JPH02206436A - 核磁気共鳴診断装置 - Google Patents
核磁気共鳴診断装置Info
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- JPH02206436A JPH02206436A JP1025239A JP2523989A JPH02206436A JP H02206436 A JPH02206436 A JP H02206436A JP 1025239 A JP1025239 A JP 1025239A JP 2523989 A JP2523989 A JP 2523989A JP H02206436 A JPH02206436 A JP H02206436A
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- JP
- Japan
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- magnetic field
- gradient magnetic
- coil
- temperature
- correction
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 101710162453 Replication factor A Proteins 0.000 description 1
- 102100035729 Replication protein A 70 kDa DNA-binding subunit Human genes 0.000 description 1
- 238000002583 angiography Methods 0.000 description 1
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
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- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、温度による磁場不均一を補正することができ
る核磁気共鳴診断装置(以下HRIという)に関するも
のである。
る核磁気共鳴診断装置(以下HRIという)に関するも
のである。
(従来の技術)
核磁気共鳴現象を用いて特定原子核に注目した被検体の
断層像を得るHRIは従来から知られている。
断層像を得るHRIは従来から知られている。
特開昭61−204551や特開昭63−244602
に、マグネット部の温度を検出し検出値に従ってコイル
に与える電流を定めて温度による主磁場の中心磁場強度
の時間的変動を補正する)IRIが示されている。
に、マグネット部の温度を検出し検出値に従ってコイル
に与える電流を定めて温度による主磁場の中心磁場強度
の時間的変動を補正する)IRIが示されている。
第3図にその概要を示す、1は被検体を挿入する開口内
に主磁場を発生するメインコイルであり、5はメインコ
イル1等の温度を検出する温度センサ、51は温度セン
サ5からの信号を電気信号に変換する温度変換器である
。6はメインコイル1に電力を供給するマグネットパワ
ーサプライ(以下HPSという)、61は温度変換器5
1からの電気信号を受けてHPS 6の出力を操作する
パワーコントローラ(以下PWCという)である、3は
位置に応じた周波数差や位相差を原子核に与えるための
勾配磁場を発生する勾配磁場コイル、8は勾配磁場コイ
ル3に電力を供給するグラジェントパワーサプライ(以
下GPSという)、2はメインコイル1による主磁場の
不均一を電流によって補正するシムコイル、7はシムコ
イル2に電力を供給するシムパワーサプライ(以下SP
Sという)である。シムコイル2及びSPS 7は複数
のチャンネルからなり、様々な状態の補正磁場を発生す
るものである。又、10は各種入出力及び情報処理を行
うCPUを備えたオペレータコンソール(以下OCとい
う)、11は0C10からの各種データに従って、RF
コイル4への出力等を制御し、又、GPS 8を駆動し
て勾配磁場等を制御するスキャンコントローラ(以下S
Cという)である。
に主磁場を発生するメインコイルであり、5はメインコ
イル1等の温度を検出する温度センサ、51は温度セン
サ5からの信号を電気信号に変換する温度変換器である
。6はメインコイル1に電力を供給するマグネットパワ
ーサプライ(以下HPSという)、61は温度変換器5
1からの電気信号を受けてHPS 6の出力を操作する
パワーコントローラ(以下PWCという)である、3は
位置に応じた周波数差や位相差を原子核に与えるための
勾配磁場を発生する勾配磁場コイル、8は勾配磁場コイ
ル3に電力を供給するグラジェントパワーサプライ(以
下GPSという)、2はメインコイル1による主磁場の
不均一を電流によって補正するシムコイル、7はシムコ
イル2に電力を供給するシムパワーサプライ(以下SP
Sという)である。シムコイル2及びSPS 7は複数
のチャンネルからなり、様々な状態の補正磁場を発生す
るものである。又、10は各種入出力及び情報処理を行
うCPUを備えたオペレータコンソール(以下OCとい
