-04-24 | Mitsubishi Electric Corp | ハロゲンガスレーザのガス制御装置 |
-
1989
- 1989-02-28 JP JP4818589A patent/JPH02228086A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS639183A (ja) * | 1986-06-30 | 1988-01-14 | Komatsu Ltd | エキシマレ−ザのガス循環回路 |
JPH02112292A (ja) * | 1988-10-20 | 1990-04-24 | Mitsubishi Electric Corp | ハロゲンガスレーザのガス制御装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2020535392A (ja) * | 2017-09-25 | 2020-12-03 | サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー | ガス放電光源におけるフッ素検出 |
JP2022043093A (ja) * | 2017-09-25 | 2022-03-15 | サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー | ガス放電光源におけるフッ素検出 |
US11754541B2 (en) | 2017-09-25 | 2023-09-12 | Cymer, Llc | Fluorine detection in a gas discharge light source |
JP2022545182A (ja) * | 2019-08-29 | 2022-10-26 | サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー | ガス放電光源におけるフッ素検出 |
TWI820776B (zh) * | 2019-08-29 | 2023-11-01 | 美商希瑪有限責任公司 | 氣體放電光源中之氟偵測 |
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