う)、11は0C10からの各種データに従って、RF
コイル4への出力等を制御し、又、GPS 8を駆動し
て勾配磁場等を制御するスキャンコントローラ(以下S
Cという)である。
温度センサ5及び温度変換器51はメインコイル1の温
度をPWC61にフィードバックし、PWC61はHP
S 6がメインコイル1に与える電流を設定する。
度をPWC61にフィードバックし、PWC61はHP
S 6がメインコイル1に与える電流を設定する。
この様にして、温度変動による主磁場の中心磁場強度の
変動を補正することができる。
変動を補正することができる。
ところで、主磁場の時間的変動の補正の他に、主磁場の
位置に対する均一性はHRIにおける各種検査に重要で
ある。特に、スペクトロスコピーゲミ力ルシフトイメー
ジングやアンギオグラフィを行うには、磁場の高い均一
性が要求される。
位置に対する均一性はHRIにおける各種検査に重要で
ある。特に、スペクトロスコピーゲミ力ルシフトイメー
ジングやアンギオグラフィを行うには、磁場の高い均一
性が要求される。
(発明が解決しようとする課題)
しかし、従来のHRIにあっては、温度の変動による主
磁場の中心磁場強度の補正を行っていたが、温度の変動
によって生じる主磁場の不均一を補正できないという問
題があった。特に、主磁場の不均一を鉄片を組むことに
よって補正するパッシブシムを用いたHRIにあっては
、温度の変動によって生じる磁場の変動は場所によって
大きく異なりており、温度の変動による磁場の不均一が
顕著である。
磁場の中心磁場強度の補正を行っていたが、温度の変動
によって生じる主磁場の不均一を補正できないという問
題があった。特に、主磁場の不均一を鉄片を組むことに
よって補正するパッシブシムを用いたHRIにあっては
、温度の変動によって生じる磁場の変動は場所によって
大きく異なりており、温度の変動による磁場の不均一が
顕著である。
本発明は上記に鑑みて成されたものであり、その目的は
、温度の変動による主磁場の不均一を補正することがで
き、特に、■パッシブシムを用いてシムコイルを用いな
い14RIにおいても、簡単な構成で前記補正をするこ
とができるHRIを実現するにある。又、■温度の変動
による主磁場の不均一を正確に補正できるHRIを実現
するにある。
、温度の変動による主磁場の不均一を補正することがで
き、特に、■パッシブシムを用いてシムコイルを用いな
い14RIにおいても、簡単な構成で前記補正をするこ
とができるHRIを実現するにある。又、■温度の変動
による主磁場の不均一を正確に補正できるHRIを実現
するにある。
(課題を解決するための手段)
上記目的■を達成するHRIは、マグネット部の温度を
検出する温度センサと、勾配磁場コイルと、勾配磁場コ
イルに電流を供給する電源部と、電源部を操作して勾配
磁場の発生を制御するコントローラを備え、前記コント
ローラは、検出されたマグネット部の温度に従って補正
量を決定する手段と、補正量をオフセットとして加えて
電源部を操作する手段を備えたコントローラである構成
になっている。
検出する温度センサと、勾配磁場コイルと、勾配磁場コ
イルに電流を供給する電源部と、電源部を操作して勾配
磁場の発生を制御するコントローラを備え、前記コント
ローラは、検出されたマグネット部の温度に従って補正
量を決定する手段と、補正量をオフセットとして加えて
電源部を操作する手段を備えたコントローラである構成
になっている。
又、上記目的■を達成するHRIは、マグネット部の温
度を検出する温度センサと、シムコイルと、シムコイル
に電流を供給する電源部と、電源部を操作して補正磁場
の発生を制御するコントローラを備え、前記コントロー
ラは検出されたマグネット部の温度に従って補正量を決
定する手段と、補正量に従って電源部を操作する手段を
備えたコントローラである構成になっている。
度を検出する温度センサと、シムコイルと、シムコイル
に電流を供給する電源部と、電源部を操作して補正磁場
の発生を制御するコントローラを備え、前記コントロー
ラは検出されたマグネット部の温度に従って補正量を決
定する手段と、補正量に従って電源部を操作する手段を
備えたコントローラである構成になっている。
(作用)
■マグネット部の温度を検出してその温度に従って補正
量を決定し、勾配磁場に前記補正量をオフセットとして
加えて勾配磁場コイルの電流値を設定し、温度変化によ
る磁場の場所による1次の不均一を補正する。
量を決定し、勾配磁場に前記補正量をオフセットとして
加えて勾配磁場コイルの電流値を設定し、温度変化によ
る磁場の場所による1次の不均一を補正する。
又、■マグネット部の温度を検出してその温度に従って
シムコイルの電流値を設定し、温度変化による磁場不均
一を補正する。
シムコイルの電流値を設定し、温度変化による磁場不均
一を補正する。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明について詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図である。
ここで、図において第3図と同様な記号は同様の意味を
示す。
示す。
9はマグネット部の温度を検出する温度センサであり、
マグネット部のボア内の上下左右4ケ所Xコイルの奥行
方向に3列で計12個が設置されている。20はそれぞ
れのマグネット部に固有の主磁場の不均一を鉄片を組む
ことによって補正するパッシブシムであり、マグネット
部が所定温度のとき主磁場が均一になるように組み立て
られている。
マグネット部のボア内の上下左右4ケ所Xコイルの奥行
方向に3列で計12個が設置されている。20はそれぞ
れのマグネット部に固有の主磁場の不均一を鉄片を組む
ことによって補正するパッシブシムであり、マグネット
部が所定温度のとき主磁場が均一になるように組み立て
られている。
温度センサ9からの出力は温度データから補正信号への
変換等を行う 0C10に接続されている。この温度デ
ータから補正信号への変換は、装置固有の計算式又はテ
ーブルによるものである。温度による磁場の均一性の変
動は、一般に場所による1次の不均一が支配的であるが
、温度変化と磁場不均一との関数関係はそれぞれのマグ
ネット部の組み立て精度等によって固有のものである。
変換等を行う 0C10に接続されている。この温度デ
ータから補正信号への変換は、装置固有の計算式又はテ
ーブルによるものである。温度による磁場の均一性の変
動は、一般に場所による1次の不均一が支配的であるが
、温度変化と磁場不均一との関数関係はそれぞれのマグ
ネット部の組み立て精度等によって固有のものである。
そのため、温度データから補正信号への変換すなわち前
記計算式の係数、又は、テーブルは、それぞれの装置に
ついて工場出荷時に行われる温度変化による磁場不均一
測定の結果を基に、予め設定されたものである。尚、本
実施例においては、GPS 8が特許請求の範囲におけ
る電源部を構成し、0P10及びsc iiがコントロ
ーラを構成する。
記計算式の係数、又は、テーブルは、それぞれの装置に
ついて工場出荷時に行われる温度変化による磁場不均一
測定の結果を基に、予め設定されたものである。尚、本
実施例においては、GPS 8が特許請求の範囲におけ
る電源部を構成し、0P10及びsc iiがコントロ
ーラを構成する。
上記のように構成された実施例の動作について説明する
。
。
温度センサ9はパッシブシム20等のマグネット部の各
位置の温度を検出し、温度変換器51はそれらの平均温
度を電気信号に変換して出力する。0C10は、温度セ
ンサ9からの温度データを予め定められた前記計算式又
はテーブルによって補正信号に変換し、SCitに出力
する。 SC11は、原子に周波数差や位相差を与える
ための勾配磁場を発生させる信号に、前記補正信号をオ
フセットとして加えて、合計の信号をGPS 8に与え
る。GPS 8は前記信号に従って勾配磁場コイル3に
勾配磁場を発生させる。勾配磁場コイル3は、原子に周
波数差や位相差を与えるための勾配磁場に補正磁場を加
えたオフセット済みの勾配磁場を発生ずる。このように
磁場の不均一を勾配磁場コイル3すなわち1次の場所依
存を持つ磁場を発生するコイルで補正しているので、温
度の変動による磁場の不均一の内、場所による1次の成
分が補正される。温度の変動による磁場の不均一は1次
の成分が支配的である場合が殆どであるので、温度の変
動による磁場の不均一は殆どの場合なくなる。又、勾配
磁場コイル3を用いて補正しているので、温度による磁
場の不均一を補正するためのシムコイル2を備える必要
がなく、コンパクトなマグネット部を構成でき、SPS
7も必要ない。
位置の温度を検出し、温度変換器51はそれらの平均温
度を電気信号に変換して出力する。0C10は、温度セ
ンサ9からの温度データを予め定められた前記計算式又
はテーブルによって補正信号に変換し、SCitに出力
する。 SC11は、原子に周波数差や位相差を与える
ための勾配磁場を発生させる信号に、前記補正信号をオ
フセットとして加えて、合計の信号をGPS 8に与え
る。GPS 8は前記信号に従って勾配磁場コイル3に
勾配磁場を発生させる。勾配磁場コイル3は、原子に周
波数差や位相差を与えるための勾配磁場に補正磁場を加
えたオフセット済みの勾配磁場を発生ずる。このように
磁場の不均一を勾配磁場コイル3すなわち1次の場所依
存を持つ磁場を発生するコイルで補正しているので、温
度の変動による磁場の不均一の内、場所による1次の成
分が補正される。温度の変動による磁場の不均一は1次
の成分が支配的である場合が殆どであるので、温度の変
動による磁場の不均一は殆どの場合なくなる。又、勾配
磁場コイル3を用いて補正しているので、温度による磁
場の不均一を補正するためのシムコイル2を備える必要
がなく、コンパクトなマグネット部を構成でき、SPS
7も必要ない。
第2図は本発明の他の実施例を示す構成図である0図に
おいて第1図及び第3図と同様な記号は同様の意味を示
す。
おいて第1図及び第3図と同様な記号は同様の意味を示
す。
12は温度センサ9から温度データをうけて前記実施例
と同様な計算又はテーブルにより補正信号に変換して出
力し、SPS 7の出力を操作してシムコイル2による
発生磁場を制御するパワーコントローラ(以下P−Cと
いう)である。本実施例においては、SPS 7及びP
C12がそれぞれ特許請求の範囲における電源部及びコ
ントローラを構成する。
と同様な計算又はテーブルにより補正信号に変換して出
力し、SPS 7の出力を操作してシムコイル2による
発生磁場を制御するパワーコントローラ(以下P−Cと
いう)である。本実施例においては、SPS 7及びP
C12がそれぞれ特許請求の範囲における電源部及びコ
ントローラを構成する。
上記のように構成された実施例の動作について説明する
。
。
温度センサ9はマグネット部の温度を検出する。
PWC12は、温度センサ9からの温度データを受けて
補正信号に変換し、補正信号でSPS 7の出力を決定
し駆動する。そして、シムコイル3は、所定温度におけ
る磁場の不均一に加え温度の変動による磁場の不均一を
補正する高次の補正磁場を発生する。その結果、温度の
変動による磁場の不均一が、より精度よく補正される。
補正信号に変換し、補正信号でSPS 7の出力を決定
し駆動する。そして、シムコイル3は、所定温度におけ
る磁場の不均一に加え温度の変動による磁場の不均一を
補正する高次の補正磁場を発生する。その結果、温度の
変動による磁場の不均一が、より精度よく補正される。
尚、本発明は上記実施例に限定するものではない。
実施例では複数の温度センサ9の検出値の平均により補
正量を決めていたが、温度分布による不均一を予め測定
しておき、複数の検出値による多変数関数として補正量
を求めるようにしてもよい。
正量を決めていたが、温度分布による不均一を予め測定
しておき、複数の検出値による多変数関数として補正量
を求めるようにしてもよい。
又、第2図に示した実施例ではP14CI2がコントロ
ーラを構成していたが、PWC12を備えずに0C10
及び5C11がコントローラを構成し、それらがSPS
7を操作するようにしてもよい、又、温度による主磁
場の中心強度の変動を補償するため、HPS 6を操作
してメインコイル1に与える電流を補正する構成となっ
ていたが、中心磁場の変動に対してRF波の中心周波数
を調節する構成としても、中心磁場強度の変動を補償で
きる。又、メインコイル1は常電導コイル、超伝導コイ
ル又は永久磁石でもよい。
ーラを構成していたが、PWC12を備えずに0C10
及び5C11がコントローラを構成し、それらがSPS
7を操作するようにしてもよい、又、温度による主磁
場の中心強度の変動を補償するため、HPS 6を操作
してメインコイル1に与える電流を補正する構成となっ
ていたが、中心磁場の変動に対してRF波の中心周波数
を調節する構成としても、中心磁場強度の変動を補償で
きる。又、メインコイル1は常電導コイル、超伝導コイ
ル又は永久磁石でもよい。
(発明の効果)
以上の説明の通り、本発明のHRIによれば、マグネッ
ト部の温度を検出する温度センサと、勾配磁場コイルと
、勾配磁場コイルに電流を供給する電源部と、電源部を
操作して勾配磁場の発生を制御するコントローラを備え
、前記コントローラは、検出されたマグネット部の温度
に従って補正量を決定する手段と、補正量をオフセット
として加えて電源部を操作する手段を備えたコントロー
ラである構成となっているので、コンパクトで簡単な構
成で、温度の変動による磁場の不均一を補正することが
できる。
ト部の温度を検出する温度センサと、勾配磁場コイルと
、勾配磁場コイルに電流を供給する電源部と、電源部を
操作して勾配磁場の発生を制御するコントローラを備え
、前記コントローラは、検出されたマグネット部の温度
に従って補正量を決定する手段と、補正量をオフセット
として加えて電源部を操作する手段を備えたコントロー
ラである構成となっているので、コンパクトで簡単な構
成で、温度の変動による磁場の不均一を補正することが
できる。
又、温度センサと、シムコイルと、シムコイルに電流を
供給する電源部と、電源部を操作して補正磁場の発生を
制御するコントローラを備え、前記コントローラは検出
されたマグネット部の温度に従って補正量を決定する手
段と、補正量に従って電源部を操作する手段を備えた構
成となっているので、温度の変動による磁場の不均一を
正確に補正することができる。
供給する電源部と、電源部を操作して補正磁場の発生を
制御するコントローラを備え、前記コントローラは検出
されたマグネット部の温度に従って補正量を決定する手
段と、補正量に従って電源部を操作する手段を備えた構
成となっているので、温度の変動による磁場の不均一を
正確に補正することができる。
第1図は本発明の一実施例の示す構成図、第2図は本発
明の他の実施例の示す構成図、第3図は従来例を示す構
成図である。 1・・・メインコイル、2・・・シムコイル、20・・
・パッシブシム、3・・・勾配磁場コイル、4・・・R
Fコイル、5.9・・・温度センサ、51・・・温度変
換器、6・・・マグネットパワーサプライ、12.61
・・・パワーコントローラ、7・・・シムパワーサプラ
イ、8・・・グラジェントパワーサブライ、10・・・
オペレータコンソール、11・・・スキャンコントロー
ラ。
明の他の実施例の示す構成図、第3図は従来例を示す構
成図である。 1・・・メインコイル、2・・・シムコイル、20・・
・パッシブシム、3・・・勾配磁場コイル、4・・・R
Fコイル、5.9・・・温度センサ、51・・・温度変
換器、6・・・マグネットパワーサプライ、12.61
・・・パワーコントローラ、7・・・シムパワーサプラ
イ、8・・・グラジェントパワーサブライ、10・・・
オペレータコンソール、11・・・スキャンコントロー
ラ。
Claims (2)
- (1)マグネット部に設置されてマグネット部の温度を
検出する温度センサと、主磁場に重畳してスキャンにお
ける勾配磁場を発生する勾配磁場コイルと、勾配磁場コ
イルに電流を供給する電源部と、電源部を操作して勾配
磁場コイルによる勾配磁場の発生を制御するコントロー
ラを備え、前記コントローラは、検出されたマグネット
部の温度に従った補正量を決定する手段と、前記補正量
をオフセットとして加えて電源部を操作する手段を備え
たコントローラであることを特徴とする核磁気共鳴診断
装置。 - (2)マグネット部に設置されてマグネット部の温度を
検出する温度センサと、主磁場の不均一を補正する補正
磁場を発生するシムコイルと、シムコイルに電流を供給
する電源部と、電源部を操作してシムコイルによる補正
磁場の発生を制御するコントローラを備え、前記コント
ローラは、検出されたマグネット部の温度に従った補正
量を決定する手段と、前記補正量に従って電源部を操作
する手段を備えたコントローラであることを特徴とする
核磁気共鳴診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1025239A JPH02206436A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 核磁気共鳴診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1025239A JPH02206436A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 核磁気共鳴診断装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02206436A true JPH02206436A (ja) | 1990-08-16 |
Family
ID=12160437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1025239A Pending JPH02206436A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 核磁気共鳴診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02206436A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0670912A (ja) * | 1992-08-26 | 1994-03-15 | Hitachi Medical Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
JP2004351207A (ja) * | 2003-05-28 | 2004-12-16 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 均一な磁場を用いたイメージング・システム |
US7741847B2 (en) | 2006-10-13 | 2010-06-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance apparatus with temperature controlled magnet shim pieces |
JP2020034361A (ja) * | 2018-08-29 | 2020-03-05 | ニチコン株式会社 | メインコイル用電源装置およびnmrシステム |
-
1989
- 1989-02-03 JP JP1025239A patent/JPH02206436A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0670912A (ja) * | 1992-08-26 | 1994-03-15 | Hitachi Medical Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
JP2004351207A (ja) * | 2003-05-28 | 2004-12-16 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 均一な磁場を用いたイメージング・システム |
US7741847B2 (en) | 2006-10-13 | 2010-06-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance apparatus with temperature controlled magnet shim pieces |
JP2020034361A (ja) * | 2018-08-29 | 2020-03-05 | ニチコン株式会社 | メインコイル用電源装置およびnmrシステム |
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